JPH1040316A - 図式のテスト支援装置及びテスト支援方法 - Google Patents

図式のテスト支援装置及びテスト支援方法

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JPH1040316A
JPH1040316A JP18964896A JP18964896A JPH1040316A JP H1040316 A JPH1040316 A JP H1040316A JP 18964896 A JP18964896 A JP 18964896A JP 18964896 A JP18964896 A JP 18964896A JP H1040316 A JPH1040316 A JP H1040316A
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JP18964896A
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English (en)
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Mari Oomori
麻理 大森
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 システムの動作を記述した状態遷移図等の図
式は、その複雑さや規模に比例してこれをユーザが参照
しつつ理解・テストする場合の困難さが増すという課題
があった。 【解決手段】 この図式のテスト支援装置は、状態遷移
図における各遷移に対してユーザが任意の優先度３を設
定する優先度設定手段４と、状態遷移図における全ての
経路６を検出する検出手段７と、優先度設定手段４によ
って各遷移に設定された優先度に基づいて個々の経路の
優先度を評価し、その優先度による各経路の順序づけを
行う経路の順序づけ手段８と、状態遷移図の中から一部
の経路を抽出するための任意の条件をユーザが指定する
ための抽出条件指示手段１０と、経路の優先度に基づく
順序づけ結果９に基づいて図式から抽出条件指示手段１
０の抽出条件を満足する経路を抽出する抽出手段１１
と、抽出手段１１によって抽出さたれ経路を他の経路と
差別化して表示する表示手段５とを有して構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばソフトウェ
アシステムやハードウェアシステムの動作を記述した状
態遷移図等の図式の理解・テストを支援する図式のテス
ト支援装置とテスト支援方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ソフトウェアシステムやハードウェアシ
ステムの分析・設計等は、そのシステムの動作を図式的
に記述した状態遷移図を用いて行われることが多い。こ
のような状態遷移図を用いたテストは、図中に存在する
状態遷移の経路を一つ一つ追跡してその意味を理解した
後に行われる。
【０００３】例えばソフトウェアシステムの場合、対象
とするプログラムの外部仕様（機能）に着目するブラッ
クボックス・テストと、内部項目（ロジック）に着目す
るホワイトボックス・テストの二つの観点から、各々の
動作を表現した状態遷移図上でそのテストが行われる。
【０００４】しかしながら、状態遷移図がとり得る状態
遷移の経路の数は、システムが複雑且つ大規模なものと
なるにつれて膨大なものとなる。このためテスト項目の
数も、限られた時間・コストの範囲では実施不可能なほ
どに膨れ上がってしまう。
【０００５】テスト効率を高めるために、状態遷移図か
ら重要度の高いテスト項目のみを抽出してテストする方
法が考えられる。しかしながら、複雑且つ大規模な状態
遷移図からは重要な状態遷移の経路を判別することすら
容易ではなく、その過程で多くの誤解や混乱が生じてし
まう確率が非常に高い。このように、複雑且つ大規模な
状態遷移図の内容を効率良く理解し、その妥当性をテス
トすることは現状では困難であるという問題があった。
【０００６】また、このような問題はソフトウェアシス
テムやハードウェアシステムの動作を記述した状態遷移
図に限らず、回路図、建築図面等の理解・テストにおい
ても同様であった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このように、状態遷移
図等の図式は、その複雑さや規模に比例して理解の困難
さが増し、その中の重要な部分の判別も容易でないこと
から、効率良く図式を理解・テストすることができない
という問題があった。
【０００８】本発明はこのような課題を解決するもので
あり、状態遷移図等の図式の理解・テスト効率の大幅な
改善を図ることのできる図式のテスト支援装置とテスト
支援方法の提供を目的としている。
【０００９】また、本発明は、ユーザが指定した任意の
優先度の関連要素集合を図式上の他の要素に対して差別
化して表示することで、全体の図式が複雑且つ大規模な
ものであっても、その中の任意優先度の図式部分の理解
とテストを容易化することのできるテスト支援装置とテ
スト支援方法の提供を目的としている。
【００１０】さらに、本発明は、ユーザが指定した任意
の優先度の経路を状態遷移図上の他の経路に対して差別
化して表示することで、複雑且つ大規模な状態遷移図で
も、その中の例えば重要部分等を容易に理解しテストす
ることを支援することのできるテスト支援装置とテスト
支援方法の提供を目的としている。
【００１１】さらに、本発明は、状態遷移図等の図式か
ら、重要なテスト項目を漏れなく抽出することのできる
テスト支援装置とテスト支援方法の提供を目的としてい
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の図式のテスト支援装置は、図式を構成す
る要素に対して任意の優先度を設定する優先度設定手段
と、図式から互いに関連する要素の集合を検出する検出
手段と、優先度設定手段によって各要素に設定された優
先度に基づいて、検出手段によって検出された関連要素
集合の中から所定の関連要素集合を抽出するための所定
の条件を指定する条件指定手段と、評価手段によって得
られた各関連要素集合の優先度に基づいて、関連要素集
合の中から指定条件を満足する関連要素集合を抽出する
抽出手段とを具備してなるものである。
【００１３】すなわち、本発明では、優先度設定手段を
用いてユーザが図式における一部の要素、例えば状態遷
移図の場合は全て或いは一部の遷移に対して任意の優先
度を各々設定する。一部の要素や遷移に対して与えられ
る優先度は、ユーザがこれから図式中のどんな処理を行
う場合を理解・テストするかによって決定される。
【００１４】検出手段は、図式から互いに関連する要素
の集まりを関連要素集合として検出する。例えば図式が
状態遷移図の場合、検出手段は関連要素集合として状態
遷移図中に存在する全ての経路を検出する。
【００１５】評価手段は、検出された個々の経路等の関
連要素集合の優先度を、各要素に対して設定された優先
度に基づいて評価する。この優先度の評価方法について
は、人間がその評価を行った場合と同様な結果が得られ
る方法であれば何でもよく、本発明ではこれを特に限定
しない。
【００１６】一方、ユーザは条件指定手段を用いて、全
ての関連要素集合の中から一部の関連要素集合を抽出す
るための条件を指定する。抽出条件は、具体的には、請
求項３に記載されるように、関連要素集合の優先度、或
いは請求項４に記載されるように、関連要素集合の優先
度と、全ての関連要素集合の中から抽出したい関連要素
集合の数の割合を示す値等により与えられる。
【００１７】抽出手段は、評価手段によって得られた各
関連要素集合の優先度に基づいて、全ての関連要素集合
の中から指定条件を満足する関連要素集合を抽出する。
例えば、評価手段によって得られた各経路の優先度に基
づいて、全ての経路の中から指定条件を満足する経路を
抽出する。抽出条件が関連要素集合の優先度で指定され
た場合、抽出手段は例えばその指定優先度の関連要素集
合を全体の関連要素集合から全て抽出する。また、抽出
条件が関連要素集合の優先度と、全ての関連要素集合の
中から抽出したい関連要素集合の数の割合を示す値で指
定された場合、抽出手段は例えば、その指定優先度以下
の関連要素集合を高優先度のものから優先して、指定さ
れた割合分の数だけ抽出する。
【００１８】抽出手段により抽出された関連要素集合
は、図式上で他の要素に対して差別化して表示すること
が望ましい。指定条件を満足する関連要素集合を他の要
素に対して差別化して表示する具体的な手段としては、
図式中で指定条件を満足する関連要素集合のみを排他的
に表示する手段、或いは指定条件を満足する関連要素集
合を全体の図式中で反転、太線、色等で強調して表示す
る手段等がある。
【００１９】このように本発明によれば、指定した優先
度の（経路等の）関連要素集合毎にこれを（状態遷移図
等の）図式上の他の部分に対して差別化して表示するこ
とができるので、図式が複雑且つ大規模なものであって
も、ユーザはその中から例えば重要な関連要素集合を一
目で判別でき、その内容を容易に理解し且つテストする
ことが可能となる。よって、状態遷移図等の図式の理解
・テスト効率の大幅な改善を図ることが可能となる。ま
た、重要なテスト項目を漏れなく抽出することが可能と
なる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の図式のテスト支援
装置を実施する場合の形態について説明する。 本実施
形態の図式のテスト支援装置は例えばコンピュータ上に
実現され、各機能は所定の手順（プログラム）がコンピ
ュータを制御することで実現される。
【００２１】本明細書に記載される「手段」や「部」は
本実施形態のテスト支援装置における各機能に対応する
概念で、必ずしも特定のハードウェアやソフトウェア・
ルーチンに１対１で対応するものではない。同一のハー
ドウェア要素が場合によって異なった手段を構成する。
例えば、コンピュータはある命令を実行するときにある
手段となり別の命令を実行するときには別の手段となり
うる。また、一つの手段が１命令によって実現される場
合もあれば多数の命令によって実現される場合もある。
また、機能の全部又は一部はカスタムチップ（専用の集
積回路）のような電子回路上に実現してもよい。
【００２２】本実施形態のテスト支援装置に用いられる
コンピュータは、ＣＰＵ（中央演算処理装置）と、ＲＡ
Ｍ（随時書込読出型記憶素子）からなる主記憶装置とを
有する。また、コンピュータの規模は自由であり、マイ
クロコンピュータ、パーソナルコンピュータ、スモール
コンピュータ、ワークステーション、メインフレームな
ど、いかなる規模のものを用いてもよい。
【００２３】前記コンピュータのハードウェアは、典型
的には、キーボードやマウスなどの入力装置と、ハード
ディスク装置などの外部記憶装置と、ＣＲＴ表示装置や
プリンタ印字装置などの出力装置と、必要な入出力制御
回路を含む。
【００２４】ただし、前記コンピュータのハードウェア
構成は自由であり、本発明が実施できる限り、上記の構
成要素の一部を追加・変更・除外してもよい。例えば、
複数のコンピュータを接続したコンピュータネットワー
ク上に実現してもよい。また、ＣＰＵの種類は自由であ
り、ＣＰＵを複数用いたり、単一のＣＰＵをタイムシェ
アリング（時分割）で使用し、複数の処理を同時平行的
に行ってもよい。
【００２５】また、他の入力装置（例えば、タッチパネ
ル、ライトペン、トラックボールなどのポインティング
デバイスや、デジタイザ、イメージ読取装置やビデオカ
メラなどの画像入力装置、音声識別装置、各種センサな
ど）を用いてもよい。また、他の外部記憶装置（例え
ば、フロッピーディスク装置、ＲΑＭカード装置、磁気
テープ装置、光学ディスク装置、光磁気ディスク装置、
バブルメモリ装置、フラッシュメモリなど）を用いても
よい。また、他の出力装置（例えば、液晶表示装置、プ
ラズマディスプレイ装置、ビデオプロジェクター、ＬＥ
Ｄ表示装置、音響発生回路、音声合成回路など）を用い
てもよい。
【００２６】また、本実施形態のテスト支援装置を実現
するためのソフトウェアの構成としては、典型的には、
本実施形態のテスト支援装置の各機能を実現するための
アプリケーションプログラムがＯＳ（オペレーティング
システム）上で実行される態様が考えられる。また、本
実施形態のテスト支援装置を実現するためのプログラム
の態様としては、典型的には、高級言語やアセンブラか
らコンバイル（翻訳）された機械語が考えられる。ただ
し、前記コンピュータのソフトウェア構成も自由であ
り、本発明が実施できる限り、ソフトウェア構成を変更
してもよい。例えば、必ずしもＯＳを用いる必要はな
く、また、プログラムの表現形式も自由であり、ＢＡＳ
ＩＣのようなインタプリタ（逐次解釈実行型）言語を用
いてもよい。また、プログラムの格納態様も自由であ
り、ＲＯＭ（読出専用メモリ）に格納しておいてもよ
く、また、ハードディスク装置のような外部記憶装置に
格納しておき、コンピュータの起動時や処理の開始時に
主メモリ上にロード（読み込み）してもよい。また、プ
ログラムを複数の部分に分割して外部記憶装置に格納し
ておき、処理内容に応じて必要なモジュールのみ随時主
メモリ上にロード（読み込み）してもよい。さらに、プ
ログラムの部分ごとに異なった態様で格納してもよい。
【００２７】また、本実施形態における各手順の各ステ
ップは、その性質に反しない限り、実行順序を変更して
もよく、複数同時に実行してもよい。このような順序の
変更は、例えば、ユーザが実行可能な処理を選択するな
どメニュー形式のインターフェース手法によって実現す
ることができる。
【００２８】また、本明細書に記載される「入力」は本
来の情報の入力のみならず、情報の入力と密接に関連す
る他の処理を含む。このような処理は、例えば入力内容
のエコーバックや修正・編集である。また、本明細書に
記載される「出力」は、本来の情報の出力のみならず、
情報の出力と密接に関連する他の処理を含む。このよう
な処理は、例えば出力すべき範囲の入力や画面スクロー
ルの指示である。なお、対話的入出力手順によって入力
と出力を一体的操作によって実現してもよく、このよう
な一体的操作によって、選択・指定・特定などの処理を
行ってもよい。
【００２９】また、本明細書に記載されるデータ（情
報）やデータの格納手段は前記コンピュータ上において
いかなる態様で存在してもよい。例えば、データのハー
ドウェア上の存在部分は、主記憶装置・外部記憶装置・
ＣＰＵのレジスタやキャッシュメモリなどいかなる部分
でもよい。また、データの保持態様も自由である。例え
ば、データはファイル形式で保持されるのみならず、メ
モリやディスクなどの記憶装置を物理的アドレスで直接
アクセスすることによって実現してもよい。また、デー
タの表現形式も自由で、例えば、文字列を表すコードの
単位は、文字単位でも単語単位でもよい。また、データ
は必要とされる一定時間だけ保持されれば十分でその後
消滅してもよく、保持時間の長短は自由である。また、
辞書データのように当面変更されない情報は、ＲＯΜに
格納してもよい。
【００３０】また、本明細書において、特定の情報への
言及は確認的で、言及されない情報の存在を否定するも
のではない。すなわち、本実施形態の動作では、動作に
必要な一般的な情報、例えば、各種ポインタ、カウン
タ、フラグ、パラメータ、バッファなどが適宜用いられ
る。
【００３１】本実施形態の各部分が処理に要する情報
は，特に記載がない場合、当該情報を保持している他の
部分から獲得される。このような情報の獲得は、例え
ば、当該情報を格納している変数やメモリをアクセスす
ることによって実現することができる。なお、情報の消
去・抹消は、当該情報の内容自体を必ずしも記憶領域か
ら現実に削除せず、消去を表すフラグを設定するなど、
情報の意味づけの変更によって行うことができる。
【００３２】本実施形態の目的は、状態遷移図を用いて
効率的にソフトウェアをテストすることできるテスト支
援装置を提供することにある。また、本実施形態の他の
目的は複雑な状態遷移図の容易な理解を可能とするテス
ト支援装置を提供することにある。
【００３３】図１は、かかる本実施形態の図式のテスト
支援装置の構成を示す機能ブロック図である。
【００３４】同図に示すように、このテスト支援装置
は、状態遷移図（を表すデータ）１を入力するための入
力手段２と、入力された状態遷移図における各遷移に対
してユーザが任意の優先度３を設定するための優先度設
定手段４と、入力された状態遷移図をユーザに表示する
表示手段５と、状態遷移図における全ての経路（を表す
データ）６を検出する検出手段７と、優先度設定手段４
によって各遷移に設定された優先度に基づいて個々の経
路の優先度を評価し、その優先度による各経路の順序づ
けを行う経路の順序づけ手段８と、経路の順序づけ結果
（を表すデータ）９とを有している。
【００３５】また、このテスト支援装置は、状態遷移図
（全ての経路）の中から一部の経路を抽出するための任
意の条件をユーザが指定するための抽出条件指示手段１
０と、経路の優先度に基づく順序づけ結果９に基づいて
図式１から抽出条件指示手段１０の抽出条件を満足する
経路を抽出する抽出手段１１とを有して構成されてい
る。また、表示手段５は、抽出手段１１によって抽出さ
れた経路を他の経路と差別化して表示する機能を有して
いる。
【００３６】次に本実施形態のテスト支援装置の動作概
要を説明する。図２に本実施形態のテスト支援装置の動
作概要を示す。
【００３７】１．ひとつの状態遷移図が与えられる。 ２．状態遷移図中の各遷移に対してユーザが優先度を与
える。優先度については、毎回ユーザが与えるのではな
く、あらかじめ状態遷移図上に設定されていたり、デー
タとして外部より読み込んできたりしてもよい。
【００３８】２a1．状態遷移図から優先度の設定された
遷移を含む全ての経路（＄Ｐ1 ，Ｐ2 ，…Ｐn ）をあら
いだす。 ２a2．各遷移に設定された優先度に基づき各経路の優先
度を求め、二つの経路間での優先度の比較を通して全経
路を優先度の高い順に順序づける。 ２b1．ユーザが抽出範囲または抽出条件を指定する。指
定の仕方には何通りかあり、ユーザが好みのものを選択
する。
【００３９】３．順序づけた全経路から、抽出条件を満
たすものを残し、他を捨てる。 ４．抽出結果を適用する。以下のような利用が考えられ
る。 ・テスト項目の生成 ・表示によってユーザの図の理解を容易なものとする。 ・再び入力として上記の処理を行う。
【００４０】以下、各処理の詳細を説明する。
【００４１】［図の入力］図３は本テスト支援装置に入
力される図式の例である。このような図式のデータを例
えばマウスやキーボード等の入力手段２から入力し、メ
モリに格納しておく。この図式はソフトウェア等のシス
テムの動作を記述したもので、通常、状態遷移図と呼ば
れる。
【００４２】図３の状態遷移図は銀行の自動支払機（Ａ
ＴＭ）の動作を記述したものである。状態遷移図はシス
テムの動作を複数の状態と状態間の遷移（状態遷移）と
で表したものである。ここで“遷移”とは「ある状態で
遷移原因（イベント）を受けることによる次状態への移
り変わり」であり、図３では角が丸い矩形のノードが状
態を、矢印で示すアークが状態間の遷移を示す。また、
状態遷移には遷移原因（イベント）及び括弧［］で囲ま
れた条件が記述される。黒丸（●）は開始時の状態（初
期状態）を表す。
【００４３】図３の状態遷移図には２４個の状態と３４
本のアークが図式の要素として含まれている。「ある状
態からの１回以上の遷移による状態の移り変わり」を
“経路”と定義すると、経路数はとりうる状態の組合せ
の数に等しいため膨大な量になる。例えば、Ｓ１からＳ
２２までの繰り返し部分だけでも経路は６１通り存在す
る。よって、このような膨大な数の経路を有する複雑な
図式をユーザが理解することは容易ではない。本テスト
支援装置は、このような複雑な図式の理解・テストを容
易化することを目的の一つとしている。
【００４４】本テスト支援装置は、状態遷移図を表すデ
ータを図４（ｂ）に示すようなデータ構造で保存する。
例えば図４（ａ）に示す状態遷移図の場合、これを表す
データは図４（ｃ）に示すようなデータ構造で保存され
る。すなわち、状態遷移図を表すデータ構造は、状態遷
移図名と初期状態へのポインタを含む（場合により作成
者名、作成日時等も含む）状態遷移図項目と、状態名、
遷移へのポインタリストを含む状態項目と、イベント
名、前状態へのポインタ状態へのポインタを含む遷移項
目からなる。
【００４５】［優先度の設定］ユーザは優先度設定手段
４によって、図式上の遷移の部分に所望の優先度を設定
する。優先度の基準はユーザが決定することができ、場
合に応じて重要度、危険度等が考えられる。故に、同じ
図式（データ）に対して異なる優先度を与えることもも
ちろん可能である。
【００４６】図５は図３の各遷移に優先度を設定した例
である。この例では“来客がΑＴＭが期待する通りに振
舞ってくれるかどうか”に注目し、期待通りの場合の遷
移を高優先度としている。
【００４７】例えば“Ｓ１９”の状態では“カード取出
（通帳あり）”の方が“カード取出（通帳なし）”より
も優先度が高い。なお、ここでは優先度は高いものから
順に１，２，…と定義する。また、全ての遷移に対して
ユーザが優先度を設定するのは多くの労力を伴うので、
この労力を軽減するため、ユーザがデフォルト値を設定
できるようにする。
【００４８】優先度が設定された状態遷移図は、図６
（ｂ）に示すデータ構造で保存される。すなわち、遷移
項目に優先度の情報が設定される。例えば図６（ａ）に
示す状態遷移図の場合、これを表すデータは図６（ｃ）
に示すようなデータ構造で保存される。
【００４９】［経路の検出］このように与えられた図式
について、検出手段７は、図式中に含まれている全ての
経路（を表すデータ）６を検出する。図５の例では計６
１通りの経路が検出される。
【００５０】この６１通りの経路を図７に示す。この例
では、●は初期状態、○の中は状態の番号、線に付けら
れた数字はその状態遷移の優先度、末端の状態の下にあ
る一字（あ〜ん、Ａ〜Ｐ）は各遷移につけた識別名を表
す。
【００５１】経路データはΑ．Ｖ．エイホ他著、大野
訳、「データ構造とアルゴリズム」（1987、培風館）p.
75-81 にあるような一般的な木構造で表される。
【００５２】［優先度の比較］これらの経路全てを対象
とすると、膨大な数であるため全体を把握しきれずにユ
ーザの理解度が低下する。また、テスト項目数が限られ
た時間・コスト内で処理可能な数よりも多くなり、全て
の項目のテストを実行することが困難になる。そこで、
これら全ての経路の中から、次のようにして、ある条件
を満たす経路のみ抽出する。
【００５３】まず、検出された全ての経路６に対して優
先度に基づいた順序づけを行う。図８は二つの経路に対
して優先度に基づいた比較を行う場合の手順を示すフロ
ーチャートであり、図９は二経路の優先度の具体的な比
較例の二つを示している。この例では優先度は１または
２の値をとるものとする。
【００５４】１．比較対象となる二つの経路（経路１、
経路２とする）のうち短い方の経路長をｌとおく（ステ
ップ１１）。“経路長”はある経路におけるイベントの
数、すなわち状態遷移数である。 ２．経路ｋにおける開始状態からの“高”優先度の数を
Ｓk とし、０で初期化する（ステップ１２）。 ３．各経路の状態遷移を一つ進め、その遷移の優先度が
“高”であればＳk の値を１加えて更新する（ステップ
１７）。
【００５５】４．Ｓ1 及びＳ2 すなわち両経路の開始状
態以降の遷移における“高”優先度の数を比較する（ス
テップ２２）。 （ａ）ここで前回比較時と不等号の向きが変わらなけれ
ばもう一つ次の遷移に対象を広げて処理を進め（ステッ
プ２３）、（ｂ）向きが逆向きになれば“同じ優先度”
として処理を終える（ステップ２４）。
【００５６】５．ｉ＝ｌ−１までこの処理を続けても不
等号の向きが変わらなかった場合、 （ａ）Ｓ1 ≧Ｓ2 ならば“経路１の優先度≧経路２の優
先度”を出力する（ステップ２０）。 （ｂ）Ｓ1 ≦Ｓ2 ならば“経路１の優先度≦経路２の優
先度”を出力する（ステップ２１）。
【００５７】例えば図９に示す例１）において、二つの
経路（経路１＝１−１−１−２，経路２＝２−１−２−
１）の比較を考える。
【００５８】経路１は４つの遷移からなる経路であり、
遷移の優先度がそれぞれ１，１，１，２であることを意
味している。 １．ステップ１１より、ｌ＝４。 ２．ｉ＝０，Ｓ1 ＝０，Ｓ1 ＝０（ステップ１２）。 ３．例１）では、 ｉ＝０のとき Ｓ1 ＝１，Ｓ2 ＝０ ｉ＝１のとき Ｓ1 ＝２，Ｓ2 ＝１ ｉ＝２のとき Ｓ1 ＝３，Ｓ2 ＝１ ｉ＝３のとき Ｓ1 ＝３，Ｓ2 ＝２ となる。この間、不等号の向きは変わらない（ステップ
２２）。 ４．ここでｉを増やすとｉ＞ｌ−１となる（ステップ１
３）。 ５．Ｓ1 ＞Ｓ2 より経路１の優先度＞経路２の優先度が
得られる（ステップ２０）。
【００５９】例２）では、経路１＝１−２−２−１，経
路２＝２−１−１−２の比較を考える。 １．ステップ１１より、ｌ＝４。 ｉ＝０のとき Ｓ1 ＝１，Ｓ2 ＝０ ｉ＝１のとき Ｓ1 ＝１，Ｓ2 ＝１ ｉ＝２のとき Ｓ1 ＝１，Ｓ2 ＝２ ここで不等号の向きが逆になるから（ステップ２２）、 ２．経路１，経路２は同じ優先度が得られる（ステップ
２４）。
【００６０】この比較結果を全体の経路に対する順序づ
けに利用する。図１０は全体の順序づけを行う場合の手
順を示すフローチャートであり、経路は図１１のように
順序づけされる。この順序づけの手順を以下に説明す
る。
【００６１】１．既に順序づけされている経路集合の経
路数をｌとおく（ステップ３０）。 ２．集合内の最高優先度の経路をＰ0 とする。 ３．集合に加えたい経路と集合内の経路Ｐ1 を、図８の
手順で比較する（ステップ３３）。 （ａ）集合に加えたい経路がＰi よりも低優先度であれ
ば、集合内の次に優先度の高い経路（Ρi+1 ) と同様に
比較する（ステップ３６）。 （ｂ）集合に加えたい経路がＰi よりも高優先度、また
は比較不可能であれば、その集合内でｉ番目（最高優先
度であれば０番目）に優先度が高い経路として経路集合
に加える（ステップ３６）。 （ｃ）優先度が等しい、すなわち短い方の経路長までは
全く同じ経路である場合、経路長の大きい方を低い優先
度として経路集合を再構成する（ステップ３６）。
【００６２】なお、この例は、とりうる優先度の値を１
と２の二値とした場合であるが、３以上の値の優先度を
許可した場合であっても簡単に拡張可能である。
【００６３】また、ここでは最高順序のものから順に比
較していく方式を例にとったが、比較にかかる時間、計
算量等を考慮して、クイックソート等公知のソーティン
グ手法を利用することも可能である。
【００６４】［抽出条件の指示］ユーザは抽出条件指示
手段１０により、状態遷移図からその一部を抽出するた
めの条件を設定する。抽出条件の指示方法を３つ挙げ
る。
【００６５】１．基準を最高／最低／標準の各優先度の
経路とし、そのいずれかの基準から全体の何％までのも
のを抽出するかを指示する。この場合の設定画面の例を
図１２に示す。 ２．経路の順序づけ結果である優先度毎の経路のグルー
プを参照しながら、優先度の高いものからどの優先度の
ものまでを抽出するかを指示する。この場合の設定画面
の例を図１３に示す。この例では黒丸（●）が１つの経
路を表しており、反転表示しているものが抽出対象とし
て指示されている。 ３．ある仮定に基づいて見積った時間の上限を、例えば
“何分以内”といったように指示する。設定画面の例を
図１４に示す。例えば“一経路のテストに５分かかる”
という仮定を用いた場合、時間の上限を３０分と指示す
れば、最高／最低／標準の各優先度の経路のいずれかの
基準から６経路までが抽出されることになる。
【００６６】なお、図１２、図１４の設定方法におい
て、抽出基準は、 １．最高優先度のものから ２．平均優先度のものから ３．最低優先度のものから ４．ランダムに のいずれかよりユーザが指定できる。
【００６７】［図の表示］抽出結果として得られた経路
は、表示手段５により表示される。各経路の表示方法と
しては、 ・抽出結果のみを表示する方法 ・もともとの図に対して強調表示する方法 などがある。また、複数の経路が抽出された場合の表示
方法としては ・一経路づつ取り出して表示する方法 ・全てを重ねて表示する方法 などがある。
【００６８】図１５は後者による表示例であり、順序づ
け結果（図１１）により優先度が最高と位置づけられた
１２経路を表示している。図３と比較すると、状態数は
２１から１６、遷移数は３４から１９に減少しているた
めユーザの理解性は向上する。この効果、同時に理解す
べき要素が限定されるため、本来複雑な図式でも容易に
理解することができる。
【００６９】さらに、図１５で得られたような、ある段
階の図式の表示に対して優先度を設定し直し、さらに簡
潔な図式を得ることも可能である。複雑度が極めて高い
図式に対しては、このように優先度設定と抽出条件指定
による図式の絞り込みを繰り返すことが有効である。
【００７０】［繰り返し適用例］図１５に対して図式の
絞り込みを繰り返した場合の途中結果及び最終結果を図
１６から図１９に示す。
【００７１】１．この例では再度抽出を行う際に前回と
は違う優先度を設定している。図１６に具体例を示す。
今回はユーザ（来客）自身の行動による遷移を高優先
度、ΑＴΜ内の動作による遷移を低優先度としている。 ２．まず検出手段７により図１７に示す１２経路が検出
される。図中あ’〜し’は各経路の識別名である。 ３．１２経路間の優先度を比較して、各経路の順序づけ
を行う。１２経路の順序づけ結果を図１８に示す。 ４．抽出条件を指示する。この例では高優先度な２経路
を抽出することとする。 ５．抽出された経路を重ねて
表示した例を図１９に示す。最初の状態遷移図３に対し
て、状態数が２１から８、遷移数が３４から９へと減少
しているため、状態遷移図の理解あるいはテストにかか
る時間は大幅に軽減される。
【００７２】このように、本実施形態のテスト支援装置
によれば、状態遷移図等の図式中の一部の要素（遷移）
への優先度の設定と抽出条件の指定をユーザが行うだけ
で、全体図式中で重要な関連要素集合（経路）のみを他
の部分に対して差別化して表示することができるので、
複雑な図式であってもユーザは目的の部分を容易に理解
・テストすることが可能となる。
【００７３】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、次に例示するような他の実施形態をも包
含するものである。
【００７４】例えば、本発明のテスト支援装置は状態遷
移図のみを対象とするものではなく、回路図・建築図面
等、あらゆる図式に適用することができる。全ての図式
を構成する各要素は様々な観点から互いに関連し合った
いくつかの要素集合に分類することができるので、この
関連要素集合の分類規則や、関連要素集合の優先度の評
価方法を図式の特性に合せて最適に定義することによっ
て、前記状態遷移図と同様に回路図・建築図面等の様々
な図式を理解・テストするためのテスト支援装置を実現
することができる。
【００７５】また、本実施形態のテスト支援装置で得ら
れた経路毎の優先度は表示する／しないの選択のみに利
用するだけでなく、例えば優先度の高い経路をテスト項
目としてユーザに紹介するために利用してもよい。
【００７６】
【発明の効果】以上説明したように本発明の図式のテス
ト支援装置及びテスト支援方法によれば、指定した優先
度の（経路等の）関連要素集合毎にこれを（状態遷移図
等の）図式上の他の部分に対して差別化して表示するこ
とができるので、図式が複雑且つ大規模なものであって
も、ユーザはその中から例えば重要な関連要素集合を一
目で判別でき、その内容を容易に理解し且つテストする
ことが可能となる。よって、状態遷移図等の図式の理解
・テスト効率の大幅な改善を図ることが可能となる。ま
た、重要なテスト項目を漏れなく抽出することが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態である図式のテスト支援装置
の構成を示す機能ブロック図
【図２】図１のテスト支援装置の動作概要を示す図
【図３】図１のテスト支援装置に入力される状態遷移図
の例を示す図
【図４】図３の状態遷移図のデータ構造を示す図
【図５】図３の状態遷移図の各遷移への優先度の設定例
を示す図
【図６】優先度が設定された状態遷移図のデータ構造を
示す図
【図７】図５の状態遷移図から検出された全ての経路を
示す図
【図８】図５の状態遷移図から検出された二つの経路の
優先度の比較の手順を示すフローチャート
【図９】図８の経路優先度比較の具体例を示す図
【図１０】状態遷移図から検出された全ての経路の順序
づけの手順を示すフローチャート
【図１１】状態遷移図から検出された全ての経路の順序
づけの結果を示す図
【図１２】全体経路から一部の経路を抽出するための条
件設定画面の例を示す図
【図１３】全体経路から一部の経路を抽出するための条
件設定画面の他の例を示す図
【図１４】全体経路から一部の経路を抽出するための条
件設定画面のさらに他の例を示す図
【図１５】最高優先度の経路を全て重ねて表示する場合
の表示例を示す図
【図１６】図式の絞り込みを繰り返す場合の遷移優先度
の設定完了後の表示例を示す図
【図１７】図１６の状態遷移図から検出された全経路を
示す図
【図１８】図１６の状態遷移図における全経路の順序づ
け結果を示す図
【図１９】図式の絞り込みの繰り返しによって得られた
最高優先度の経路の表示例を示す図
【符号の説明】
１………状態遷移図 ２………入力手段 ３………遷移の優先度 ４………優先度設定手段 ５………表示手段 ６………経路 ７………検出手段 ８………経路の順序づけ手段 ９………経路の優先順序 １０………抽出条件指示手段 １１………抽出手段

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 図式を構成する要素に対して優先度を設
    定する優先度設定手段と、 前記図式から互いに関連する要素の集合を検出する検出
    手段と、 前記優先度設定手段によって前記各要素に設定された優
    先度に基づいて、前記検出手段によって検出された関連
    要素集合の優先度を評価する評価手段と、 前記検出手段によって検出された関連要素集合の中から
    所定の関連要素集合を抽出するための所定の条件を指定
    する条件指定手段と、 前記評価手段によって得られた前記各関連要素集合の優
    先度に基づいて、前記関連要素集合の中から前記所定の
    条件を満足する関連要素集合を抽出する抽出手段と、を
    具備することを特徴とする図式のテスト支援装置。
  2. 【請求項２】 請求項１記載の図式のテスト支援装置に
    おいて、 前記抽出手段により抽出された関連要素集合を前記図式
    上の他の要素に対して差別化して表示する表示手段をさ
    らに具備することを特徴とする図式のテスト支援装置。
  3. 【請求項３】 請求項１記載の図式のテスト支援装置に
    おいて、 前記条件指定手段によって指定される所定の条件が、関
    連要素集合の優先度を含むことを特徴とする図式のテス
    ト支援装置。
  4. 【請求項４】 請求項１記載の図式のテスト支援装置に
    おいて、 前記条件指定手段によって指定される所定の条件が、関
    連要素集合の優先度と、抽出すべき関連要素集合の数の
    割合を示す値を含むことを特徴とする図式のテスト支援
    装置。
  5. 【請求項５】 請求項１記載の図式のテスト支援装置に
    おいて、 前記検出手段は、前記優先度設定手段によって優先度が
    設定された要素を含む関連要素集合を前記図式から検出
    することを特徴とする図式のテスト支援装置。
  6. 【請求項６】 状態遷移図における各遷移に対して優先
    度を各々設定する優先度設定手段と、 前記状態遷移図中に存在する経路を検出する検出手段
    と、 前記検出手段によって検出された経路の優先度を、前記
    優先度設定手段によって各遷移に設定された優先度に基
    づいて評価する評価手段と、 前記検出手段によって検出された経路の中から所定の経
    路を抽出するための所定の条件を指定する条件指定手段
    と、 前記評価手段によって得られた前記各経路の優先度に基
    づいて、前記所定の条件を満足する経路を抽出する抽出
    手段と、を具備することを特徴とする図式のテスト支援
    装置。
  7. 【請求項７】 請求項６記載の図式のテスト支援装置に
    おいて、 前記抽出手段により抽出された経路を前記状態遷移図上
    の他の部分に対して差別化して表示する表示手段をさら
    に具備することを特徴とする図式のテスト支援装置。
  8. 【請求項８】 図式を構成する要素に対して優先度を設
    定する優先度設定工程と、 前記図式から互いに関連する要素の集合を検出する検出
    工程と、 前記各要素に設定された優先度に基づいて、前記検出さ
    れた関連要素集合の優先度を評価する評価工程と、 前記検出された関連要素集合の中から所定の関連要素集
    合を抽出するための所定の条件を指定する条件指定工程
    と、 前記評価工程で得られた各関連要素集合の優先度に基づ
    いて、前記所定の条件を満足する関連要素集合を抽出す
    る抽出工程と、を有することを特徴とする図式のテスト
    支援方法。
  9. 【請求項９】 請求項８記載の図式のテスト支援方法に
    おいて、 前記抽出された関連要素集合を前記図式上の他の要素に
    対して差別化して表示する表示工程をさらに有すること
    を特徴とする図式のテスト支援方法。
  10. 【請求項１０】 状態遷移図における各遷移に対して優
    先度を各々設定する優先度設定工程と、 前記状態遷移図中に存在する経路を検出する検出工程
    と、 前記検出された経路の優先度を、前記各遷移に設定され
    た優先度に基づいて評価する評価工程と、 前記検出された経路の中から所定の経路を抽出するため
    の所定の条件を指定する条件指定工程と、 前記評価工程によって得られた前記各経路の優先度に基
    づいて、所定の条件を満足する経路を抽出する抽出工程
    と、を有することを特徴とする図式のテスト支援方法。
  11. 【請求項１１】 請求項１０記載の図式のテスト支援方
    法において、 前記抽出された経路を前記状態遷移図上の他の部分に対
    して差別化して表示する表示工程をさらに有することを
    特徴とする図式のテスト支援方法。
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