JPH1032239A - 静電チャックステージ及びその製造方法 - Google Patents

静電チャックステージ及びその製造方法

Info

Publication number
JPH1032239A
JPH1032239A JP21585496A JP21585496A JPH1032239A JP H1032239 A JPH1032239 A JP H1032239A JP 21585496 A JP21585496 A JP 21585496A JP 21585496 A JP21585496 A JP 21585496A JP H1032239 A JPH1032239 A JP H1032239A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
electrostatic chuck
aluminum
plate
composite material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP21585496A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3622353B2 (ja
Inventor
Tetsuo Kitabayashi
徹夫 北林
Atsushi Miyaji
淳 宮地
Hiroaki Hori
裕明 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toto Ltd
Original Assignee
Toto Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toto Ltd filed Critical Toto Ltd
Priority to JP21585496A priority Critical patent/JP3622353B2/ja
Publication of JPH1032239A publication Critical patent/JPH1032239A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3622353B2 publication Critical patent/JP3622353B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】半導体製造装置に用いられるシリコンウェハ固
定用の静電チャックステージ、特に高温下で使用可能な
静電チャックステージを提供する。 【解決手段】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
を接合した静電チャックステージを提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置に
用いられるシリコンウェハ固定用の静電チャックステー
ジ、詳しくは高温下で使用可能な静電チャックステージ
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造過程において、プラズマ雰囲
気下でシリコンウエハにエッチング処理等を施す場合、
プラズマの熱によりシリコンウエハの表面は高温にな
り、表面のレジスト膜がバーストする等の問題が生じ
る。そこで、シリコンウエハを固定している静電チャッ
クの下面に金属プレートを設け一体化し、金属プレート
内に設けられた流路に冷媒を循環させて熱交換を行い、
シリコンウエハの冷却を行っている。
【0003】この静電チャックと金属プレートを一体化
する方法として、樹脂等の接着剤により静電チャックと
金属プレートとを接合するもの、特開平3−3249号
のように、アルミニウムからなる水冷電極とセラミック
からなる静電チャックの接合する夫々の面にIn層をメ
ッキして、170℃以下で融着させるもの、あるいは特
開平8−8330のように、誘電体セラミックと金属板
をMoからなる中間層を介して200℃で加熱接合する
もの等がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】静電チャックとその下
面に設置されるプレートとを樹脂等の接着剤で接合した
場合、高温下での使用ができないばかりか、比較的低温
下の使用でも、樹脂の熱伝導率が低いため、接着界面で
大きな熱抵抗が生じ、ウエハの温度制御が困難になると
いう問題があった。また、熱伝導を良くするために、プ
レートの材質としてアルミニウムを利用した場合、アル
ミニウムとセラミックスの熱膨張率の大きな違いによ
り、低温にて接合せざるを得ず、熱膨張率の差に起因す
るセラミックの破損を避けるため、半導体製造過程の中
で高温下で使用されるものには利用できないといった問
題点もあった。さらに、Mo等を中間層に利用して接合
する場合、接合前にMoの両面にもNiメッキ等が必要
となり、工程が増え、接合に手間がかかるという問題も
あった。
【0005】別の観点からは、LSIの設計ルールが
0、18um以下となれば、ECR、ICP、ヘリコン
波プラズマ等の高密度プラズマプロセスにおいて、プラ
ズマによる供給熱量が、従来の500W程度から200
0〜6000W程度へと増加することが想定され、熱通
過が良好である静電チャックステージや、高温でも使用
出来る静電チャックステージの要望が強くなると考えら
れる。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
に鑑みなされたもので、静電チャック用セラミックス焼
結体プレートと、セラミックとアルミニウムとの複合材
プレートとを接合したことを特徴とする静電チャックス
テージを提供する。セラミックとアルミニウムとの複合
材はアルミニウムに比べ、熱膨張率が小さく、静電チャ
ック用セラミックス焼結体の熱膨張率に近いため、高温
で接合しても熱膨張率差により割れる恐れがない。ま
た、高温接合が可能なことから、ハンダ又はろう材の選
定種類が増え、ハンダ又はろう材の選択により高温下で
使用可能な静電チャックステージとなる。尚、ここで述
べる高温とは、接合温度に関して少なくとも200℃以
上、静電チャックステージの使用環境としては少なくと
も120℃以上のことをいう。
【0007】本発明のより好ましい態様においては、セ
ラミックス焼結体プレートと、セラミックとアルミニウ
ムとの複合材プレートとの接合はハンダ又はろう材を介
して行われる。ハンダ又はろう材を介することにより、
セラミック焼結体プレートと複合材プレートの接合不良
をなくすことが可能となる。また、ハンダ又はろう材を
利用することにより、接合をボルトで行う場合、あるい
は樹脂で行う場合に比べセラミック焼結体プレートから
複合材プレートへの熱伝導を向上させ、静電チャック用
のセラミック焼結体プレート効率良い冷却が可能とな
る。
【0008】本発明のより好ましい態様においては、セ
ラミックとアルミニウムとの複合材のセラミックはSi
Cである。SiCは他のセラミックに比べ、熱伝導性が
良く、アルミニウムとの複合材化による熱伝導率の低下
が少ない。また、複合材化によりアルミニウムに比べ高
い弾性率となり、加工時の表面精度を向上させることが
可能となる。
【0009】本発明のより好ましい態様においては、セ
ラミックとアルミニウムとの複合材の熱伝導率が150
W/m・K以上である。セラミック焼結体と接合する複
合材の熱伝導率を150W/m・K以上とすることによ
り、セラミック焼結体プレートの効率良い冷却が可能と
なる。
【0010】本発明のより好ましい態様においては、セ
ラミックとアルミニウムとの複合材中のセラミックの体
積割合は、20〜70vol%である。熱膨張率を重視
する場合は、セラミックの体積割合を高くし、熱伝導率
を重視する場合はセラミックの体積割合を少なくする等
あらゆるニーズに対応できる静電チャックステージを容
易に得ることができる。
【0011】本発明のより好ましい態様においては、セ
ラミックとアルミニウムとの複合材の表面を陽極酸化被
膜処理する。複合材の陽極酸化被膜処理により、静電チ
ャックステージをプラズマプロセスに使用した場合、複
合材の表面、側面へのプラズマの回り込みや異常放電を
防ぐことが可能となり、プラズマプロセスの効率を向上
させることができる。
【0012】本発明では、静電チャック用セラミックス
焼結体プレートと、セラミックとアルミニウムとの複合
材プレートとをハンダ又はろう材を介して接合する静電
チャックステージの製造方法において、該複合材中のセ
ラミックの割合に応じて、接合温度を150〜630℃
の範囲で選択して一体に接合する静電チャックステージ
の製造方法を提供する。セラミックとアルミニウムの複
合材は、複合材中のセラミックの体積割合に応じて熱膨
張率が変化する。したがって、熱膨張率がセラミック焼
結体プレートの熱膨張率に近い複合材であれば、多種類
のハンダ又はろう材から選択して接合することが可能と
なり、より高温下で静電チャックステージを使用する場
合、その中で最も高温のろう材を採用し、対応すること
が可能となる。
【0013】本発明の他の態様としては、静電チャック
用セラミックス焼結体プレートと、25〜34vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が245℃以下であるハンダを
用いて接合する。セラミックの割合を少なくすることに
より、アルミニウムの靭性を活かした複雑形状のプレー
トの作製が容易となる。
【0014】本発明の他の態様としては、静電チャック
用セラミックス焼結体プレートと、35〜60vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が451℃以下であるハンダを
用いて接合する。こうすることにより、高温下で使用可
能な静電チャックステージの作製が可能となる。
【0015】本発明の他の態様としては、静電チャック
用セラミックス焼結体プレートと、61〜70vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が615℃以下であるハンダま
たはろう材を用いて接合する。こうすることにより、5
00℃を越える非常に高温下で使用可能な静電チャック
ステージの作製が可能となり、その用途が広がる。
【0016】本発明の他の態様としては、静電チャック
用セラミックス焼結体プレート下面にAg−Cu−Ti
からなる活性金属メタライズを施した後、ハンダまたは
ろう材で接合する。活性金属でメタライズすることによ
り、よりセラミック焼結体プレートと複合材プレートの
接合が容易となる。
【0017】本発明の他の態様としては、静電チャック
用セラミックス焼結体プレートとアルミニウム複合材プ
レートとの接合面積の割合が両者の重なる面積に対し9
0%以上とする。接合面積の割合を90%以上とするこ
とにより、セラミックス焼結体プレートひいてはシリコ
ンウェハの冷却効率を向上させることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】静電チャック用セラミック焼結体
プレートと、熱膨張率の近似したセラミック分散アルミ
ニウム複合材プレートとを接合すると、複合材プレート
の裏面から直接媒体(水、フロン、シリコンオイル等)
に熱放散することが可能となり、大出力のプラズマプロ
セスや高温での使用に際してもセラミックス焼結体プレ
ートにクラックを生じることがなくなる。また、ハンダ
またはろう材の熱伝導率は樹脂系の接着剤が1W/mK
程度であるのに比べ非常に高く、接触界面での熱抵抗を
小さくすることができるので、媒体を介して効率の良い
冷却又は保温と行った温度調整が行える。さらに接合が
面接触であるため、残留応力や熱応力による応力集中を
回避でき、接合時や半導体プロセス時の熱応力による静
電チャック自体にクラックが発生するのを抑えることが
できる。
【0019】本発明のポイントは、静電チャック用セラ
ミック焼結体プレートと、静電チャック用バックプレー
トであるセラミック・アルミニウム複合材プレートとの
線膨張率差を小さくし、接合による残留応力を小さくす
るとともに、高温で使用できるハンダまたはろう材をそ
の使用される温度(ウェハ温度)を考慮して選択するこ
とである。
【0020】セラミックとアルミニウムの複合材は、主
としてSiCを分散したアルミニウム複合材であり、溶
融金属と大気中の酸素の酸化反応により、SiCの割合
が40%以下の場合は砂型に鋳込んで、SiCの割合が
40%以上の場合はSiCで多孔質のプリフオームを成
形しそのあとで溶融アルミニウムを含浸させて作製する
ことができる。 この作製方法はAl2O3等の他のセ
ラミックス材料にも適用できる。一方、静電チャック用
のセラミックスにはプラズマに対する耐食性やウェハの
吸着に関するハンドリングの良さから一般にアルミナを
主原料としたセラミックス焼結体が用いられるが、用途
に応じてAINやSiCを主成分としたセラミックス焼
結体を用いることもできる。これらのセラミック焼結体
は概してアルミニウムの線膨張係数の約23×10−6
/℃に比べ小さく、アルミナが約7〜8×10−6
℃、AIN、SiCが約5×10−6/℃程度である。
【0021】以下に図面に基き本発明に係る静電チャッ
クステージの構造を説明をする。図1は本発明に係る静
電チャックステージの一実施例の断面図であり、内部電
極2はタングステン、モリブデン等の耐熱金属をセラミ
ックス体中に埋設又は挟持され構成される。内部電極2
には、電圧を印加するためのスルーホール3が設けられ
ており、図示しない電源に導線により接続されている。
尚、図1では内部電極に1つの電圧を印加することによ
り静電吸着する単極静電チャックを図示したが、内部電
極が複数有る場合でも良い。セラミックス焼結体プレー
トの下面にはハンダまたはろう材の接合材4を介して、
前記セラミックスプレートと熱膨張率の近似するセラミ
ック・アルミニウム複合材プレート5が接合してある。
接合材4は、ステージを使用する温度(ウェハ温度)に
よって適宜選択することが望ましく、セラミックス焼結
体表面にメタライズをした後にハンダまたはろう材を用
いて接合するのが好ましい。メタライズの方法に関して
は、セラミックスプレート裏面をあらかじめAg−Cu
−Ti等の活性金属ろうにより真空熱処理しメタライズ
而を形成しておくか、Cr、Ti等の金属のスパッタリ
ング等によりメタライズしておくとよい。さらにCu、
Niメッキをしておけばよい。必要であれば接合する材
料と同じハンダによりハンダメッキをしておいてもよ
い。
【0022】ハンダ又はろう材の形態としては、シート
状に成形されたものやペースト状のもの等を適宜選択し
て用いればよく、シート状のものを用いた場合には、セ
ラミックス焼結体プレートとセラミック・アルミニウム
複合材プレートの間に介在させる。ペースト状のものを
用いた場合には、セラミックス焼結体又は、セラミック
・アルミニウム複合材プレートにスクリーン印刷、スピ
ンコート、刷毛塗り等により塗布した後、両者を合わ
せ、熱処理を行い接合する。熱処理は大気中または湿潤
窒素・水素ガス中または真空中で行う。熱処理温度はハ
ンダ又はろう材の融点または液相温度に10〜50℃加
えた温度が好ましい。複合材表面の陽極酸化被膜処理は
以下のプロセスで行う。蓚酸または硫酸等の酸にセラミ
ック・アルミニウム複合材を陽極として、炭素等を陰極
として浸し電気分解すると、該複合材の表面にγ−Al
203が被膜として生成する。この被膜は多孔質状であ
るため、該被膜複合材を沸騰水に浸す、あるいは加熱蒸
気と反応させることにより緻密なベーマイト(AlOO
H)被膜となる。この被膜は耐蝕性、絶縁性に優れ、プ
ラズマの異常放電等の防止に有効であり、複合材に施さ
れるのがより好ましい。
【0023】尚、上記セラミックス焼結体中に電極を設
けずに、セラミック・アルミニウム複合材プレート5自
体を、内部電極の代わりまたは高周波電極代わりに利用
してもよい。即ち、内部電極を設けないセラミックス焼
結体プレートの下面にセラミック・アルミニウム複合材
プレートを接合し、このセラミック・アルミニウム複合
材プレートに直流電圧や高周波電圧を印加するようにす
る。この際、セラミックス焼結体の厚みは、十分な吸着
力を得るために、またはインピーダンスを小さくするた
めに2mm以下とすることが望ましい。
【0024】
【実施例】以下に本発明の静電チャックステージに係る
静電チャック用セラミック焼結体プレートとセラミック
・アルミニウム複合材プレートとの接合試験について説
明する。静電チャック用セラミック焼結体プレートに
は、(1)Al203を50%、Cr2O3及びTiO
2の合計が40%以下、焼結助剤としてSiO2、Mg
O、CaOを10%以下含有するセラミックス[以下A
l203又はアルミナとと表記]又は(2)AlNを9
7%、Y203を3%含有するセラミック[以下AlN
又は窒化アルミと表記]で、大きさはφ200mm、厚
さ3mmの円板を用いた。また、セラミック・アルミニ
ウム複合材プレートには、表1に示す各種組成で、大き
さφ220mm、厚さ5mmの円板を用いた。セラミッ
ク・アルミニウム複合材の組成ごとに、実験に供したハ
ンダ又はろう材の組成と接合温度を表1に示した。
【0025】
【表1】
【0026】(接合試験)静電チャックを使用する温度
(ウェハ温度)を想定して表1に示す組み合わせの接合
試験を行なった。尚、最高接合温度は接合に用いたハン
ダまたはろう材のうち接合時の温度が最も高い温度を記
載した。 (接合の評価方法)接合後の接合面の状態を調べるた
め、超音波探傷装置(日立建機製、AP5000)のC
モード(超音波の反射強度の面分布)で測定した。本測
定は接合面で接触不良個所があれば音響インピーダンス
が大きく変化し不良界面で超音波が反射してくる原理を
利用した方法であり、静電チャック用セラミックス焼結
体プレートとアルミニウム複合材プレートとの接合面積
の、両者の重なる面積に対する割合をを求めた。90%
の接触面積を基準として、90%以上の接合品を接合良
好、90%未満の接合品又は接合時の静電チャックの破
損品を接合不良と考え、表1には夫々○、×で記載し
た。
【0027】(結果)表1より、 (1)Al2O3(アルミナ)製静電チャックの場合 SiCが20vol%では、融点又は液相温度が157
℃以下の、SiCが30vol%では、融点又は液相温
度が245℃以下の、SiCが50vol%では、融点
又は液相温度が451℃以下の、SiCが70vol%
では、融点又は液相温度が615℃以下の、ハンダ又は
ろう材で接合が可能であることがわかった。 (2)AlN(窒化アルミ)製静電チャックの場合 SiCが30vol%では、融点又は液相温度が209
℃以下の、SiCが70vol%では、融点又は液相温
度が615℃以下の、ハンダ又はろう材で接合が可能で
あることがわかった。 以上より、セラミック・アルミニウム複合材であるSi
C分散アルミニウム複合材料は、SiCの割合により線
膨張係数が変えられるので、静電チャック用セラミック
スの線膨張率に近い組成を選択することで接合後の残留
応力をなくすことが可能となり、その結果クラックのな
い良好な接合が行えることがわかった。また、本発明の
セラミック・アルミニウム複合材プレートを利用すれ
ば、高温下で使用可能な静電チャックステージ得られ、
より詳しくは、SiCの割合が高いセラミック・アルミ
ニウム複合材料を選択し、さらに融点または液層温度が
高いハンダまたはろう材を接合材料に選択すればよいこ
とがわかった。
【0028】
【発明の効果】本発明では、セラミックス焼結体プレー
トの下面にハンダを介して、前記セラミックス焼結体プ
レートの熱膨張率と近似するセラミック分散アルミニウ
ム複合材プレートを接合させたので、静電チャック自体
の温度が上昇しても、セラミックス側に働く熱応用力は
小さく熱破壊のおそれがなくなり、更に、セラミック分
散アルミニウム複合材プレートが直接接合されているた
めに、セラミック分散アルミニウム複合材プレート下部
に位置する冷却ジャケット等との組立が容易になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る静電チャックステージの一例の断
面図
【符号の説明】 1 静電チャック用セラミック焼結体プレート 2 電極 3 スルーホール 4 接合材 5 セラミック・アルミニウム複合材プレート

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
    トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
    を接合したことを特徴とする静電チャックステージ。
  2. 【請求項2】前記静電チャックステージにおいて、接合
    はハンダ又はろう材を介して行われることを特徴とする
    請求項1に記載の静電チャックステージ。
  3. 【請求項3】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
    において、セラミックはSiCであることを特徴とする
    請求項1または請求項2に記載の静電チャックステー
    ジ。
  4. 【請求項4】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
    において、該複合材の熱伝導率が150W/m・K以上
    であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれ
    か1項に記載の静電チャックステージ。
  5. 【請求項5】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
    において、複合材中のセラミックの体積割合は、20〜
    70vol%であることを特徴とする請求項1から請求
    項4のいずれか1項に記載の静電チャックステージ。
  6. 【請求項6】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
    において、該複合材の表面を陽極酸化被膜処理したこと
    を特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記
    載の静電チャックステージ。
  7. 【請求項7】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
    トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
    をハンダ又はろう材を介して接合する静電チャックステ
    ージの製造方法において、該複合材中のセラミックの割
    合に応じて、接合温度を150〜630℃の範囲で選択
    して一体に接合することを特徴とする静電チャックステ
    ージの製造方法。
JP21585496A 1996-07-12 1996-07-12 静電チャックステージ及びその製造方法 Expired - Lifetime JP3622353B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21585496A JP3622353B2 (ja) 1996-07-12 1996-07-12 静電チャックステージ及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21585496A JP3622353B2 (ja) 1996-07-12 1996-07-12 静電チャックステージ及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1032239A true JPH1032239A (ja) 1998-02-03
JP3622353B2 JP3622353B2 (ja) 2005-02-23

Family

ID=16679381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21585496A Expired - Lifetime JP3622353B2 (ja) 1996-07-12 1996-07-12 静電チャックステージ及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3622353B2 (ja)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000133493A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Konica Corp 放電処理用の電極と該電極を用いた放電処理方法及び放電処理装置
US6120661A (en) * 1998-06-08 2000-09-19 Sony Corporation Apparatus for processing glass substrate
US6838646B2 (en) 2002-08-22 2005-01-04 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Susceptor device
JP2005116540A (ja) * 2005-01-06 2005-04-28 Konica Minolta Holdings Inc 放電処理用の電極と該電極を用いた放電処理方法及び放電処理装置
JP2005247662A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Kyocera Corp 接合体とこれを用いたウェハ保持部材及びその製造方法
US7381673B2 (en) 2003-10-27 2008-06-03 Kyocera Corporation Composite material, wafer holding member and method for manufacturing the same
JP2008153273A (ja) * 2006-12-14 2008-07-03 Ulvac Japan Ltd 真空用冷却部材および真空用機器
JP2008159831A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Kyocera Corp 接合体とこれを用いたウェハ支持部材及びウェハの処理方法
US7678197B2 (en) 2002-08-09 2010-03-16 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Susceptor device
US7709099B2 (en) 2005-07-04 2010-05-04 Kyocera Corporation Bonded body, wafer support member using the same, and wafer treatment method
KR101115527B1 (ko) 2010-02-01 2012-02-27 (주)포인트엔지니어링 정전척
JP2013541211A (ja) * 2010-09-28 2013-11-07 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 真空プロセス・チャンバの構成部品及び製造方法
US8956459B2 (en) 2005-02-23 2015-02-17 Kyocera Corporation Joined assembly, wafer holding assembly, attaching structure thereof and method for processing wafer
US9623503B2 (en) 2013-10-31 2017-04-18 Semes Co., Ltd. Support unit and substrate treating device including the same
US9909197B2 (en) 2014-12-22 2018-03-06 Semes Co., Ltd. Supporting unit and substrate treating apparatus including the same
WO2022046643A1 (en) * 2020-08-26 2022-03-03 Lam Research Corporation Anodization for metal matrix composite semiconductor processing chamber components
JP2022038906A (ja) * 2020-08-27 2022-03-10 日本特殊陶業株式会社 保持装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58189533U (ja) * 1982-06-10 1983-12-16 藤森 泰治 ウエ−ハ用サセプタ
JPH037892A (ja) * 1989-06-02 1991-01-16 Nkk Corp 熱交換器用伝熱管の製造方法
JPH05283513A (ja) * 1992-03-31 1993-10-29 Sumitomo Metal Ind Ltd 試料保持装置
JPH0619639U (ja) * 1991-12-12 1994-03-15 株式会社エー・エム・テクノロジー ステ−キ用皿
JPH06302677A (ja) * 1993-04-13 1994-10-28 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックス製静電チャック
JPH07172571A (ja) * 1993-12-16 1995-07-11 Nikon Corp 低発塵性の装置
JPH0842343A (ja) * 1994-07-29 1996-02-13 Isuzu Motors Ltd 副燃焼室を持つピストンの構造
JPH0870036A (ja) * 1994-08-29 1996-03-12 Souzou Kagaku:Kk 静電チャック

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58189533U (ja) * 1982-06-10 1983-12-16 藤森 泰治 ウエ−ハ用サセプタ
JPH037892A (ja) * 1989-06-02 1991-01-16 Nkk Corp 熱交換器用伝熱管の製造方法
JPH0619639U (ja) * 1991-12-12 1994-03-15 株式会社エー・エム・テクノロジー ステ−キ用皿
JPH05283513A (ja) * 1992-03-31 1993-10-29 Sumitomo Metal Ind Ltd 試料保持装置
JPH06302677A (ja) * 1993-04-13 1994-10-28 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックス製静電チャック
JPH07172571A (ja) * 1993-12-16 1995-07-11 Nikon Corp 低発塵性の装置
JPH0842343A (ja) * 1994-07-29 1996-02-13 Isuzu Motors Ltd 副燃焼室を持つピストンの構造
JPH0870036A (ja) * 1994-08-29 1996-03-12 Souzou Kagaku:Kk 静電チャック

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6120661A (en) * 1998-06-08 2000-09-19 Sony Corporation Apparatus for processing glass substrate
JP2000133493A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Konica Corp 放電処理用の電極と該電極を用いた放電処理方法及び放電処理装置
US7678197B2 (en) 2002-08-09 2010-03-16 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Susceptor device
US6838646B2 (en) 2002-08-22 2005-01-04 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Susceptor device
US7381673B2 (en) 2003-10-27 2008-06-03 Kyocera Corporation Composite material, wafer holding member and method for manufacturing the same
JP4583053B2 (ja) * 2004-03-05 2010-11-17 京セラ株式会社 接合体とこれを用いたウェハ保持部材及びその製造方法
JP2005247662A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Kyocera Corp 接合体とこれを用いたウェハ保持部材及びその製造方法
JP2005116540A (ja) * 2005-01-06 2005-04-28 Konica Minolta Holdings Inc 放電処理用の電極と該電極を用いた放電処理方法及び放電処理装置
US8956459B2 (en) 2005-02-23 2015-02-17 Kyocera Corporation Joined assembly, wafer holding assembly, attaching structure thereof and method for processing wafer
US7709099B2 (en) 2005-07-04 2010-05-04 Kyocera Corporation Bonded body, wafer support member using the same, and wafer treatment method
JP2008153273A (ja) * 2006-12-14 2008-07-03 Ulvac Japan Ltd 真空用冷却部材および真空用機器
JP2008159831A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Kyocera Corp 接合体とこれを用いたウェハ支持部材及びウェハの処理方法
KR101115527B1 (ko) 2010-02-01 2012-02-27 (주)포인트엔지니어링 정전척
JP2013541211A (ja) * 2010-09-28 2013-11-07 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 真空プロセス・チャンバの構成部品及び製造方法
JP2017168852A (ja) * 2010-09-28 2017-09-21 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 真空プロセス・チャンバの構成部品及び製造方法
US9969022B2 (en) 2010-09-28 2018-05-15 Applied Materials, Inc. Vacuum process chamber component and methods of making
US9623503B2 (en) 2013-10-31 2017-04-18 Semes Co., Ltd. Support unit and substrate treating device including the same
US9909197B2 (en) 2014-12-22 2018-03-06 Semes Co., Ltd. Supporting unit and substrate treating apparatus including the same
WO2022046643A1 (en) * 2020-08-26 2022-03-03 Lam Research Corporation Anodization for metal matrix composite semiconductor processing chamber components
JP2022038906A (ja) * 2020-08-27 2022-03-10 日本特殊陶業株式会社 保持装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3622353B2 (ja) 2005-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3622353B2 (ja) 静電チャックステージ及びその製造方法
JP5326278B2 (ja) 回路基板及びこれを用いた半導体モジュール、回路基板の製造方法
JP4034145B2 (ja) サセプタ装置
JP4969738B2 (ja) セラミックス回路基板およびそれを用いた半導体モジュール
JP4493251B2 (ja) 静電チャックモジュールおよび基板処理装置
JP4331427B2 (ja) 半導体製造装置に使用される給電用電極部材
JP3288922B2 (ja) 接合体およびその製造方法
TW200816344A (en) Structure for electrostatic chuck potential supply part and its manufacturing and reproduction method
JP2006186351A (ja) 半導体製造装置
JP4360847B2 (ja) セラミック回路基板、放熱モジュール、および半導体装置
JP2003124299A (ja) 電極内蔵型サセプタ及びその製造方法
JPH11176919A (ja) 静電チャック
JPH09283671A (ja) セラミックス−金属複合回路基板
JP2004363334A (ja) 半導体あるいは液晶製造装置用保持体およびそれを搭載した半導体あるいは液晶製造装置
JP3970714B2 (ja) 複合ヒータ
JPH09249462A (ja) 接合体、その製造方法およびセラミックス部材用ろう材
JP3728078B2 (ja) プラズマ発生用部材
JP2003086519A (ja) 被処理物保持体およびその製造方法ならびに処理装置
JPH09235166A (ja) 金属部材とセラミックス部材との接合構造およびその製造方法
JP6804053B2 (ja) 静電チャック
JPH09267233A (ja) ウェハ保持部材
JP3854145B2 (ja) ウエハ支持部材
JP2000101203A (ja) セラミックス回路基板とそれを用いたパワーモジュール
JP2020167405A (ja) 静電チャック
JP4936877B2 (ja) 接合体とこれを用いたウェハ支持部材及びウェハの処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040720

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040915

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041102

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041115

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071203

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081203

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091203

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091203

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101203

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101203

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111203

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111203

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121203

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121203

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131203

Year of fee payment: 9

EXPY Cancellation because of completion of term