JPH1029149A - 研磨装置 - Google Patents

研磨装置

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JPH1029149A
JPH1029149A JP20306596A JP20306596A JPH1029149A JP H1029149 A JPH1029149 A JP H1029149A JP 20306596 A JP20306596 A JP 20306596A JP 20306596 A JP20306596 A JP 20306596A JP H1029149 A JPH1029149 A JP H1029149A
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JP
Japan
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polishing
detection
jig
swing
upper shaft
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JP20306596A
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English (en)
Inventor
Nobuo Nagata
暢男 永田
Hiroyuki Yoshizawa
博行 吉澤
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Nagata Seisakusho Co Ltd
Nitto Optical Co Ltd
Original Assignee
Nagata Seisakusho Co Ltd
Nitto Optical Co Ltd
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Publication date
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  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 上軸揺動式研磨装置において、上軸の動作を
改善することによって研磨精度及び研磨の均一性を向上
させることができるとともに、研磨を中断することな
く、精度良く研磨量を検出することができる研磨装置を
実現する。 【解決手段】 揺動アーム25は水平方向に揺動するよ
うに構成され、この揺動アームに対して上軸20が上下
動可能に取り付けられている。上軸20はコイルスプリ
ング30によって下方に所定の弾性力で付勢されてい
る。設定ダイヤル28は上軸20の上端に取り付けられ
た支持部27に固定され、検出ゲージ29は揺動アーム
25の先端に設けられた取付部26に固定されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は研磨装置に係り、特
に、揺動動作と回転動作とによって光学レンズ等の光学
部品を研磨する場合に好適な研磨装置の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光学レンズその他の光学部品の研
磨には、上軸揺動式(オスカー式)研磨機と呼ばれるレ
ンズ研磨装置が使用されている。この種の研磨機は、例
えば、図5に示すように、揺動部材としてカンザシと呼
ばれる上軸(揺動部材)10の球状の嵌合部10aを研
磨皿(第1研磨治具)11の嵌合穴11aに嵌合させる
ことによって角度自在に連結し、この研磨皿11を、回
転可能に構成された下軸12の上端に設置された研磨治
具(第2研磨治具)13に取付けられたレンズ基材14
(被研磨材)の表面に摺接させたものである。
【0003】研磨皿11の内面には研磨面が形成され、
研磨されるレンズ基材14は研磨治具13に樹脂等によ
って固着される。上軸10はカンザシ受けと呼ばれる取
付部材15を介して揺動アーム16に接続され、揺動ア
ーム16の揺動動作に伴って図示左右に揺動するように
構成されている。また、揺動アーム16は簡略化して示
す回動軸16aを中心に図示しないフレームに対して上
下に回動自在に取付けられているとともに、フレームと
の間に取付けられた所定エア圧を有するエアシリンダや
弾性部材等から成る付勢手段18によって常時下方に、
すなわち研磨皿11を研磨治具13に押し付ける方向に
付勢するようになっている。
【0004】一方、研磨治具13を取付けた下軸12は
図示しないモータ等の駆動手段によってその軸線を中心
に回転するように構成されている。
【0005】このような構成において、レンズ基材14
を挟持する研磨皿11と研磨治具13とから成る研磨部
に研磨液を供給しながら、研磨治具13を回転させつつ
研磨皿11を揺動させることによって、両者の間に配置
されたレンズ基材14の表面が研磨され、光学面が形成
される。
【0006】この種の研磨機においては、揺動アーム1
6が前後(図示の左右)に揺動することによって研磨皿
11が研磨治具13に対して姿勢を回動させながらレン
ズ基材14の研磨が行われるようになっている。ここ
で、研磨皿11がレンズ基材14の表面に沿って回動す
ると、嵌合部10aと嵌合穴11aとの接合部を介して
上軸10が上下に移動し、揺動アーム16も研磨皿11
の軌跡に沿って上記回動軸16aを中心にして上下に振
動しながら揺動する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の上軸揺動式
研磨機においては、上述のように、揺動アーム16を前
後方向に揺動させるとともに、揺動動作に同期して上下
方向にも僅かではあるが移動するように動作させるよう
になっており、レンズ基材14の上方にある各部材、す
なわち、上軸10、研磨皿11、かんざし受け15、及
び揺動アーム16が一体に構成されているため、これら
全体が複雑な揺動動作を行うようになっている。
【0008】しかしながら、揺動アーム16は回動軸1
6aを中心にして回動自在に取付けられているため、上
軸10と下軸12との位置調整が煩雑になるとともに、
上軸10の嵌合部10aが下軸13の直上に位置する場
合(揺動アーム16が上方にある場合)と、下軸13の
直上から外れた場合(揺動アーム16が下方に下りてい
る場合)とでは、付勢手段18の付勢力が変わってしま
うため、レンズ基材14の表面を均一に研磨することが
できないという問題点がある。
【0009】また、レンズ基材14の上方にある揺動ア
ームその他の各部材に上記のような複雑な動作を行わせ
ているために、研磨中にレンズ基材14の厚さを測定す
るのは非常に困難であり、研磨量を精度良く検出するこ
とは不可能であった。
【0010】このため、従来は途中で研磨を中断してレ
ンズ基材14を取り出し、直接レンズ基材14の厚さを
測定することによって研磨量を制御していた。しかしな
がらこの方法では研磨量の検出精度を高めることはでき
るものの、リアルタイムで研磨量を測定できるわけでは
ないので、推定やカンにより最終的な研磨量を決めるこ
とが必要であり、しかも、正確に研磨を行おうとすると
研磨の中断頻度が多くなってしまい、作業効率が落ちる
という問題点がある。さらに、研磨の中断によって研磨
剤の量や研磨圧力等の条件が変わるために研磨速度が変
化し、いずれにしても精度の高い研磨を行うことは困難
である。
【0011】そこで本発明は上記問題点を解決するもの
であり、その課題は、上軸の動作を改善することによっ
て研磨精度及び研磨の均一性を向上させることができる
とともに、研磨を中断することなく、精度良く研磨量を
検出することのできる研磨装置を実現することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明が講じた手段は、第1研磨治具と、該第1研磨
治具に角度自在に連結された揺動部材と、前記第1研磨
治具に対して被研磨材を介して摺動自在に対向する第2
研磨治具と、前記揺動部材を揺動させる揺動駆動手段
と、前記第2研磨治具をその軸線周りに回転させる回転
駆動手段とを有し、前記被研磨材を研磨するための研磨
装置において、前記揺動駆動手段により前記被研磨材の
研磨方向と略垂直に往復駆動される駆動部材を設け、該
駆動部材に対して前記揺動部材を前記研磨方向に移動自
在にかつ前記研磨方向に付勢された状態に取付けたこと
を特徴とする。
【0013】この手段によれば、研磨方向と略垂直に往
復駆動される駆動部材を設け、この駆動部材に対して揺
動部材を研磨方向に移動自在にかつ付勢された状態に取
付けたので、駆動部材と揺動部材のそれぞれの動作が単
純になり、駆動部材と揺動部材の動作精度を容易に得る
ことができるとともに、揺動部材は駆動部材に対して常
に研磨方向に付勢されているため、研磨圧を一定に保持
し易く、研磨の均一性を高めることが可能になる。
【0014】ここで、前記駆動部材と前記揺動部材との
間に、前記駆動部材に対する前記揺動部材の前記研磨方
向の付勢力を前記揺動部材の前記研磨方向への移動動作
に対抗して略一定に保持する付勢力保持手段を設けるこ
とがことが好ましい。この手段によれば、揺動部材の研
磨方向への移動によって変化しようとする付勢力を一定
に保持する付勢力保持手段を設けたので、揺動動作に伴
う研磨圧の変化を抑制でき、研磨の均一性をさらに高め
ることができる。なお、付勢力保持手段としては、例え
ば、流体圧シリンダ等の印加圧を一定に制御することに
よって、揺動部材の移動動作に対して生ずる付勢力の変
動を吸収し、若しくは緩和するように構成された手段が
考えられる。
【0015】また、前記駆動部材に対し固定された第1
検出部と、前記揺動部材に対し固定された第2検出部
と、前記第1検出部と前記第2検出部との相対的な位置
関係に応じて検出信号を出力する検出センサと、該検出
センサの検出信号に基づいて前記研磨量を検出する検出
処理部とを設けることが好ましい。この手段によれば、
駆動部材と揺動部材とにそれぞれ設けられた第1検出部
及び第2検出部の相対的位置を検出することによって、
揺動部材の駆動部材に対する研磨方向への移動量が得ら
れるので、従来の間接的な検出方法や複雑な揺動動作を
する揺動部材の動きを検出する方法に較べて容易かつ正
確な研磨量測定を行うことができる。
【0016】この場合にはさらに、前記検出処理部は、
前記検出信号に基づいて得られた検出値が設定値に達し
た回数を計数値として計数し、該計数値が設定回数に達
した場合に、前記研磨量が前記設定値に達したとして処
理することが望ましい。この手段によれば、研磨中の振
動等によって検出値が振れていても、検出値の設定値に
達した回数が設定回数に達したことによって所定量の研
磨が完了したと判定するため、誤検出を抑制でき、確実
な研磨量測定を行うことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
に係る光学部品の研磨装置の実施形態について説明す
る。
【0018】(第1実施形態)この実施形態において
は、図1に示すように、揺動部材である上軸20の下端
に設けられた球状の嵌合部20aと、第1研磨治具であ
る研磨皿21の上部に形成された嵌合穴21aとが嵌合
して自在継手を構成し、上軸20と研磨皿21とが角度
自在に連結されている。研磨皿21の内面には光学曲面
を構成する研磨面が形成され、この研磨面は、下軸22
の上端に取付けられた第2研磨治具である研磨治具23
に固着されたレンズ基材24の表面に摺接している。
【0019】ここで、研磨面を有する研磨皿を下軸22
に取付け、レンズ基材24を固着させる研磨治具23を
上軸20に角度自在に連結してもよい。また、レンズ基
材24を研磨治具に固着することなく、研磨皿と研磨治
具との間に挟持する状態で研磨してもよい。
【0020】上軸20は、駆動部材である揺動アーム2
5に対し直線的に上下動可能に取付けられている。ま
た、揺動アーム25は、図示しない揺動駆動機構によっ
て前後方向(図1の左右方向)に水平に(直線的に)揺
動するように構成されている。一方、下軸22は、図示
しない回転駆動機構によって、下軸22の軸線を中心と
して回転されるようになっている。
【0021】揺動アーム25の先端部には取付部26が
設けられ、この取付部26の内部には、垂直方向に伸び
る取付孔が形成されている。一方、上軸20の上部には
水平方向に突出する支持部27が設けられ、この支持部
27の先端寄りに取付孔が形成されている。
【0022】支持部27の取付孔には設定ダイヤル軸2
8が挿通固定され、この設定ダイヤル軸28において
は、その上部に設けられたダイヤル部28aを回転させ
ることにより、支持部27の下方に突出した設定端部2
8b(第1の検出部に対応する。)が上下に出没するよ
うに構成されている。
【0023】上記取付部26の取付孔には検出ゲージ2
9が挿通固定され、この検出ゲージ29は、取付部26
の上に出没自在に突出した検出部29a(第2の検出部
に対応する。)と、この検出部29aの没入量を表示す
る表示部29bとが設けられている。この検出ゲージ2
9は検出部29aの没入量が所定の設定値を越えると電
気信号を出力するように構成されている。この設定値
は、側面に設けられた設定部29cを回転させることに
よって調節できるようになっている。
【0024】上記揺動アーム25の先端部には垂直方向
に貫通した取付孔25aが設けられ、この取付孔25a
に上軸20が挿通されている。取付孔25aの内周面に
はフランジ部25bが内側に突出するように設けられ、
このフランジ部25bを、上軸20の外周面にリング状
に形成された凹部20bの中に収容するようにして組み
立てられている。凹部20bの内部にはコイルスプリン
グ30が、フランジ部25bの下面と凹部20bの下側
面との間に圧縮状態で収容されている。
【0025】このような構造により、上軸20は、揺動
アーム25に対して所定範囲内で上下に摺動自在に取り
付けられていることとなり、しかも、上軸20は常に揺
動アーム25により下方に付勢されていることとなる。
【0026】上記実施形態においては、下軸12を回転
させながら、揺動アーム16を揺動(往復動)させるこ
とによって、研磨治具13に固着されたレンズ基材14
の表面が研磨皿11の研磨面によって研磨される。
【0027】従来の上軸揺動式研磨装置においては、揺
動アームそのものが研磨方向にほぼ垂直に揺動すると同
時に回動軸を中心として回動することによって研磨皿と
の接続部分の上下動に追従することができるように構成
されているが、本実施形態では揺動アーム25は研磨方
向(上下方向)と垂直な方向にのみ揺動するように構成
され、この揺動アーム25に対して上軸20が研磨方向
に摺動自在に取り付けられ、かつ、コイルスプリング3
0が揺動アーム25に対して上軸20を下方、すなわ
ち、研磨方向に付勢している。
【0028】このような構成によれば、揺動部材25は
1方向にのみ往復動すればよいために精度良くしかも剛
性を高く形成できるとともに、上軸20を研磨方向に摺
動自在としているため、揺動アーム25の研磨動作に伴
う研磨方向への追従性が向上する。したがって、研磨皿
21の回動動作に対して付勢力を平均化することが比較
的容易になり、研磨の均一性を高めることが可能とな
る。
【0029】また、研磨量を測定するためには、揺動ア
ーム25と上軸20との相対的な移動量を検出すればよ
く、本実施形態では揺動アーム25が研磨方向には殆ど
動作しないため、精度良く研磨量を測定することができ
る。
【0030】従来においては、揺動アームが複雑な動き
をしているために研磨量の測定データに大きな振れが発
生し、測定が困難であるとともに、測定値の誤差も大き
くなっていた。本実施形態では、検出ゲージ29の検出
信号は揺動アーム25の揺動動作に同期して上下に振れ
るものの、その振れ幅は従来の1/10未満であり、測
定精度も大きく向上している。
【0031】(第2実施形態)次に、図2を参照して本
発明に係る研磨装置の第2実施形態について説明する。
この実施形態においては、揺動アーム48に対して軸受
体47が固定されており、この軸受体47に対して上下
方向に摺動自在に上軸40が挿通されている。上軸40
は揺動アーム48よりも上方に配置された支持板49に
挿通固定されている。
【0032】この支持板49には上記第1実施形態と同
様の設定ダイヤル28が取付けられている。また、揺動
アーム48には上記第1実施形態と同様の取付部26が
設けられ、この取付部26に上記と同様の検出ゲージ2
9が取付けられている。
【0033】上軸40の下端にはコ字状に形成された伝
達アーム41が連結され、この伝達アーム41は後方に
迂回して二股に分かれ、その下側の先端部は研磨皿46
の左右位置(図示前後位置)にそれぞれ突出した状態と
なる。伝達アーム41の2つの先端部には連結アーム4
2が回動自在に連結され、この連結アーム42は研磨治
具43に取付けられている。研磨治具43には、真空吸
着によりレンズ基材44が吸着保持されるようになって
いる。
【0034】揺動アーム48が図示左右に揺動すると、
上軸40、伝達アーム41、及び連結アーム42を介し
て研磨治具43が連結アーム42とともに前後に回動
し、研磨治具43に保持されたレンズ基材44は下軸4
5によって回転されている研磨皿46の内面上を前後に
移動しながら研磨されるようになっている。
【0035】この実施形態においては、揺動アーム48
に取付けられたエアシリンダ50のピストン軸51が支
持板49に固定されていることによって、エアシリンダ
50のエア圧によって上軸40に所定の上下方向の圧力
を付与できるように構成されている。ここでは、エアシ
リンダ50のピストン軸51は上下両方向に適宜の圧力
を印加することができるようになっており、この実施形
態では、レンズ基材44に下方へ約2kg/cm2 の圧
力が加わるようにエアシリンダ50のエア圧を制御して
いる。なお、上軸40に連結された各部材の総重量が大
きい場合には、エアシリンダ50は支持板49を下方へ
押し下げているのではなく、逆に支持板49を上方へ引
き上げている状況が生じ得る。
【0036】このエアシリンダ50は図示しない圧力制
御装置に接続されたエア供給弁を備えた空気圧系からエ
ア圧の供給を受けており、その圧力制御装置は、揺動ア
ーム48の揺動周期よりも充分に早い応答速度でエアシ
リンダ50の加える圧力を一定に制御することができる
ようになっている。研磨中においては、揺動アーム48
の揺動動作と同期して上軸40が上下動し、この上下動
に伴ってエアシリンダ50の印加圧力が変動しようとす
るが、上記圧力制御装置によって常時一定の圧力が加わ
るように制御することができるので、研磨圧を研磨治具
43の姿勢変化に対してほぼ一定に保持することがで
き、研磨の均一性を向上させることができる。
【0037】この実施形態においても、上記第1実施形
態と同様に、設定ダイヤル28によって予め設定された
研磨量が研磨されると、検出ゲージ29から出力された
検出信号によって研磨の完了が報知される。
【0038】(第3実施形態)次に、図3を参照して本
発明に係る研磨装置の第3実施形態について説明する。
この実施形態は、上記第1実施形態又は第2実施形態の
研磨装置の具体的構造を備えた研磨装置において、さら
に、図3に示す研磨量の検出処理装置を構成したもので
ある。
【0039】図3に示すように、検出ゲージ29は、図
1に示す設定ダイヤル28の設定端部28aが検出部2
9aに接触することによって検出される。研磨が進行し
て設定端部28aが検出部29aを押し下げるようにな
ると、検出ゲージ29はその押し下げ量を図1に示す表
示部29bに表示する。また、この押し下げ量は、信号
変換部291にて検出電位に変換される。この検出電位
は、設定部29cにて設定された設定値に対応して基準
電位発生部292から出力される基準電位と電位比較器
293にて比較される。
【0040】検出部29aの押し下げ量が大きくなり、
検出電位が基準電位を上回ると、電位比較器293から
は検出パルスが出力され、カウンタ300にてカウント
される。カウンタ300では検出パルスの数を積算し、
その積算値をディジタル信号として数比較器302に出
力する。数比較器302では基準値に相当するディジタ
ル信号を出力する基準設定器301から常時信号を受け
ており、基準設定器301の基準値とカウンタ300の
出力する積算値とを比較し、積算値が基準値に到達する
と、研磨装置本体に停止信号を送出する。このカウンタ
300は研磨装置本体から出力される研磨開始信号によ
ってリセットされる。
【0041】この実施形態では、検出電位が基準電位に
到達したことによって検出パルスを出力し、この検出パ
ルスを積算して所定の基準値に到達した場合には研磨が
終了したとして研磨装置を停止させるようになってい
る。検出電位は上述のようにある程度の振れを持って観
測されるため、検出電位が基準電位に一度到達した時点
で研磨が終了し、所定厚さに研磨されたと判断すると精
度の良い研磨量を得ることができない。しかし、ある程
度の回数を設定し、検出電位が基準電位にその回数到達
した場合に所定の研磨量がなされたと判断することによ
って、研磨量の精度を向上させることができる。
【0042】上記基準電位及び基準値は、研磨量と精度
との兼ね合いによって適宜設定される。基準値は通常2
回から数回程度である。研磨の進行に伴って検出パルス
の発生間隔は短くなり、やがて連続的に検出パルスが発
生するようになるが、その発生間隔を測定して研磨量を
判定することもできる。
【0043】また、カウンタ300の積算を所定時間内
に限定して保持し、所定時間後にはそれ以前に入力され
た検出パルスのカウントを減算処理によって削除するよ
うに構成することもできる。このようにすることによっ
て、何らかの外部ノイズ等によって検出パルスが発生し
ても、所定時間内に積算値が基準値に達しなければ当該
検出パルスのカウントは考慮されずに判定を行うように
構成できるので、誤検出を防止することができ、検出精
度を向上させることができる。
【0044】(第4実施形態)次に、上記第3実施形態
に付加機能を加えた研磨量検出制御装置の構成を示す第
4実施形態について図4を参照して説明する。この実施
形態においては、図4に示すように設定ダイヤル28の
ダイヤル部28aの設定値を入力して設定信号を出力す
る設定値変換部280が設けられ、この設定値変換部2
80からの設定信号は、制御装置400に入力される。
【0045】制御装置400は研磨装置本体から出力さ
れる研磨開始信号401を受けると、リセット信号40
2をカウンタ300に送出し、カウンタ300の積算値
をリセットする。また、予め単位研磨量に対してかかる
標準時間を所持しており、設定ダイヤル28から入力さ
れた設定値に応じて研磨に必要な標準時間を算出し、そ
の標準時間内に研磨が終了しない場合には異常事態が発
生したとして、警報信号403を出力するようになって
いる。
【0046】上記各実施形態においては、揺動アームを
往復動作するように構成し、この揺動アームに対して上
軸を上下に摺動自在に、かつ、所定圧力で研磨方向に付
勢しているため、揺動アーム及び上軸のそれぞれの動作
が単純になり、動作精度を高めることができるととも
に、研磨圧の変動を抑制することができる。特に、揺動
アームと上軸との間の付勢力における上軸の上下動に伴
う変動をエアシリンダのエア圧を制御することによって
抑制したので、研磨圧をほぼ一定に保つことができ、研
磨の均一性を向上させることができる。
【0047】上記のような構造は、特に、研磨量を測定
する上で効果的である。揺動アームと上軸との間の相対
移動は上下方向(研磨方向)になされるため、両者の相
対的な位置関係を検出することによって精度良く研磨量
を測定することができる。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、研
磨方向と略垂直に往復駆動される駆動部材を設け、この
駆動部材に対して揺動部材を研磨方向に移動自在にかつ
付勢された状態に取付けたので、駆動部材と揺動部材の
それぞれの動作が単純になり、駆動部材と揺動部材の動
作精度を容易に得ることができるとともに、揺動部材は
駆動部材に対して常に研磨方向に付勢されているため、
研磨圧を一定に保持し易く、研磨の均一性を高めること
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る研磨装置の第1実施形態の概略構
成を示す拡大側面図である。
【図2】本発明に係る研磨装置の第2実施形態の概略構
成を示す拡大側面図である。
【図3】本発明に係る研磨装置の第3実施形態の概略構
成図である。
【図4】本発明に係る研磨装置の第4実施形態の概略構
成図である。
【図5】従来の研磨装置における研磨部の構造を示す断
面図である。
【符号の説明】
20 上軸 21 研磨皿 22 下軸 23 研磨治具 24 レンズ基材 25 揺動アーム 26 取付部 27 支持部 28 設定ダイヤル 29 検出ゲージ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1研磨治具と、該第1研磨治具に角度
    自在に連結された揺動部材と、前記第1研磨治具に対し
    て被研磨材を介して摺動自在に対向する第2研磨治具
    と、前記揺動部材を揺動させる揺動駆動手段と、前記第
    2研磨治具をその軸線周りに回転させる回転駆動手段と
    を有し、前記被研磨材を研磨するための研磨装置におい
    て、 前記揺動駆動手段により前記被研磨材の研磨方向と略垂
    直に往復駆動される駆動部材を設け、該駆動部材に対し
    て前記揺動部材を前記研磨方向に移動自在にかつ前記研
    磨方向に付勢された状態に取付けたことを特徴とする研
    磨装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記駆動部材と前記
    揺動部材との間に、前記駆動部材に対する前記揺動部材
    の前記研磨方向の付勢力を前記揺動部材の前記研磨方向
    への移動動作に対抗して略一定に保持する付勢力保持手
    段を設けたことを特徴とする研磨装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、前記駆動部材に対し
    固定された第1検出部と、前記揺動部材に対し固定され
    た第2検出部と、前記第1検出部と前記第2検出部との
    相対的な位置関係に応じて検出信号を出力する検出セン
    サと、該検出センサの検出信号に基づいて前記研磨量を
    検出する検出処理部とを設けたことを特徴とする研磨装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項3において、前記検出処理部は、
    前記検出信号に基づいて得られた検出値が設定値に達し
    た回数を計数値として計数し、該計数値が設定回数に達
    した場合に、前記研磨量が前記設定値に達したとして処
    理することを特徴とする研磨装置。
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