JPH1085207A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JPH1085207A JPH1085207A JP9209386A JP20938697A JPH1085207A JP H1085207 A JPH1085207 A JP H1085207A JP 9209386 A JP9209386 A JP 9209386A JP 20938697 A JP20938697 A JP 20938697A JP H1085207 A JPH1085207 A JP H1085207A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/90—Dynamic range modification of images or parts thereof
- G06T5/94—Dynamic range modification of images or parts thereof based on local image properties, e.g. for local contrast enhancement
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
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- H04N5/325—Image enhancement, e.g. by subtraction techniques using polyenergetic X-rays
-
- H—ELECTRICITY
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- H05G—X-RAY TECHNIQUE
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- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/64—Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
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- A61B6/583—Calibration using calibration phantoms
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06T2207/10116—X-ray image
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 改善されたゴースト画像−特性を有するＸ線
診断装置を提供すること。 【構成】 Ｘ線診断装置において、固体検出器（４）に
より検出される、Ｘ線ビームを発生する少なくとも１つ
のビーム発生器（１）を有し、固体検出器（４）により
生ぜしめられる、被検対象物（３）の瞬時の、実際の明
画像撮影の画像信号を、検出すると共に、場合により存
在するアフタグロー、残光−信号を、少なくとも１つの
暗画像−撮影から検出し、アフタグロー、残光−信号の
有無に依存して、及び／又はアフタグロー、残光−信号
の強度に依存してビーム発生器（１）を制御し、そし
て、瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号を必要な場
合、補正する補正ユニットを有していること。
診断装置を提供すること。 【構成】 Ｘ線診断装置において、固体検出器（４）に
より検出される、Ｘ線ビームを発生する少なくとも１つ
のビーム発生器（１）を有し、固体検出器（４）により
生ぜしめられる、被検対象物（３）の瞬時の、実際の明
画像撮影の画像信号を、検出すると共に、場合により存
在するアフタグロー、残光−信号を、少なくとも１つの
暗画像−撮影から検出し、アフタグロー、残光−信号の
有無に依存して、及び／又はアフタグロー、残光−信号
の強度に依存してビーム発生器（１）を制御し、そし
て、瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号を必要な場
合、補正する補正ユニットを有していること。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線診断装置に関
する。
する。
【０００２】
【従来の技術】その種のＸ線診断装置は、例えば、ＥＰ
０６４２２６４Ａ１から公知である。公知の事例では、
ビーム発生器により生成されるＸ線ビームは、マトリク
ス状に配置された画点を有する固体検出器により検出さ
れる。アモルファスシリコンをベースとしたそれらの検
出器は、Ｘ線ビームの遮断後シンチレータ及びホトダイ
オードの時間特性に基づきアフタグロー、残光−信号な
いし残像−信号を惹起し、それらアフタグロー、残光−
信号は所謂“ゴースト”または“ファントム”−画像を
生じさせる。現実の、ないし、瞬時の、実際のＸ線画像
撮影（これは以下、ないし本明細書中明画像（Ｈｅｌｌ
ｂｉｌｄ）撮影と称される）では、単数または複数の先
行画像の残部ないしアフタグロー、残光ないし残像部分
が見えるようになる。上記効果は、著しく障害的であ
り、ＥＰ ０６４２２６４Ａ１によるＸ線診断装置で
は、次のようにして補正される、即ち、先行明画像か
ら、なお瞬時の、実際の明画像内に存在するゴースト画
像が計算され、減算されるのである。上記手法は、比較
的不正確であり、明画像中でオーバーコントロールない
し過励振された個所では機能しない。それというのは、
アフタグロー、残光−信号の減衰の計算のための出発、
初期−明度、輝度値が未知であるからである。
０６４２２６４Ａ１から公知である。公知の事例では、
ビーム発生器により生成されるＸ線ビームは、マトリク
ス状に配置された画点を有する固体検出器により検出さ
れる。アモルファスシリコンをベースとしたそれらの検
出器は、Ｘ線ビームの遮断後シンチレータ及びホトダイ
オードの時間特性に基づきアフタグロー、残光−信号な
いし残像−信号を惹起し、それらアフタグロー、残光−
信号は所謂“ゴースト”または“ファントム”−画像を
生じさせる。現実の、ないし、瞬時の、実際のＸ線画像
撮影（これは以下、ないし本明細書中明画像（Ｈｅｌｌ
ｂｉｌｄ）撮影と称される）では、単数または複数の先
行画像の残部ないしアフタグロー、残光ないし残像部分
が見えるようになる。上記効果は、著しく障害的であ
り、ＥＰ ０６４２２６４Ａ１によるＸ線診断装置で
は、次のようにして補正される、即ち、先行明画像か
ら、なお瞬時の、実際の明画像内に存在するゴースト画
像が計算され、減算されるのである。上記手法は、比較
的不正確であり、明画像中でオーバーコントロールない
し過励振された個所では機能しない。それというのは、
アフタグロー、残光−信号の減衰の計算のための出発、
初期−明度、輝度値が未知であるからである。
【０００３】更に、英国特許第１４８９３４５号明細書
に記載されているアフタグロー、残光−信号効果除去の
ための方法では、明−及び暗画像が撮影され、そして、
障害ノイズ除去のため相互に打ち消し合い補償される。
に記載されているアフタグロー、残光−信号効果除去の
ための方法では、明−及び暗画像が撮影され、そして、
障害ノイズ除去のため相互に打ち消し合い補償される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題とすると
ころは、改善されたゴースト画像−特性を有する冒頭に
述べた形式のＸ線診断装置を提供することにある。
ころは、改善されたゴースト画像−特性を有する冒頭に
述べた形式のＸ線診断装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題は請求項１によ
り解決される。そして、有利な発展形態は、更なる請求
項に記載されている。
り解決される。そして、有利な発展形態は、更なる請求
項に記載されている。
【０００６】請求項１によるＸ線診断装置は、下記の構
成要件、構成要素を備える、即ち、少なくとも１つのビ
ーム発生器を有し、該ビーム発生器のＸ線ビームは、マ
トリクス状に配置された画点を有する少なくとも１つの
固体検出器により検出され、そして、少なくとも１つの
補正ユニットを有し、該少なくとも１つの補正ユニット
は、被検対象物の瞬時の、実際の明画像撮影の固体検出
器により生ぜしめられる画像信号を、検出するものであ
る。更に、前記補正ユニットは、亦、場合により存在す
るアフタグロー、残光−信号を、少なくとも１つの暗画
像（Ｄｕｎｋｅｌｂｉｌｄ）−撮影から検出するもので
ある。当該の暗画像（撮影）中には、唯、瞬時のアフタ
グロー、残光のみしか見ることができない。前記補正ユ
ニットは、アフタグロー、残光−信号の有無に依存し
て、及び／又はアフタグロー、残光−信号の強度に依存
してビーム発生器を制御する。そして、瞬時の、実際の
明画像撮影の画像信号は、必要な場合には、前記補正ユ
ニットにて補正されるのである。ここで、瞬時の、実際
の明画像撮影の補正された画像信号は、常法で後続処理
され得る（例えば、フィルタリング、ハードコピー、ア
ーカイビング、ネットワークへの入力供給等々）。
成要件、構成要素を備える、即ち、少なくとも１つのビ
ーム発生器を有し、該ビーム発生器のＸ線ビームは、マ
トリクス状に配置された画点を有する少なくとも１つの
固体検出器により検出され、そして、少なくとも１つの
補正ユニットを有し、該少なくとも１つの補正ユニット
は、被検対象物の瞬時の、実際の明画像撮影の固体検出
器により生ぜしめられる画像信号を、検出するものであ
る。更に、前記補正ユニットは、亦、場合により存在す
るアフタグロー、残光−信号を、少なくとも１つの暗画
像（Ｄｕｎｋｅｌｂｉｌｄ）−撮影から検出するもので
ある。当該の暗画像（撮影）中には、唯、瞬時のアフタ
グロー、残光のみしか見ることができない。前記補正ユ
ニットは、アフタグロー、残光−信号の有無に依存し
て、及び／又はアフタグロー、残光−信号の強度に依存
してビーム発生器を制御する。そして、瞬時の、実際の
明画像撮影の画像信号は、必要な場合には、前記補正ユ
ニットにて補正されるのである。ここで、瞬時の、実際
の明画像撮影の補正された画像信号は、常法で後続処理
され得る（例えば、フィルタリング、ハードコピー、ア
ーカイビング、ネットワークへの入力供給等々）。
【０００７】要するに、本発明のＸ線診断装置では夫夫
の可能な時間インターバル、間隔において１つのＸ線パ
ルスの印加及び１つの明画像の撮影が行われるのではな
く、その間に、合間合間に少なくとも１つの暗画像が撮
影されるのである。
の可能な時間インターバル、間隔において１つのＸ線パ
ルスの印加及び１つの明画像の撮影が行われるのではな
く、その間に、合間合間に少なくとも１つの暗画像が撮
影されるのである。
【０００８】少なくとも１つの暗画像撮影からアフタグ
ロー、残光−信号を求める本発明の手段により、先行の
高線量撮影（蓄積される明画像−撮影）後の低線量撮影
（透視ないし透過照射）も可能である。
ロー、残光−信号を求める本発明の手段により、先行の
高線量撮影（蓄積される明画像−撮影）後の低線量撮影
（透視ないし透過照射）も可能である。
【０００９】アフタグロー、残光−信号の検出のため、
有利には請求項３〜１０に記載した手段を個々に、また
は、組み合わせて適用することができる。
有利には請求項３〜１０に記載した手段を個々に、また
は、組み合わせて適用することができる。
【００１０】本発明の更なる利点及び詳細は、図を用い
た以降の説明及び更なる請求項との関連から明らかであ
る。
た以降の説明及び更なる請求項との関連から明らかであ
る。
【００１１】
【実施例】図１中、１はビーム発生器を示し、該ビーム
発生器のＸ線ビームは、被検対象物３を透射する。Ｘ線
ビーム２は、被検対象物を透射後、固体検出器にて検出
される。当該の明画像の際、固体検出器４により生ぜし
められた画像信号５は、補正ユニット６に供給される。
補正ユニット６は、アフタグロー、残光−信号の有無に
依存して、及び／又はアフタグロー、残光−信号の強度
に依存してビーム発生器１を制御する。ここで、アフタ
グロー、残光−信号は、少なくとも１つの暗画像撮影
（これは瞬時のアフタグロー、残光ないし残像のみを含
む）から求められる。必要な場合、画像信号５は、補正
ユニット６にて補正される。補正された画像信号７は、
更に後続処理される（例えば、フィルタリング、ハード
コピー、アーカイビング、ネットワークへの入力供給等
々）。
発生器のＸ線ビームは、被検対象物３を透射する。Ｘ線
ビーム２は、被検対象物を透射後、固体検出器にて検出
される。当該の明画像の際、固体検出器４により生ぜし
められた画像信号５は、補正ユニット６に供給される。
補正ユニット６は、アフタグロー、残光−信号の有無に
依存して、及び／又はアフタグロー、残光−信号の強度
に依存してビーム発生器１を制御する。ここで、アフタ
グロー、残光−信号は、少なくとも１つの暗画像撮影
（これは瞬時のアフタグロー、残光ないし残像のみを含
む）から求められる。必要な場合、画像信号５は、補正
ユニット６にて補正される。補正された画像信号７は、
更に後続処理される（例えば、フィルタリング、ハード
コピー、アーカイビング、ネットワークへの入力供給等
々）。
【００１２】図２の時間的特性波形図では、通常Ｘ線パ
ルスが印加される様子が示されている。例えば、高い強
度の（以下高線量パルスと称される）１つのＸ線パルス
の後比較的小さい強度の一連のＸ線パルス（以降、低線
量パルスと称される）（図２−Ａ）が継起する。高線量
パルス２１（図２Ｂ）は、固体検出器の物理的性質に基
づき多かれ、少なかれ理想的信号特性経過（矩形波信
号）とは異なる。検出された信号全体（図２Ｃ）は、成
分２１ａ（これは高線量パルスに由来する）と、成分２
２ａ（これは低線量パルス２２に由来する）を有する。
高線量パルス２１は、補正された画像信号Ｓ＊ ｎ（図１
中７で示す）を得るには除去されねばならない。この場
合補正された画像信号Ｓ＊ ｎ（図１中７で示す）は、低
線量パルスのみを有するようになる。高線量パルス２１
の成分２１ａは、信号全体におけるゴースト−またはフ
ァントム画像に対して責任的に関与する。
ルスが印加される様子が示されている。例えば、高い強
度の（以下高線量パルスと称される）１つのＸ線パルス
の後比較的小さい強度の一連のＸ線パルス（以降、低線
量パルスと称される）（図２−Ａ）が継起する。高線量
パルス２１（図２Ｂ）は、固体検出器の物理的性質に基
づき多かれ、少なかれ理想的信号特性経過（矩形波信
号）とは異なる。検出された信号全体（図２Ｃ）は、成
分２１ａ（これは高線量パルスに由来する）と、成分２
２ａ（これは低線量パルス２２に由来する）を有する。
高線量パルス２１は、補正された画像信号Ｓ＊ ｎ（図１
中７で示す）を得るには除去されねばならない。この場
合補正された画像信号Ｓ＊ ｎ（図１中７で示す）は、低
線量パルスのみを有するようになる。高線量パルス２１
の成分２１ａは、信号全体におけるゴースト−またはフ
ァントム画像に対して責任的に関与する。
【００１３】図１に示すＸ線診断装置の場合、夫夫の可
能のインターバルＴをおいて１つのＸ線パルスの印加及
び明画像の撮影がなされるものではなく、その間に、合
間合間に暗画像が撮影されるのである。当該の暗画像撮
影においては、唯、瞬時のアフタグロー、残光−信号
（これは、瞬時の、実際の信号特性経過と理想的特性経
過とのずれ、偏差により生じる）のみしか可視でない。
上記の暗画像撮影からは、明画像撮影におけるアフタグ
ロー、残光−信号成分が求められ、そして、除去され得
る。
能のインターバルＴをおいて１つのＸ線パルスの印加及
び明画像の撮影がなされるものではなく、その間に、合
間合間に暗画像が撮影されるのである。当該の暗画像撮
影においては、唯、瞬時のアフタグロー、残光−信号
（これは、瞬時の、実際の信号特性経過と理想的特性経
過とのずれ、偏差により生じる）のみしか可視でない。
上記の暗画像撮影からは、明画像撮影におけるアフタグ
ロー、残光−信号成分が求められ、そして、除去され得
る。
【００１４】暗画像は、種々のパターンに従って分散さ
れ得る。有利には、高線量パルス２１の後、先ず、１
度、一連の暗画像を撮影するとよい（図３）。図３Ａ，
Ｂ及びＣは、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パ
ルスの時間的特性波形図を示す。高線量パルス２１の成
分２１ａの減衰が著しい場合は、暗画像撮影の一部を無
視できる。暗画像撮影の頻度は、一定に保持され得、ま
たは、時間と共に変化し得る。例えば、高線量撮影のア
フタグロー、残光−信号の信号がなお著しく低下する場
合、例えば１つおき（２番目ごと）を、暗画像として撮
影し、それから後は２つおき（３番目ごと）、３つおき
（４番目ごと）…を暗画像として撮影していって、つい
には、ゴースト画像成分（高線量パルスのアフタグロ
ー、残光−信号）がもはや可視でなくなりゴースト画像
補正がもはや必要でなくなるようにすると有利である。
れ得る。有利には、高線量パルス２１の後、先ず、１
度、一連の暗画像を撮影するとよい（図３）。図３Ａ，
Ｂ及びＣは、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パ
ルスの時間的特性波形図を示す。高線量パルス２１の成
分２１ａの減衰が著しい場合は、暗画像撮影の一部を無
視できる。暗画像撮影の頻度は、一定に保持され得、ま
たは、時間と共に変化し得る。例えば、高線量撮影のア
フタグロー、残光−信号の信号がなお著しく低下する場
合、例えば１つおき（２番目ごと）を、暗画像として撮
影し、それから後は２つおき（３番目ごと）、３つおき
（４番目ごと）…を暗画像として撮影していって、つい
には、ゴースト画像成分（高線量パルスのアフタグロ
ー、残光−信号）がもはや可視でなくなりゴースト画像
補正がもはや必要でなくなるようにすると有利である。
【００１５】アフタグロー、残光−信号を求めるため、
即ち、明画像から、差し引かれるべきアフタグロー、残
光−信号成分を求めるため、種々の手法が存在する。而
して、アフタグロー、残光−信号成分を暗画像撮影か
ら、例えば、平均値形成により、及び／又は減衰特性の
考慮下で求め得る。而して、例えば、少なくとも２つの
先行の暗画像から平均値を求め、そして、それぞれの暗
画像撮影から差し引くことができる。算術平均値形成の
ための選択肢として、差し引かれるべきアフタグロー、
残光−信号成分を、複数の先行の暗画像撮影に対する移
動加重平均値形成によっても求め得る。
即ち、明画像から、差し引かれるべきアフタグロー、残
光−信号成分を求めるため、種々の手法が存在する。而
して、アフタグロー、残光−信号成分を暗画像撮影か
ら、例えば、平均値形成により、及び／又は減衰特性の
考慮下で求め得る。而して、例えば、少なくとも２つの
先行の暗画像から平均値を求め、そして、それぞれの暗
画像撮影から差し引くことができる。算術平均値形成の
ための選択肢として、差し引かれるべきアフタグロー、
残光−信号成分を、複数の先行の暗画像撮影に対する移
動加重平均値形成によっても求め得る。
【００１６】更なる選択肢は、少なくとも１つの先行の
暗画像撮影及び少なくとも１つの後続の暗画像撮影から
の１つの平均値形成である（図４）。図４Ａ，Ｂ及びＣ
は、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パルスの時
間的特性波形図を示す。上記平均値は、アフタグロー、
残光−信号成分として、明画像撮影から差し引かれる。
以て、補正された信号Ｓ＊ ｎは下記の関係式により得ら
れる。
暗画像撮影及び少なくとも１つの後続の暗画像撮影から
の１つの平均値形成である（図４）。図４Ａ，Ｂ及びＣ
は、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パルスの時
間的特性波形図を示す。上記平均値は、アフタグロー、
残光−信号成分として、明画像撮影から差し引かれる。
以て、補正された信号Ｓ＊ ｎは下記の関係式により得ら
れる。
【００１７】 Ｓ＊ ｎ＝Ｓｎ−（Ｓｎ−１＋Ｓｎ＋１）／２． 平均値として形成されるアフタグロー、残光−信号（ア
フタグロー、残光−成分）は、付加的に、更なる減衰に
相応する成分だけ低減され、その結果、測定されたアフ
タグロー、残光−信号成分から得られた平均値は、目
下、瞬時、明画像撮影に相応するようになる。選択的
に、一連の暗画像（これらは高線量パルスの後直ちに撮
影される）から更なる減衰が計算され、そして、後続の
明画像撮影から差し引かれ得る。
フタグロー、残光−成分）は、付加的に、更なる減衰に
相応する成分だけ低減され、その結果、測定されたアフ
タグロー、残光−信号成分から得られた平均値は、目
下、瞬時、明画像撮影に相応するようになる。選択的
に、一連の暗画像（これらは高線量パルスの後直ちに撮
影される）から更なる減衰が計算され、そして、後続の
明画像撮影から差し引かれ得る。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、改善されたゴースト画
像−特性を有するＸ線診断装置を実現することができ、
そして、有利には、ゴースト画像成分（高線量パルスの
アフタグロー、残光−信号）がもはや可視でなくなりゴ
ースト画像補正がもはや必要でなくなるようにすること
もできるという効果が奏される。
像−特性を有するＸ線診断装置を実現することができ、
そして、有利には、ゴースト画像成分（高線量パルスの
アフタグロー、残光−信号）がもはや可視でなくなりゴ
ースト画像補正がもはや必要でなくなるようにすること
もできるという効果が奏される。
【図１】本発明のＸ線診断装置の１実施例の概念図。
【図２】通常のＸ線パルスの印加される際のＸ線パルス
の種々のシーケンスの波形図。
の種々のシーケンスの波形図。
【図３】高線量パルス後、一連の暗画像撮影のなされる
際のＸ線パルスの種々のシーケンスの波形図。
際のＸ線パルスの種々のシーケンスの波形図。
【図４】少なくとも１つの先行の、及び後続の暗画像撮
影からの平均値計算の説明のためのＸ線パルスの種々の
シーケンスの波形図。
影からの平均値計算の説明のためのＸ線パルスの種々の
シーケンスの波形図。
１ ビーム発生器 ２ Ｘ線ビーム ３ 被検対象物 ４ 固体検出器 ５ 画像信号 ６ 補正ユニット ７ 補正された信号 ２１ 高線量パルス ２１ａ 高線量パルス成分 ２２ 低線量パルス ２２ａ 低線量パルス成分 Ｔ 時間インターバル Ｓ Ｘ線パルス信号 Ｉ Ｘ線パルスの強度 ｔ 時間
Claims (10)
- 【請求項１】 Ｘ線診断装置において、下記の構成要件
を有し、即ち、 −少なくとも１つのビーム発生器（１）を有し、該ビー
ム発生器のＸ線ビームは、マトリクス状に配置された画
点を有する少なくとも１つの固体検出器（４）により検
出され、 −少なくとも１つの補正ユニットを有し、該少なくとも
１つの補正ユニットは、固体検出器（４）により生ぜし
められる、被検対象物（３）の瞬時の、実際の明画像撮
影の画像信号を検出するものであり、亦、存在し得るア
フタグロー、残光−信号を、少なくとも１つの暗画像−
撮影から検出するものであり、 −前記補正ユニット（６）は、アフタグロー、残光−信
号の有無に依存して、及び／又はアフタグロー、残光−
信号の強度に依存してビーム発生器（１）を制御し、そ
して、瞬時の、ないし、瞬時の、実際の明画像撮影の画
像信号（５）を必要な場合、補正するように構成されて
いることを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項２】 画像信号（５）及びアフタグロー、残光
−信号は、補正ユニット（６）にデジタル的に供給され
るように構成されていることを特徴とする請求項１記載
の装置。 - 【請求項３】 アフタグロー、残光−信号は、瞬時の、
実際の明画像撮影前の少なくとも１つの暗画像撮影から
求められるように構成されていることを特徴とする請求
項１記載の装置。 - 【請求項４】 アフタグロー、残光−信号は、瞬時の、
実際の明画像撮影後の少なくとも１つの暗画像撮影から
求められるように構成されていることを特徴とする請求
項１記載の装置。 - 【請求項５】 アフタグロー、残光−信号は、瞬時の、
実際の明画像撮影前の少なくとも１つの暗画像撮影及び
瞬時の、実際の明画像撮影後の少なくとも１つの暗画像
撮影から求められるように構成されていることを特徴と
する請求項１記載の装置。 - 【請求項６】 アフタグロー、残光−信号は、複数の暗
画像撮影から１つの算術平均値の形成により求められる
ように構成されていることを特徴とする請求項３または
４記載の装置。 - 【請求項７】 アフタグロー、残光−信号は、複数の暗
画像撮影から１つの移動荷重平均値の形成により求めら
れるように構成されていることを特徴とする請求項３ま
たは４記載の装置。 - 【請求項８】 瞬時の、実際の明画像撮影の前及び後の
各１つの暗画像撮影からアフタグロー、残光−信号に対
する算術平均値が形成されるように構成されていること
を特徴とする請求項５記載の装置。 - 【請求項９】 求められたアフタグロー、残光−信号に
おいて、瞬時の、実際の明画像撮影の時点までのそれの
減衰特性が、考慮されるように構成されていることを特
徴とする請求項３から８までのうちいずれか１項記載の
装置。 - 【請求項１０】 アフタグロー、残光−信号の減衰特性
は、最後の明画像撮影の後の及び瞬時の、実際の明画像
撮影の前の夫夫一連の暗画像から求められるように構成
されていることを特徴とする請求項９記載の装置。
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