JPH10271330A - 画像読み取り装置 - Google Patents
画像読み取り装置Info
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- JPH10271330A JPH10271330A JP9088888A JP8888897A JPH10271330A JP H10271330 A JPH10271330 A JP H10271330A JP 9088888 A JP9088888 A JP 9088888A JP 8888897 A JP8888897 A JP 8888897A JP H10271330 A JPH10271330 A JP H10271330A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画素欠陥のあるＣＣＤにおいても、異常画像
が発生するのを防止することができる画像読み取り装置
を提供する。 【解決手段】 第２の基準板１３の読み取り時に、平均
値・差分演算回路４によって注目画素の前後数十画素の
平均値に対する差分Δを計算し、ＦＩＦＯメモリ５に記
憶すると共に、原稿の読み取り時に、読み取ったデータ
Ｄｋに対してＬＵＴ６でΔｋ（ｋ；画素位置での差分デ
ータ）を加算することによって正常画素とほぼ同じ補正
後出力Ｄｋ′を得る。これにより画素欠陥のあるＣＣＤ
を使用しても、異常画像が発生するのを防止することが
できる。
が発生するのを防止することができる画像読み取り装置
を提供する。 【解決手段】 第２の基準板１３の読み取り時に、平均
値・差分演算回路４によって注目画素の前後数十画素の
平均値に対する差分Δを計算し、ＦＩＦＯメモリ５に記
憶すると共に、原稿の読み取り時に、読み取ったデータ
Ｄｋに対してＬＵＴ６でΔｋ（ｋ；画素位置での差分デ
ータ）を加算することによって正常画素とほぼ同じ補正
後出力Ｄｋ′を得る。これにより画素欠陥のあるＣＣＤ
を使用しても、異常画像が発生するのを防止することが
できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル複写機、
ＦＡＸ、イメージスキャナ等に適用されるＣＣＤイメー
ジセンサを使用した画像読み取り装置に関し、特に異常
画像が発生するのを防止する技術に関する。
ＦＡＸ、イメージスキャナ等に適用されるＣＣＤイメー
ジセンサを使用した画像読み取り装置に関し、特に異常
画像が発生するのを防止する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】デジタル複写機、ＦＡＸ、イメージスキ
ャナ等ではＣＣＤイメージセンサが読み取り素子として
使用されているが、近年、読み取り画素数の増加、カラ
ー化による複数ライン化によってチップサイズの巨大化
と、総画素数の増加の傾向をたどっている。それによっ
て歩留りが低下し、具体的に問題になっているのは欠陥
画素である。欠陥画素にはウェーハー自体の問題やプロ
セス過程で発生するものがあるが、現象としては、特定
の画素が或る光量以下では全く出力を発生しないことが
挙げられる。
ャナ等ではＣＣＤイメージセンサが読み取り素子として
使用されているが、近年、読み取り画素数の増加、カラ
ー化による複数ライン化によってチップサイズの巨大化
と、総画素数の増加の傾向をたどっている。それによっ
て歩留りが低下し、具体的に問題になっているのは欠陥
画素である。欠陥画素にはウェーハー自体の問題やプロ
セス過程で発生するものがあるが、現象としては、特定
の画素が或る光量以下では全く出力を発生しないことが
挙げられる。
【０００３】元々ＣＣＤイメージセンサには、ＰＲＮＵ
と呼ばれる出力電圧の不均一性があるが、これはシェー
ディング補正という処理によって補正される。しかし、
画素欠陥があると、シェーディング補正では補正しきれ
ず、高濃度部で副走査方向の縦線状の異常画像が発生す
る。
と呼ばれる出力電圧の不均一性があるが、これはシェー
ディング補正という処理によって補正される。しかし、
画素欠陥があると、シェーディング補正では補正しきれ
ず、高濃度部で副走査方向の縦線状の異常画像が発生す
る。
【０００４】図９は横軸を主走査方向、縦軸をＣＣＤ出
力として画素欠陥の出力を見たものである。１００％出
力時には画素欠陥は目立たないが、出力が小さくなって
くると影響が無視できなくなってくる。すなわち、画素
欠陥は出力に対するオフセットとして存在する。
力として画素欠陥の出力を見たものである。１００％出
力時には画素欠陥は目立たないが、出力が小さくなって
くると影響が無視できなくなってくる。すなわち、画素
欠陥は出力に対するオフセットとして存在する。
【０００５】図８は横軸に原稿の反射率を取り、縦軸に
出力を取ったとき、正常画素と欠陥画素の入出力特性を
表したものである。は、正常な画素の入出力特性であ
り、理想的には反射率０％で、出力は０となる。しかし
の欠陥画素では、反射率１００％時にΔだけ出力が低
く、と平行な直線となり、原稿の反射率がａの点まで
くると出力はそれより下は０になってしまう。このよう
な特性を持つＣＣＤをシェーディング補正するとのよ
うになる。すなわち、反射率１００％のところでは補正
されるが、低くなるに従って誤差を生じてくる。そのた
め、特に高濃度部において画素欠陥による異常画像が出
やすい。
出力を取ったとき、正常画素と欠陥画素の入出力特性を
表したものである。は、正常な画素の入出力特性であ
り、理想的には反射率０％で、出力は０となる。しかし
の欠陥画素では、反射率１００％時にΔだけ出力が低
く、と平行な直線となり、原稿の反射率がａの点まで
くると出力はそれより下は０になってしまう。このよう
な特性を持つＣＣＤをシェーディング補正するとのよ
うになる。すなわち、反射率１００％のところでは補正
されるが、低くなるに従って誤差を生じてくる。そのた
め、特に高濃度部において画素欠陥による異常画像が出
やすい。
【０００６】なお、イメージセンサの欠陥ビットを検出
する技術として、特開昭６２−４０８７４号公報、特開
平２−５６１６８号公報、特開平３−１２６２５９号公
報等に記載のものがある。
する技術として、特開昭６２−４０８７４号公報、特開
平２−５６１６８号公報、特開平３−１２６２５９号公
報等に記載のものがある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来、これらの異常画
像の発生したＣＣＤイメージセンサは不良品としていた
が、そのため歩留りが上がらずＣＣＤの価格を上昇させ
る要因となっていた。画素欠陥のあるＣＣＤを補償して
使う方法として直前の画素で置き換えるものがあるが、
その場合には細線が太ったり逆に消えてしまったりする
弊害があった。
像の発生したＣＣＤイメージセンサは不良品としていた
が、そのため歩留りが上がらずＣＣＤの価格を上昇させ
る要因となっていた。画素欠陥のあるＣＣＤを補償して
使う方法として直前の画素で置き換えるものがあるが、
その場合には細線が太ったり逆に消えてしまったりする
弊害があった。
【０００８】そこで本発明は、画素欠陥のあるＣＣＤに
おいても、異常画像が発生するのを防止することができ
る画像読み取り装置を提供することを目的とする。
おいても、異常画像が発生するのを防止することができ
る画像読み取り装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、原稿を照明するための光源
と、原稿からの反射光がその表面に結像されることで原
稿の画像を読み取るＣＣＤイメージセンサと、ＣＣＤイ
メージセンサによって読み取られた画像信号を信号処理
する信号処理回路と、画像信号をデジタル化するＡＤコ
ンバータと、ＣＣＤイメージセンサの各画素に隣接する
前後数十画素の平均値に対する差分を検出する平均値・
差分演算回路と、差分を記憶するメモリと、差分から画
像入力のリニアリティを補正するルックアップテーブル
と、第１の基準板と、第２の基準板とを備えたことを特
徴とする。
に、請求項１記載の発明は、原稿を照明するための光源
と、原稿からの反射光がその表面に結像されることで原
稿の画像を読み取るＣＣＤイメージセンサと、ＣＣＤイ
メージセンサによって読み取られた画像信号を信号処理
する信号処理回路と、画像信号をデジタル化するＡＤコ
ンバータと、ＣＣＤイメージセンサの各画素に隣接する
前後数十画素の平均値に対する差分を検出する平均値・
差分演算回路と、差分を記憶するメモリと、差分から画
像入力のリニアリティを補正するルックアップテーブル
と、第１の基準板と、第２の基準板とを備えたことを特
徴とする。
【００１０】また請求項２記載の発明は、請求項１記載
の発明において、差分を記憶するメモリはＦＩＦＯであ
り、ＣＣＤイメージセンサの有効画素分の差分値をクロ
ックによって順番に出力することを特徴とする。
の発明において、差分を記憶するメモリはＦＩＦＯであ
り、ＣＣＤイメージセンサの有効画素分の差分値をクロ
ックによって順番に出力することを特徴とする。
【００１１】また請求項３記載の発明は、請求項１記載
の発明において、第１、第２の基準板は独立に設けられ
ており、第１の基準板はシェーディング補正をするため
の白色基準板であり、第２の基準板の反射率は第１の基
準板に対して低く設定されていることを特徴とする。
の発明において、第１、第２の基準板は独立に設けられ
ており、第１の基準板はシェーディング補正をするため
の白色基準板であり、第２の基準板の反射率は第１の基
準板に対して低く設定されていることを特徴とする。
【００１２】また請求項４記載の発明は、請求項１記載
の発明において、光源の光量を制御する光量制御回路に
よって光量を低下させて第１の基準板を読み取ること
で、第１の基準板に第２の基準板の機能を持たせたこと
を特徴とする。
の発明において、光源の光量を制御する光量制御回路に
よって光量を低下させて第１の基準板を読み取ること
で、第１の基準板に第２の基準板の機能を持たせたこと
を特徴とする。
【００１３】また請求項５記載の発明は、請求項１記載
の発明において、第１の基準板を副走査方向に傾けて読
み取ることで、第１の基準板に第２の基準板の機能を持
たせたことを特徴とする。
の発明において、第１の基準板を副走査方向に傾けて読
み取ることで、第１の基準板に第２の基準板の機能を持
たせたことを特徴とする。
【００１４】また請求項６記載の発明は、請求項１記載
の発明において、平均値・差分演算により差分を検出す
るとき、ＡＤコンバータの比較電圧を通常よりも低くす
ることを特徴とする。
の発明において、平均値・差分演算により差分を検出す
るとき、ＡＤコンバータの比較電圧を通常よりも低くす
ることを特徴とする。
【００１５】また請求項７記載の発明は、請求項１記載
の発明において、平均値・差分演算により検出された差
分が設定値以上であった場合、差分と該当読み取り画素
の位置を記憶するメモリと、画像信号を該当読み取り画
素の位置でのみＬＵＴで補正する補正回路をさらに備え
たことを特徴とする。
の発明において、平均値・差分演算により検出された差
分が設定値以上であった場合、差分と該当読み取り画素
の位置を記憶するメモリと、画像信号を該当読み取り画
素の位置でのみＬＵＴで補正する補正回路をさらに備え
たことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に沿って説明する。図１は本発明の実施の形態を示
す画像読み取り装置全体の回路構成図である。この画像
読み取り装置は、ＣＣＤイメージセンサ（以下、ＣＣＤ
とする）１、信号処理回路２、ＡＤコンバータ３、注目
画素の前後数十画素の平均値に対する差分を検出する平
均値・差分演算回路４、差分を記憶するＦＩＦＯメモリ
５、差分を入力として画像データを補正するルックアッ
プテーブル（以下、ＬＵＴとする）６、制御回路７、Ａ
Ｄコンバータ３の比較電圧Ｖｒｅｆを切り替えるスイッ
チ８、光量を制御できるランプレギュレータ９、光源１
０を備えている。
図面に沿って説明する。図１は本発明の実施の形態を示
す画像読み取り装置全体の回路構成図である。この画像
読み取り装置は、ＣＣＤイメージセンサ（以下、ＣＣＤ
とする）１、信号処理回路２、ＡＤコンバータ３、注目
画素の前後数十画素の平均値に対する差分を検出する平
均値・差分演算回路４、差分を記憶するＦＩＦＯメモリ
５、差分を入力として画像データを補正するルックアッ
プテーブル（以下、ＬＵＴとする）６、制御回路７、Ａ
Ｄコンバータ３の比較電圧Ｖｒｅｆを切り替えるスイッ
チ８、光量を制御できるランプレギュレータ９、光源１
０を備えている。
【００１７】図２は２つの基準板を独立して設けた画像
読み取り装置の光学系を示す構成図である。コンタクト
ガラス１１の一端部（有効画像領域外）には第１の基準
板１２と第２の基準板１３が独立して設けてある。第１
の基準板１２は白基準板であり、第２の基準板１３は第
１の基準板１２に比べて反射率の低い灰基準板である。
読み取り装置の光学系を示す構成図である。コンタクト
ガラス１１の一端部（有効画像領域外）には第１の基準
板１２と第２の基準板１３が独立して設けてある。第１
の基準板１２は白基準板であり、第２の基準板１３は第
１の基準板１２に比べて反射率の低い灰基準板である。
【００１８】コンタクトガラス１１の下方には、前記光
源１０の他、第１ミラー１４、第２ミラー１５、第３ミ
ラー１６、結像レンズ１７、前記ＣＣＤ１が周知のレイ
アウトで配置されている。
源１０の他、第１ミラー１４、第２ミラー１５、第３ミ
ラー１６、結像レンズ１７、前記ＣＣＤ１が周知のレイ
アウトで配置されている。
【００１９】光源１０と第１ミラー１４はユニット化さ
れて第１走行体を構成し、第２ミラー１５と第３ミラー
１６はユニット化されて第２走行体を構成し、共役長を
保ちながら２：１の速度で副走査方向に移動してコンタ
クトガラス１１上の原稿画像を読み取るようになってい
る。即ち、光源１０によって照明された原稿からの反射
光は、第１、第２、第３ミラー１４，１５，１６によっ
て反射され、結像レンズ１７によってＣＣＤ１に結像さ
れる。
れて第１走行体を構成し、第２ミラー１５と第３ミラー
１６はユニット化されて第２走行体を構成し、共役長を
保ちながら２：１の速度で副走査方向に移動してコンタ
クトガラス１１上の原稿画像を読み取るようになってい
る。即ち、光源１０によって照明された原稿からの反射
光は、第１、第２、第３ミラー１４，１５，１６によっ
て反射され、結像レンズ１７によってＣＣＤ１に結像さ
れる。
【００２０】図３は白基準板に灰基準板の機能も持たせ
る様子を示す説明図である。第１の基準板、即ち白基準
板１２を反時計回り方向に回動して破線で示す位置に傾
けさせ、この破線の位置で白基準板１２を読み取ると、
反射光量は、白基準板１２が正常の位置（実線で示す位
置）にあるときよりも減る。従って、白基準板１２に図
２に示す灰基準板１３としての機能も持たせることがで
きる。なお、ランプレギュレータ９によって光源１０の
光量を低くすることによっても、白基準板１２に灰基準
板としての機能を持たせることができる。
る様子を示す説明図である。第１の基準板、即ち白基準
板１２を反時計回り方向に回動して破線で示す位置に傾
けさせ、この破線の位置で白基準板１２を読み取ると、
反射光量は、白基準板１２が正常の位置（実線で示す位
置）にあるときよりも減る。従って、白基準板１２に図
２に示す灰基準板１３としての機能も持たせることがで
きる。なお、ランプレギュレータ９によって光源１０の
光量を低くすることによっても、白基準板１２に灰基準
板としての機能を持たせることができる。
【００２１】図１において、ＣＣＤ１からの信号は信号
処理回路２を経てＡＤコンバータ３に入力される。信号
処理回路２は、ＣＣＤ１の信号をサンプルホールドし、
増幅し、光量の変化に対して出力を補償するＡＧＣ等か
ら構成される。
処理回路２を経てＡＤコンバータ３に入力される。信号
処理回路２は、ＣＣＤ１の信号をサンプルホールドし、
増幅し、光量の変化に対して出力を補償するＡＧＣ等か
ら構成される。
【００２２】図４はＡＤコンバータから出力されたデジ
タル信号の処理手順を示すフロー図である。図中に示す
（１）〜（４）の内容について、以下、項目ごとに説明
する。
タル信号の処理手順を示すフロー図である。図中に示す
（１）〜（４）の内容について、以下、項目ごとに説明
する。
【００２３】（１）原稿の読み取りに先駆けて第２の基
準板（灰基準板）１３を読み取る。ここで、第２の基準
板１３の読み取りは、図２に示す独立した第２の基準板
１３を読み取る場合の他、前述したように、第１の基準
板１２を傾けて読み取る場合、あるいはランプレギュレ
ータ９によって光源１０の光量を低くして第１の基準板
１２を読み取る場合を含む。
準板（灰基準板）１３を読み取る。ここで、第２の基準
板１３の読み取りは、図２に示す独立した第２の基準板
１３を読み取る場合の他、前述したように、第１の基準
板１２を傾けて読み取る場合、あるいはランプレギュレ
ータ９によって光源１０の光量を低くして第１の基準板
１２を読み取る場合を含む。
【００２４】何故、白基準板１２でなく灰基準板１３で
Δｋ（ｋ；画素位置での差分データ）のデータを取らね
ばならないのかを説明する。ＣＣＤ１にはＰＲＮＵと呼
ばれる感度の不均一性があり、この値は一般的に±１５
％程度である。一方、欠陥画素のレベルは２０ｍＶ程度
であり、白基準板１２の出力値を４００ｍＶとすると、
ＰＲＮＵによって±６０ｍＶの変化が存在することにな
り、２０ｍＶの欠陥画素を分離することは不可能であ
る。そこで灰基準板１３の読み取り出力値を５０ｍＶ程
度にすれば、ＰＲＮＵの変化は±７．５ｍＶとなり、２
０ｍＶの欠陥画素を分離することが可能になってくる。
Δｋ（ｋ；画素位置での差分データ）のデータを取らね
ばならないのかを説明する。ＣＣＤ１にはＰＲＮＵと呼
ばれる感度の不均一性があり、この値は一般的に±１５
％程度である。一方、欠陥画素のレベルは２０ｍＶ程度
であり、白基準板１２の出力値を４００ｍＶとすると、
ＰＲＮＵによって±６０ｍＶの変化が存在することにな
り、２０ｍＶの欠陥画素を分離することは不可能であ
る。そこで灰基準板１３の読み取り出力値を５０ｍＶ程
度にすれば、ＰＲＮＵの変化は±７．５ｍＶとなり、２
０ｍＶの欠陥画素を分離することが可能になってくる。
【００２５】第２の基準板１３の読み取り時には、基準
電圧（Ｖｒｅｆ）を通常の読み取り時よりも切り替えス
イッチ８によって低くしてＡＤコンバータ３に入力する
ことで、より高精度の読み取りを行うことができる。第
２の基準板１３の読み取りは、原稿を読み取るごとに行
っても構わないし、予め１回だけ行っても構わない。
電圧（Ｖｒｅｆ）を通常の読み取り時よりも切り替えス
イッチ８によって低くしてＡＤコンバータ３に入力する
ことで、より高精度の読み取りを行うことができる。第
２の基準板１３の読み取りは、原稿を読み取るごとに行
っても構わないし、予め１回だけ行っても構わない。
【００２６】（２）第２の基準板１３の読み取り時に、
注目画素の前後数十画素の平均値に対する差分Δを平均
値・差分演算回路４によって計算する。隣接画素で計算
することは簡単であるが、図５に示すように、数画素に
わたって画素欠陥があった場合には正常に計算されな
い。前後数十画素の平均値を計算すれば回路は複雑にな
るが、そのような懸念は要らなくなる。
注目画素の前後数十画素の平均値に対する差分Δを平均
値・差分演算回路４によって計算する。隣接画素で計算
することは簡単であるが、図５に示すように、数画素に
わたって画素欠陥があった場合には正常に計算されな
い。前後数十画素の平均値を計算すれば回路は複雑にな
るが、そのような懸念は要らなくなる。
【００２７】（３）差分ΔはＦＩＦＯメモリ５に記憶さ
れる。差分Δが一定値を超した場合にのみ主走査方向の
アドレスを付けて記憶することにすれば、ＦＩＦＯメモ
リ５の容量を節約できる。
れる。差分Δが一定値を超した場合にのみ主走査方向の
アドレスを付けて記憶することにすれば、ＦＩＦＯメモ
リ５の容量を節約できる。
【００２８】（４）原稿の読み取り時には、読み取った
データＤｋを、Δｋを入力とするＬＵＴ６で補正し、つ
まり、ＬＵＴ６でＤｋにΔｋを加算することで、補正後
出力Ｄｋ′を得ている。
データＤｋを、Δｋを入力とするＬＵＴ６で補正し、つ
まり、ＬＵＴ６でＤｋにΔｋを加算することで、補正後
出力Ｄｋ′を得ている。
【００２９】図６は欠陥画素の補正後出力例を示す図で
ある。 正常画素に対して欠陥画素（補正前）はΔｋだけ低
い値を示すが、読み取った画像データに対してΔｋを加
算することによって、欠陥画素（補正後）のように
正常画素とほぼ同じにすることができる。
ある。 正常画素に対して欠陥画素（補正前）はΔｋだけ低
い値を示すが、読み取った画像データに対してΔｋを加
算することによって、欠陥画素（補正後）のように
正常画素とほぼ同じにすることができる。
【００３０】図７は補正後の出力が正常画素と同じにな
らない範囲ＡＢＣＤを示す図である。読み取ったデータ
Ｄｋに単にΔｋを加算した場合にはＡＢのラインにな
り、高濃度部でやや高めの出力になる。出力Δｋ以下で
は強制的に０にすればＣＤのラインになり、高濃度部で
やや低めの値になる。いずれの場合にも高濃度部ではガ
ンマ設定によって画像を潰すことができるし、そうでな
くとも濃度の全域にわたって隣接誤差が出るよりは目立
ちにくい。しかし、処理は複雑になるが、Δｋ以下では
データ補間してＢＤのラインを疑似的に作ることによっ
て、より自然な補正をすることができる。
らない範囲ＡＢＣＤを示す図である。読み取ったデータ
Ｄｋに単にΔｋを加算した場合にはＡＢのラインにな
り、高濃度部でやや高めの出力になる。出力Δｋ以下で
は強制的に０にすればＣＤのラインになり、高濃度部で
やや低めの値になる。いずれの場合にも高濃度部ではガ
ンマ設定によって画像を潰すことができるし、そうでな
くとも濃度の全域にわたって隣接誤差が出るよりは目立
ちにくい。しかし、処理は複雑になるが、Δｋ以下では
データ補間してＢＤのラインを疑似的に作ることによっ
て、より自然な補正をすることができる。
【００３１】本発明においては、差分Δｋに対応した画
像入力Ｄｋに対する画像出力Ｄｋ′の変換をＬＵＴ６に
よって行うので、自然な補正をすることができる。
像入力Ｄｋに対する画像出力Ｄｋ′の変換をＬＵＴ６に
よって行うので、自然な補正をすることができる。
【００３２】本発明の実施の形態によれば、第２の基準
板１３の読み取り時に、平均値・差分演算回路４によっ
て注目画素の前後数十画素の平均値に対する差分Δを計
算し、ＦＩＦＯメモリ５に記憶すると共に、原稿の読み
取り時に、読み取ったデータＤｋに対してＬＵＴ６でΔ
ｋ（ｋ；画素位置での差分データ）を加算することによ
って正常画素とほぼ同じ補正後出力Ｄｋ′を得るもので
あるから、画素欠陥のあるＣＣＤを使用しても、異常画
像が発生するのを防止することができる。
板１３の読み取り時に、平均値・差分演算回路４によっ
て注目画素の前後数十画素の平均値に対する差分Δを計
算し、ＦＩＦＯメモリ５に記憶すると共に、原稿の読み
取り時に、読み取ったデータＤｋに対してＬＵＴ６でΔ
ｋ（ｋ；画素位置での差分データ）を加算することによ
って正常画素とほぼ同じ補正後出力Ｄｋ′を得るもので
あるから、画素欠陥のあるＣＣＤを使用しても、異常画
像が発生するのを防止することができる。
【００３３】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、ＣＣＤイ
メージセンサの画素欠陥をリニアリティ補正することに
より、異常画像の発生したＣＣＤイメージセンサを補償
して使用することができる。
メージセンサの画素欠陥をリニアリティ補正することに
より、異常画像の発生したＣＣＤイメージセンサを補償
して使用することができる。
【００３４】請求項２記載の発明によれば、ＣＣＤイメ
ージセンサの画素欠陥を差分としてＦＩＦＯから順番に
出力することにより、異常画像の発生したＣＣＤイメー
ジセンサを補償して使用することができる。
ージセンサの画素欠陥を差分としてＦＩＦＯから順番に
出力することにより、異常画像の発生したＣＣＤイメー
ジセンサを補償して使用することができる。
【００３５】請求項３記載の発明によれば、第２の基準
板を灰色にすることによって中間濃度部での画像データ
を取り込み、差分を精度よく検出することができる。
板を灰色にすることによって中間濃度部での画像データ
を取り込み、差分を精度よく検出することができる。
【００３６】請求項４記載の発明によれば、光源の光量
を制御する光量制御回路によって光量を低下させて第１
の基準板を読み取ることで、第１の基準板に第２の基準
板の機能を持たせることができる。
を制御する光量制御回路によって光量を低下させて第１
の基準板を読み取ることで、第１の基準板に第２の基準
板の機能を持たせることができる。
【００３７】請求項５記載の発明によれば、第１の基準
板を副走査方向に傾けて読み取ることで、第１の基準板
に第２の基準板の機能を持たせることができる。
板を副走査方向に傾けて読み取ることで、第１の基準板
に第２の基準板の機能を持たせることができる。
【００３８】請求項６記載の発明によれば、ＡＤコンバ
ータの比較電圧を低くすることによって差分を精度よく
取り込むことができる。
ータの比較電圧を低くすることによって差分を精度よく
取り込むことができる。
【００３９】請求項７記載の発明によれば、欠陥画素の
差分と主走査上の位置を記憶することによってメモリの
量を節約することができる。
差分と主走査上の位置を記憶することによってメモリの
量を節約することができる。
【図１】本発明の実施の形態を示す画像読み取り装置全
体の回路構成図である。
体の回路構成図である。
【図２】２つの基準板を独立して設けた画像読み取り装
置の光学系を示す構成図である。
置の光学系を示す構成図である。
【図３】白基準板に灰基準板の機能も持たせる様子を示
す説明図である。
す説明図である。
【図４】ＡＤコンバータから出力されたデジタル信号の
処理手順を示すフロー図である。
処理手順を示すフロー図である。
【図５】灰基準読み取り時のＣＣＤ出力電圧の変化を示
す図である。
す図である。
【図６】本発明による欠陥画素補正の様子を示す図であ
る。
る。
【図７】補正後の出力が正常画素と同じにならない範囲
を示す図である。
を示す図である。
【図８】従来例による欠陥画素補正の様子を示す図であ
る。
る。
【図９】黒レベル、灰基準板、白基準板の各読み取り値
における欠陥画素を示す図である。
における欠陥画素を示す図である。
１ ＣＣＤイメージセンサ ２ 信号処理回路 ３ ＡＤコンバータ ４ 平均値・差分演算回路 ５ ＦＩＦＯメモリ ６ ルックアップテーブル ７ 制御回路 ８ スイッチ ９ ランプレギュレータ １０ 光源 １１ コンタクトガラス １２ 第１の基準板（白基準板） １３ 第２の基準板（灰基準板） １４ 第１ミラー １５ 第２ミラー １６ 第３ミラー １７ 結像レンズ
Claims (7)
- 【請求項１】 原稿を照明するための光源と、 原稿からの反射光がその表面に結像されることで原稿の
画像を読み取るＣＣＤイメージセンサと、 ＣＣＤイメージセンサによって読み取られた画像信号を
信号処理する信号処理回路と、 画像信号をデジタル化するＡＤコンバータと、 ＣＣＤイメージセンサの各画素に隣接する前後数十画素
の平均値に対する差分を検出する平均値・差分演算回路
と、 差分を記憶するメモリと、 差分から画像入力のリニアリティを補正するルックアッ
プテーブルと、 第１の基準板と、 第２の基準板と、 を備えたことを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項２】 請求項１記載において、差分を記憶する
メモリはＦＩＦＯであり、ＣＣＤイメージセンサの有効
画素分の差分値をクロックによって順番に出力すること
を特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項３】 請求項１記載において、第１、第２の基
準板は独立に設けられており、第１の基準板はシェーデ
ィング補正をするための白色基準板であり、第２の基準
板の反射率は第１の基準板に対して低く設定されている
ことを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項４】 請求項１記載において、光源の光量を制
御する光量制御回路によって光量を低下させて第１の基
準板を読み取ることで、第１の基準板に第２の基準板の
機能を持たせたことを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項５】 請求項１記載において、第１の基準板を
副走査方向に傾けて読み取ることで、第１の基準板に第
２の基準板の機能を持たせたことを特徴とする画像読み
取り装置。 - 【請求項６】 請求項１記載において、平均値・差分演
算により差分を検出するとき、ＡＤコンバータの比較電
圧を通常よりも低くすることを特徴とする画像読み取り
装置。 - 【請求項７】 請求項１記載において、平均値・差分演
算により検出された差分が設定値以上であった場合、差
分と該当読み取り画素の位置を記憶するメモリと、画像
信号を該当読み取り画素の位置でのみＬＵＴで補正する
補正回路をさらに備えたことを特徴とする画像読み取り
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9088888A JPH10271330A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 画像読み取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9088888A JPH10271330A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 画像読み取り装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10271330A true JPH10271330A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=13955519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9088888A Pending JPH10271330A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 画像読み取り装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10271330A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007067475A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Seiko Epson Corp | 光電変換素子の検査方法、画像読み取り装置およびプログラム |
| JP2007088616A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP9088888A patent/JPH10271330A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007067475A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Seiko Epson Corp | 光電変換素子の検査方法、画像読み取り装置およびプログラム |
| JP2007088616A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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