JP2017064288A - 放射線医用画像診断装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】長時間の撮影においてアーチファクトの発生を抑制可能な放射線医用画像診断装置の提供。【解決手段】実施形態に係る放射線医用画像診断装置は、データ収集手段と、処理手段とを具備する。データ収集手段は、放射線検出器からの出力に応じたデータを収集する。処理手段は、データ収集手段により本スキャンの前に収集された第1のデータとデータ収集手段により本スキャンの後に収集された第2のデータとの少なくとも一方に基づいて、データ収集手段により本スキャンにおいて収集された第3のデータに補正処理を実行する。【選択図】 図1
Description
本発明の実施形態は、X線コンピュータ断層撮影(X線CT)装置、X線診断装置、単一光子放射断層撮影(SPECT)装置、ポジトロン断層撮影(PET)装置等に代表される放射線医用画像診断装置に関する。
医師等が、被検体の体内を診断するにあたり、例えばX線コンピュータ断層撮影(X線CT)装置、X線診断装置、単一光子放射断層撮影(SPECT)装置、ポジトロン断層撮影(PET)装置等に代表される放射線医用画像診断装置が広く利用されている。実施形態を含めた以下の説明においては、例示としてX線コンピュータ断層撮影装置を取り上げるものとする。
X線コンピュータ断層撮影装置は、被検体に対してX線を照射するオブジェクトスキャン(本スキャン)を実行する前に、X線を照射しない場合においてデータ収集システム(DAS:Data Acquisition System)により収集されたオフセットデータを用いて、補正(較正/キャリブレーション)を実行する。
しかし、所定時間を経過すると、事前に収集されたオフセットデータと、実際のデータに含まれるオフセットデータとが乖離(オフセットドリフト)し、アーチファクトの原因となる。そこで一般的なX線コンピュータ断層撮影装置では、所定時間を経過すると、再びオフセットデータを取得し、当該再び得られたオフセットデータを用いて補正を実行する
しかしシャトルヘリカル等、休止時間を適用できずに長時間の撮影を伴う場合、適度にオフセットデータを再取得することができず、アーチファクトを抑制することが困難となる。
しかしシャトルヘリカル等、休止時間を適用できずに長時間の撮影を伴う場合、適度にオフセットデータを再取得することができず、アーチファクトを抑制することが困難となる。
目的は、長時間の撮影においてアーチファクトの発生を抑制可能な放射線医用画像診断装置を提供することにある。
実施形態に係る放射線医用画像診断装置は、データ収集手段と、処理手段とを具備する。データ収集手段は、放射線検出器からの出力に応じたデータを収集する。処理手段は、データ収集手段により本スキャンの前に収集された第1のデータとデータ収集手段により本スキャンの後に収集された第2のデータとの少なくとも一方に基づいて、データ収集手段により本スキャンにおいて収集された第3のデータに補正処理を実行する。
以下、図面を参照しながら実施形態を説明する。
図1は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1を示すブロック図である。
X線コンピュータ断層撮影装置には、X線管とX線検出器とが一体として被検体の周囲を回転するRotate/Rotate−Type、リング状にアレイされた多数のX線検出素子が固定され、X線管のみが被検体の周囲を回転するStationary/Rotate−Type等、様々なタイプがあり、いずれのタイプでも、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1へ適用が可能である。また、医用画像を再構成するには被検体の周囲一周、360度分のデータが、またハーフスキャン法でも180度+ファン角度分のデータが必要とされる。いずれの再構成方式に対しても実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1へ適用が可能である。また、入射X線を電荷に変化するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でX線を光に変換し、更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、X線によるセレン等の半導体内での電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とが主流である。X線検出素子としては、それらのいずれの方式を採用してもよい。
さらに近年では、X線管とX線検出器との複数のペアを回転リングに搭載した、いわゆる多管球型のX線コンピュータ断層撮影装置の製品化が進み、その周辺技術の開発が進んでいる。実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、従来からの一管球型のX線コンピュータ断層撮影装置であってもよいし、多管球型のX線コンピュータ断層撮影装置であってもよい。ここでは、一管球型として説明する。更に、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、エネルギー積分型のX線コンピュータ断層撮影装置であってもよいし、エネルギー弁別の可能なフォトンカウンティング型のX線コンピュータ断層撮影装置であってもよい。
図1に示すように、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、架台2と、補正回路30(処理手段)と、再構成回路31と、画像処理回路32と、記憶回路4と、表示回路50と、入力回路51と、制御回路6(制御手段)とを有する。
架台2は、回転フレーム20と、回転駆動機構21と、高電圧発生器22と、X線管23と、X線検出器24と、データ収集回路25(データ収集手段)とを有する。
回転フレーム20及び回転駆動機構21は、不図示の回転支持機構を構成する。言い換えると、当該回転支持機構は、回転フレーム20と、回転軸Zを中心として回転自在に回転フレーム20を支持する不図示のフレーム支持機構と、回転フレーム20の回転を駆動する回転駆動機構21から構成される。
高電圧発生器22は、回転フレーム20に配置される。高電圧発生器22は、X線管23に印加される高電圧(管電圧)と、X線管23に供給される電流(管電流又はフィラメント電流)とを発生する。高電圧発生器22は、後述する制御回路6から不図示のスリップリングを介して入力された制御信号に従って、管電圧と管電流とを発生する。
X線管23は、高電圧発生器22からの管電圧の印加及び管電流の供給を受けて、X線の焦点からX線を放射する。X線管23は、多色X線を発生する。多色X線は、異なるエネルギーを有する単色X線からなる。
X線検出器24は、回転軸Zを挟んでX線管23に対向する位置及びアングルで、回転フレーム20の所定の位置に配置される。X線検出器24は、複数のX線検出素子を有する。ここでは、単一のX線検出素子が単一のチャンネルを構成しているものとして説明する。複数のチャンネルは、回転軸Zに直交し、かつ放射されるX線の焦点を中心として、この中心から1チャンネル分のX線検出素子の受光部中心までの距離を半径とする円弧方向(チャンネル方向)とスライス方向との2方向に関して2次元状に配列される。2次元状の配列は、上記チャンネル方向に沿って1次元状に配列された複数のチャンネルを、スライス方向に関して複数列並べて構成される。このような2次元状のX線検出素子配列を有するX線検出器24は、略円弧方向に1次元状に配列される複数の上記モジュールをスライス方向に関して複数列並べて構成してもよい。また、X線検出器24は、複数のX線検出素子を1列に配列した複数のモジュールで構成されてもよい。かかる場合、モジュール各々は、上記チャンネル方向に沿って略円弧方向に1次元状に配列される。
撮影又はスキャンに際しては、X線管23とX線検出器24との間の円筒形の撮影領域R内に、被検体が天板26に載置され挿入される。X線検出器24の出力には、後述するデータ収集回路25が接続される。
データ収集回路25は、X線検出器24の各チャンネルの電流信号を電圧に変換する不図示のI−V変換器と、当該電圧信号をX線の照射周期に同期して周期的に積分する不図示の積分器と、当該積分器の出力信号を増幅する不図示のアンプと、当該アンプの出力信号をディジタル信号変換(A/D変換)する不図示のアナログ・ディジタル・コンバータ(Analog to Digital Converter:ADC)と、を有する。データ収集回路25は、X線検出器24からの出力に基づいて、データを収集(生成)する。
具体的には、データ収集回路25は、データを収集した時点におけるビュー角を表すデータ(ビュー角データ)と関連付けて、複数のチャンネル各々のデータ(投影データ)を生成する。当該データは、X線検出器24の出力に応じたデータ値の集合である。ここでは説明の便宜上、ワンショットで同時に収集したビュー角が同一である全チャンネルに亘る一揃いのデータを、データセットと称する。また、ビュー角は、X線管23が回転軸Zを中心として周回する円軌道の各位置を、回転軸Zから鉛直上向きにおける円軌道の最上部を0度として360度の範囲の角度で表したものである。なお、データセットの各チャンネルに対するデータ値は、回転フレーム20の回転数、ビュー角、コーン角、チャンネル番号によって識別される。
すなわち、データ収集回路25は、X線検出器24からの出力に基づいて、データセットを生成する。データ収集回路25は、回転フレーム20の回転に応じて、周期的に複数のデータセットを生成する。ここで、周期的に生成される複数のデータセットとは、回転軸Z周りの回転フレーム20の回転に応じて、回転フレーム20の回転数が異なり、同一ビュー角の複数のデータセットのことを指すものとする。データ収集回路25により生成された複数のデータセットは、バスを通じて、後述の記憶回路4に送信され、記憶される。
なお、X線検出器24及びデータ収集回路25は、X線検出器24によるX線検出有無に限らず、半導体特性、ジュール熱等の影響により、暗電流を発生する。当該暗電流は、後述の再構成回路31におけるデータからボリュームデータの生成過程において、ノイズの原因となる。またノイズを有するボリュームデータに基づいて、後述の画像処理回路32によって生成される断層画像は、アーチファクトを有するものとなる。
換言すると、データ収集回路25は、X線を照射しないタイミングにおいても、上述の暗電流に起因するデータを生成することができる。実施形態においては、被検体の撮像に係るデータ(X線照射時)を「オブジェクトデータ(セット)」、暗電流に起因するデータ(X線非照射時)を「オフセットデータ(セット)」と呼び、区別をするものとする。ここで、オフセットデータセットは、ビューごとに保持されることが好適である。かかる場合、一のビューに係る全オフセットデータが保持されてもよいし、一のビューに係る全オフセットデータを平均化したオフセットデータ(平均値)が保持されてもよい。
補正回路30は、データ収集回路25によって生成され記憶回路4に記憶されたオフセットデータセットを用いて、データ収集回路25によって生成され記憶回路4に記憶されたオブジェクトデータセットを補正(較正/キャリブレーション)する。当該補正は、例えばオブジェクトデータセットからオフセットデータセットを減算するものである。
特に、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、補正回路30は、オブジェクトデータセットが生成される前に生成された前オフセットデータ(第1のデータ)と、当該オブジェクトデータセットが生成された後に生成された後オフセットデータ(第2のデータ)とに基づいて、当該オブジェクトデータセット(第3のデータ)を補正する。当該補正機能を「マルチオフセット補正機能」と呼ぶものとする。
再構成回路31は、ビュー角が360度又は180度+ファン角の範囲内のデータセットであって補正回路30によって補正されたオブジェクトデータセットに基づいて、フェルドカンプ法またはコーンビーム再構成法により、略円柱形の3次元画像(ボリュームデータ)を再構成する。再構成回路31は、例えばファンビーム再構成法(ファンビーム・コンボリューション・バックプロジェクション法)又はフィルタード・バックプロジェクション法により2次元画像(断層画像)を再構成する。
フェルドカンプ法は、コーンビームのように再構成面に対して投影レイが交差する場合の再構成法である。フェルドカンプ法は、コーン角が小さいことを前提として畳み込みの際にはファン投影ビームとみなして処理し、逆投影はスキャンの際のレイに沿って処理する近似的画像再構成法である。コーンビーム再構成法は、フェルドカンプ法よりもコーン角のエラーが抑えられる方法として、再構成面に対するレイの角度に応じてデータを補正する再構成法である。
画像処理回路32は、再構成回路31によって再構成されたボリュームデータに基づいて、任意の断面の医用画像を生成する。
記憶回路4は、データ収集回路25で収集されたデータ(オフセットデータ及びオブジェクトデータ)、再構成回路31で再構成されたボリュームデータ、画像処理回路32によって生成された断層画像、任意断面の医用画像等の画像データを記憶する。また、記憶回路4は、X線コンピュータ断層撮影装置1の各種制御に関するプログラム等を記憶する。
すなわち、記憶回路4は、例えばハードディスクドライブ(Hard Disk Drive:HDD)又はソリッドステートドライブ(Solid State Drive:SSD)等のストレージデバイスとして実施される。また記憶回路4は、プログラムの演算に係る一時的に必要な情報(例えば引数、配列、構造体、メモリアドレス等)を記憶するランダムアクセスメモリ(Random Access Memory:RAM)等のメモリとしても実施される。
表示回路50は、例えばグラフィカルユーザインターフェース(Graphical User Interface:GUI)の画面を表示する。表示回路50は、当該グラフィカルユーザインターフェースの画面を通じて、再構成回路31により再構成された医用画像、X線コンピュータ断層撮影のために設定される条件等を表示する。すなわち、表示回路50は、例えばCRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ及びプラズマディスプレイ等のモニターとして実施される。
入力回路51は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1を使用する医師等の操作者による操作/入力を受け付ける。後述の制御回路6は、当該受け付けた操作/入力に基づいて所定の処理を実行する。例えば、スキャンシーケンスの設定、関心領域(Region of Interest:ROI)の設定等が挙げられる。ただしあくまでも例示でありこの限りではない。すなわち入力回路51は、例えばキーボード、マウス、タッチパネル(電磁誘導式、電磁歪式、感圧式等)、磁気リーダ及び光学センサ等として実施される。
制御回路6は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の中枢として機能する。換言すると、制御回路6は、X線コンピュータ断層撮影装置1における各構成要素(例えば、補正回路30、再構成回路31、画像処理回路32等)の動作を制御する。具体的には、制御回路6は、X線コンピュータ断層撮影のために高電圧発生器22、架台2等を制御する。或いは、制御回路6は、X線の非発生時に前オフセットデータ(第1のデータ)を取得し、続いてX線の発生時にオブジェクトデータ(第3のデータ)を取得し、続いてX線の非発生時に後オブジェクトデータ(第2のデータ)を取得するスキャンシーケンスが実行されるように、X線管23とデータ収集回路25とを制御する。
すなわち、制御回路6は、例えば不図示の中央処理装置(Central Processing Unit:CPU)を有する。制御回路6は、記憶回路4に記憶された所定のプログラムを読み出すことによって、X線コンピュータ断層撮影装置1が有する諸機能を実行する。
なお図1においては、一例として単一の制御回路6として図示されているが、実際は単一の制御回路6として実施されてもよいし、機能ごとに複数の制御回路6を有するように実施されてもよい。またそれらの組合せであってもよい。また制御回路6は、記憶回路4とは独立に、不図示のメモリを有することが好適である。
なお、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、不図示のインターフェース回路を有するように実施されてもよい。当該インターフェース回路は、例えばX線コンピュータ断層撮影装置1と電気通信回線(イントラネット又はインターネット)とを接続する。当該電気通信回線には、不図示の放射線部門情報管理システム及び不図示の病院情報システム等が接続される。
[実施例1]
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例1を説明する。
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例1を説明する。
図2は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例1を示すダイヤグラム(各種値の時間変化/時系列を表すグラフ)である。
横軸は、時刻tを示す。図2においては、時刻T0、T1、T2、及びT3がそれぞれ示されている。
トリガ信号は、X線管23からのX線の照射を制御する信号であり、High及びLowの2値を有する。トリガ信号の値がHigh(以下、トリガ信号=Highと表記)のとき、X線管23はX線を照射しない(X線の照射を停止する)。一方、トリガ信号の値がLow(以下、トリガ信号=Lowと表記)のとき、X線管23はX線を照射する。図2においては、時刻T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わっている。更に、時刻T3において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わっている。そして、トリガ信号=High/Lowの変化に応じて、X線を照射するか否かが決定されている。
データの欄は、オフセットデータ又はオブジェクトデータのいずれかであるかを、長方形を用いて示している。斜線を付した長方形は、X線の非照射時に生成されたオフセットデータを示す。斜線を付さない長方形は、X線の照射時に生成されたオブジェクトデータを示す。図2においては、前オフセットデータ7、オブジェクトデータ8及び後オフセットデータ9が示されている。
図3は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例1を示すフローチャートである。以下、図3のフローチャートにおける各ステップにしたがって説明する。
(ステップS1−1)
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS1−2に続く)。
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS1−2に続く)。
(ステップS1−2)
ステップS1−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS1−3に続く)。
ステップS1−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS1−3に続く)。
(ステップS1−3)
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS1−4に続く)。
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS1−4に続く)。
(ステップS1−4)
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS1−5に続く)。
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS1−5に続く)。
(ステップS1−5)
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS1−6に続く)。
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS1−6に続く)。
(ステップS1−6)
ステップS1−5において生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS1−7に続く)。
ステップS1−5において生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS1−7に続く)。
(ステップS1−7)
前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9は、補正回路30によって、オブジェクトスキャンの総時間に対するオブジェクトスキャンの経過時間の割合と、オブジェクトスキャンの総時間に対する当該オブジェクトスキャンの残余時間の割合と、に応じた重み付けされる(ステップS1−8に続く)。
前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9は、補正回路30によって、オブジェクトスキャンの総時間に対するオブジェクトスキャンの経過時間の割合と、オブジェクトスキャンの総時間に対する当該オブジェクトスキャンの残余時間の割合と、に応じた重み付けされる(ステップS1−8に続く)。
(ステップS1−8)
オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、当該重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いて補正される(ステップ終了)。
オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、当該重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いて補正される(ステップ終了)。
ステップS1−7及びS1−8について、例えば、図2における時刻T2では、補正回路30は、前オフセットデータ7に(T2−T0)/(T1−T0)倍の重み付けを行い、後オフセットデータ9に(T1−T2)/(T1−T0)倍の重み付けを行う。補正回路30は、重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いてオブジェクトデータ8を補正する。
ステップS1−7及びS1−8について、例えば、図2における時刻T3では、補正回路30は、前オフセットデータ7に(T3−T0)/(T1−T0)倍の重み付けを行い、後オフセットデータ9に(T1−T3)/(T1−T0)倍の重み付けを行う。補正回路30は、重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いてオブジェクトデータ8を補正する。
(効果)
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例1によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例1によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、データ収集回路25(データ収集手段)と、補正回路30(処理手段)とを具備する。データ収集回路25は、X線検出器24(放射線検出器)からの出力に応じたデータを収集する。補正回路30は、データ収集回路25により本スキャンの前に収集された前オフセットデータ7(第1のデータ)とデータ収集回路25により本スキャンの後に収集された後オフセットデータ9(第2のデータ)との少なくとも一方に基づいて、データ収集回路25により本スキャンにおいて収集されたオブジェクトデータ8(第3のデータ)に補正処理を実行する。
特に、補正回路30は、前オフセットデータ7と後オフセットデータ9とに対して、本スキャンの開始時刻から所定時刻までを示す経過時間と本スキャンの所定時刻から終了時刻までを示す残余時間との比に対応する重み付け処理をそれぞれ実行し、当該重み付け処理を実行された前オフセットデータ7と後オフセットデータ9とに基づいて、オブジェクトデータ8を補正する補正処理を実行する。
これにより、シャトルヘリカル等、休止時間を適用できずに長時間の撮影を伴う場合であっても、前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いることで、適度にオフセットデータを再取得することができ、オフセットドリフトに起因するアーチファクトを抑制することができる。
[実施例2]
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例2を説明する。実施例2は、実施例1に比してより計算コストの小さい補正を実現することができる。特に、本スキャンの時間が上述の実施例1に比して短い場合に適用することが好適である。ただしあくまでも例示であり、この限りではない。
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例2を説明する。実施例2は、実施例1に比してより計算コストの小さい補正を実現することができる。特に、本スキャンの時間が上述の実施例1に比して短い場合に適用することが好適である。ただしあくまでも例示であり、この限りではない。
図4は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例2を示すダイヤグラム(各種値の時間変化/時系列を表すグラフ)である。
横軸は、時刻tを示す。図4においては、時刻T0、T1、T2、T3、及びT4がそれぞれ示されている。なお、T4は、T4=(T0+T1)/2を満たす値であるとする。
図5は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例2を示すフローチャートである。以下、図5のフローチャートにおける各ステップにしたがって説明する。
(ステップS2−1)
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS2−2に続く)。
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS2−2に続く)。
(ステップS2−2)
ステップS2−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS2−3に続く)。
ステップS2−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS2−3に続く)。
(ステップS2−3)
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS2−4に続く)。
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS2−4に続く)。
(ステップS2−4)
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS2−5に続く)。
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS2−5に続く)。
(ステップS2−5)
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS2−6に続く)。
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS2−6に続く)。
(ステップS2−6)
ステップS2−5において生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS2−7に続く)。
ステップS2−5において生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS2−7に続く)。
(ステップS2−7)
T0≦t≦T4(又はT0≦t<T4:例えばt=T2等)におけるオブジェクトデータ8は、補正回路30によって、前オフセットデータ7を用いて補正される(ステップS2−8に続く)
(ステップS2−8)
T4<t≦T1(又はT4≦t≦T1:例えばt=T3等)におけるオブジェクトデータ8は、補正回路30によって、後オフセットデータ9を用いて補正される(ステップ終了)
(効果)
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例2によれば、以下の効果が奏される。
T0≦t≦T4(又はT0≦t<T4:例えばt=T2等)におけるオブジェクトデータ8は、補正回路30によって、前オフセットデータ7を用いて補正される(ステップS2−8に続く)
(ステップS2−8)
T4<t≦T1(又はT4≦t≦T1:例えばt=T3等)におけるオブジェクトデータ8は、補正回路30によって、後オフセットデータ9を用いて補正される(ステップ終了)
(効果)
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例2によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、データ収集回路25(データ収集手段)と、補正回路30(処理手段)とを具備する。データ収集回路25は、X線検出器24(放射線検出器)からの出力に応じたデータを収集する。補正回路30は、データ収集回路25により本スキャンの前に収集された前オフセットデータ7(第1のデータ)とデータ収集回路25により本スキャンの後に収集された後オフセットデータ9(第2のデータ)との少なくとも一方に基づいて、データ収集回路25により本スキャンにおいて収集されたオブジェクトデータ8(第3のデータ)に補正処理を実行する。
特に、補正回路30は、本スキャンの開始時刻から所定時刻までを示す経過時間が本スキャンの所定時刻から終了時刻までを示す残余時間に比して略同値又は短い場合、前オフセットデータ7に基づいてオブジェクトデータ8を補正し、経過時間が残余時間に比して長い又は略同値の場合、後オフセットデータ9に基づいてオブジェクトデータ8を補正する。
これにより、実施例1に比してより計算コストを緩和した上で、シャトルヘリカル等、休止時間を適用できずに所定時間の撮影を伴う場合であっても、前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いることで、適度にオフセットデータを再取得することができ、オフセットドリフトに起因するアーチファクトを抑制することができる。
[実施例3]
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例3を説明する。実施例3は、本スキャンのスキャン時間と所定の閾値とに基づいて実施例1に係るマルチオフセット補正機能を実行するか否かを判断する機能を有するものである。
以下、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1のマルチオフセット補正機能に関して、実施例3を説明する。実施例3は、本スキャンのスキャン時間と所定の閾値とに基づいて実施例1に係るマルチオフセット補正機能を実行するか否かを判断する機能を有するものである。
図6A及び図6Bは、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例3を示すダイヤグラム(各種値の時間変化/時系列を表すグラフ)である。
横軸は、時刻tを示す。図6A及び図6Bにおいては、時刻T0、T1、及びT5がそれぞれ示されている。なお、図6Aは、T1>T5を満たす場合を示し、図6Bは、T1<T5を満たす場合を示している。
図7は、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1において、実施例3を示すフローチャートである。以下、図7のフローチャートにおける各ステップにしたがって説明する。
(ステップS3−1)
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS3−2に続く)。
本スキャンを実行する前(すなわちt<T0)で、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって生成される(ステップS3−2に続く)。
(ステップS3−2)
ステップS3−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS3−3に続く)。
ステップS3−1において生成されたオフセットデータは、前オフセットデータ7として記憶回路4に記憶される(ステップS3−3に続く)。
(ステップS3−3)
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS3−4に続く)。
t=T0において、トリガ信号=Highからトリガ信号=Lowへと切り替わることによりX線管23がX線の照射を開始し、本スキャンが開始される。本スキャンに亘り、オブジェクトデータがデータ収集回路25によって生成される(ステップS3−4に続く)。
(ステップS3−4)
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS3−5に続く)。
t=T1において、トリガ信号=Lowからトリガ信号=Highへと切り替わることにより、X線管23がX線の照射を停止し、本スキャンが終了される。生成されたオブジェクトデータは、オブジェクトデータ8として記憶回路4に記憶される(ステップS3−5に続く)。
(ステップS3−5)
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、制御回路6は、記憶回路4に記憶された所定のプログラムの読み出し、T1と閾値T5とが当該プログラムにより比較される(ステップS3−6a又はステップS3−6bに続く)。
本スキャンを実行した後(すなわちt>T1)、制御回路6は、記憶回路4に記憶された所定のプログラムの読み出し、T1と閾値T5とが当該プログラムにより比較される(ステップS3−6a又はステップS3−6bに続く)。
(ステップS3−6a)
ステップS3−5において、図6Aに示すようにT1>T5(又はT1≧T5)を満たす場合は、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS3−7に続く)。
ステップS3−5において、図6Aに示すようにT1>T5(又はT1≧T5)を満たす場合は、X線管23がX線を照射しない期間において、暗電流に起因するデータであるオフセットデータが、データ収集回路25によって再び生成される(ステップS3−7に続く)。
(ステップS3−6b)
ステップS3−5において、図6Bに示すようにT1<T5(又はT1≦T5)を満たす場合は、マルチオフセット補正機能は実行されない(中止)。すなわち、オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、前オフセットデータ7を用いて補正される(ステップ終了)。
ステップS3−5において、図6Bに示すようにT1<T5(又はT1≦T5)を満たす場合は、マルチオフセット補正機能は実行されない(中止)。すなわち、オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、前オフセットデータ7を用いて補正される(ステップ終了)。
(ステップS3−7)
ステップS3−6aにおいて生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS3−8に続く)。
ステップS3−6aにおいて生成されたオフセットデータは、後オフセットデータ9として記憶回路4に記憶される(ステップS3−8に続く)。
(ステップS3−8)
前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9は、補正回路30によって、オブジェクトスキャンの総時間に対するオブジェクトスキャンの経過時間の割合と、オブジェクトスキャンの総時間に対する当該オブジェクトスキャンの残余時間の割合と、に応じた重み付けがなされる(ステップS3−9に続く)。
前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9は、補正回路30によって、オブジェクトスキャンの総時間に対するオブジェクトスキャンの経過時間の割合と、オブジェクトスキャンの総時間に対する当該オブジェクトスキャンの残余時間の割合と、に応じた重み付けがなされる(ステップS3−9に続く)。
(ステップS3−9)
オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、当該重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いて補正される(ステップ終了)。
オブジェクトデータ8は、補正回路30によって、当該重み付けされた前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いて補正される(ステップ終了)。
上記第3の実施例は、本スキャンのスキャン時間と所定の閾値とに基づいて「実施例1」に係るマルチオフセット補正機能を実行するか否かを判断する機能を有するものである。
かかる機能に関連して、本スキャンのスキャン時間と所定の閾値とに基づいて「実施例2」に係るマルチオフセット補正機能を実行するか否かを判断する機能を有するように実施されてもよい。
或いは、「実施例1」に係るマルチオフセット補正機能を実行するか、「実施例2」に係るマルチオフセット補正機能を実行するか、又はいずれの機能も実行しないかを、例えば異なる二の閾値を用いて判断する機能を有するように実施されてもよい。
更に、マルチオフセット補正機能を実行するか否かの判断は、医師等の操作者によるスキャンシーケンスの設定時(実際のスキャンシーケンスの開始前)において、事前決定されるように実施されてもよい。換言すると、後オフセットデータ9を取得するか否かの判断が、医師等の操作者によるスキャンシーケンスの設定時(実際のスキャンシーケンスの開始前)において、事前決定されるように実施されてもよい。
(効果)
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例3によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1の実施例3によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、データ収集回路25(データ収集手段)と、補正回路30(処理手段)とを具備する。データ収集回路25は、X線検出器24(放射線検出器)からの出力に応じたデータを収集する。補正回路30は、データ収集回路25により本スキャンの前に収集された前オフセットデータ7(第1のデータ)とデータ収集回路25により本スキャンの後に収集された後オフセットデータ9(第2のデータ)との少なくとも一方に基づいて、データ収集回路25により本スキャンにおいて収集されたオブジェクトデータ8(第3のデータ)に補正処理を実行する。
特に、データ収集回路25は、本スキャンの時間T1が閾値T5に比して略同値又は短い場合、後オフセットデータ9の収集を中止し、補正回路30は、前オフセットデータ7に基づいてオブジェクトデータ8を補正する。
これにより、前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いるべき場合(シャトルヘリカル等、休止時間を適用できずに所定時間の撮影を伴う場合等)と、本スキャンの時間が短く、前後のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いる必要が無い場合とを適切に判断することができる。また、オフセットデータを再取得することができ、オフセットドリフトに起因するアーチファクトを抑制することができる。
[変形例]
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、補正回路30を有する。また、補正回路30は、上述の実施例に記載のマルチオフセット補正機能を実行する。しかしながら、X線コンピュータ断層撮影装置1が補正回路30を有さず、他の構成要素によってマルチオフセット補正機能が実行されてもよい。例えば、一変形例においては、X線コンピュータ断層撮影装置1における画像処理回路32が、マルチオフセット補正機能を実行してもよい。他の一変形例においては、X線コンピュータ断層撮影装置1における制御回路6が、記憶回路4に記憶された所定のプログラムを読み出すことにより、マルチオフセット補正機能を実行してもよい。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、補正回路30を有する。また、補正回路30は、上述の実施例に記載のマルチオフセット補正機能を実行する。しかしながら、X線コンピュータ断層撮影装置1が補正回路30を有さず、他の構成要素によってマルチオフセット補正機能が実行されてもよい。例えば、一変形例においては、X線コンピュータ断層撮影装置1における画像処理回路32が、マルチオフセット補正機能を実行してもよい。他の一変形例においては、X線コンピュータ断層撮影装置1における制御回路6が、記憶回路4に記憶された所定のプログラムを読み出すことにより、マルチオフセット補正機能を実行してもよい。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1は、補正回路30を有する。また、補正回路30は、オフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)に基づいてオブジェクトデータ8を補正する。一方、補正回路30がマルチオフセット補正機能を実行する前に、再構成回路31がオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)及びオブジェクトデータ8をボリュームデータにそれぞれ再構成してもよい。かかる場合、補正回路30は、オフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)から再構成されたボリュームデータに基づいて、オブジェクトデータ8から再構成されたボリュームデータを補正する。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1が有するマルチオフセット補正機能は、二のオフセットデータ(前オフセットデータ7及び後オフセットデータ9)を用いるものに限定されない。例えば、データ収集回路25が、オブジェクトデータ8の取得時間の一部に所定の休止時間を入れることで「中オフセットデータ」を取得し、続いて補正回路30が、当該三のオフセットデータを用いて、オブジェクトデータ8を補正するように実施されてもよい。同様に、データ収集回路25が四以上のオフセットデータを取得し、補正回路30が当該四以上のオフセットデータを用いて、オブジェクトデータ8を補正するように実施されてもよい。
実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1が有する機能(マルチオフセット補正機能等)は、X線コンピュータ断層撮影装置1に限定されるものではない。例えば、X線診断装置、単一光子放射断層撮影(SPECT)装置、ポジトロン断層撮影(PET)装置等に代表される他の放射線医用画像診断装置によって実施されてもよい。
更に、実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置1が有する機能(マルチオフセット補正機能等)は、データセット圧縮処理を実行するプログラムをワークステーション等のコンピュータにインストールし、これらをメモリ上で展開することによって、実現されてもよい。かかる場合、コンピュータに当該手法を実行させることのできるプログラムは、磁気ディスク(フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク等)、光ディスク(CD−ROM、DVD−ROM等)、半導体メモリ等の記憶媒体に格納して頒布することも可能である。
上述の各実施形態における構成部は、主として、回路(circuit)、回路類(circuitry)、プロセッサ(Processor)、及びメモリ(Memory)等を少なくとも適当に組み合わせることによって実現される。
またプロセッサとは、例えばCPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CLPD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路に保存されたプログラムを読み出し、実行することで、機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成されても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて一のプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を一のプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。
(効果)
以上に述べた実施形態によれば、以下の効果が奏される。
以上に述べた実施形態によれば、以下の効果が奏される。
実施形態に係る放射線医用画像診断装置は、データ収集手段と、処理手段とを具備する。データ収集手段は、放射線検出器からの出力に応じたデータを収集する。処理手段は、データ収集手段により本スキャンの前に収集された第1のデータとデータ収集手段により本スキャンの後に収集された第2のデータとの少なくとも一方に基づいて、データ収集手段により本スキャンにおいて収集された第3のデータに補正処理を実行する。
これにより、長時間の放射線医用画像撮影を伴う場合であっても、前後のオフセットデータを用いることで、適度にオフセットデータを再取得することができ、オフセットドリフトに起因するアーチファクトを抑制することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…X線コンピュータ断層撮影装置、2…架台、20…回転フレーム、21…回転駆動機構、22…高電圧発生器、23…X線管、24…X線検出器、25…データ収集回路、26…天板、30…補正回路、31…再構成回路、32…画像処理回路、4…記憶回路、50…表示回路、51…入力回路、6…制御回路、7…前オフセットデータ、8…オブジェクトデータ、9…後オフセットデータ、R…撮影領域。
Claims (8)
- 放射線検出器からの出力に応じたデータを収集するデータ収集手段と、
前記データ収集手段により本スキャンの前に収集された第1のデータと前記データ収集手段により前記本スキャンの後に収集された第2のデータとの少なくとも一方に基づいて、前記データ収集手段により前記本スキャンにおいて収集された第3のデータに補正処理を実行する処理手段と、
を具備する放射線医用画像診断装置。 - 前記処理手段は、前記第1のデータと前記第2のデータとに対して、前記本スキャンの開始時刻から所定時刻までを示す経過時間と前記本スキャンの所定時刻から終了時刻までを示す残余時間との比に対応する重み付け処理をそれぞれ実行し、当該重み付け処理を実行された前記第1のデータと前記第2のデータとに基づいて、前記第3のデータを補正する補正処理を実行する請求項1記載の放射線医用画像診断装置。
- 前記処理手段は、前記本スキャンの開始時刻から所定時刻までを示す経過時間が前記本スキャンの所定時刻から終了時刻までを示す残余時間に比して略同値又は短い場合、前記第1のデータに基づいて第3のデータを補正し、前記経過時間が前記残余時間に比して長い又は略同値の場合、前記第2のデータに基づいて第3のデータを補正する請求項1記載の放射線医用画像診断装置。
- 前記データ収集手段は、前記本スキャンの時間が所定の値に比して略同値又は短い場合、前記第2のデータの収集を中止し、
前記処理手段は、前記第1のデータに基づいて第3のデータを補正する、
請求項1乃至3のうちいずれか一項記載の放射線医用画像診断装置。 - 前記処理手段は、前記データ収集手段よりビューごとに収集されたデータセットを、前記第1のデータ及び前記第2のデータの少なくとも一方として、前記補正処理を実行する請求項1乃至4のうちいずれか一項記載の放射線医用画像診断装置。
- 前記処理手段は、前記データセットを平均化して、前記補正処理を実行する請求項5記載の放射線医用画像診断装置。
- 放射線を発生する放射線管と、
前記放射線の非発生時に前記第1のデータを取得し、続いて前記放射線の発生時に前記第3のデータを取得し、続いて前記放射線の非発生時に前記第2のデータを取得するスキャンシーケンスが実行されるように、前記放射線管と前記データ収集手段とを制御する制御手段と、
を更に具備する請求項1乃至6のうちいずれか一項記載の放射線医用画像診断装置。 - 前記放射線医用画像診断装置は、X線コンピュータ断層撮影装置、X線診断装置、単一光子放射断層撮影装置、又はポジトロン断層撮影装置である請求項1乃至7のうちいずれか一項記載の放射線医用画像診断装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11266358B2 (en) | 2018-08-06 | 2022-03-08 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray computed tomography apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3554400B2 (ja) | 1995-03-10 | 2004-08-18 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | オフセット補正方法およびx線ct装置 |
DE19631624C1 (de) * | 1996-08-05 | 1997-10-23 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung |
US7065177B2 (en) * | 2002-11-14 | 2006-06-20 | General Electric Company | Method and apparatus for correcting a retained image artifact |
DE10361397A1 (de) * | 2003-12-29 | 2005-07-28 | Siemens Ag | Bildaufnahmevorrichtung |
JP4799000B2 (ja) | 2004-01-22 | 2011-10-19 | キヤノン株式会社 | X線撮影装置及びx線撮影方法 |
US7769126B2 (en) * | 2007-09-25 | 2010-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Computed tomography system |
JP5182371B2 (ja) | 2008-07-07 | 2013-04-17 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像検出器を用いた画像生成方法、画像生成プログラム、放射線画像検出器、および放射線画像生成システム |
US7832928B2 (en) * | 2008-07-24 | 2010-11-16 | Carestream Health, Inc. | Dark correction for digital X-ray detector |
-
2015
- 2015-10-02 JP JP2015196391A patent/JP2017064288A/ja active Pending
-
2016
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11266358B2 (en) | 2018-08-06 | 2022-03-08 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray computed tomography apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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