JPH1046339A - 基板ハンドリング方法 - Google Patents
基板ハンドリング方法Info
- Publication number
- JPH1046339A JPH1046339A JP19917496A JP19917496A JPH1046339A JP H1046339 A JPH1046339 A JP H1046339A JP 19917496 A JP19917496 A JP 19917496A JP 19917496 A JP19917496 A JP 19917496A JP H1046339 A JPH1046339 A JP H1046339A
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- JP
- Japan
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- substrate
- mask
- substrate holder
- vacuum
- outer peripheral
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 作業時間が短くなり、且つ、基板ホルダーの
保持面が鉛直、又は、下向きの場合でも、供給した被成
膜基板が落下しない基板ハンドリング方法の提供。 【解決手段】 被成膜基板3をマスク4を介して真空吸
着し、吸着した被成膜基板3を前記マスク4と共に搬送
して、前記被成膜基板3を前記マスク4と共に位置決め
・保持する基板ホルダー1に供給し、成膜処理後に、成
膜された基板3を前記マスク4を介して真空吸着し前記
マスク4と共に取り出すことを特徴とする。
保持面が鉛直、又は、下向きの場合でも、供給した被成
膜基板が落下しない基板ハンドリング方法の提供。 【解決手段】 被成膜基板3をマスク4を介して真空吸
着し、吸着した被成膜基板3を前記マスク4と共に搬送
して、前記被成膜基板3を前記マスク4と共に位置決め
・保持する基板ホルダー1に供給し、成膜処理後に、成
膜された基板3を前記マスク4を介して真空吸着し前記
マスク4と共に取り出すことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、成膜設備に被成膜
基板を供給し取り出す基板ハンドリング方法に関し、特
に、ディスクスパッタリング設備に被成膜基板を供給し
取り出す基板ハンドリング方法に関するものである。
基板を供給し取り出す基板ハンドリング方法に関し、特
に、ディスクスパッタリング設備に被成膜基板を供給し
取り出す基板ハンドリング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、ディスクスパッタリング設備
等の成膜設備に被成膜基板を供給し取り出す基板ハンド
リング方法には、基板を保持する基板ホルダーが使用さ
れ、供給されて基板ホルダーに保持された基板は、中心
部と外周部とをマスクし、且つ、落下を防止する中心マ
スクと外周マスクとで固定される。
等の成膜設備に被成膜基板を供給し取り出す基板ハンド
リング方法には、基板を保持する基板ホルダーが使用さ
れ、供給されて基板ホルダーに保持された基板は、中心
部と外周部とをマスクし、且つ、落下を防止する中心マ
スクと外周マスクとで固定される。
【0003】上記の基板ハンドリング方法の従来例を図
3に基づいて説明する。
3に基づいて説明する。
【0004】図3において、基板103は円盤状をして
おり、中心部に中心穴103aを有する。
おり、中心部に中心穴103aを有する。
【0005】基板ホルダー101は、その中心部に、基
板103の中心穴103aを嵌め込んで基板103を位
置決めする位置決め軸101aと、位置決めされた基板
103の中心部を支持する中心支持凸部101eとを有
し、又、その外周部に、位置決めされた基板103の外
周部を支持する外周支持凸部101dを有する。そし
て、基板ホルダー101の位置決め軸101aには、後
述の中心マスク104の嵌合軸穴104a内に設けられ
た嵌合凹部104bと嵌合するボールプランジヤー10
1bが設けられており、又、基板ホルダー101の外周
は円筒形で基板103の直径と同じ直径を有し、後述の
円筒形の外周マスク102の内面に設けられた嵌合凹部
102aと嵌合するボールプランジヤー101cが設け
られている。
板103の中心穴103aを嵌め込んで基板103を位
置決めする位置決め軸101aと、位置決めされた基板
103の中心部を支持する中心支持凸部101eとを有
し、又、その外周部に、位置決めされた基板103の外
周部を支持する外周支持凸部101dを有する。そし
て、基板ホルダー101の位置決め軸101aには、後
述の中心マスク104の嵌合軸穴104a内に設けられ
た嵌合凹部104bと嵌合するボールプランジヤー10
1bが設けられており、又、基板ホルダー101の外周
は円筒形で基板103の直径と同じ直径を有し、後述の
円筒形の外周マスク102の内面に設けられた嵌合凹部
102aと嵌合するボールプランジヤー101cが設け
られている。
【0006】外周マスク102は、基板103を保持し
た基板ホルダー101の外周に嵌め込まれる円筒部10
2bと、基板103の外周部をマスクする外周マスク部
102cとからなり、円筒部102bの内面には前述の
基板ホルダー101の外周面にあるボールプランジヤー
101cと嵌合する嵌合凹部102aが設けられてい
る。
た基板ホルダー101の外周に嵌め込まれる円筒部10
2bと、基板103の外周部をマスクする外周マスク部
102cとからなり、円筒部102bの内面には前述の
基板ホルダー101の外周面にあるボールプランジヤー
101cと嵌合する嵌合凹部102aが設けられてい
る。
【0007】中心マスク104は、中心マスク部104
cと、前述の基板ホルダー101の位置決め軸101a
と嵌合して位置決めされる嵌合軸穴104aと、嵌合軸
穴104aの内面に設けられ、前述の基板ホルダー10
1の位置決め軸101aにあるボールプランジヤー10
1bと嵌合する嵌合凹部104bとを有する。
cと、前述の基板ホルダー101の位置決め軸101a
と嵌合して位置決めされる嵌合軸穴104aと、嵌合軸
穴104aの内面に設けられ、前述の基板ホルダー10
1の位置決め軸101aにあるボールプランジヤー10
1bと嵌合する嵌合凹部104bとを有する。
【0008】次に、基板103を基板ホルダー101に
保持させ、外周マスク部102と中心マスク104とを
取付け・取外しする動作を図3に基づいて説明する。
保持させ、外周マスク部102と中心マスク104とを
取付け・取外しする動作を図3に基づいて説明する。
【0009】図3において、先ず、真空吸着ハンドリン
グ手段で基板103を保持し、基板103の中心穴10
3aを基板ホルダー101の位置決め軸101aに嵌め
込む。
グ手段で基板103を保持し、基板103の中心穴10
3aを基板ホルダー101の位置決め軸101aに嵌め
込む。
【0010】次いで、外周マスク102を、基板103
を保持した基板ホルダー101の外周に嵌め込み、基板
ホルダー101のボールプランジヤー101cと、外周
マスク102の嵌合凹部102aとを嵌合させる。
を保持した基板ホルダー101の外周に嵌め込み、基板
ホルダー101のボールプランジヤー101cと、外周
マスク102の嵌合凹部102aとを嵌合させる。
【0011】更に、中心マスク104の嵌合軸穴104
aを基板ホルダー101の位置決め軸101aに嵌め込
み、中心マスク104の嵌合凹部104bを基板ホルダ
ー101の位置決め軸101aのボールプランジヤー1
01bに嵌合させる。
aを基板ホルダー101の位置決め軸101aに嵌め込
み、中心マスク104の嵌合凹部104bを基板ホルダ
ー101の位置決め軸101aのボールプランジヤー1
01bに嵌合させる。
【0012】成膜が終了し、基板ホルダー101から基
板103を取り外す場合には、上記の動作を逆順に行
う。
板103を取り外す場合には、上記の動作を逆順に行
う。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の構成では、基板ホルダーに対して、先ず、基板を保持
させ、次いで、外周マスクを取り付け、更に、中心マス
クを取り付けるという3つのハンドリング作業が必要で
あり、作業時間が長くなるだけではなく、3種類のハン
ドリング機構が必要でハンドリング装置の機構が複雑に
なるという問題点がある。
の構成では、基板ホルダーに対して、先ず、基板を保持
させ、次いで、外周マスクを取り付け、更に、中心マス
クを取り付けるという3つのハンドリング作業が必要で
あり、作業時間が長くなるだけではなく、3種類のハン
ドリング機構が必要でハンドリング装置の機構が複雑に
なるという問題点がある。
【0014】又、基板ホルダーの保持面が鉛直の場合、
又は、下向きの場合には、先に基板のみを基板ホルダー
に供給すると、次に供給されるマスクが基板を基板ホル
ダーとの間に挟持して固定するまで、基板ホルダーは基
板のみを保持することが困難であり、供給した基板の落
下を防止する機構が別個に必要になり、ハンドリング装
置の機構が更に複雑になるという問題点がある。
又は、下向きの場合には、先に基板のみを基板ホルダー
に供給すると、次に供給されるマスクが基板を基板ホル
ダーとの間に挟持して固定するまで、基板ホルダーは基
板のみを保持することが困難であり、供給した基板の落
下を防止する機構が別個に必要になり、ハンドリング装
置の機構が更に複雑になるという問題点がある。
【0015】本発明は、上記の問題点を解決し、作業時
間が短くなり、且つ、基板ホルダーの保持面が鉛直、又
は、下向きの場合にも、供給した基板が落下しない基板
ハンドリング方法の提供を課題とする。
間が短くなり、且つ、基板ホルダーの保持面が鉛直、又
は、下向きの場合にも、供給した基板が落下しない基板
ハンドリング方法の提供を課題とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために、非成膜部分を所定のマスクでマスクし
て被成膜基板を成膜処理する成膜設備に前記被成膜基板
を供給し取り出す基板ハンドリング方法において、前記
被成膜基板を前記マスクを介して真空吸着し、吸着した
被成膜基板を前記マスクと共に搬送して、前記被成膜基
板を前記マスクと共に位置決め・保持する基板ホルダー
に供給し、成膜処理後に、成膜された基板を前記マスク
を介して真空吸着し前記マスクと共に取り出すことを特
徴とする。
解決するために、非成膜部分を所定のマスクでマスクし
て被成膜基板を成膜処理する成膜設備に前記被成膜基板
を供給し取り出す基板ハンドリング方法において、前記
被成膜基板を前記マスクを介して真空吸着し、吸着した
被成膜基板を前記マスクと共に搬送して、前記被成膜基
板を前記マスクと共に位置決め・保持する基板ホルダー
に供給し、成膜処理後に、成膜された基板を前記マスク
を介して真空吸着し前記マスクと共に取り出すことを特
徴とする。
【0017】従って、本発明の基板ハンドリング方法に
よると、被成膜基板をマスクを介して真空吸着し、吸着
した被成膜基板を前記マスクと共に搬送して、前記被成
膜基板を前記マスクと共に位置決め・保持する基板ホル
ダーに供給し、成膜処理後に、成膜された基板を前記マ
スクを介して真空吸着し前記マスクと共に取り出すこと
ができるので、従来例では、別個に行っていた基板の供
給とマスクの供給とを同時に行うことができ、作業時間
が1/2程度に短くなる。
よると、被成膜基板をマスクを介して真空吸着し、吸着
した被成膜基板を前記マスクと共に搬送して、前記被成
膜基板を前記マスクと共に位置決め・保持する基板ホル
ダーに供給し、成膜処理後に、成膜された基板を前記マ
スクを介して真空吸着し前記マスクと共に取り出すこと
ができるので、従来例では、別個に行っていた基板の供
給とマスクの供給とを同時に行うことができ、作業時間
が1/2程度に短くなる。
【0018】又、被成膜基板を、同時に供給されたマス
クと共に基板ホルダーが保持するので、基板ホルダーの
保持面が鉛直、又は、下向きの場合にも、供給した被成
膜基板が落下せず、従来例では必要である基板落下防止
機構が不要になり成膜設備の構成が簡単になる。
クと共に基板ホルダーが保持するので、基板ホルダーの
保持面が鉛直、又は、下向きの場合にも、供給した被成
膜基板が落下せず、従来例では必要である基板落下防止
機構が不要になり成膜設備の構成が簡単になる。
【0019】
【発明の実施の形態】ポリカーボネート製の円盤に成膜
処理して光ディスクを製造する成膜設備に本発明の基板
ハンドリング方法を使用する場合の一実施の形態を図
1、図2に基づいて説明する。
処理して光ディスクを製造する成膜設備に本発明の基板
ハンドリング方法を使用する場合の一実施の形態を図
1、図2に基づいて説明する。
【0020】図1、図2において、基板(被成膜基板)
3は円盤状をしており、中心部に中心穴3aを有する。
3は円盤状をしており、中心部に中心穴3aを有する。
【0021】本発明の特徴を有する中心マスク4は、基
板3の中心穴3aに嵌合すると共に、後述の基板ホルダ
ー1の嵌合軸穴4bにも嵌合して、基板3を基板ホルダ
ー1に保持させ位置決めさせる位置決め軸4aと、位置
決め軸4aの外周に設けられた嵌合凹部4bと、前記位
置決め軸4aの外周に設けられ、前記位置決め軸4aに
嵌合した基板3の中心部をマスクする中心マスク部4c
と、前記中心マスク部4cの基板3との接触側に設けら
れ基板3を真空吸着する真空吸着空間4fと、前記位置
決め軸4aの反対側に設けられた真空排気路4eと、前
記真空吸着空間4fと前記真空排気路4eとを連絡する
排気連絡穴4dとを有する。
板3の中心穴3aに嵌合すると共に、後述の基板ホルダ
ー1の嵌合軸穴4bにも嵌合して、基板3を基板ホルダ
ー1に保持させ位置決めさせる位置決め軸4aと、位置
決め軸4aの外周に設けられた嵌合凹部4bと、前記位
置決め軸4aの外周に設けられ、前記位置決め軸4aに
嵌合した基板3の中心部をマスクする中心マスク部4c
と、前記中心マスク部4cの基板3との接触側に設けら
れ基板3を真空吸着する真空吸着空間4fと、前記位置
決め軸4aの反対側に設けられた真空排気路4eと、前
記真空吸着空間4fと前記真空排気路4eとを連絡する
排気連絡穴4dとを有する。
【0022】基板ホルダー1は、その軸部に、中心マス
ク4の位置決め軸4aと嵌合して基板3と中心マスク4
とを保持して位置決めする位置決め軸穴1aと、位置決
め軸4aの嵌合凹部4bと嵌合するボールプランジヤー
1bと、位置決めされた基板3の中心部を支持する中心
支持凸部1eとを有し、又、その外周部に、位置決めさ
れた基板3の外周部を支持する外周支持凸部1dとを有
する。又、基板ホルダー1の外周は円筒形で基板3の直
径と同じ直径を有し、後述の円筒形の外周マスク2の内
面に設けられた嵌合凹部2aと嵌合するボールプランジ
ヤー1cが設けられている。
ク4の位置決め軸4aと嵌合して基板3と中心マスク4
とを保持して位置決めする位置決め軸穴1aと、位置決
め軸4aの嵌合凹部4bと嵌合するボールプランジヤー
1bと、位置決めされた基板3の中心部を支持する中心
支持凸部1eとを有し、又、その外周部に、位置決めさ
れた基板3の外周部を支持する外周支持凸部1dとを有
する。又、基板ホルダー1の外周は円筒形で基板3の直
径と同じ直径を有し、後述の円筒形の外周マスク2の内
面に設けられた嵌合凹部2aと嵌合するボールプランジ
ヤー1cが設けられている。
【0023】外周マスク2は、基板3を保持し位置決め
した基板ホルダー1の外周に嵌め込まれる円筒部2b
と、基板3の外周部をマスクする外周マスク部2cとか
らなり、円筒部2bの内面には前述の基板ホルダー1の
外周面にあるボールプランジヤー1cと嵌合する嵌合凹
部2aが設けられている。
した基板ホルダー1の外周に嵌め込まれる円筒部2b
と、基板3の外周部をマスクする外周マスク部2cとか
らなり、円筒部2bの内面には前述の基板ホルダー1の
外周面にあるボールプランジヤー1cと嵌合する嵌合凹
部2aが設けられている。
【0024】次に、基板3を基板ホルダー1に取付け・
取外し、外周マスク部2と中心マスク4とを取付け・取
外しする動作を図1、図2に基づいて説明する。
取外し、外周マスク部2と中心マスク4とを取付け・取
外しする動作を図1、図2に基づいて説明する。
【0025】図1、図2において、先ず、基板3の中心
穴3aを中心マスク4の位置決め軸4aに嵌合させ、真
空吸着ハンドリング手段で、中心マスク4の真空排気路
4eと排気連絡穴4dとを介し真空吸着空間4fを真空
排気し、真空にした前記真空吸着空間4fによって前記
基板3を吸着・保持し、中心マスク4の位置決め軸4a
を基板ホルダー1の嵌合軸穴4bに嵌合し、前記位置決
め軸4aの嵌合凹部4bを前記基板ホルダー1のボール
プランジヤー1bと嵌合させる。これによると、従来例
では基板ホルダーに対する基板の供給と中心マスクの供
給とが別個のハンドリング作業になっているのを、一つ
のハンドリング作業に纏めて行うことができる。
穴3aを中心マスク4の位置決め軸4aに嵌合させ、真
空吸着ハンドリング手段で、中心マスク4の真空排気路
4eと排気連絡穴4dとを介し真空吸着空間4fを真空
排気し、真空にした前記真空吸着空間4fによって前記
基板3を吸着・保持し、中心マスク4の位置決め軸4a
を基板ホルダー1の嵌合軸穴4bに嵌合し、前記位置決
め軸4aの嵌合凹部4bを前記基板ホルダー1のボール
プランジヤー1bと嵌合させる。これによると、従来例
では基板ホルダーに対する基板の供給と中心マスクの供
給とが別個のハンドリング作業になっているのを、一つ
のハンドリング作業に纏めて行うことができる。
【0026】次いで、外周マスク2を、基板3と中心マ
スク4とを保持した基板ホルダー1の外周に嵌め込み、
基板ホルダー1のボールプランジヤー1cと、外周マス
ク2の嵌合凹部2aとを嵌合させる。
スク4とを保持した基板ホルダー1の外周に嵌め込み、
基板ホルダー1のボールプランジヤー1cと、外周マス
ク2の嵌合凹部2aとを嵌合させる。
【0027】成膜が終了し、基板ホルダー1から基板3
を取り外す場合には、上記の動作を逆順に行う。
を取り外す場合には、上記の動作を逆順に行う。
【0028】尚、中心マスク4や外周マスク2をハンド
リングする真空吸着ハンドリング手段やハンドリング手
段は、構造、通過経路、供給・取り出しのタイミング等
を、成膜設備の構造に合わせて、自由に設計できる。
リングする真空吸着ハンドリング手段やハンドリング手
段は、構造、通過経路、供給・取り出しのタイミング等
を、成膜設備の構造に合わせて、自由に設計できる。
【0029】又、本実施の形態では、中心マスクと外周
マスクとの2つマスクを使用したが、2つに限らず、少
なくとも1つのマスクがあれば、そのマスクを使用して
同様の効果が得られる。
マスクとの2つマスクを使用したが、2つに限らず、少
なくとも1つのマスクがあれば、そのマスクを使用して
同様の効果が得られる。
【0030】
【発明の効果】本発明の基板ハンドリング方法は、真空
吸着ハンドリング手段が、マスクを介して被成膜基板を
吸着・保持し、保持した被成膜基板を基板ホルダーにマ
スクと共に供給したり取り出したりできるので、従来例
では、別個に行っていた被成膜基板の供給とマスクの供
給とを同時に行うことができ、作業時間が短くなるとい
う効果が得られる。
吸着ハンドリング手段が、マスクを介して被成膜基板を
吸着・保持し、保持した被成膜基板を基板ホルダーにマ
スクと共に供給したり取り出したりできるので、従来例
では、別個に行っていた被成膜基板の供給とマスクの供
給とを同時に行うことができ、作業時間が短くなるとい
う効果が得られる。
【0031】又、基板ホルダーに供給した被成膜基板
を、同時に供給されたマスクと共に前記基板ホルダーが
保持するので、基板ホルダーの保持面が鉛直、又は、下
向きの場合にも、供給した被成膜基板が落下せず、従来
例では必要である基板落下防止機構が不要になり成膜設
備の構成が簡単になるという効果が得られる。
を、同時に供給されたマスクと共に前記基板ホルダーが
保持するので、基板ホルダーの保持面が鉛直、又は、下
向きの場合にも、供給した被成膜基板が落下せず、従来
例では必要である基板落下防止機構が不要になり成膜設
備の構成が簡単になるという効果が得られる。
【図1】本発明の基板ハンドリング方法を使用する基板
ハンドリング装置の中心マスクの構成を示す断面図であ
る。
ハンドリング装置の中心マスクの構成を示す断面図であ
る。
【図2】本発明の基板ハンドリング方法を使用する基板
ハンドリング装置の中心マスクと、外周マスクと、基板
ホルダーとの構成を示す断面図である。
ハンドリング装置の中心マスクと、外周マスクと、基板
ホルダーとの構成を示す断面図である。
【図3】従来例の基板ハンドリング方法を使用する基板
ハンドリング装置の中心マスクと、外周マスクと、基板
ホルダーとの構成を示す断面図である。
ハンドリング装置の中心マスクと、外周マスクと、基板
ホルダーとの構成を示す断面図である。
1 基板ホルダー 1a 位置決め軸穴 1b ボールプランジャー 1c ボールプランジャー 1d 外周支持凸部 1e 中心支持凸部 2 外周マスク 2a 嵌合凹部 2b 円筒部 2c 外周マスク部 3 被成膜基板 3a 中心穴 4 中心マスク 4a 位置決め軸 4b 嵌合凹部 4c 中心マスク部 4d 排気連絡穴 4e 真空排気路 4f 真空吸着空間
Claims (1)
- 【請求項1】 非成膜部分を所定のマスクでマスクして
被成膜基板を成膜処理する成膜設備に前記被成膜基板を
供給し取り出す基板ハンドリング方法において、前記被
成膜基板を前記マスクを介して真空吸着し、吸着した被
成膜基板を前記マスクと共に搬送して、被成膜基板を前
記マスクと共に位置決め・保持する基板ホルダーに供給
し、成膜処理後に、成膜された基板を前記マスクを介し
て真空吸着し前記マスクと共に取り出すことを特徴とす
る基板ハンドリング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19917496A JPH1046339A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 基板ハンドリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19917496A JPH1046339A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 基板ハンドリング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1046339A true JPH1046339A (ja) | 1998-02-17 |
Family
ID=16403388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19917496A Pending JPH1046339A (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 基板ハンドリング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1046339A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6413381B1 (en) | 2000-04-12 | 2002-07-02 | Steag Hamatech Ag | Horizontal sputtering system |
US6874515B2 (en) * | 2001-04-25 | 2005-04-05 | Tokyo Electron Limited | Substrate dual-side processing apparatus |
WO2006090749A1 (ja) * | 2005-02-23 | 2006-08-31 | Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. | 成膜装置における基板装着方法および成膜方法 |
WO2021004331A1 (zh) * | 2019-07-05 | 2021-01-14 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 掩膜结构和fcva设备 |
-
1996
- 1996-07-29 JP JP19917496A patent/JPH1046339A/ja active Pending
Cited By (6)
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WO2001079582A3 (en) * | 2000-04-12 | 2002-07-04 | Steag Hamatech Ag | Horizontal sputtering system |
US6874515B2 (en) * | 2001-04-25 | 2005-04-05 | Tokyo Electron Limited | Substrate dual-side processing apparatus |
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