JP2003518798A - ダイオードマルチプレクサ回路及びこれを組み込んだ電子装置 - Google Patents

ダイオードマルチプレクサ回路及びこれを組み込んだ電子装置

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JP2003518798A JP2001547741A JP2001547741A JP2003518798A JP 2003518798 A JP2003518798 A JP 2003518798A JP 2001547741 A JP2001547741 A JP 2001547741A JP 2001547741 A JP2001547741 A JP 2001547741A JP 2003518798 A JP2003518798 A JP 2003518798A
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セー バード ニール
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/74Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of diodes
    • H03K17/76Switching arrangements with several input- or output-terminals, e.g. multiplexers, distributors

Abstract

(57)【要約】 個々の入力ライン(2;101)によって運ばれた複数の電流入力のうちの選択された1つを共通出力部に切り替えるマルチプレクサ回路を開示する。前記回路は、入力ラインごとに、各入力ラインと共通端子との間に設けられたダイオードクランプ(5;104)及び遮断手段(10;109)を具える。前記ダイオードクランプ(5;104)は、電圧を前記クランプ端子に、前記ダイオードクランプのダイオード(8,9;107,108)が順バイアスされ、前記入力ライン(2;101)を、前記入力ラインから前記共通出力部への電流の伝播を防ぐ第1電圧に保持するように印可する第1モードと、前記電圧を前記クランプ端子に、前記ダイオードクランプのダイオードが逆バイアスされ、前記入力ラインから前記共通出力部への電流の伝播が許可されるように印可する第2モードとにおいて動作可能である。前記ダイオードクランプに関して2つのダイオードのみが、前記電流入力の切り換えを制御するために必要であり、前記スイッチは電流オフセットを出力に導入しない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、信号を切り替えるマルチプレクサ回路と、これを含む電子装置とに
関する。より特に、本発明は、行及び列において配置された電気素子のアレイか
らの、またはこの電気素子のアレイへの信号を切り替えるマルチプレクサ回路と
、これらと共に使用するマルチプレクサ列とに関する。とくに、しかし排他的に
ではなく、前記電気素子は、画像又は指紋センサアレイの画素を形成し、これら
の画素はダイオードを含んでもよい。
【0002】 フォトダイオードを含む画素を有する光センサアレイは、例えば、WO97/2
5779に記載のように既知である。スイッチング素子としてダイオードを有し
、該アレイと接触する指紋の輪郭にしたがって変化し得る電荷を格納する容量性
素子を有する指紋センサアレイも既知である。各々の場合において、高められた
空間解像度が、画素のサイズを縮小することによって達成される。しかしながら
、前記アレイへの外部接続は、画素間隔が減少するにつれて困難になる。
【0003】 高解像度アレイにおける画素の行又は列への外部接続にマルチプレクサ回路を
使うことは既知である。各マルチプレクサ回路は、多数の入力部を単一の出力部
にリンクし、前記外部出力部を与えてもよい。外部接続部は、行又は列ごとには
必要ないが、各マルチプレクサ回路の出力部のみに設けてもよい。前記マルチプ
レクサ回路の制御に必要な外部導体を、前記アレイに関係するすべてのマルチプ
レクサ回路間で共有し、制限された数の追加の外部接続部のみが制御目的に必要
になるようにすることができる。このようにして、前記アレイに必要な外部接続
部の合計数を、前記マルチプレクサ回路の使用によって大幅に減少することがで
きる。
【0004】 ダイオードのみから形成されたマルチプレクサ回路も既知であり、これをここ
ではダイオードマルチプレクサ回路と呼ぶ。前記マルチプレクサ回路におけるス
イッチング装置としてのダイオードの使用は、共通プロセスによって製造される
ダイオードベース画素アレイ及びマルチプレクサ回路を同じ基板において結合す
る装置の集積製造を容易にする。
【0005】 画素のアレイを有する装置と結合して使用するダイオードマルチプレクサ回路
の一例は、WO97/25779において開示されている。この回路は、アレイ
の各列に接続されたマルチプレクサスイッチを有する。各スイッチは、ダイオー
ドブリッジを取り入れる。このブリッジの周囲の4つの接続点は、入力部と、出
力部と、2つの制御端子とを規定する。前記制御端子は、前記4つのダイオード
を、前記入力部が前記出力部にリンクされている場合の順バイアスと、前記出力
部が前記入力部から遮断されている場合の逆バイアスとの間で切り替えることを
可能にする。前記ブリッジのダイオードの出力特性の非一様性は、前記出力部に
おいて現れる電圧と、一定電圧レベルとの間に導かれるDCオフセット電流を生
じさせる。いくつかの用途は、列出力部における電流信号を、一定電圧において
動作する電荷測定回路を使用して積分することを含む。前記DCオフセットを積
分し、信号処理チェーンにおいて後に減じなければならず、又は、アナログオフ
セット除去回路によって除去しなければならない。このオフセット電流を除去す
る必要性は、一般的に、前記マルチプレクサ回路を含むどのようなシステムの複
雑性も増す。
【0006】 マルチプレクサ回路に必要なダイオード数のどのような減少も、これらの装置
の製造をさらに容易にし、これらを含むアレイを所定のアレイサイズに対するよ
り高い生産量を達成することを可能にする。
【0007】 本発明によれば、個々の入力ラインによって運ばれた複数の電流入力のうちの
選択された1つを共通出力部に切り替えるマルチプレクサ回路において、該回路
が、入力ラインごとに、 第1及び第2クランプ端子と、これらのクランプ端子間に直列に配置された第
1及び第2クランプダイオードとを具えるダイオードクランプと、 各入力ラインと共通端子との間に設けられた遮断手段とを具え、 前記ダイオードクランプが2つのモード、すなわち、電圧を前記クランプ端子
に、前記ダイオードクランプのダイオードが順バイアスされ、前記入力ラインを
、前記入力ラインから前記共通出力部への電流の伝播を防ぐ第1電圧に保持する
ように印可する第1モードと、前記電圧を前記クランプ端子に、前記ダイオード
クランプのダイオードが逆バイアスされ、前記入力ラインから前記共通出力部へ
の電流の伝播が許可されるように印可する第2モードとにおいて動作可能である
、マルチプレクサ回路が提供される。
【0008】 前記ダイオードクランプに関して2つの接続部のみが、前記電流入力の切り替
えを制御するのに必要である。これは、ダイオードブリッジをスイッチに組み込
むマルチプレクサ回路に必要な4つの接続部に比べて改善されている。
【0009】 本発明の方法において使用する前記ダイオードクランプは、多数の入力部から
共通出力部への電流の伝播を制御する簡単なダイオードベース回路を与える。前
記第2モードにおいて、出力電流は前記列から直接流れ、オフセット電圧は前記
クランプ装置によって導入されない。したがって、前記信号電流に付加される結
果として生じるオフセット電流をより後の段階において除去する必要性は避けら
れる。
【0010】 前記遮断手段は、遮断ダイオードを具えてもよく、この場合において、前記第
1電圧を、前記遮断ダイオードを逆バイアスするように選択し、前記入力ライン
から前記共通出力部に流れる電流を防いでもよい。
【0011】 前記遮断手段は、代わりに遮断キャパシタを具えてもよく、この場合において
、前記第1電圧を前記入力電流源に応じて選択し、前記入力電流源から前記共通
出力部に流れる電流を防ぐようにしてもよい。前記遮断キャパシタそれ自体は電
流の伝播を防がないが、異なった入力ラインを、これらが各々前記共通出力部に
結合されていても、異なった電圧に保持することができる。
【0012】 本発明は、行及び列において配置されると共に行及び列導体に結合された電荷
格納素子のアレイであって、前記列導体を少なくとも1つのグループにおいて配
置し、各グループが個々の共通出力部を有する、アレイと、上述したように前記
個々のグループの列導体を前記個々の共通出力部に結合する本発明によるマルチ
プレクサ回路と、前記共通出力部からの電荷の流れを測定する電荷測定装置とを
具える電子装置も提供する。
【0013】 前記電荷格納素子は、フォトダイオード及びスイッチングダイオードを含む光
検出画素を具えてもよい。この場合において、前記第1電圧を、前記スイッチン
グダイオードを逆バイアスするように選択してもよい。好適には、この場合にお
いて、前記遮断手段は遮断キャパシタを具えてもよい。
【0014】 前記第2モード中、電荷を各入力部から前記個々の遮断キャパシタに流れるよ
うに配置することができる。前記ダイオードクランプは、前記ダイオードクラン
プにおけるダイオードが順バイアスされ、前記入力ラインを、前記遮断キャパシ
タにおいて格納された電荷を前記遮断キャパシタと前記電荷測定手段との間に流
す第2電圧に保持するように、電圧を前記クランプ端子に印可する第3モードに
おいて動作可能である。
【0015】 このモードは、前記信号電荷の前記電荷格納素子からの間接的な読み出しを、
電荷を前記電荷格納素子から前記遮断キャパシタに前記ダイオードクランプが前
記第2モードにあるときに転送するのを許可することによって可能にする。この
電荷を、その後、前記第3モードにおいて、前記遮断キャパシタを、前記個々の
ダイオードクランプを経て選択的に放電することによって測定することができる
。この電荷の流れを、前記電荷測定装置によって測定することができる。
【0016】 前記電荷格納素子は、2つのダイオードと可変キャパシタとを含む容量性電荷
格納素子を具えることができ、電流測定を使用し、キャパシタンスを決定する。
この場合において、前記遮断手段は、遮断ダイオードを具えてもよい。
【0017】 上述したように、本発明によるマルチプレクサ回路の出力信号は、前記スイッ
チにおいてダイオードブリッジを含むマルチプレクサ回路によって導入されるD
Cオフセット信号から解放される。本発明は、この問題を、外部源によって供給
されダイオードブリッジによる入力電流にのみ一致するよりも、前記入力部にお
ける電流によって直接供給される前記出力部における電流によって克服する。
【0018】 前記DCオフセットがないことは、電荷検出増幅器によって積分後に減算する
、又は、アナログオフセット除去回路によって除去する。集積回路ドライバを単
純化することから離れて、これは、測定ループの動作にタイムスロットを割り当
てる必要がなくなるため、より高速の読み出し処理を可能にする。この速度を、
より高いマルチプレクサ比と引き換えにしてもよい。
【0019】 本発明によるマルチプレクサ回路は、ダイオードブリッジを用いるマルチプレ
クサ回路より少ないダイオードしか必要とせず、前記画素アレイと共に形成され
た集積して形成されたマルチプレクサを含むことを可能にし、よりよい生産量を
達成する。
【0020】 前記ダイオードブリッジの排除は、信号減衰を減少させ、前記ブリッジを経て
前記増幅器へのノイズの直接な流れがないことを意味する。これは、増幅器入力
部オフセット電圧に対する感度を低下させ、前記回路の信号対ノイズ比を改善す
る。
【0021】 本発明の実施形態を添付した図面の参照と共に例として説明する。
【0022】 図1は、選択された入力部に流れる電流を共通出力部に切り替える本発明によ
るマルチプレクサ回路1の第1例を示す。このマルチプレクサ回路の例を、例え
ば、指紋検出アレイの容量検出素子と共に使用してもよい。マルチプレクサ回路
1は、入力部としてこの例においては3つある列の組2を有し、列ごとにマルチ
プレクサスイッチ4を有する。各マルチプレクサスイッチ4は、列2を、共有電
荷検出増幅器3からと、他の列から選択的に遮断する遮断ダイオード10を含む
。これは、前記増幅器が列2のすべてと同時に連絡することを防ぐ。遮断を、遮
断ダイオードを逆バイアスすることによって達成する。
【0023】 各スイッチ4は、正電源端子6と、負電源端子7と、2つのクランプダイオー
ド8及び9とから成るダイオードクランプ5を有する。前記クランプダイオード
を、直列に、同じ極性で(順方向において)端子6及び7の間に接続する。ダイ
オードクランプ5は、個々の列2における電圧の制御を可能にする。各遮断ダイ
オード10を、前記ダイオードクランプによって印可される適切な電圧によって
選択的に逆バイアスすることができる。
【0024】 各スイッチ4を別個に制御できるようにするために、別個の外部接続部を、正
及び負電源端子6及び7の対ごとに設ける。前記ダイオードクランプを、前記ク
ランプのダイオードが順バイアスされた場合にはオン、逆バイアスされた場合又
は少なくとも順バイアスされていない場合にはオフと呼んでもよい。前記”オン
”状態の場合、前記クランプのダイオードは分圧器を与える。ここに記載した実
施形態において、前記2つのダイオードは、前記列が保持される電圧を前記クラ
ンプ端子に印可される電圧の中間にするのと同様である。
【0025】 マルチプレクサ回路1の代表的な動作は、各列2から流れる電荷を電荷検出増
幅器3によって、順序がばらばらの選択されていない列に対応する遮断ダイオー
ドにおいて逆バイアスを保持することによって、順々に集積できるようにするこ
とである。
【0026】 図2は、指紋センサの画素20と、増幅器3に接続された1つのマルチプレク
サスイッチ4との間の関係を示す。
【0027】 前記指紋センサの画素20は、電源ダイオード22とスイッチングダイオード
23との接続部に接続された容量検出素子21を含む。検出素子21は、誘電体
材料の層によって覆われた検出電極を具え、前記行及び列アレイにおけるすべて
の素子の誘電体材料は検出表面を与え、この検出表面上に、各々の検出素子にお
けるキャパシタを形成する人間の指が置かれ、前記キャパシタのキャパシタンス
は、指紋の溝又は隆線のどちらがその場所において存在するかによって決定され
る。電源ダイオード22のアノードを行導体24に接続する。スイッチングダイ
オード23を、そのカソードにおいて列導体25に接続する。検出素子21は、
ダイオード23が順バイアスされている場合にのみ放電することができ、スイッ
チングダイオード23を、行導体24及び列導体25において印可される電圧に
よって順又は逆バイアスしてもよい。
【0028】 ダイオードベースの容量性指紋検出アレイの一例は、WO98/49691に
おいて記載されており、この文献への参照は、構成及び一般的な動作の更なる詳
細に関して勧められる。
【0029】 画素20からの信号電荷の読み出しを、3ステップ処理として説明することが
できる。
【0030】 第1ステップ、行アドレス処理は、前記検出素子を前充電する。これを行うた
め、例えば4Vの正電圧を、前記画素に行導体24によって印可する。スイッチ
ングダイオード23を逆バイアスし、適切な電圧を列導体25において保証する
ことによって、電源ダイオード22及びスイッチングダイオード23が検出素子
21における電圧を低下させる分圧器として働くことを防ぐ。遮断ダイオード1
0も逆バイアスし、高くなった電圧においてスイッチングダイオード23を逆バ
イアスする列を、増幅器3から遮断する。これを、増幅器3の正端子11を少な
くとも列導体25と同じ電圧に上げることによって達成する。前記列導体におけ
る電圧を、電圧クランプ5によって従わせ、スイッチングダイオード23の逆バ
イアスを保証する。
【0031】 この時間中に素子21において格納された電荷は、前記キャパシタンスの関数
であり、このキャパシタンスは、検出されている指紋の溝又は隆線のいずれが存
在するかに依存する。
【0032】 この行アドレスステップは、行導体24が0Vに戻ると終了する。この時点に
おいて、検出素子21は充電され、電源ダイオード22は逆バイアスされる。
【0033】 次のステップにおいて、列導体25における電圧を増幅器3に関する準備の0
Vに戻し、検出素子21において格納された電荷を測定する。クランプダイオー
ド8及び9を再び順バイアスするが、このとき、バイアス電圧を、列2を0Vに
クランプするように選択する。これは、前記電源端子に印可されている+2V及
び−2Vに対応する。
【0034】 このステップ中、スイッチングダイオード23は順バイアスされるようになる
かもしれず、検出素子21からの少量の電荷が前記列に漏れ、ダイオードクラン
プ5を経て失われるかもしれない。この電荷の損失を最小にするために、このス
テップをできるだけ短く保つ。1−2マイクロ秒の期間が好適であり、結果とし
て、検出素子21からの電荷の10−20%のみの損失にすることができる。
【0035】 前記読み出し処理の最終ステップにおいて、検出素子21に格納された電荷を
増幅器3によって積分する。ダイオードクランプ5をスイッチオフし、列2にお
ける電圧を”浮動”させ、前記増幅器におけるフィードバックスイッチを開く。
したがって、ダイオードクランプ5は、オフセット電圧を導入せず、電荷測定回
路3は、オフセット補償を必要としない信号を発生することができる。この測定
ステップの間、増幅器3の正端子11に印可される電圧を低下させ、遮断ダイオ
ード11が順バイアスされるのを保証する。代表的に、増幅器3の正端子11に
おける−1Vが、前記遮断ダイオードの両端間の電圧降下を考慮する。
【0036】 図1のマルチプレクサ回路1の動作を、ここで、画素の複数の列との使用に関
して説明する。
【0037】 各列2に沿って流れる電荷を、上述した3つのステップ処理によって順次に読
み出す。1つの選択された列からの読み出しの処理を通じて、非選択列の前記増
幅器からの遮断を保持しなければならない。これを、上述したように、遮断ダイ
オード10を逆バイアスすることによって達成する。逆バイアスされた遮断ダイ
オード10を有するスイッチを、ここでは”開”と呼ぶ。
【0038】 前記行アドレスステップ中、すべてのダイオードクランプ5を”オン”に切り
替え、スイッチングダイオード23及び遮断ダイオード10の双方を逆バイアス
する。クランプダイオード8及び9を順バイアスし、列2を増幅器3の正端子1
1以下の電圧にクランプする。代表的に、これらの列2における電圧を3Vとし
てもよい。この電圧を、前記画素のスイッチングダイオード23が逆バイアスさ
れるのを保証するのに十分なほど高くし、前記検出素子を列導体24によって充
電できるようにもしなければならない。
【0039】 前記選択された列に関する読み出し処理の第2ステップ中、前記選択された列
に関するダイオードクランプ5をターンオフし、他のダイオードクランプを”オ
ン”のままにし、選択されていない列に関してスイッチを”開”に保持する。
【0040】 前記第3の積分ステップ中、増幅器3の正端子11における電圧を低下させる
。他の列2の遮断を保持するために、これらの列2における電圧を、これらの個
々のダイオードクランプ5によって低下させる。ダイオードクランプ5によって
列2に印可する代表的な電圧は−1Vである。
【0041】 マルチプレクサ回路1に接続された画素20の完全な組を読み出すために、行
アドレスステップが、列2を選択するたびに必要である。これは、各選択された
列2に関する積分ステップ中、非選択列2を−1Vにクランプし、前記スイッチ
を開に保持するためである。これは、対応するスイッチングダイオード23を順
バイアスさせ、センサ素子21を放電させ、これによって、追加の行アドレスス
テップが個々のセンサ素子21を再充電するために必要になる。
【0042】 前記アレイにおける画素の各行を、同様に順次に読み出す。
【0043】 上述したマルチプレクサ回路は、スイッチごとに3つのダイオードのみを必要
とする。前記アレイ基板の小さい領域のみが前記ダイオードに関して必要であり
、改善された生産量を達成することができる。
【0044】 図3は、光検出画素のアレイ用の列マルチプレクサ回路100として使用する
本発明のマルチプレクサ回路の第2例を示す。
【0045】 マルチプレクサ回路100は、列101と共通電荷検出増幅器3との間に各々
接続された3つのマルチプレクサスイッチを有する。各スイッチ103は、ダイ
オードクランプ104と遮断キャパシタ109から成る。各ダイオードクランプ
104を、各々正及び負クランプ電源端子105及び106の間に同じ極性で接
続された2つのクランプダイオード107及び108によって形成する。ダイオ
ードクランプ104は、各列101における電圧を別々に制御することを可能に
し、遮断キャパシタ109は、列101の各々と前記列出力部との間の電圧を異
ならせることを可能にする。電荷検出増幅器3の正端子を接地する。
【0046】 前記ダイオードクランプは、上述した実施形態に関するのと同じ機能を有する
【0047】 列マルチプレクサ回路100を、光検出画素110の1つの行に接続して示す
。各画素110は、関連するフォトダイオードキャパシタンス113aを有する
フォトダイオード113と、スイッチングダイオード112とを含む。キャパシ
タンス113aを、前記フォトダイオードの自己キャパシタンスとしてもよく、
又は、追加の構成要素としてもよい。スイッチングダイオード112のアノード
を行導体114に接続し、カソードをフォトダイオード113のカソードに接続
する。フォトダイオード113のアノードを列101に接続する。
【0048】 マルチプレクサ回路100の動作を、ここで、前記センサアレイから画像を得
る全体の処理を参照して説明する。この画像獲得処理は、広く3つのステップか
ら成り、最終ステップを2つの異なった処理に従って行うことができる。
【0049】 前記画像獲得処理の第1ステップは、フォトダイオード113に関係するキャ
パシタンス113aに格納された電荷の見地から、前記画素のすべてが既知の開
始状態にリセットされた後に生じる。これを、列101を0Vにクランプし、同
時に、行導体114のすべてを4Vのような正電圧にパルス化する。これを行選
択電圧と呼ぶことができる。これは、キャパシタ113aと直列のスイッチング
ダイオード112を逆バイアスし、キャパシタ113aを一定レベルに充電させ
る。
【0050】 前記画像獲得処理における第2ステップは、前記アレイを光に露出させる。画
像データの読み出しの準備に、すべての行114を接地し、列101を正電圧に
クランプする。この電圧は、スイッチングダイオード112を逆バイアスし、電
荷が前記ダイオードクランプを経てアースに流れないことを保証する。この期間
中、前記フォトダイオードキャパシタンスは、入射光の関数として放電する。
【0051】 最終ステップにおいて、信号電荷を画素110から読み出す。このために、行
導体114を正の選択電圧、例えば+4Vにパルス化し、スイッチングダイオー
ド112を順バイアスし、キャパシタンス113aを流れる電荷が、前記一定レ
ベルに再充電されるとき、電荷検出増幅器3において検出される。電荷の全体の
流れは、前記キャパシタが前記画像獲得中に放電される量を表し、この時間中の
前記画素に入射する光強度の関数である。
【0052】 この最終ステップに関して、キャパシタンス113aにおいて格納された電荷
を読み出す2つの選択的な処理がある。これらを、以下に直接読み出し処理及び
間接読み出し処理と呼ぶ。各々の場合において、前記遮断キャパシタは、異なっ
た電圧を異なった列に維持することを可能にするように機能し、その結果、前記
列を別々に制御することができる。
【0053】 図4は、前記読み出し処理の直接読み出し処理に関するタイミング図であり、
7つの電圧プロファイル151ないし157を示す。第1プロファイル151は
、1つの行導体114に印可される電圧を示す。次の2つのプロファイル152
及び153は、読み出すべき画素の列に関するダイオードクランプ104の正電
源端子及び負電源端子105及び106に印可される電圧を各々示す。次の2つ
のプロファイル154及び155は、非選択列に関するダイオードクランプ10
4の正及び負電源端子105及び106に印可される電圧を示す。次のプロファ
イル156は、選択された列101に、電圧152及び153が印可されるダイ
オードクランプ104によって印可される電圧を示す。下部のプロファイル15
7は、電荷検出増幅器3の状態を示す。
【0054】 図4は、信号電荷を画素110から読み出す前記直接読み出し処理によって必
要なマルチプレクサ回路100の6つの異なった状態を示す。これらの状態の最
初の2つは、マルチプレクサ回路のすべての列に共通であり、最後の4つは、マ
ルチプレクサ回路100の個々の列ごとに繰り返される。
【0055】 露出終了状態と呼ばれる第1状態158は、列マルチプレクサ100の光露出
期間終了時の状態である。前記ダイオードクランプを”オン”にし、前記列をす
べて0Vにおいて保持する。これを達成するために、電圧152及び153を各
々+2V及び−2Vにし、クランプダイオード107及び108を各々2Vによ
って順バイアスする。
【0056】 次の状態159の間、すべての列101を、前記スイッチングダイオードを逆
バイアスする電圧、代表的には4Vに駆動することによって”セット”する。こ
れは、次のステップの後、非選択列101が電荷検出増幅器3から遮断されるの
を保証する。
【0057】 次の状態160において、電荷を読み出すべき画素110を有する列101を
、0Vに駆動することによって選択する。これを、+2V及び−2Vをダイオー
ドクランプ104の正及び負電源端子に印可し、スイッチオンすることによって
達成する。非選択列101に関するダイオードクランプ104の正及び負電源端
子を+6V及び+2Vに駆動し、これらのダイオードクランプがスイッチオンさ
れ、個々の列101を+4Vに保持し、スイッチングダイオード112の逆バイ
アスを保持するようにする。
【0058】 状態159を、前記選択された行から省き、これによって、状態160を余分
にすることができる。
【0059】 次の状態161において、選択された列101に対応するダイオードクランプ
104をターンオフし、列101の電圧を”浮動”にする。これを、電圧152
及び153を各々−3V及び+3Vにすることによって達成し、これは、選択列
101に関するクランプ104のダイオード107及び108を逆バイアスする
ことに対応する。
【0060】 次の状態162において、選択列101に接続された画素からの信号電荷を積
分する。この目的のため、前記行電圧を、例えば4Vにパルス化する。非選択列
101に関するスイッチ103の動作は、前記上昇した行電圧にもかかわらず、
これらの列101に接続された画素を電荷検出増幅器3から遮断する。したがっ
て、前記列電圧は、前記非選択列に関するスイッチングダイオードに逆バイアス
を印可するのに依然として十分でなければならない。電荷検出増幅器3において
受けた信号は、選択列101に接続された画素101の電荷信号を表す。
【0061】 前記選択列に接続された画素に関して、行導体114に印可された正電圧パル
スは、スイッチングダイオード112を順バイアスする。これは、電荷を、フォ
トダイオード113に関係するキャパシタンス113aから、選択列101に関
係する遮断キャパシタ109に流す(列101と連絡するかもしれない前記アレ
イの他の画素のどのような寄生キャパシタンスにも流す)。選択列101に関係
する遮断キャパシタ109において流れる対応する電流を、電荷検出増幅器3に
おいて検出し、次に電荷検出増幅器3は、前の照明期間中に前記フォトダイオー
ドによって発生された光電荷の量に比例する出力電圧を発生する。
【0062】 最終状態163において、電荷検出増幅器3からの出力電圧をアナログディジ
タル変換器に渡す。同時に、ちょうど読み出した列101を、オフ電圧の+4V
に駆動し戻す。
【0063】 図4においてYで示す最後の4状態を、列101ごとに(すなわち、列多重化
チャネルごとに)順次に繰り返す。
【0064】 図5は、マルチプレクサ回路100に接続された画素からの信号電荷を読み出
す間接読み出し処理に関するタイミング図である。このタイミング案は、前記直
接読み出し案の場合におけるような列ごとに1つと相違して、画素の行ごとに1
つの行パルスのみを必要とする。このタイミング図は、図4のものと同じ7つの
プロファイルを有するが、5つの状態のみを有する。これらの状態の最初の3つ
は、すべての列101に共通であり、最後の2状態は、列101ごとにこれらが
選択されると繰り返される。
【0065】 第1状態170は、前記光露出期間の終了時における列マルチプレクサ回路1
00の状態である。すべての列101に関するダイオードクランプ104を”オ
ン”にし、列101を0Vにクランプする。
【0066】 次の状態171において、前記ダイオードクランプを、前記行パルスに関する
準備にターン”オフ”する。前記共通端子は、増幅器3の効力によって0Vであ
る。
【0067】 次の段階172において、前記行パルスを行導体114に印可する。状態17
0の結果として前記列のすべてが0Vになると、前記正行パルスは前記画素にお
けるスイッチングダイオード112のすべてを順バイアスし、電流は前記画素を
通って列101を流れくだる。これらの電流は、各列101に関係する遮断キャ
パシタンス109を充電する(同じ列101に接続されているかもしれない他の
画素に関係する寄生キャパシタンスも充電する)。各キャパシタンス113aに
格納された信号電荷の比率を、個々の列101の遮断キャパシタ109に複製す
る。
【0068】 次の状態173において、遮断キャパシタ109の各々に格納された電荷を、
1つずつ積分することができる。最初に、電荷検出増幅器3を積分モードにする
。次に、選択列101に関係するダイオードクランプ104を、各々+2V及び
−2Vである電圧152及び153によってパルス化する。これは、選択列10
1を0Vに戻ってクランプし、関係する遮断キャパシタ109に格納された電荷
を、ダイオードクランプ104を経て、画素110によって供給される電流と逆
方向において流させる。画素110において格納された電荷を表すこの電荷の動
きを、電荷検出増幅器3において検出し、積分する。
【0069】 最終状態174において、電荷検出増幅器3によって供給された信号を、格納
される前にアナログディジタル変換器を通過する。
【0070】 Zで示す最後の2状態173及び174を、列101ごとに順次に繰り返す。
【0071】 図6及び7は、多数の行及び列から成るアレイ全体に関する画像獲得処理を示
す。上述したマルチプレクサ回路は3つの列101のみを有するが、これをn列
に一般化してもよい。
【0072】 図6は、開始120から、リセットステップ121と、露出ステップ122と
、アレイ読み出しステップ123と、処理の終了124への伝播を示す。前記リ
セットステップは、ステップ125において前記列を0Vに設定することと、次
にステップ126において行導体114を正電圧にパルス化することとを含む。
前記露出ステップは、ステップ126においてランプをスイッチオンし、前記画
素を光に露出することと、次に前記列を電圧Voffにクランプし、前記フォト
ダイオードを逆バイアスすることとを含む。
【0073】 アレイ読み出しステップ123は、ボックス129ないし131によって示す
、n行の組から各行129−131を読み出すことを含む。
【0074】 図7は、1つの行における画素から信号電荷を読み出す処理を示す。この図は
、上述したように、前記リセット動作が既に行われ、前記光源がすでに”オン”
にパルス化されていると仮定している。行全体を読み出す処理を、信号電荷を最
後のマルチプレクサチャネルの1つから読み出すのに使用するような処理の実行
を繰り返すことによって構成する。図7は、3つのマルチプレクサチャネルに関
する読み出し処理を、ボックス141ないし143として示す。2ステージ処理
146及び147を、チャネルごとに実行する。第1ステージ146は、前記行
がパルス化148された場合に生じる電荷獲得であり、電荷を電荷検出増幅器3
に列マルチプレクサ100を経て転送する。これが完了したら、増幅器3からの
信号のアナログディジタル変換を行う。
【0075】 前記電荷獲得及びアナログディジタル変換を、マルチプレクサチャネルごとに
1回、合計n回行う。これらの獲得の終了時において、ラインストアは、前記ア
レイからのデータの完全な行を含み、次にステップ144においてこのデータを
、次の行獲得が始まる前にホストに転送する。
【0076】 この実施形態は、前記スイッチにおいてダイオードブリッジを含むマルチプレ
クサ回路によって導入されるDCオフセット信号から開放された信号を供給する
光検出アレイ用マルチプレクサ回路を提供する。
【0077】 本開示を読むことによって、他の変形例が当業者には明らかになるであろう。
これらのような変形例は、電気回路又は電子回路及びこれらの構成要素の設計及
び使用において既知であり、ここで既に記載した特長の代わり又はこれらに追加
して使用することができる他の特徴も含む。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態によるマルチプレクサ回路を示す。
【図2】 図1のマルチプレクサ回路の1つのスイッチに接続された指紋センサ
の画素を示す。
【図3】 本発明による他の実施形態によるマルチプレクサ回路を示す。
【図4】 図3のマルチプレクサ回路の直接読み出し処理における動作を示す状
態図である。
【図5】 図3のマルチプレクサ回路の間接読み出し処理における動作を示す状
態図である。
【図6】 図3のマルチプレクサ回路を使用して画像を獲得する処理を示す。
【図7】 図4又は5に示す処理のいずれかを用いることができる図6の処理の
読み出しステップを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),JP Fターム(参考) 5J050 AA49 AA50 BB02 BB23 CC06 DD01 EE05 EE08 EE31 FF10 FF25

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 個々の入力ラインによって運ばれた複数の電流入力のうちの選択
    された1つを共通出力部に切り替えるマルチプレクサ回路において、該回路が、
    入力ラインごとに、 第1及び第2クランプ端子と、これらのクランプ端子間に直列に配置された第
    1及び第2クランプダイオードとを具えるダイオードクランプと、 各入力ラインと共通端子との間に設けられた遮断手段とを具え、 前記ダイオードクランプが2つのモード、すなわち、電圧を前記クランプ端子
    に、前記ダイオードクランプのダイオードが順バイアスされ、前記入力ラインを
    、前記入力ラインから前記共通出力部への電流の伝播を防ぐ第1電圧に保持する
    ように印可する第1モードと、前記電圧を前記クランプ端子に、前記ダイオード
    クランプのダイオードが逆バイアスされ、前記入力ラインから前記共通出力部へ
    の電流の伝播が許可されるように印可する第2モードとにおいて動作可能である
    ことを特徴とするマルチプレクサ回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のマルチプレクサ回路において、前記遮断手段が
    遮断ダイオードを具えることを特徴とするマルチプレクサ回路。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載のマルチプレクサ回路において、前記第1電圧を
    、前記遮断ダイオードを逆バイアスするように選択し、これによって前記入力ラ
    インから前記共通出力部に流れる電流を防ぐことを特徴とするマルチプレクサ回
    路。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載のマルチプレクサ回路において、前記遮断手段が
    キャパシタを具えることを特徴とするマルチプレクサ回路。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載のマルチプレクサ回路において、前記第1電圧を
    前記入力電流源に応じて選択し、前記入力電流源から前記共通出力部に流れる電
    流を防ぐようにしたことを特徴とするマルチプレクサ回路。
  6. 【請求項6】 行及び列において配置されると共に行及び列導体に結合された電
    荷格納素子のアレイであって、前記列導体を少なくとも1つのグループにおいて
    配置し、各グループが個々の共通出力部を有する、アレイと、前記個々のグルー
    プの列導体を前記個々の共通出力部に結合する請求項1に記載のマルチプレクサ
    回路と、前記共通出力部からの電荷の流れを測定する電荷測定装置とを具えるこ
    とを特徴とする電子装置。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の電子装置において、前記電荷格納素子が、フォ
    トダイオード及びスイッチングダイオードを含む光検出画素を具えることを特徴
    とする電子装置。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載の電子装置において、前記遮断手段が遮断キャパ
    シタを具えることを特徴とする電子装置。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の電子装置において、前記第2モード中、電荷が
    各入力部から前記個々の遮断キャパシタに流れ、前記ダイオードクランプを第3
    モードにおいて動作可能とし、この第3モードにおいて、前記ダイオードクラン
    プにおけるダイオードが順バイアスされ、前記入力ラインを、前記遮断キャパシ
    タにおいて格納された電荷を前記遮断キャパシタと前記電荷測定手段との間に流
    す第2電圧に保持するように、電圧を前記クランプ端子に印可することを特徴と
    する電子装置。
  10. 【請求項10】 請求項7ないし9のうちいずれか1項に記載の電子装置におい
    て、前記第1電圧を、前記スイッチングダイオードを逆バイアスするように選択
    したことを特長とする電子装置。
  11. 【請求項11】 請求項6に記載の電子装置において、前記電荷格納素子が、2
    つのダイオードと可変キャパシタとを含む容量性電荷格納素子を具え、電流測定
    を使用し、キャパシタンスを決定することを特徴とする電子装置。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の電子装置において、前記遮断手段が遮断ダ
    イオードを具えることを特徴とする電子装置。
  13. 【請求項13】 請求項11に記載の電子装置において、前記画素が容量性指紋
    検出素子を具え、前記容量性指紋検出素子において、前記可変キャパシタのキャ
    パシタンスを前記画素に重なっている指紋部分によって決定することを特徴とす
    る電子装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003518798A (ja) * 1999-12-21 2003-06-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ダイオードマルチプレクサ回路及びこれを組み込んだ電子装置
US6525547B2 (en) * 2001-04-17 2003-02-25 Sentronics Corporation Capacitive two dimensional sensor
US6614697B2 (en) * 2001-10-13 2003-09-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diode-based multiplexer
KR100564915B1 (ko) * 2004-02-10 2006-03-30 한국과학기술원 정전용량방식 지문센서 및 이를 이용한 지문 센싱방법
US7747828B2 (en) * 2004-11-17 2010-06-29 Integrated Device Technology, Inc. Systems and methods for monitoring and controlling binary state devices using a memory device
US20130169610A1 (en) * 2011-12-30 2013-07-04 Stmicroelectronics (Shenzhen) R&D Co. Ltd. Driving circuit and display device
CN113422596B (zh) * 2021-08-25 2022-01-18 绅克半导体科技(苏州)有限公司 一种多通道信号汇流电路、校准电路及测试机

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4728802A (en) * 1986-01-21 1988-03-01 Ovonic Imaging Systems, Inc. Balanced drive photosensitive pixel and method of operating the same
FR2700432A1 (fr) * 1993-01-13 1994-07-13 Philips Electronics Nv Dispositif commutateur de signaux de télévision pour une distribution par câble.
GB9505305D0 (en) * 1995-03-16 1995-05-03 Philips Electronics Uk Ltd Electronic devices comprising an array
GB9524560D0 (en) * 1995-12-01 1996-01-31 Philips Electronics Nv Multiplexer circuit
GB9600543D0 (en) * 1996-01-11 1996-03-13 Philips Electronics Nv Electronic devices comprising an array
US6075247A (en) * 1997-01-06 2000-06-13 U.S. Philips Corporation Device for reading an imaging sensor matrix
GB9708559D0 (en) 1997-04-29 1997-06-18 Philips Electronics Nv Fingerprint sensing devices and systems incorporating such
JP2003518798A (ja) * 1999-12-21 2003-06-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ダイオードマルチプレクサ回路及びこれを組み込んだ電子装置
US6614697B2 (en) * 2001-10-13 2003-09-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diode-based multiplexer

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