JP3700989B2 - 信号処理装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、外部デバイスから入力されたアナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する信号処理装置に関し、特にアナログ信号に含まれる交流信号(以下、「AC」と略す)成分と直流(以下、「DC」と略す)オフセット成分とを分離し、AC成分のみに基づいてデジタル信号を生成する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、種々の装置において種々のセンサが使用されている。かかるセンサは所定の物理量を検出し、これをアナログ電気信号に変換して出力する。一方、近年のデジタル技術の進展には目覚ましいものがあり、信号処理の分野においても、デジタル化された信号を処理することによって所望の機能を実現する、デジタル信号処理技術が採用される傾向にある。
【0003】
ところで、センサから得られたアナログ信号をデジタル信号処理するためには、該アナログ信号をデジタル化することが要求される。そこで、従来、センサからのアナログ信号をデジタル化する装置として、例えば図11に示すような信号処理装置が知られている。この信号処理装置は、図示しないセンサからのアナログ信号aを増幅する増幅回路50、基準電圧Vrefを発生する基準電圧発生回路51及び増幅回路50からのアナログ信号Aと基準電圧発生回路51からの基準電圧Vrefとを比較する比較回路52から構成されている。上記増幅回路50及び比較回路52は演算増幅器で構成されている。また、基準電圧発生回路51は、電源電圧Vccと接地電圧GNDとの間に抵抗R10及び抵抗R11を設けて成る抵抗分割回路で構成されており、両抵抗の接続点から基準電圧Vrefが取り出される。
【0004】
この信号処理装置においては、センサからのアナログ信号aは、初段の増幅回路50に供給される。そして、この増幅回路50で増幅されることにより得られたアナログ信号Aは、比較回路52の一方の入力端子に供給される。また、基準電圧発生回路51で生成された基準電圧Vrefは、該比較回路52の他方の入力端子に供給される。比較回路52は、アナログ信号Aの振幅が基準電圧Vrefより大きければ高レベル(以下、「Hレベル」という)の信号を出力し、そうでなければ低レベル(以下、「Lレベル」という)の信号を出力する。これにより、図12に示すように、センサからのアナログ信号aがデジタル信号Bに変換される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、センサから得られるアナログ信号には、一般に、AC成分の他にDC成分が含まれている。ところが、上述した従来の信号処理装置は、このDCオフセットが考慮されていないので信号検出能力に劣るという問題がある。例えば、図13のアナログ信号a1のように、DCオフセットに対してAC成分の振幅が十分に大きければ問題はない。しかし、アナログ信号a2のように、振幅が小さいと該アナログ信号a2は基準電圧Vrefとクロスしない。この場合は、アナログ信号a2の変化は検出されない。
【0006】
上記のような問題を解決するためには、センサから得られるアナログ信号の振幅を大きくすればよい。そこで、センサから得られるアナログ信号を増幅器で増幅すると、例えば図14に示すように、該アナログ信号A1及びA2の振幅は大きくなる。しかしながら、単純に増幅するだけではDCオフセットも増幅されるため、依然としてアナログ信号A2は基準電圧Vrefとクロスしない。なお、信号を増幅器で増幅する場合は、該増幅器自身のDCオフセットも、増幅された信号に重畳されるので、事態は更に悪化する。
【0007】
そこで、従来は、信号処理装置が作製された後に、アナログ信号を該信号処理装置に実際に入力してDCオフセットを測定し、この測定結果に基づいて基準電圧Vrefを最適値に設定するという調整、即ちトリミングを行っていた。従って、この調整作業が非常に面倒であると共に、調整設備が必要でコストもかかるという問題があった。
【0008】
このDCオフセットに起因する問題を解消するために、例えば図15に示すような信号処理装置が開発されている。この信号処理装置は、図示しないセンサからのアナログ信号aを増幅する増幅回路50、該増幅回路50の出力信号を平滑化する積分回路53、積分回路53からの信号を基準電圧Vrefとして出力するバッファ回路54及び増幅回路50からのアナログ信号Aとバッファ回路54からの基準電圧Vrefとを比較する比較回路52から構成されている。なお、図11に示した回路と同等の部分には同一の符号を付してある。増幅回路50、バッファ回路54及び比較回路52は演算増幅器で構成されている。また、積分回路53は、抵抗R12とコンデンサC10とで成るCR積分回路によって構成されている。
【0009】
この信号処理装置においては、センサからのアナログ信号aは増幅回路50に供給される。そして、この増幅回路50で増幅することによって得られたアナログ信号Aは、比較回路52の一方の入力端子及び積分回路53に供給される。積分回路53はアナログ信号Aを積分し、これをバッファ回路54に供給する。このバッファ回路54の出力は、基準電圧Vrefとして比較回路52の他方の入力端子に供給される。比較回路52の動作は上述した図11の動作と同じである。これにより、図16に示すように、センサからのアナログ信号aがデジタル信号Bに変換される。
【0010】
この信号処理装置によれば、比較対象となるアナログ信号A自身のAC成分から基準電圧Vrefが作成されるので、該アナログ信号Aに含まれるDCオフセットとは無関係にアナログ信号Aと基準電圧Vrefとが比較される。従って、上述したDCオフセットに起因する諸問題は存在しない。
【0011】
しかしながら、この信号処理装置においては、アナログ信号AのAC成分の周波数が低い場合も正常に機能させるために、積分回路53に用いられるコンデンサC10の容量を大きくする必要がある。例えば、自動車内の回転部の物理量をセンサで検出する場合、該センサから得られるアナログ信号のAC成分の最低周波数は数Hzとなる。この場合には、コンデンサC10の容量として、数μF〜数十μFが必要となるので、コストが高くなってしまう。また、大容量のコンデンサを集積回路内に形成することは困難であるので、信号処理装置を集積回路化することが困難であるという問題がある。
【0012】
更に、上述したDCオフセットに起因する問題を解消するために、例えば図17に示すような他の信号処理装置が開発されている。この信号処理装置では、図11に示したセンサ入力信号回路の増幅回路50と比較回路52との間に、ハイパスフィルタ55が挿入されている。なお、図11に示した回路と同等の部分には同一の符号を付してある。このハイパスフィルタ55は、アナログ信号Aに含まれるAC成分のみを取り出し、この取り出されたAC成分のみを比較回路52に供給する。
【0013】
この信号処理装置によれば、アナログ信号A中のAC成分のみと基準電圧Vrefとが比較されるので、上述したDCオフセットに起因する問題は解消される。しかしながら、ハイパスフィルタ55に用いられるコンデンサC11として、大容量のコンデンサが必要になるので、図15に示した信号処理装置と同様の問題がある。
【0014】
従って、本発明の目的は、作製後の調整作業が不要であり、低コストであり、しかも集積回路化に適した信号処理装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明の信号処理装置は、上記目的を達成するために、
外部から入力されるアナログ信号に基づきデジタル信号を生成する信号処理装置であって、
n種類(nは2以上の整数)の基準電圧であって、隣り合う基準電圧同士の差は、該アナログ信号の振幅より小さいものを発生する基準電圧発生回路と、
該n種類の基準電圧の各々に対応するn個の比較回路であって、各比較回路は、該アナログ信号と該比較回路に対応する基準電圧とを比較し、該アナログ信号の振幅が該基準電圧より大きい場合に第1レベルの信号を出力し、そうでない場合に第2レベルの信号を出力する比較回路と、
該n個の比較回路の中の何れかが出力する信号が第2レベルから第1レベルに変化した場合に立ち上がり、第1レベルから第2レベルに変化した場合に立ち下がるデジタル信号を生成するデジタル信号生成手段、とを備えている。
【0016】
上記基準電圧発生回路は、例えば抵抗分割回路で構成できる。この抵抗分割回路は、例えば第1の電圧と第2の電圧とを2つの抵抗で分割し、分割点から基準電圧を取り出すように構成できる。この場合、上記第1の電圧及び第2の電圧は、外部から入力されるアナログ信号の特性に応じて適宜定めることができる。
【0017】
また、上記n個の比較回路から出力される各信号のレベルは、第1レベルをHレベル、第2レベルをLレベルとすることができる。或いは、第1レベルをLレベル、第2レベルをHレベルとしてもよい。
【0018】
この信号処理装置は、外部から入力されるアナログ信号の振幅が比較的大きい場合に好適である。基準電圧発生回路は、該アナログ信号の振幅より小さい電圧差の間隔でn種類の基準電圧を発生する。従って、該アナログ信号がDCオフセットを含んでいても、該アナログ信号は必ず何れかの基準電圧とクロスする。従って、該アナログ信号がクロスした基準電圧に対応する比較回路の出力が第2レベルから第1レベルに変化した場合に立ち上がり、第1レベルから第2レベルに変化した場合に立ち下がるデジタル信号が生成される。これにより、本信号処理装置は、入力されたアナログ信号に対応したデジタル信号を出力する。
【0019】
この構成によれば、外部から入力されたアナログ信号にDCオフセットが含まれていても、そのDCオフセットとは無関係に、該アナログ信号のAC成分に対応したデジタル信号が得られるので、従来のように、信号処理装置を作製した後に調整作業を行う必要がない。また、この信号処理装置はコンデンサを含まないので、集積回路化に適している。
【0020】
また、本発明の信号処理装置は、上記と同様の目的で、
外部から入力されるアナログ信号に基づきデジタル信号を生成する信号処理装置であって、
n種類(nは2以上の整数)の基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、
該基準電圧発生回路で発生されたn種類の基準電圧の中の少なくとも1つとクロスするように該アナログ信号を増幅する増幅回路と、
該n種類の基準電圧の各々に対応するn個の比較回路であって、各比較回路は、該増幅回路から出力される増幅されたアナログ信号と該比較回路に対応する基準電圧とを比較し、該増幅されたアナログ信号の振幅が該基準電圧より大きい場合に第1レベルの信号を出力し、そうでない場合に第2レベルの信号を出力する比較回路と、
該n個の比較回路の中の何れかが出力する信号が第1レベルから第2レベルに変化した場合に立ち上がり、第2レベルから第1レベルに変化した場合に立ち下がるデジタル信号を生成するデジタル信号生成手段、とを備えている。
【0021】
この信号処理装置は、外部から入力されるアナログ信号の振幅が小さい場合に好適である。基準電圧発生回路は、所定の電圧差の間隔でn種類の基準電圧を発生する。一方、増幅回路は、増幅されたアナログ信号の振幅が上記所定の電圧差より大きくなるような増幅率で外部から入力されるアナログ信号を増幅する。従って、該外部から入力されるアナログ信号がDCオフセットを含んでいても、増幅されたアナログ信号は、必ず何れかの基準電圧とクロスすることになる。これにより、本信号処理装置は、上述した場合と同様に、入力されたアナログ信号に応じたデジタル信号を出力する。
【0022】
この構成によれば、n種類の基準電圧の電圧間隔を入力されるアナログ信号とは無関係に任意に定めることができるので、基準電圧発生回路の作製が容易になる。また、各比較回路にヒステリシスをもたせることにより、耐ノイズ性に優れた信号処理装置を実現できる。
【0023】
これらの場合、上記デジタル信号生成手段は、
前記デジタル信号生成手段は、
前記n個の比較回路の各々に対応するn個の第1検出回路であって、各第1検出回路は、該第1検出回路に対応する比較回路からの信号が第2レベルから第1レベルへ変化した場合に第1検出信号を出力する第1検出回路と、
該n個の比較回路の各々に対応するn個の第2検出回路であって、各第2検出回路は、該第2検出回路に対応する比較回路からの信号が第1レベルから第2レベルへ変化した場合に第2検出信号を出力する第2検出回路と、
該n個の第1検出回路の中の何れかの第1検出回路から第1検出信号が出力された場合にセットされ、該n個の第2検出回路の中の何れかの第2検出回路から第2検出信号が出力された場合にリセットされるフリップフロップ手段、
とで構成され、該フリップフロップ手段からデジタル信号を出力するように構成できる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の信号処理装置の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本実施の形態に係る信号処理装置では、5種類(n=5)の基準電圧Vrefが用いられ、各基準電圧refは各々+400mV、+200mV、0V、−200mV及び−400mVとする。
【0025】
図1は、本発明の実施の形態に係る信号処理装置の構成を示すブロック図である。この信号処理装置は、増幅回路10、基準電圧発生回路111〜115、比較回路121〜125、立ち上がりエッジ検出回路131a〜135a、立ち下がりエッジ検出回路131b〜135b及びフリップフロップ回路14により構成されている。
【0026】
基準電圧発生回路111〜115は、各々+400mV、+200mV、0V、−200mV及び−400mVの基準電圧を発生する。以下においては、サフィックスを伴った符号が付されたもの中の1つを代表して説明するときは、「i」なるサフィックスを用いる。基準電圧発生回路11iは、例えば従来の技術の欄で説明したような抵抗分割回路(例えば図11参照)で構成することができる。この実施の形態では、基準電圧発生回路11iの一方の電圧として正の電圧が、他方の電圧として負の電圧がそれぞれ用いられる。基準電圧発生回路111〜115からの基準電圧は、各々比較回路121〜125の−入力端子に供給される。
【0027】
外部のデバイス、例えばセンサ素子からのアナログ信号aは、増幅回路10に供給される。この増幅回路10は演算増幅器で構成されている。なお、増幅回路10としては、演算増幅器に限定されず、例えばトランジスタ等による増幅回路、その他の周知の増幅回路を用いることができる。この増幅回路10で増幅することにより得られたアナログ信号Aは、比較回路121〜125の各+入力端子に供給される。
【0028】
比較回路121〜125は、各々増幅回路10からのアナログ信号Aと、基準電圧発生回路111〜115からの基準電圧とを比較し、その比較結果を出力する。各比較回路121〜125は演算増幅器で構成されている。なお、比較回路121〜125としては、演算増幅器に限定されず、例えばトランジスタ回路等によって構成された比較回路、その他の周知の比較回路を用いるができる。
【0029】
比較回路12iは、アナログ信号Aから基準電圧発生回路11iからの基準電圧を比較し、該アナログ信号Aが該基準電圧より大きければHレベルの信号を、そうでなければLレベルの信号を、それぞれ出力する。各比較回路121〜125から出力される信号は、それぞれ立ち上がりエッジ検出回路131a〜135a及び立ち下がりエッジ検出回路131b〜135bに供給される。
【0030】
立ち上がりエッジ検出回路13iaは、比較回路12iからの信号の立ち上がりを検出する。検出結果は、パルス信号によって外部に出力される。この立ち上がりエッジ検出回路13iaの詳細な構成を図2に示す。立ち上がりエッジ検出回路13iaは、遅延回路20、インバータ21及び2入力のNANDゲート22で構成されている。遅延回路20は、抵抗R1及びコンデンサC1で成る積分回路によって実現されている。比較回路12iからの信号は、NANDゲート22の一方の入力端子及び遅延回路20に供給される。遅延回路20で遅延された信号は、インバータ21で反転されてNANDゲート22の他方の入力端子に供給される。そして、NANDゲート22で論理積がとられた後に反転されて出力される。これにより、比較回路12iからの信号がLレベルからHレベルに変化した時に、該変化時点から遅延時間分の幅を有するパルスが生成されて出力される。この立ち上がりエッジ検出回路13iaの動作は、後にタイミングチャートを参照しながら更に詳細に説明する。この立ち上がりエッジ検出回路131a〜135aからの各出力信号SS1〜SS5は、各々フリップフロップ回路14のセット端子S1〜S5に供給される。
【0031】
立ち下がりエッジ検出回路13ibは、比較回路12iからの信号の立ち下がりを検出する。検出結果は、パルス信号によって外部に出力される。この立ち上がりエッジ検出回路13ibの詳細な構成を図3に示す。立ち下がりエッジ検出回路13ibは、インバータ30、遅延回路31及び2入力のNANDゲート32で構成されている。遅延回路31は、抵抗R2及びコンデンサC2で成る積分回路によって実現されている。比較回路12iからの信号は、インバータ30で反転された後にNANDゲート32の一方の入力端子に供給されると共に、遅延回路31で遅延されNANDゲート32の他方の入力端子に供給される。そして、NANDゲート22で論理積がとられた後に反転されて出力される。これにより、比較回路12iからの信号がHレベルからLレベルに変化した時に、該変化時点から遅延時間分の幅を有するパルスが生成されて出力される。この立ち下がりエッジ検出回路13ibの動作は、後にタイミングチャートを参照しながら更に詳細に説明する。立ち下がりエッジ検出回路131b〜135bからの各出力信号SR1〜SR5は、各々フリップフロップ回路14のリセット端子R1〜R5に供給される。
【0032】
上記立ち上がりエッジ検出回路13ia及び立ち下がりエッジ検出回路13ibの遅延回路20及び31は、入力された信号を、フリップフロップ回路14をセット又はリセットするのに必要なパルス幅分だけ遅延させればよいので、該遅延回路20及び31中のコンデンサの容量は0.1pF程度で十分である。従って、該コンデンサは集積回路中に形成できるので、該信号処理装置を容易に集積回路化することができる。また、遅延回路20及び31は、他の遅延手段によって代替することができる。例えば、遅延回路20及び31として1段〜数段のゲート回路を用いることができる。この場合、ゲート回路自身の信号伝達時間によって遅延時間が決定される。
【0033】
フリップフロップ回路14は、セット端子S1〜S5にLレベルの信号が入力された場合にセットされ、Hレベルの信号を出力する。一方、リセット端子R1〜R5にLレベルの信号が入力された場合にリセットされ、Lレベルの信号を出力する。このフリップフロップ回路14の詳細を図4に示す。このフリップフロップ回路14は、6入力のNANDゲート40と41とにより構成され、所謂5入力のSRタイプのフリップフロップが形成されている。このフリップフロップ回路14から出力される信号が、デジタル信号Rとして外部に送出される。
【0034】
次に、上記の構成において、本信号処理装置の動作について、図5〜図10に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。
【0035】
今、外部のデバイス、例えばセンサ素子からのアナログ信号aのAC成分を10mVP-P(AC成分の振幅)、DCオフセットを13mV、増幅回路10の増幅率を20倍と仮定する。
【0036】
増幅回路10は、入力されたアナログ信号aを増幅し、DCオフセットが260mV、AC成分が200mVP-Pのアナログ信号Aを出力する。従って、このアナログ信号Aは、図5に示すように、+200mVの基準電圧とのみクロスする。従って、増幅回路10からの増幅されたアナログ信号Aを入力した比較回路121は、アナログ信号Aが+400mVの基準電圧より小さいので、常にLレベルの信号を出力する。比較回路122は、アナログ信号Aが+200mVの基準電圧より大きい部分ではHレベル、小さい部分ではLレベルの矩形波信号を出力する。比較回路123〜125は、アナログ信号Aが各々0V、−200mV及び−400mVの基準電圧の何れよりも大きいので、常にHレベルの信号を出力する。
【0037】
比較回路122からの矩形波信号を入力した立ち上がりエッジ検出回路132aの動作を図6に示す。入力された矩形波信号はNANDゲート22の一方の入力端子に供給されると共に遅延回路20に供給される。遅延回路20は、入力された矩形波信号の立ち上がり及び立ち下がりの変化を、図6に示すように、緩やかにする。この遅延回路20の出力は、インバータ21で反転されてNANDゲートの他方の入力端子に供給される。NANDゲート22は、入力された矩形波信号とインバータ21からの信号との論理積演算を行い、この演算結果を反転して出力する。NANDゲート22のスレッショルドレベルTHでは、図示するように遅延回路20で遅延され区間だけ論理積がとれるので、NANDゲート22は、入力された矩形波信号の立ち上がりのエッジから該区間だけLレベルとなるパルスを出力する。
【0038】
また、比較回路122からの矩形波信号を入力した立ち下がりエッジ検出回路132bの動作を図7に示す。入力された矩形波信号はインバータ21反転されてNANDゲート22の一方の入力端子に供給される。また、該矩形波信号は遅延回路20に供給される。遅延回路20は、入力された矩形波信号の立ち上がり及び立ち下がりの変化を、図6に示すように、緩やかにしてNANDゲートの他方の入力端子に供給する。NANDゲート22は、入力された矩形波信号とインバータ21からの信号との論理積演算を行い、この演算結果を反転して出力する。NANDゲート22のスレッショルドレベルTHでは、図示するように遅延回路20で遅延され区間だけ論理積がとれるので、NANDゲート22は、入力された矩形波信号の立ち下がりのエッジから該区間だけLレベルとなるパルスを出力する。
【0039】
なお、立ち上がりエッジ検出回路131a、133a、134a及び135aに入力される信号は変化しないので、これらからは常にHレベルの信号が出力される。同様に、立ち下がりエッジ検出回路131b、133b、134b及び135bに入力される信号も変化しないので、これらからは常にHレベルの信号が出力される。
【0040】
立ち上がりエッジ検出回路132aからの信号はフリップフロップ回路14のセット端子S2に、立ち下がりエッジ検出回路132bからの信号はフリップフロップ回路14のリセット端子R2にそれぞれ供給されるので、該フリップフロップ回路14は、図8に示すように、比較回路122から出力される信号の変化に応じてセット及びリセットされる。このフリップフロップ回路14から出力されるデジタル信号が外部に送出される。
【0041】
次に、外部のデバイス、例えばセンサ素子からのアナログ信号aのAC成分を15mVP-P、DCオフセットを14mVと仮定した場合の例について説明する。なお、増幅回路10の増幅率及び基準電圧発生回路111〜115が発生する基準電圧は上記と同じとする。
【0042】
増幅回路10は、入力されたアナログ信号aを増幅し、DCオフセットが280mV、AC成分が300mVP-Pのアナログ信号Aを出力する。従って、このアナログ信号Aは、図9に示すように、+200mV及び+400mVの両基準電圧とクロスする。従って、増幅回路10からのアナログ信号Aを入力した比較回路121は、アナログ信号Aが+400mVの基準電圧より大きい部分ではHレベルの信号を、小さい部分ではLレベルの信号を出力する。同様に、比較回路122は、アナログ信号Aが+200mVの基準電圧より大きい部分ではHレベルの信号を、小さい部分ではLレベルの信号を出力する。比較回路123〜125は、アナログ信号Aが各々0V、−200mV及び−400mVの基準電圧の何れよりも大きいので、常にHレベルの信号を出力する。
【0043】
比較回路121からの矩形波信号を入力した立ち上がりエッジ検出回路131aは、図10に示すように、入力された矩形波信号の立ち上がりのエッジから所定区間だけLレベルとなるパルスを出力する。同様に、比較回路122からの矩形波信号を入力した立ち上がりエッジ検出回路132aは、入力された矩形波信号の立ち上がりのエッジから所定区間だけLレベルとなるパルスを出力する。
【0044】
また、比較回路121からの矩形波信号を入力した立ち下がりエッジ検出回路131bは、入力された矩形波信号の立ち下がりのエッジから所定区間だけLレベルとなるパルスを出力する。同様に、比較回路122からの矩形波信号を入力した立ち下がりエッジ検出回路132bは、入力された矩形波信号の立ち下がりのエッジから所定区間だけLレベルとなるパルスを出力する。
【0045】
なお、立ち上がりエッジ検出回路133a、134a及び135aに入力される信号は変化しないので、これらからは常にHレベルの信号が出力される。同様に、立ち下がりエッジ検出回路133b、134b及び135bに入力される信号も変化しないので、これらからは常にHレベルの信号が出力される。
【0046】
立ち上がりエッジ検出回路131a及び132aから出力された各信号SS1及びSS2はフリップフロップ回路14のセット端子S1及びS2に、立ち下がりエッジ検出回路131b及び132bから出力された各信号SR1及びSR2はフリップフロップ回路14のリセット端子R1及びR2にそれぞれ供給されるので、該フリップフロップ回路14は、図10に示すように、その状態が変化する。このフリップフロップ回路14から出力されるデジタル信号が外部に送出される。
【0047】
以上は、アナログ信号AのAC成分が2つの基準電圧とクロスする場合の例であるが、3つ以上の基準電圧とクロスする場合も、同様にして所望のデジタル信号を得ることができる。
【0048】
なお、上記実施の形態における比較回路12iは、そのの出力信号を正帰還させるように構成できる。この構成によれば、比較回路12iはヒステリシスを有するようになり、耐ノイズ性に優れたものとなる。
【0049】
また、上記実施の形態では、増幅回路10の増幅率を20倍、入力されるアナログ信号のAC成分の振幅を10mVP-P、DCオフセットを最大50mV、隣り合う基準電圧の電位差を200mV、基準電圧の数を「5」としたが、これらの各パラメータは、任意に決定することができる。即ち、入力されるアナログ信号のAC成分の振幅をα、DCオフセットの最大値をβ、増幅回路10の増幅率をγとした場合、「隣り合う基準電圧の電位差≦α×γ」及び「隣り合う基準電圧の電位差×基準電圧の数≧β×γ」という条件を満足するように上記各パラメータを決定することができる。そして、この条件を満足さえすれば、増幅回路10及び比較回路121〜125として使用される演算増幅器は高精度である必要はない。
【0050】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、作製後の調整作業が不要であり、低コストであり、しかも集積回路化に適した信号処理装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の信号処理装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図2】図1における立ち上がりエッジ検出回路の構成例を示す回路図である。
【図3】図1における立ち下がりエッジ検出回路の構成例を示す回路図である。
【図4】図1におけるフリップフロップ回路の構成例を示す回路図である。
【図5】本発明の信号処理装置の実施の形態における増幅回路及び比較回路の第1の動作例を説明するためのタイミングチャートである。
【図6】本発明の信号処理装置の実施の形態における立ち上がりエッジ検出回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図7】本発明の信号処理装置の実施の形態における立ち下がりエッジ検出回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図8】本発明の信号処理装置の実施の形態における立ち上がりエッジ検出回路、立ち下がりエッジ検出回路及びフリップフロップ回路の第1の動作例を説明するためのタイミングチャートである。
【図9】本発明の信号処理装置の実施の形態における増幅回路及び比較回路の第2の動作例を説明するためのタイミングチャートである。
【図10】本発明の信号処理装置の実施の形態における立ち上がりエッジ検出回路、立ち下がりエッジ検出回路及びフリップフロップ回路の第2の動作例を説明するためのタイミングチャートである。
【図11】従来のアナログ信号に基づきデジタル信号を生成するための信号処理装置の一例を示す回路図である。
【図12】図11に示す回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図13】従来の信号処理装置の問題点を説明するための図である。
【図14】従来の信号処理装置の問題点を説明するための図である。
【図15】従来のアナログ信号に基づきデジタル信号を生成するための信号処理装置の他の例を示す回路図である。
【図16】図15に示す回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図17】従来のアナログ信号に基づきデジタル信号を生成するための信号処理装置の更に他の例を示す回路図である。
【符号の説明】
10 増幅回路
111〜115 基準電圧発生回路
121〜125 比較回路
131a〜135a 立ち上がりエッジ検出回路
131b〜135b 立ち下がりエッジ検出回路
14 フリップフロップ回路
20、31 遅延回路
21、30 インバータ
22、32 2入力NANDゲート
40、41 6入力NANDゲート
R1、R2 抵抗
C1、C2 コンデンサ
Claims (3)
- 外部から入力されるアナログ信号に基づきデジタル信号を生成する信号処理装置であって、
n種類(nは2以上の整数)の基準電圧であって、隣り合う基準電圧同士の差は、該アナログ信号の振幅より小さいものを発生する基準電圧発生回路と、
該n種類の基準電圧の各々に対応するn個の比較回路であって、各比較回路は、該アナログ信号と該比較回路に対応する基準電圧とを比較し、該アナログ信号の振幅が該基準電圧より大きい場合に第1レベルの信号を出力し、そうでない場合に第2レベルの信号を出力する比較回路と、
該n個の比較回路の中の何れかが出力する信号が第2レベルから第1レベルに変化した場合に立ち上がり、第1レベルから第2レベルに変化した場合に立ち下がるデジタル信号を生成するデジタル信号生成手段、
とを備えた信号処理装置。 - 外部から入力されるアナログ信号に基づきデジタル信号を生成する信号処理装置であって、
n種類(nは2以上の整数)の基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、
該基準電圧発生回路で発生されたn種類の基準電圧の中の少なくとも1つとクロスするように該アナログ信号を増幅する増幅回路と、
該n種類の基準電圧の各々に対応するn個の比較回路であって、各比較回路は、該増幅回路から出力される増幅されたアナログ信号と該比較回路に対応する基準電圧とを比較し、該増幅されたアナログ信号の振幅が該基準電圧より大きい場合に第1レベルの信号を出力し、そうでない場合に第2レベルの信号を出力する比較回路と、
該n個の比較回路の中の何れかが出力する信号が第1レベルから第2レベルに変化した場合に立ち上がり、第2レベルから第1レベルに変化した場合に立ち下がるデジタル信号を生成するデジタル信号生成手段、
とを備えた信号処理装置。 - 前記デジタル信号生成手段は、
前記n個の比較回路の各々に対応するn個の第1検出回路であって、各第1検出回路は、該第1検出回路に対応する比較回路からの信号が第2レベルから第1レベルへ変化した場合に第1検出信号を出力する第1検出回路と、
該n個の比較回路の各々に対応するn個の第2検出回路であって、各第2検出回路は、該第2検出回路に対応する比較回路からの信号が第1レベルから第2レベルへ変化した場合に第2検出信号を出力する第2検出回路と、
該n個の第1検出回路の中の何れかの第1検出回路から第1検出信号が出力された場合にセットされ、該n個の第2検出回路の中の何れかの第2検出回路から第2検出信号が出力された場合にリセットされるフリップフロップ手段、
とで構成され、該フリップフロップ手段からデジタル信号を出力する請求項1又は請求項2の何れかに記載された信号処理装置。
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