JPH11102068A - ポジ型感光性樹脂組成物とその製造方法 - Google Patents
ポジ型感光性樹脂組成物とその製造方法Info
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- JPH11102068A JPH11102068A JP26361897A JP26361897A JPH11102068A JP H11102068 A JPH11102068 A JP H11102068A JP 26361897 A JP26361897 A JP 26361897A JP 26361897 A JP26361897 A JP 26361897A JP H11102068 A JPH11102068 A JP H11102068A
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Abstract
脂組成物を提供する。 【解決手段】(a)一般式(1)で表される構造単位を
主成分とするポリマーと、(b)ナフトキノンジアジド
化合物を含有することを特徴とするポジ型感光性樹脂組
成物。 【化1】 (R1は4価の芳香族基、R2は3価の芳香族基、R3は
2価の芳香族基、R4は水素または炭素数1から20ま
での有機基である。nは10から100,000までの
整数。)
Description
膜として有用なポジ型感光性樹脂組成物に関するもので
あり、特に環境に優しい水系の現像液で現像可能なポジ
型感光性樹脂組成物に関するものである。
型の耐熱性樹脂組成物としては、ポリアミド酸にナフト
キノンジアジドを添加したもの(例えば特開昭52−1
3315号公報)、水酸基を有する可溶性ポリイミドに
ナフトキノンジアジドを添加したもの(例えば特開昭6
4−60630号公報)、水酸基を有するポリアミドに
ナフトキノンジアジドを添加したもの(例えば特開昭5
6−27140号公報)などが知られている。
トキノンジアジドを添加したものではナフトキノンジア
ジドのアルカリ性現像液に対する溶解阻害効果よりもポ
リアミド酸のカルボキシル基による溶解効果が高いため
に、ほとんどの場合希望するパターンを得ることが出来
ないという問題点があった。また、水酸基を有する可溶
性ポリイミド樹脂にナフトキノンジアジドを添加したも
のでは、上述の問題点は少なくなったものの、可溶性に
するために構造が限定されること、ならびに得られるポ
リイミド樹脂の耐溶剤性が悪い点などが問題であった。
水酸基を有するポリアミド樹脂にナフトキノンジアジド
を添加したものも、溶解性を出すために構造に限定があ
ること、そのために熱処理後に得られる樹脂の耐溶剤性
に劣ることが問題であった。さらに熱硬化した膜は発煙
硝酸、濃硝酸などの強酸には溶解しないという欠点を有
しており、半導体の不良検査を行うことが難しかった。
基を有するポリマーにナフトキノンジアジドを添加する
ことで、得られる樹脂組成物が露光前はアルカリ性現像
液にほとんど溶解せず、露光後はアルカリ性現像液に容
易に溶解することを見出し、さらに熱硬化した膜はN−
メチル−2−ピロリドンなどの有機溶媒に耐性があり、
しかも発煙硝酸などの強酸に溶解することを見出し、発
明に至ったものである。
を解決せしめ、環境に優しいアルカリ性現像液で現像可
能であり、かつ熱処理後の耐溶剤性に優れたポジ型感光
性樹脂組成物、およびその製造方法を提供することを目
的とするものである。
(a)一般式(1)で表される構造単位を主成分とする
ポリマーと、(b)ナフトキノンジアジド化合物を含有
することを特徴とするポジ型感光性樹脂組成物によって
達成される。
は2価の芳香族基、R4は水素または炭素数1から20
までの有機基である。nは10から100,000まで
の整数。)
される構造単位を主成分とするポリマーは、加熱あるい
は適当な触媒により、イミド環やオキサゾール環を形成
することを特徴とするポリマーである。環構造を形成す
ることで、耐熱性や耐溶剤性が飛躍的に向上する。
−アミノフェノール)化合物の残基であることが好まし
い。ビス(o−アミノフェノール)化合物の例として、
2,2−ビス(m−アミノ−p−ヒドロキシフェニル)
ヘキサフルオロプロパン、3,3’−ジヒドロキシ−
4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジヒドロキ
シ−4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’
−ジヒドロキシ−3,3’−ジアミノジフェニルスルホ
ン、2,2−ビス(p−アミノ−m−ヒドロキシフェニ
ル)ヘキサフルオロプロパン、3,3’−ジアミノ−
4,4’−ジヒドロキシビフェニル、5,6−ジアミノ
−2,4−ジヒドロキシピリミジンなどを挙げることが
できる。
構造としてトリメリット酸残基、トリメシン酸残基など
を挙げることができる。
アミン化合物の残基であることが好ましい。好ましい例
としては、フェニレンジアミン、ジアミノジフェニルエ
ーテル、ジアミノベンゾフェノン、ジアミノジフェニル
メタン、ジアミノジフェニルスルホン、ビス(トリフル
オロメチル)ベンジジン、ビス(アミノフェノキシフェ
ニル)プロパン、ビス(アミノフェノキシフェニル)ス
ルホンなどを挙げることができる。またこれらの芳香族
環の一部がアルキル基やクロロ、フルオロ、トリフルオ
ロメチル基などで置換されても良い。
ミン化合物を用いて変性することもできる。好ましい例
としては、脂肪族のシクロヘキシルジアミン、メチレン
ビスシクロヘキシルアミンなどが挙げられる。しかしこ
のようなジアミン成分を40モル%以上共重合すると得
られるポリマーの耐熱性が低下する。
に、耐熱性を低下させない範囲でシロキサン構造を有す
るジアミン化合物を用いて変性することもできる。好ま
しい例としては、ビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサンなどを1〜40モル%共重合したもの
などを挙げることができる。
たは水素のうち1種または2種以上を含む基であっても
よいし、炭素数1から10までの有機基で、かつ水素の
うち1種または2種以上を含む基であってもよい。ここ
で、R4をすべて有機基とすると、アルカリ現像液に対
する溶解性が低くなりすぎるために、現像時間が長くな
り、また残膜が残りやすくなるために好ましくない。ま
た、R4が炭素数10以上の有機基となると、アルカリ
現像液に対する溶解性が低いために、露光部も溶解しな
い恐れがあるために好ましくない。以上のことから、本
発明において好ましいR4の水素原子と有機基の割合
は、水素原子を全体の10モル%以上含み、残りのR4
は炭素数1〜10までの有機基によって構成されること
である。さらに好ましくは、水素原子が全体の30〜1
00モル%であり、炭素数1〜10の有機基が30%モ
ル以下である。
は、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペン
チル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基などの飽
和炭化水素基、エトキシメチル基、エトキシエチル基、
ブトキシメチル基などの基、2−ヒドロキシプロピル
基、2−ヒドロキシペンチル基、2−ヒドロキシ−3−
メトキシプロピル基、2−ヒドロキシ−3−エトキシプ
ロピル基、2−ヒドロキシ−3−プロピルオキシプロピ
ル基などのアルコール性水酸基を有する有機基である。
するヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基や、
炭素数10以上のヘキサデシル基、ラウリル基などの基
を全体の20モル%以下変性させることもできる。
成されていても、2種以上で構成されていても良い。
ェノール)化合物、芳香族ジアミン化合物およびトリメ
リット酸無水物からの重合物であることが好ましい。さ
らに好ましくは、ビス(o−アミノフェノール)のアミ
ノ基の70モル%以上がトリメリット酸の4位のカルボ
キシル基と結合していることが好ましい。ビス(o−ア
ミノフェノール)のアミノ基とトリメリット酸の4位の
カルボキシル基が結合したアミド部位は、加熱あるいは
適当な触媒によってビス(o−アミノフェノール)のヒ
ドロキシル基とともにベンゾオキサゾール環を形成す
る。このときトリメリット酸の残りの1位または2位の
カルボキシル基が芳香族ジアミン化合物のアミノ基と結
合し、加熱あるいは適当な触媒によってイミド環を形成
する。これらの環構造を形成することで、耐熱性や耐溶
剤性を飛躍的に向上することができる。
−アミノフェノール)とトリメリット酸無水物の結合を
形成し、第2工程で、第1工程の縮合物と芳香族ジアミ
ン化合物との重合を行うことによって製造が可能であ
る。
ノール)とトリメリット酸無水物を有機溶媒中で縮合剤
存在下反応せしめる。
用できる。例えば、1,1’−カルボニルジイミダゾー
ル、ジシクロヘキシルカルボジイミド、N,N’−ジイ
ソプロピルカルボジイミド、1−エチル−3−(3−ジ
メチルアミノプロピル)カルボジイミドなどが好ましく
使用でき、また1H−ベンゾトリアゾール−1−イロキ
シトリピロリジノホスホニウムヘキサフルオロホスフェ
ート、N−エトキシカルボニル−2−エトキシ−1,2
−ジヒドロキノリン、ジフェニルりん酸アジドなども使
用できる。
エステル化試薬を使用することが好ましい。これによっ
て反応速度を高め、副反応を少なくすることができる。
好ましい活性エステル化試薬としては、1−ヒドロキシ
ベンゾトリアゾール、N−ヒドロキシ−5−ノルボルネ
ン−2,3−ジカルボキシイミド、N−ヒドロキシこは
く酸イミド、1−ヒドロキシベンゾトリアゾール、3,
4−ジヒドロ−3−ヒドロキシ−4−オキソ−1,2,
3−ベンゾトリアジンなどを挙げることができる。反応
溶媒としては、極性有機溶媒が好ましい。例えば、N,
N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムア
ミド、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルスルホキ
シド、ヘキサメチルホスホアミドなどが好ましく、これ
にベンゼン、トルエン、キシレン、ジオキサン、クレゾ
ールなどの溶媒を共存させても良い。
無水物の酸無水物部位とビス(o−アミノフェノール)
のアミノ基または水酸基、もしくはその両方の官能基と
の反応を抑えるために、室温以下であることが好まし
い。より好ましくは5℃以下である。
香族ジアミン化合物を加え、反応せしめる。
成物と芳香族ジアミン化合物の反応は、ポリアミド酸の
合成方法として下記の方法を用いることができる。例え
ば、低温中でテトラカルボン酸二無水物化合物とジアミ
ン化合物を反応させる方法、テトラカルボン酸二無水物
とアルコールとによりジエステルを得、その後アミンと
縮合剤の存在下で反応させる方法、テトラカルボン酸二
無水物とアルコールとによりジエステルを得、その後残
りのジカルボン酸を酸クロリド化し、アミンと反応させ
る方法などで合成することができる。
するポリマーを製造する目的のために、第1工程で得ら
れる生成物に対してアルコールを開環付加させてテトラ
カルボン酸エステル無水物を一部形成し、次いで該テト
ラカルボン酸エステル無水物、テトラカルボン酸二無水
物、テトラカルボン酸ジエステルの混合物に対して、芳
香族ジアミン化合物を反応させる製造方法が好ましい。
ことが好ましい。具体的な例として、メチルアルコー
ル、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、イソ
ブチルアルコールなどの1価アルコール、エチレングリ
コール、プロピレングリコール、グリセリン、トリメチ
ロールプロパンなどの多価アルコール、メチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、プロピレン
グリコールモノメチルエーテルなどのセロソルブ類など
が挙げられるが、特にこれらに限定されない。
開環付加させてテトラカルボン酸エステル無水物を得る
反応は、極性有機溶媒中で、20〜150℃、好ましく
は、30〜100℃の範囲の温度で行う。ここで、温度
が低すぎると反応がなかなか進まず、また温度を高く設
定するためには多大のエネルギーが必要で経費がかさ
む。
水物、テトラカルボン酸二無水物、テトラカルボン酸ジ
エステルの混合物が存在する有機溶媒中に、芳香族ジア
ミンを加え、テトラカルボン酸エステル無水物およびテ
トラカルボン酸二無水物に芳香族ジアミン化合物を開環
付加させ、所望のポリマーを製造する。必要に応じて縮
合剤を添加することもできる。
ノフェノール)化合物に対して、0.9〜1.1倍モル
当量、好ましくは0.95〜1.05倍モル当量、さら
に好ましくは0.99〜1.01倍モル当量、またさら
に好ましくは等モル当量混合するのがよい。モル当量の
差が小さいほど、得られるポリマーの重合度が大きくな
り、加熱処理後のポリマーにおいて良好な機械強度が得
られやすい。芳香族ジアミンとの反応は通常、0〜10
0℃、好ましくは、30〜80℃の範囲の温度で行う。
温度が低すぎると反応がなかなか進まず、また、温度が
高すぎるとポリマーの閉環反応が進行するおそれがあ
る。
対して等モル量以上あれば良く、過剰に存在しても問題
はない。
式(1)で表される構造単位のみからなるものであって
も良いし、他の構造単位との共重合体あるいはブレンド
体であっても良い。その際、一般式(1)で表される構
造単位を90モル%以上含有していることが好ましい。
共重合体あるいはブレンド体に用いられる構造単位の種
類および量は、最終加熱処理によって得られるポリマー
の耐熱性を損なわない範囲で選択することが好ましい。
式(1)のポリマー100重量部に対して、ナフトキノ
ンジアジド化合物を5〜100重量部含む。好ましくは
10〜50重量部、さらに好ましくは、15〜30重量
部を含む。ナフトキノンジアジド化合物が5重量部未満
では、アルカリ性現像液に対して露光部と未露光部の溶
解速度の差が得られにくく、また100重量部を超える
と、熱硬化後の膜の耐熱性、機械特性、接着性が損なわ
れやすい。
アジド化合物としては、フェノール性の水酸基にナフト
キノンジアジドのスルホニル酸がエステルで結合した化
合物が好ましい。このようなものとしては、一般式
(2)に示すものを挙げることができるがこれらに限ら
れるわけではない。
グリコールやグリセリンなどの化合物とナフトキノンジ
アジドのスルホニル酸がエステル結合した化合物、アミ
ノ基を有するアニリン、フェニレンジアミン、ジアミノ
ジフェニルエーテル、ジアミノジフェニルメタンなどの
アミノ基とナフトキノンジアジドのスルホニル酸がアミ
ド結合した化合物、水酸基とアミノ基を有するヒドロキ
シ−ジアミノピリミジン、ヒドロキシジアミノベンゼ
ン、アミノフェノール、ビス(ヒドロキシアミノフェニ
ル)ヘキサフルオロプロパンなどの化合物のアミノ基と
ナフトキノンジアジドのスルホニル酸がアミド結合した
化合物、あるいはこれらの化合物の水酸基とナフトキノ
ンジアジドのスルホニル酸がエステル結合した化合物、
さらにはアミノ基と水酸基の両者とナフトキノンジアジ
ドのスルホニル酸がアミド結合とエステル結合した化合
物などを使用することが出来る。
子量が1200より大きくなると、その後の熱処理にお
いてナフトキノンジアジド化合物が十分に熱分解しない
ために、得られる膜の耐熱性、機械特性、接着性が低下
するなどの問題が生じる可能性がある。このような観点
から見ると、好ましいナフトキノンジアジド化合物の分
子量は300から1200である。さらに好ましくは、
350から1000である。
は、溶剤に溶解しワニス状にして使用する。溶剤として
は、N−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルア
セトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチル
スルホキシド、テトラメチル尿素、ヘキサメチルホスホ
アミド、γ−ブチロラクトンなどの極性溶媒が通常用い
られる。この他、これらの極性溶媒以外に一般的有機溶
媒であるケトン類、エステル類、エーテル類、ハロゲン
化炭化水素類、炭化水素類などを混合して使用すること
もできる。たとえば、アセトン、メチルエチルケトン、
メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュウ酸ジエチル、マロ
ン酸ジエチル、ジエチルエーテル、エチレングリコ−ル
ジメチルエーテル、テトラヒドロフラン、1,4−ジオ
キサン、ジクロロメタン、1,2−ジクロルエタン、
1,4−ジクロルブタン、トリクロルエタン、クロルベ
ンゼン、o−ジクロルベンゼン、ヘキサン、ヘプタン、
オクタン、ベンゼン、トルエン、キシレンなどが使用で
きる。また、必要に応じて本発明の感光性樹脂組成物と
基板とのぬれ性を向上させる目的で界面活性剤、乳酸エ
チルやプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テルアセテ
−トなどのエステル類、エタノ−ルなどのアルコ−ル
類、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトンなどの
ケトン類、テトラヒドロフラン、ジオキサンなどのエ−
テル類を混合しても良い。 また、二酸化ケイ素、二酸
化チタンなどの無機粒子、あるいはポリイミドの粉末な
どを添加することもできる。
との接着性を高めるために、メチルメタクリロキシジメ
トキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン
などのシランカップリング剤、チタンキレート剤、アル
ミキレート剤などを感光性樹脂組成物のワニスに対して
0.5から10重量%添加したり、下地基板をこのよう
な薬液で前処理したりすることもできる。基板を前処理
する場合、上記で述べたカップリング剤をイソプロパノ
ール、エタノール、メタノール、水、テトラヒドロフラ
ン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノメチルエーテル、乳酸エ
チル、アジピン酸ジエチルなどの溶媒に0.5から20
重量%溶解させた溶液をスピンコート、浸漬、スプレー
塗布、蒸気処理などで表面処理をする。場合によって
は、その後50℃から300℃までの温度をかけること
で、基板と上記カップリング剤との反応を進行させるこ
ともできる。
用いて耐熱性樹脂パタ−ンを形成する方法について説明
する。
を基板上に塗布する。基板としてはシリコンウエハ−、
セラミックス類、ガリウムヒ素などが用いられるが、こ
れらに限定されない。塗布方法としてはスピナーを用い
た回転塗布、スプレ−塗布、ロ−ルコ−ティングなどの
方法がある。また、塗布膜厚は、塗布手法、組成物の固
形分濃度、粘度などによって異なるが通常、乾燥後の膜
厚が、0.1から150μmになるように塗布される。
乾燥して、感光性樹脂組成物の皮膜を得る。乾燥はオ−
ブン、ホットプレ−ト、赤外線などを使用し、50℃か
ら150℃の範囲で1分から数時間行うのが好ましい。
望のパタ−ンを有するマスクを通して化学線を照射し、
露光する。露光に用いられる化学線としては紫外線、可
視光線、電子線、X線などがあるが、本発明では水銀灯
のi線(365nm)、h線(405nm)、g線(4
36nm)を用いるのが好ましい。
露光部を除去することによって達成される。現像液とし
ては、水酸化テトラメチルアンモニウム、エタノールア
ミン、ジエタノールアミン、ジエチルアミノエタノー
ル、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウ
ム、炭酸カリウム、トリエチルアミン、ジエチルアミ
ン、メチルアミン、ジメチルアミン、酢酸ジメチルアミ
ノエチル、ジメチルアミノエタノール、ジメチルアミノ
エチルメタクリレート、シクロヘキシルアミン、エチレ
ンジアミン、ヘキサメチレンジアミンなどのアルカリ性
を示す化合物の水溶液が好ましい。酢酸、ほう酸、しゅ
う酸、炭酸などの酸を微量加えて、アルカリ性現像液に
緩衝性を与えて、現像中の雰囲気の炭酸ガスの影響を抑
えることができる。また、場合によっては、これらのア
ルカリ性水溶液にN−メチル−2−ピロリドン、N,N
−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミ
ド、ジメチルスルホキシド、テトラメチル尿素、ヘキサ
メチルホスホアミド、γ−ブチロラクトンなどの極性溶
媒、メタノ−ル、エタノ−ル、イソプロパノ−ルなどの
アルコ−ル類、乳酸エチル、プロピレングリコ−ルモノ
メチルエ−テルアセテ−トなどのエステル類、シクロペ
ンタノン、シクロヘキサノン、イソブチルケトン、メチ
ルイソブチルケトンなどのケトン類などを単独あるいは
数種を組み合わせたものを添加しても良い。現像後は水
によってリンス処理をする。この場合にもエタノ−ル、
イソプロピルアルコ−ルなどのアルコ−ル類、乳酸エチ
ル、プロピレングリコ−ルモノメチルエ−テルアセテ−
トなどのエステル類などを水に加えてリンス処理をして
も良い。
えて耐熱性樹脂皮膜に変換する。この加熱処理は温度を
選び段階的に昇温しても良いし、ある温度範囲を選び連
続的に昇温しても良く、5分から5時間実施することが
好ましい。これらの例としては、130℃、200℃、
350℃で各30分ずつ加熱処理をする方法、室温から
400℃まで2時間かけて直線的に昇温する方法などを
挙げることができる。
した耐熱性樹脂皮膜は、半導体のパッシベ−ション膜、
半導体素子の保護膜、高密度実装用多層配線の層間絶縁
膜などの用途に用いられる。
例で説明する。
STM−602を用いて、屈折率1.64で感光性樹脂
組成物の膜厚を測定した。現像前の膜厚(T1)と現像
後の未露光部膜厚(T2)の差が1.5ミクロン以上で
ある場合に、露光部と未露光部のコントラストが不良で
あるとした。
測定 4インチシリコンウェハー上に350℃での熱処理後の
膜厚が10ミクロンになるようにスピンコートした。こ
れを80℃で3分間、さらに100℃で3分間ホットプ
レート(大日本スクリーン社製SKW−636)上でプ
リベークした。次いで、光洋リンドバーグ社製のイナー
トオーブンINH−5にて、酸素濃度20ppm以下
で、140℃で30分間処理した後、350℃まで1時
間かけて昇温し、続けて350℃で1時間熱処理をし
た。
のウエハー上の膜にN−メチル−2−ピロリドンを1滴
滴下し、200℃になったオーブン(ヤマト科学製DT
−42)中に10分間放置した。耐溶剤性が悪い場合、
N−メチル−2−ピロリドンを滴下した周辺にクラック
や膨れ、溶解したような現象がみられた。このような現
象が見られたものは耐溶剤性が不良であるとした。ま
た、もう一方のウエハーを80℃の発煙硝酸に3分間浸
漬し、膜が溶解するかしないかを目視で調べた。完全に
溶解することが好ましく、溶解しない場合を発煙硝酸に
対する溶解性が不足しているとした。また、膜が残った
場合、大日本スクリーン社製のラムダエースSTM−6
02を用いて、屈折率1.77で残った膜厚を測定し
た。ここで膜が2ミクロン以上残った場合に特に問題が
ある。
おいて測定を行った。
(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶解さ
せた。この溶液を3℃に冷却し、1−ヒドロキシベンゾ
トリアゾール13.5g(0.1モル)を加え、完全に
溶解した後、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロ
キシフェニル)ヘキサフルオロプロパン18.3g
(0.05モル)およびジシクロヘキシルカルボジイミ
ド20.6g(0.10モル)をγ−ブチロラクトン2
00gに溶解した溶液を内温を5℃以下に保ちながら1
時間かけて滴下した。さらに、3℃から5℃の範囲で3
時間反応させた。その後、エタノール1.84g(0.
04モル)とピリジン3.0gを加え、50℃で2時間
反応させた。
ルエーテル9g(0.045モル)およびビス(3−ア
ミノプロピル)テトラメチルジシロキサン1.24g
(0.005モル)を加え、さらに室温で3時間反応さ
せた。この反応液を3℃に冷却し、ジシクロヘキシルカ
ルボジイミド8.2g(0.04モル)をγ−ブチロラ
クトン50gに溶解した溶液を内温を5℃以下に保ちな
がら15分間かけて滴下した。さらに、3℃から5℃の
範囲で1時間反応させた後、50℃で2時間反応させ
た。反応終了後、析出した尿素化合物を濾過で除いた。
濾液を5リットルの1重量%の酢酸水溶液に投入してポ
リマーの沈殿を生成した。この沈殿を集めて、水とメタ
ノ−ルで洗浄した後、真空乾燥器中50℃で24時間乾
燥した。
テトラヒドロキシベンゾフェノンと1,2−ナフトキノ
ン−2−ジアゾ−5−スルホニル酸のトリエステルであ
るナフトキノンジアジド化合物(4NT−300、東洋
合成工業社製)2gをγ−ブチロラクトン30gに溶解
させてポジ型感光性樹脂組成物のワニスAを得た。この
ワニスAの粘度は、1.5Pa・sであった。
ーク後の膜厚が4μmになるようにワニスAを塗布し、
次いでホットプレ−ト(大日本スクリ−ン社製SKW−
636)を用いて、100℃で3分間プリベ−クした。
露光機(ニコン社製g線ステッパ−NSR−1505−
g6E)に、200〜1μmの評価用パターンを有する
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(43
6nmの強度)でg線露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転でテトラメチルア
ンモニウムの2.4%水溶液を10秒間噴霧した。次い
で、0回転で90秒間静置した後、400回転で水によ
ってリンス処理、3000回転で10秒間振り切り乾燥
した。現像後の未露光部の膜厚は3.0μmであり、現
像による膜の減少は1.0μmと少なく良好であった。
半導体用バッファーコートとして要求される3μmのパ
ターンが解像しており、パターン形状も問題なかった。
酸に対する溶解性の試験結果のいずれも良好であった。
(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶解さ
せた。この溶液を3℃に冷却し、2,2’−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン18.3g(0.05モル)およびジシクロヘキシ
ルカルボジイミド20.6g(0.1モル)をγ−ブチ
ロラクトン200gに溶解した溶液を内温を5℃以下に
保ちながら1時間かけて滴下した。さらに、3℃から5
℃の範囲で3時間反応させた。
ルエーテル9g(0.045モル)およびビス(3−ア
ミノプロピル)テトラメチルジシロキサン1.24g
(0.005モル)を加え、さらに室温で3時間、50
℃で2時間反応させた。反応終了後、析出した尿素化合
物を濾過で除いた。濾液を5リットルの1重量%の酢酸
水溶液に投入してポリマーの沈殿を生成した。この沈殿
を集めて、水とメタノ−ルで洗浄した後、真空乾燥器中
50℃で24時間乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2gをγ
−ブチロラクトン30gに溶解させてポジ型感光性樹脂
組成物のワニスBを得た。このワニスBの粘度は、3.
0Pa・sであった。
ーク後の膜厚が4μmになるようにワニスBを塗布し、
次いでホットプレ−ト(大日本スクリ−ン社製SKW−
636)を用いて、100℃で3分間プリベ−クした。
露光機(ニコン社製g線ステッパ−NSR−1505−
g6E)に、200〜1μmの評価用パターンを有する
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(43
6nmの強度)でg線露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転でテトラメチルア
ンモニウムの0.6%水溶液を10秒間噴霧した。次い
で、0回転で60秒間静置した後、400回転で水によ
ってリンス処理、3000回転で10秒間振り切り乾燥
した。現像後の未露光部の膜厚は2.9μmであり、現
像による膜の減少は1.1μmと少なく良好であった。
半導体用バッファーコートとして要求される3μmのパ
ターンが解像しており、パターン形状も問題なかった。
酸に対する溶解性の試験結果のいずれも良好であった。
(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶解さ
せた。この溶液を3℃に冷却し、N−ヒドロキシこはく
酸イミド11.5g(0.1モル)を加え、完全に溶解
した後、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン18.3g(0.0
5モル)およびジシクロヘキシルカルボジイミド20.
6g(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶
解した溶液を内温を5℃以下に保ちながら1時間かけて
滴下した。さらに、3℃から5℃の範囲で3時間反応さ
せた。
モル)とピリジン5gを加え、50℃で2時間反応させ
た。室温に戻し、4,4’−ジアミノジフェニルスルホ
ン12.4g(0.05モル)を加え、さらに室温で3
時間反応させた。この反応液を3℃に冷却し、ジシクロ
ヘキシルカルボジイミド12.4g(0.06モル)を
γ−ブチロラクトン50gに溶解した溶液を内温を5℃
以下に保ちながら15分間かけて滴下した。さらに、3
℃から5℃の範囲で1時間反応させた後、50℃で2時
間反応させた。反応終了後、析出した尿素化合物を濾過
で除いた。濾液を5リットルの1重量%の酢酸水溶液に
投入してポリマーの沈殿を生成した。この沈殿を集め
て、水とメタノ−ルで洗浄した後、真空乾燥器中50℃
で24時間乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2g、な
らびにγ−アミノプロピルトリメトキシシラン0.1g
をγ−ブチロラクトン30gに溶解させてポジ型感光性
樹脂組成物のワニスCを得た。このワニスCの粘度は、
1.0Pa・sであった。
ーク後の膜厚が4μmになるようにワニスCを塗布し、
次いでホットプレ−ト(大日本スクリ−ン社製SKW−
636)を用いて、100℃で3分間プリベ−クした。
露光機(ニコン社製i線ステッパ−NSR−1755−
i7A)に、200〜1μmの評価用パターンを有する
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(36
5nmの強度)でi線露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転でテトラメチルア
ンモニウムの2.4%水溶液を10秒間噴霧した。次い
で、0回転で80秒間静置した後、400回転で水によ
ってリンス処理、3000回転で10秒間振り切り乾燥
した。現像後の未露光部の膜厚は3.1μmであり、現
像による膜の減少は0.9μmと少なく良好であった。
半導体用バッファーコートとして要求される3μmのパ
ターンが解像しており、パターン形状も問題なかった。
酸に対する溶解性の試験結果のいずれも良好であった。
(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶解さ
せた。この溶液を3℃に冷却し、2,2’−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン18.3g(0.05モル)および1,1’−カル
ボニルジイミダゾール16.2g(0.1モル)をγ−
ブチロラクトン200gに溶解した溶液を内温を5℃以
下に保ちながら1時間かけて滴下した。さらに、3℃か
ら5℃の範囲で3時間反応させた。
ノキシ)フェニル)スルホン18.3g(0.05モ
ル)を加え、室温で3時間、50℃で2時間反応させ
た。反応終了後、反応液を5リットルの1重量%の酢酸
水溶液に投入してポリマーの沈殿を生成した。この沈殿
を集めて、水とメタノ−ルで洗浄した後、真空乾燥器中
50℃で24時間乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2g、な
らびにγ−アミノプロピルトリメトキシシラン0.1g
をγ−ブチロラクトン30gに溶解させてポジ型感光性
樹脂組成物のワニスDを得た。このワニスDの粘度は、
2.0Pa・sであった。
ーク後の膜厚が5μmになるようにワニスDを塗布し、
次いでホットプレ−ト(大日本スクリ−ン社製SKW−
636)を用いて、100℃で3分間プリベ−クした。
露光機(キャノン社製コンタクトアライナーPLA−5
01F)に、200〜1μmの評価用パターンを有する
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(40
5nmの強度)で露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転でテトラメチルア
ンモニウムの2.4%水溶液を10秒間噴霧した。次い
で、0回転で120秒間静置した後、400回転で水に
よってリンス処理、3000回転で10秒間振り切り乾
燥した。現像後の未露光部の膜厚は4.4μmであり、
現像による膜の減少は0.6μmと少なく良好であっ
た。
半導体用バッファーコートとして要求される3μmのパ
ターンが解像しており、パターン形状も問題なかった。
酸に対する溶解性の試験結果のいずれも良好であった。
(0.1モル)をγ−ブチロラクトン200gに溶解さ
せた。この溶液を3℃に冷却し、1−ヒドロキシベンゾ
トリアゾール13.5g(0.1モル)を加え、完全に
溶解した後、3,3’−ジヒドロキシベンジジン10.
8g(0.05モル)およびジシクロヘキシルカルボジ
イミド20.6g(0.1モル)をγ−ブチロラクトン
200gに溶解した溶液を内温を5℃以下に保ちながら
1時間かけて滴下した。さらに、3℃から5℃の範囲で
3時間反応させた。室温に戻し、2、2’−ビス(トリ
フルオロメチル)ベンジジン14.4g(0.045モ
ル)およびビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジ
シロキサン1.24g(0.005モル)を加え、さら
に室温で3時間、50℃で2時間反応させた。反応終了
後、析出した尿素化合物を濾過で除いた。濾液を5リッ
トルの1重量%の酢酸水溶液に投入してポリマーの沈殿
を生成した。この沈殿を集めて、水とメタノ−ルで洗浄
した後、真空乾燥器中50℃で24時間乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2gをγ
−ブチロラクトン30gに溶解させてポジ型感光性樹脂
組成物のワニスEを得た。このワニスEの粘度は、1.
0Pa・sであった。
ーク後の膜厚が5μmになるようにワニスEを塗布し、
次いでホットプレ−ト(大日本スクリ−ン社製SKW−
636)を用いて、100℃で3分間プリベ−クした。
露光機(キャノン社製コンタクトアライナーPLA−5
01F)に、200〜1μmの評価用パターンを有する
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(40
5nmの強度)で露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転でテトラメチルア
ンモニウムの0.6%水溶液を10秒間噴霧した。次い
で、0回転で120秒間静置した後、400回転で水に
よってリンス処理、3000回転で10秒間振り切り乾
燥した。現像後の未露光部の膜厚は4.2μmであり、
現像による膜の減少は0.8μmと少なく良好であっ
た。
半導体用バッファーコートとして要求される3μmのパ
ターンが解像しており、パターン形状も問題なかった。
酸に対する溶解性の試験結果のいずれも良好であった。
9g(0.095モル)、ビス(3−アミノプロピル)
テトラメチルシラン1.24g(0.005モル)をN
−メチル−2−ピロリドン200gに溶解させ、ここに
ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物16.1g
(0.05モル)、ピロメリット酸二無水物(0.04
8モル)を加えて、室温で1時間、その後50℃で3時
間反応させてポリアミド酸を得た。このポリアミド酸の
溶液に実施例1と同様な比率で感光成分を加え、ワニス
Fを得た。このワニスFの粘度は、3.0Pa・sであ
った。
リイミド前駆体のワニスFをプリベ−ク後の膜厚が4μ
mとなるように塗布し、ついでホットプレ−ト(大日本
スクリ−ン社製SCW−636)を用いて、100℃で
3分プリベ−クすることにより、感光性ポリイミド前駆
体膜を得た。ついで、露光機(ニコン社製g線ステッパ
−NSR−1505−g6E)に、パターンの切られた
レチクルをセットし、露光量200mJ/cm2(43
6nmの強度)でg線露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転で0.5%のテト
ラメチルアンモニウム水溶液を10秒間噴霧した。この
後、60秒静止し、次いで400回転で5秒間現像液を
噴霧、400回転で10秒間水を噴霧してリンス処理、
3000回転で10秒振り切り乾燥した。
像にならずネガ像となった。また、現像後の膜厚は2μ
mと非常に薄く、感度が低いことが判った。
る溶解性の試験結果は問題なかった。
水物16.1g(0.05モル)、ピロメリット酸二無
水物10.9g(0.05モル)をγ−ブチロラクトン
200gに溶解させた。ここに9.2gのエタノール
(0.2モル)、ピリジン14gを加えて50℃で3時
間反応を行った。この溶液を氷浴で冷却し、内部の温度
を3℃にした。ここに41.3gジシクロヘキシルカル
ボジイミド(0.2モル)をγ−ブチロラクトン50g
に溶解させた溶液を1時間かけてこの溶液に滴下した。
−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン11g
(0.03モル)、4,4’−ジアミノジフェニルエー
テル14.0g(0.07モル)をγ−ブチロラクトン
150gに溶解させた溶液を30分かけて滴下した。こ
の溶液を氷冷下3時間反応させた。反応終了後、析出し
た尿素化合物を濾過で除いた。濾液を5リットルの1重
量%の酢酸水溶液に投入してポリマーの沈殿を生成し
た。この沈殿を集めて、水とメタノ−ルで洗浄した後、
真空乾燥器中50℃で24時間乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2gをγ
−ブチロラクトン30gに溶解させて感光性ポリイミド
前駆体組成物のワニスGを得た。このワニスGの粘度
は、2.0Pa・sであった。
リイミド前駆体のワニスGをプリベ−ク後の膜厚が4μ
mとなるように塗布し、ついでホットプレ−ト(大日本
スクリ−ン社製SKW−636)を用いて、100℃で
3分プリベ−クすることにより、感光性ポリイミド前駆
体膜を得た。ついで、露光機(キャノン社製コンタクト
アライナーPLA−501F)に、パターンの切られた
マスクをセットし、露光量500mJ/cm2(405n
mの強度)で露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転で1.4%テトラ
メチルアンモニウム水溶液を10秒間噴霧した。この
後、600秒間静置し、400回転で10秒間水を噴霧
してリンス処理、3000回転で10秒振り切り乾燥し
たが、すべて溶解しパターンを得ることは出来なかっ
た。
水物16.1g(0.05モル)、ピロメリット酸二無
水物10.9g(0.05モル)、をγ−ブチロラクト
ン200gに溶解させた。ここに54.1gのステアリ
ルアルコール(0.2モル)、ピリジン14gを加えて
60℃で8時間反応を行った。この溶液に氷浴で冷却
し、内部の温度を5℃にした。ここに41.3gジシク
ロヘキシルカルボジイミド(0.2モル)をγ−ブチロ
ラクトン50gに溶解させた溶液を1時間かけてこの溶
液に滴下した。さらに2,2’−ビス(3−アミノ−4
−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン36.
6g(0.1モル)をγ−ブチロラクトン150gに溶
解させた溶液を30分間かけて滴下した。この溶液を氷
冷下3時間反応させた。反応終了後、析出した尿素化合
物を濾過で除いた。濾液を5lの水に投入してポリアミ
ドエステルの沈殿を生成した。この沈殿を集めて、水と
メタノ−ルで洗浄の後に真空乾燥機で50℃で24時間
乾燥した。
ド化合物4NT−300(東洋合成工業社製)2gをγ
−ブチロラクトン30gに溶解させて感光性ポリイミド
前駆体組成物のワニスHを得た。このワニスHの粘度
は、1.5Pa・sであった。
リイミド前駆体のワニスHをプリベ−ク後の膜厚が7μ
mとなるように塗布し、ついでホットプレ−ト(大日本
スクリ−ン社製SKW−636)を用いて、100℃で
3分プリベ−クすることにより、感光性ポリイミド前駆
体膜を得た。ついで、露光機(キャノン社製コンタクト
アライナーPLA−501F)に、パターンの切られた
マスクをセットし、露光量500mJ/cm2(405n
mの強度)で露光を行った。
−636の現像装置を用い、50回転で2.4%テトラ
メチルアンモニウム水溶液を10秒間噴霧した。この
後、600秒間静置し、400回転で10秒間水を噴霧
してリンス処理、3000回転で10秒振り切り乾燥し
たが、露光部も未露光部も溶解しておらず、パターンを
得ることが出来なかった。
水溶液で現像できる、解像度の優れたポジ型の感光性組
成物を得ることができる。
Claims (6)
- 【請求項1】(a)一般式(1)で表される構造単位を
主成分とするポリマーと、(b)ナフトキノンジアジド
化合物を含有することを特徴とするポジ型感光性樹脂組
成物。 【化1】 (R1は4価の芳香族基、R2は3価の芳香族基、R3は
2価の芳香族基、R4は水素または炭素数1から20ま
での有機基である。nは10から100,000までの
整数。) - 【請求項2】前記のポリマーが、ビス(o−アミノフェ
ノール)化合物、芳香族ジアミン化合物およびトリメリ
ット酸無水物からの重合物であることを特徴とする請求
項1に記載のポジ型感光性樹脂組成物。 - 【請求項3】ビス(o−アミノフェノール)化合物のア
ミノ基の70モル%以上がトリメリット酸の4位のカル
ボキシル基と結合していることを特徴とする請求項2に
記載のポジ型感光性樹脂組成物。 - 【請求項4】ビス(o−アミノフェノール)とトリメリ
ット酸無水物を有機溶媒中で縮合剤によって反応せしめ
る第1工程、および第1工程の生成物に芳香族ジアミン
化合物を反応せしめる第2工程を含むことを特徴とする
ポジ型感光性樹脂組成物の製造方法。 - 【請求項5】縮合剤がカルボジイミドであることを特徴
とする請求項4に記載のポジ型感光性樹脂組成物の製造
方法。 - 【請求項6】カルボジイミドを活性エステル化試薬の存
在下において使用することを特徴とする請求項5に記載
のポジ型感光性樹脂組成物の製造方法。
Priority Applications (1)
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JP26361897A JP3890699B2 (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | ポジ型感光性樹脂組成物とその製造方法 |
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---|---|---|---|
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JPH11102068A true JPH11102068A (ja) | 1999-04-13 |
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ID=17392047
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6723484B1 (en) | 1998-09-09 | 2004-04-20 | Toray Industries, Inc. | Positive-working photosensitive resin precursor composition |
JP2007240555A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-20 | Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd | ポジ型感光性ポリアミドイミド樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品 |
JP2007240554A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-20 | Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd | ポジ型感光性ポリアミドイミド樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品 |
JP2009114266A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | ポリベンゾオキサゾール前駆体共重合体、ポジ型感光性樹脂組成物、ポリベンゾオキサゾール共重合体、保護膜および半導体装置 |
JP2010138408A (ja) * | 2010-03-05 | 2010-06-24 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | ベンゾオキサゾール樹脂前駆体、ポリベンゾオキサゾール樹脂、樹脂膜および半導体装置 |
-
1997
- 1997-09-29 JP JP26361897A patent/JP3890699B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
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JP4736864B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2011-07-27 | 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 | ポジ型感光性ポリアミドイミド樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品 |
JP2009114266A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | ポリベンゾオキサゾール前駆体共重合体、ポジ型感光性樹脂組成物、ポリベンゾオキサゾール共重合体、保護膜および半導体装置 |
JP2010138408A (ja) * | 2010-03-05 | 2010-06-24 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | ベンゾオキサゾール樹脂前駆体、ポリベンゾオキサゾール樹脂、樹脂膜および半導体装置 |
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