JPH1099309A - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Ｘ線診断装置

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JPH1099309A
JPH1099309A JP9250862A JP25086297A JPH1099309A JP H1099309 A JPH1099309 A JP H1099309A JP 9250862 A JP9250862 A JP 9250862A JP 25086297 A JP25086297 A JP 25086297A JP H1099309 A JPH1099309 A JP H1099309A
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ray
plane
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JP9250862A
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Joerg Dr Ing Friedrich
フリートリッヒ イェルク
Palm-Pressman Ururike
パルム−プレスマン ウルリケ
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
    • A—HUMAN NECESSITIES
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    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/38—Exposure time
    • H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
    • H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の課題は、Ｘ線診断装置を改善して、
簡単な構造で最適な露光制御を可能にすることである。 【解決手段】 この課題は本発明により、測定領域は２
次元的にビーム検出器平面内で移動可能に支承されてお
り、有利には測定領域の移動は、Ｘ線源の移動に相応し
て強制的な制御により行われるようにＸ線診断装置を構
成して解決される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線源と撮影装置
とを有し、この撮影装置は自動露光装置を有し、この自
動露光装置は少なくとも１つの測定領域を、画像平面に
対して実質的に平行なビーム検出器平面内に有している
形式のＸ線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】露光制御（強度および時間）は現在のＸ
線診断装置ではますます自動露光装置により行われるよ
うになっている。このような自動装置の重要な構成部分
はいわゆる測定領域（センサ）である。この測定領域は
透射される被検体の後方でＸ線検出器に当たるビームを
測定し、電子装置を介してビーム発生を制御する。この
場合目的はフィルム（従来のシステムの場合）または別
の検出器（例えばいわゆるＸ線画像増幅器または別の電
子的検出器（ａＳｉ／Ｓｅ））の適切な露光である。こ
の測定領域またはセンサは典型的には平面上の固定の位
置に配設されている。これには例えばジーメンス社のＤ
ＩＧＩＳＣＡＮ ２Ｔまたはフィリップス社のＴＨＯＲ
ＡＶＩＳＯＮの製品説明書を参照されたい。ゆえに透射
すべき被検体はＸ線源と検出器との間のビーム路へ、撮
影過程の制御のために専ら使用される少なくとも１つの
セクタがカバーされるように配置されなければならな
い。重度に負傷した患者、重度に障害を有する患者また
は子供の場合にはこのように被検体を測定領域の前方で
位置決めすることは必ずしも可能でない。
【０００３】この問題を解決するために、使用者はいわ
ば“自主的な”、すなわち測定領域の支援なしの非自動
化撮影を行うことを余儀なくされる。偶発的な露光の失
敗および繰り返しの撮影による患者への比較的強い照射
の負荷がこの場合に結果として生じる。
【０００４】この問題点を回避するために、ドイツ連邦
共和国特許３３１０９７１号公報においてすでに次のよ
うなＸ線診断装置が公知となっている。このＸ線診断装
置では多数の測定領域が画像撮影部の全体面に相応する
平面にわたって分散的に配設されている。この場合計算
機はそのつど、自動露光装置の検出器上で選択された照
射野の大きさを選択された測定領域と比較し、この測定
領域が完全に照射野内に入っていない場合にはこれを遮
断する。しかしこの装置は構造に関しても付属の評価電
子装置に関してもきわめてコストがかかる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題はゆえ
に、冒頭に述べた形式のＸ線診断装置を改善して、簡単
な構造で最適な露光制御を可能にすることである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によ
り、測定領域は２次元的にビーム検出器平面内で移動可
能に支承されており、有利には測定領域の移動はＸ線源
の移動に相応して強制的な制御により行われるようにＸ
線診断装置を構成して解決される。
【０００７】
【発明の実施の形態】測定領域をＸ線源の移動に相応し
て追従制御するには、Ｘ線源の移動装置の位置検出器が
測定領域の移動装置に必要な制御信号を供給するか、ま
たは測定領域の移動がこの測定領域上に配設されたビー
ムセンサによって制御されればよい。このビームセンサ
は測定領域センサ自体であってもよい。
【０００８】さらに有利な本発明の特徴および個々の構
成は以下の実施例の説明およびきわめて簡略化された図
から得られる。図には案内部、位置検出器、制御電子装
置は示されていないが、これはもちろんこれらが本来の
発明の対象ではないためである。測定領域の案内部およ
び電気的配線はビーム路において通常は検出器の前方に
配置される。この案内部および電気的配線は測定領域自
体と同様に、使用されるＸ線ビームに対して充分に透過
性を有していなければならない。
【０００９】
【実施例】Ｘ線検出器（フィルム検出器または電子的検
出器）は図１には示されていないが、通常はビーム検出
器平面１と平行にビーム路内で測定領域２の後方に配置
される。ビーム検出器平面における測定領域２の位置
Ａ’、Ｂ’は、検出器および測定領域の案内部における
位置検出器を介して定められる。相応に空間内でのＸ線
源３の位置Ａ、ＢはＸ線源の案内部における位置検出器
を介して検出される。Ｘ線源３が例えば位置Ａから位置
Ｂへ移動された場合は、この位置変化は電子的に検出さ
れ、その結果測定領域の新しい位置Ｂ’をこれにより検
出できる。本発明により移動できる測定領域２はその場
合例えばモータによって新しい位置Ｂ’へ移動させるこ
とができる。
【００１０】位置の組み合わせＡ・Ａ’およびＢ・Ｂ’
は通常は測定領域２がＸ線源の中央ビーム４内に存在す
るように選択される。すなわちＸ線源３から見ると、中
央ビーム４は大抵透射すべき被検体の中心へ向けられて
いる。こうした配向が所望されない場合には、問題なく
位置Ａ’またはＢ’の測定のオフセットを電子装置によ
り実現することができる。図２には測定領域２が多数の
測定サブ領域２ａ〜２ｄに分割される様態が示されてい
る。この測定サブ領域は幾何学的に種々異なる位置に配
置され、個別に作動され評価される。
【００１１】本発明は図示の実施例に制限されるもので
はない。ゆえに例えば、測定領域の移動がこの測定領域
上に配設されたビームセンサにより制御されるように構
成することも可能である。この場合、測定領域の追従移
動に対する信号を形成するためのこのセンサは本来の測
定領域センサであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】測定領域がビーム検出平面内でＸ線源の移動に
相応して移動することを示す図である。
【図２】偏心的な被検体透射を実現するために、測定領
域を測定サブ領域へ分割することを示す図である。
【符号の説明】
１ ビーム検出器平面 ２ 測定領域 ２ａ〜２ｄ 測定サブ領域 ３ Ｘ線源 ４ 中央ビーム Ａ’ 測定領域の位置 Ｂ’ 測定領域の位置 Ａ Ｘ線源の位置 Ｂ Ｘ線源の位置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 Ｘ線源（３）と撮影装置とを有し、 該撮影装置は自動露光装置を有し、 該自動露光装置は少なくとも１つの測定領域（２）を、
    画像平面に対して実質的に平行なビーム検出器平面
    （１）内に有している形式のＸ線診断装置において、 前記測定領域（２）は２次元的にビーム検出器平面
    （１）内で移動可能に支承されており、 前記測定領域（２）の移動は、Ｘ線源の移動に相応して
    強制的な制御により行われる、ことを特徴とするＸ線診
    断装置。
  2. 【請求項２】 前記測定領域の移動装置を制御するため
    にＸ線源の移動装置に位置検出器が配設されている、請
    求項１記載の装置。
  3. 【請求項３】 前記測定領域（２）の移動は、該測定領
    域上に配設されたビームセンサにより制御可能である、
    請求項１記載の装置。
JP9250862A 1996-09-18 1997-09-16 Ｘ線診断装置 Pending JPH1099309A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19638145.2 1996-09-18
DE19638145A DE19638145A1 (de) 1996-09-18 1996-09-18 Röntgendiagnostikgerät

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JPH1099309A true JPH1099309A (ja) 1998-04-21

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DE (1) DE19638145A1 (ja)

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US5982848A (en) 1999-11-09
DE19638145A1 (de) 1998-03-26

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