JP2001272252A - 光学式エンコーダ装置 - Google Patents

光学式エンコーダ装置

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JP2001272252A
JP2001272252A JP2000087762A JP2000087762A JP2001272252A JP 2001272252 A JP2001272252 A JP 2001272252A JP 2000087762 A JP2000087762 A JP 2000087762A JP 2000087762 A JP2000087762 A JP 2000087762A JP 2001272252 A JP2001272252 A JP 2001272252A
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slit
scale
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encoder device
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Koichi Kudo
宏一 工藤
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は光源とスケールの相対的位置変化で生
じる光強度の変化で、光源とスケールの相対的位置変化
を読み取る光学式エンコーダ装置を提供する。 【解決手段】光学式エンコーダ装置10は、光源11か
らスリット12に向かって出射された光を、スリット1
2で遮蔽するとともに透過させ、光源11からの光を開
口部12aを透過する透過光と、開口部12aを点光源
として放射する回折光と、に分ける。透過光は、光の直
進性により光源11とスリット12の開口部12aを結
ぶ直線に沿って直進してスケール13に入射し、回折光
は、互いに干渉を起こして、2つの開口部12aからの
距離が光の波長の整数倍になる角度に沿って放射する状
態で進行してスケール13に入射する。この透過光と回
折光の重なるピッチがスケール13のスリット16のピ
ッチの整数倍となるように配置されており、透過光と回
折光をスケール13のスリット16を通して受光素子に
入射させて、光源11とスケール13の相対位置を検出
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学式エンコーダ
装置に関し、詳細には、光源とスケールの相対的な位置
の変化によって生じる光強度の変化で、光源とスケール
の相対的な位置の変化を読み取る光学式エンコーダ装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】近時、光学式エンコーダ装置は、各種の
測長機器、計測装置、工作機械及び複写装置等において
広く使用されており、可動体の変位を高精度に検出する
のに用いられている。
【0003】従来、図7に示すような光学スケールが提
案されている(特開昭59−132311号公報参
照)。
【0004】この光学スケールは、光源1からの光をコ
リメートレンズ2を通して、図7に両矢印で示す方向に
移動可能なスケール3に照射し、スケール3は、光を透
過率と反射率が周期的に変化する構造を有している。ス
ケール3の光源と反対側の位置には、スケール3に近接
してインデックススケール4が配設されており、インデ
ックススケール4は、スケール3と同じピッチのスリッ
トが形成されている。スケール3の光源と反対側の位置
には、2つの光検出器5、6が配設されており、光検出
器5及び光検出器6は、スケール3及びインデックスス
ケール4を通過した光源からの光を受光する。
【0005】光検出器5及び光検出器6は、スケール3
からの反射光又は透過光中のスリットパターンを検出す
ることとなるが、このパターンは、スケール3の移動に
伴って変化するため、このパターンを光検出器5及び光
検出器6で読み取ると、図8に示すようなパターンとな
る。
【0006】そして、スケール3に近接して、図9に示
すような、スケール3と同じピッチのスリットの形成さ
れているインデックススケール4をスケール3と近接し
て配設すると、スケール3の移動に伴って、図10に示
すように、透過する光が周期的に変化する。この透過光
の変化は、スケール3のスリットピッチ周期と同周期で
変動するため、この透過光の変化を光検出器5及び光検
出器6で検出することで、スケール3の移動距離を検出
することができる。
【0007】また、スケール3の透過光を2つの光検出
器5と光検出器6で検出して、図10に示すように、明
暗のピッチに対して1/4ピッチずらせると、スリット
の移動に対して90度ずれた信号を得ることができ、こ
の信号がエンコーダのA相B相に相当することから、エ
ンコーダ用のカウンタを用いると、スリットの移動本数
をカウントすることができる。したがって、インクリメ
ンタルな信号として移動距離を検出することができる。
なお、上記例では、インデックススケール4を用いてい
るが、インデックススケール4の代わりに、インデック
ススケールと同じ形状の開口を有するフォトダイオード
(PD)を用いてもよい。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の技術にあっては、図11及び図12に示すよ
うに、スケール3からの透過光又は反射光中に、回折
角:sinθ=λ/dごとに光強度のピークが現れて回
折パターンが発生し、ノイズ発生の原因となって、正確
な検出を行うことができないという問題がある。なお、
図11において、λは波長、dはスリット3のスリット
の端から次のスリットの端までの長さ(スリットピッ
チ)である。
【0009】この問題を回避するために、通常はインデ
ックススケール4とスケール3を非常に近接させて配設
するが、上記図7に示したような構成にあっては、イン
デックススケール4とスケール3の位置を精度良く合わ
せる必要があるとともに、接触による破損の危険性があ
り、ノイズの発生を適切に防止して、検出精度を向上さ
せる上で、改良の必要があった。
【0010】そこで、請求項1記載の発明は、光源から
の光を、光の反射率又は透過率が周期的に変化するスケ
ールに投射して、光源とスケールの相対的な位置の変化
によって生じる光の光強度の変化を受光手段で検出して
光源とスケールの相対的な位置の変化を読み取るに際し
て、光源とスケールとの間に、2つの開口部を有するス
リットを配設し、光源、スリット及びスケールを、光源
からスリットに投射されて当該スリットを通過した透過
光のビーム間隔とスリットによる回折光の回折パターン
の周期間隔がスケールの反射率又は透過率の変化する周
期に一致する状態で配置することにより、スリット透過
時の回折現象によるノイズを除去するとともに、回折光
をも検出光として利用し、検出精度が良好で、かつ、光
利用効率の良好な光学式エンコーダ装置を提供すること
を目的としている。
【0011】請求項2記載の発明は、光源、スリット及
びスケールを、スリットによる回折光の0次光とスリッ
トを透過する2本のビームうち1本がスケール上で重な
る状態で配置することにより、光軸中心に生成される回
折光による回折パターンと透過ビームを重ね合わせ、ノ
イズをより一層除去するとともに、回折光の利用性を向
上させて、検出精度がより一層良好で、光利用効率のよ
り一層良好な光学式エンコーダ装置を提供することを目
的としている。
【0012】請求項3記載の発明は、光源とスリットと
の間に、レンズ作用を有する光学素子を配設することに
より、光源からスリットに向かって出射される光の発散
角を自由に選択・調整し、一旦角度を合わせることで、
スリットとスケールとの距離のみで所望のピッチを得ら
れるようにして、検出精度が良好で、かつ、利用性の良
好な光学式エンコーダ装置を提供することを目的として
いる。
【0013】請求項4記載の発明は、光源とスリットと
の間に配設する光学素子として、光源からの光を略平行
光としてスリットに出射するものを用いることにより、
同一ピッチを長距離にわたって維持させて、スケールと
スリットの距離感度を低下させ、スリット開口が大き
く、回折効率が低い場合にも、光源、スリット及びスケ
ールの位置設定・調整を容易にするとともに、光利用効
率のより一層良好な光学式エンコーダ装置を提供するこ
とを目的としている。
【0014】請求項5記載の発明は、スリットを、少な
くとも3個以上の開口部を有するものとすることによ
り、複数のスケールスリットを同時に観測して、スケー
ルのごみや傷によるノイズによる影響をより一層低減
し、検出精度のより一層良好な光学式エンコーダ装置を
提供することを目的としている。
【0015】請求項6記載の発明は、スリットを、開口
部として、その開口ピッチが相互に1/4だけずれた2
つの開口領域を有したものとし、受光手段を、2つの開
口領域を通過した光を別々に受光する2つの受光領域を
有するか、あるいは、それぞれ別々の受光手段で形成し
たものとすることにより、ビームの半分を使って進行方
向を検出するAB相を得え、進行方向の判断及び分解能
を向上させることのできる光学式エンコーダ装置を提供
することを目的としている。
【0016】請求項7記載の発明は、スリットを、開口
部として、その開口ピッチが相互に1/2だけずれた2
つの開口領域を有したものとし、受光手段を、2つの開
口領域を通過した光を別々に受光する2つの受光領域を
有するか、あるいは、それぞれ別々の受光手段で形成し
たものとすることにより、信号伝送ノイズを除去し、検
出精度のより一層良好な光学式エンコーダ装置を提供す
ることを目的としている。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明の光
学式エンコーダ装置は、光源からの光を、光の反射率又
は透過率が周期的に変化するスケールに投射して前記ス
ケールで反射あるいは透過された光を受光手段で検出
し、前記光源と前記スケールの相対的な位置の変化によ
って、前記受光手段に入射される光の光強度の変化で、
前記光源と前記スケールの相対的な位置の変化を読み取
る光学式エンコーダ装置において、前記光源と前記スケ
ールとの間に、2つの開口部を有するスリットが配設さ
れ、前記光源、前記スリット及び前記スケールが、前記
光源から前記スリットに投射されて当該スリットを通過
した透過光のビーム間隔と前記スリットによる回折光の
回折パターンの周期間隔が前記スケールの前記反射率又
は透過率の変化する周期に一致する状態で配置されてい
ることにより、上記目的を達成している。
【0018】上記構成によれば、光源からの光を、光の
反射率又は透過率が周期的に変化するスケールに投射し
て、光源とスケールの相対的な位置の変化によって生じ
る光の光強度の変化を受光手段で検出して光源とスケー
ルの相対的な位置の変化を読み取るに際して、光源とス
ケールとの間に、2つの開口部を有するスリットを配設
し、光源、スリット及びスケールを、光源からスリット
に投射されて当該スリットを通過した透過光のビーム間
隔とスリットによる回折光の回折パターンの周期間隔が
スケールの反射率又は透過率の変化する周期に一致する
状態で配置しているので、スリット透過時の回折現象に
よるノイズを除去することができるとともに、回折光を
も検出光として利用することができ、検出精度を向上さ
せることができるとともに、光利用効率を向上させるこ
とができる。
【0019】この場合、例えば、請求項2に記載するよ
うに、前記光源、前記スリット及び前記スケールは、前
記スリットによる前記回折光の0次光と前記スリットを
透過する2本のビームうち1本が前記スケール上で重な
る状態で配置されていてもよい。
【0020】上記構成によれば、光源、スリット及びス
ケールを、スリットによる回折光の0次光とスリットを
透過する2本のビームうち1本がスケール上で重なる状
態で配置しているので、光軸中心に生成される回折光に
よる回折パターンと透過ビームを重ね合わせることがで
き、ノイズをより一層除去するとともに、回折光の利用
性を向上させて、検出精度をより一層向上させることが
できるとともに、光利用効率をより一層向上させること
ができる。
【0021】また、例えば、請求項3に記載するよう
に、前記光学式エンコーダ装置は、前記光源と前記スリ
ットとの間に、レンズ作用を有する光学素子が配設され
ているものであってもよい。
【0022】上記構成によれば、光源とスリットとの間
に、レンズ作用を有する光学素子を配設しているので、
光源からスリットに向かって出射される光の発散角を自
由に選択・調整することができ、一旦角度を合わせるこ
とで、スリットとスケールとの距離のみで所望のピッチ
を得られるようにして、検出精度を向上させることがで
きるとともに、利用性を向上させることができる。
【0023】さらに、例えば、請求項4に記載するよう
に、前記光学素子は、前記光源からの光を略平行光とし
て前記スリットに出射するものであってもよい。
【0024】上記構成によれば、光源とスリットとの間
に配設する光学素子として、光源からの光を略平行光と
してスリットに出射するものを用いているので、同一ピ
ッチを長距離にわたって維持させて、スケールとスリッ
トの距離感度を低下させることができ、スリット開口が
大きく、回折効率が低い場合にも、光源、スリット及び
スケールの位置設定・調整を容易にすることができると
ともに、光利用効率のをより一層向上させることができ
る。
【0025】また、例えば、請求項5に記載するよう
に、前記スリットは、少なくとも3個以上の前記開口部
を有するものであってもよい。
【0026】上記構成によれば、スリットを、少なくと
も3個以上の開口部を有するものとしているので、複数
のスケールスリットを同時に観測して、スケールのごみ
や傷によるノイズによる影響をより一層低減することが
でき、検出精度をより一層向上させることができる。
【0027】さらに、例えば、請求項6に記載するよう
に、前記スリットは、前記開口部として、その開口ピッ
チが相互に1/4だけずれた2つの開口領域を有し、前
記受光手段は、前記2つの開口領域を通過した光を別々
に受光する2つの受光領域を有するか、あるいは、それ
ぞれ別々の受光手段で形成されていてもよい。
【0028】上記構成によれば、スリットを、開口部と
して、その開口ピッチが相互に1/4だけずれた2つの
開口領域を有したものとし、受光手段を、2つの開口領
域を通過した光を別々に受光する2つの受光領域を有す
るか、あるいは、それぞれ別々の受光手段で形成したも
のとしているので、ビームの半分を使って進行方向を検
出するAB相を得えることができ、進行方向の判断及び
分解能を向上させることができる。
【0029】また、例えば、請求項7に記載するよう
に、前記スリットは、前記開口部として、その開口ピッ
チが相互に1/2だけずれた2つの開口領域を有し、前
記受光手段は、前記2つの開口領域を通過した光を別々
に受光する2つの受光領域を有するか、あるいは、それ
ぞれ別々の受光手段で形成されていてもよい。
【0030】上記構成によれば、スリットを、開口部と
して、その開口ピッチが相互に1/2だけずれた2つの
開口領域を有したものとし、受光手段を、2つの開口領
域を通過した光を別々に受光する2つの受光領域を有す
るか、あるいは、それぞれ別々の受光手段で形成したも
のとしているので、信号伝送ノイズを除去することがで
き、検出精度をより一層向上させることができる。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な実施の形態であるか
ら、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本
発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもので
はない。
【0032】図1及び図2は、本発明の光学式エンコー
ダ装置の第1の実施の形態を示す図であり、本実施の形
態は、請求項1、請求項6及び請求項7に対応するもの
である。
【0033】図1は、本発明の光学式エンコーダ装置の
第1の実施の形態を適用した光学式エンコーダ装置10
の要部正面図である。
【0034】図1において、光学式エンコーダ装置10
は、光源11、スリット12、スケール13及び図示し
ないがスケール13の光源11と反対側に配設された受
光素子(受光手段)等を備えており、光源11として
は、直進性の良好なレーザ光源が用いられているが、他
の光源であってもよい。
【0035】スリット12は、2つの開口部12aと遮
蔽部12bが形成されており、開口部12aは、一定の
間隔(ピッチ)dで形成されている。なお、図1では、
スリット12は、その開口部12aと遮蔽部12bとの
大きさが異なっているが、本実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置10においては、後述するように、開口部12
aのピッチdが重要であり、一定のピッチdで開口部1
2aが形成されている。
【0036】スケール13は、光透過板14に遮蔽板1
5が重ね合わされて一体的に形成されており、遮蔽板1
5の形成された部分以外の部分が光を透過させるスリッ
ト16となっている。スケール13は、そのスリット1
6のピッチが一定に形成されている。また、スケール1
3は、図1に両矢印で示す方向に移動可能に配設されて
いる。
【0037】次に、本実施の形態の作用を説明する。光
学式エンコーダ装置10は、光源11からスリット12
に向かって出射された光を、スリット12で、遮蔽する
とともに透過させ、スリット12の開口部12aが光の
波長よりも大きいと、光源11からの光を開口部12a
で透過してスケール13のスリット16に直進する図1
に太い矢印で示す透過光と、開口部12aを点光源とし
て放射する図1に円弧状に描いた線で示す回折光と、に
分ける。
【0038】そして、スリット12の開口部12aが光
源11からの光の波長に対して十分大きいときには、開
口部12aの位置によって回折光が異なるため、さらに
複雑な回折現象が起こるが、本実施の形態では、簡単の
ために、開口部12aは、十分小さいものとして説明す
る。
【0039】上記スリット12の開口部12aを通過し
た透過光は、光の直進性により光源11とスリット12
の開口部12aを結ぶ直線に沿って直進し、スケール1
3に照射される。
【0040】また、スリット12の開口部12aにより
回折された光(回折光)は、互いに干渉を起こし、図1
に波面を示す円弧線が重なる部分をつないだ直線矢印で
示すように、2つの開口部12aからの距離が光の波長
の整数倍になる角度に沿って放射する状態で進行し、ス
ケール13に照射される。
【0041】そして、本実施の形態の光学式エンコーダ
装置10は、光源11、スリット12及びスケール13
が上記透過光と回折光の重なるピッチがスケール13の
スリット16のピッチの整数倍となるように形成・配置
されている。
【0042】すなわち、光源11とスリット12との距
離、スリット12の2つの開口部12aの間隔(ピッ
チ)d及びスリット12とスケール13の距離を適宜設
定して、透過光と回折光の重なるピッチがスケール13
のスリット16のピッチの整数倍となるようにする。
【0043】このようにすると、図2に図1のAの位置
とBの位置での透過光と回折光の光量分布を示すよう
に、透過光と回折光をスケール13のスリット16を通
して受光素子に入射させることができる。
【0044】そして、スケール13のスリット16を透
過した透過光をスケール13の背面側に配設された図示
しない受光素子で受光して光電変換する。
【0045】このように本実施の形態の光学式エンコー
ダ装置10は、光源11からの光を、光の反射率又は透
過率が周期的に変化するスケール13に投射して、光源
11とスケール13の相対的な位置の変化によって生じ
る光強度の変化を受光素子で検出して光源11とスケー
ル13の相対的な位置の変化を読み取るに際して、光源
11とスケール13との間に、2つの開口部12aを有
するスリット12を配設し、光源11、スリット12及
びスケール13を、光源11からスリット12に投射さ
れて当該スリット12を通過した透過光のビーム間隔と
スリット12による回折光の回折パターンの周期間隔が
スケール13の反射率又は透過率の変化する周期に一致
する状態で配置している。
【0046】したがって、スリット12透過時の回折現
象によるノイズを除去することができるとともに、回折
光をも検出光として利用することができ、検出精度を向
上させることができるとともに、光利用効率を向上させ
ることができる。
【0047】なお、本実施の形態において、スリット1
2として、開口部12aの領域を1/4ピッチずらした
スリットを用いると、回折光がスリット12の開口部1
2aのズレに応じてズレるため、エンコーダのA相B相
に相当する信号を得ることができ、エンコーダ用のカウ
ンタを用いることで、スリット12の開口部12aの移
動本数をカウントして、インクリメンタルな信号として
移動距離を検出することができる。
【0048】また、スリット12として、開口部12a
の片方が1/2ピッチずれたスリットを用いると、回折
光がスリット12の開口部12aのズレに応じてズレる
ため、スケール12の移動に伴って180度位相のずれ
た2つの信号を取り出すことができ、この2つの信号を
差動増幅することで、信号伝達ノイズを除去することが
できる。
【0049】図3は、本発明の光学式エンコーダ装置の
第2の実施の形態を示す図であり、本実施の形態は、請
求項2、請求項6及び請求項7に対応するものである。
【0050】なお、本実施の形態は、上記第1の実施の
形態と同様のエンコーダ装置に適用したものであり、上
記第1の実施の形態のエンコーダ装置1と同様の構成部
分には、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略す
る。
【0051】図3において、本実施の形態の光学式エン
コーダ装置20は、上記第1の実施の形態と同様の光源
11、スリット12、スケール13及び図示しない受光
素子等を備えており、第1の実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置1と異なる点は、光源11がスリット12に対
して光源11を多少傾斜させて配置されている点であ
る。
【0052】したがって、光源11から出射された光
は、スリット12面に対して多少傾斜した状態で入射さ
れる。
【0053】すなわち、スリット12の開口部12aを
点光源とする回折光は、開口部12aの中心軸上に1つ
のピーク(0次光)を有しており、通常、0次光が最も
光量が大きくなる。そして、回折光は、光軸中心に生成
されるため、スリット12の2つの開口部12aの中心
に光軸があると、回折光と透過光を重ねることができな
い。
【0054】ところが、図3に示したように、光源11
がスリット12に対して多少傾斜して配置されている
と、透過光と0次光が一致し、回折光のパターンと透過
光が重ね合わさった状態となる。
【0055】したがって、光の利用効率を向上させるこ
とができるとともに、ノイズをより一層除去することが
できる。
【0056】なお、光源11とスリット12の配置は、
多少位置ズレしていればよいので、光源11とスリット
12の位置ズレを生じさせるためには、図3に示したよ
うに、光源11とスリット12とを傾斜させるだけでな
く、他の方法で位置ズレを生じさせるようにしてもよ
い。
【0057】このように、本実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置20は、光源11、スリット12及びスケール
13を、スリット12による回折光の0次光とスリット
12を透過する2本のビームうち1本がスケール13上
で重なる状態で配置している。
【0058】したがって、光軸中心に生成される回折光
による回折パターンと透過ビームを重ね合わせることが
でき、ノイズをより一層除去するとともに、回折光の利
用性を向上させて、検出精度をより一層向上させること
ができるとともに、光利用効率をより一層向上させるこ
とができる。
【0059】なお、本実施の形態においても、スリット
12として、開口部12aの領域を1/4ピッチずらし
たスリットを用いると、回折光がスリット12の開口部
12aのズレに応じてズレるため、エンコーダのA相B
相に相当する信号を得ることができ、エンコーダ用のカ
ウンタを用いることで、スリット12の開口部12aの
移動本数をカウントして、インクリメンタルな信号とし
て移動距離を検出することができる。
【0060】また、スリット12として、開口部12a
の片方が1/2ピッチずれたスリットを用いると、回折
光がスリット12の開口部12aのズレに応じてズレる
ため、スケール12の移動に伴って180度位相のずれ
た2つの信号を取り出すことができ、この2つの信号を
差動増幅することで、信号伝達ノイズを除去することが
できる。
【0061】図4は、本発明の光学式エンコーダ装置の
第3の実施の形態を示す図であり、本実施の形態は、請
求項3、請求項6及び請求項7に対応するものである。
【0062】なお、本実施の形態は、上記第1の実施の
形態と同様のエンコーダ装置に適用したものであり、上
記第1の実施の形態のエンコーダ装置1と同様の構成部
分には、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略す
る。
【0063】図4において、本実施の形態の光学式エン
コーダ装置30は、上記第1の実施の形態と同様の光源
11、スリット12、スケール13及び図示しない受光
素子等を備えているとともに、レンズ31を備えてお
り、第1の実施の形態の光学式エンコーダ装置1と異な
る点は、光源11がスリット12に対して多少傾斜して
配置されているとともに、光源11とスリット12の間
にレンズ31が配設されている点である。
【0064】レンズ(光学素子)31は、スリット12
に対して光源11と同じ傾斜角度で配設されており、光
源11から出射された光の発散角を縮小させてスリット
12に入射させる。
【0065】光学式エンコーダ装置30は、光源11か
ら出射された光が、レンズ31でその発散角が縮小され
てスリット12面に入射され、光源11及びレンズ31
がスリット12に対して多少傾斜した状態で配設されて
いる。したがって、レンズ31からスリット12に出射
されたビームは、スリット12に対して多少傾斜した状
態で入射される。
【0066】そして、光源11からスリット12に入射
された光は、スリット12で回折光と透過光に分けられ
てスケール13に入射され、光学式エンコーダ装置30
は、透過光と回折光の重なるピッチがスケール13のス
リット16のピッチの整数倍となるように形成・配置さ
れている。したがって、透過光と回折光をスケール13
のスリット16を通して受光素子に入射させることがで
き、スケール13のスリット16を透過した透過光をス
ケール13の背面側に配設された図示しない受光素子で
受光して光電変換する。
【0067】このとき、レンズ31が設けられていない
と、光源11からスリット12に照射されて開口部12
aを透過した透過光は発散光であるため、透過光と回折
光のピッチとスケール13とのピッチ調整には、光源1
1とスリット12の距離、スリット12とスケール13
の距離調整を行う必要がある。特に、透過光のビーム間
隔を小さくする場合には、光源11とスリット12の距
離を大きく離す必要があるため、光学式エンコーダ装置
30が大型化する。
【0068】ところが、本実施の形態では、光源11と
スリット12との間にレンズ31を配設して、光源11
から出射された光の発散角をレンズ31で適宜調整する
ことができる。
【0069】したがって、透過光と回折光のピッチとス
ケール13とのピッチ調整をレンズ31を用いて簡単か
つ容易に行うことができるとともに、光源11とスリッ
ト12との距離を狭めた状態で透過光のビーム間隔を小
さくすることができ、光学式エンコーダ装置30を小型
化することができる。
【0070】このように、本実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置30は、光源11とスリット12との間に、レ
ンズ31を配設している。
【0071】したがって、光源11からスリット12に
向かって出射される光の発散角を自由に選択・調整する
ことができ、一旦角度を合わせることで、スリット12
とスケール13との距離のみで所望のピッチを得られる
ようにして、検出精度を向上させることができるととも
に、利用性を向上させることができる。
【0072】なお、本実施の形態においても、スリット
12として、開口部12aの領域を1/4ピッチずらし
たスリットを用いると、回折光がスリット12の開口部
12aのズレに応じてズレるため、エンコーダのA相B
相に相当する信号を得ることができ、エンコーダ用のカ
ウンタを用いることで、スリット12の開口部12aの
移動本数をカウントして、インクリメンタルな信号とし
て移動距離を検出することができる。
【0073】また、スリット12として、開口部12a
の片方が1/2ピッチずれたスリットを用いると、回折
光がスリット12の開口部12aのズレに応じてズレる
ため、スケール12の移動に伴って180度位相のずれ
た2つの信号を取り出すことができ、この2つの信号を
差動増幅することで、信号伝達ノイズを除去することが
できる。
【0074】図5は、本発明の光学式エンコーダ装置の
第4の実施の形態を示す図であり、本実施の形態は、請
求項4、請求項6及び請求項7に対応するものである。
【0075】なお、本実施の形態は、上記第1の実施の
形態と同様のエンコーダ装置に適用したものであり、上
記第1の実施の形態のエンコーダ装置1と同様の構成部
分には、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略す
る。
【0076】図5において、本実施の形態の光学式エン
コーダ装置40は、上記第1の実施の形態と同様の光源
11、スリット12、スケール13及び図示しない受光
素子等を備えているとともに、レンズ41を備えてお
り、第1の実施の形態の光学式エンコーダ装置1と異な
る点は、光源11とスリット12の間にレンズ41が配
設されている点である。
【0077】レンズ(光学素子)41は、スリット12
と光源11に対して平行に配設されており、光源11か
ら出射された光を平行ビームとしてスリット12に入射
させる。
【0078】光学式エンコーダ装置40は、光源11か
ら出射された光が、レンズ41で平行ビームとなってス
リット12面に入射され、レンズ41からスリット12
に出射された平行ビームは、スリット12に対して直角
に入射される。
【0079】そして、光学式エンコーダ装置40は、光
源11からスリット12に入射された光を、スリット1
2で回折光と透過光に分けてスケール13に入射させ、
透過光と回折光の重なるピッチがスケール13のスリッ
ト16のピッチの整数倍となるように形成・配置されて
いる。したがって、透過光と回折光をスケール13のス
リット16を通して受光素子に入射させることができ、
スケール13のスリット16を透過した透過光をスケー
ル13の背面側に配設された図示しない受光素子で受光
して光電変換する。
【0080】このとき、レンズ41が設けられていない
と、光源11からスリット12に照射されて開口部12
aを透過した透過光は、発散光であるため、距離が長く
なるほど発散してビーム強度が低下し、効率が低下す
る。そのため、スリット12とスケール13との距離に
よってピッチが変動し、スリット12とスケール13と
の距離の管理を精度よく行う必要がある。
【0081】ところが、本実施の形態の光学式エンコー
ダ装置40は、光源11とスリット12との間にレンズ
41を配置して、光源11からの光を平行ビームとして
スリット12に入射させているため、透過光が発散する
ことによるビーム強度の低下で、効率が低下することを
防止することができるとともに、スリット12とスケー
ル13との距離によるピッチ変動を抑制して、スリット
12とスケール13との距離変動に強い装置とすること
ができる。
【0082】また、回折光は、回折角度により広がりな
がら進行するため、スリット12の開口部12aを多少
広くして回折効率を落とすと、より一層良好な検出を行
うことができる。
【0083】このように、本実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置40は、光源11とスリット12との間に、光
源11からの光を略平行光としてスリット12に出射す
るレンズ41を配設している。
【0084】したがって、同一ピッチを長距離にわたっ
て維持させて、スケール13とスリット12の距離感度
を低下させることができ、スリット12の開口部12a
が大きく、回折効率が低い場合にも、光源11、スリッ
ト12及びスケール13の位置設定・調整を容易にする
ことができるとともに、光利用効率のをより一層向上さ
せることができる。
【0085】なお、本実施の形態においても、スリット
12として、開口部12aの領域を1/4ピッチずらし
たスリットを用いると、回折光がスリット12の開口部
12aのズレに応じてズレるため、エンコーダのA相B
相に相当する信号を得ることができ、エンコーダ用のカ
ウンタを用いることで、スリット12の開口部12aの
移動本数をカウントして、インクリメンタルな信号とし
て移動距離を検出することができる。
【0086】また、スリット12として、開口部12a
の片方が1/2ピッチずれたスリットを用いると、回折
光がスリット12の開口部12aのズレに応じてズレる
ため、スケール12の移動に伴って180度位相のずれ
た2つの信号を取り出すことができ、この2つの信号を
差動増幅することで、信号伝達ノイズを除去することが
できる。
【0087】図6は、本発明の光学式エンコーダ装置の
第5の実施の形態を示す図であり、本実施の形態は、請
求項5、請求項6及び請求項7に対応するものである。
【0088】図5において、本実施の形態の光学式エン
コーダ装置50は、光源51、レンズ52、スリット5
3、スケール54及び図示しない受光素子等を備えてお
り、光源51としては、直進性の良好なレーザ光源が用
いられているが、他の光源であってもよい。
【0089】レンズ(光学素子)52は、スリット53
と光源51に対して平行に配設されており、光源51か
ら出射された光を平行ビームとしてスリット53に入射
させる。
【0090】スリット53には、2つよりも多数の開口
部53aと遮蔽部53bが形成されており、開口部53
aは、一定の間隔(ピッチ)dで形成されている。
【0091】スケール54は、光透過板55に遮蔽板5
6が重ね合わされて一体的に形成されており、遮蔽板5
6の形成された部分以外の部分が光を透過させるスリッ
ト57となっている。スケール54は、そのスリット5
7のピッチが一定に形成されている。また、スケール5
4は、図6に両矢印で示す方向に移動可能に配設されて
いる。
【0092】光学式エンコーダ装置50は、光源51か
ら出射された光が、レンズ52で平行ビームとなってス
リット53面に入射され、レンズ52からスリット53
に出射された平行ビームは、スリット53に対して直角
に入射される。
【0093】そして、光学式エンコーダ装置50は、光
源51からレンズ52を通してスリット53に入射され
た光をスリット53で回折光と透過光に分けてスケール
54に入射させ、透過光と回折光の重なるピッチがスケ
ール54のスリット57のピッチの整数倍となるように
形成・配置されている。したがって、透過光と回折光を
スケール54のスリット57を通して受光素子に入射さ
せることができ、スケール54のスリット57を透過し
た透過光をスケール54の背面側に配設された図示しな
い受光素子で受光して光電変換する。
【0094】このとき、スリット53には、多数の開口
部53aが形成されているが、回折光の回折角は、開口
部53aの数が増えても変動することがなく、適切に透
過光と回折光をスケール54のスリット57を通して受
光素子に入射させることができる。
【0095】したがって、多数のビームでスケール検出
を行うことができ、スケール54の欠陥、ゴミあるいは
汚れ等による透過あるいは反射率の変化による検出誤差
を低減することができる。
【0096】このように、本実施の形態の光学式エンコ
ーダ装置50は、スリット53を、少なくとも3個以上
の開口部53aを有するものとしている。
【0097】したがって、複数のスケール54のスリッ
ト57を同時に観測して、スケール54のごみや傷によ
るノイズによる影響をより一層低減することができ、検
出精度をより一層向上させることができる。
【0098】なお、本実施の形態においても、スリット
53として、開口部53aの領域を1/4ピッチずらし
たスリットを用いると、回折光がスリット53の開口部
53aのズレに応じてズレるため、エンコーダのA相B
相に相当する信号を得ることができ、エンコーダ用のカ
ウンタを用いることで、スリット53の開口部53aの
移動本数をカウントして、インクリメンタルな信号とし
て移動距離を検出することができる。
【0099】また、スリット53として、開口部53a
の片方が1/2ピッチずれたスリットを用いると、回折
光がスリット53の開口部53aのズレに応じてズレる
ため、スケール52の移動に伴って180度位相のずれ
た2つの信号を取り出すことができ、この2つの信号を
差動増幅することで、信号伝達ノイズを除去することが
できる。
【0100】以上、本発明者によってなされた発明を好
適な実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
上記のものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱
しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
【0101】
【発明の効果】請求項1記載の発明の光学式エンコーダ
装置によれば、光源からの光を、光の反射率又は透過率
が周期的に変化するスケールに投射して、光源とスケー
ルの相対的な位置の変化によって生じる光の光強度の変
化を受光手段で検出して光源とスケールの相対的な位置
の変化を読み取るに際して、光源とスケールとの間に、
2つの開口部を有するスリットを配設し、光源、スリッ
ト及びスケールを、光源からスリットに投射されて当該
スリットを通過した透過光のビーム間隔とスリットによ
る回折光の回折パターンの周期間隔がスケールの反射率
又は透過率の変化する周期に一致する状態で配置してい
るので、スリット透過時の回折現象によるノイズを除去
することができるとともに、回折光をも検出光として利
用することができ、検出精度を向上させることができる
とともに、光利用効率を向上させることができる。
【0102】請求項2記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、光源、スリット及びスケールを、スリット
による回折光の0次光とスリットを透過する2本のビー
ムうち1本がスケール上で重なる状態で配置しているの
で、光軸中心に生成される回折光による回折パターンと
透過ビームを重ね合わせることができ、ノイズをより一
層除去するとともに、回折光の利用性を向上させて、検
出精度をより一層向上させることができるとともに、光
利用効率をより一層向上させることができる。
【0103】請求項3記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、光源とスリットとの間に、レンズ作用を有
する光学素子を配設しているので、光源からスリットに
向かって出射される光の発散角を自由に選択・調整する
ことができ、一旦角度を合わせることで、スリットとス
ケールとの距離のみで所望のピッチを得られるようにし
て、検出精度を向上させることができるとともに、利用
性を向上させることができる。
【0104】請求項4記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、光源とスリットとの間に配設する光学素子
として、光源からの光を略平行光としてスリットに出射
するものを用いているので、同一ピッチを長距離にわた
って維持させて、スケールとスリットの距離感度を低下
させることができ、スリット開口が大きく、回折効率が
低い場合にも、光源、スリット及びスケールの位置設定
・調整を容易にすることができるとともに、光利用効率
のをより一層向上させることができる。
【0105】請求項5記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、スリットを、少なくとも3個以上の開口部
を有するものとしているので、複数のスケールスリット
を同時に観測して、スケールのごみや傷によるノイズに
よる影響をより一層低減することができ、検出精度をよ
り一層向上させることができる。
【0106】請求項6記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、スリットを、開口部として、その開口ピッ
チが相互に1/4だけずれた2つの開口領域を有したも
のとし、受光手段を、2つの開口領域を通過した光を別
々に受光する2つの受光領域を有するか、あるいは、そ
れぞれ別々の受光手段で形成したものとしているので、
ビームの半分を使って進行方向を検出するAB相を得え
ることができ、進行方向の判断及び分解能を向上させる
ことができる。
【0107】請求項7記載の発明の光学式エンコーダ装
置によれば、スリットを、開口部として、その開口ピッ
チが相互に1/2だけずれた2つの開口領域を有したも
のとし、受光手段を、2つの開口領域を通過した光を別
々に受光する2つの受光領域を有するか、あるいは、そ
れぞれ別々の受光手段で形成したものとしているので、
信号伝送ノイズを除去することができ、検出精度をより
一層向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光学式エンコーダ装置の第1の実施の
形態を適用した光学式エンコーダ装置の要部正面図。
【図2】図1の光学式エンコーダ装置のA位置及びB位
置における透過光と回折光の光量分布を示す図。
【図3】本発明の光学式エンコーダ装置の第2の実施の
形態を適用した光学式エンコーダ装置の要部正面図。
【図4】本発明の光学式エンコーダ装置の第3の実施の
形態を適用した光学式エンコーダ装置の要部正面図。
【図5】本発明の光学式エンコーダ装置の第4の実施の
形態を適用した光学式エンコーダ装置の要部正面図。
【図6】本発明の光学式エンコーダ装置の第5の実施の
形態を適用した光学式エンコーダ装置の要部正面図。
【図7】従来の光学スケールの要部斜視図。
【図8】図7のスケール通過後のビームパターンを示す
図。
【図9】図7の1/4スイッチずれたインデックススケ
ールの正面図。
【図10】スケールの移動に伴って変化する透過光のビ
ームパターンを示す図。
【図11】図7の光学スケールで透過光又は反射光中に
回折パターンが現れる状態を示す図。
【図12】図11の回折パターンで透過光に回折光がノ
イズとして重なった状態のビームパターンを示す図。
【符号の説明】
10 光学式エンコーダ装置 11 光源 12 スリット 12a 開口部 12b 遮蔽部 13 スケール 14 光透過板 15 遮蔽板 16 スリット 20、30、40 光学式エンコーダ装置 31、41 レンズ 50 光学式エンコーダ装置 51 光源 52 レンズ 53 スリット 53a 開口部 53b 遮蔽部 54 スケール 55 光透過板 56 遮蔽板 57 スリット

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源からの光を、光の反射率又は透過率が
    周期的に変化するスケールに投射して前記スケールで反
    射あるいは透過された光を受光手段で検出し、前記光源
    と前記スケールの相対的な位置の変化によって、前記受
    光手段に入射される光の光強度の変化で、前記光源と前
    記スケールの相対的な位置の変化を読み取る光学式エン
    コーダ装置において、前記光源と前記スケールとの間
    に、2つの開口部を有するスリットが配設され、前記光
    源、前記スリット及び前記スケールが、前記光源から前
    記スリットに投射されて当該スリットを通過した透過光
    のビーム間隔と前記スリットによる回折光の回折パター
    ンの周期間隔が前記スケールの前記反射率又は透過率の
    変化する周期に一致する状態で配置されていることを特
    徴とする光学式エンコーダ装置。
  2. 【請求項2】前記光源、前記スリット及び前記スケール
    は、前記スリットによる前記回折光の0次光と前記スリ
    ットを透過する2本のビームうち1本が前記スケール上
    で重なる状態で配置されていることを特徴とする請求項
    1記載の光学式エンコーダ装置。
  3. 【請求項3】前記光学式エンコーダ装置は、前記光源と
    前記スリットとの間に、レンズ作用を有する光学素子が
    配設されていることを特徴とする請求項1または請求項
    2記載の光学式エンコーダ装置。
  4. 【請求項4】前記光学素子は、前記光源からの光を略平
    行光として前記スリットに出射することを特徴とする請
    求項3記載の光学式エンコーダ装置。
  5. 【請求項5】前記スリットは、少なくとも3個以上の前
    記開口部を有することを特徴とする請求項1から請求項
    4のいずれかに記載の光学式エンコーダ装置。
  6. 【請求項6】前記スリットは、前記開口部として、その
    開口ピッチが相互に1/4だけずれた2つの開口領域を
    有し、前記受光手段は、前記2つの開口領域を通過した
    光を別々に受光する2つの受光領域を有するか、あるい
    は、それぞれ別々の受光手段で形成されていることを特
    徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の光学
    式エンコーダ装置。
  7. 【請求項7】前記スリットは、前記開口部として、その
    開口ピッチが相互に1/2だけずれた2つの開口領域を
    有し、前記受光手段は、前記2つの開口領域を通過した
    光を別々に受光する2つの受光領域を有するか、あるい
    は、それぞれ別々の受光手段で形成されていることを特
    徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の光学
    式エンコーダ装置。
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