JP3804979B2 - アレイを具える電子装置 - Google Patents

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Description

本発明は電子装置、特に限定されるものではないが、デバイス素子のアレイを具えると共に列マルチプレクサ回路を有する薄膜回路を有する電子装置に関するものである。デバイス素子はアレイの列を流れる電流を発生し、例えば大面積のイメージセンサの光感知ダイオード、又は熱撮像装置の温度感知素子のような他の形式のデバイス素子とすることができる。
公開された欧州特許出願第0633542号には、行及び列に配置され行導体及び列導体に接続されているデバイス素子のアレイを具える電子装置が開示されている。列導体はグループ状に配置され、各グループはそれぞれ共通の端子を有している。列マルチプレクサ回路は各グループの列導体を共通の端子にそれぞれ結合する。この欧州特許出願第0633542号の第3図には、このような装置の特に有益な形態が開示されている。このデバイスはイメージセンサであり、そのデバイス素子は光感知ダイオード8aとスイッチングダイオード8bを具える。列導体10は光感知ダイオード8aから列マルチプレクサ回路を介してアナログ信号を送出している。列マルチプレクサ回路は光感知ダイオード11b及びcを具え、これらのダイオードは対応する光源からの照明光により阻止状態と導通状態との間で切り換えられている。従って、この欧州特許出願第0633542号に記載されている発明により、列マルチプレクサ回路をアレイのデバイス素子と同一の技術形態を利用してダイオードと共に製造することができる。この図3には、列マルチプレクサ回路により電荷感知増幅器21に結合された3本の列導体のグループが開示されている。一方、この欧州特許出願第0633542号の列マルチプレクサ回路は光源をマルチプレクサ回路の光感知ダイオードに整列させる必要がある。しかしながら、用いる光源の形式に応じて、光源の切り換えによりマルチプレクサ回路のスイッチングに不所望な遅延が生じてしまう。
米国特許第4518921号には、2個の電流源間に第1及び第2の枝路を有するダイオードブリッジを備え、各枝路がその枝路の各接続部において一緒に結合され電流源間において互いに同一の極性を有するダイオード対を有するサンプルホールド回路が開示されている。このサンプルホールド回路の入力部は第1の枝路の接続部に結合され、出力部は第2の枝路の接続部に結合されている。制御ラインからスイッチング電圧が供給され、2個の電流源がブリッジの第1の状態においてオンに切り換えられ、第2の状態においてオフに切り換えられ、ダイオードブリッジの第1の状態において信号がサンプリングされている。ダイオードブリッジの第1のオン状態において、電流源はダイオードブリッジのダイオードを介して電流を発生し、この電流源には適切な電圧が印加されている。
電源を用いて米国特許第4518921号のダイオードブリッジに電圧を印加し電流を取り出すことにより、ダイオードブリッジの電圧レベルを平坦にすることができ、この結果出力電圧が入力電圧に追従することができる。このサンプルホールド回路は、さらに第1の2個の電流源と並列に接続した第2の2個の電流源を備え、これら電流源からダイオードブリッジのダイオードと反対極性のダイオード対を有する第2の枝路を介して電流を供給している。この場合、ブリッジがオフのとき、第2の2個の電流原がオンにされて第3の枝路を介して電流が流れる。この第3の枝路はオフの期間中にブリッジの両端間の電圧を一定に維持するように作用するが、入力電圧レベルを固定しない。これは、定電流を固定抵抗を経るように駆動することにより達成される。オンの期間中、出力電圧は入力電圧に追従する。この理由は、出力部が、出力電圧が入力電圧に追従するように充電し又は放電する容量性負荷に結合されているからである。
本発明は、光学的なスイッチングではなく電気的なスイッチングを利用するマルチプレクサ回路を有するデバイス素子のアレイを提供する。本発明は、ダイオードブリッジ回路に対する電流源をマルチプレクサ回路スイッチング素子として用い、電気的な素子のアレイの多数の列端子を単一の端子に切り換え接続することに関するものである。これにより、多数の列端子の各々がサンプリング回路を有し、これらサンプリング回路の1個だけがターンオンして(ブリッジの第1の状態に)マルチプレキシング動作を行なう電気的なデバイスが構成される。
イメージセンサで生ずる課題は、列中の画素間の干渉(垂直クロストーク)である。この課題は、電流が照明された画素から発生し、選択された行に対して発生した電流が関連する列に自由に流れ込むために発生する。関連する列スイッチがターンオフすると、これらの電流が散逸できる経路が存在せず、この結果これらの電流がこの列上の他の行の画素に対して電圧バイアスを形成してしまう。
従って、本発明の第1の概念としての特有の目的は、上記電流を散逸させることにより、このようなアレイにおける垂直クロストークを低減することにある。米国特許第4518921号のサンプルホールド回路は、オフ状態において固定電流が第3の枝路を介して駆動され、付加的な電流を適切に処理することができないため、この目的を達成することができない。
ダイオードブリッジのダイオードは逆方向バイアスし、従っていかなる電流をも流さない。
本発明の第1の見地に立てば、行及び列に配置されると共に行導体及び列導体に結合されているデバイス素子のアレイであって、列導体が少なくとも1個のグループとして配置され、各グループがそれぞれ共通の端子を有するデバイス素子のアレイと、
各グループの列導体を共通の端子にそれぞれ結合する列マルチプレクサ回路であって、各列導体のマルチプレクサ回路が2個の電流源間に第1及び第2の枝路を有するダイオードブリッジをそれぞれ有し、各枝路が、その接続部において一緒に結合したダイオード対をそれぞれ具えると共に前記電流源間において他方の枝路のダイオード対と互いに同一の極性を有し、各列導体が第1枝路の接続部に結合され、前記共通の端子が第2の枝路の接続部に結合され、前記ダイオードを前記ブリッジの第1の状態における順方向バイアスとブリッジの第2の状態の逆方向バイアスとの間で切り換えるスイッチング電圧を供給する制御ラインが前記ダイオードブリッジに結合されている列マルチプレクサ回路と、
前記各列導体にそれぞれ結合され、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体の電位をクランプして、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体と共通の端子との間で信号を伝送させ、前記ダイオードブリッジの第2の状態において列導体の電位をクランプするクランプ回路とを具える電子装置を提供する。
ブリッジの第2の状態において列導体の電位がクランプされるので、スイッチがターンオフしたとき入力部の電圧が一定に維持される。さらに、各列で発生し列導入に流れ込むことができる電流はクランプスイッチの電圧源に送出することができる。従って、この電圧源は、列導体を流れる電流に対してシンクを構成する。イメージセンサの場合、ターンオフ(スイッチの第2の状態に)されたスイッチを有する列中の選択された画素により発生した電流は、この列の他の画素に対してバイアスする代わりに、電圧ラインに流れ込む。
電流信号を発生する装置、すなわちイメージセンサの画素のような電荷蓄積素子についての重要な別の概念は、電流源からダイオードブリッジに供給されるべき電流を切り換えられる最大電流よりも大きくする必要があることである(すなわち、最大電流が列端子に流れ込む)。例えば、電流源が照明されるフォトダイオードにより構成される場合、必要な電流をダイオードブリッジに供給しようとすると、不所望な大きなフォトダイオード区域が必要になるおそれがある。
本発明の第2の概念における目的は、少なくともこの値の電流をダイオードサンプリング回路の電流源により供給する必要があるため、列端子に流れ込む最大電流を減少させる電荷蓄積素子のアレイと共に用いられる上述した形式のマルチプレクサ回路を提供することにある。
本発明の第2の見地に立てば、行及び列に配置されると共に行導体及び列導体に結合されている電荷蓄積素子のアレイであって、各行の素子の電荷蓄積素子信号を各列導体に供給する行信号が行導体に供給され、前記電荷蓄積素子信号が各列導体を流れる電流を発生させ、列導体が少なくとも1個のグループに配置され、各グループがそれぞれ共通の端子を有する電荷蓄積素子のアレイと、
各グループの列導体を共通の端子にそれぞれ結合する列マルチプレクサ回路であって、各列導体のマルチプレクサ回路が2個の電流源間に第1及び第2の枝路を有し、各枝路が、その接続部において一緒に結合したダイオード対をそれぞれ具えると共に前記電流源間において他方の枝路のダイオード対と互いに同一の極性を有し、各列導体が第1枝路の接続部に結合され、前記共通の端子が第2の枝路の接続部に結合されている列マルチプレクサ回路と、
ダイオードブリッジに結合され、前記ダイオードをブリッジの第1の状態における順方向バイアスとブリッジの第2の状態の逆方向バイアスとの間で切り換えるスイッチング電圧を供給し、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体と端子との間で信号を伝送させる制御ラインと、
ベース電圧に対してパルス開始直後の第1の電圧値からパルス終了直前の第2の電圧値まで振幅が上昇する電圧パルスの形態の行信号を発生させる手段とを具える電子装置を提供する。
行信号の電圧振幅の立上は均一にすることができ、この行信号はパルスの開始時に振幅が立上がるステップ及びパルスの終了時に振幅が立下がるステップを含むことができる。
本発明によるマルチプレクサ回路は、ブリッジ及びクランプスイッチ(本発明の第1の概念の)の回路素子(例えばダイオード)をアレイのデバイス素子のために用いる技術形態と同一の技術形態を用いて容易に構成することができる。
これらの本発明によるマルチプレクサ回路は、デバイス中の小さいダイオードキャパシタンス値及び寄生容量値により決定される高速のスイッチング速度を有することができる。この結果、光学的なスイッチングと関連する遅延を回避することができる。このマルチプレクサ回路は、特に(これに限定されないが)アレイ自身が同一の技術形態のダイオードで構成される場合、アレイと共に集積化するのに良好に適合する。従って、このマルチプレクサ回路はイメージセンサアレイの列導体と共に用いられるように設計することができる。共通の端子はデバイスの外部端子とすることができ、又はデバイスの内部回路素子の部分間の接続部とすることができる。
各列導体は1行以上のデバイス素子を有するアレイの一部を構成するので、本発明の第1の概念のクランプスイッチは、そのダイオードブリッジが第2の状態(すなわち、ダイオードブリッジが列導体と共通の端子との間での信号の伝送を阻止する)にある場合に、この列の各デバイス素子の動作を安定化する重要な役割を果たすことができる。従って、クランプスイッチはブリッジの第2の状態において列導体の電位をクランプするので、例えばこの電位は、その列の全てのデバイス素子に供給され、その列のアドレスされた行のデバイス素子からの信号電流に起因する変化及び/又はその列のアドレスされなかった行の他のデバイス素子からのリーク電流に起因する変化を受けることはない。この電位変化はその列のデバイス素子のバイアス条件を変化させ、この結果デバイスの動作としてデバイス素子に擬似信号を発生させてしまう。
種々のクランプ回路を用いることができる。例えばアレイのデバイス素子が薄膜トランジスタで構成される場合、クランプスイッチは1又はそれ以上の薄膜トランジスタで構成することができる。この場合、例えばクランプスイッチは、各列導体と基準電圧源との間にソース電極及びドレイン電極を有する絶縁ゲート薄膜トランジスタとすることができる。このトランジスタは、その絶縁ゲートに供給される制御信号によりオン及びオフに切り換えられる。
クランプラインはデバイスの列を横切るように延在することができ、このクランプスイッチは各列導体と基準電圧にあるクランプラインとの間に結合することができる。クランプスイッチはダイオードブリッジから離れた位置の列導体に結合することができる。一方、制御回路及びデバイス回路のレイアウトを簡単化するため、クランプ機能をマルチプレクサ回路に組み込むことが有益である。この場合、クランプ回路は列マルチプレクサの一体化された部分を構成する。導体ラインの数を減少させるため、クランプ回路の動作は、クランプ回路をダイオードブリッジの各制御ラインの少なくとも1本の制御ラインに(直接的又は間接的に)結合することにより制御することができる。列マルチプレクサの回路素子及び/又はデバイスアレイの回路素子と同一の技術形態を用いてクランプスイッチを形成するのが好都合である。列マルチプレクサはそのブリッジ回路にスイッチングダイオードを含む。この場合、本発明の特に有益で好都合な形態として、各列導体の列マルチプレクサ回路がブリッジダイオードの極性と反対極性で制御ライン間に結合された1対のクランプダイオード対で構成することができ、クランプダイオードは列導体との接続部に一緒に結合されてブリッジが第2の状態のときに列導体の電位をクランプすることができる。
電荷蓄積素子で発生し各列導体を流れる電流は蓄積素子再充電電流を構成する。電荷蓄積素子が光感知ダイオードで構成される場合、再充電電流は、放電したキャパシタの再充電電流を表わすので、比較的高くなる。本発明の第2の概念によれば、デバイス素子のアレイに供給される行パルスの形態により、列導体を流れる最大電流を最も小さくすることができ、この結果電流源から供給されダイオードブリッジを流れる電流を減少させることができる。この行パルスは、用いる画素の形態に応じて正又は負とすることができる。
異なるグループの列導体について共通の制御ラインをふり分けてデバイスの制御ラインの数を減少させることは、列マルチプレクサ回路のダイオードブリッジ及びクランプスイッチ(本発明の第1の概念の)について極めて好適である。
電子装置の製造における製造工程を少なくするため、アレイのデバイス素子が列マルチプレクサ回路のダイオードと同一の技術形態のダイオードで構成することが有益である。同様な理由により、列マルチプレクサ回路の電流源は同一の技術形態で製造することが好ましい。ある好都合な形態として、列マルチプレクサ回路の電流源は、ブリッジの第1及び第2の枝路のダイオードを構成する非光感知ダイオードと同一の技術形態の光感知ダイオードで構成する。光感知ダイオードを電流源として用いたが、勿論光スイッチングは全く不要である。これら電流源の光感知ダイオードはデバイスの動作中一定の強度で照明することができる。本発明の第2の概念により発生する行パルスは、照明されたフォトダイオードから発生する電流を最小値まで減少させるので、これによりフォトダイオードの必要なサイズが減少する。
本発明は、アレイのデバイス素子及び列マルチプレクサ回路のダイオードが共通基板上に形成された薄膜ダイオードの形態をした大面積電子装置に好適である。
本発明は、電子装置を動作させるに際し、行電圧信号を電荷蓄積素子の行に供給してこの行の素子から列導体にそれぞれ信号を送出し、列マルチプレクサ回路を駆動して、選択された列信号を共通の端子に送出し、前記行電圧信号が、ベース電圧に対してパルス開始直後の第1の電圧値からパルス終了直前の第2の電圧値まで振幅が上昇する電圧パルスの形態の信号で構成した電子装置の駆動方法を提供する。
勿論、電子装置は本発明の両方の概念を組み合わせた構成を含むことができる。
図1は列マルチプレクサ回路を具える本発明のイメージセンサデバイスの一部の簡単な回路線図である。
図2は図1のマルチプレクサ回路の回路線図であり、この回路の第2状態での電流を示す。
図3は図2のマルチプレクサ回路の第1状態における電流を示す回路線図である。
図4から図6は種々の選択信号に対応したフォトダイオードの形態のイメージセンサデバイス素子についての充電特性を示す。
図7は薄膜技術により製造されたマルチプレクサ回路の一例の一部を示す断面図である。
勿論、全ての図面は線図的なものでありスケール通りに表示されていない。図4の断面図の一部の相対的な寸法及び比率は、図面を明瞭にするため拡大又は縮小されている。図1から図3の回路素子について、光感知フォトダイオードは輪郭として表示し、非光感知フォトダイオードについては全体を黒で表示されている。種々の実施例における対応する部材又は同一の部材には一般に同一符号が付されている。
図1及び図2の電子装置は、N,(N+1)---行及びM,(M+1)---列に配置され行導体及び列導体A及びBにそれぞれ接続されたデバイス素子2及び3のアレイ1を具える。列導体Bは、グループ(M),(M+1),(M+2)及びグループ(M+3),(M+4),(M+5)のようにグループ毎に配置する。各グループは共通の端子5をそれぞれ有する。列マルチプレクサ回路C(M),C(M+1)---は各グループの列導体Bを各共通の端子5(1),5(2)---に結合する。これら列マルチプレクサ回路Cは、図1においては回路ブロックとし簡単に示し、本発明による各回路ブロックの回路構成は図2に示す。
図2に示すように、各列導体についての列マルチプレクサ回路CはダイオードブリッジSD3〜SD6を具え、これらダイオードブリッジは2個の電流源21と22との間に第1及び第2の枝路11及び12を有する。枝路11はこの枝路の接続部13に一緒に結合したスイッチィングダイオードSD3及びSD4の対を有する。枝路12は接続部14に一緒に結合したスイッチィングダイオードSD5及びSD6の対を有する。全てのダイオードSD3〜SD6は電流源21と22との間において同一の極性を有する。このマルチプレクサ回路の各列導体Bは第1枝路11の接続部13に結合し、共通の端子5は第2枝路12の接続部14に結合する。制御ライン16及び17は電流源21及び22を介してダイオードブリッジSD3〜SD6に結合されてスイッチィング電圧を供給し、ダイオードSD3〜SD6をブリッジの第1の状態の順方向バイアスと第2の状態の逆方向バイアスとの間で切り替える。このようにして、ダイオードブリッジの第1の状態において信号が列導体Bと共通端子5との間で伝送され、ダイオードブリッジの第2の状態においては信号は伝送されない。
図6及び図7は行の素子をアドレスするために行導体6に供給される行パルス波形を示し、これにより列導体Bを流れるピーク電流を減少させることができ、ごの結果電流源21及び22により供給すべき電流をを減少させることができる。
一例として、図1はイメージセンサの形態のアレイの実施例を示す。このアレイの各画素は既知の方法で構成することができる。図1は、欧州特許出願公開第0633542号と同様に、非光感知スイッチングダイオード3に直列に接続した光感知ダイオード2を具えるこれらのダイオード2及び3はデバイス基板40上のn−i−p薄膜ダイオードとすることができる(図4)。図1に示すように、これらダイオードのアノードは画素内で一緒に結合され、そのカソードは行及び列導体N及びMに結合する。このデバイスは既知の形態の行駆動回路36を具え、これによりライン走査パルスを行導体A(N),A(N+1),----に順次供給してアレイの行N,(N+1),----を順次アドレスする。このライン走査パルスはアドレスされた行のスイッチングダイオード3を順方向バイアスするように作用する。本発明は、後述するように、ライン走査パルスの形態にも関連する。
光感知ダイオード2からの光発生信号はそのスイッチングダイオードを順方向にバイアスし、各列マルチプレクサ回路Cを介して列導体B上において読み出される。電荷感知増幅器35を共通端子5に接続して、この光発生信号を既知の方法で読み出す。
電荷感知増幅器35は、アレイ1及び列マルチプレクサ回路Cが薄膜回路により形成されているデバイス基板40から分離したモノリシックシリコン集積回路として形成することができる。従って、共通端子5はデバイス基板40の出力端子とすることができる。同様に、行駆動回路36もモノリシックシリコン集積回路技術(デバイス基板40から分離されている)として形成することができ、行駆動回路36と行導体Aとの間の接続部6もデバイス基板40の出力端子とすることができる。一方、行駆動回路の少なくとも一部及び/又は電荷感知増幅器35を薄膜回路として形成することもできる。従って、これらの回路部分はアレイ1と同一のデバイス基板40上に形成することができ、この場合端子5及び6はデバイス基板40上の薄膜回路の内部回路接続部となる。
図1に示すように、列導体Bの異なるグループについての列マルチプレクサ回路C(M)及びC(M+3),等----は共通の接続ライン16及び17(Vx1,Vy1,Vx2,Vy2----)を分担してデバイス基板40のレイアウトの制御ラインの本数を低減する。これら個別の制御ライン16及び17はデバイス基板上の出力端子まで延在することができ、又は同一のデバイス基板40上に薄膜回路として形成した制御回路に接続することができる。制御回路(デバイス基板40上に集積化され、又は外部モノリシック集積回路として形成されている)は電圧パルスVx及びVyの列を発生して各グループ内で列マルチプレクサ回路を順次切り換える。
図1においては3個の行及び列だけが図示されている。本発明によるイメージセンサは典型的には数百又は数千個の行及び列を有することができる。図1は3個のグループとして配置した列導体Bを示す。一方、本発明のイメージセンサは、グループ化されマルチプレクサ回路Cにより共通端子5に結合されている3個以上の列導体を有することができる。あるグループの列は共通端子5に順次読み出されるので、アレイについての読出し速度は、各グループの列の数に応じて遅くなる。従って、所定の数の列を有するイメージセンサの場合、グループの数は所望の読出し速度に応じて選択する。従って、
Figure 0003804979
従って、10個のグループに配置された300本の列を有するアレイの場合、30個の列出力部5と20本の制御ライン16及び17が存在する。
図2は各列マルチプレクサ回路Cの回路構成を示す。このマルチプレクサ回路の回路素子はアレイ1のデバイス回路素子と同一の技術形態のものとなるように選択する。従って、本例の場合マルチプレクサ回路C及びアレイ1の両方について薄膜ダイオードを用いる。これら全てのダイオードは同一の処理工程を用いてデバイス基板40上に同時に形成することができる。
図2の回路において、電流源21及び22はフォトダイオードPD1及びPD2により形成する。これらフォトダイオードPD1及びPD2の面積はスイッチングダイオードSD1〜SD6の面積よりもはるかに大きい。従ってフォトダイオードが照明される強度レベルに応じて、フォトダイオードPD1及びPD2の面積はアレイ1のフォトダイオード2の表面の10〜100倍程度とすることができる。一方、後述するように、適切な行信号波形を用いてフォトダイオードのサイズを小さくすることも可能である。フォトダイオードPD1及びPD2は一定に照明され、これにより光スイッチングの必要性が回避される。照明光源はフォトダイオードPD1及びPD2に一定の光強度が与えられるように配置する。
列マルチプレクサ回路も、各列導体Bに結合されダイオードブリッジSD3〜SD6の第2の状態(非導通)において列導体Bの電位をクランプするクランプスイッチSD1,SD2を具える。図2及び図3に図示した特定の実施例において、このクランプスイッチは、制御ライン16と17との間に結合されブリッジダイオードSD3〜SD6の極性と反対極性を有するクランプダイオードSD1とSD2との対を具える。これらクランプダイオードSD1及びSD2は接続部15において列導体5と共に一緒に結合され、ブリッジが第2の状態になったとき(すなわち、ブリッジダイオードSD3〜SD6が逆方向バイアスされ信号の伝送を阻止するとき)列導体の電位をクランプする。
列マルチプレクサ回路Cは、制御ライン16及び17に供給される電圧パルスVx及びVyにより第1の状態と第2の状態との間で切り換えられる。動作を簡単にするため、パルスVx及びVyは同一の大きさの正及び負のレベルの間で切り換わり、各対の2個のダイオード(SD1,SD2),(SD3,SD4)は同一の導通特性を有し、列導体Bは回路の第1及び第2の両方の状態において零電位となるものとする。この動作は以下の通りである(マルチプレクサ回路C(M)を考慮する)。
回路の第1状態
x=正(例えば、+5V)、Vy=負(例えば、−5V)
これらは、列導体B(M)上の信号を読み出すことを望む場合、マルチプレクサ回路(M)の制御ライン16及び17が切り換えられる電圧レベルに対応する。
電圧レベルVx及びVyがこの極性の場合、クランプ間のスイッチダイオードSD1及びSD2は逆方向バイアスされてOFF状態になり、ブリッジのスイッチングダイオードSD3〜SD6は順方向バイアスされてON状態になる。このマルチプレクサ回路Cの状態において、一定に照明されたフォトダイオードPD1及びPD2はダイオードブリッジSD3〜SD6に定電流を供給し、この特定の列のアドレスされた行の画素が読み出される。
この場合、列導体Bを流れる電流Iiは出力電流i0としてダイオードスイッチSD3〜SD6から列増幅器35に流れる。この動作を図3に基づいて説明する。図3において、
soはPD1により発生した電流
siはPD2による電流降下
xは接続部18と13との間を流れるブリッジ電流
yは接続部19と13との間を流れるブリッジ電流
zは接続部18と14との間を流れるブリッジ電流
wは接続部14と19との間を流れるブリッジ電流
接続部18において、iso=ix+iy (3)
接続部19において、isi=iy+iw (4)
接続部13において、iy=ix+ii (5)
接続部14において、iz−iw=io (6)
式(7)を考慮しizとiwを置換すると、
so−ix−isi+iy=io
しかし、(iy−ix)=iiであるから、
so+ii−isi=io
ダイオードPD1及びPD2の電流出力が同一であるとすると、
so=isi
この結果
i=io (7)
すなわち、ブリッジSD3〜SD6の接続部14からの出力電流は接続部13の入力電流に等しい。この結果はダイオードブリッジのダイオードSD3〜SD6の各スイッチング特性から独立している。従って、ダイオードを正確に整合させる必要はない。
回路の第2状態
x=負(例えば、−5V)、Vy=正(例えば、+5V)
電圧レベルVx及びVyをこの極性にすると、ブリッジのスイッチングダイオードSD3〜SD6はOFF状態に逆方向バイアスされ、クランプ回路のスイッチングダイオードSD1及びSD2はON状態に順方向バイスされる。マルチプレクサ回路C(M)がこの状態にある場合、例えば別のマルチプレクサ回路C(M+1)は、例えばVX2及びVy2のような別の制御信号で適切に制御することにより前述した第1の状態に切り換わる。
一定照明による各フォトダイオードPD1及びPD2中の光発生電流の結果として、各フォトダイオードPD1及びPD2はその両端間で逆方向バイアスの極性の約300mVの電位降下を発生する。ダイオードブリッジSD3〜SD6のバイアス条件の一層高い電圧レベルVx及びVyとすることにより優勢になる。このマルチプレクサ回路Cの状態において、ダイオードブリッジSD3〜SD6はその列導体Bから端子5にいかなる信号をも伝送しない。ブリッジSD3〜SD6の出力電流(i0)つまりこの特別な列は読み出されない。
スイッチングダイオードSD1及びSD2は、列導体Bを一定の電位にクランプする電圧クランプとして作用する。Vx=−VyでSD1及びSD2が同一のON特性を有する場合、この定電位は零ボルトになる。この列導体Bに結合されている種々の行のデバイス素子2,3を考慮することにより、クランプ効果は最良に理解することができる。従って、例えば図2のマルチプレクサ回路を図1のマルチプレクサ回路C(M)とすることができ、行Nの画素は行導体6(1)に対する正の電位走査パルスによりアドレスすることができる。この場合、N行M列のスイッチングダイオード3は順方向バイアスされ、M列の他の全ての行(N+1)、(N+2)等のスイッチングダイオード3は逆方向バイアスされる。このスイッチングダイオード3は順方向バイアスされるが、画素N,Mの画像信号は電荷感知増幅器により読み出されない。この理由はマルチプレクサ回路C(M)が阻止状態にあるためである。列Mの他の行のスイッチングダイオード3は逆方向バイアスされるが、依然として微小なリーク電流がこれらのダイオードを流れる。ダイオードSD1及びSD2のクランプ状態において、列導体N(M)に存在する電流iL(画素N,Nの画像信号及び列Mの他の行のスイッチングダイオード3を流れるリーク電流により生ずる)は順方向バイアスされたダイオードSD1及びSD2を介して安全に取り出される。従って、図2において、
接続部15において、i1=j2+iL (8)
ここで、i1及びj2は順方向バイアスされたクランプダイオードSD1及びSD2をそれぞれ流れる電流である。これらの順方向バイアスされたクランプダイオードSD1及びSD2がない場合、これらの電流iLにより列導体の電位が変化しM列のアドレスされない行(N+1),(N+2)等の画素のバイアス条件が変化する。これらアドレスされない行(N+1),(N+2)等の画素はその後にアドレスされ、擬似信号(これらの画素に入射する画像照明光を表していない)が変化したバイアス条件の結果として読み出されるおそれがある。この不所望な効果は、クランプダイオードSD1,1SD2を設けることにより回避される。
従って、クランプスイッチはリーク電流が選択された行の画素の光電流を低下させる。この理由は、電圧源が設けられることになるからである(電流源により駆動されるのではなく)。この電圧源によりダイオードSD1,SD2を流れる電流の変化をリーク電流に吸収させることができる。これにより、クランプスイッチは、この列の全てのデバイス素子に印加される電位が変化を受けないようにこのブリッジの第2の状態の列導体の電位をクランプすることができる。
列電位が定電位に保持されるようにリーク電流を除去できるものであれば、他の形態のクンプ回路を用いることができる。この定電位は、出力が電荷感知増幅器により保持される電位に対応する。アレイのデバイス素子が薄膜トランジスタにより構成される場合、クランプスイッチを1個又はそれ以上のトランジスタで構成することができる。この場合、例えばクランプスイッチは、ソース及びドレイン電極が列導体と基準電位源との間に結合されている絶縁ゲート薄膜トランジスタとすることができる。このトランジスタは、その絶縁ゲートに供給される制御信号によりオン及びオフに切り換えることができる。クランプラインはデバイスの列を横切るように延在することができ、クランプスイッチは各列導体と基準電圧にあるクライアントラインとの間に結合することができる。クランプスイッチは列マルチプレクサ回路と一体化されたものとして示すが、ダイオードブリッジから離れた位置の列導体に結合してもよい。図示の実施例において、クランプスイッチの動作は、このクランプスイッチを各ダイオードブリッジの制御ラインに結合することにより制御したが、勿論スイッチは個別に制御することもできる。
ダイオードブリッジマルチプレクサ回路のオン状態と関連する上記式(7)は、フォトダイオード電流iso及びisiが入力電流ii及び出力電流ioよりも大きい場合にだけ満足される。これは、電流は一方向にだけしか流れないため、ダイオードブリッジを流れる全ての電流が正の値を必要があるからである。
式(3)と(6)とを組み合わせると、
so=io+iw+ix
つまりiso>io (9)
式(4)と(5)とを組み合わせると、
si=i1+iw+ix
つまりisi>ii (10)
入力電流は、画素のフォトダイオード自己キャパシタンスを再充電する電位電流である。この充電電流は再充電の期間中に変化し、積分期間中に画素のフォトダイオードの照明レベルに依存する。式(9)及び(10)の結果として、フォトダイオードPD1及びPD2はキャパシタ充電電流に少なくとも等しい十分な電流を発生させる必要があり、これはフォトダイオードPD1及びPD2についての最小寸法を規定するものである。本発明はダイオードブリッジ回路網により切り換えられるべきピーク電流を減少させるようにスイッチングを動作させる方法を実現することにある。
図1に示す画素回路が約125dpiの解像力を有するイメージセンサとして用いられるように構成されている場合、画素間のピッチは約200μmになる。これは、イメージセンサとして比較的解像力を表し、従って比較的大きい画素のフォトダイオードを示す。この結果として、フォトダイオードキャパシタンスは比較的大きく、従って再充電電流も大きくなる。従って、以下の分析は再充電電流が大きくなることは最悪のケースの評価を示すものとする仮定に基づいている。200μmの画素ピッチの場合、各画素のフォトダイオードは140μm×140μmの面積を占めることができる。この寸法の典型的な薄膜フォトダイオード構成は約4PFのキャパシタンスを有する。
画素の成分期間中、各画素が列導体からそれぞれ分離されている場合フォトダイオードに入射した光はフォトダイオードの自己キャパシタンスを放電させる効果を有している。行導体が各画素行を選択するように駆動される場合、行導体が電流を供給してフォトダイオードの自己キャパシタンスを再充電し、この再充電電流は各スイッチングダイオードを経て列導体Bに流れ込む。これはマルチプレクサ回路のフォトダイオードPD1及びPD2により発生されるべき最小電流を決定するキャパシタンス再充電電流の最大値となる。
図4は通常の矩形の行波形を用いるフォトダイオードの再充電特性を示す。図示のように、行波形は2.3m秒でハイのパルスになり(シミュレーションのため)0.1m秒の時間期間に亘ってハイを持続する。行電圧波形VRを図4Bに示し、ピーク電圧は3Vである。
行電圧波形の期間中、フォトダイオードキャパシタンスは再充電され、その再充電電流は電荷感知増幅器35により測定される。図4Bは、行パルスの間で種々の光強度でフォトダイオードを照明した状態におけるフォトダイオードVpHの両端間電圧を示す。曲線58は画素に対して最大の照明を行なった場合を示し、積分期間(行パルス間)の端部においてフォトダイオードキャパシタンスはほぼ完全に放電している。曲線50はフォトダイオードに対して低レベルの照明を行なった状態を示し、曲線52〜56は照明レベルを高くした状態を示す。行パルスがハイの場合にフォトダイオードキャパシタンスが再充電され、フォトダイオード両端間の電圧が増大する。フォトダイオード電圧は、スイッチングダイオード3の両端間の順方向バイアス電圧降下以下の行パルスの電圧レベルにほぼ対応する最大値に到達する(読み出し中、各列導体は0Vに維持されているものとする)。
行パルスの終端の後に、フォトダイオードの両端間電圧は照明レベルに応じて降下する。勿論、パルス間の時間は行パルスの期間よりもはるかに大きいので、図面を明瞭にするため図4に示す電圧降下レートは誇張して表示した。例えば、A−4のイメージスキャナにおいて、125dpiの解像力が得られる場合、約1000個の行を表し、各行パルスは0.1m秒目読し100m秒毎に繰り返えされる。
図4Bに示す曲線により、最大フォトダイオード充電電流を評価することができる。図4の場合、最大の照明曲線58は行パルスの立ち上がり縁に続いて急峻な応答を有し、再充電電流は式から計算することができる。
フォトダイオードキャパシタンスを約4PFとした場合、最大照明の図4の曲線58は、1μAの電流に対応する傾きdv/dtを有している。ここで、
I=C(dv/dt)
従って、図4に示す矩形の行波形を用いる場合、少なくとも1μAの電流を発生させるマルチプレクサ回路フォトダイオードが必要である。
5000オングストロームの真性層深さを有する非晶質シリコンダイオードは、0.68×10-15A/μm2/Luxの電流を発生する(580mmの波長の光の場合)。
典型的な100Luxの光で照明して必要な1μAの電流を発生させる場合、フォトダイオードの受光面積は14.7×106(μm)2が必要である。
一方、フォトダイオードPD1及びPD2は基板上に集積化されるので、フォトダイオードは基板の対向する端部に交互に配置することができるが、画素ピッチがフォトダイオードの最大間隔を規定する。従って、200μmの画素ピッチの場合フォトダイオードの最大間隔は400μmとなる。1μAの電流を発生させるのに必要なフォトダイオードの面積を得るため、この最大間隔は37mmのフォトダイオード長に対応する。
図4に示す通常の行アドレシングが適用される場合、マルチプレクサ回路ダイオードは基板の大部分の面積を占めることになる。本発明は、この大きな周囲面積を必要としないでマルチプレクサ回路を形成できる新規な行アドレシング技術を提供する。
図5及び図6は本発明による2個の取り得る行電圧波形を、図4で用いたモデルと同一のモデルを用いたフォトダイオード再充電電流の各分析と共に示す。同一の参照符号を用いて種々のフォトダイオード照明レベルの充電及び放電特性を表す。
図5Aに示す行波形は3.75Vのピークに達する鋸歯波形を有する。図5Bに示すように、この行波形の増大する最終電圧レベルにより、行波形の端部において同様な最大レベルに到達するフォトダイオード両端間電圧が生ずる。行パルスの電圧が徐々に増大することにより、図4に示す状態の行パルスの開始時に生ずるフォトダイオード電圧の鋭い立ち上がりが除去される。図5の場合、フォトダイオード電圧の増加より最大再充電電流が約150nAまで増大する。この結果、マルチプレクサ回路のフォトダイオードPD1及びPD2の対応する長さは5.5mmまで減少させることができる。線形性及び遅れに関する画素の性能は、急勾面の行選択電圧により端部だけが影響を受け、この端部の性能劣化は必要な場合行選択パルス長を約10〜20%増加させることにより回復させることができる。
図6は、行波形がステップ状成分と傾斜成分(鋸波)を有する別の行選択パルスについての分析を示す。行波形の初期電圧ステップの値及び傾斜部分の傾きを替えることにより、最大充電電流を最小にするための充電特性を得ることができる。明らかなように、最小ピーク充電電流は、行選択期間中に最大照明曲線58が均一に充電レベルに増大する場合に得られる。図6Aに示す行波形は、充電曲線58についてこの充電特性がほぼ得られる。この曲線の傾きは約90nAのピーク電流に対応し、対応するマルチプレクサ回路フォトダイオードPD1及びPD2のーつよう長は3.3mmである。
従って、本発明は、本発明による列マルチプレクサ回路の実際的な使用を促進する素子アレイの行アドレシング方法を実現する。正の行パルスを用いる例を図示したが、画素行を負の行パルスによりアドレスすることができる別の画素形態を用いることもできる。さらに、本発明の第2の概念による行信号は図5及び図6に示す形態に限定されず、行パルスの大きさの増加は図面に示すような均一なものに限定されない。代わりに、パルスは大きさが非線形に増大することができ、増大部分と一定レベル部分を含むこともできる。行電圧波形は、特定の電荷蓄積素子に対して流れるピーク電流を最小にするように設計すべきである。
図7は薄膜技術により製造される本発明のマルチプレクサ回路Cの特定の例を示す。この薄膜技術はアレイ1を製造するために用いる薄膜技術と同一であり、従って欧州特許出願公開第0633542号に記載されている技術と同一にすることができる。図4に示すように、この薄膜回路は、基板40上に形成する。この基板40は適切なガラス又はプラスチック材料で構成することができる。第1の導電層41(例えば、クロミウムから成る)を基板40上に体積し、エッチングによりパターニングしてダイオードPD1,PD2,SD1,SD2,SD3,SD4等・・・のカソード電極を形成する。この導体パターン41は例えばライン16及び17のための導体トラック及び13,14,15,18及び19のような回路接続不を構成することができる。次に、適切に不純物が添加された半導体層を体積しパターニングすることにより種々のダイオード構造耐を形成する。
この実施例において、全てのダイオードはn形、真性及びP形の非晶質シリコン層42〜44を順次体積することにより非晶質シリコンのn−i−pダイオードとすることができる。これらの層42〜44は、エッチングによりパターニング形成して各ダイオード用の個別の島状部分を形成する。次に、絶縁層(例えば、窒化シリコン)を体積し、ダイオード島状部分のサイドウォール上に残存するようにパターン形成する。絶縁層パターン45はダイオード島状部分の頂部表面が露出するように残存させる。次に、第2導電層(例えば、クロミウム、可能な場合にはアルミニウムで被覆する)を堆積し、パターニングしてダイオードのアノード電極及び2個の導電層レベル間の相互接続部を形成する。この上側導電層46は照明光に対して不透明にすることができ、この場合(図4に示す)層46は光感知ダイオードPD1,PD2の上不P形層44の端部に限定することができる。一方、層46はスイッチングダイオードSD1 3SD6の上不全体に亘って延在するので、これらのダイオードは光感知性ではない。アレイ画素の光感知ダイオード2は光感知ダイオードPD1及びPD2と同一の方法が形成することができ、スイッチングダイオード3はスイッチングダイオードSD1〜SD6と同一の方法で形成することができる。従って、アレイ1及びそれ列マルチプレクサ回路Cは同一の薄膜ダイオード技術を用いる同一のデバイス基板上に同一の処理工程で形成することができる。
イメージセンサの構成は、いかなる適切な形態及びパターンをも有することができる。マルチプレクサ回路Cの電流源として作用するフォトダイオードPD1及びPD2は、一定強度の照明光で一定の露光が行なわれるデバイス基板40の位置に形成する。一方、スイッチングダイオードSD1〜SD6は、不透明な電極層41及び46により及び/又は不透明なマスクにより上記一定照明からシールドする。イメージアレイ1は、デバイス基板40上の画像がフォトダイオード2により検知される位置に配置する。行及び列導体A及びBは画素に対して矩形又は正方形の面積を規定し、又は他の所望の形状を規定することができる。フォトダイオード2は画素区域の大部分を占めることができる。一方、フォトダイオード2は各画素の1個又はそれ以上の端部に限定してイメージセンサをできるだけ透明にすることができる。ここに、この透明なイメージセンサは、ディスプレイのようなものの上部上にディスプレイを顕著におおい隠すことなく配置する。
図7は、光がデバイスの上側表面に入射し上側電極層46に形成した窓を介してフォトダイオードの半導体材料まで透過する構成を示す。一方、窓が底部電極層41に存在し、入射光(PD1及びPD2に対する)及び画像(アレイフォトダイオードに対する)が透明基板を介して透過する反転構成とすることもできる。
図2及び図3は、ブリッジの各数枝路の単一ダイオードSD3〜SD6、列導体と各制御ライン16,17との間単一ダイオードSD1及びSD2、並びに電流源21及び22を構成する単一ダイオードPD1及びPD2を示す。一方、これらの単一ダイオードの代わりに直列接続した2個以上のダイオードを用いることができる。従って、例えば接続部15とライン16との間に2個の直列接続ダイオードSD1が存在し、並びに接続部15とライン17との間2個の直列接続ダイオードSD2が存在することもできる。さらに、ダイオードの導通特性に非平衡が存在することもでき、ダイオード及びバイアス回路は列導体が零でない電位で動作するようにすることもできる。
マレイ1のデバイス素子は薄膜トランジスタで構成することができる。従って、例えば各画素は2個のスイッチングトランジスタとフォトダイオードの既知の回路形態で構成することができる。この場合、列マルチプレクサ回路CのダイオードPD1及びPD2並びにSD1〜SD6はダイオード接続した薄膜トランジスタ、すなわちトランジスタのゲート及びドレインを回路素子の1個の電極として一緒に結合したトランジスタとして形成することもできる。さらに、トランジスタを用いる場合、クランプスイッチは、導体Bに接続したソースと、クランプ電圧ラインに接続したドレインと、制御ラインに結合したゲートとを有し、ダイオードブリッジSD3〜SD6と反対に同期してPN及びOFFに切り換えるトランジスタとすることができる。
本発明によるイメージセンサは原稿スキャナとして設計することができる。極めて大きな面積のイメージセンサはA−4サイズの原稿を30dpi(ドット/インチ)の解像力で走査することができる。このイメージセンサに必要な行N,(N+1),----の数はそれぞれ約2500及び3500とすることができる(行がA−4サイズの原稿の長手方向に平行とする)。本発明は本発明の列マルチプレクサ回路Cを用いて列導体Bをグループ化する列導体5の数を減少させることができる。
同様なマルチプレクサ回路を各行導体Aについて用いて行駆動回路76からの入力部の数を低減することができる。マルチプレクサ回路Cは他の付加的な手段と結合して行及び列導体A及びB並びに入力及び出力端子5及び6の数を少なくすることができる。従って、アレイ形態は係属中の英国特許出願第9505305.4号に記載のアレイ形態と同一のものとすることができ、このアレイ形態においては画素が4個のグループに配置され、各グループは共通の行導体A及び共通の列導体Bを共有している。
上述した特有の実施例は絶縁性基板40上に薄膜技術を用いて実現したが、本発明の電子装置のアレイ1及びマルチプレクサ回路Cは、薄膜技術の代わりにモノリシックシリコン集積回路を用いて実現することもできる。
この開示内容を読むことにより、種々の変形や変更が可能である。

Claims (16)

  1. 行及び列に配置されると共に行導体及び列導体に結合されているデバイス素子のアレイであって、列導体が少なくとも1個のグループとして配置され、各グループがそれぞれ共通の端子を有するデバイス素子のアレイと、
    各グループの列導体を共通の端子にそれぞれ結合する列マルチプレクサ回路であって、各列導体のマルチプレクサ回路が2個の電流源間に第1及び第2の枝路を有するダイオードブリッジをそれぞれ有し、各枝路が、その接続部において一緒に結合したダイオード対をそれぞれ具えると共に前記電流源間において他方の枝路のダイオード対と互いに同一の極性を有し、各列導体が第1枝路の接続部に結合され、前記共通の端子が第2の枝路の接続部に結合され、前記ダイオードを前記ブリッジの第1の状態における順方向バイアスとブリッジの第2の状態の逆方向バイアスとの間で切り換えるスイッチング電圧を供給する制御ラインが前記ダイオードブリッジに結合されている列マルチプレクサ回路と、
    前記各列導体にそれぞれ結合され、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体の電位をクランプして、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体と共通の端子との間で信号を伝送させ、前記ダイオードブリッジの第2の状態において列導体の電位がクランプされるクランプ回路とを具える電子装置。
  2. 行及び列に配置されると共に行導体及び列導体に結合されている電荷蓄積素子のアレイであって、各行の素子の電荷蓄積素子信号を各列導体に供給する行信号が行導体に供給され、前記電荷蓄積素子信号が各列導体を流れる電流を発生させ、列導体が少なくとも1個のグループに配置され、各グループがそれぞれ共通の端子を有する電荷蓄積素子のアレイと、
    各グループの列導体を共通の端子にそれぞれ結合する列マルチプレクサ回路であって、各列導体のマルチプレクサ回路が2個の電流源間に第1及び第2の枝路を有し、各枝路が、その接続部において一緒に結合したダイオード対をそれぞれ具えると共に前記電流源間において他方の枝路のダイオード対と互いに同一の極性を有し、各列導体が第1枝路の接続部に結合され、前記共通の端子が第2の枝路の接続部に結合されている列マルチプレクサ回路と、
    ダイオードブリッジに結合され、前記ダイオードをブリッジの第1の状態における順方向バイアスとブリッジの第2の状態の逆方向バイアスとの間で切り換えるスイッチング電圧を供給し、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体と端子との間で信号を伝送させる制御ラインと、
    ベース電圧に対してパルス開始直後の第1の電圧値からパルス終了直前の第2の電圧値まで振幅が上昇する電圧パルスの形態の行信号を発生させる手段とを具える電子装置。
  3. 請求項2に記載の電子装置において、前記行信号発生手段が、行パルスの開始時にベース電圧から第1の電圧値に上昇し、行パルスの終了時に第2の電圧値からベース電圧まで下降する電圧パルスの形態の行信号を発生する電子装置。
  4. 請求項2又は3に記載の電子装置において、前記行信号の振幅が第1の電圧値から第2の電圧値まで均一に上昇する電子装置。
  5. 請求項2から4までのいずれか1項に記載の電子装置において、さらに、列導体に結合され、前記ダイオードブリッジの第2の状態において列導体の電位をクランプするクランプ回路を具える電子装置。
  6. 前記ダイオードブリッジの各制御ラインの少なくとも1本の制御ラインが前記クランプスイッチに結合されてクランプスイッチの動作を制御する請求項1又は5に記載の電子装置。
  7. 請求項6に記載の電子装置において、前記各列導体のクランプスイッチが列マルチプレクサ回路の一部を構成すると共に、前記制御ライン間にブリッジダイオードの極性と反対極性のクランプダイオード対を有し、これらクランプダイオードが前記列導体との接続部において一緒に結合されて、ブリッジが第2の状態にある場合前記列導体の電位をクランプする電子装置。
  8. 請求項6又は7に記載の電子装置において、前記列導体の異なるグループのダイオードブリッジ及びクランプスイッチが共通の制御ラインを共用する電子装置。
  9. 請求項1から8までのいずれか1項に記載の電子装置において、前記アレイのデバイス素子が、前記列マルチプレクサ回路のダイオードと同一の技術形態のダイオードで構成されている電子装置。
  10. 請求項9に記載の電子装置において、前記列マルチプレクサ回路の電流源が、前記ブリッジの第1及び第2の枝路のダイオードを構成する非光感知ダイオードと同一の技術形態の光感知ダイオードで構成されている電子装置。
  11. 請求項9又は10に記載の電子装置において、前記アレイのダイオード及び列マルチプレクサ回路のダイオードを共通の基板上の薄膜ダイオードの形態とした電子装置。
  12. 請求項1から11までのいずれか1項に記載の電子装置において、前記列マルチプレクサ回路が、ダイオードブリッジの第1の状態において列導体と共通の端子との間にアナログ信号を伝送する電子装置。
  13. 請求項12に記載の電子装置において、前記アレイのデバイス素子をイメージセンサを構成する光感知ダイオードとした電子装置。
  14. 請求項2から5までのいずれか1項に記載の電子装置を動作させるに際し、行電圧信号を電荷蓄積素子の行に供給してこの行の素子から列導体にそれぞれ信号を送出し、列マルチプレクサ回路を駆動して、選択された列信号を共通の端子に送出し、前記行電圧信号が、ベース電圧に対してパルス開始直後の第1の電圧値からパルス終了直前の第2の電圧値まで振幅が上昇する電圧パルスの形態の信号で構成した電子装置の駆動方法。
  15. 請求項14に記載の電子装置の駆動方法において、前記パルス電圧信号が、行パルスの開始時にベース電圧から第1の電圧値に上昇し、行パルスの終了時に第2の電圧値からベース電圧まで下降する電子装置の駆動方法。
  16. 請求項14又は15に記載の方法において、前記行信号のの振幅が、第1の電圧値から第2の電圧値まで均一に上昇する電子装置の駆動方法。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6600473B1 (en) * 1999-01-20 2003-07-29 Fuji Xerox Co., Ltd. Photoconductive switching element, device using it, and apparatus, recording apparatus, and recording method in which the device is incorporated
TW521303B (en) * 2000-02-28 2003-02-21 Semiconductor Energy Lab Electronic device
US6614697B2 (en) * 2001-10-13 2003-09-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diode-based multiplexer
US7471324B2 (en) * 2002-08-28 2008-12-30 Aptina Imaging Corporation Amplifier shared between two columns in CMOS sensor
JP2004246202A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Koninkl Philips Electronics Nv 静電放電保護回路を有する電子装置
DE102008001876A1 (de) * 2008-05-20 2009-11-26 Robert Bosch Gmbh Sensoranordnung und Verfahren zum Betrieb einer Sensoranordnung
WO2010053894A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-14 Next Biometrics As Voltage reading technique for large sensor arrays through reduced noise differential path
WO2010080751A1 (en) 2009-01-06 2010-07-15 Next Biometrics As Low noise reading architecture for active sensor arrays
US9258503B2 (en) * 2012-12-06 2016-02-09 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. A/D converter, image sensor, and digital camera
FR3013546B1 (fr) * 2013-11-15 2017-05-19 Trixell Mise en commun de deux colonnes de pixels d'un detecteur d'images

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2803703A (en) * 1952-12-16 1957-08-20 Chalmers W Sherwin Majority vote diversity system
US3098214A (en) * 1958-12-31 1963-07-16 Ibm Analog signal switching apparatus
US3389272A (en) * 1964-03-17 1968-06-18 Bell Telephone Labor Inc Gated transmission arrangement
US3597633A (en) * 1967-04-07 1971-08-03 Hitachi Ltd Diode bridge type electronic switch
US3916392A (en) * 1968-05-28 1975-10-28 Gen Electric Thin-film semiconductor memory apparatus
US3629863A (en) * 1968-11-04 1971-12-21 Energy Conversion Devices Inc Film deposited circuits and devices therefor
JPS57125523A (en) * 1981-01-28 1982-08-04 Ando Electric Co Ltd Analog switch by diode
US4518921A (en) * 1982-10-18 1985-05-21 At&T Bell Laboratories Track and hold circuit
JPH05191250A (ja) * 1991-10-14 1993-07-30 Yokogawa Electric Corp マルチプレクサ
GB9313841D0 (en) * 1993-07-05 1993-08-18 Philips Electronics Uk Ltd An electro-optic device

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