JP2002162473A - X線検出器のための画像補正方法 - Google Patents

X線検出器のための画像補正方法

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JP2002162473A JP2001239855A JP2001239855A JP2002162473A JP 2002162473 A JP2002162473 A JP 2002162473A JP 2001239855 A JP2001239855 A JP 2001239855A JP 2001239855 A JP2001239855 A JP 2001239855A JP 2002162473 A JP2002162473 A JP 2002162473A
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オーヴェルディック ミヒャエル
Walter Ruetten
リュッテン ヴァルター
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、残像効果の改善された補正を有す
る後ろに取り付けられた光源を含むX線検出器のための
画像補正方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、いわゆる利得効果が公知の方
法を用いては排除され得ないといった認識に基づく。し
かしながら、利得効果は、従来の診断用のX線量の場合
に見られるように数パーセントだけ増幅を増加させ、ア
ーチファクトを有する明画像を生じさせる。本発明によ
ると、利得効果は、組み込み式の光源を用いて光源画像
の捕捉によって測定され、それに基づいて利得効果の強
さ並びに補正係数が1ピクセルずつ決定される。明画像
のピクセル値は、補正係数を用いて補正される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線を光に変換す
るシンチレータが先行し、全てのフォトダイオードの均
一な照明のための光源に後続する、フォトダイオードを
有するセンサマトリクスを含むフラットダイナミックX
線検出器のための画像補正方法に関わる。本発明は、X
線装置にも関わる。
【0002】
【従来の技術】フラットダイナミックX線検出器(FD
XD)は、医学診断用のX線装置において特に使用され
る。フラットダイナミックX線検出器の構成は、例え
ば、EP03454A2並びにEP0440282A2
に記載される。
【0003】本発明による画像補正方法に関して、X線
検出器がその全てのフォトダイオードの均一なバック照
明のために光源を含むことが必要である。バック照明配
置の取り付け及び動作は、本質的に公知であり、例え
ば、WO98/01992に記載される。
【0004】アモルファスシリコンに基づくフラットダ
イナミックX線検出器に関して、前のX線露光からの画
像情報が後のX線画像においてまだ可視となり得ること
が公知である。このとき先行する画像の残り、又は、先
行する画像は、瞬間X線画像においてまだ観察され得、
この瞬間X線画像は以降明画像と称される。このような
望ましくない画像アーチファクトは、時間と共に減少
し、以降、一般に残像効果として称される。これまで残
像効果は、シンチレータからの残留信号(残光)及びフ
ォトダイオードからの残留信号に起因した。しかしなが
ら、読出し増幅器におけるフォトダイオードからの電荷
の不完全な読出しも残留信号の原因として公知である。
物理的な点において、シンチレータ及び光電陰極におけ
るいわゆる電荷キャリヤのトラッピング及びその後のデ
トラッピングは、残留信号効果の源である。例えば、フ
ォトダイオードの照明中に生成される電荷キャリヤは、
トラッピング点に部分的に結合される(トラッピン
グ)。後の瞬間において、トラップされた電荷キャリヤ
は再び放出され(デトラッピング)、それにより遅延さ
れた画像信号従って残留信号効果につながる。
【0005】このような望ましくない残留信号効果を排
除するために、DE19631624は、少なくとも一
つの暗画像から全ての残留信号を検出する補正ユニット
を含むX線診断装置を開示する。その後の明画像におけ
る残留信号成分は、瞬間残留信号だけが観察され得る上
記暗画像から決定され排除され得る。
【0006】しかしながら、暗画像の補正にも関わらず
明画像において残像効果がまだ生じることが実験によっ
て示される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従って、この従来技術
に基づいて、本発明は、残像効果の改善された補正を可
能にする、上述の種類のフラットダイナミックX線検出
器に対して画像補正方法を提供することを目的とする。
本発明は、上記改善された画像補正方法を行うX線装置
を提供することを更なる目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題に対する解決策
は、公知の残留信号効果に加えて、純粋な暗画像におい
て可視でなく従って公知の補正方法を用いては排除され
得ない更なる残像効果があるといった考えに基づく。こ
のような更なる残像効果は、いわゆる「利得効果」であ
り、シンチレータ並びにフォトダイオードにおいて生じ
る。試験は、シンチレータ及びフォトダイオードに対し
てこのような利得効果が存在することを示した。従来の
診断用X線量に対して、シンチレータにおける利得効果
は顕著でなく、従って、画像補正方法において考慮され
る必要がないことが分かる。しかしながら、フォトダイ
オードにおける利得効果は、従来の診断用X線量の場合
に既に見られるように、数パーセントだけ利得を増加、
従って、その後の明画像における可視の残像効果を生じ
させ得る。
【0009】このような利得効果は、既に占有されてい
るトラッピング点が更なる電荷キャリヤを受容し得ない
ため、電荷キャリヤのトラッピングに再び起因し得る。
結果として、瞬間の明画像の露光中、画像信号は、より
少ない数の発生される電荷キャリヤがトラッピング点に
結合され得るため、先行する(X線)露光により多数の
トラッピング点が既に占有されている領域において増加
する。結果となる画像信号の増加は、利得効果として現
れるが、残留信号効果として直接的には現れない。
【0010】本発明は、フォトダイオード中の利得効果
の強さが1ピクセルずつ決定され得るよう、フォトダイ
オード中の利得効果が露光された画像において可視にな
り得ることを利用する。より特定的には、センサマトリ
クスの各マトリクスセルの利得効果は、請求項1に従っ
て決定される。
【0011】本発明に従って補正された瞬間の明画像の
ピクセル値は、フィルタ処理、記憶、又は、ネットワー
クへの導入のような公知の方法で更に処理され得る。
【0012】本発明により、少なくとも1つの光源画像
及び1つの光源基準画像から利得効果の強さを計算する
ことは、高いX線量で露光した後でさえも著しく低い線
量での画像形成を可能にし、にも関わらず低い線量で形
成されたこのような画像は大きい程度の上記利得効果を
有しない。
【0013】フラットダイナミックX線検出器を具備す
るX線装置がしばしば光源を後に有するため、X線装置
は、本発明による画像方法を実施するために構造上の変
更を必要としない。
【0014】本発明による画像補正方法で同時に他の残
像効果を排除するためには、少なくとも1つの更なる公
知の画像補正方法、例えば、前述の暗画像方法が実施さ
れる。
【0015】本発明は、添付の図面を参照して以下に詳
細に説明する。
【0016】
【発明の実施の形態】図1の参照番号1は、X線2が検
査されるべき対象物3、例えば、人体を通るX線源を示
す。X線2は、検査されるべき対象物3を横切った後、
フラットダイナミックX線検出器4に入射し、このX線
検出器においてX線2が検出される。X線検出器4の後
ろのビーム路では、X線検出器4内の全てのフォトダイ
オードの均一な照明のために光源5が配置される。
【0017】X線検出器4の画像信号は、補正ユニット
6に供給され、この補正ユニットにおいて、必要であれ
ば、本発明による補正方法を用いて画像信号が補正され
る。補正された画像信号7は、通常の方法で更に処理さ
れ得る。
【0018】X線検出器4の画像信号の補正に関して、
X線源1が最初にオフにされる。残像効果、特にX線に
よる利得効果は数分間で減少される。X線検出器4のセ
ンサマトリクスは、光源5によって照明される。個々の
ピクセルにおいて得られる信号(ピクセル値)は、光源
基準画像として記憶される。X線源1が明画像の露光の
ために再び活性化されるとき、残像効果、特に利得効果
が生じる。明画像の露光のためのX線により残像効果、
特に利得効果が減少する前に、X線検出器4のセンサマ
トリクスは光源5を用いて再び照明され、従って得られ
る信号(ピクセル値)は光源画像として1ピクセルずつ
記憶される。光源基準画像の捕捉、及び、光源画像の捕
捉は夫々自動的に行われる。
【0019】光源基準画像は、例えば、明画像の露光が
長い期間にわたって行われていない場合、1日に数回捕
捉されることが好ましい。光源画像は、補正されるべき
明画像の前に直接的に捕捉されることが好ましい。光源
画像が短い間隔(例えば、10秒毎)で捕捉される場
合、明画像の露光が実施されるとき、最後の光源画像は
古すぎない、即ち、補正されるべき明画像の少し前に捕
捉されたことを確実にする。
【0020】これはしかしながら、請求項3記載の本発
明のバージョンにおいて、更なる補正値(K’)がその
後の明画像に適用されるよう補外法によって少なくとも
一つの先行する補正値(K)から計算される場合、必要
でない。更なる補正値(K’)に基づく補正は、特に、
高いX線量を伴う明画像の捕捉の後に低いX線量を伴う
複数の明画像の捕捉が続くとき、例えば、高いX線量で
の明画像の露光の後の蛍光板透視法において有利であ
る。
【0021】光源基準画像及びその後の捕捉された光源
画像の全てのピクセル値は補正ユニットにおいて利用で
きる。補正値は、光源画像のピクセル値と光源基準画像
のピクセル値の商として1ピクセルずつ計算される。各
ピクセルに対して決定されるこの補正値を使用して、補
正されたピクセル値がその後の明画像の各ピクセル値か
ら決定され得、従って一連の補正されたピクセルGa補
正された画像信号7を生じさせる。
【0022】図2は、X線検出器4の照射を示すタイミ
ングチャートである。
【0023】どの残像効果も減少した後、光源基準画像
のピクセル値(A)が各ピクセルに対して得られる。
【0024】X線検出器4をX線に対して露光した後、
最初の明画像のピクセル値(B)が各ピクセルに対して
得られる。
【0025】X線により残像が減少した効果を有する前
に、新しくされた光源照明は、光源画像のピクセル値
(C)を各ピクセルに対して生成する。ピクセル値
(C)の表示から分かるように、このピクセル値(C)
は光源基準画像(A)と比較して利得効果によって増加
される。
【0026】ピクセル値(C)とピクセル値(A)の商
から補正値が1ピクセルずつ計算されるとき、補正され
たピクセル値(E)は、その後の明画像の各ピクセル値
(D)に対して計算され得る。
【0027】以下の数学的な例は、本発明による補正方
法を示す。
【0028】 光源基準画像のピクセル値(A)=2000 光源画像のピクセル値(C)=2100 明画像のピクセル値(D)=5250 補正値(K) (K)=(C/(A))=2100/2000=1.0
5 補正された明画像のピクセル値(E) (E)=(D/(K))=5250/1.05=500
0である。
【0029】明瞭性の理由により、従来技術から公知の
残留信号効果は、図2においても上記数学的な例におい
ても考慮されていないことに注意する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像補正方法を行うX線装置を概
略的に示す図である。
【図2】IがX線/光パルスを示し、tが時間を示す、
時間における連続する様々なX線/光パルスを示す図で
ある。
【符号の説明】
1 X線源 2 X線 3 対象物 4 X線検出器 5 光源 6 補正ユニット 7 補正された画像信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 7/18 H04N 7/18 K L (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands (72)発明者 ヴァルター リュッテン ドイツ連邦共和国,52441 リーニッヒ /エーデレン,ブルネンシュトラーセ 26 Fターム(参考) 2G088 EE01 FF02 GG19 JJ05 KK32 LL11 LL17 4C093 AA01 AA07 AA16 CA09 EB12 EB13 EB17 FA32 FA60 FC16 FC17 FC19 5B047 AA17 AB02 BB04 CB05 CB30 DA10 DC06 5C024 AX11 CX17 CY44 5C054 AA06 CA02 CC01 ED11 FC15 HA12

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線を光に変換するシンチレータが先行
    し全てのフォトダイオードの均一な照明のための光源が
    後続するフォトダイオードを具備するセンサマトリック
    スを含むフラットダイナミックX線検出器のための画像
    補正方法であって、 上記センサマトリクスは、X線の露光による全ての利得
    効果の減少後に、上記X線源の代わりに上記光源を用い
    て少なくとも1回照射され、従って得られる光源基準画
    像が記憶され、 X線の露光による上記利得効果の減少前のその後の瞬間
    に、上記センサマトリクスは、上記X線源の代わりに上
    記光源を用いて再び照射され、従って得られる光源画像
    が記憶され、 補正値は、上記光源画像のピクセル値と上記光源基準画
    像のピクセル値との商として1ピクセルずつ計算され、 上記補正値を考慮する一方で、X線の影響下で1ピクセ
    ルずつ測定される各ピクセル値から補正されたピクセル
    値がその後決定される、上記センサマトリクスの各マト
    リクスセルに対して利得効果が個別的に決定されること
    を特徴とする画像補正方法。
  2. 【請求項2】 上記補正されたピクセル値は、上記X線
    の影響下で測定される上記ピクセル値と関連する上記補
    正値との商を計算することで決定されることを特徴とす
    る請求項1記載の画像補正方法。
  3. 【請求項3】 更なる補正値が補外法によって少なくと
    も一つの先行する補正値から計算され、その後、上記X
    線の影響下で測定される各ピクセル値と上記更なる補正
    値との間の商を1ピクセルずつ計算することで補正され
    たピクセル値が決定されることを特徴とする請求項1又
    は2記載の画像補正方法。
  4. 【請求項4】 上記画像補正方法と共に、本質的に公知
    の少なくとも1つの更なる画像補正方法が残留信号効果
    の補正のために実施されることを特徴とする請求項1記
    載の画像補正方法。
  5. 【請求項5】 X線を光に変換するシンチレータが先行
    し全てのフォトダイオードの均一な照明のための光源が
    後続するフォトダイオードを具備するセンサマトリック
    スを含むフラットダイナミックX線検出器と、 上記X線による全ての利得効果の減少の前後に上記セン
    サマトリクスによって生成される上記光源から画像信号
    を捕捉する少なくとも1つの補正ユニットとを含み、 上記補正ユニットは、利得効果の存在並びに上記利得効
    果の強さに依存して瞬間の明画像の画像信号を補正する
    X線装置。
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EP1184682A2 (de) 2002-03-06
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