JPH10261250A

JPH10261250A - 光磁気ディスクの再生方法および再生装置

Info

Publication number: JPH10261250A
Application number: JP6515997A
Authority: JP
Inventors: Tadashi Shimizu; 正清水
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 1997-03-18
Filing date: 1997-03-18
Publication date: 1998-09-29
Anticipated expiration: 2017-03-18
Also published as: JP3587017B2

Abstract

(57)【要約】【課題】ピットエッジ記録方式の光磁気ディスク再生
装置用ＩＣの低消費電力化と、高速かつ高精度のエッジ
検出を可能とする再生方法を実現する。【解決手段】再生信号とスライスレベルの交点を記録
ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの再
生方法において、第１の位相比較器、チャージポンプ、
ループフィルター、およびＶＣＯからなるＰＬＬ回路
と、第２の位相比較器、第２のチャージポンプ、第２の
ループフィルターからなる信号処理回路とを有し、二値
化された再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生デー
タへ位相同期化したクロックあるいはデジタルデータと
の位相差を該第２の位相比較器により検出し、該位相差
から求めた補正分を基準スライスレベルに加算すること
により前記スライスレベルを補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光磁気ディスクの再
生方法および装置に関し、特にピットエッジ記録方式で
情報が記録された光磁気ディスクから記録情報を再生す
る光磁気ディスクの再生方法および再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスクは初期状態では磁化の向
きは一方向（消去方向）にそろっているが、記録データ
を書き込む際には、記録データに対応して記録ビームで
光磁気ディスクをキュリー点まで加熱して、外部磁界に
よって磁化の方向を消去方向とは反対にした記録ピット
の列を形成する。

【０００３】記録ピットの形成方式には２種類あり、例
えば記録データの”１”に対応してピットを形成するい
わゆるピットポジション記録方式と、例えば記録データ
の”１”に対応してピットの前縁または後縁が位置する
ように記録ピットを形成するいわゆるピットエッジ記録
方式がある。ピットエッジ記録方式は図３のように記録
データの”１”を記録ピットのエッジに対応させるた
め、ピットポジション記録方式に比べ記録ビームの走査
方向の記録密度が大幅に向上する利点がある。そのため
近年の高密度光磁気ディスクの記録方式には、ピットエ
ッジ記録方式が多く用いられている。

【０００４】再生信号からエッジ位置を検出する方法と
しては、別回路により求められたあるスライスレベルに
より再生信号をデータスライスし、その時の交点をピッ
トのエッジ位置として検出するレベルスライス方式と再
生信号を２回微分することにより、その変曲点をピット
のエッジ位置として検出する２回微分方式がある。また
そうして求めたいわゆる二値化された再生データはエッ
ジ信号として前記ＰＬＬ回路に入力され、該エッジ信号
に対して位相同期化したクロック信号が生成される。次
に該クロック信号と前記エッジ信号はデータセパレータ
回路に入り、やはり位相を同期化した再生データを得
る。同期化した再生データはその後の復調回路により、
記録データである通常のデジタルデータに変換される。
前記ＰＬＬ回路により前記エッジ信号を処理する際の処
理方法としては、ピットの前縁または後縁を立ち上がり
と立ち下がり位置を示す別のエッジ信号として２つのＰ
ＬＬ回路により処理するＤｕａｌＰＬＬ方式とピットの
前縁または後縁の位置を示すエッジ信号を立ち上がりと
立ち下がりの区別なく１つのＰＬＬ回路により処理する
ＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方式がある。このうちＤｕａｌＰＬ
Ｌ方式の代表的な例は、特開平４−９０１６８号公報、
特開平４−１２１８４５号公報などに開示されている。
またＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方式でありながら、ピットの前
縁または後縁をレベルスライス方式で別々に検出し、ス
ライスレベルあるいはエッジ位置を補正するという構成
は過去にいくつか出願されており、代表的なものには特
開平４−２０５９３９号公報、特開平４−２９１０４１
号公報、特開平５−１１４１８９号公報などがある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら，Ｄｕａ
ｌＰＬＬ方式はＰＬＬ回路を少なくとも２つ用いるため
回路規模が大きくなり、消費電力が大きくなる。したが
って今後益々需要が高まる電池駆動も可能なノートサイ
ズのパーソナルコンピュータに搭載される光磁気ディス
ク再生装置用のＩＣに適用するには、消費電力が大きす
ぎるという問題点がある。また２つ以上のＰＬＬ回路が
周波数の高いクロックを介して相互に干渉するため、個
々のＰＬＬの回路動作が不安定になりやすく、回路ノイ
ズも多いという問題点もあった。

【０００６】またＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方式でスライスレ
ベルあるいはエッジ位置を補正するという方法は補正す
る前のデータをレベルスライスする場合の基準スライス
レベルの設定が難しく、スライスレベルあるいはエッジ
位置の補正分を演算するのに時間がかかるため、高速に
補正ができず再生時のスピードが遅い、また場合によっ
ては再生時のエラーが起こりやすくなるという問題点が
あった。この事はすなわち再生装置の性能の悪さを意味
するものであり、再生装置の設計においては注意すべき
内容である。

【０００７】本発明はこのような問題点を解決するもの
でその目的とするところは、ピットエッジ記録方式で情
報が記録された光磁気ディスクから記録情報を再生する
光磁気ディスクの再生方法および装置において、特に今
後益々需要が高まる電池駆動も可能なノートサイズのパ
ーソナルコンピュータに搭載される光磁気ディスク再生
装置用のＩＣに適用できる簡単な回路構成で、低消費電
力を実現する光磁気ディスクの再生方法を提供すること
にあり、また高速でしかも精度のよいエッジ検出ができ
る光磁気ディスクの再生方法を提供することにもある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の光磁気ディスク
の再生方法は、光磁気ディスク媒体にエッジ記録された
ピットのエッジ位置を検出して記録信号を再生する再生
方法であり、特に再生信号とスライスレベルの交点を記
録ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの
再生方法において、第１の位相比較器、チャージポン
プ、ループフィルターおよびＶＣＯからなるＰＬＬ回路
と、第２の位相比較器、第２のチャージポンプおよび第
２のループフィルターからなる信号処理回路とを有し、
二値化された再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生
データへ位相同期化したクロックあるいはデジタルデー
タとの位相差を該第２の位相比較器により検出し、該位
相差から求めた補正分を基準スライスレベルに加算する
ことにより前記スライスレベルを補正することを特徴と
する。また前記基準スライスレベルは固定電圧または再
生信号に基づき生成したスライスレベルのいずれかを選
択できることを特徴とする。さらに前記信号処理回路の
動作、非動作の選択および動作を開始させるタイミング
は外部から制御できることを特徴とする。また前記第２
の位相比較器により位相比較する場合、再生信号の立ち
上がりエッジあるいは立ち下がりエッジでのみ位相比較
するか、または立ち上がりと立ち下がり両エッジで位相
比較することを特徴とする。

【０００９】本発明の光磁気ディスクの再生方法は、光
磁気ディスク媒体にエッジ記録されたピットのエッジ位
置を検出して記録信号を再生する再生方法であり、特に
再生信号とスライスレベルの交点を記録ピットのエッジ
位置として検出する光磁気ディスクの再生方法におい
て、第１の位相比較器、チャージポンプ、ループフィル
ターおよびＶＣＯからなるＰＬＬ回路と、第２の位相比
較器、第２のチャージポンプおよび第２のループフィル
ターからなる信号処理回路とを有し、二値化された再生
データと前記ＰＬＬ回路により該再生データへ位相同期
化したクロックあるいはデジタルデータとの位相差を該
第２の位相比較器により検出し、該位相差から求めた補
正分を基準スライスレベルに加算することにより前記ス
ライスレベルを補正する再生方法であって、再生してい
る光磁気ディスクの欠陥を検知したら前記信号処理回路
をリセットすることを特徴とする。また前記光磁気ディ
スクの欠陥を検知する方法は前記再生信号とスライスレ
ベルの比較出力を用いて行い、該比較出力のパルス幅が
設定値以下なら前記信号処理回路をリセットすることと
し、該設定値はエッジ記録再生の際に用いられる変調方
式により異なり、前記クロック周期をＴとした場合、Ｔ
の数倍に設定されることを特徴とする。さらに前記光磁
気ディスクの欠陥を検知して前記信号処理回路をリセッ
トする場合、前記第２のループフィルターの出力を基準
電圧に接続することを特徴とする。

【００１０】本発明の光磁気ディスクの再生装置は、光
磁気ディスク媒体にエッジ記録されたピットのエッジ位
置を検出して記録信号を再生する光磁気ディスクの再生
装置であり、特に再生信号とスライスレベルの交点を記
録ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの
再生装置において、該光磁気ディスク媒体を回転させる
スピンドルモータ、該光磁気ディスク媒体にレーザー光
を照射し情報の記録再生を行う光学ヘッド、該光学ヘッ
ドを所望の位置に移動させるアクチュエータおよび制御
回路部からなる再生装置であり、該制御回路部はプリア
ンプ回路、レーザー駆動回路、サーボ制御回路、ディス
クコントローラ回路、ＣＰＵ、第１の位相比較器とチャ
ージポンプとループフィルターとＶＣＯとからなるＰＬ
Ｌ回路、および、第２の位相比較器と第２のチャージポ
ンプと第２のループフィルターとからなる信号処理回
路、を少なくとも有することを特徴とする。また前記第
２の位相比較器により、二値化された再生データと前記
ＰＬＬ回路により該再生データへ位相同期化したクロッ
クあるいはデジタルデータとの位相差を検出し、該位相
差から求めた補正分を加算アンプにより基準スライスレ
ベルに加算することにより前記スライスレベルを補正す
ることを特徴とする。さらに前記加算アンプのゲインは
前記信号処理回路の動作時と非動作時で切り換えること
とし、動作時はゲインが１以下であり、非動作時は１以
上であることを特徴とする。また前記スライスレベルの
補正精度は前記第２の位相比較器により、二値化された
再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生データへ位相
同期化したクロックあるいはデジタルデータとの位相差
を検出し、該位相差から求めた補正出力のダイナミック
レンジと、前記信号処理回路から前記加算アンプまでを
閉ループにした場合のループゲインから決定されること
を特徴とする。さらに前記第２のループフィルターは前
記第２のチャージポンプの出力にコンデンサの一端を接
続し、一端は回路のグランドレベルに接続した構成であ
り、該コンデンサの値により前記信号処理回路から前記
加算アンプまでを閉ループにした場合のループゲインと
スライスレベルを補正する速度が決定されることを特徴
とする。また前記第２のループフィルターのコンデンサ
に並列にダンピング抵抗を設け、ループフィルターの出
力振幅を制限することを特徴とする。さらに前記ダンピ
ング抵抗の一端はチャージポンプの出力に接続し、一端
は回路のグランドレベルあるいは基準電圧に接続するこ
とを特徴とする。

【００１１】本発明の光磁気ディスクの再生装置は、光
磁気ディスク媒体にエッジ記録されたピットのエッジ位
置を検出して記録信号を再生する光磁気ディスクの再生
装置において、該再生装置を構成する制御回路部はプリ
アンプ回路、レーザー駆動回路、サーボ制御回路、ディ
スクコントローラ回路、ＣＰＵ、第１の位相比較器とチ
ャージポンプとループフィルターとＶＣＯとからなるＰ
ＬＬ回路、第２の位相比較器と第２のチャージポンプと
第２のループフィルターとからなる信号処理回路、を少
なくとも有し、該第２のループフィルターを構成するコ
ンデンサの値は１０００ｐＦ以下であることを特徴とす
る。また前記信号処理回路は前記ＰＬＬ回路の動作周波
数帯域と少なくとも同じ周波数帯域で動作させることを
特徴とする。さらに前記ＰＬＬ回路により、二値化され
た再生データへ位相同期化する際の周波数と位相の引き
込み過程に用いるディスクのＶＦＯ部とデータ領域では
前記ＰＬＬ回路のゲインを切り換えることとし、該デー
タ領域におけるゲインは引き込み時と同じかまたはそれ
以下に設定することを特徴とする。また前記ＰＬＬ回路
により、二値化された再生データへ位相同期化する際の
周波数と位相の引き込み過程に用いるディスクのＶＦＯ
部とデータ領域では前記信号処理回路によりスライスレ
ベルを補正する際の基準スライスレベルを切り換えるこ
とを特徴とする。

【００１２】

【作用】本発明の上記構成によれば、図１のように第２
の位相比較器により、二値化された再生データとＰＬＬ
回路により該再生データへ位相同期化されたクロックと
の位相差を検出し、該位相差出力からＵｐとＤｏｗｎパ
ルスを生成し、チャージポンプ回路を動かす。さらにチ
ャージポンプ回路の出力をループフィルターにかけ、Ｄ
Ｃ成分としての補正出力であるＶＥＲＲＯＲを取り出
す。その補正出力ＶＥＲＲＯＲを図２のように加算アン
プにより基準スライスレベルに加算してスライスレベル
を補正する。補正されたスライスレベルにより再度デー
タを二値化して正しい再生データを得ることになる。

【００１３】

【発明の実施の形態】

（実施例１）以下本発明について，実施例に基づき詳細
に説明する。図１は本発明を実施する再生回路主要部の
回路ブロック図である。ここでデータの再生に用いるＰ
ＬＬ回路は公知の構成であり、第１位相比較器１、チャ
ージポンプとループフィルター２、およびＶＣＯ（電圧
制御発振器）３からなる。通常光磁気を含む磁気記録装
置に用いられるこの種のＰＬＬ回路はデータの高速引き
込みとロックおよび追従が可能である。次に本発明によ
るスライスレベルの補正についてまず概略を説明する。
ＰＬＬ回路からのＶＣＯ出力とＲＡＷＤＡＴＡ５はデー
タセパレータ回路４に入力され、再生信号に位相同期化
されたクロックであるＳＹＮＣＣＬＫ７と再生データＳ
ＹＮＣＤＡＴＡ６を得る。ここでＲＡＷＤＡＴＡ５につ
いて少し説明する。図２は本発明を実施する再生回路の
別の部分を示す回路ブロック図である。光学ヘッド１５
を用いて光磁気ディスクに再生用光スポットを照射し、
磁気光学的効果により再生信号を得る。この再生信号は
アンプとフィルター１６を通して増幅され、コンパレー
タ２５によりあるスライスレベルでデータスライスされ
る。スライスされたデータは記録ピットのエッジ位置を
示すものであり、二値化回路２６によりデジタル化さ
れ、いわゆるＲＡＷＤＡＴＡを得る。再び図１に戻り、
第１位相比較器と同じ構成の第２位相比較器により、Ｒ
ＡＷＤＡＴＡとＳＹＮＣＣＬＫとの位相差を検出し、そ
の位相差出力からＵｐパルス９とＤｏｗｎパルス１０を
生成し、チャージポンプ回路１１を動かす。さらにチャ
ージポンプ回路の出力をループフィルターにかけＤＣ成
分としての補正出力であるＶＥＲＲＯＲ１３を取り出
す。その際、ループフィルターの構成要素としてはチャ
ージポンプ回路出力にコンデンサＣ１を回路グランドレ
ベルに対して外付けする。チャージポンプ回路出力によ
り、このコンデンサＣ１は充放電される。Ｃ１の容量
値を小さくすれば充放電が速くなるため、ＶＥＲＲＯＲ
は高速な応答になる。逆にＣ１の容量値を大きくすれ
ば、ＶＥＲＲＯＲの応答はゆっくりしたものになる。し
たがって本発明において、Ｃ１の容量値の設定は重要な
ポイントである。この点については後述する。こうして
得られたＶＥＲＲＯＲ出力は図２における加算アンプ２
３により基準スライスレベルに加算され、スライスレベ
ルを補正する。補正されたスライスレベルであるＳＵＭ
Ｏ２４はコンパレータ２５に入力され、再度データスラ
イスを行った後、二値化回路によりデジタル化され正し
い再生データを得ることになる。つまり図１のＰＬＬ回
路とスライスレベル補正回路１４から図２のＲＡＷＤＡ
ＴＡ生成までが１つのループをつくり、そのループを何
回か回るうちにスライスレベルが補正され、正しい再生
データを得る構成になっている。ここでスライスレベル
補正回路の動作開始時の基準スライスレベルは固定電圧
または再生信号に基づき生成したスライスレベルのいず
れかを選択できる。固定電圧の場合は、図２のように基
準電圧発生回路１７により生成した固定電圧を用いる。
この固定電圧は基準電圧と呼び、図２においてアンプと
フィルター１６の出力のバイアス電圧であるとともにコ
ンパレータ２５に対するＤＣバイアス電圧でもある。ま
た再生信号に基づき生成したスライスレベルの場合は、
ピークボトム検出回路１８により再生信号のピーク出力
１９とボトム出力２０を検出し、それらを抵抗分割した
値である中間出力ＭＩＤ２１を基準スライスレベルとす
る。例えばＰＬＬによるデータ引き込みに用いるＶＦＯ
部分のピークとボトムを検出し、その５０％をＭＩＤレ
ベルとして使用することができる。ＶＦＯ部分は通常、
最高記録周波数の連続パターンが記録されているので、
記録ピット間の干渉をよく反映している領域である。し
たがってデータ再生の場合に、このＶＦＯ部分で基準ス
ライスレベルを決めることが多い。なお基準スライスレ
ベルを切り換える場合で具体的な例を上げると、例えば
再生しようとする光磁気ディスクに対して装置の最適な
記録パワーを設定するモード（テストライトあるいは試
し書きモードという）では再生信号に基づき生成したス
ライスレベルを基準とし、実際にデータを再生するモー
ドでは固定の基準電圧を用いる。切り換えはモード切り
換え信号によりアナログスイッチのような高速スイッチ
を動作して行う。通常のアナログスイッチであれば、数
十ｎｓ以下の応答性があるので十分である。図２におい
ては切り換えスイッチ２２を動作することにより加算ア
ンプ２３の一方の入力を切り換えている。またデータ再
生のモードにおいて、さらに細かく基準スライスレベル
を切り換える内容については後述する。

【００１４】次に本発明によるスライスレベルの補正に
ついて、図３に基づいてさらに詳しく説明する。（ａ）
の記録データに対しエッジ記録されたピットは（ｂ）の
ような形状をしている。この記録ピットを光学ヘッドに
より検出し、アンプとフィルターを通した再生信号は
（ｃ）である。今基準スライスレベルが図のように、理
想より高い位置にあったとする。その基準スライスレベ
ルによりデータスライスされ二値化されたＲＡＷＤＡＴ
Ａは、（ｅ）に示すように本来あるべきエッジ位置に対
し、時間的なシフトを生ずる。このＲＡＷＤＡＴＡ
（ｅ）とＳＹＮＣＣＬＫ（ｆ）が位相比較されると、エ
ッジのシフト方向と大きさに応じてＵｐあるいはＤｏｗ
ｎのパルス（ｇ）または（ｈ）が生成される。このＵｐ
あるいはＤｏｗｎのパルスによりチャージポンプ回路が
動作し、図１におけるコンデンサＣ１を充放電する。ゼ
ロクロス信号（ｄ）によりスライスレベルを補正する方
向を制御すると、図３の場合はチャージ信号（ｉ）のみ
が発生し、これによりＣ１が充電され、スライスレベル
を下げるような補正出力ＶＥＲＲＯＲを生ずる。逆にス
ライスレベルが理想より低い場合は、点線で示すように
ディスチャージ信号（ｊ）のみが発生し、Ｃ１から電荷
を放電し、スライスレベルを上げるような補正出力を生
ずる。例えば基準電圧をＶＲＥＦ、基準スライスレベル
をＭＩＤとすると、補正されたスライスレベルＳＵＭＯ
は次式のようになる。

【００１５】

【数１】

【００１６】ここでＧは加算アンプのゲインを示してお
り、スライスレベルの補正精度と補正出力ＶＥＲＲＯＲ
の応答性も加味して決定される。このＧについては後述
する。また基準スライスレベルとして基準電圧を用いる
場合は上式のＭＩＤがＶＲＥＦとなる。このようにして
スライスレベルの補正が行われるが、近年記録データの
転送レートも上がり、扱う信号の周波数が数十ＭＨｚに
も及ぶため、スライスレベルの補正もμs オーダーの応
答が必要となる。実験およびシミュレーションを重ねた
結果、Ｃ１＜１００ｐＦにしてスライスレベル補正回路
を高速動作させれば、スライスレベルの補正もμs オー
ダーの応答が可能なことがわかった。周辺の付加的な回
路によってもこのＣ１の値は異なるので、実用的にはＣ
１＜１０００ｐＦに設定するのがよいと思われる。

【００１７】次に実際のデータによりスライスレベル補
正の効果をみる。図４は従来の再生方法における再生波
形とデータパルスの時間間隔測定結果を示す図である。
ディスクに記録されたあるパターンを再生し、その再生
信号をオシロスコープにより観測した結果が（ａ）に示
す再生波形エンベロープＡ２７である。この場合は再生
信号のピークとボトムを検出し、その５０％値を適切な
スライスレベルとしている。またスライスレベル補正回
路は動いていないので、２８に示す補正出力Ａ１は固定
値を示している。そのスライスレベル２９でデータスラ
イスし二値化した再生データのパルス時間間隔をタイム
インターバルアナライザーにより測定した結果が（ｂ）
である。この例は１／７変調方式の２Ｔ、４Ｔ、５Ｔ成
分を含んだパターンであるので、（ｂ）のような分布結
果が得られた。各Ｔ成分の分布はほぼガウス分布を示し
ている。この分布の拡がりがデータ再生の際のエラーレ
ートを左右する。つまり分布の拡がりが大きいほど、エ
ラーを起こしやすくエラーレートが悪いことになる。例
えば２Ｔ成分について分布の拡がり、つまり標準偏差σ
を測定すると（ｂ）に示すように２．４９ｎｓであっ
た。これに対し、本発明による再生方法を用いると、図
５のような結果になった。スライスレベル補正回路が高
速に動作し、補正出力は３０のようにパターンに応じて
微妙に変化している。この補正出力から３１のスライス
レベルＡ２が生成され、図４と同じようにして再生デー
タのパルス時間間隔を測定した結果が（ｂ）である。図
４の（ｂ）と比較すると２Ｔ、４Ｔ、５Ｔ各成分の分布
が急峻になっているのがわかる。２Ｔ成分の標準偏差は
２．２４ｎｓであった。データ再生の際に用いるデコー
ドウインドウから、あるエラーレートを想定して分布の
拡がりを統計的処理したものを差し引いた値をウインド
ウマージンと呼ぶ。図４（ｂ）と図５（ｂ）で２Ｔ成分
の標準偏差の差は２．４９−２．２４＝０．２５ｎｓと
僅かな差のように思われるが、この標準偏差の差は１×
１０−５のエラーレートの場合を考えるとデコードウイ
ンドウに対して約５％を占有する。つまり本発明による
スライスレベルの補正を行うと、この例の場合はウイン
ドウマージンが約５％改善されるのである。実際エッジ
記録を用いるような高記録密度の場合を考えると、この
５％の改善は非常に大きい効果である。このように従来
の再生方法に比べ、本発明の再生方法を用いるとウイン
ドウマージンが改善され、データ再生の際のエラーレー
トが実質的に向上する。図４、図５は本発明によるスラ
イスレベルの補正の有効性を証明しているデータであ
る。さらに図６は別なパターンにおけるスライスレベル
の補正を示す図である。図のようにＤＣ的に変動するよ
うなパターンに対しても、スライスレベルの補正は適切
にでき、３３あるいは３５のようにμs オーダーの応答
が可能である。このように数十ＭＨｚの信号に対し、ス
ライスレベルの補正がピットバイピットで十分にでき
る。

【００１８】またスライスレベル補正回路を含む本発明
の信号処理回路の動作、非動作の選択は外部から制御で
きる。実際には図２における加算アンプ２３のＯＮ、Ｏ
ＦＦを外部から制御できるようにしているので、前記信
号処理回路の動作、非動作の選択が容易にできる。さら
に前記信号処理回路の動作を開始させるタイミングも外
部から制御できる。具体的にはタイミングの設定は、光
磁気ディスクのディスクフォーマットに対応して設定で
きる。図８は光磁気ディスクのディスクフォーマットの
一例を示した図であるが、光磁気ディスクは記録データ
の管理上の必要から１トラックが数十セクターに分割さ
れ、各セクターは例えばこの図のように、セクターの開
始を示すセクターマーク信号ＳＭ、セクターを特定する
ＩＤ番号を示すＩＤ部、ＰＬＬ回路によるデータの引
き込みに用いるＶＦＯ部を含むＰｒｅ−Ｆｏｒｍａｔｔ
ｅｄＨｅａｄｅｒ部およびユーザーが記録するための領
域であるＲｅｃｏｒｄｉｎｇｆｉｅｌｄ部などから構成
されている。図の中でＤａｔａｆｉｅｌｄが実際にデー
タが記録される領域である。タイミングの設定は、例え
ばセクターマーク信号を検出したという信号をトリガー
にしてカウンターを動かし、カウント数に従いスライス
レベル補正回路の中の位相比較器の動作を開始させる信
号を出力すれば、ディスクフォーマットに対応させて任
意に設定できる。ＰＬＬによりデータの引き込みを完了
してすぐに位相比較器を動かすこともできるし、ＶＦＯ
部が終了するまで待って動かすということもできる。こ
のようなタイミングの設定は例えば、ＶＦＯ部に欠陥が
あって再生時にエラーを起こした場合にタイミングをず
らしてリトライすることができるので非常に有効であ
る。

【００１９】次にスライスレベル補正回路の中の第２の
位相比較器による位相比較方法について説明する。図９
は本発明の再生方法における位相比較器の位相比較タイ
ミングを説明する図である。（ａ）の再生信号はスライ
スレベル（ｅ）によりデータスライスされ、二値化後に
ＲＡＷＤＡＴＡ（ｂ）となる。再生信号の立ち上がり、
立ち下がり両エッジで位相比較するとはＲＡＷＤＡＴＡ
のそれぞれのエッジについてクロックあるいはデジタル
データとの位相比較を行い、スライスレベル補正をする
ことである。これとは別に、再生信号の立ち上がりエッ
ジあるいは立ち下がりエッジでのみ位相比較することも
できる。図９で（ｃ）は立ち上がりデータ、（ｄ）は立
ち下がりデータを示す。（ｃ）とクロック、（ｄ）とク
ロックというようにＲＡＷＡＤＡＴＡの一つおきのエッ
ジについて位相比較が行われる。このように位相比較の
間隔を広げることで、スライスレベル補正回路を含む本
発明の信号処理回路の動作周波数帯域を下げることがで
き、高周波ノイズに対して回路動作の安定化を図ること
ができる。

【００２０】一方図７は従来の再生方法の一例を示す回
路ブロック図である。なお本発明の実施例と同一部材、
同一信号には同一符号を付しているので、その説明は省
略する。図はＤｕａｌＰＬＬ方式を示しているが、この
方式は再生信号の立ち上がりと立ち下がりエッジを別々
に検出し、その検出信号を２つのＰＬＬ回路に通して処
理し、その後に合成して再生データを得るという方式で
ある。ＤｕａｌＰＬＬ方式は図７のように、また特開平
４−９０１６８号公報、特開平４−１２１８４５号公報
などに開示されているように、ＰＬＬ回路を少なくとも
２つ用いるため回路規模が大きくなり、消費電力が大き
くなる。具体的には回路を集積化したとしても、５Ｖ単
一電源で約５Ｗ以上の消費電力を要すると思われる。こ
れでは、今後益々需要が高まる電池駆動も可能なノート
サイズのパーソナルコンピュータに搭載される光磁気デ
ィスク再生装置用のＩＣに適用するには、消費電力が大
きすぎるという問題点がある。また扱う信号の周波数が
数十ＭＨｚにも及ぶと、２つ以上のＰＬＬ回路が周波数
の高いクロックを介して相互に干渉するため、個々のＰ
ＬＬの回路動作が不安定になりやすく、回路ノイズも多
いという問題も生ずる。これに対し本発明の再生方法に
よると、ＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方式のため従来のＤｕａｌ
ＰＬＬ方式に比べ回路規模を小さくでき、回路全体で約
２〜３Ｗの消費電力が達成できる。したがって電池駆動
も可能なノートサイズのパーソナルコンピュータに搭載
される光磁気ディスク再生装置用のＩＣに十分適用でき
る。またＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方式でスライスレベルある
いはエッジ位置を補正するという方法は特開平４−２０
５９３９号公報、特開平４−２９１０４１号公報、特開
平５−１１４１８９号公報などに示すように補正する前
のデータをレベルスライスする場合の基準スライスレベ
ルの設定が難しく、スライスレベルあるいはエッジ位置
の補正分を演算するのに時間がかかるため、高速に補正
ができないという問題点がある。またエッジ記録を用い
た高密度光磁気記録においては記録ピット間の干渉が大
きいので、理想的な位置に対する実際のエッジ位置のず
れが大きい。したがってピット毎にエッジ位置を補正す
るためにはμs オーダーで動作する補正回路が必要であ
る。本発明の再生方法によると、例えばコンデンサＣ１
を１００ｐＦ以下にしてスライスレベル補正回路を高速
動作させれば、μs オーダーの応答が可能であるため、
ピット毎のスライスレベルの補正が高速にでき、したが
って光磁気ディスク再生装置の再生速度の向上が期待で
きる。

【００２１】（実施例２）本発明の別の実施例について
説明する。図１０は本発明の再生方法の別の実施例にお
ける位相比較方法を説明する図である。図１と比べると
ＰＬＬ回路からのＶＣＯ出力とＲＡＷＤＡＴＡがデータ
セパレータ回路に入力され、再生信号に位相同期化され
たクロックであるＳＹＮＣＣＬＫと再生データＳＹＮＣ
ＤＡＴＡを得るところまでは同じである。この例ではＲ
ＡＷＤＡＴＡと位相比較する対象がＳＹＮＣＣＬＫでは
なくてＳＹＮＣＤＡＴＡである。以下の処理は実施例１
と同じであり、第２位相比較器によりＲＡＷＤＡＴＡと
ＳＹＮＣＤＡＴＡとの位相差を検出し、その位相差出力
からＵｐパルスとＤｏｗｎパルスを生成し、チャージポ
ンプ回路を動かす。さらにチャージポンプ回路の出力を
ループフィルターにかけＤＣ成分としての補正出力であ
るＶＥＲＲＯＲを取り出す。ＶＥＲＲＯＲ出力は図２に
おける加算アンプにより基準スライスレベルに加算さ
れ、スライスレベルを補正する。補正されたスライスレ
ベルであるＳＵＭＯはコンパレータに入力され、再度デ
ータスライスを行った後、二値化回路によりデジタル化
され正しい再生データを得ることになる。ＳＹＮＣＤＡ
ＴＡとの位相比較をする意味は、何らかの原因でデータ
のエッジ位置がＳＹＮＣＣＬＫ周期の二分の一以上大き
くシフトした場合に、ＳＹＮＣＣＬＫを位相比較対象
にしていると、本来比較すべきＣＬＫエッジの次のＣＬ
Ｋエッジ、あるいはひとつ前のＣＬＫエッジとＲＡＷＡ
ＤＡＴＡが位相比較されてしまい、誤った位相差出力が
得られる。これに対し、ＳＹＮＣＤＡＴＡはＲＡＷＡＤ
ＡＴＡと一対一に対応しているため、大きくエッジシフ
トを起こしてもひとつ次のあるいはひとつ前のエッジに
まで遡って位相比較されることはほとんどない。データ
のエッジ位置がＳＹＮＣＣＬＫ周期の二分の一以上に大
きくシフトすることは通常は考えにくい。したがってＳ
ＹＮＣＣＬＫを位相比較対象としてよいと思うが、再生
装置を設計する場合安全のためには、位相比較対象をＳ
ＹＮＣＤＡＴＡにするかＳＹＮＣＣＬＫにするかを外部
から選択できるようにしておき、ＳＹＮＣＣＬＫでエラ
ーを起こした場合に対象をＳＹＮＣＤＡＴＡに変えて再
生をリトライするようにしておけば有効である。

【００２２】次に本発明の別の再生方法について説明す
る。

【００２３】（実施例３）図１１は本発明の再生方法に
おける光磁気ディスクの欠陥を検知する方法を説明する
図である。今光磁気ディスクに欠陥がある場合の再生波
形Ｄを例にして考える。図では１／７変調の２Ｔくり返
し信号４５の中に欠陥４６がある。スライスレベル補正
回路を動作させて欠陥部分を再生すると、補正出力ＶＥ
ＲＲＯＲは（ｂ）の５２のように、欠陥の影響を受けて
レベルが上がり暫くはそのままでゆっくりと所望のレベ
ルまで下がってくる。この間スライスレベルも補正出力
を反映して５１のようにレベルが上がるため、欠陥通過
後暫くは誤ったデータが続くことになる。本発明はその
現象を回避するために、再生している光磁気ディスクの
欠陥を検知したらスライスレベル補正回路をリセットす
るというものである。その際の光磁気ディスクの欠陥を
検知する方法を次に説明する。まず図１１（ａ）におい
て再生波形４５をスライスレベル４７によりスライス
し、４９に示すコンパレータ出力Ｄ１を得る。そしてこ
のコンパレータ出力のパルス幅を常時モニターしていて
その幅がある設定値以下であればディスクに欠陥がある
と判断し、リセット開始信号を発してスライスレベル補
正回路をリセットするようにする。図１１の例は１／７
変調で２Ｔのくり返し信号の場合である。したがって図
の中で欠陥前のパルス幅Ｐｗ１は２Ｔ幅である。設定値
を１．５Ｔにして欠陥部を再生したところ、欠陥通過後
にパルス幅Ｐｗ２が１．５Ｔ以下になったため、リセッ
ト開始信号５０が立ち上がったのである。１／７変調に
おいて最短ピット長は２Ｔ幅である。そこでこの場合は
設定値を最短ピット長に対して少し狭い幅である１．５
Ｔにした。この設定値はエッジ記録再生の際に用いられ
る変調方式により異なるが変調方式が異なる場合にも、
最短ピット長に対して少し狭い幅に設定するようにす
る。つまりクロック周期をＴとすると、Ｔの数倍に設定
する。次にディスクの欠陥を検知してスライスレベル補
正回路をリセットする場合は、補正出力ＶＥＲＲＯＲを
基準電圧に接続するようにする。ディスクの欠陥を検知
して発せられるリセット開始信号により、補正出力ＶＥ
ＲＲＯＲを基準電圧に接続すると、補正出力は４８のよ
うになる。そうすると欠陥通過後にスライスレベルがす
ばやく所望のレベルに達するため、欠陥により失われる
データが少なくて済むようになる。つまり欠陥があって
も極端なエラーレートの悪化は防止される。

【００２４】次に本発明の再生装置について説明する。

【００２５】（実施例４）本発明の再生装置は図１２の
ように上記の再生方法を実現した回路を搭載した装置で
ある。本装置は主に光磁気ディスク媒体５４を回転させ
るスピンドルモータ５６、その光磁気ディスク媒体にレ
ーザー光を照射し情報の記録再生を行う光学ヘッド５
９、その光学ヘッドを所望の位置に移動させるフォーカ
スおよびトラック系のアクチュエータ５７、リニアアク
チュエータであるＶＣＭ５８および制御回路部から構成
されている。そして制御回路部はプリアンプ回路６３、
レーザー駆動回路６４、サーボ制御回路６８、ディスク
コントローラ回路６７およびＣＰＵ６９さらには第１の
位相比較器、チャージポンプ、ループフィルター、ＶＣ
ＯからなるＰＬＬ回路と第２の位相比較器、第２のチャ
ージポンプ、第２のループフィルターからなる信号処理
回路を含むアナログ信号処理回路６５から構成されてい
る。さらにスライスレベル補正回路６６を含むアナログ
信号処理回路、サーボ制御回路、ディスクコントローラ
回路はカスタムあるいは汎用にＩＣ化されている。再生
方法のところで述べたようにしてスライスレベルの補正
が行われる。スライスレベルの補正出力をＶＥＲＲＯ
Ｒ、基準電圧をＶＲＥＦ、基準スライスレベルをＭＩＤ
とすると、補正されたスライスレベルＳＵＭＯは次式の
ようになる。

【００２６】

【数２】

【００２７】ここでＧは加算アンプのゲインを示してい
る。スライスレベル補正回路を動かす場合はＧは１以下
とする。スライスレベルの補正精度を上げるためには小
さな位相差に対してＶＥＲＲＯＲが大きく変化するよう
にする。そうすると上式の括弧内の値が大きくなるの
で、加算アンプのゲインは小さめに設定し、ＳＵＭＯが
飽和するのを防ぐ。これがＧを１以下に設定する理由で
あるが、具体的には必要なＳＵＭＯのレベルを想定し、
回路的に飽和しないようにＧを決めることになる。また
スライスレベルの補正を行わない場合はＧを１以上にす
る。この場合は通常はＶＥＲＲＯＲとＶＲＥＦを等しく
するので上式の括弧内の値はゼロとなる。そうするとＳ
ＵＭＯはＭＩＤと等しくなり、Ｇの値は大きな意味を持
たない。さらにデータ再生の回路を設計する上では、ス
ライスレベル補正回路を含む信号処理回路から加算アン
プまでを閉ループにした場合のループゲインの設定が非
常に重要である。本発明の再生装置においては第２のル
ープフィルターは第２のチャージポンプの出力にコンデ
ンサＣ１の一端を接続し、一端は回路のグランドレベル
に接続した構成をとっている。このＣ１の容量値により
前記ループゲインとＶＥＲＲＯＲの応答性、つまりスラ
イスレベルを補正する速度が決定される。ループゲイン
を変化させると、ＶＥＲＲＯＲのダイナミックレンジも
変化する。スライスレベルの補正精度を上げるために
は、ＶＥＲＲＯＲのダイナミックレンジも大きくとれ
るようにＣ１の設定を行う。近年記録データの転送レー
トも上がり、扱う信号の周波数が数十ＭＨｚにも及ぶた
め、スライスレベルの補正もμs オーダーの応答が必要
となる。実験およびシミュレーションを重ねた結果、Ｃ
１＜１００ｐＦにしてスライスレベル補正回路を高速動
作させれば、スライスレベルの補正もμs オーダーの応
答が可能なことがわかった。周辺の付加的な回路によっ
てもこのＣ１の値は異なるので、実用的にはＣ１＜１０
００ｐＦに設定するのがよいと思われる。上述したよう
に本発明によると、データ再生にＳｉｎｇｌｅＰＬＬ方
式を用いるため、従来のＤｕａｌＰＬＬ方式に比べ回路
規模を小さくできる。また機能を集積化したカスタムＩ
Ｃなどの採用により回路部品を低減することができ、回
路全体で約２〜３Ｗの消費電力が達成できた。

【００２８】（実施例５）本発明の別の実施例について
図１３により説明する。図１３は本発明の再生装置にお
けるダンピング抵抗を説明する図である。この場合、図
１のスライスレベル補正回路１４の中のループフィルタ
ーを構成する７３に示すコンデンサＣ１に加え、並列に
７４のダンピング抵抗Ｒ１を設けている。この抵抗は数
Ｋから数十Ｋオームとし、一端はチャージポンプの出力
に、もう一端は回路のグランドレベルあるいは基準電圧
発生回路に接続する。その切り換えは切り換えスイッチ
７５により外部から制御できる。ダンピング抵抗を設け
ると、スライスレベル補正出力の振幅がある程度制限さ
れる。扱う信号の周波数が数十ＭＨｚにも及ぶため、ス
ライスレベルを高速に補正しようとすると、様々なノイ
ズに対して敏感になり、補正精度にも影響がでる。これ
に対し図１３のように例えば接続先を基準電圧として、
ダンピング抵抗を通じてある程度の電流を基準電圧に向
けて流していた方がより安定した応答が得られることを
実験により確認した。抵抗値を小さくし、ダンピングを
大きくとると補正出力振幅が制限されすぎるので、特に
図６のようなＤＣ的に変動するようなパターンに対して
は、スライスレベルの補正精度が悪くなる。したがって
上記のように、抵抗値は小さくしても数Ｋオームまでが
よい。

【００２９】次に本発明の別の再生装置について説明す
る。

【００３０】（実施例６）この再生装置は基本構成は上
述した再生装置と同じである。ただし図１のスライスレ
ベル補正回路１４の中のループフィルターを構成するコ
ンデンサＣ１の容量値を１０００ｐＦ以下に限定する。
Ｃ１を小さく設定することでスライスレベル補正回路を
含む信号処理回路はデータ再生に用いるＰＬＬ回路の動
作周波数帯域と少なくとも同じ周波数帯域で動作させる
ことが可能となる。そうするとエッジ記録を用いた高密
度光磁気記録において、特に記録ピット間の干渉が大き
く、理想的な位置に対する実際のエッジ位置のずれが大
きい場合にもピット毎のスライスレベルの補正が高速に
でき、したがって光磁気ディスク再生装置の再生速度の
向上が期待できる。また本発明の再生装置ではＰＬＬ回
路により、二値化された再生データへ位相同期化する際
の周波数と位相の引き込み過程に用いるディスクのＶＦ
Ｏ部とデータ領域では前記ＰＬＬ回路のゲインを切り換
える。図１４は本発明の再生装置におけるＰＬＬゲイン
の切り換えを説明する図である。図の中で再生信号
（ａ）はＳｙｎｃパターンを挟んでＶＦＯ部とデータ領
域の一部を示したものである。リードゲート信号（ｂ）
が立ち下がるとＰＬＬ回路が動作を開始し、二値化され
た再生データへ位相同期化する際の周波数と位相の引き
込みを完了すると、ＰＬＬＬｏｃｋ信号（ｃ）が立ち下
がる。またＶＦＯ部を過ぎてＳｙｎｃパターンを検出す
ると、Ｓｙｎｃ検出信号（ｄ）が立ち上がる。Ｓｙｎ
ｃパターンはここからデータ領域が始まることを示す目
印の信号である。ＰＬＬのゲインは（ｅ）に示すように
ＶＦＯ部は高ゲインとし、データ領域はゲインを引き込
み時と同じかまたはそれ以下に設定する。ゲインの切り
換えはＳｙｎｃ検出信号（ｄ）をトリガーにして行えば
容易である。データ領域はゲインを引き込み時と同じか
またはそれ以下に設定することにより、位相同期化した
デジタルデータが外部ノイズなどに対して安定するとと
もに、そのデジタルデータを位相比較に用いるスライス
レベル補正回路の動作も安定することになる。

【００３１】次に本発明の再生装置における基準スライ
スレベルの切り換えについて説明する。例えばディスク
のＶＦＯ部は最高記録周波数のくり返し信号が記録され
ている。したがってＶＦＯ部の信号は図２の基準電圧発
生回路により発生する基準電圧を中心にしてバイアスさ
れている。そこでＶＦＯ部では基準電圧を基準スライス
レベルにしてＰＬＬ回路による周波数と位相の引き込み
を行う。そうすると安定したデータスライスができるた
め、高速にデータへの位相同期化ができる。これに対
し、データ領域では基準スライスレベルを例えばピーク
ボトム検出回路の中間出力であるＭＩＤに切り換える。
この場合、基準電圧のような固定電圧を用いるよりもＭ
ＩＤを用いた方が最適スライスレベルに近いレベルに基
準スライスレベルを設定できるので、スライスレベルの
補正が正確にできる。このほかに基準スライスレベルは
図８におけるＰｒｅ−ｆｏｒｍａｔｔｅｄＨｅａｄｅｒ
部とＲｅｃｏｒｄｉｎｇｆｉｅｌｄ部で切り換えること
も可能である。

【００３２】その他本発明の再生方法あるいは再生装置
において、スライスレベルの補正に用いる第２の位相比
較器の構成は第１の位相比較器と異なった構成でもよ
い。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば，Ｓ
ｉｎｇｌｅＰＬＬ回路にスライスレベル補正回路を付加
するという構成がとれるので、従来の再生方法に比べ低
消費電力が実現できる。また再生データの各エッジごと
に位相比較したデータによりスライスレベルを補正する
ので高速に補正ができる。さらに位相差を検出してスラ
イスレベル補正するので補正精度がよいという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を実施する再生回路主要部の回路ブロッ
ク図。

【図２】本発明を実施する再生回路の別の部分を示す回
路ブロック図。

【図３】ピットエッジ記録再生方式と本発明の再生方法
におけるスライスレベルの補正を説明する図。

【図４】従来の再生方法における再生波形とデータパル
スの時間間隔測定結果を示す図。

【図５】本発明の再生方法における再生波形とデータパ
ルスの時間間隔測定結果を示す図。

【図６】本発明の再生方法における再生波形とスライス
レベルを示す図。

【図７】従来の再生方法の一例を示す回路ブロック図。

【図８】光磁気ディスクのディスクフォーマットの一例
を示す図。

【図９】本発明の再生方法における位相比較器の位相比
較タイミングを説明する図。

【図１０】本発明の再生方法の別の実施例における位相
比較方法を説明する図。

【図１１】本発明の再生方法における光磁気ディスクの
欠陥を検知する方法を説明する図。

【図１２】本発明の再生装置の構成を示すブロック図。

【図１３】本発明の再生装置におけるダンピング抵抗を
説明する図。

【図１４】本発明の再生装置におけるＰＬＬゲインの切
り換えを説明する図。

【符号の説明】

１第１位相比較器２チャージポンプとループフィルター３ＶＣＯ（電圧制御発振器）４データセパレータ回路５ＲＡＷＤＡＴＡ６ＳＹＮＣＤＡＴＡ７ＳＹＮＣＣＬＫ８第２位相比較器９Ｕｐパルス１０Ｄｏｗｎパルス１１チャージポンプ１２ループフィルター１３補正出力（ＶＥＲＲＯＲ）１４スライスレベル補正回路１５光学ヘッド１６アンプとフィルター１７基準電圧発生回路１８ピークボトム検出回路１９ピーク出力（ＴＯＰ）２０ボトム出力（ＢＴＭ）２１中間出力（ＭＩＤ）２２切り換えスイッチ２３加算アンプ２４補正スライスレベル（ＳＵＭＯ）２５コンパレータ２６二値化回路２７再生波形エンベロープＡ２８補正出力Ａ１（ＶＥＲＲＯＲ）２９スライスレベルＡ１３０補正出力Ａ２（ＶＥＲＲＯＲ）３１スライスレベルＡ２３２再生波形エンベロープＢ１３３補正出力Ｂ１３４再生波形エンベロープＢ２３５補正出力Ｂ２３６スライスレベルＢ２３７立上りエッジ検出回路と二値化回路３８立下りエッジ検出回路と二値化回路３９第１ＰＬＬ回路４０第１データセパレータ回路４１第２ＰＬＬ回路４２第２データセパレータ回路４３データ合成回路４４ディスクフォーマットの一例４５再生波形Ｄ４６欠陥４７スライスレベルＤ１４８補正出力Ｄ１４９コンパレータ出力Ｄ１５０リセット開始信号５１スライスレベルＤ２５２補正出力Ｄ２５３コンパレータ出力Ｄ２５４光磁気ディスク５５バイアスマグネット５６スピンドルモータ５７アクチュエータ５８ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）５９光学ヘッド６０スピンドルモータ駆動回路６１ＶＣＭ駆動回路６２アクチュエータ駆動回路６３プリアンプ回路６４レーザー駆動回路６５アナログ信号処理回路６６スライスレベル補正用信号処理回路６７ディスクコントローラ回路６８サーボ制御回路６９ＣＰＵ７０ＳＲＡＭ７１ＤＲＡＭ７２インターフェースコネクター７３ループフィルター用コンデンサＣ１７４ダンピング抵抗Ｒ１７５切り換えスイッチ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】再生信号とスライスレベルの交点を記録
ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの再
生方法において、第１の位相比較器、チャージポンプ、
ループフィルターおよびＶＣＯからなるＰＬＬ回路と、
第２の位相比較器、第２のチャージポンプおよび第２の
ループフィルターからなる信号処理回路とを有し、二値
化された再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生デー
タへ位相同期化したクロックあるいはデジタルデータと
の位相差を該第２の位相比較器により検出し、該位相差
から求めた補正分を基準スライスレベルに加算すること
により前記スライスレベルを補正することを特徴とする
光磁気ディスクの再生方法。
【請求項２】前記基準スライスレベルは固定電圧また
は再生信号に基づき生成したスライスレベルのいずれか
を選択できることを特徴とする請求項１記載の光磁気デ
ィスクの再生方法。
【請求項３】前記信号処理回路の動作、非動作の選択
および動作を開始させるタイミングは外部から制御でき
ることを特徴とする請求項１記載の光磁気ディスクの再
生方法。
【請求項４】前記第２の位相比較器により位相比較す
る場合、再生信号の立ち上がりエッジあるいは立ち下が
りエッジでのみ位相比較するか、または立ち上がりと立
ち下がり両エッジで位相比較することを特徴とする請求
項１記載の光磁気ディスクの再生方法。
【請求項５】再生信号とスライスレベルの交点を記録
ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの再
生方法において、第１の位相比較器、チャージポンプ、
ループフィルターおよびＶＣＯからなるＰＬＬ回路と、
第２の位相比較器、第２のチャージポンプおよび第２の
ループフィルターからなる信号処理回路とを有し、二値
化された再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生デー
タへ位相同期化したクロックあるいはデジタルデータと
の位相差を該第２の位相比較器により検出し、該位相差
から求めた補正分を基準スライスレベルに加算すること
により前記スライスレベルを補正する再生方法であっ
て、再生している光磁気ディスクの欠陥を検知したら前
記信号処理回路をリセットすることを特徴とする光磁気
ディスクの再生方法。
【請求項６】前記光磁気ディスクの欠陥を検知する方
法は前記再生信号とスライスレベルの比較出力を用いて
行い、該比較出力のパルス幅が設定値以下なら前記信号
処理回路をリセットすることとし、該設定値はエッジ記
録再生の際に用いられる変調方式により異なり、前記ク
ロック周期をＴとした場合、Ｔの数倍に設定されること
を特徴とする請求項５記載の光磁気ディスクの再生方
法。
【請求項７】前記光磁気ディスクの欠陥を検知して前
記信号処理回路をリセットする場合、前記第２のループ
フィルターの出力を基準電圧に接続することを特徴とす
る請求項５記載の光磁気ディスクの再生方法。
【請求項８】再生信号とスライスレベルの交点を記録
ピットのエッジ位置として検出する光磁気ディスクの再
生装置において、該光磁気ディスク媒体を回転させるス
ピンドルモータ、該光磁気ディスク媒体にレーザー光を
照射し情報の記録再生を行う光学ヘッド、該光学ヘッド
を所望の位置に移動させるアクチュエータおよび制御回
路部からなる再生装置であり、該制御回路部はプリアン
プ回路、レーザー駆動回路、サーボ制御回路、ディスク
コントローラ回路、ＣＰＵ、第１の位相比較器とチャー
ジポンプとループフィルターとＶＣＯとからなるＰＬＬ
回路、および、第２の位相比較器と第２のチャージポン
プと第２のループフィルターとからなる信号処理回路、
を少なくとも有することを特徴とする光磁気ディスクの
再生装置。
【請求項９】前記第２の位相比較器により、二値化さ
れた再生データと前記ＰＬＬ回路により該再生データへ
位相同期化したクロックあるいはデジタルデータとの位
相差を検出し、該位相差から求めた補正分を加算アンプ
により基準スライスレベルに加算することにより前記ス
ライスレベルを補正することを特徴とする請求項８記載
の光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１０】前記加算アンプのゲインは前記信号処
理回路の動作時と非動作時で切り換えることとし、動作
時はゲインが１以下であり、非動作時は１以上であるこ
とを特徴とする請求項８記載の光磁気ディスクの再生装
置。
【請求項１１】前記スライスレベルの補正精度は前記
第２の位相比較器により、二値化された再生データと前
記ＰＬＬ回路により該再生データへ位相同期化したクロ
ックあるいはデジタルデータとの位相差を検出し、該位
相差から求めた補正出力のダイナミックレンジと、前記
信号処理回路から前記加算アンプまでを閉ループにした
場合のループゲインから決定されることを特徴とする請
求項８記載の光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１２】前記第２のループフィルターは前記第
２のチャージポンプの出力にコンデンサの一端を接続
し、一端は回路のグランドレベルに接続した構成であ
り、該コンデンサの値により前記信号処理回路から前記
加算アンプまでを閉ループにした場合のループゲインと
スライスレベルを補正する速度が決定されることを特徴
とする請求項８記載の光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１３】前記第２のループフィルターのコンデ
ンサに並列にダンピング抵抗を設け、ループフィルター
の出力振幅を制限することを特徴とする請求項８記載の
光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１４】前記ダンピング抵抗の一端はチャージ
ポンプの出力に接続し、一端は回路のグランドレベルあ
るいは基準電圧に接続することを特徴とする請求項８記
載の光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１５】光磁気ディスク媒体にエッジ記録され
たピットのエッジ位置を検出して記録信号を再生する光
磁気ディスクの再生装置において、該再生装置を構成す
る制御回路部はプリアンプ回路、レーザー駆動回路、サ
ーボ制御回路、ディスクコントローラ回路、ＣＰＵ、第
１の位相比較器とチャージポンプとループフィルターと
ＶＣＯとからなるＰＬＬ回路、第２の位相比較器と第２
のチャージポンプと第２のループフィルターとからなる
信号処理回路、を少なくとも有し、該第２のループフィ
ルターを構成するコンデンサの値は１０００ｐＦ以下で
あることを特徴とする光磁気ディスクの再生装置。
【請求項１６】前記信号処理回路は前記ＰＬＬ回路の
動作周波数帯域と少なくとも同じ周波数帯域で動作させ
ることを特徴とする請求項１５記載の光磁気ディスクの
再生装置。
【請求項１７】前記ＰＬＬ回路により、二値化された
再生データへ位相同期化する際の周波数と位相の引き込
み過程に用いるディスクのＶＦＯ部とデータ領域では前
記ＰＬＬ回路のゲインを切り換えることとし、該データ
領域におけるゲインは引き込み時と同じかまたはそれ以
下に設定することを特徴とする請求項１５記載の光磁気
ディスクの再生装置。
【請求項１８】前記ＰＬＬ回路により、二値化された
再生データへ位相同期化する際の周波数と位相の引き込
み過程に用いるディスクのＶＦＯ部とデータ領域では前
記信号処理回路によりスライスレベルを補正する際の基
準スライスレベルを切り換えることを特徴とする請求項
１５記載の光磁気ディスクの再生装置。