JPH10500536A - 電子装置 - Google Patents

電子装置

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JPH10500536A
JPH10500536A JP8527404A JP52740496A JPH10500536A JP H10500536 A JPH10500536 A JP H10500536A JP 8527404 A JP8527404 A JP 8527404A JP 52740496 A JP52740496 A JP 52740496A JP H10500536 A JPH10500536 A JP H10500536A
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ネイル クリストファー バード
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フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ
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Abstract

(57)【要約】 平坦なパネルディスプレイまたは像センサあるいはデータ蓄積器またはメモリ装置或は又他の型の大面積電子装置、特に薄膜回路(これに限定されない)は、行(N・・・)および列(M・・・)に配列されたデバイス素子(8)のアレイを具え、隣接列(M,M+1)の各対のデバイス素子(8)によって列導体11を分割する。このデバイス素子(8)は第1スイッチング素子(S1)を経てその関連する行導体(21)に係合する。隣接列の各対(M,M+1)ではデバイス素子(8)によって列導体(11)を分割する。本発明によれば、各対の1列(M)の1列導体(M)における1行(N)の各デバイス素子を各第2スイッチング素子(S2)を経て1つの基準導体(1)に結合するが、この対の他の列(M+1)における同一行(N)の各デバイス素子(8)は各第2スイッチング素子(S2)を経て他の基準導体(2)に結合する。これら基準導体(1および2)はその個別のデバイス素子(8)を選択するアレイを貫通するイネーブルラインとして機能する。本発明によれば隣接列の対のデバイス素子(8)によって列導体(11)を分割してデバイス素子(8)が逆配向される必要なく且つスイッチング素子(S1およびS2)が逆導電型とする必要なくあるいは逆極性パルスで駆動する必要のないようにする。スイッチング素子(S1およびS2)は薄膜ダイオードのように少ない処理工程で製造することができる。さらに、デバイス素子(8)は列導体(11)および行導体(21)の双方を分割して、アレイの列導体および行導体の双方の数を減少する。これがため、デバイス素子(8)はアレイを貫通する4つの個別の基準導体(1,2,3,4)と相俟って隣接列および隣接行の対において4つの画素(10A,10B,10C,10D)の群に配列する。

Description

【発明の詳細な説明】 電子装置発明の技術分野 本発明は電子装置、特に、行および列に配列され、行導体および列導体の双方 に結合されたデバイス素子のアレイを具える薄膜回路に関するものである。 このデバイス素子はフラットパネルディスブレイ(例えば、液晶ディスプレイ )のディスプレイ素子、または大面積イメージセンサのイメージセンサ素子(例 えば、感光ダイオード)、あるいは他の数種類のデバイス素子(例えば、データ 蓄積、即ち、メモリ装置の電荷−蓄積素子あるいは熱撮像装置の温度感知素子) とすることができる。発明の背景 ヨーロッパ特許出願公開EP-A-597 226にはかかるアレイを具える電子装置が記 載されている。デバイス素子の各行は行導体に供給された電圧によってアドレス 指定することができる。ヨーロッパ特許出願公開EP-A-597 226に記載された特定 の装置では、デバイス素子をディスプレイの発光ダイオード(LED)とする。 外部接点パッドまたは接続部の数を減少させるためには、各々が分離された列接 続部を有する隣接列の対に配列する。この分離列接続部では作動させるためには 交互の列のデバイス素子の配向を逆とする。ヨーロッパ特許出願公開EP-A-597 2 26の装置では、デバイス素子の各列によって自己の列導体を保持するとともに分 離列接続部はこれら列導体の一端にパッドを接続することによって形成する。従 ってヨーロッパ特許出願公開EP-A-597 226の全内容をここに従来技術として挙げ る。米国特許明細書US-A-5,193,018(および特にその図8、10、11および1 2)には隣接列の対に配列されたディスプレイ素子のアレイを具えるアクティブ マトリックス液晶ディスプレイが記載されている。隣接列の各対では、ディスプ レイ素子によって列導体を分離しこれら分離列導体に双方の列のディスプレイ素 子を結合する。発光ダイオードと相違して、液晶ディスプレイのディスプレイ素 子は列導体を分離するために行導体に配向を異にして結合することはできない。 しかし、各行のデバイス素子はスイッチング素子(米国特許明細書US-A-5,193,0 18では、薄膜トランジスタ)を経て関連する行導体に結合する。隣接列で列導体 を分離するためには、交互の列のこれらスイッチングトランジスタを反対導電型 とする。この目的のためにはアレイに対しn−導電型トランジスタおよびp−導 電型トランジスタを造る必要があるとともに各行導体に対し正パルスおよび負パ ルスの双方を用いる必要がある。米国特許明細書US-A-5,193,018の全内容を先行 技術としてここに挙げる。 各行導体に供給すべき電圧パルスの極性(即ち、正および負)の双方に対する 要求はアレイに対する行駆動回路を複雑にする。さらに、大面積電子装置のアレ イのスイッチング素子に対しn−導電型トランジスタおよびp−導電型トランジ スタの双方を造ることは必ずしも有効ではない。これらの相補トランジスタを製 造するためには多数の処理工程を必要とし、これは製造状況において造られた完 全の動作するアレイの歩留まりを減少するようになる。これがため、一般に、製 造工程の数を減少する必要がある。相補トランジスタをスイッチング素子として 使用することによっアレイのデバイス素子を列導体または行導体に分割する。か かる配置によってデバイス素子を任意の1アレイにおける列導体および行導体の 双方に分割しない。 特に、ディスプレイまたは撮像装置の簡潔な高解像度装置の大面積アレイでは 、列導体の数および行導体の数の双方を減少する必要がある。従って、行駆動回 路および列駆動回路への接続部の数を減少することができ、且つ、行駆動回路お よび列駆動回路の多重段の数をも減少させることができる。従って、行駆動回路 および列駆動回路をアレイの側部に一層容易に収容することができる。発明の概要 本発明の目的は隣接列の対のアレイのデバイス素子によって、(デバイス素子 を逆方向に配置する必要なく、およびスイッチング素子を逆導電型とする必要な く、並びに逆極性の駆動パルスを必要とすることなく)列導体を分割するように したデバイス配置、特に処理工程を減少してスイッチング素子を製造するととも にアレイのデバイス素子を列導体または行導体に分割アレイに対する列導体およ び行導体の双方を減少せしめるようにしたデバイス配置を提供せんとするにある 。 本発明は行および列に配列され、行導体および列導体の双方に結合されたデバ イス素子のアレイを具え、このデバイス素子の各行を列導体に供給される電圧に よってアドレス指定可能とし、一行の各デバイス素子を第1スイッチング素子を 経て関連する行導体に結合し、デバイス素子のアレイを隣接する列の対に配列し 、その各対においてデバイス素子によって列導体を分離し、両列のデバイス素子 を結合するようにした電子装置において、各対の一列の行の各デバイス素子を各 第2スイッチング素子を経て他の基準導体に結合し、供給される電圧によってオ ン状態にバイアスされる際に第1および第2スイッチング素子を導通状態とし、 他に異なる基準導体に異なる基準電圧を供給するとともにアドレス指定電圧を行 導体に供給する手段を設けて各対の選択された行および選択された列に関連する スイッチング素子のみを導通可能とすることを特徴とする。 斯くして各デバイス素子を個別の第2スイッチング素子を経てアレイのデバイ ス素子の位置に依存して異なる基準導体に結合することにより、デバイス素子を 異なる配向とする事なく、およびスイッチング素子を相補導電型とすることなく 、あるいは駆動パルスを逆極性とすることなく、デバイス素子により列導体を分 割することができる。従って、スイッチング素子をトランジスタの形態とする場 合でも、スイッチング素子の製造に必要な処理工程の数を減少させることができ る。しかし、本発明によればスイッチング素子を整流素子、例えば、少数の製造 処理工程数のみを必要とする薄膜ダイオードとして形成することができる。デバ イス素子およびそのスイッチング素子のレイアウトは簡単化することができ、且 つアレイ全体を標準化することもできる。さらに、第2スイッチング素子および 異なる基準導体を有するかかる配置によって各々が列導体を分割するとともに行 導体をも分割する4つの群にデバイス素子そ配置することができる。これがため 、アレイの列導体の数および行導体の数を減少させることができる。 前記アレイは4つの群に配列されたデバイス素子を具え、各群は列導体を分割 する隣接列の1対および行導体を分割する隣接行の1対とを具える。各群の4つ のデバイス素子は1つの行の第1および第2デバイス素子並びに前記対の隣接行 の第3および第4デバイス素子を具える。第1および第2デバイス素子をそれぞ れ第2スイッチング素子を経て第1および第2基準導体にそれぞれ結合すること ができる。第3および第4デバイス素子をそれぞれ第2スイッチング素子を経て 第3および第4基準導体にそれぞれ結合することができる。 隣接例によって列導体を分離するため、アレイの列導体の数が減少され、従っ てアレイを横切る列導体のスペースが増大する。隣接列導体間に増大スペースを 用いて基準導体の少なくとも幾つかを収容し得るようにするのが有利である。こ れがため、基準導体の少なくともいくつかを隣接列導体間のスペースに前記アレ イを横切って長手方向に延在させて隣接列導体の各対を前記基準導体の各々1つ によって離間し得るようにする。アレイのデバイス素子が、列導体および行導体 の双方を分割するとともに第1、第2、第3および第4基準導体を有する場合に は、これら基準導体のうちの2つ(例えば第3および第4基準導体)を隣接列導 体間のスペースに前記アレイを横切って長手方向に延在させて隣接列導体の各対 がこれら2つの基準導体の各々によって分離されるとともに他の2つの基準導体 が隣接行導体間のスペースで前記アレイを横切って長手方向に延在させることが でき、従って隣接行導体の各対がこれら他の2つの基準導体の少なくとも1つ( 可能には双方)によって分離されるようになる。 スイッチング素子は種々の既知のデバイス技術によって形成することができる 。薄膜回路の場合には、第1および第2スイッチング素子は薄膜トランジスタお よび/または薄膜ダイオードを具える。薄膜トランジスタの場合には、アレイの デバイス素子をその分割された列導体に少なくとも第2トランジスタ(可能には 第1および第2トランジスタの双方)によって結合することができ、且つ、基準 導体を第2トランジスタのゲートに結合することができる。関連する行導体は第 1トランジスタのゲートに結合することができる。従ってこれらトランジスタの ゲートに斯くして供給された電圧によってこれらトランジスタの導通状態を制御 する。アレイの第1および第2トランジスタの全ては同一導電型、例えばn−チ ャネルトランジスタとすることができる。 トランジスタ技術を用いる代わりに、前記第1および第2スイッチング素子は 供給電圧により順方向にバイアスされる際に電流を通過せしめる整流素子とする ことができる。かかる整流素子(例えば薄膜ダイオード)はトランジスタよりも 少ない処理工程で造ることができる。デバイス素子はその分離された列導体と第 1および第2整流素子間の接続点との間に結合する。アレイのこれら整流素子の 全部はデバイス素子からその関連する行導体または列導体への結合時に同一方向 に配向することができる。図面の簡単な説明 図1は本発明電子装置のデバイス素子およびその駆動回路の大きなアレイの一 部分を構成する4画素を示す回路図、 図2は図1の電子装置の画素の行導体および基準導体に供給される電圧を示す 波形図、図3は本発明によりアレイに配列された4画素より成る群を示す回路図 、 図4は図3の電子装置の作動時における行導体および基準導体に供給される電 圧の波形図、 図5は本発明による画素配列および1つの可能なレイアウトを実施する像セン シング装置の一部分を示す平面図、 図6は図5のVI−VI線上の断面図、 図7は本発明電子装置のアレイの行導体、列導体および基準導体並びにその駆 動回路を示す平面図、 図8は図7の装置の基準導体の配列の変形の一部分を示す平面図、 図9は図5の4画素回路とは異なる型のスイッチング素子を有する本発明電子 装置の大型アレイの一部分を形成する4画素の回路構成を示す平面図である。発明を実施するための最良の形態 図は実寸法ではなく拡張して示す。また、図中同一部分には同一符号を付して 示す。図1にその一部分を示す本発明電子装置は、アレイの行N,N′・・・お よび列M,(M+1),・・・に配列され、アレイの行導体および列導体の双方 にそれぞれ結合されたデバイス素子8を具える。これらデバイス素子8の各行N ,N′・・・は行導体21に供給される電圧によってアドレス指定される。特定 の例では、デバイス素子8を像センサ装置の感光素子とする。像センサ装置は画 素10のアレイを具え、各画素10は感光素子のようなデバイス素子8を具える 。行導体21は行駆動回路60から既知のように供給される電圧パルスを用いて センサアレイの画素を行毎に走査する走査ラインとする。列導体11は出力回 路70で既知のように読取るべき選択された画素10の感知素子8からのデータ を搬送するデータラインとする。図1に示す感知素子8はダイオード接合に関連 する固有の容量(図ではコンデンサで示す)を含む感光ダイオードとする。感光 素子8はこの容量によって感光素子8に入射する光に応答して(作動の1モード で)電荷を蓄積することができる。 図1はアレイの4つの画素10A,10B,10A′,10B′のみを示す。 画素10Aおよび10Bは1行Nにあり、そのデバイス素子8は第1スイッチン グ素子S1を経て関連する行導体21aに結合する。画素10A′および10B ′は他の行導体N′にあり、そのデバイス素子8は第1スイッチング素子S1を 経て関連する行導体21bに結合する。このアレイは隣接列の対に配列し、その うちの2つの列Mおよび(M+1)のみを図1に示す。隣接列の各対では、画素 10A,10B,10A′および10B′のデバイス素子によって列導体11( 図1の例では11a)を分割し、これに両列Mおよび(M+1)のデバイス素子 8を結合する。図1は隣接列の1対のみを示すが、かかる隣接列Mおよび(M+ 1)の数個の対を図7に示す。大面積像センサ(またはディスプレイ)は数百個 のかかる行列を有する。 本発明によればこれらデバイス素子8が同一行にある場合でも、同様に分割さ れた列導体11に結合されたデバイス素子8を個別に選択する。従って、各対M ,(M+1)の1列(例えば、列M)の行N,(またはN′或は・・・)の各デ バイス素子8を各第2スイッチング素子S2を経て1つの基準導体1に結合する 。各対の他の列(M+1)の同一行N(またはN′,或は・・・)の各デバイス 素子8は各第2スイッチング素子S2を経て他の基準導体2に結合する。基準導 体1および2はアレイ全体に亘り延在するとともに各スイッチング素子に結合す るイネーブリングラインとして作用する。第1および第2スイッチング素子S1 およびS2は供給電圧によってオン状態にバイアスされた際に導通する。これが ため、例えば、スイッチング素子S1およびS2は図1および図3に示す例では 整流素子とする。デバイス素子8(即ち、図1のフォトダイオード)は分割され た列導体11間で整流素子S1およびS2間のノード(接続点)5′に結合する 。これら整流素子が導体1,2および21に供給される電圧によって順方向にバ イアスされる際に整流素子は電流を通過せしめる。従って、整流素子はこれら導 体1,2および21に供給される電圧によって逆方向にバイアスされる際に電流 の通過を阻止する。 従って、これら整流素子S1およびS2はこのようにフォトダイオードの積分 周期中に(フォトダイオード8の再充電された容量により照射中の電荷の発光に よって徐々に放電される際に)逆バイアスされる。この積分周期中に終端でフォ トダイオード8の充電状態にある電荷は関連する整流素子が順方向にバイアスさ れてフォトダイオード8の容量を再充電する際に列導体11で読取られる。 図2は図1の導体1,2,21aおよび21bに掛かる電圧を供給する時間シ ーケンスを示すとともに画素10A,10A′,10B,10B′が分割された 列導体11aで読取られる場合を示す。図2に示す電圧値(即ち、0V,−5V ,−2.5V,−7.5V)は大面積像センサアレイおよび/または液晶ディス プレイのアドレス指定アレイを形成するに好適な薄膜回路技術によって製造され た薄膜ダイオードの形態の特定の例の感光素子8および整流素子S1およびS2 をバイアスするに好適な電圧の特定の例である。この特定の例では、−5Vのパ ルスを行導体21に逐次供給してデバイス素子8の各行N,N′,・・・を逐次 アドレス指定する。これら行電圧パルスを既知の型の行駆動回路60によって既 知のように行導体21に供給する。この行駆動回路は各行導体21のトランジス タスイッチのスイッチングを(クロック信号により)制御するシフトレジスタ兼 復号回路を具える。基準導体1および2に供給される電圧パルスは行電圧パルス よりもその持続時間を長くするとともにその電圧レベルを−2.5Vおよび−7 .5V間で切換え得るようにする。これら基準電圧パルスは電圧パルス発生器5 0の−7.5V給電ライン53および−2.5V給電ライン54から供給するこ とができる。これら給電ライン53および54は導体2のトランジスタスイッチ 55および56を経ておよび導体1のトランジスタスイッチ57および58を経 て基準導体1および2にそれぞれ結合する。これらトランジスタスイッチ55〜 58の切換えはパルス発生器50からのクロック信号によって制御する。 図2は画素10A,10A′,10B,10B′のシーケンシャル読取りを行 うこれらパルスの時間シーケンスを示す。時間間隔Aでは−5Vの行パルスを行 Nの行導体21aにのみ供給する。従って、他の行N′,・・・はこの際アドレ ス指定されない。両画素10Aおよび10Bは行導体21aに接続する。しかし 、画素10Bに結合された基準導体2は行パルス(−5V)よりも一層負の電圧 (−7.5V)でバイアスされる。これがため、画素10Bの整流素子S1およ びS2は逆バイアスされて電流の通過を阻止する。画素10Aの基準導体1は行 パルス(−5V)よりも少ない負の電圧(−2.5V)にバイアスされる。これ がため、時間間隔Aでは画素10Aの整流素子S1およびS2を順方向にバイア スして画素10Aのフォトダイオード8の容量を再充電し、その残留電荷を分割 された列導体11aを経て読取る。 時間間隔A′では、行N′を行駆動回路60からの行パルス(−5V)によっ てアドレス指定する。基準導体1はいまだ僅かな負の電圧(−2.5V)にある ため、画素10A′の整流素子S1およびS2は順方向にバイアスされ、従って 関連するフォトダイオード8を再充電するとともに列導体11aの荷電状態を読 取る。この時間間隔A′では、行N′の行導体21bにも接続されている画素1 0B′に対する基準導体2は行パルス(−5V)よりも一層負(−7.5V)に バイアスされる。従って画素10B′の整流素子S1およびS2は逆バイアスさ れたままである。 時間間隔Bでは、行パルスが行Nの行導体21aに再び供給される。しかし、 この時点では、基準導体1は行パルス(−5V)よりも一層負(−7.5V)と なり、従って画素10Aの整流素子S1およびS2は逆バイアスされたままであ る。基準導体2は行パルス(−5V)よりも少ない負の電圧(−2.5V)にあ るため、画素10Bの整流素子S1およびS2は順方向にバイアスされる。従っ て、この時間間隔Bでは、画素10Bのフォトダイオード8は読取られ、再充電 される。 時間間隔B′では、行パルスが行N′の行導体21bに供給される。基準導体 1は行パルス(−5V)よりも一層負の電圧(−7.5V)にあり、従って画素 10A′の整流素子S1およびS2は逆バイアスされる。しかし、画素10B′ の基準導体2は僅かな負の電圧(−2.5V)にあるため、画素10B′の整流 素子S1およびS2は順方向にバイアスされて画素10B′のフォトダイオード 8を読取るとともに再充電する。 これがため、列駆動回路70への入力の数を減少させることができる。従って 列導体11間のスペースを増大させることができ、および/または列導体11間 の少数の画素を増大させることができる(高解像度)。図に示すように、これら の利点は、アレイのデバイス素子8全部を分割列導体11に結合する際に同一方 向に配向させ、第1整流素子S1全部を列導体21への結合時に同一方向に配向 させ、第2整流素子S2全部をその基準導体1,2,・・・への結合時に同一方 向に配向させることによって、得ることができる。さらに、図3および4の変形 例に示すように、本発明によればアレイのデバイス素子8によって行導体21を 分割するとともに列導体11をも分割することができる。これがため、列導体1 1の数および行導体21の数の双方を減少させることができる。 図3および4の変形例では、アレイの画素10を4個より成る群に配列し、各 群によって列導体11を分割するとともに行導体21をも分割する。図3は列導 体11aおよび行導体21aを分割するとともに4つの画素10A,10B,1 0Cおよび10Dを具えるかかる群の1つを示す。画素10Aおよび10Bは行 Nにあり、画素10Cおよび10Dは行(N+1)にあり、画素10Aおよび1 0Cは列Mにあり、画素10Bおよび10Dは列(M+1)にある。画素10A ,10B,10Cおよび10Dの各々は基準導体1,2,3および4をそれぞれ 有する。図4は時間間隔Aで画素10Aを読取って再充電し、時間間隔Bで画素 10Bを読取って再充電し、時間間隔Cで画素10Cを読取って再充電し、時間 間隔Dで画素10Dを読取って再充電するために、これら導体21a、1、2、 3および4に供給する電圧パルスを示す。(順方向バイアス、逆方向バイアスお よびその関連する整流素子S1およびS2による)作動モードは図2の画素の場 合と同様である。図7は4つの画素10A,10B,10Cおよび10Dより成 る群をアレイ全体に亘り繰返し配置する状態を示す。説明の便宜上、および図面 を簡潔にするために、個別の画素10には図7の記号A,B,CおよびDをそれ ぞれ付して簡単に示す。アレイの隣接行の各対では、画素AおよびBを1つの行 に配置するが、画素CおよびDは隣接行に配置しする。アレイの隣接列の各対で は、画素AおよびCを1つの列に配置するが画素BおよびDは隣接列に配置す る。図7の行Nは図1の行Nに相当し、図7の行(N+1)は図1の行′に相当 する。画素10Aの全部によって共通基準導体1を分割し、画素10Bの全部に よって共通基準導体2を分割する。画素10Cの全部によって共通基準導体3を 分割する。画素10Dの全部によって共通基準導体4を分割する。 図7に示すように、これら基準導体1〜4のうちの2つは隣接列導体11間の スペースにアレイを横切って長手方向に延在させるとともに基準導体1〜4のう ちの他の2つは隣接行導体21間のスペースにアレイを横切って長手方向に延在 させる。これがため、図7の例では、第2基準導体2および第3基準導体3は列 導体11に平行に延在させて隣接列導体11の各対が第2基準導体2および第3 基準導体3の各々によって分割されるようにする。第1基準導体1およびだい4 基準導体4は列導体21に平行に延在させて隣接行導体21の各対が第1基準導 体1および第4基準導体4の各々によって分割されるようにする。4つの基準導 体1〜4は電圧供給ライン53および54を有するパルス発生器50に接続する 。各供給する導体1〜4は各スイッチングトランジスタ(図1に示すように、導 体2に対してはトランジスタ55および56並びに導体1に対してはトランジス タ57および58)を経て電圧供給ライン53および54に結合する。 列読取回路70は出力シフトレジスタ兼復号化回路79に結合された例えば電 荷感知増幅器78を具える既知の型のものとする。画素10のフォトダイオード 8の荷電状態を読取ると、列導体11に流れる電流はこの列導体11に関連する 電荷感知増幅器78によって積分される。この列導体11は電荷感知増幅器78 の負入力側に接続する。(入力端子がコンデンサを経て負入力側に結合された) 各電荷感知増幅器78は列導体11から供給される電流を電圧出力に変換するよ うに作用する。電荷感知増幅器78からのこれら電圧出力を出力シフトレジスタ 兼復号化回路79に供給してこれから像信号を出力端子71を経て適宜の蓄積器に 供給するか、またはディスプレイ(図示せず)に供給することができる。電荷感 知増幅器78の正の入力端子を接地するか、または任意好適な基準電位部に結合 し、その値を行電圧(図2および4の例では−5V)によって有効に決める。そ の理由は感光ダイオード8を常時逆バイアスする必要があるからである。 図5および6は特定の薄膜ダイオード技術を用いて図3および7の像センサの 画素10A,10B,10Cおよび10Dを積分化する特定の例を示す。像セン サアレイは好適なガラスまたはプラスチック材料で形成し得る絶縁性の一般に透 明な基板上に上記薄膜ダイオード技術を用いて形成する。上記周辺回路50,6 0および70はモノリシック珪素集積化技術を用いて透明な珪素チップに形成す る。次いで、これら個別の回路チップは前記絶縁基板10上に装着するか、また はこれらチップは前記基板10上の導体細条に電気的に接続された個別の回路板 上に装着する。 好適な薄膜ダイオード技術の特定の例では、第1導電フイルム(一般にクロム 層)は前記絶縁基板10上に蒸着するとともに列導体11、基準導体2および3 、整流素子S1のカソード電極12および整流素子S2のカソード電極13の少 なくとも一部分を形成するように画成する。図5および6に示すように、各感光 ダイオード8のカソード電極は列導体11の拡大区域によって形成することがで きる。また、この列導体11の拡大区域は感光ダイオード8の全底面に亘って被 覆された遮光部をも構成する。 感光ダイオード8並びにスイッチングダイオードS1およびS2は同一の半導 体材料から形成する。これがため、これらダイオード8,S1およびS2の各々 はアモルファスn−i−pダイオードとすることができ、これらダイオードの全 部はn−導電,真性導電型およびp−導電型の順次のアモルファス珪素フイルム に蒸着により同時に形成する。次いで、これら珪素フイルムは個別の島状部にパ ターン化して図5および6に示すようにダイオード構体を画成する。 次いで、絶縁フイルム(一般に窒化珪素層)を蒸着しパターン化して誘電体分 離領域20を画成する。次に、第2導電フイルム(一般にクロムおよび/または アルミニウム層)を蒸着しパターン化して行導体21,基準導体1および4並び に相互接続部22および25を画成する。図面を明瞭とするために、この第2導 電フイルムパターンを図5において斜線で示す。整流素子S2を基準導電1およ び4に接続する箇所にはダイオードS2のアノード電極を形成するために基準電 極1または4の局部拡大部を設ける。相互接続部22はダイオードS2のアノー ド電極を構成するとともに基準導体2および3上全体に亘って延在させてこれら 導体2および3に相互接続部22および25を誘電体フイルム20の貫通窓6を 経てそれぞれ接続する。整流素子S1のカソード電極12および行導体21間の 電気接続部は誘電体フイルム20の貫通窓7の下側電極12と接触する行導体2 1によって形成する。相互接続部25はダイオード8およびS1のp−導電型珪 素フイルムと接触してこれらダイオードのアノード電極を形成する。この相互接 続部25は誘電体層20の貫通窓5で整流素子S2のカソード電極13と接触し てここで相互接続部25は素子S1,S2および8の回路構成のノード5′を形 成する。図面には示さないが、装置構体全体に亘って(ポリイミド層のような) 保護透明絶縁層を蒸着することができる。 像センサのレイアウトは任意の好適なパターンとすることができる。図5に示 す例では、導体1,2,3,4,11,12は個別の画素10の区域の大部分を 占める感光ダイオード8と相俟って長方形(一般に方形)グリッドを画成する。 しかし、感光ダイオード8(およびその個別の画素11)はその個別の画素10 の1つ以上の縁部に画成して像センサをできるだけ透明となるようにする。次い で、かかる透明像センサはディスプレイを著しく不透明とすることなくディスプ レイのようななにか他のものの頂部に載置することができる。しかし、(例えば 、X線診断撮像装置のように)最大の感光度を必要とする場合には感光ダイオー ド8の面積をできるだけ大きくする必要がある。 図5〜7の像センサの隣接行によって共通行導体21を分割する程度までこの 像センサは1994年3月3日の英国優先権日を有する係属中の英国特許出願第 9404111.8(PHB33899)に記載されているセンサとほぼ同様で ある。しかし、この英国特許出願第9404111.8の配列では、アレイの隣 接列間で列導体を分割していない。さらに、英国特許出願第9404111.8 のセンサアレイでは、1つの分割行導体に関連する画素の整流素子を隣接分割行 導体に関連する画素の整流素子に対し逆方向に配向する必要がある。これら関連 する隣接行導体に結合されたフォトダイオードも逆方向に配向されている。斯様 に、逆方向に配向する必要がある場合には、本発明の図5および6と英国特許出 願第9404111.8の図4〜6とを比較することから明らかなように、整流 素子およびフォトダイオードのレイアウト並びにこれら画素の配向を複雑とする 。さらに、英国特許出願第9404111.8に記載されているこの逆方向のダ イオード配列は行導体に正および負のパルスの双方を供給する必要があり、従っ て本発明で必要とされる行駆動回路よりも一層複雑な行駆動回路を必要とする。 最も重要なことは、本発明によって行導体21および列導体11の双方を分割す ることができる。これがため、行導体21および列導体11の数を減少すること ができ、従って、そのスペースを増大することができ、および/または画素の解 像度を増大することができ、その結果、アレイに対する行駆動回路60および列 駆動回路70の接続部および多重度を減少させることができる。 英国特許出願第9404111.8に記載されているように、整流素子S1お よびS2の一方は感光性として画素10間の垂直方向の漏話を減少せしめ得るよ うにする。これがため、同一の列導体11に結合された選択画素が読取られる際 には、不使用の画素10から列導体11に流れる不所望な電流からある垂直方向 の漏話が生ずるようになる。かかる垂直方向の漏話のため選択された画素10に 対する電荷感知増幅器78からの積分出力はこの列導体11に結合された他の画 素10の全部からの寄与を含めることができる。不所望な列電流の主ソースはこ の列の不使用の画素からの“ダイナミック漏洩”である。これがため、画素10 が光を感知する際には感光ダイオード8内の電荷キャリアの発光によって感光ダ イオード8の真性容量が放電され、従ってこれは整流素子S1の両端間の電圧が 変化することを示す。2つの整流素子S1およびS2間のノード5の充電電圧VX によって整流素子S1の容量CDに電流Iが流れるようになる。この電流Iは次 式で表わすことができる。 この電流Iは関連する列導体11に流れて垂直方向の漏話を発生する。この漏 話の影響は例えば白色背景の黒色テキストに白色が現われえ白色背景から黒色テ キストが消失するように、像から情報が除去され得ることである。 図1または図3あるいは図5および6の電子装置アレイでは、デバイス素子8 並びに整流素子S1およびS2の全部が接合ダイオードを具える。かかる垂直方 向の漏話を除去するか、または少なくとも殆ど減少させるためには、整流素子S 1(即ち、フォトダイオード8とは逆方向に配列された整流素子)を感光性とす る。これがため、図5および6のアレイのレイアウトにおいて、フォトダイオー ド8および整流素子S1に対するアノード電極を構成する相互接続部25をこれ ら素子8およびS1の上面全体に亘り透明とする。この検出すべき光に対する透 明性は相互接続部25の区域を切返すことによって極めて簡単に達成することが できるため、これを素子8およびS1に上面全体に亘り延在させることはしない 。かかる切返しを図5および6に示す。斯様にアノード電極25を切返しするた めに、感光ダイオード8およびS1が露出してアノード側に光が入射する。 英国特許出願第9404111.8に記載されているように、同一の列導体1 1に接続された不使用の画素からこの列導体11に零または最小漏洩電流が流れ る条件は次式で与えられる。 上式において、IPおよびCPはフォトダイオード8に関連し、このダイオード 8は容量CPに並列な電流IPのソースとして表わされる。感光整流素子S1は容 量CXに並列な電流IDのソースとして表わす。不感光整流素子S2は容量CYと して簡単に表わす。 これがため、容量CX,CYおよびCPは感光整流素子S1,他の整流素子S2 および感光性デバイス素子8のそれぞれ真性容量であり、電流IPおよびIDはデ バイス素子8および感光整流素子S1に入射する光によって発生した電流とする 。式(2)の配列を採用することにより同一の列導体11に結合された他のデバ イス素子8からの電荷の読取り中デバイス素子8からの漏洩電流を減少させるこ とができる。フォトダイオードの感光電流IPHOTOはKACONに等しく、ここにK は定数、ACONは光に曝されるフォトダイオードの面積(通常、この面積は図5 に示すようにフォトダイオードの不透明電極25のホールの面積)である。従っ て、漏洩電流のない条件は感光ダイオード8およびS1の幾何学的形状によって 規定される。制御素子S1およびS2の面積が等しく、且つ3つのダイオードS 1,S2および8全部の厚さが同一である場合には、この幾何学的形状 において式(2)は次式で表わされる。 ここにADD1およびAD3はそれぞれ制御素子S1および感光ダイオード8の実効 面積であり、従ってその容量に比例する。 ここに云うダイオードS1,S2および8に関連する“面積”とはダイオード の電極に一般に平行な面、即ち、図5および6に関しこれらダイオードが形成さ れる基板10の表面に平行な面におけるダイオードの面積を意味するものとする 。ダイオードの厚さは基板10の表面に垂直な方向に測定する。 従って、ダイオードS1,S2および8の相対的な幾何学的形状を適当に選択 することにより、(選択された画素と同一列導体11に結合された)選択されて いない画素からの漏洩電流はこの選択されていない画素のダイオードS1の容量 /光電流ループ内に内部的に流れるようになり、列導体11には流れない。かか る手段によって垂直方向の漏話を除去または少なくとも著しく減少させることが できる。 これがため、本発明電子装置では、スイッチング素子およびデバイス素子の双 方に接合ダイオードを設けるのが好適である。この場合には、スイッチング素子 およびデバイス素子の双方を製造する処理工程の数を減少させて、製造歩留まり を改善させることができる。さらに、さらに、接合−ダイオードスイッチング素 子の一方を入射光に対し感光性として分割列導体の垂直漏話を減少させるように する。 しかし、本発明電子装置の画素のスイッチング素子は接合ダイオードとする必 要はなく、制御素子とする必要もない。これがため、図9は第1および第2スイ ッチング素子が薄膜トランジスタを具える例を示す。各画10のデバイス素子8 は少なくとも第2トランジスタS2を経てその分割列導体11に結合し、この第 2トランジスタS2のゲートは基準導体1,2,3,4の一つに結合する。デバ イス素子8のスイッチング素子とは反対側の端子は共通バイアスライン30に結 合し、このバイアスラインはアレイを貫通して延在させる。図9は4つの画素1 0A,10B,10C,10Dより成る一群を示す。これら画素によって共通行 導体21および共通列導体11を分割する。これがため、この画素配列は図3お よび7の4つの画素10A,10B,10C,10Dより成る群の画素配列に相 当するものである。アレイのスイッチングトランジスタS1およびS2の全部は 同一導電型、例えば、n−チャネルトランジスタとすることができる。 図9の特定の例では、デバイス素子8は第1および第2トランジスタS1およ びS2の双方を経て分割列導体11に結合するとともに関連する行導体21は第 1トランジスタS1のゲートに結合する。かかる状態では、トランジスタS1の ゲートに供給された行パルスによってトランジスタS1をスイッチオン状態とす るが、電流は関連する第2トランジスタS2がその基準導体1,2,3または4 に供給される基準電圧によって導通状態となるまで、このトランジスタS1を経 て流れない。 図9の各画素のトランジスタS1およびS2は直列に接続する。これら直列接 続のトランジスタS1およびS2は双方でデバイス素子8をその列導体11に、 従って(トランジスタS1のゲートを経て)その行導体21に結合する。しかし 、デバイス素子8を1つのトランジスタS2のみを経てその列導体11に結合す るようにした変更例も可能である。デバイス素子8はトランジスタS1を経てそ の行導体21に結合する。デバイス素子8は2つのスイッチングトランジスタS 1およびS2間の接続点に結合することができる。 図7は基準導体1,2,3または4の1つのみが分割列導体11の各対と分割 行導体21の各対との間に存在するアレイの導体に対する特に簡便なレイアウト を示す。しかし、他の配列も可能である。従って、例えば、図8は2つの基準導 体1および4が分割行導体21の各対間に存在する配列を示す。この図8の配列 は4つの共通ライン1〜4を有する図3の4画素群アレイ配列を採用することが できる。この図3の配列は5つの共通ライン1〜4および30を有する図9の4 画素群アレイ配列を採用することもできる。後者の場合には、感光デバイス素子 8の共通バイアスライン30を任意の共通導体1〜4をその間に有さない(例え ば、図8の導体11bおよび11cのような)分割列導体11の交互の対間に存 在させることができる。 像センサは図1〜9につき今までに説明下が、電子装置は異なる型、例えばデ ィスプレイ装置とすることができる。この場合には、ディスプレイ8は液晶ディ スプレイの画素とすることができる。従って行導体21は行毎にバイアスされた ディスプレイ素子の行を逐次アドレス指定する走査ラインとする。基準導体1, 2,3および4は、行導体21のディスプレイ8のいずれを分割列導体11に接 続すべきかを選択するイネーブルラインとする。列導体11は選択された画素素 子8にデータを供給してこの画素素子の表示強度を決めるデータラインとする。 像センサまたはディスプレイの代わりに走査ライン21、データライン11およ びイネーブルライン1,2,3,4を有し、本発明に従って構成されたアレイを 用いてメモリ素子または温度感知装置を形成することができる。図5および6は 薄膜回路技術を用いて電子装置を形成することを示したが、任意の他の好適な技 術を用いて所望の特定の装置を形成することができる。 行導体21および列導体11並びに基準導体1〜4は図面に示すように水平方 向および垂直方向に延在させる必要はない。列導体21を垂直方向に延在させる とともに列導体11を水平方向に延在させることができる。即ち、装置は図1, 3,5および7〜9に示す配列を90度回転させるようにした配向で用いること ができる。また、行導体21、列導体11および基準導体1〜4は互いに垂直と する必要はなく、任意の好適な幾何学的形状および配列のものを用いることがで きる。 アレイ配列のダイオード8,S1およびS2の全部の配向を図1,3および5 の配向とは逆とし得ることはもちろんである。この場合には装置を駆動するに必 要な電圧の極性を適当に変化させることはもちろんである。スイッチング素子を 制御素子として形成する場合にはこれら制御素子は簡素な接合ダイオードとする 必要はないこと明らかである。これがため、ここに云う“制御素子”とは非対称 特性を有し、一方向(逆方向)にできるだけ低い電流を通過させ、他の方向(順 方向)に所望の電流を通過させるようにした任意の素子を意味するものとする。 同様に、像センサの感光素子8はダイオードとする必要はなく、これらを照射 時に電流を通過せしめる他の型の感光装置とすることができる。従って、例えば 、感光ダイオードの代わりに例えば酸化鉛できる形成され各々が適切な容量と並 列な光導電体を用いることができる。或は又、像センサアレイのディスプレイ8 を光感応トランジスタで形成することができる。 本発明は上述した例にのみ限定されるものではなく、要旨を変更しない範囲内 で種々の変形や変更が可能である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI H01L 29/786 7809−2K H01L 31/10 A 31/10 【要約の続き】 を分割してデバイス素子(8)が逆配向される必要なく 且つスイッチング素子(S1およびS2)が逆導電型と する必要なくあるいは逆極性パルスで駆動する必要のな いようにする。スイッチング素子(S1およびS2)は 薄膜ダイオードのように少ない処理工程で製造すること ができる。さらに、デバイス素子(8)は列導体(1 1)および行導体(21)の双方を分割して、アレイの 列導体および行導体の双方の数を減少する。これがた め、デバイス素子(8)はアレイを貫通する4つの個別 の基準導体(1,2,3,4)と相俟って隣接列および 隣接行の対において4つの画素(10A,10B,10 C,10D)の群に配列する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.行および列に配列され、行導体および列導体の双方に結合されたデバイス素 子のアレイを具え、このデバイス素子の各行を列導体に供給される電圧によって アドレス指定可能とし、一行の各デバイス素子を第1スイッチング素子を経て関 連する行導体に結合し、デバイス素子のアレイを隣接する列の対に配列し、その 各対においてデバイス素子によって列導体を分離し、両列のデバイス素子を結合 するようにした電子装置において、各対の一列の行の各デバイス素子を各第2ス イッチング素子を経て他の基準導体に結合し、供給される電圧によってオン状態 にバイアスされる際に第1および第2スイッチング素子を導通状態とし、他に異 なる基準導体に異なる基準電圧を供給するとともにアドレス指定電圧を行導体に 供給する手段を設けて各対の選択された行および選択された列に関連するスイッ チング素子のみを導通可能とすることを特徴とする電子装置。 2.基準導体の少なくともいくつかを隣接列導体間のスペースに前記アレイを横 切って長手方向に延在させて隣接列導体の各対を前記基準導体の各々1つによっ て離間することを特徴とする請求項1に記載の電子装置。 3.前記アレイは4つの群に配列されたデバイス素子を具え、各群は列導体を分 離する一対の隣接列および行導体を分離する1対の隣接行とを具え、各群の4つ のデバイス素子は1つの行の第1および第2デバイス素子並びに前記対の隣接行 の第3および第4デバイス素子を具え、第1および第2デバイス素子をそれぞれ 第2スイッチング素子を経て第1および第2基準導体にそれぞれ結合し、第3お よび第4デバイス素子をそれぞれ第2スイッチング素子を経て第3および第4基 準導体にそれぞれ結合するようにしたことを特徴とする請求項1または2に記載 の電子装置。 4.第2および第3基準導体は隣接列導体間のスペースに前記アレイを横切って 長手方向の延在させて隣接列導体の各対を前記第2および第3基準導体の各々に よって分離するとともに第1および第4基準導体を隣接行導体間のスペースに前 記アレイを横切って長手方向の延在させて隣接行導体の各対を前記第1お よび第4基準導体の各々1つによって離間することを特徴とする請求項3に記載 の電子装置。 5.前記第1および第2スイッチング素子は供給電圧により順方向にバイアスさ れる際に電流を通過せしめる整流素子とし、デバイス素子をその分離された列導 体と第1および第2整流素子間の接続点との間に結合することを特徴とする請求 項1〜4の何れかの項に記載の電子装置。 6.前記アレイのデバイス素子全部に関連する第2整流素子は基準導体に結合す る際に同一方向に配向するすることを特徴とする請求項5に記載の電子装置。 7.前記アレイのデバイス素子全部に関連する第1整流素子は行導体に結合する 際に同一方向に配向するすることを特徴とする請求項6に記載の電子装置。 8.前記整流デバイス素子は薄膜ダイオードを具えることを特徴とする請求項5 〜7の何れかの項に記載の電子装置。 9.前記第1および第2スイッチング素子は薄膜トランジスタを具え、前記デバ イス素子は前記第1および第2トランジスタの双方を経てその分離列導体に結合 し、関連する行導体を第1トランジスタのゲートに結合し、基準導体を第2トラ ンジスタのゲートに結合するようにしたことを特徴とする請求項1〜4の何れか の項に記載の電子デバイス 10.前記アレイのデバイス素子全部を分離列導体に結合する際に同一方向に配向 するすることを特徴とする請求項1〜9の何れかの項に記載の電子装置。 11.前記デバイス素子の各々はある作動モードにおいて入射光に応答して電荷を 蓄積する感光素子を具えることを特徴とする請求項1〜3の何れかの項に記載の 電子装置。
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