JPH1056657A - 測定回路 - Google Patents
測定回路Info
- Publication number
- JPH1056657A JPH1056657A JP9101748A JP10174897A JPH1056657A JP H1056657 A JPH1056657 A JP H1056657A JP 9101748 A JP9101748 A JP 9101748A JP 10174897 A JP10174897 A JP 10174897A JP H1056657 A JPH1056657 A JP H1056657A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- measurement
- signal
- signal processing
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2882—Testing timing characteristics
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定誤差無く信号処理回路の周波数帯域幅を
決定しうる測定回路を提供する。 【解決手段】 集積回路に配置され、少なくとも画像信
号を処理する信号処理回路１用の測定回路において、前
記信号処理回路１に測定パルスが供給され、前記測定回
路がこの測定回路に設けられた測定用キャパシタ１０の
電荷を、前記信号処理回路１で測定パルスが受ける時間
偏移に応じて変化させ、前記測定回路が各測定処理の前
に電子スイッチ８により測定用キャパシタ１０を短時間
の間基準電位に切り換えるようになっており、この測定
回路は前記信号処理回路１と同じ集積回路に設けられ、
測定処理中のみ動作するようになっていることを特徴と
する。
決定しうる測定回路を提供する。 【解決手段】 集積回路に配置され、少なくとも画像信
号を処理する信号処理回路１用の測定回路において、前
記信号処理回路１に測定パルスが供給され、前記測定回
路がこの測定回路に設けられた測定用キャパシタ１０の
電荷を、前記信号処理回路１で測定パルスが受ける時間
偏移に応じて変化させ、前記測定回路が各測定処理の前
に電子スイッチ８により測定用キャパシタ１０を短時間
の間基準電位に切り換えるようになっており、この測定
回路は前記信号処理回路１と同じ集積回路に設けられ、
測定処理中のみ動作するようになっていることを特徴と
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路に配置さ
れ、少なくとも画像信号を処理する信号処理回路用の測
定回路に関するものである。
れ、少なくとも画像信号を処理する信号処理回路用の測
定回路に関するものである。
【０００２】画像信号を処理する信号処理回路に対する
主要な品質基準は信号処理回路の帯域幅、すなわち信号
処理回路が画像信号を処理しうる周波数帯域幅である。
帯域幅があまりにも小さいと、画像信号をひずませてし
まう。一般には、このような信号処理回路の周波数帯域
幅は外部から測定される。このことは、画像信号を特別
な測定用ヘッドにより集積回路における信号処理回路に
供給し、この画像信号を同一の測定用ヘッドにより出力
側で走査するということを意味する。画像信号の信号ひ
ずみを参照して、信号処理回路が画像信号を処理する周
波数帯域を決定しうる。この場合の大きな問題は、測定
用ヘッドと集積回路との間の接触が不確実であると、測
定誤差が生じるということである。更に、測定用ヘッド
と集積回路との間の接続部や、測定用ヘッド自体は、こ
れらが測定すべき信号の帯域幅を著しく制限するような
大きなキャパシタンスを有している。これによっても測
定誤差を導入する。
主要な品質基準は信号処理回路の帯域幅、すなわち信号
処理回路が画像信号を処理しうる周波数帯域幅である。
帯域幅があまりにも小さいと、画像信号をひずませてし
まう。一般には、このような信号処理回路の周波数帯域
幅は外部から測定される。このことは、画像信号を特別
な測定用ヘッドにより集積回路における信号処理回路に
供給し、この画像信号を同一の測定用ヘッドにより出力
側で走査するということを意味する。画像信号の信号ひ
ずみを参照して、信号処理回路が画像信号を処理する周
波数帯域を決定しうる。この場合の大きな問題は、測定
用ヘッドと集積回路との間の接触が不確実であると、測
定誤差が生じるということである。更に、測定用ヘッド
と集積回路との間の接続部や、測定用ヘッド自体は、こ
れらが測定すべき信号の帯域幅を著しく制限するような
大きなキャパシタンスを有している。これによっても測
定誤差を導入する。
【０００３】
【従来の技術】チップ集積回路であって、この集積回路
上に設けられた他の信号処理回路の特性を予測する回路
は欧州特許第０２７４６１３号明細書から既知である。
これらの特性を予測するこの回路は、特性が予測されう
る他の信号処理回路から分離して構成されている。特性
を予測する回路には、一次の低域通過フィルタを表す回
路中で変化するパルスが供給される。これらの変化に基
づいて実際の、分離した信号処理回路を通る信号の遅延
時間に対する結論が導き出される。しかし、実際の信号
処理回路の特性は測定されない。
上に設けられた他の信号処理回路の特性を予測する回路
は欧州特許第０２７４６１３号明細書から既知である。
これらの特性を予測するこの回路は、特性が予測されう
る他の信号処理回路から分離して構成されている。特性
を予測する回路には、一次の低域通過フィルタを表す回
路中で変化するパルスが供給される。これらの変化に基
づいて実際の、分離した信号処理回路を通る信号の遅延
時間に対する結論が導き出される。しかし、実際の信号
処理回路の特性は測定されない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
した測定誤差を生じることなく信号処理回路の周波数帯
域を決定しうる測定回路を提供せんとするにある。
した測定誤差を生じることなく信号処理回路の周波数帯
域を決定しうる測定回路を提供せんとするにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、集積回路に配
置され、少なくとも画像信号を処理する信号処理回路用
の測定回路において、前記信号処理回路に測定パルスが
供給され、前記測定回路がこの測定回路に設けられた測
定用キャパシタの電荷を、前記信号処理回路で測定パル
スが受ける時間偏移に応じて変化させ、前記測定回路が
各測定処理の前に電子スイッチにより測定用キャパシタ
を短時間の間基準電位に切り換えるようになっており、
この測定回路は前記信号処理回路と同じ集積回路に設け
られ、測定処理中のみ動作するようになっていることを
特徴とする。
置され、少なくとも画像信号を処理する信号処理回路用
の測定回路において、前記信号処理回路に測定パルスが
供給され、前記測定回路がこの測定回路に設けられた測
定用キャパシタの電荷を、前記信号処理回路で測定パル
スが受ける時間偏移に応じて変化させ、前記測定回路が
各測定処理の前に電子スイッチにより測定用キャパシタ
を短時間の間基準電位に切り換えるようになっており、
この測定回路は前記信号処理回路と同じ集積回路に設け
られ、測定処理中のみ動作するようになっていることを
特徴とする。
【０００６】本発明は、上述した測定誤差を生じること
なく信号処理回路の周波数帯域を測定するのは集積回路
自体で行ないうるようにするのが最も有利であるという
認識に基づいて成したものである。従って、測定回路と
測定すべき信号処理回路とを１つの集積回路に一緒に配
置する。
なく信号処理回路の周波数帯域を測定するのは集積回路
自体で行ないうるようにするのが最も有利であるという
認識に基づいて成したものである。従って、測定回路と
測定すべき信号処理回路とを１つの集積回路に一緒に配
置する。
【０００７】周波数帯域を集積回路で直接測定するには
問題がある為、信号処理回路を通るパルスの遅延時間を
基準として用いる。このことは、回路を通る信号の遅延
時間は周波数帯域幅と同様に集積回路のＲＣ積に直接依
存する為に実現しうる。このＲＣ積は集積回路に対する
製造処理のわずかな変動の為に、特に寄生キャパシタン
ス、製造処理の比容量及び微分面積抵抗によって変化す
る。信号の遅延時間及びこれによって決定しうるＲＣ積
を測定することにより、例えば信号処理回路の周波数帯
域に関する結論を直ちに導き出すことができる。更に、
信号処理回路における信号処理動作の安定性に関する結
論も導き出すことができる。
問題がある為、信号処理回路を通るパルスの遅延時間を
基準として用いる。このことは、回路を通る信号の遅延
時間は周波数帯域幅と同様に集積回路のＲＣ積に直接依
存する為に実現しうる。このＲＣ積は集積回路に対する
製造処理のわずかな変動の為に、特に寄生キャパシタン
ス、製造処理の比容量及び微分面積抵抗によって変化す
る。信号の遅延時間及びこれによって決定しうるＲＣ積
を測定することにより、例えば信号処理回路の周波数帯
域に関する結論を直ちに導き出すことができる。更に、
信号処理回路における信号処理動作の安定性に関する結
論も導き出すことができる。
【０００８】測定回路は測定すべき信号処理回路と同じ
集積回路に配置される為、測定回路は測定すべき信号処
理回路と同様に製造処理のパラメータの変動により影響
を受ける。これにより遅延時間の測定が正確に行ないう
るようになる。その理由は、種々のパラメータの変動が
双方の回路に等しく影響を及ぼす為である。測定回路
を、測定すべき信号処理回路と同じ集積回路に設けるこ
とにより、接触抵抗や、信号を供給したり取り出したり
する、外部に設ける接点を無くすことができるという特
別な利点が得られる。その結果、測定中重大な誤差が生
じない。
集積回路に配置される為、測定回路は測定すべき信号処
理回路と同様に製造処理のパラメータの変動により影響
を受ける。これにより遅延時間の測定が正確に行ないう
るようになる。その理由は、種々のパラメータの変動が
双方の回路に等しく影響を及ぼす為である。測定回路
を、測定すべき信号処理回路と同じ集積回路に設けるこ
とにより、接触抵抗や、信号を供給したり取り出したり
する、外部に設ける接点を無くすことができるという特
別な利点が得られる。その結果、測定中重大な誤差が生
じない。
【０００９】信号処理回路は、測定回路により測定パル
スを信号処理回路に供給するようにしてこの測定回路に
より測定される。測定パルスが信号処理回路を通過する
ことにより測定パルスが受ける時間偏移が測定される。
この測定された時間差に応じて、測定回路に設けられた
キャパシタの電荷が変化する。パルスが信号処理回路を
通過した際にこのパルスが受ける時間偏移に対する結論
を測定用キャパシタの電荷から導き出すために、測定用
キャパシタを各測定処理の前の短時間の間電子スイッチ
により所定の基準電位に切り換える必要がある。測定処
理にはパルスの通過時間の測定を含める必要がない、す
なわちこのようにせずに１回の測定処理において規定数
のパルスが回路を通過しうるようにする。
スを信号処理回路に供給するようにしてこの測定回路に
より測定される。測定パルスが信号処理回路を通過する
ことにより測定パルスが受ける時間偏移が測定される。
この測定された時間差に応じて、測定回路に設けられた
キャパシタの電荷が変化する。パルスが信号処理回路を
通過した際にこのパルスが受ける時間偏移に対する結論
を測定用キャパシタの電荷から導き出すために、測定用
キャパシタを各測定処理の前の短時間の間電子スイッチ
により所定の基準電位に切り換える必要がある。測定処
理にはパルスの通過時間の測定を含める必要がない、す
なわちこのようにせずに１回の測定処理において規定数
のパルスが回路を通過しうるようにする。
【００１０】いかなる場合にも、キャパシタの電荷は測
定処理後に変化している。この変化は使用する測定パル
スの個数に比例させることができ、集積回路のＲＣ積の
目安となる。従って、ＲＣ積を直接測定することがで
き、測定結果に悪影響を及ぼすおそれのある外部素子を
用いることなく、このＲＣ積から帯域幅を容易に取り出
すことができる。測定回路は測定処理中のみ動作させら
れ、信号処理回路の信号処理動作に影響を及ぼさない。
定処理後に変化している。この変化は使用する測定パル
スの個数に比例させることができ、集積回路のＲＣ積の
目安となる。従って、ＲＣ積を直接測定することがで
き、測定結果に悪影響を及ぼすおそれのある外部素子を
用いることなく、このＲＣ積から帯域幅を容易に取り出
すことができる。測定回路は測定処理中のみ動作させら
れ、信号処理回路の信号処理動作に影響を及ぼさない。
【００１１】本発明の例では各測定処理に対し予め決定
した個数の測定パルスを信号処理回路に供給し、これら
パルスによって生ぜしめられる測定用キャパシタの電荷
の変化を測定値として用い、測定回路が測定用キャパシ
タの両端間の電圧降下を測定信号として供給するように
する。
した個数の測定パルスを信号処理回路に供給し、これら
パルスによって生ぜしめられる測定用キャパシタの電荷
の変化を測定値として用い、測定回路が測定用キャパシ
タの両端間の電圧降下を測定信号として供給するように
する。
【００１２】各測定パルスは、このパルスが信号処理回
路を通るのに必要とする遅延時間に応じて測定用キャパ
シタの電荷を変化させる。従って、測定用キャパシタの
電荷は、予め決定した個数の測定パルスに対し、回路の
ＲＣ積の目安である所定の値まで変化する。測定処理後
の測定用キャパシタの両端間のこの電圧降下が測定回路
により測定信号として外部に直接生ぜしめられる。この
電圧を取り出して、この電圧から所望のパラメータを決
定することができる。
路を通るのに必要とする遅延時間に応じて測定用キャパ
シタの電荷を変化させる。従って、測定用キャパシタの
電荷は、予め決定した個数の測定パルスに対し、回路の
ＲＣ積の目安である所定の値まで変化する。測定処理後
の測定用キャパシタの両端間のこの電圧降下が測定回路
により測定信号として外部に直接生ぜしめられる。この
電圧を取り出して、この電圧から所望のパラメータを決
定することができる。
【００１３】或いはまた、上述したのとは逆の処理を行
なうことができ、この場合本発明の他の例では、測定処
理の開始後、測定用キャパシタの電圧が予め決定した値
に達するまでに、信号処理回路に供給されるパルスの個
数を測定回路により計数し、測定回路は計数したパルス
数を測定値として供給するようにする。
なうことができ、この場合本発明の他の例では、測定処
理の開始後、測定用キャパシタの電圧が予め決定した値
に達するまでに、信号処理回路に供給されるパルスの個
数を測定回路により計数し、測定回路は計数したパルス
数を測定値として供給するようにする。
【００１４】この場合、測定用キャパシタの電荷の変化
すなわち測定用キャパシタが到達すべき電圧を予め決定
しておく。従って、信号処理回路を通るパルスの個数
を、予め決定した電圧に到達するまで計数する。パルス
の個数と測定用キャパシタの電荷の変化、従ってこのキ
ャパシタの両端間の電圧降下との間の依存性はこの場合
も同じであるが、その都度異なる値を考慮する。この場
合、測定回路は測定用キャパシタの電圧が予め決定した
電圧に達するまでに信号処理回路を通過したパルスの計
数値を生じる。この計数値を参照して測定パラメータを
決定することもできる。その理由は、測定パルスの個数
と測定用キャパシタの電圧の変化との間の依存性が上述
したのと同様に満足される為である。
すなわち測定用キャパシタが到達すべき電圧を予め決定
しておく。従って、信号処理回路を通るパルスの個数
を、予め決定した電圧に到達するまで計数する。パルス
の個数と測定用キャパシタの電荷の変化、従ってこのキ
ャパシタの両端間の電圧降下との間の依存性はこの場合
も同じであるが、その都度異なる値を考慮する。この場
合、測定回路は測定用キャパシタの電圧が予め決定した
電圧に達するまでに信号処理回路を通過したパルスの計
数値を生じる。この計数値を参照して測定パラメータを
決定することもできる。その理由は、測定パルスの個数
と測定用キャパシタの電圧の変化との間の依存性が上述
したのと同様に満足される為である。
【００１５】上述した２種類の測定方法の双方に対する
本発明の他の例では、測定パルスに応じて、基準黒レベ
ル信号や画像信号の白信号レベルに相当する振幅とする
のが好ましい予め決定した振幅を有する基準信号を前記
信号処理回路に供給するブランキング回路がこの信号処
理回路の前段に設けられ、このブランキング回路が好ま
しくは各測定パルス中に基準黒レベル信号を信号処理回
路に供給し、他の期間中に前記基準信号を信号処理回路
に供給するようにする。
本発明の他の例では、測定パルスに応じて、基準黒レベ
ル信号や画像信号の白信号レベルに相当する振幅とする
のが好ましい予め決定した振幅を有する基準信号を前記
信号処理回路に供給するブランキング回路がこの信号処
理回路の前段に設けられ、このブランキング回路が好ま
しくは各測定パルス中に基準黒レベル信号を信号処理回
路に供給し、他の期間中に前記基準信号を信号処理回路
に供給するようにする。
【００１６】画像信号を処理する目的で信号処理回路が
設けられている為、画像信号に類似する信号を測定に用
いるのが有利である。この場合、測定パルスに応じて信
号を信号処理回路に供給し、この信号処理回路は測定パ
ルスに応じて基準黒レベル信号と、予め決定した振幅、
例えば画像信号の白信号レベルに相当する振幅を有する
基準信号との間で切り換える。この場合、白信号レベル
に相当する基準信号への切り換えは例えば各測定パルス
中に行ない、基準黒レベル信号への切り換えは測定パル
スが存在しない他の期間中に行なうことができる。これ
ら２つの信号はレベルが明瞭に異なる信号である為、こ
れら２つの信号間の切り換え範囲におけるエッジは高い
ピークを有し、従って容易に測定しうる。
設けられている為、画像信号に類似する信号を測定に用
いるのが有利である。この場合、測定パルスに応じて信
号を信号処理回路に供給し、この信号処理回路は測定パ
ルスに応じて基準黒レベル信号と、予め決定した振幅、
例えば画像信号の白信号レベルに相当する振幅を有する
基準信号との間で切り換える。この場合、白信号レベル
に相当する基準信号への切り換えは例えば各測定パルス
中に行ない、基準黒レベル信号への切り換えは測定パル
スが存在しない他の期間中に行なうことができる。これ
ら２つの信号はレベルが明瞭に異なる信号である為、こ
れら２つの信号間の切り換え範囲におけるエッジは高い
ピークを有し、従って容易に測定しうる。
【００１７】本発明の他の例においては、前記信号処理
回路の出力側にクランプ回路が設けられ、信号処理回路
により変化される可能性のある基準黒レベル信号が出力
信号中に生じている期間中この出力信号が予め決定した
公称振幅を有するように前記クランプ回路が前記信号処
理回路を流れる信号の直流レベルを設定するようにす
る。
回路の出力側にクランプ回路が設けられ、信号処理回路
により変化される可能性のある基準黒レベル信号が出力
信号中に生じている期間中この出力信号が予め決定した
公称振幅を有するように前記クランプ回路が前記信号処
理回路を流れる信号の直流レベルを設定するようにす
る。
【００１８】信号処理回路は、例えば画像信号の増幅或
いは画像信号の輝度及び／又はコントラスト値の変化を
達成するのに主として用いることができる。信号処理回
路の出力端における信号の振幅は本質的に異なる場合が
ある。測定パルスの遅延時間の測定がこれにより影響を
受けるか或いはこれらの発生信号に応じて影響を受ける
おそれがある。従って、この状態の場合、信号処理回路
の出力端にクランプ回路を配置し、このクランプ回路に
よって、信号処理回路の動作点を、基準黒レベル信号が
出力信号中に生じている期間中出力信号が予め決定され
た公称振幅に達するように設定するのが有利である。こ
れにより出力信号に対し所定の直流レベルが与えられ
る。殆どの場合、このクランプ回路は信号処理回路の出
力側に配置する。その理由は、回路の通常の利用分野で
もこのようにする必要がある為である。従って、このク
ランプ回路は一般に測定回路に対し別々に設けてはなら
ない。
いは画像信号の輝度及び／又はコントラスト値の変化を
達成するのに主として用いることができる。信号処理回
路の出力端における信号の振幅は本質的に異なる場合が
ある。測定パルスの遅延時間の測定がこれにより影響を
受けるか或いはこれらの発生信号に応じて影響を受ける
おそれがある。従って、この状態の場合、信号処理回路
の出力端にクランプ回路を配置し、このクランプ回路に
よって、信号処理回路の動作点を、基準黒レベル信号が
出力信号中に生じている期間中出力信号が予め決定され
た公称振幅に達するように設定するのが有利である。こ
れにより出力信号に対し所定の直流レベルが与えられ
る。殆どの場合、このクランプ回路は信号処理回路の出
力側に配置する。その理由は、回路の通常の利用分野で
もこのようにする必要がある為である。従って、このク
ランプ回路は一般に測定回路に対し別々に設けてはなら
ない。
【００１９】本発明の他の例によれば、この測定回路
が、信号処理回路の入力信号の前縁又は後縁中にこの入
力信号が第１基準電位に到達する瞬時を検出する第１検
出器と、信号処理回路の出力信号の前縁又は後縁中にこ
の出力信号が第２基準電位に到達する瞬時を検出する第
２検出器とを有しているようにする。
が、信号処理回路の入力信号の前縁又は後縁中にこの入
力信号が第１基準電位に到達する瞬時を検出する第１検
出器と、信号処理回路の出力信号の前縁又は後縁中にこ
の出力信号が第２基準電位に到達する瞬時を検出する第
２検出器とを有しているようにする。
【００２０】この場合、第１検出器が信号処理回路の入
力信号と第１基準電位とを比較する。入力信号のパルス
の前縁及び後縁中、第１基準電位に等しい電位に短時間
で到達する。これと対応して、第２検出器が信号処理回
路の出力信号と第２基準電位とを比較する。このように
して、それぞれの基準電位に到達する瞬時がパルスの前
縁及び後縁の双方で決定される。パルスの前縁及び／又
は後縁におけるこれらの瞬時を比較することにより、パ
ルスが信号処理回路を通過する時間を直接決定すること
ができる。
力信号と第１基準電位とを比較する。入力信号のパルス
の前縁及び後縁中、第１基準電位に等しい電位に短時間
で到達する。これと対応して、第２検出器が信号処理回
路の出力信号と第２基準電位とを比較する。このように
して、それぞれの基準電位に到達する瞬時がパルスの前
縁及び後縁の双方で決定される。パルスの前縁及び／又
は後縁におけるこれらの瞬時を比較することにより、パ
ルスが信号処理回路を通過する時間を直接決定すること
ができる。
【００２１】本発明の他の例によれば、電流源を測定用
キャパシタに切り換えうる電子スイッチを前記検出器に
より駆動しうるようにするのが有利である。電子スイッ
チは殆ど遅延なく切り換えを行ないうる為に特に有利で
ある。測定用キャパシタの電荷は電流源により所望通り
に変化する。本発明のこれらの特徴及びその他の特徴を
以下に実施例につき説明する。
キャパシタに切り換えうる電子スイッチを前記検出器に
より駆動しうるようにするのが有利である。電子スイッ
チは殆ど遅延なく切り換えを行ないうる為に特に有利で
ある。測定用キャパシタの電荷は電流源により所望通り
に変化する。本発明のこれらの特徴及びその他の特徴を
以下に実施例につき説明する。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１のブロック線図には信号処理
回路１が示されている。この信号処理回路は図１には詳
細に示されておらず、信号を処理する実際の回路２と出
力クランプ回路３とのみが示されている。信号処理回路
１は例えば、輝度及び／又はコントラスト或いはその他
を制御するための画像信号増幅回路とすることができ
る。
回路１が示されている。この信号処理回路は図１には詳
細に示されておらず、信号を処理する実際の回路２と出
力クランプ回路３とのみが示されている。信号処理回路
１は例えば、輝度及び／又はコントラスト或いはその他
を制御するための画像信号増幅回路とすることができ
る。
【００２３】図１に示す他のすべての素子は本発明によ
る測定回路の一部であり、信号処理回路１と一緒に集積
回路、すなわち基板上に配置される。測定回路は測定パ
ルスを有する外部信号Ｍi を受ける。信号Ｍi はブラン
キング（空白化）兼クランプ回路４と、信号処理回路１
のクランプ回路３を制御する回路５とに供給される。
る測定回路の一部であり、信号処理回路１と一緒に集積
回路、すなわち基板上に配置される。測定回路は測定パ
ルスを有する外部信号Ｍi を受ける。信号Ｍi はブラン
キング（空白化）兼クランプ回路４と、信号処理回路１
のクランプ回路３を制御する回路５とに供給される。
【００２４】信号処理回路１により処理すべき信号Ｕ0
はブランキング兼クランプ回路４を経て信号処理回路１
に信号Ｕ1 として供給される。信号処理回路１では、こ
の信号が最初に実際の信号処理回路２を通り、続いて出
力クランプ回路３を通る。図１にＵ2 で示す出力クラン
プ回路３の出力信号は出力クランプ回路３に帰還され
る。
はブランキング兼クランプ回路４を経て信号処理回路１
に信号Ｕ1 として供給される。信号処理回路１では、こ
の信号が最初に実際の信号処理回路２を通り、続いて出
力クランプ回路３を通る。図１にＵ2 で示す出力クラン
プ回路３の出力信号は出力クランプ回路３に帰還され
る。
【００２５】測定回路は更に２つの検出器６及び７を有
する。第１検出器６は信号処理回路１の入力信号Ｕ1 と
基準電位Ｕref1とを比較する。これと対応して第２検出
器７は信号処理回路１の出力信号Ｕ2 と基準電位Ｕre f2
とを比較する。これら双方の検出器はスイッチ回路８内
に配置された電子スイッチ（図示せず）を駆動する。電
流源９によって生ぜしめられる電流はこれら電子スイッ
チのスイッチング期間に応じて測定用キャパシタ１０に
供給される。他の期間中はこの電流を大地に供給するこ
とができる。
する。第１検出器６は信号処理回路１の入力信号Ｕ1 と
基準電位Ｕref1とを比較する。これと対応して第２検出
器７は信号処理回路１の出力信号Ｕ2 と基準電位Ｕre f2
とを比較する。これら双方の検出器はスイッチ回路８内
に配置された電子スイッチ（図示せず）を駆動する。電
流源９によって生ぜしめられる電流はこれら電子スイッ
チのスイッチング期間に応じて測定用キャパシタ１０に
供給される。他の期間中はこの電流を大地に供給するこ
とができる。
【００２６】測定回路は更に電流源９及びインピーダン
ス変換器１２や可能ならば測定信号Ｍi の発生を制御す
る制御回路１１を有する。この制御は例えばＩ2 Ｃバス
から生ぜしめうる制御手段に依存させて行なうことがで
きる。
ス変換器１２や可能ならば測定信号Ｍi の発生を制御す
る制御回路１１を有する。この制御は例えばＩ2 Ｃバス
から生ぜしめうる制御手段に依存させて行なうことがで
きる。
【００２７】測定処理中、測定用キャパシタ１０の電荷
が電流源９から生じる電流ｉc により変化される。測定
用キャパシタ１０の両端間の電圧降下はインピーダンス
変換器１２により増幅され、測定信号ＵM として出力端
に得られる。
が電流源９から生じる電流ｉc により変化される。測定
用キャパシタ１０の両端間の電圧降下はインピーダンス
変換器１２により増幅され、測定信号ＵM として出力端
に得られる。
【００２８】図１に示すこの測定回路の動作モードを以
下に図２及び３につき更に説明する。図２Ａには、測定
パルスを有する測定信号Ｍi を時間の関数として示す。
一方では、測定信号Ｍi の測定パルスの遅延時間を測定
するためにこれら測定パルスを図１の信号処理回路１に
直接供給することができる。他方では、これらの測定パ
ルスに応じてパルスを発生させることも有利である。
下に図２及び３につき更に説明する。図２Ａには、測定
パルスを有する測定信号Ｍi を時間の関数として示す。
一方では、測定信号Ｍi の測定パルスの遅延時間を測定
するためにこれら測定パルスを図１の信号処理回路１に
直接供給することができる。他方では、これらの測定パ
ルスに応じてパルスを発生させることも有利である。
【００２９】この目的のために、図１に示す測定回路の
ブランキング兼クランプ回路４に信号Ｕ0 の成分である
２つの信号ＵW 及びＵB を供給する。図２Ｂに示すよう
に、この信号ＵB は基準黒レベル信号である。この基準
黒レベル信号は通常の画像信号の黒ポーチに相当する振
幅を有する。基準信号ＵW は画像信号の最大白レベルに
相当する振幅を有する。
ブランキング兼クランプ回路４に信号Ｕ0 の成分である
２つの信号ＵW 及びＵB を供給する。図２Ｂに示すよう
に、この信号ＵB は基準黒レベル信号である。この基準
黒レベル信号は通常の画像信号の黒ポーチに相当する振
幅を有する。基準信号ＵW は画像信号の最大白レベルに
相当する振幅を有する。
【００３０】図２Ｃに示すように、図１によるブランキ
ング兼クランプ回路４により信号処理回路１に対する入
力信号Ｕ1 が発生され、この入力信号は、図２Ａに示す
ように測定信号Ｍi にパルスが生じている間図２Ｂに示
すような基準黒レベル信号Ｕ B に相当する振幅を有す
る。この信号Ｕ1 は他の期間中図２Ｃに応じて、図２Ｂ
に示すような基準信号ＵW に対応する振幅に切り換わ
る。従って、図１の信号処理回路１に供給される信号Ｕ
1 は測定信号Ｍi のパルスと同時に生じる測定パルスを
有する。
ング兼クランプ回路４により信号処理回路１に対する入
力信号Ｕ1 が発生され、この入力信号は、図２Ａに示す
ように測定信号Ｍi にパルスが生じている間図２Ｂに示
すような基準黒レベル信号Ｕ B に相当する振幅を有す
る。この信号Ｕ1 は他の期間中図２Ｃに応じて、図２Ｂ
に示すような基準信号ＵW に対応する振幅に切り換わ
る。従って、図１の信号処理回路１に供給される信号Ｕ
1 は測定信号Ｍi のパルスと同時に生じる測定パルスを
有する。
【００３１】図２Ｄは図１の信号処理回路１の出力信号
Ｕ2 を示す。図２Ｄによるこの信号Ｕ2 の遅延時間は、
基本的に測定パルスが出力信号に再び生じるということ
を示している。これら測定パルスは信号処理回路におけ
る増幅のために、信号Ｕ1 におけるパルスに比べて異な
る振幅及び短い遅延を有する。これら測定パルスが信号
処理回路を経るこれらの通路で受ける遅延時間が測定に
用いられる。
Ｕ2 を示す。図２Ｄによるこの信号Ｕ2 の遅延時間は、
基本的に測定パルスが出力信号に再び生じるということ
を示している。これら測定パルスは信号処理回路におけ
る増幅のために、信号Ｕ1 におけるパルスに比べて異な
る振幅及び短い遅延を有する。これら測定パルスが信号
処理回路を経るこれらの通路で受ける遅延時間が測定に
用いられる。
【００３２】図２Ｄに示す出力信号は図１の信号処理回
路の出力クランプ回路３において、この出力信号もパル
ス中、すなわち入力信号が基準黒レベル信号にクランプ
された期間中基準黒レベル信号に相当する振幅を有する
ようにクランプされる。信号処理回路における信号の増
幅の為に、この出力信号は他の期間中、入力信号よりも
大きな白レベル振幅を有する。
路の出力クランプ回路３において、この出力信号もパル
ス中、すなわち入力信号が基準黒レベル信号にクランプ
された期間中基準黒レベル信号に相当する振幅を有する
ようにクランプされる。信号処理回路における信号の増
幅の為に、この出力信号は他の期間中、入力信号よりも
大きな白レベル振幅を有する。
【００３３】図３Ａの時間線図は図２Ｃに示すような入
力信号Ｕ1 のパルスを時間軸上に示している。このパル
スは図１の第１検出器６により基準電位Ｕref1と比較さ
れる。図３Ａの時間軸上に示すパルスの前縁及び後縁が
まさに基準電位Ｕref1の電圧値を有する際の瞬時ｔ1 及
びｔ2 が決定される。
力信号Ｕ1 のパルスを時間軸上に示している。このパル
スは図１の第１検出器６により基準電位Ｕref1と比較さ
れる。図３Ａの時間軸上に示すパルスの前縁及び後縁が
まさに基準電位Ｕref1の電圧値を有する際の瞬時ｔ1 及
びｔ2 が決定される。
【００３４】同様に、図１の信号処理回路から出力信号
Ｕ2 が図１の第２検出器７により図３Ｂに示すように第
２の基準電位Ｕref2と比較される。この場合も、この出
力信号がその前縁及び後縁中まさに基準電位Ｕref2に一
致する電圧値を有する際の瞬時が決定される。これらの
瞬時は図３Ｂに示す例では瞬時ｔ3 及びｔ4 である。
Ｕ2 が図１の第２検出器７により図３Ｂに示すように第
２の基準電位Ｕref2と比較される。この場合も、この出
力信号がその前縁及び後縁中まさに基準電位Ｕref2に一
致する電圧値を有する際の瞬時が決定される。これらの
瞬時は図３Ｂに示す例では瞬時ｔ3 及びｔ4 である。
【００３５】図１に示す回路では、検出器６及び７が瞬
時ｔ1 〜ｔ4 における対応するパルスを、電圧スイッチ
を有するスイッチ回路８に供給する。これら検出器から
のこれらのパルスに応じて電子スイッチが図３Ｃにτf
で示す期間ｔ1 〜ｔ3 中閉成し、電流源９から生じる充
電電流ｉc を図１に示すように測定用キャパシタ１０に
供給する。これを図３Ｃに電流特性ｉc のパルスにより
時間の関数として示してある。
時ｔ1 〜ｔ4 における対応するパルスを、電圧スイッチ
を有するスイッチ回路８に供給する。これら検出器から
のこれらのパルスに応じて電子スイッチが図３Ｃにτf
で示す期間ｔ1 〜ｔ3 中閉成し、電流源９から生じる充
電電流ｉc を図１に示すように測定用キャパシタ１０に
供給する。これを図３Ｃに電流特性ｉc のパルスにより
時間の関数として示してある。
【００３６】図３で時間軸上に示してあるパルスの後縁
中、すなわち入力信号Ｕ1 が基準電位Ｕref1に到達する
瞬時ｔ2 と出力信号Ｕ2 が基準電位Ｕref2に到達する瞬
時ｔ 4 との間でも、電子スイッチが期間ｔ2 〜ｔ4 中に
閉成して信号ｉc の電流パルスが同様に発生し、この電
流パルスが測定用キャパシタ１０に供給される。ｔ2及
びｔ4 間の時間差を図３Ｃにτr で示してある。
中、すなわち入力信号Ｕ1 が基準電位Ｕref1に到達する
瞬時ｔ2 と出力信号Ｕ2 が基準電位Ｕref2に到達する瞬
時ｔ 4 との間でも、電子スイッチが期間ｔ2 〜ｔ4 中に
閉成して信号ｉc の電流パルスが同様に発生し、この電
流パルスが測定用キャパシタ１０に供給される。ｔ2及
びｔ4 間の時間差を図３Ｃにτr で示してある。
【００３７】図１に示す回路の測定用キャパシタ１０の
電荷は信号ｉc の各パルスにより変化せしめられる。こ
のことを図３Ｄに示してある。この図３Ｄには出力電圧
ＵMを示してある。この測定信号は測定用キャパシタ１
０の両端間の電圧降下に依存して図１のインピーダンス
変換器１２により生ぜしめられる。図３Ｄに時間の関数
としてプロットしたこの測定電圧ＵM は、測定用キャパ
シタの電荷、従って測定信号ＵM の電圧値が図３Ｃに示
す信号ｉc の各パルスの発生時に変化するということを
示している。この場合、測定用キャパシタの電荷が信号
ｉc の各パルスの発生時に増大する。
電荷は信号ｉc の各パルスにより変化せしめられる。こ
のことを図３Ｄに示してある。この図３Ｄには出力電圧
ＵMを示してある。この測定信号は測定用キャパシタ１
０の両端間の電圧降下に依存して図１のインピーダンス
変換器１２により生ぜしめられる。図３Ｄに時間の関数
としてプロットしたこの測定電圧ＵM は、測定用キャパ
シタの電荷、従って測定信号ＵM の電圧値が図３Ｃに示
す信号ｉc の各パルスの発生時に変化するということを
示している。この場合、測定用キャパシタの電荷が信号
ｉc の各パルスの発生時に増大する。
【００３８】信号処理回路の帯域幅に関する結論は、使
用するパルスの個数に依存する測定用キャパシタの電荷
のこの変化、従って測定信号ＵM の変化から導き出すこ
とができる。これが可能となる理由は、信号処理回路の
帯域幅と、図３に応じて測定される、信号処理回路を経
るパルスの遅延時間との双方が集積回路の物理的特性、
特にこの回路のＲＣ積に依存する為である。
用するパルスの個数に依存する測定用キャパシタの電荷
のこの変化、従って測定信号ＵM の変化から導き出すこ
とができる。これが可能となる理由は、信号処理回路の
帯域幅と、図３に応じて測定される、信号処理回路を経
るパルスの遅延時間との双方が集積回路の物理的特性、
特にこの回路のＲＣ積に依存する為である。
【００３９】図１に示す測定回路は信号処理回路１の周
波数帯域幅を比較的簡単に且つ信頼的に測定しうる。図
１に示す素子はこの信号処理回路１と一緒に集積回路の
基板上に配置され、従ってこの信号処理回路１と同様に
基板の製造上のトレランスによって影響を受ける。測定
回路は測定期間中のみ動作する。他の期間中は、例えば
画像信号とする入力信号Ｕ0 は測定回路によって変化さ
せられないように信号処理回路１を通る。
波数帯域幅を比較的簡単に且つ信頼的に測定しうる。図
１に示す素子はこの信号処理回路１と一緒に集積回路の
基板上に配置され、従ってこの信号処理回路１と同様に
基板の製造上のトレランスによって影響を受ける。測定
回路は測定期間中のみ動作する。他の期間中は、例えば
画像信号とする入力信号Ｕ0 は測定回路によって変化さ
せられないように信号処理回路１を通る。
【００４０】各測定処理の前後や測定が行なわれないす
べての期間中、図１に示す測定用キャパシタ１０は明確
な基準電位まで充電される。この充電もスイッチ回路８
によって達成することができる。
べての期間中、図１に示す測定用キャパシタ１０は明確
な基準電位まで充電される。この充電もスイッチ回路８
によって達成することができる。
【図１】本発明による測定回路を信号処理回路と一緒に
示すブロック線図である。
示すブロック線図である。
【図２】測定に用いる信号を示す時間線図である。
【図３】測定回路の動作モードを説明するための信号を
示す時間線図である。
示す時間線図である。
１ 信号処理回路 ２ 実際の信号処理回路 ３ 出力クランプ回路 ４ ブランキング兼クランプ回路 ５，１１ 制御回路 ６，７ 検出器 ８ スイッチ回路 ９ 電流源 １０ 測定用キャパシタ １２ インピーダンス変換器
Claims (9)
- 【請求項１】 集積回路に配置され、少なくとも画像信
号を処理する信号処理回路（１）用の測定回路におい
て、 前記信号処理回路（１）に測定パルスが供給され、前記
測定回路がこの測定回路に設けられた測定用キャパシタ
（１０）の電荷を、前記信号処理回路（１）で測定パル
スが受ける時間偏移に応じて変化させ、前記測定回路が
各測定処理の前に電子スイッチ（８）により測定用キャ
パシタ（１０）を短時間の間基準電位に切り換えるよう
になっており、この測定回路は前記信号処理回路（１）
と同じ集積回路に設けられ、測定処理中のみ動作するよ
うになっていることを特徴とする測定回路。 - 【請求項２】 請求項１に記載の測定回路において、各
測定処理に対し予め決定した個数の測定パルスを信号処
理回路（１）に供給し、これらパルスによって生ぜしめ
られる測定用キャパシタ（１０）の電荷の変化を測定値
として用い、測定回路が測定用キャパシタ（１０）の両
端間の電圧降下を測定信号として供給するようになって
いることを特徴とする測定回路。 - 【請求項３】 請求項１に記載の測定回路において、測
定処理の開始後、測定用キャパシタ（１０）の電圧が予
め決定した値に達するまでに、信号処理回路（１）に供
給されるパルスの個数を測定回路により計数し、測定回
路は計数したパルス数を測定値として供給するようにな
っていることを特徴とする測定回路。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか一項に記載の測
定回路において、測定パルスに応じて、基準黒レベル信
号や画像信号の白信号レベルに相当する振幅とするのが
好ましい予め決定した振幅を有する基準信号を前記信号
処理回路（１）に供給するブランキング回路（４）がこ
の信号処理回路（１）の前段に設けられ、このブランキ
ング回路が好ましくは各測定パルス中に基準黒レベル信
号を信号処理回路に供給し、他の期間中に前記基準信号
を信号処理回路に供給するようになっていることを特徴
とする測定回路。 - 【請求項５】 請求項４に記載の測定回路において、前
記信号処理回路の出力側にクランプ回路（３）が設けら
れ、信号処理回路により変化される可能性のある基準黒
レベル信号が出力信号中に生じている期間中この出力信
号が予め決定した公称振幅を有するように前記クランプ
回路が前記信号処理回路（１）を流れる信号の直流レベ
ルを設定するようになっていることを特徴とする測定回
路。 - 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか一項に記載の測
定回路において、この測定回路が、信号処理回路の入力
信号の前縁又は後縁中にこの入力信号が第１基準電位に
到達する瞬時を検出する第１検出器（６）と、信号処理
回路の出力信号の前縁又は後縁中にこの出力信号が第２
基準電位に到達する瞬時を検出する第２検出器（７）と
を有していることを特徴とする測定回路。 - 【請求項７】 請求項６に記載の測定回路において、前
記検出器（６，７）が、電流源を測定用キャパシタ（１
０）に切り換えうる電子スイッチを駆動するようになっ
ていることを特徴とする測定回路。 - 【請求項８】 請求項１又は２或いは４〜７のいずれか
一項に記載の測定回路において、前記測定用キャパシタ
（１０）に結合された入力端と測定信号を生じる出力端
とを有するインピーダンス変換器（１２）が設けられて
いることを特徴とする測定回路。 - 【請求項９】 信号処理回路と、請求項１〜８のいずれ
か一項に記載の測定回路とを有する集積回路を具える画
像表示装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19615745A DE19615745A1 (de) | 1996-04-20 | 1996-04-20 | Meßschaltung |
| DE19615745:5 | 1996-04-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1056657A true JPH1056657A (ja) | 1998-02-24 |
Family
ID=7791914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9101748A Pending JPH1056657A (ja) | 1996-04-20 | 1997-04-18 | 測定回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6133949A (ja) |
| EP (1) | EP0802422A3 (ja) |
| JP (1) | JPH1056657A (ja) |
| DE (1) | DE19615745A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4802626A (en) * | 1986-12-22 | 1989-02-07 | Hunter's Specialties, Inc. | Molded scent impregnated devices |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6870375B2 (en) * | 2002-07-01 | 2005-03-22 | Texas Instruments Incorporated | System and method for measuring a capacitance associated with an integrated circuit |
| DE10258299B4 (de) | 2002-12-13 | 2019-08-08 | Volkswagen Ag | Karosseriefronthaube für ein Kraftfahrzeug |
| CN102207522B (zh) * | 2011-04-01 | 2013-01-02 | 广州润芯信息技术有限公司 | 一种基于频率测量的rc常数测量方法 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1312239A (en) * | 1969-07-25 | 1973-04-04 | Mullard Ltd | Electrical circuit arrangements for converting a variable rate of pulse transmission into a related electrical output quantity |
| US3614634A (en) * | 1969-09-02 | 1971-10-19 | Texas Instruments Inc | Frequency conversion system |
| US3652872A (en) * | 1970-04-02 | 1972-03-28 | Us Air Force | Video bandwidth analyzer |
| US3697781A (en) * | 1970-11-12 | 1972-10-10 | Johnson Service Co | Frequency to voltage converter |
| US3839673A (en) * | 1971-06-07 | 1974-10-01 | Honeywell Inf Systems | Precise frequency measuring analog circuit |
| US3859512A (en) * | 1973-04-26 | 1975-01-07 | Karl R Ritzinger | Rate meter |
| US3813599A (en) * | 1973-06-04 | 1974-05-28 | Us Navy | Bandwidth measurement system |
| US4128808A (en) * | 1976-11-04 | 1978-12-05 | Sencore, Inc. | Channel frequency analyser |
| US4090133A (en) * | 1977-01-06 | 1978-05-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Digital time interval sensor using a free running counter and a cycle counter with only the latter being reset at each event |
| GB1604678A (en) * | 1978-05-30 | 1981-12-16 | Indep Broadcasting Authority | Television systems |
| US4217524A (en) * | 1978-05-11 | 1980-08-12 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method and structure for generating representations of repetitive electrical waveforms |
| US4531193A (en) * | 1981-07-30 | 1985-07-23 | Fuji Electric Company, Ltd. | Measurement apparatus |
| JPS61130881A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-18 | Nec Corp | 時間差測定回路 |
| US4720670A (en) * | 1986-12-23 | 1988-01-19 | International Business Machines Corporation | On chip performance predictor circuit |
| US4786861A (en) * | 1987-09-01 | 1988-11-22 | Sundstrand Data Control, Inc. | Frequency counting apparatus and method |
| EP0485623A1 (en) * | 1990-06-05 | 1992-05-20 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device provided with logical circuit for measuring delay |
| US5181191A (en) * | 1991-11-27 | 1993-01-19 | Hughes Aircraft Company | Built-in test circuitry providing simple and accurate AC test of digital microcircuits with low bandwidth test equipment and probe stations |
| TW255052B (ja) * | 1992-11-03 | 1995-08-21 | Thomson Consumer Electronics | |
| US5574499A (en) * | 1993-05-10 | 1996-11-12 | Nec Corporation | Integrated circuit for testing a plurality of 1H memories |
| GB2281421B (en) * | 1993-08-23 | 1998-04-01 | Advanced Risc Mach Ltd | Integrated circuit |
-
1996
- 1996-04-20 DE DE19615745A patent/DE19615745A1/de not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-04-11 EP EP97201093A patent/EP0802422A3/de not_active Withdrawn
- 1997-04-17 US US08/841,913 patent/US6133949A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-18 JP JP9101748A patent/JPH1056657A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4802626A (en) * | 1986-12-22 | 1989-02-07 | Hunter's Specialties, Inc. | Molded scent impregnated devices |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19615745A1 (de) | 1997-10-23 |
| EP0802422A2 (de) | 1997-10-22 |
| EP0802422A3 (de) | 1999-04-07 |
| US6133949A (en) | 2000-10-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0883234B1 (en) | Drive circuit for brushless motor | |
| US20050225351A1 (en) | Method for detecting a power load of a power supply module according to duty cycle detection, and related device | |
| US5600254A (en) | Process and circuit arrangement for measuring the resistance of a resistance sensor | |
| JPH1056657A (ja) | 測定回路 | |
| US5770956A (en) | Measurement amplifier | |
| JPH057135A (ja) | 波形整形回路およびデイジタル信号解析装置 | |
| JPH0342033B2 (ja) | ||
| US20020030477A1 (en) | Asymmetry detection circuit and detection method of same | |
| JP4303631B2 (ja) | センサ回路 | |
| JPH09218225A (ja) | ピーク検出回路 | |
| KR20010080893A (ko) | 로우-배터리 상태 표시기를 가진 ｄｃ/ｄｃ 변환기 | |
| US5864219A (en) | Circuit for detecting a level or a variation of an input direct voltage | |
| JP3700989B2 (ja) | 信号処理装置 | |
| JP2001343402A (ja) | 直流電流検出器 | |
| JPH08262076A (ja) | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 | |
| JP3263571B2 (ja) | 映像信号処理回路 | |
| JP2527604Y2 (ja) | 検波器に接続する積分器の積分時定数切換器 | |
| JP3281771B2 (ja) | Ａ／ｄ変換回路 | |
| JP2731570B2 (ja) | リンガ電圧検出回路 | |
| JPS5913958A (ja) | 電流検出装置 | |
| JPH0736072U (ja) | ピークホールド回路 | |
| JP2651187B2 (ja) | 充電レベル検出回路 | |
| JP3485635B2 (ja) | 集積回路 | |
| JPH0476464A (ja) | 多点電圧監視回路 | |
| JPH06121544A (ja) | インバータにおける電圧検出回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040415 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040415 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041126 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041130 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050419 |