JPH1090008A - エンコーダの原点位置検出装置 - Google Patents

エンコーダの原点位置検出装置

Info

Publication number
JPH1090008A
JPH1090008A JP8261466A JP26146696A JPH1090008A JP H1090008 A JPH1090008 A JP H1090008A JP 8261466 A JP8261466 A JP 8261466A JP 26146696 A JP26146696 A JP 26146696A JP H1090008 A JPH1090008 A JP H1090008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
encoder
origin position
main scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8261466A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3213552B2 (ja
Inventor
Koichi Kudo
宏一 工藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP26146696A priority Critical patent/JP3213552B2/ja
Publication of JPH1090008A publication Critical patent/JPH1090008A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3213552B2 publication Critical patent/JP3213552B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は高精度に原点位置を検出することので
きるエンコーダの原点位置検出装置を提供する。 【解決手段】エンコーダの原点位置検出装置1は、光源
部2が平行光束の光線5をメインスケール3の一部であ
る基準位置部6を介して検出部4に照射し、基準位置部
6には、メインスケール3の移動方向(X方向)に直角
な方向に長い長方形のスリット7が形成されている。検
出部4はメインスケール3の移動方向に対し直角方向に
並ぶとともに、メインスケール3の移動方向に所定量位
置ずれした位置に配設された2個のPD8A、8Bを備
えている。したがって、メインスケール3が移動する
と、スリット7を通過してPD8A、8Bに入射する光
線5の光量が変化し、PD8AとPD8Bに入射する光
線5の光量が同じになる基準位置を高精度に検出でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エンコーダの原点
位置検出装置に関し、詳細には、エンコーダの原点位置
を高精度に検出することのできるエンコーダの原点位置
検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近時、エンコーダは、微細加工において
重要な役割を果たしているが、このエンコーダが適切、
かつ、高精度に可動体の変位を検出するためには、その
原点位置(基準位置)を高精度に検出する必要がある。
【0003】そこで、従来、このエンコーダの原点位置
検出を行うエンコーダが提案されている(特開昭62−
200223号公報参照)。
【0004】このエンコーダは、光束を被検移動物体に
連結した回折格子に入射させ、該回折格子からの回折光
のうち特定次数の回折光を利用し、前記移動物体の移動
状態を測定するエンコーダにおいて、前記被検移動物体
の一部に設けたスリットからなる基準位置検出部に光束
を入射させ、該基準位置検出部からの透過光束もしくは
反射光束を2つの受光面を有する受光手段に導光し、該
受光手段からの出力信号を利用することにより前記被検
移動物体に関する基準信号を得たことを特徴としてい
る。
【0005】したがって、このエンコーダによれば、例
えば、円板を有するロータリーエンコーダの場合は、1
回転につき、1つの基準信号を得ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のエンコーダの原点位置検出装置にあっては、
スリットによる反射若しくは透過光を検出しているの
で、サブミクロンオーダまで高分解能化するためには、
スリット幅を狭くしていく必要があるが、数ミクロン以
下のスリットは、作成が困難であり、また、レーザ光を
照射すると、回折を生じ、精度が悪化するという問題が
あった。
【0007】そこで、請求項1記載の発明は、エンコー
ダのメインスケールと相対移動するヘッド部に設けられ
た光源部からメインスケールに形成された所定の細長い
形状の光成形部に光束を出射し、当該光成形部により光
源部からの光束を切り取って、ヘッド部に設けられ2つ
以上の受光素子を備えた受光手段に、反射もしくは透過
させて、当該受光手段で受光して光電変換させるととも
に、当該2つ以上の受光素子が光成形部からの光束を所
定の位相差を有して受光する位置に配設されたものとす
ることにより、メインスケールの光成形部として幅広の
スリットや反射部材等を形成した場合においても、受光
手段の2つ以上の受光素子により、メインスケールとの
相互移動により変形する光束を検出して、回折によるノ
イズの影響を受けることなく、簡単な構成で、高分解能
に原点位置を検出することのできるエンコーダの原点位
置検出装置を提供することを目的としている。
【0008】請求項2記載の発明は、受光手段を、所定
方向に並んで配設され、光成形部からの光束を所定の位
相差を有して受光する位置となる角度にメインスケール
との相対移動方向に対して所定角度回転された状態で配
設された2個の受光素子を備えたものとすることによ
り、市販の受光手段を使用して、受光素子の位置合わせ
と感度調整を同時に、かつ、簡単に行うことができ、簡
単な構成で、かつ、調整が容易で、高分解能に原点位置
を検出することのできるエンコーダの原点位置検出装置
を提供することを目的としている。
【0009】請求項3記載の発明は、受光手段を、4個
の受光素子が、所定方向に並んで配設されるとともに、
それぞれ光成形部からの光束を所定の位相差を有して受
光する位置に、メインスケールとの相対移動方向にそれ
ぞれ位置ずれした状態で配設されたものとすることによ
り、より一層ノイズを低減させて、より一層高分解能に
原点位置を検出することのできるエンコーダの原点位置
検出装置を提供することを目的としている。
【0010】請求項4記載の発明は、受光手段を、縦横
対称に配設された4個の受光素子を備え、この4個の受
光素子が、それぞれ光成形部からの光束を所定の位相差
を有して受光する位置となる角度に、メインスケールと
の相対移動方向に対して所定角度回転された状態で配設
されたものとすることにより、縦横対称に受光素子が4
分割された市販の受光手段を使用して、受光素子の位置
合わせと感度調整を同時に、かつ、簡単に行うことがで
きるとともに、ノイズをより一層低減させて、より一層
高分解能に原点位置を検出することのできるエンコーダ
の原点位置検出装置を提供することを目的としている。
【0011】請求項5記載の発明は、光成形部の形成さ
れたメインスケールと受光手段との間に光成形部からの
光束を通過させる所定形状の4個の開口部の形成された
マスク手段を配設するとともに、受光手段を、メインス
ケールとの相互移動方向に対して直角方向に並んで配設
された4個の受光素子を備えたものとし、マスク手段の
4個の開口部を、この受光手段の4個の受光素子にそれ
ぞれ位相の異なる光束を照射させる位置に形成されたも
のとすることにより、受光手段を固定して、移動変更が
容易なマスク手段の移動と位置調整を行うことにより、
感度調整を適切、かつ、容易に行え、高分解能に原点位
置を検出することのできるエンコーダの原点位置検出装
置を提供することを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明のエ
ンコーダの原点位置検出装置は、可動体の変位に対応し
た電気信号を出力するエンコーダの原点位置を検出する
エンコーダの原点位置検出装置において、エンコーダの
メインスケールと相対移動するヘッド部に設けられ所定
の光束を照射する光源部と、前記メインスケールに形成
され所定の細長い形状を有して前記光源からの前記光束
を切り取って反射あるいは透過させる光成形部と、前記
ヘッド部に設けられ前記光成形部からの前記光束を受光
して光電変換する受光手段と、を備え、前記受光手段
は、少なくとも2個以上の受光素子を備え、各受光素子
は、前記光成形部からの光束を所定の位相差を有して受
光する位置に配設されていることにより、上記目的を達
成している。
【0013】上記構成によれば、エンコーダのメインス
ケールと相対移動するヘッド部に設けられた光源部から
メインスケールに形成された所定の細長い形状の光成形
部に光束を出射し、当該光成形部により光源部からの光
束を切り取って、ヘッド部に設けられ2つ以上の受光素
子を備えた受光手段に、反射もしくは透過させて、当該
受光手段で受光して光電変換させるとともに、当該2つ
以上の受光素子が光成形部からの光束を所定の位相差を
有して受光する位置に配設されたものとしているので、
メインスケールの光成形部として幅広のスリットや反射
部材等を形成した場合においても、受光手段の2つ以上
の受光素子により、メインスケールとの相互移動により
変形する光束を検出して、回折によるノイズの影響を受
けることなく、簡単な構成で、高分解能に原点位置を検
出することができる。
【0014】この場合、例えば、請求項2に記載するよ
うに、前記受光手段は、所定方向に並んで配設された2
個の受光素子を備え、当該2個の受光素子が、前記光成
形部からの光束を所定の位相差を有して受光する位置と
なる角度に前記相対移動方向に対して所定角度回転され
た状態で配設されていてもよい。
【0015】上記構成によれば、受光手段を、所定方向
に並んで配設され、光成形部からの光束を所定の位相差
を有して受光する位置となる角度にメインスケールとの
相対移動方向に対して所定角度回転された状態で配設さ
れた2個の受光素子を備えたものとしているので、市販
の受光手段を使用して、受光素子の位置合わせと感度調
整を同時に、かつ、簡単に行うことができ、簡単な構成
で、かつ、位置調整と感度調整を容易に行うことができ
るとともに、高分解能に原点位置を検出することができ
る。
【0016】また、例えば、請求項3に記載するよう
に、前記受光手段は、4個の受光素子を備え、当該4個
の受光素子が、所定方向に並んで配設されるとともに、
それぞれ前記光成形部からの光束を所定の位相差を有し
て受光する位置に、前記相対移動方向にそれぞれ位置ず
れした状態で配設されていてもよい。
【0017】上記構成によれば、受光手段を、4個の受
光素子が、所定方向に並んで配設されるとともに、それ
ぞれ光成形部からの光束を所定の位相差を有して受光す
る位置に、メインスケールとの相対移動方向にそれぞれ
位置ずれした状態で配設されたものとしているので、よ
り一層ノイズを低減させることができ、より一層高分解
能に原点位置を検出することができる。
【0018】さらに、例えば、請求項4に記載するよう
に、前記受光手段は、縦横対称に配設された4個の受光
素子を備え、当該4個の受光素子が、それぞれ前記光成
形部からの光束を所定の位相差を有して受光する位置と
なる角度に、前記相対移動方向に所定角度回転された状
態で配設されていてもよい。
【0019】上記構成によれば、受光手段を、縦横対称
に配設された4個の受光素子を備え、この4個の受光素
子が、それぞれ光成形部からの光束を所定の位相差を有
して受光する位置となる角度に、メインスケールとの相
対移動方向に対して所定角度回転された状態で配設され
たものとしているので、縦横対称に受光素子が4分割さ
れた市販の受光手段を使用して、受光素子の位置合わせ
と感度調整を同時に、かつ、簡単に行うことができると
ともに、ノイズをより一層低減させて、より一層高分解
能に原点位置を検出することができる。
【0020】また、例えば、請求項5に記載するよう
に、前記エンコーダの原点位置検出装置は、前記光成形
部の形成された前記メインスケールと前記受光手段との
間に配設され前記光成形部からの光束を通過させる所定
形状の4個の開口部の形成されたマスク手段を、さらに
備え、前記受光手段は、前記メインスケールとの前記相
互移動方向に対して直角方向に並んで配設された4個の
受光素子を備え、前記マスク手段の前記4個の開口部
は、前記受光手段の4個の受光素子にそれぞれ位相の異
なる光束を照射させる位置に形成されていてもよい。
【0021】上記構成によれば、光成形部の形成された
メインスケールと受光手段との間に光成形部からの光束
を通過させる所定形状の4個の開口部の形成されたマス
ク手段を配設するとともに、受光手段を、メインスケー
ルとの相互移動方向に対して直角方向に並んで配設され
た4個の受光素子を備えたものとし、マスク手段の4個
の開口部を、この受光手段の4個の受光素子にそれぞれ
位相の異なる光束を照射させる位置に形成されたものと
しているので、受光手段を固定して、移動変更が容易な
マスク手段の移動と位置調整を行うことができ、感度調
整を適切、かつ、容易に行うことができるとともに、高
分解能に原点位置を検出することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な実施の形態であるか
ら、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本
発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもので
はない。
【0023】図1〜図3は、本発明のエンコーダの原点
位置検出装置の第1の実施の形態を示す図であり、本実
施の形態は、請求項1に対応するものである。
【0024】図1は、本発明のエンコーダの原点位置検
出装置の第1の実施の形態を適用したエンコーダの原点
位置検出装置1の斜視図であり、図1において、エンコ
ーダの原点位置検出装置1は、光源部2、メインスケー
ル3及び検出部4等を備えている。
【0025】光源部2は、LED(Light Emitting Dio
de)等の発光素子で形成された光源や光源から出射され
た光を平行光とするレンズ等を備え、光線5をメインス
ケール3を介して検出部4に照射する。なお、光源部2
は、その出射光線5として平行光を出射するが、出射光
線5としては、平行光に限るものではなく、集光光ある
いは分散光であってもよい。本実施の形態では、説明を
簡単化するために平行光としている。
【0026】メインスケール(メインスケール手段)3
は、エンコーダのメインスケールであり、メインスケー
ル3の基準位置に対応する基準位置部6には、長方形状
のスリット(光成形部)7が形成されている。スリット
7は、メインスケール3とエンコーダのヘッド部との相
対移動方向(図1中X方向)に対して直角方向にその長
軸方向を一致させた状態で形成されている。
【0027】検出部(受光手段)4は、メインスケール
3の基準位置部6を挟んで、光源部2と反対側に配設さ
れ、図2に示すように、2分割されたPD(Photo Diod
e )8A、8Bを備えて、基準位置部6を介して入射さ
れる光源部2からの光を光電変換する。
【0028】そして、上記光源部2及び検出部4は、メ
インスケール3がないときに検出部4の上記2つのPD
(受光素子)8A、8Bの両方の領域に同じ光量の光線
5が照射する位置に配設されており、また、エンコーダ
のヘッド部に固定されて、ヘッド部あるいはメインスケ
ール3の移動(本実施の形態では、図1中X方向に移
動)によりスリット7が光源部2から検出部4に向かっ
て出射された光の光線5を横切ることとなる。
【0029】上記検出部4のPD8A、8Bは、スリッ
ト7を通過した光線5が所定の空間的に位相がずれて入
射される位置に配設されている。すなわち、本実施の形
態では、メインスケール3の移動方向である図1中X方
向に相互に位置ずれした状態で配設されている。
【0030】次に、本実施の形態の動作を説明する。エ
ンコーダの原点位置検出装置1は、上述のように、光源
部2と検出部4がエンコーダの図示しないヘッド部に固
定され、基準位置部6がエンコーダのメインスケール3
の一部に設けられている。
【0031】この状態で、光源部2から検出部4に向か
って光が照射され、ヘッド部あるいはメインスケールが
移動すると、基準位置部6のスリット7が上記光線5を
横切ることとなる。
【0032】いま、メインスケール3が移動するものと
すると、検出部4の2つのPD8A、8Bが位相がずれ
た状態で配設されているので、メインスケール3の移動
に伴って、スリット7を通過した光線5は、図2の
(a)の状態から図2の(b)の状態を経て、図2の
(c)の状態へと検出部4のPD8A、8Bに入射する
光線5の光量が変化し、このときPD8A及びPD8B
は、図3に示すように、それぞれ図2(a)〜図2
(c)のスリット7の位置に応じて、出力信号SA(P
D8Aの出力信号)と出力信号SB(PD8Bの出力信
号)を出力する。
【0033】ここで、検出部4のPD8AとPD8Bに
入射する光線5の光量が同じになる位置を基準位置(原
点位置)とすると、PD8Aの光電変換した出力信号S
AとPD8Bの光電変換した出力信号SBとを比較する
ことにより、基準位置を高精度に検出することができ
る。
【0034】例えば、図4に示すように、PD8Bの出
力信号SBからPD8Aの出力信号SAを減算した差信
号SB−SAを演算し、差信号SB−SAが「0」とな
るレベルにおいて、原点信号パルスを出力することによ
り、正確に原点位置を検出することができる。
【0035】このように、本実施の形態によれば、光源
部2から光線5をメインスケール3に出射し、当該メイ
ンスケール3に形成された長方形状の光成形部であるス
リット7により光源部2からの光線5を切り取って、2
つ以上の受光素子であるPD8A、8Bがメインスケー
ル3との相互移動方向により位相の生じる位置に配設さ
れた受光手段である検出部4に透過させて、当該検出部
4で受光して光電変換させているので、メインスケール
3のスリット7として幅広のスリット等を形成した場合
においても、検出部4の2つのPD8A、8Bにより、
高分解能に原点位置を検出することができる。また、2
つのPD8A、8Bの出力信号SA、SBを比較して原
点位置を検出しているので、ミクロンオーダに集光でき
ない安価なLEDを光源として利用することができると
ともに、構成を簡単なものとすることができ、正確に原
点位置を検出することのできるエンコーダの原点位置検
出装置1を安価で、調整が容易なものとすることができ
る。
【0036】図5〜図10は、本発明のエンコーダの原
点位置検出装置の第2の実施の形態を示す図であり、本
実施の形態は、請求項2に対応するものである。なお、
本実施の形態は、分割された2個のPDが並んで配設さ
れた検出部をスリットに対して傾斜させることにより2
個のPDに位相差を持たせたものであり、上記第1の実
施の形態と同様の構成部分には、同一の符号を用いて、
その詳細な説明を省略する。
【0037】図5は、本実施の形態のエンコーダの原点
位置検出装置の検出部10の正面図であり、図5におい
て、検出部10は、2分割された長方形のPD10A、
10Bが一列に並んで配設され、市販されているもので
ある。この検出部10は、図5に破線で示すメインスケ
ール3の基準位置部6に形成されたスリット7の長軸方
向に対して所定角度θだけ傾斜した状態、すなわち、メ
インスケール3と検出部10との相対移動方向に対して
所定角度傾斜した状態で配設されている。
【0038】なお、本実施の形態のエンコーダの原点位
置検出装置は、その光源部2、メインスケール3及び基
準位置部6が、上記第1の実施の形態と同様に構成され
ている。
【0039】したがって、本実施の形態のエンコーダの
原点位置検出装置は、光源部2から出射された光線5を
メインスケール3の基準位置部6のスリット7を介して
検出部4に照射する。
【0040】このとき、検出部4のPD10A、10B
は、一列に並んで配設されているが、スリット7の長軸
方向に対して所定角度θだけ傾斜した状態で配設されて
いるので、スリット7を通過してPD10AとPD10
Bに入射する光線5の光量がスリット7の位置に応じて
変化し、PD10Aの出力信号SAとPD10Bの出力
信号SBは、スリット7の位置に応じて、図6に示すよ
うに、その信号強度が変化する。
【0041】したがって、上記第1の実施の形態と同様
に、PD10Aの光電変換した出力信号SAとPD10
Bの光電変換した出力信号をSBとの差信号SB−SA
を演算する等の方法で比較することにより、基準位置を
高精度に検出することができる。
【0042】この場合、検出部4のスリット7の長軸方
向とのなす角度θを、図7及び図8に示すように、大き
くすると、角度θが大きくなるに従って、PD10Aの
出力信号SAとPD10Bの出力信号SBの信号強度
が、図9及び図10に示すように変化する。
【0043】したがって、検出部4とスリット7の長軸
方向とのなす角度θを適宜変えることにより、検出感度
を変えることができ、この角度θを調整することによ
り、適切な感度を得ることができる。
【0044】その結果、市販の安価な検出部4を使用し
て、精度よく原点位置を検出することができる。
【0045】図11及び図12は、本発明のエンコーダ
の原点位置検出装置の第3の実施の形態を示す図であ
り、本実施の形態は、請求項3に対応するものである。
なお、本実施の形態は、検出部に4つの受光素子が配設
されたものであり、上記第1の実施の形態と同様の構成
部分は、同一の符号を用い、その詳細な説明を省略す
る。
【0046】図11は、本実施の形態のエンコーダの原
点位置検出装置の検出部20の正面図であり、図11に
おいて、検出部20は、4つのPD20A、20B、2
0C、20Dがスリット7の長軸方向に並んで配設され
ているとともに、スリット7の移動方向(図11中に矢
印で示す方向)に交互にずれた状態、すなわち、メイン
スケール3の移動に対して、各PD20A、20B、2
0C、20Dが位相差を有して、スリット7を通過した
光源部2からの光線5を受光できる位置に配設されてい
る。
【0047】なお、本実施の形態のエンコーダの原点位
置検出装置は、その光源部2、メインスケール3及び基
準位置部6が、上記第1の実施の形態と同様に構成され
ている。
【0048】したがって、本実施の形態のエンコーダの
原点位置検出装置は、メインスケール3、すなわち、ス
リット7の図11中矢印方向の移動に伴って、スリット
7を通過して検出部20の4つのPD20A、20B、
20C、20Dに入射される光線5の光量が順次変化
し、各PD20A、20B、20C、20Dの出力信号
SA、SB、SC、SDが順次変化する。
【0049】そこで、検出部20の4つのPD20A、
20B、20C、20Dのうち、2つずつ、例えば、P
D20AとPD20B及びPD20CとPD20Dのそ
れぞれの出力信号SA、SB、SC、SDの差信号SB
−SAと差信号SC−SDを演算することにより、原点
位置を検出することができる。
【0050】すなわち、差信号SB−SAと差信号SC
−SDは、スリット7の移動に伴って、図12に示すよ
うに変化し、差信号SB−SAと差信号SC−SDの値
が一致する位置を原点位置として、原点信号パルスを出
力することにより、正確に原点位置を検出することがで
きる。
【0051】なお、本実施の形態においては、PD20
A、20B、20C、20Dの形状は、受光効率から長
方形状が好ましいが、他の形状であっても同様に適用す
ることができる。また、各PD20A、20B、20
C、20Dの配設位置は、上記の位置に限るものではな
く、4つのPD20A、20B、20C、20Dが位相
差を有して、スリット7を通過した光源部2からの光線
5を受光できる位置であれば、どのような配設位置に配
設されていてもよい。さらに、上記においては、PD2
0AとPD20B及びPD20CとPD20Dを組とし
て、その出力信号SA、SB、SC、SDの差信号SB
−SAと差信号SC−SDを演算しているが、差信号を
取るPD20A、PD20B、PD20C、PD20D
の組み合わせは、上記のものに限るものではなく、適切
に原点位置を検出できる組み合わせであれば、どのよう
な組み合わせで差信号を算出してもよい。
【0052】図13は、本発明のエンコーダの原点位置
検出装置の第4の実施の形態を示す図であり、本実施の
形態は、請求項4に対応するものである。なお、本実施
の形態は、検出部に対称に4分割された受光素子が配設
されたものであり、上記第1の実施の形態と同様の構成
部分には、同一の符号を用い、その詳細な説明を省略す
る。
【0053】図13は、本実施の形態のエンコーダの原
点位置検出装置の検出部30の正面図であり、図13に
おいて、検出部30は、4つのPD30A、30B、3
0C、30Dがスリット7の長軸方向に対して上下左右
(縦横)が対称に4分割されるとともに、スリット7の
長軸方向に対して所定角度傾斜した状態で配設されてい
る。したがって、各PD30A、30B、30C、30
Dは、メインスケール3の移動に対して、スリット7を
通過した光源部2からの光線5が位相差を有して入射さ
れる位置に配設されている。
【0054】なお、本実施の形態のエンコーダの原点位
置検出装置は、その光源部2、メインスケール3及び基
準位置部6が、上記第1の実施の形態と同様に構成され
ている。
【0055】したがって、本実施の形態のエンコーダの
原点位置検出装置は、メインスケール3、すなわち、ス
リット7の図13中矢印方向の移動に伴って、スリット
7を通過して検出部30の4つのPD30A、30B、
30C、30Dに入射される光線5の光量が順次変化
し、各PD30A、30B、30C、30Dの出力信号
SA、SB、SC、SDが順次変化する。
【0056】そこで、検出部30の4つのPD30A、
30B、30C、30Dのうち、2つずつ、例えば、P
D30AとPD30C及びPD30BとPD30Dのそ
れぞれの出力信号SA、SC、SB、SDの差信号SC
−SAと差信号SD−SBを演算することにより、原点
位置を検出することができる。
【0057】すなわち、差信号SC−SAと差信号SD
−SBは、スリット7の移動に伴って、図12に示した
のと同様に変化し、差信号SC−SAと差信号SD−S
Bの値が一致する位置を原点位置として、原点信号パル
スを出力することにより、正確に原点位置を検出するこ
とができる。
【0058】なお、本実施の形態においては、各PD3
0A、30B、30C、30Dの組み合わせとして、P
D30AとPD30C及びPD30BとPD30Dを組
として、その出力信号SA、SB、SC、SDの差信号
SC−SAと差信号SD−SBを演算しているが、差信
号を取るPD30A、PD30B、PD30C、PD3
0Dの組み合わせは、上記のものに限るものではなく、
適切に原点位置を検出できる組み合わせであれば、どの
ような組み合わせで差信号を算出してもよいが、スリッ
ト7の移動方向に並んだ組み合わせであるPD30Aと
PD30C及びPD30BとPD30Dの差信号を取る
ようにしたほうが好適である。
【0059】図14は、本発明のエンコーダの原点位置
検出装置の第5の実施の形態を示す図であり、本実施の
形態は、請求項5に対応するものである。なお、本実施
の形態は、4つの開口部の形成されたマスクを通して光
線を検出部に照射させるものであり、上記第1の実施の
形態と同様の構成部分には、同一の符号を用い、その詳
細な説明を省略する。
【0060】図14は、本実施の形態のエンコーダの原
点位置検出装置の検出部40及び検出部40の上部に配
設されたマスク41の斜視図であり、図14において、
検出部40は、4つの長方形状のPD40A、40B、
40C、40Dがメインスケール3の移動方向(図14
中矢印方向)に対して平行な方向に長く延在して配設さ
れた、いわゆる縦4分割のPD40A、40B、40
C、40Dを備えている。
【0061】マスク41には、4つの略正方形状の開口
部41A、41B、41C、41Dが、検出部40の長
方形状のPD40A、40B、40C、40Dの長手方
向に対して略直角方向、すなわち、メインスケール3の
移動方向に対して略直角方向に並んで形成されていると
ともに、各開口部41A、41B、41C、41Dがメ
インスケール3の移動方向に位置ずれした状態で配設さ
れている。
【0062】したがって、マスク41の各開口部41
A、41B、41C、41Dを通過した光線が所定の位
相差を有して検出部40のPD40A、40B、40
C、40Dに入射される。
【0063】マスク41の上部には、上記第1の実施の
形態と同様に、その基準位置部6にスリット7の形成さ
れたメインスケール3が配設されており、このスリット
7を通過した光線5がマスク41上に照射される。した
がって、この光線5は、図14に示すように、その光軸
5の直角方向の断面形状5Aが長方形状となっている。
【0064】なお、本実施の形態のエンコーダの原点位
置検出装置は、その光源部2、メインスケール3及び基
準位置部6が、上記第1の実施の形態と同様に構成され
ている。
【0065】したがって、本実施の形態のエンコーダの
原点位置検出装置は、メインスケール3、すなわち、ス
リット7の図14中矢印方向の移動に伴って、スリット
7を通過した光線5がマスク41上に照射され、このス
リット7の移動に伴って、光線5がマスク41の開口部
41A、41B、41C、41Dを通過して、検出部4
0の4つのPD40A、40B、40C、40Dに入射
される。
【0066】その結果、スリット7、すなわち、メイン
スケール3の移動に伴って、検出部40の4つのPD4
0A、40B、40C、40Dに入射される光線5の光
量が変化し、各PD40A、40B、40C、40Dの
出力信号SA、SB、SC、SDが順次変化する。
【0067】そこで、検出部40の4つのPD40A、
40B、40C、40Dのうち、2つずつ、例えば、隣
り合うPD40AとPD40B及びPD40CとPD4
0Dのそれぞれの出力信号SA、SB、SC、SDの差
信号SB−SAと差信号SD−SCを演算することによ
り、原点位置を検出することができる。
【0068】すなわち、差信号SB−SAと差信号SD
−SCは、スリット7の移動に伴って、図12に示した
のと同様に変化し、SB−SAと差信号SD−SCの値
が一致する位置を原点位置として、原点信号パルスを出
力することにより、正確に原点位置を検出することがで
きる。
【0069】なお、本実施の形態においては、各PD4
0A、40B、40C、40Dの組み合わせとして、P
D40AとPD30B及びPD40CとPD40Dを組
として、その出力信号SA、SB、SC、SDの差信号
SB−SAと差信号SD−SCを演算しているが、差信
号を取るPD40A、PD40B、PD40C、PD4
0Dの組み合わせは、上記の組み合わせに限るものでは
なく、適切に原点位置を検出できる組み合わせであれ
ば、どのような組み合わせで差信号を算出してもよい。
【0070】したがって、本実施の形態によれば、検出
部40を固定して、マスクの設定位置の変更や移動を調
整することにより、容易に検出精度や検出感度を調整す
ることができ、原点位置を正確に検出するエンコーダの
原点位置検出装置の調整を簡単なものとすることができ
る。
【0071】また、縦4分割のPD40A、40B、4
0C、40Dを備えた検出部40は、一般に市販されて
おり、検出部40、ひいてはエンコーダの原点位置検出
装置を安価なものとすることができる。
【0072】以上、本発明者によってなされた発明を好
適な実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
上記のものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱
しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
【0073】例えば、上記各実施の形態においては、光
源部の光源としてLEDを用いたものを適用している
が、光源としては、これに限るものではない。
【0074】また、前記各実施の形態においては、メイ
ンスケールの基準位置部に形成される光成形部として、
照射光を成形して検出部に透過させるスリットが形成さ
れている場合について説明したが、メインスケールの基
準位置部に形成される光成形部としては、照射光を成形
して検出部に反射させる反射部材、例えば、上記スリッ
トと同様の形状の反射鏡等であってもよい。
【0075】
【発明の効果】請求項1記載の発明のエンコーダの原点
位置検出装置によれば、エンコーダのメインスケールと
相対移動するヘッド部に設けられた光源部からメインス
ケールに形成された所定の細長い形状の光成形部に光束
を出射し、当該光成形部により光源部からの光束を切り
取って、ヘッド部に設けられ2つ以上の受光素子を備え
た受光手段に、反射もしくは透過させて、当該受光手段
で受光して光電変換させるとともに、当該2つ以上の受
光素子が光成形部からの光束を所定の位相差を有して受
光する位置に配設されたものとしているので、メインス
ケールの光成形部として幅広のスリットや反射部材等を
形成した場合においても、受光手段の2つ以上の受光素
子により、メインスケールとの相互移動により変形する
光束を検出して、回折によるノイズの影響を受けること
なく、簡単な構成で、高分解能に原点位置を検出するこ
とができる。
【0076】請求項2記載の発明のエンコーダの原点位
置検出装置によれば、受光手段を、所定方向に並んで配
設され、光成形部からの光束を所定の位相差を有して受
光する位置となる角度にメインスケールとの相対移動方
向に対して所定角度回転された状態で配設された2個の
受光素子を備えたものとしているので、市販の受光手段
を使用して、受光素子の位置合わせと感度調整を同時
に、かつ、簡単に行うことができ、簡単な構成で、か
つ、位置調整と感度調整を容易に行うことができるとと
もに、高分解能に原点位置を検出することができる。
【0077】請求項3記載の発明のエンコーダの原点位
置検出装置によれば、受光手段を、4個の受光素子が、
所定方向に並んで配設されるとともに、それぞれ光成形
部からの光束を所定の位相差を有して受光する位置に、
メインスケールとの相対移動方向にそれぞれ位置ずれし
た状態で配設されたものとしているので、より一層ノイ
ズを低減させることができ、より一層高分解能に原点位
置を検出することができる。
【0078】請求項4記載の発明のエンコーダの原点位
置検出装置によれば、受光手段を、縦横対称に配設され
た4個の受光素子を備え、この4個の受光素子が、それ
ぞれ光成形部からの光束を所定の位相差を有して受光す
る位置となる角度に、メインスケールとの相対移動方向
に対して所定角度回転された状態で配設されたものとし
ているので、縦横対称に受光素子が4分割された市販の
受光手段を使用して、受光素子の位置合わせと感度調整
を同時に、かつ、簡単に行うことができるとともに、ノ
イズをより一層低減させて、より一層高分解能に原点位
置を検出することができる。
【0079】請求項5記載の発明のエンコーダの原点位
置検出装置によれば、光成形部の形成されたメインスケ
ールと受光手段との間に光成形部からの光束を通過させ
る所定形状の4個の開口部の形成されたマスク手段を配
設するとともに、受光手段を、メインスケールとの相互
移動方向に対して直角方向に並んで配設された4個の受
光素子を備えたものとし、マスク手段の4個の開口部
を、この受光手段の4個の受光素子にそれぞれ位相の異
なる光束を照射させる位置に形成されたものとしている
ので、受光手段を固定して、移動変更が容易なマスク手
段の移動と位置調整を行うことができ、感度調整を適
切、かつ、容易に行うことができるとともに、高分解能
に原点位置を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のエンコーダの原点位置検出装置の第1
の実施の形態を適用したエンコーダの原点位置検出装置
の要部斜視図。
【図2】図1のメインスケールの移動に伴うスリット位
置の変化による検出部への光線の照射状態(a)、
(b)、(c)の変化状態を示す図。
【図3】図2のスリット位置の変化による各光線の照射
状態における検出部の各PDの信号強度の変化を示す
図。
【図4】図3の2つのPDの出力信号の差信号と差信号
が0になるときに出力される原点信号パルスを示す図。
【図5】本発明のエンコーダの原点位置検出装置の第2
の実施の形態を適用したエンコーダの原点位置検出装置
の検出部の正面図。
【図6】図5の検出部の2つのPDのスリットの移動に
伴う出力信号の信号強度の変化を示す図。
【図7】図5の検出部の傾斜角度を大きくした検出部の
正面図。
【図8】図7の検出部の2つのPDのスリットの移動に
伴う出力信号の信号強度の変化を示す図。
【図9】図7の検出部の傾斜角度をさらに大きくした検
出部の正面図。
【図10】図9の検出部の2つのPDのスリットの移動
に伴う出力信号の信号強度の変化を示す図。
【図11】本発明のエンコーダの原点位置検出装置の第
3の実施の形態を適用したエンコーダの原点位置検出装
置の検出部の正面図。
【図12】図11の検出部の4つのPDの2つずつのP
Dの出力信号の差信号のスリットの移動に伴う信号強度
の変化と差信号が0になるときに出力される原点信号パ
ルスを示す図。
【図13】本発明のエンコーダの原点位置検出装置の第
4の実施の形態を適用したエンコーダの原点位置検出装
置の検出部の正面図。
【図14】本発明のエンコーダの原点位置検出装置の第
5の実施の形態を適用したエンコーダの原点位置検出装
置の検出部とマスクの斜視図。
【符号の説明】
1 エンコーダの原点位置検出装置 2 光源部 3 メインスケール 4、10、20、30、40 検出部 5 光線 6 基準位置部 7 スリット 8A、8B、10A、10B、20A〜20D、30A
〜30D PD 40A〜40D PD 41 マスク 41A〜41D 開口部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】可動体の変位に対応した電気信号を出力す
    るエンコーダの原点位置を検出するエンコーダの原点位
    置検出装置において、エンコーダのメインスケールと相
    対移動するヘッド部に設けられ所定の光束を照射する光
    源部と、前記メインスケールに形成され所定の細長い形
    状を有して前記光源からの前記光束を切り取って反射あ
    るいは透過させる光成形部と、前記ヘッド部に設けられ
    前記光成形部からの前記光束を受光して光電変換する受
    光手段と、を備え、前記受光手段は、少なくとも2個以
    上の受光素子を備え、各受光素子は、前記光成形部から
    の光束を所定の位相差を有して受光する位置に配設され
    ていることを特徴とするエンコーダの原点位置検出装
    置。
  2. 【請求項2】前記受光手段は、所定方向に並んで配設さ
    れた2個の受光素子を備え、当該2個の受光素子が、前
    記光成形部からの光束を所定の位相差を有して受光する
    位置となる角度に前記相対移動方向に対して所定角度回
    転された状態で配設されていることを特徴とする請求項
    1記載のエンコーダの原点位置検出装置。
  3. 【請求項3】前記受光手段は、4個の受光素子を備え、
    当該4個の受光素子が、所定方向に並んで配設されると
    ともに、それぞれ前記光成形部からの光束を所定の位相
    差を有して受光する位置に、前記相対移動方向にそれぞ
    れ位置ずれした状態で配設されていることを特徴とする
    請求項1記載のエンコーダの原点位置検出装置。
  4. 【請求項4】前記受光手段は、縦横対称に配設された4
    個の受光素子を備え、当該4個の受光素子が、それぞれ
    前記光成形部からの光束を所定の位相差を有して受光す
    る位置となる角度に、前記相対移動方向に所定角度回転
    された状態で配設されていることを特徴とする請求項1
    記載のエンコーダの原点位置検出装置。
  5. 【請求項5】前記エンコーダの原点位置検出装置は、前
    記光成形部の形成された前記メインスケールと前記受光
    手段との間に配設され前記光成形部からの光束を通過さ
    せる所定形状の4個の開口部の形成されたマスク手段
    を、さらに備え、前記受光手段は、前記メインスケール
    との前記相互移動方向に対して直角方向に並んで配設さ
    れた4個の受光素子を備え、前記マスク手段の前記4個
    の開口部は、前記受光手段の4個の受光素子にそれぞれ
    位相の異なる光束を照射させる位置に形成されているこ
    とを特徴とする請求項1記載のエンコーダの原点位置検
    出装置。
JP26146696A 1996-09-10 1996-09-10 エンコーダの原点位置検出装置 Expired - Fee Related JP3213552B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26146696A JP3213552B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 エンコーダの原点位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26146696A JP3213552B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 エンコーダの原点位置検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1090008A true JPH1090008A (ja) 1998-04-10
JP3213552B2 JP3213552B2 (ja) 2001-10-02

Family

ID=17362301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26146696A Expired - Fee Related JP3213552B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 エンコーダの原点位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3213552B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090314749A1 (en) * 2008-06-19 2009-12-24 Mitutoyo Corporation Slit width adjusting device and microscope laser processing apparatus
JP2011196780A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダ
WO2011152076A1 (ja) * 2010-05-31 2011-12-08 株式会社安川電機 ロータリエンコーダ、ロータリモータ及びロータリモータシステム
JP2012247221A (ja) * 2011-05-25 2012-12-13 Nikon Corp エンコーダ、駆動システム、及び制御装置
JP2013072742A (ja) * 2011-09-28 2013-04-22 Thk Co Ltd エンコーダ、アクチュエータ
JP2014165266A (ja) * 2013-02-22 2014-09-08 Orc Manufacturing Co Ltd 露光装置
JP2014224745A (ja) * 2013-05-16 2014-12-04 株式会社ミツトヨ 原点信号発生装置及び原点信号発生システム
JP2015065228A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 株式会社オーク製作所 露光装置
JP2015152408A (ja) * 2014-02-14 2015-08-24 キヤノンプレシジョン株式会社 エンコーダ
US9618369B2 (en) 2008-08-26 2017-04-11 The University Court Of The University Of Glasgow Uses of electromagnetic interference patterns
JP2019152627A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 横河電機株式会社 多心コネクタ光ファイバー測定装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5613246B2 (ja) * 1975-03-15 1981-03-27
JPH05133773A (ja) * 1991-08-14 1993-05-28 Copal Co Ltd 光学式基準位置検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5613246B2 (ja) * 1975-03-15 1981-03-27
JPH05133773A (ja) * 1991-08-14 1993-05-28 Copal Co Ltd 光学式基準位置検出装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090314749A1 (en) * 2008-06-19 2009-12-24 Mitutoyo Corporation Slit width adjusting device and microscope laser processing apparatus
US8680428B2 (en) * 2008-06-19 2014-03-25 Mitutoyo Corporation Slit width adjusting device and microscope laser processing apparatus
US9618369B2 (en) 2008-08-26 2017-04-11 The University Court Of The University Of Glasgow Uses of electromagnetic interference patterns
JP2011196780A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダ
JP5545366B2 (ja) * 2010-05-31 2014-07-09 株式会社安川電機 ロータリエンコーダ、ロータリモータ及びロータリモータシステム
WO2011152076A1 (ja) * 2010-05-31 2011-12-08 株式会社安川電機 ロータリエンコーダ、ロータリモータ及びロータリモータシステム
US8461790B2 (en) 2010-05-31 2013-06-11 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Rotary encoder, rotary motor, and rotary motor system
JP2012247221A (ja) * 2011-05-25 2012-12-13 Nikon Corp エンコーダ、駆動システム、及び制御装置
JP2013072742A (ja) * 2011-09-28 2013-04-22 Thk Co Ltd エンコーダ、アクチュエータ
JP2014165266A (ja) * 2013-02-22 2014-09-08 Orc Manufacturing Co Ltd 露光装置
JP2014224745A (ja) * 2013-05-16 2014-12-04 株式会社ミツトヨ 原点信号発生装置及び原点信号発生システム
JP2015065228A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 株式会社オーク製作所 露光装置
JP2015152408A (ja) * 2014-02-14 2015-08-24 キヤノンプレシジョン株式会社 エンコーダ
JP2019152627A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 横河電機株式会社 多心コネクタ光ファイバー測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3213552B2 (ja) 2001-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7154609B2 (en) Interferential position measuring arrangement
EP0639259B1 (en) Apparatus for detecting relative movement
US5977539A (en) Optical position-measuring device having reference mark graduation structures with chirp fields
US5059791A (en) Reference position detecting device utilizing a plurality of photo-detectors and an encoder using the device
JP3213552B2 (ja) エンコーダの原点位置検出装置
JP2818800B2 (ja) 位置に依存する信号を発生する装置
JPH07119854B2 (ja) 集積光学素子を備えた光ビームの入出射装置
JPH1038517A (ja) 光学式変位測定装置
JP3717238B2 (ja) 位置測定装置
JP2941953B2 (ja) 基準位置の検出方法および回転検出計
KR101434925B1 (ko) 정점 검출 장치 및 변위 측정 장치
WO2007074752A1 (ja) チルトセンサ及びエンコーダ
JP3182349B2 (ja) エンコーダの原点位置検出装置
JP3630541B2 (ja) エンコーダの原点位置検出装置
JPH08254440A (ja) 光学式エンコーダ
JP2670457B2 (ja) 零点位置検出装置
EP0609419B1 (en) Interferometric probe for distance measurement
JP2000266567A (ja) ロータリエンコーダ
US5519492A (en) Optical arrangement for detecting the intensity modulation of partial ray beams
JP5404267B2 (ja) 位置測定装置
JP2005055360A (ja) 光電式エンコーダ
JPH08105709A (ja) 光学式センサ
JP2810524B2 (ja) 回転検出計
JP2001272252A (ja) 光学式エンコーダ装置
JP2002372439A (ja) 光学式エンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070719

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees