JPH10289221A - マイクロコントローラ - Google Patents
マイクロコントローラInfo
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- JPH10289221A JPH10289221A JP9092647A JP9264797A JPH10289221A JP H10289221 A JPH10289221 A JP H10289221A JP 9092647 A JP9092647 A JP 9092647A JP 9264797 A JP9264797 A JP 9264797A JP H10289221 A JPH10289221 A JP H10289221A
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- memory
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Abstract
揮発性メモリを内蔵するマイクロコントローラに関し、
出力データ幅を既存のものよりも大きくする書換え可能
な不揮発性メモリを開発する必要がなく、既存の不揮発
性メモリを複数個内蔵すれば足りるようにする。 【解決手段】インタフェース回路4は、S1=0、S2
=1とする場合、A19、A18に関係なく、フラッシ
ュメモリ2を選択し、S1=1、S2=0とする場合に
は、A19、A18に関係なく、フラッシュメモリ3を
選択し、S1=1、S2=1、A19=1、A18=1
とする場合には、フラッシュメモリ2を選択し、S1=
1、S2=1、A19=1、A18=0とする場合に
は、フラッシュメモリ3を選択する。
Description
メモリとして書換え可能な不揮発性メモリを内蔵するマ
イクロコントローラに関する。
して、EPROMを内蔵するマイクロコントローラが知
られている。
能な不揮発性メモリとして、紫外線の照射により消去を
行うEPROMに代わって、電気的、かつ、一括消去が
可能なフラッシュメモリが多用されている。
も、EPROMを内蔵するマイクロコントローラに代わ
って、フラッシュメモリを内蔵するマイクロコントロー
ラが必要とされている。
れている単体のフラッシュメモリのうち、出力データ幅
を最大とするものは、出力データ幅を16ビットとする
ものである。
ットとするプログラム格納用メモリを必要とするCPU
(central processing unit)を内蔵するマイクロコン
トローラを製造しようとする場合には、出力データ幅を
32ビット幅とするフラッシュメモリを新たに開発する
か、あるいは、出力データ幅を16ビットとするフラッ
シュメモリを2個内蔵するようにしなければならない。
るフラッシュメモリを新たに開発し、期待する特性を得
るようにする場合には、多大な開発費用と、多大な開発
時間を必要としてしまう。
するプログラム格納用メモリを必要とするCPUを内蔵
するマイクロコントローラを製造しようとする場合に
は、出力データ幅を16ビットとするフラッシュメモリ
を2個内蔵する方法が選択肢として残る。
モリを、出力データ幅を16ビットとする1個のフラッ
シュメモリとして、既存のメモリライタからアクセスで
きるモード(以下、フラッシュメモリ・モードという)
と、2個のフラッシュメモリを、それぞれ単体のフラッ
シュメモリとして、既に確立している試験方法により試
験できる試験モードとを設定できるようにする必要があ
る。
を既存のものよりも大きくする書換え可能な不揮発性メ
モリを開発する必要がなく、既存の書換え可能な不揮発
性メモリを複数個内蔵すれば足りるようにし、既存のメ
モリ試験方法による試験及び既存のメモリライタによる
書込みを可能とし、開発費用の低減化及び開発時間の短
縮化を図ることができるようにしたマイクロコントロー
ラを提供することを目的とする。
をk×nビット(但し、kは2以上の整数、nは1以上
の整数である。)とするプログラム格納用メモリを必要
とするCPUを内蔵するマイクロコントローラにおい
て、CPUにより出力データ幅をk×nビットとするプ
ログラム格納用メモリとしてアクセスされる出力データ
幅をnビットとする同一記憶容量のk個の書換え可能な
不揮発性メモリと、これらk個の書換え可能な不揮発性
メモリをそれぞれ同一のアドレスを有する単体の書換え
可能な不揮発性メモリとして扱う外部からのアクセス又
はこれらk個の書換え可能な不揮発性メモリを出力デー
タ幅をnビットとする1個の書換え可能な不揮発性メモ
リとして扱う外部からのアクセスに対応することができ
るインタフェース回路とを備えているというものであ
る。
揮発性メモリをそれぞれ同一のアドレスを有する単体の
不揮発性メモリとして扱う外部からのアクセスを行う場
合には、k個の書換え可能な不揮発性メモリをそれぞ
れ、出力データ幅をnビットとする単体の書換え可能な
不揮発性メモリとして、既存の試験方法により試験する
ことができる。
を、出力データ幅をnビットとする1個の不揮発性メモ
リとして扱う外部からのアクセスを行う場合には、出力
データ幅をnビットとする書換え可能な不揮発性メモリ
を対象とする既存のメモリライタを使用して書込みを行
うことができる。
を示す回路図であり、図1中、1はCPU、2、3は出
力データ幅を16ビットとする16×1Mビットのフラ
ッシュメモリ、4はフラッシュメモリ2、3に対応して
設けられているインタフェース回路である。
2A、3Aはアドレス入力端子群、2B、3Bは制御信
号入力端子群、2C、3Cはデータ入出力端子群であ
る。
A1が入力されるアドレス入力端子群、6、7は19ビ
ットの内部アドレスバス、8は内部アドレスバス6、7
の接続を制御するスイッチ回路である。
ッシュメモリ・モード時には、内部アドレスバス6、7
を非接続状態とし、通常モード時には、アドレスバス
6、7を接続状態とするものである。
1の入出力を行うためのデータ入出力端子群、10、1
1は32ビットの内部データバス、12は内部データバ
ス10のうち、16ビット部分である。
接続を制御するスイッチ回路であり、試験モード時及び
フラッシュメモリ・モード時には、データバス10、1
1を非接続状態とし、通常モード時には、内部データバ
ス10、11を接続状態とするものである。
や、出力イネーブル信号/OEや、ライトイネーブル信
号/WEが入力される制御信号入力端子群、15、16
は内部制御信号線群である。
の接続を制御するスイッチ回路であり、試験モード時及
びフラッシュメモリ・モード時には、内部制御信号線群
15、16を非接続状態とし、通常モード時には、内部
制御信号線群15、16を接続状態とするものである。
印加されるモード選択信号入力端子群、19はモード選
択信号線群であり、試験モード時には、モード選択信号
S1=「0」、S2=「0」、又は、モード選択信号S
1=「0」、S2=「1」、又は、モード選択信号S1
=「1」、S2=「0」とされ、フラッシュメモリ・モ
ード時には、モード選択信号S1=「1」、S2=
「1」とされる。
するための図であり、モード選択信号S1=「0」、S
2=「0」とされる場合には、アドレス信号A19、A
18の論理に関係なく、インタフェース回路4は、フラ
ッシュメモリ2、3を非選択状態とする。
=「1」とされる場合には、アドレス信号A19、A1
8の論理に関係なく、インタフェース回路4は、フラッ
シュメモリ2を選択状態、フラッシュメモリ3を非選択
状態とする。
=「0」とされる場合には、アドレス信号A19、A1
8の論理に関係なく、インタフェース回路4は、フラッ
シュメモリ2を非選択状態、フラッシュメモリ3を選択
状態とする。
=「1」とされ、かつ、アドレス信号A19=「1」、
A18=「1」とされる場合には、インタフェース回路
4は、フラッシュメモリ2を選択状態、フラッシュメモ
リ3を非選択状態とする。
=「1」とされ、かつ、アドレス信号A19=「1」、
A18=「0」とされる場合には、インタフェース回路
4は、フラッシュメモリ2を非選択状態、フラッシュメ
モリ3を選択状態とする。
=「1」とされ、かつ、アドレス信号A19=「0」、
A18=「1」とされる場合には、インタフェース回路
4は、フラッシュメモリ2、3を非選択状態とする。
=「1」とされ、かつ、アドレス信号A19=「0」、
A18=「0」とされる場合にも、インタフェース回路
4は、フラッシュメモリ2、3を非選択状態とする。
は、モード選択信号S1=「0」、S2=「0」とする
場合には、試験モードとし、フラッシュメモリ2、3を
非選択状態とすることができるので、試験用レジスタ等
に試験用データの格納等を行うことができる。
=「1」とする場合には、アドレス信号A19、A18
の論理に関係なく、フラッシュメモリ2を選択状態、フ
ラッシュメモリ3を非選択状態とすることができるの
で、アドレス信号A17〜A1によりフラッシュメモリ
2に対するアクセスを行うことができ、この場合には、
本発明の一実施形態におけるメモリマップは図2(A)
に示すようになる。
「0」、S2=「1」とする場合には、フラッシュメモ
リ2を出力データ幅を16ビットとする16×1Mビッ
トの単体のフラッシュメモリとして試験することができ
る。
=「0」とする場合には、アドレス信号A19、A18
の論理に関係なく、フラッシュメモリ2を非選択状態、
フラッシュメモリ3を選択状態とすることができるの
で、アドレス信号A17〜A1によりフラッシュメモリ
3に対するアクセスを行うことができ、この場合には、
本発明の一実施形態におけるメモリマップは図2(B)
に示すようになる。
「1」、S2=「0」とする場合には、フラッシュメモ
リ3を出力データ幅を16ビットとする16×1Mビッ
トの単体のフラッシュメモリとして試験することができ
る。
=「1」とし、アドレス信号A19=「1」、A18=
「1」とする場合には、フラッシュメモリ2を選択する
ことができ、アドレス信号A19=「1」、A18=
「0」とする場合には、フラッシュメモリ3を選択する
ことができ、この場合には、本発明の一実施形態におけ
るメモリマップは、図2(C)に示すようになる。
「1」、S2=「1」とする場合には、フラッシュメモ
リ2、3を全体として出力データ幅を16ビットとする
16×2Mビットの1個のフラッシュメモリとして扱う
ことができる。
ば、フラッシュメモリ2、3をそれぞれ出力データ幅を
16ビットとする16×1Mビットの単体のフラッシュ
メモリとして試験を行うことができるので、16×1M
ビットの単体のフラッシュメモリ用の既存の試験パター
ンを使用した既存の試験方法による試験を行うことがで
きる。
て出力データ幅を16ビットとする16×2Mビットの
1個のフラッシュメモリとして扱うことができるので、
既存の16×4Mビット用のメモリライタによる書込み
を行うことができる。
ータ幅を既存のものよりも大きくする書換え可能な不揮
発性メモリを開発する必要がなく、既存の不揮発性メモ
リを複数個内蔵すれば足り、既存のメモリ試験方法によ
る試験及び既存のメモリライタによる書込みを行うこと
ができるので、開発費用の低減化及び開発時間の短縮化
を図ることができる。
る。
す図である。
Claims (1)
- 【請求項1】出力データ幅をk×nビット(但し、kは
2以上の整数、nは1以上の整数である。)とするプロ
グラム格納用メモリを必要とするCPUを内蔵するマイ
クロコントローラにおいて、 前記CPUにより出力データ幅をk×nビットとするプ
ログラム格納用メモリとしてアクセスされる出力データ
幅をnビットとする同一記憶容量のk個の書換え可能な
不揮発性メモリと、 これらk個の書換え可能な不揮発性メモリをそれぞれ同
一のアドレスを有する単体の書換え可能な不揮発性メモ
リとして扱う外部からのアクセス又はこれらk個の書換
え可能な不揮発性メモリを出力データ幅をnビットとす
る1個の書換え可能な不揮発性メモリとして扱う外部か
らのアクセスに対応することができるインタフェース回
路とを備えていることを特徴とするマイクロコントロー
ラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09264797A JP3711691B2 (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | マイクロコントローラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09264797A JP3711691B2 (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | マイクロコントローラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10289221A true JPH10289221A (ja) | 1998-10-27 |
JP3711691B2 JP3711691B2 (ja) | 2005-11-02 |
Family
ID=14060256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09264797A Expired - Lifetime JP3711691B2 (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | マイクロコントローラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3711691B2 (ja) |
-
1997
- 1997-04-11 JP JP09264797A patent/JP3711691B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3711691B2 (ja) | 2005-11-02 |
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