JPH1032239A - 静電チャックステージ及びその製造方法 - Google Patents
静電チャックステージ及びその製造方法Info
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- JPH1032239A JPH1032239A JP21585496A JP21585496A JPH1032239A JP H1032239 A JPH1032239 A JP H1032239A JP 21585496 A JP21585496 A JP 21585496A JP 21585496 A JP21585496 A JP 21585496A JP H1032239 A JPH1032239 A JP H1032239A
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Abstract
定用の静電チャックステージ、特に高温下で使用可能な
静電チャックステージを提供する。 【解決手段】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
を接合した静電チャックステージを提供する。
Description
用いられるシリコンウェハ固定用の静電チャックステー
ジ、詳しくは高温下で使用可能な静電チャックステージ
に関する。
気下でシリコンウエハにエッチング処理等を施す場合、
プラズマの熱によりシリコンウエハの表面は高温にな
り、表面のレジスト膜がバーストする等の問題が生じ
る。そこで、シリコンウエハを固定している静電チャッ
クの下面に金属プレートを設け一体化し、金属プレート
内に設けられた流路に冷媒を循環させて熱交換を行い、
シリコンウエハの冷却を行っている。
する方法として、樹脂等の接着剤により静電チャックと
金属プレートとを接合するもの、特開平3−3249号
のように、アルミニウムからなる水冷電極とセラミック
からなる静電チャックの接合する夫々の面にIn層をメ
ッキして、170℃以下で融着させるもの、あるいは特
開平8−8330のように、誘電体セラミックと金属板
をMoからなる中間層を介して200℃で加熱接合する
もの等がある。
面に設置されるプレートとを樹脂等の接着剤で接合した
場合、高温下での使用ができないばかりか、比較的低温
下の使用でも、樹脂の熱伝導率が低いため、接着界面で
大きな熱抵抗が生じ、ウエハの温度制御が困難になると
いう問題があった。また、熱伝導を良くするために、プ
レートの材質としてアルミニウムを利用した場合、アル
ミニウムとセラミックスの熱膨張率の大きな違いによ
り、低温にて接合せざるを得ず、熱膨張率の差に起因す
るセラミックの破損を避けるため、半導体製造過程の中
で高温下で使用されるものには利用できないといった問
題点もあった。さらに、Mo等を中間層に利用して接合
する場合、接合前にMoの両面にもNiメッキ等が必要
となり、工程が増え、接合に手間がかかるという問題も
あった。
0、18um以下となれば、ECR、ICP、ヘリコン
波プラズマ等の高密度プラズマプロセスにおいて、プラ
ズマによる供給熱量が、従来の500W程度から200
0〜6000W程度へと増加することが想定され、熱通
過が良好である静電チャックステージや、高温でも使用
出来る静電チャックステージの要望が強くなると考えら
れる。
に鑑みなされたもので、静電チャック用セラミックス焼
結体プレートと、セラミックとアルミニウムとの複合材
プレートとを接合したことを特徴とする静電チャックス
テージを提供する。セラミックとアルミニウムとの複合
材はアルミニウムに比べ、熱膨張率が小さく、静電チャ
ック用セラミックス焼結体の熱膨張率に近いため、高温
で接合しても熱膨張率差により割れる恐れがない。ま
た、高温接合が可能なことから、ハンダ又はろう材の選
定種類が増え、ハンダ又はろう材の選択により高温下で
使用可能な静電チャックステージとなる。尚、ここで述
べる高温とは、接合温度に関して少なくとも200℃以
上、静電チャックステージの使用環境としては少なくと
も120℃以上のことをいう。
ラミックス焼結体プレートと、セラミックとアルミニウ
ムとの複合材プレートとの接合はハンダ又はろう材を介
して行われる。ハンダ又はろう材を介することにより、
セラミック焼結体プレートと複合材プレートの接合不良
をなくすことが可能となる。また、ハンダ又はろう材を
利用することにより、接合をボルトで行う場合、あるい
は樹脂で行う場合に比べセラミック焼結体プレートから
複合材プレートへの熱伝導を向上させ、静電チャック用
のセラミック焼結体プレート効率良い冷却が可能とな
る。
ラミックとアルミニウムとの複合材のセラミックはSi
Cである。SiCは他のセラミックに比べ、熱伝導性が
良く、アルミニウムとの複合材化による熱伝導率の低下
が少ない。また、複合材化によりアルミニウムに比べ高
い弾性率となり、加工時の表面精度を向上させることが
可能となる。
ラミックとアルミニウムとの複合材の熱伝導率が150
W/m・K以上である。セラミック焼結体と接合する複
合材の熱伝導率を150W/m・K以上とすることによ
り、セラミック焼結体プレートの効率良い冷却が可能と
なる。
ラミックとアルミニウムとの複合材中のセラミックの体
積割合は、20〜70vol%である。熱膨張率を重視
する場合は、セラミックの体積割合を高くし、熱伝導率
を重視する場合はセラミックの体積割合を少なくする等
あらゆるニーズに対応できる静電チャックステージを容
易に得ることができる。
ラミックとアルミニウムとの複合材の表面を陽極酸化被
膜処理する。複合材の陽極酸化被膜処理により、静電チ
ャックステージをプラズマプロセスに使用した場合、複
合材の表面、側面へのプラズマの回り込みや異常放電を
防ぐことが可能となり、プラズマプロセスの効率を向上
させることができる。
焼結体プレートと、セラミックとアルミニウムとの複合
材プレートとをハンダ又はろう材を介して接合する静電
チャックステージの製造方法において、該複合材中のセ
ラミックの割合に応じて、接合温度を150〜630℃
の範囲で選択して一体に接合する静電チャックステージ
の製造方法を提供する。セラミックとアルミニウムの複
合材は、複合材中のセラミックの体積割合に応じて熱膨
張率が変化する。したがって、熱膨張率がセラミック焼
結体プレートの熱膨張率に近い複合材であれば、多種類
のハンダ又はろう材から選択して接合することが可能と
なり、より高温下で静電チャックステージを使用する場
合、その中で最も高温のろう材を採用し、対応すること
が可能となる。
用セラミックス焼結体プレートと、25〜34vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が245℃以下であるハンダを
用いて接合する。セラミックの割合を少なくすることに
より、アルミニウムの靭性を活かした複雑形状のプレー
トの作製が容易となる。
用セラミックス焼結体プレートと、35〜60vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が451℃以下であるハンダを
用いて接合する。こうすることにより、高温下で使用可
能な静電チャックステージの作製が可能となる。
用セラミックス焼結体プレートと、61〜70vol%
のセラミックを含有するアルミニウム複合材プレートと
を、融点または液層温度が615℃以下であるハンダま
たはろう材を用いて接合する。こうすることにより、5
00℃を越える非常に高温下で使用可能な静電チャック
ステージの作製が可能となり、その用途が広がる。
用セラミックス焼結体プレート下面にAg−Cu−Ti
からなる活性金属メタライズを施した後、ハンダまたは
ろう材で接合する。活性金属でメタライズすることによ
り、よりセラミック焼結体プレートと複合材プレートの
接合が容易となる。
用セラミックス焼結体プレートとアルミニウム複合材プ
レートとの接合面積の割合が両者の重なる面積に対し9
0%以上とする。接合面積の割合を90%以上とするこ
とにより、セラミックス焼結体プレートひいてはシリコ
ンウェハの冷却効率を向上させることができる。
プレートと、熱膨張率の近似したセラミック分散アルミ
ニウム複合材プレートとを接合すると、複合材プレート
の裏面から直接媒体(水、フロン、シリコンオイル等)
に熱放散することが可能となり、大出力のプラズマプロ
セスや高温での使用に際してもセラミックス焼結体プレ
ートにクラックを生じることがなくなる。また、ハンダ
またはろう材の熱伝導率は樹脂系の接着剤が1W/mK
程度であるのに比べ非常に高く、接触界面での熱抵抗を
小さくすることができるので、媒体を介して効率の良い
冷却又は保温と行った温度調整が行える。さらに接合が
面接触であるため、残留応力や熱応力による応力集中を
回避でき、接合時や半導体プロセス時の熱応力による静
電チャック自体にクラックが発生するのを抑えることが
できる。
ミック焼結体プレートと、静電チャック用バックプレー
トであるセラミック・アルミニウム複合材プレートとの
線膨張率差を小さくし、接合による残留応力を小さくす
るとともに、高温で使用できるハンダまたはろう材をそ
の使用される温度(ウェハ温度)を考慮して選択するこ
とである。
としてSiCを分散したアルミニウム複合材であり、溶
融金属と大気中の酸素の酸化反応により、SiCの割合
が40%以下の場合は砂型に鋳込んで、SiCの割合が
40%以上の場合はSiCで多孔質のプリフオームを成
形しそのあとで溶融アルミニウムを含浸させて作製する
ことができる。 この作製方法はAl2O3等の他のセ
ラミックス材料にも適用できる。一方、静電チャック用
のセラミックスにはプラズマに対する耐食性やウェハの
吸着に関するハンドリングの良さから一般にアルミナを
主原料としたセラミックス焼結体が用いられるが、用途
に応じてAINやSiCを主成分としたセラミックス焼
結体を用いることもできる。これらのセラミック焼結体
は概してアルミニウムの線膨張係数の約23×10−6
/℃に比べ小さく、アルミナが約7〜8×10−6/
℃、AIN、SiCが約5×10−6/℃程度である。
クステージの構造を説明をする。図1は本発明に係る静
電チャックステージの一実施例の断面図であり、内部電
極2はタングステン、モリブデン等の耐熱金属をセラミ
ックス体中に埋設又は挟持され構成される。内部電極2
には、電圧を印加するためのスルーホール3が設けられ
ており、図示しない電源に導線により接続されている。
尚、図1では内部電極に1つの電圧を印加することによ
り静電吸着する単極静電チャックを図示したが、内部電
極が複数有る場合でも良い。セラミックス焼結体プレー
トの下面にはハンダまたはろう材の接合材4を介して、
前記セラミックスプレートと熱膨張率の近似するセラミ
ック・アルミニウム複合材プレート5が接合してある。
接合材4は、ステージを使用する温度(ウェハ温度)に
よって適宜選択することが望ましく、セラミックス焼結
体表面にメタライズをした後にハンダまたはろう材を用
いて接合するのが好ましい。メタライズの方法に関して
は、セラミックスプレート裏面をあらかじめAg−Cu
−Ti等の活性金属ろうにより真空熱処理しメタライズ
而を形成しておくか、Cr、Ti等の金属のスパッタリ
ング等によりメタライズしておくとよい。さらにCu、
Niメッキをしておけばよい。必要であれば接合する材
料と同じハンダによりハンダメッキをしておいてもよ
い。
状に成形されたものやペースト状のもの等を適宜選択し
て用いればよく、シート状のものを用いた場合には、セ
ラミックス焼結体プレートとセラミック・アルミニウム
複合材プレートの間に介在させる。ペースト状のものを
用いた場合には、セラミックス焼結体又は、セラミック
・アルミニウム複合材プレートにスクリーン印刷、スピ
ンコート、刷毛塗り等により塗布した後、両者を合わ
せ、熱処理を行い接合する。熱処理は大気中または湿潤
窒素・水素ガス中または真空中で行う。熱処理温度はハ
ンダ又はろう材の融点または液相温度に10〜50℃加
えた温度が好ましい。複合材表面の陽極酸化被膜処理は
以下のプロセスで行う。蓚酸または硫酸等の酸にセラミ
ック・アルミニウム複合材を陽極として、炭素等を陰極
として浸し電気分解すると、該複合材の表面にγ−Al
203が被膜として生成する。この被膜は多孔質状であ
るため、該被膜複合材を沸騰水に浸す、あるいは加熱蒸
気と反応させることにより緻密なベーマイト(AlOO
H)被膜となる。この被膜は耐蝕性、絶縁性に優れ、プ
ラズマの異常放電等の防止に有効であり、複合材に施さ
れるのがより好ましい。
けずに、セラミック・アルミニウム複合材プレート5自
体を、内部電極の代わりまたは高周波電極代わりに利用
してもよい。即ち、内部電極を設けないセラミックス焼
結体プレートの下面にセラミック・アルミニウム複合材
プレートを接合し、このセラミック・アルミニウム複合
材プレートに直流電圧や高周波電圧を印加するようにす
る。この際、セラミックス焼結体の厚みは、十分な吸着
力を得るために、またはインピーダンスを小さくするた
めに2mm以下とすることが望ましい。
静電チャック用セラミック焼結体プレートとセラミック
・アルミニウム複合材プレートとの接合試験について説
明する。静電チャック用セラミック焼結体プレートに
は、(1)Al203を50%、Cr2O3及びTiO
2の合計が40%以下、焼結助剤としてSiO2、Mg
O、CaOを10%以下含有するセラミックス[以下A
l203又はアルミナとと表記]又は(2)AlNを9
7%、Y203を3%含有するセラミック[以下AlN
又は窒化アルミと表記]で、大きさはφ200mm、厚
さ3mmの円板を用いた。また、セラミック・アルミニ
ウム複合材プレートには、表1に示す各種組成で、大き
さφ220mm、厚さ5mmの円板を用いた。セラミッ
ク・アルミニウム複合材の組成ごとに、実験に供したハ
ンダ又はろう材の組成と接合温度を表1に示した。
(ウェハ温度)を想定して表1に示す組み合わせの接合
試験を行なった。尚、最高接合温度は接合に用いたハン
ダまたはろう材のうち接合時の温度が最も高い温度を記
載した。 (接合の評価方法)接合後の接合面の状態を調べるた
め、超音波探傷装置(日立建機製、AP5000)のC
モード(超音波の反射強度の面分布)で測定した。本測
定は接合面で接触不良個所があれば音響インピーダンス
が大きく変化し不良界面で超音波が反射してくる原理を
利用した方法であり、静電チャック用セラミックス焼結
体プレートとアルミニウム複合材プレートとの接合面積
の、両者の重なる面積に対する割合をを求めた。90%
の接触面積を基準として、90%以上の接合品を接合良
好、90%未満の接合品又は接合時の静電チャックの破
損品を接合不良と考え、表1には夫々○、×で記載し
た。
℃以下の、SiCが30vol%では、融点又は液相温
度が245℃以下の、SiCが50vol%では、融点
又は液相温度が451℃以下の、SiCが70vol%
では、融点又は液相温度が615℃以下の、ハンダ又は
ろう材で接合が可能であることがわかった。 (2)AlN(窒化アルミ)製静電チャックの場合 SiCが30vol%では、融点又は液相温度が209
℃以下の、SiCが70vol%では、融点又は液相温
度が615℃以下の、ハンダ又はろう材で接合が可能で
あることがわかった。 以上より、セラミック・アルミニウム複合材であるSi
C分散アルミニウム複合材料は、SiCの割合により線
膨張係数が変えられるので、静電チャック用セラミック
スの線膨張率に近い組成を選択することで接合後の残留
応力をなくすことが可能となり、その結果クラックのな
い良好な接合が行えることがわかった。また、本発明の
セラミック・アルミニウム複合材プレートを利用すれ
ば、高温下で使用可能な静電チャックステージ得られ、
より詳しくは、SiCの割合が高いセラミック・アルミ
ニウム複合材料を選択し、さらに融点または液層温度が
高いハンダまたはろう材を接合材料に選択すればよいこ
とがわかった。
トの下面にハンダを介して、前記セラミックス焼結体プ
レートの熱膨張率と近似するセラミック分散アルミニウ
ム複合材プレートを接合させたので、静電チャック自体
の温度が上昇しても、セラミックス側に働く熱応用力は
小さく熱破壊のおそれがなくなり、更に、セラミック分
散アルミニウム複合材プレートが直接接合されているた
めに、セラミック分散アルミニウム複合材プレート下部
に位置する冷却ジャケット等との組立が容易になった。
面図
Claims (7)
- 【請求項1】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
を接合したことを特徴とする静電チャックステージ。 - 【請求項2】前記静電チャックステージにおいて、接合
はハンダ又はろう材を介して行われることを特徴とする
請求項1に記載の静電チャックステージ。 - 【請求項3】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
において、セラミックはSiCであることを特徴とする
請求項1または請求項2に記載の静電チャックステー
ジ。 - 【請求項4】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
において、該複合材の熱伝導率が150W/m・K以上
であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれ
か1項に記載の静電チャックステージ。 - 【請求項5】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
において、複合材中のセラミックの体積割合は、20〜
70vol%であることを特徴とする請求項1から請求
項4のいずれか1項に記載の静電チャックステージ。 - 【請求項6】前記セラミックとアルミニウムとの複合材
において、該複合材の表面を陽極酸化被膜処理したこと
を特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記
載の静電チャックステージ。 - 【請求項7】静電チャック用セラミックス焼結体プレー
トと、セラミックとアルミニウムとの複合材プレートと
をハンダ又はろう材を介して接合する静電チャックステ
ージの製造方法において、該複合材中のセラミックの割
合に応じて、接合温度を150〜630℃の範囲で選択
して一体に接合することを特徴とする静電チャックステ
ージの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21585496A JP3622353B2 (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | 静電チャックステージ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP21585496A JP3622353B2 (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | 静電チャックステージ及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1032239A true JPH1032239A (ja) | 1998-02-03 |
JP3622353B2 JP3622353B2 (ja) | 2005-02-23 |
Family
ID=16679381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21585496A Expired - Lifetime JP3622353B2 (ja) | 1996-07-12 | 1996-07-12 | 静電チャックステージ及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3622353B2 (ja) | 2005-02-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071203 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081203 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091203 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091203 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101203 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101203 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111203 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111203 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121203 Year of fee payment: 8 |
|
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