JPH11273078A - 光ディスクのジッタ量計測装置および光ディスク記録再生装置 - Google Patents
光ディスクのジッタ量計測装置および光ディスク記録再生装置Info
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- JPH11273078A JPH11273078A JP10067491A JP6749198A JPH11273078A JP H11273078 A JPH11273078 A JP H11273078A JP 10067491 A JP10067491 A JP 10067491A JP 6749198 A JP6749198 A JP 6749198A JP H11273078 A JPH11273078 A JP H11273078A
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- jitter amount
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Abstract
(57)【要約】
【課題】最適なライトパワーを精確に設定する。
【解決手段】光ディスク１６より再生されたデータより
再生データを抽出するためのＰＬＬ回路４０と、このＰ
ＬＬ回路で得られる位相エラー信号が供給されるジッタ
量検出用演算器７０と、このジッタ量検出用演算器から
のジッタ量のうち最小ジッタ量を算出する算出手段とし
て機能する制御部３０を有する。エラーレートではな
く、ジッタ量に基づいてライトパワーをセッテングした
ので、最適なライトパワーを精確に求めることができ
る。
再生データを抽出するためのＰＬＬ回路４０と、このＰ
ＬＬ回路で得られる位相エラー信号が供給されるジッタ
量検出用演算器７０と、このジッタ量検出用演算器から
のジッタ量のうち最小ジッタ量を算出する算出手段とし
て機能する制御部３０を有する。エラーレートではな
く、ジッタ量に基づいてライトパワーをセッテングした
ので、最適なライトパワーを精確に求めることができ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は光ディスクのジッ
タ量計測装置および光ディスク記録再生装置に関する。
詳しくは、再生データが供給されるＰＬＬ回路からの位
相エラー信号に基づいて光ディスクのジッタ量を計測す
ることによって、光ディスクのジッタ量を正確に検出で
きるようにして光ディスクの品質管理精度を高めたもの
である。またこの発明では、光ディスクの最小ジッタ量
を算出することによって最適なライトパワーを求めるこ
とができるようにしたものである。
タ量計測装置および光ディスク記録再生装置に関する。
詳しくは、再生データが供給されるＰＬＬ回路からの位
相エラー信号に基づいて光ディスクのジッタ量を計測す
ることによって、光ディスクのジッタ量を正確に検出で
きるようにして光ディスクの品質管理精度を高めたもの
である。またこの発明では、光ディスクの最小ジッタ量
を算出することによって最適なライトパワーを求めるこ
とができるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスクなどの光ディスク記録再
生装置（ドライブ装置）では、光ディスクの記録品質を
計測する手段としてデータのエラーレートを利用してい
る。そのために、予め知られているパターンを有するデ
ータをパワーを変えながら数回に亘り記録し、これを再
生したときのエラーレートに基づいて記録品質つまり光
ディスクの信号品質を判断している。この信号品質を基
準にして最適なライトパワーを選択している。
生装置（ドライブ装置）では、光ディスクの記録品質を
計測する手段としてデータのエラーレートを利用してい
る。そのために、予め知られているパターンを有するデ
ータをパワーを変えながら数回に亘り記録し、これを再
生したときのエラーレートに基づいて記録品質つまり光
ディスクの信号品質を判断している。この信号品質を基
準にして最適なライトパワーを選択している。
【０００３】ライトパワーとそのときのエラーレートの
関係の一例を図示すると図９のようになる。同図からも
明らかなようにライトパワーがある範囲Ｗ（図では７〜
９．５ｍＷ）を超えると急激にエラーレートが劣化し、
この範囲Ｗ内ではエラーレートの値は殆ど変化しない。
関係の一例を図示すると図９のようになる。同図からも
明らかなようにライトパワーがある範囲Ｗ（図では７〜
９．５ｍＷ）を超えると急激にエラーレートが劣化し、
この範囲Ｗ内ではエラーレートの値は殆ど変化しない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このように信号品質を
エラーレートのみで判断した場合には所定の範囲Ｗ内で
は殆ど変化しないために、その範囲内にあるライトパワ
ーのうち最も低いライトパワー（図では７ｍＷ）をその
光ディスクにとって最適なライトパワーＰoとして設定
している。
エラーレートのみで判断した場合には所定の範囲Ｗ内で
は殆ど変化しないために、その範囲内にあるライトパワ
ーのうち最も低いライトパワー（図では７ｍＷ）をその
光ディスクにとって最適なライトパワーＰoとして設定
している。
【０００５】しかし、実際には設定したこのライトパワ
ーが最適なライトパワーである保証はない。エラーレー
トが変化しない他のライトパワーがその光ディスクにと
って最適なライトパワーであることも考えられる。
ーが最適なライトパワーである保証はない。エラーレー
トが変化しない他のライトパワーがその光ディスクにと
って最適なライトパワーであることも考えられる。
【０００６】例えば、光ディスクのジッタ量（詳細は後
述する）を基準にすると、エラーレートとは全く違った
結果が得られる場合がある。つまり、エラーレートでは
殆ど信号品質が変化しなかったライトパワーであって
も、ジッタ量では大きな変化が見られる場合があるから
である。
述する）を基準にすると、エラーレートとは全く違った
結果が得られる場合がある。つまり、エラーレートでは
殆ど信号品質が変化しなかったライトパワーであって
も、ジッタ量では大きな変化が見られる場合があるから
である。
【０００７】そこで、この発明はこのような従来の課題
を解決したものであって、光ディスクのジッタ量を信号
品質の判断材料とすることによって光ディスクの品質管
理精度を高めたものである。またこの発明では光ディス
クの最小ジッタ量に基づいて最適なライトパワーを設定
することによって、エラーレートを参照する場合よりも
最適なライトパワーを設定できるようにしたものであ
る。
を解決したものであって、光ディスクのジッタ量を信号
品質の判断材料とすることによって光ディスクの品質管
理精度を高めたものである。またこの発明では光ディス
クの最小ジッタ量に基づいて最適なライトパワーを設定
することによって、エラーレートを参照する場合よりも
最適なライトパワーを設定できるようにしたものであ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため請求項１に記載したこの発明に係るジッタ量計測装
置では、異なるパワーで光ディスクにライトされたテス
トパターンデータを再生して位相エラー成分を検出し、
この位相エラー成分からジッタ量を検出するようにした
ことを特徴とする。
ため請求項１に記載したこの発明に係るジッタ量計測装
置では、異なるパワーで光ディスクにライトされたテス
トパターンデータを再生して位相エラー成分を検出し、
この位相エラー成分からジッタ量を検出するようにした
ことを特徴とする。
【０００９】この発明ではエラーレートから光ディスク
の信号品質を計測するのではなく、ジッタ量から計測す
るようにしたものである。その際、光ディスクの再生デ
ータの位相エラー成分からジッタ量を算出し、これに基
づいて光ディスクの信号品質が計測される。こうするこ
とによって、エラーレートよりも高精度に信号品質を決
定できる。
の信号品質を計測するのではなく、ジッタ量から計測す
るようにしたものである。その際、光ディスクの再生デ
ータの位相エラー成分からジッタ量を算出し、これに基
づいて光ディスクの信号品質が計測される。こうするこ
とによって、エラーレートよりも高精度に信号品質を決
定できる。
【００１０】請求項３に記載したこの発明に係る光ディ
スク記録再生装置では、異なるパワーで光ディスクにラ
イトされたテストパターンデータを再生して位相エラー
成分を検出し、この位相エラー成分からジッタ量を検出
すると共に、上記ジッタ量のうち最小ジッタ量となった
ライトパワーをその光ディスクの最適ライトパワーとす
るようにしたことを特徴とする。
スク記録再生装置では、異なるパワーで光ディスクにラ
イトされたテストパターンデータを再生して位相エラー
成分を検出し、この位相エラー成分からジッタ量を検出
すると共に、上記ジッタ量のうち最小ジッタ量となった
ライトパワーをその光ディスクの最適ライトパワーとす
るようにしたことを特徴とする。
【００１１】この発明では、ライトパワーを変えて既知
パターンのデータを記録し、これを再生してそれぞれの
ジッタ量を算出する。そしてそのジッタ量のうち最小の
ジッタ量となったライトパワーをその光ディスクにおけ
る最適ライトパワーとする。
パターンのデータを記録し、これを再生してそれぞれの
ジッタ量を算出する。そしてそのジッタ量のうち最小の
ジッタ量となったライトパワーをその光ディスクにおけ
る最適ライトパワーとする。
【００１２】エラーレートよりジッタ量を基準にすれ
ば、ライトパワーの最適値をより精確に求めることがで
きるので、これによってさらにエラーレートが少なく、
信号品質の良好な光ディスク記録再生装置を提供でき
る。
ば、ライトパワーの最適値をより精確に求めることがで
きるので、これによってさらにエラーレートが少なく、
信号品質の良好な光ディスク記録再生装置を提供でき
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】続いて、この発明に係るジッタ量
計測装置および光ディスク記録再生装置の一実施形態を
図面を参照して詳細に説明する。
計測装置および光ディスク記録再生装置の一実施形態を
図面を参照して詳細に説明する。
【００１４】図１はこの発明が適用されている光ディス
ク記録再生装置の一実施形態を示す要部の系統図であ
る。同図において、レーザ１１から発光された光が光ピ
ックアップ手段を構成するビームスプリッタ（ＢＳ）１
２によりその進行方向が分離され、一部が発光パワーを
モニタするための光検出器（ＭＰＤ）１３に入光し、そ
の他が反射ミラー１４および対物レンズ１５を介して光
ディスク１６の盤面上に照射される。
ク記録再生装置の一実施形態を示す要部の系統図であ
る。同図において、レーザ１１から発光された光が光ピ
ックアップ手段を構成するビームスプリッタ（ＢＳ）１
２によりその進行方向が分離され、一部が発光パワーを
モニタするための光検出器（ＭＰＤ）１３に入光し、そ
の他が反射ミラー１４および対物レンズ１５を介して光
ディスク１６の盤面上に照射される。
【００１５】光検出器１３によって検出された発光パワ
ーが電流（Ｉｍ）に変換され、発光パワーコントロール
用の誤差アンプ（ＡＰＣアンプ）２１に供給される。一
方レーザパワーコントローラ（ＬＰＣ）２１からは、発
光パワーの基準になる電流Ｉoutが誤差アンプ２１に入
力され、そのアンプ出力で制御トランジスタ２５のイン
ピーダンスが制御される。これによって発光パワーが常
にＩｍ＝Ｉoutとなるようにレーザ１１に流す電流が調
整されて、レーザパワーが一定に制御される。レーザパ
ワーコントローラ２２から出力される基準電流Ｉout
は、メインの制御部（ＭＰＵ構成）３０からの指示によ
ってコントローラ２２の内部に設けられたレジスタ等を
書き換えることができるから、基準電流波形としてはさ
まざまな値を持った波形を出力することができる。これ
によって例えば、消去モード、記録モード、再生モード
にそれぞれ応じたレーザパワーとなるように制御するこ
とができる。
ーが電流（Ｉｍ）に変換され、発光パワーコントロール
用の誤差アンプ（ＡＰＣアンプ）２１に供給される。一
方レーザパワーコントローラ（ＬＰＣ）２１からは、発
光パワーの基準になる電流Ｉoutが誤差アンプ２１に入
力され、そのアンプ出力で制御トランジスタ２５のイン
ピーダンスが制御される。これによって発光パワーが常
にＩｍ＝Ｉoutとなるようにレーザ１１に流す電流が調
整されて、レーザパワーが一定に制御される。レーザパ
ワーコントローラ２２から出力される基準電流Ｉout
は、メインの制御部（ＭＰＵ構成）３０からの指示によ
ってコントローラ２２の内部に設けられたレジスタ等を
書き換えることができるから、基準電流波形としてはさ
まざまな値を持った波形を出力することができる。これ
によって例えば、消去モード、記録モード、再生モード
にそれぞれ応じたレーザパワーとなるように制御するこ
とができる。
【００１６】光ディスクで反射されたレーザ光は、ビー
ムスプリッタ１２を介して信号再生用の光検出器（Ｐ
Ｄ）２０に入光する。光検出器２０は４分割された光検
出素子で構成され、それぞれの光検出信号が第１の電流
・電圧変換器（ＩＶ）２４に供給される。この電流・電
圧変換器２４から複数のサーボ信号が生成される。図の
例ではフォーカスエラー信号FESO、トラッキングエラー
信号TESOおよび４つの光検出素子の全てを加算した信号
である合成信号SUMが生成される。
ムスプリッタ１２を介して信号再生用の光検出器（Ｐ
Ｄ）２０に入光する。光検出器２０は４分割された光検
出素子で構成され、それぞれの光検出信号が第１の電流
・電圧変換器（ＩＶ）２４に供給される。この電流・電
圧変換器２４から複数のサーボ信号が生成される。図の
例ではフォーカスエラー信号FESO、トラッキングエラー
信号TESOおよび４つの光検出素子の全てを加算した信号
である合成信号SUMが生成される。
【００１７】フォーカスエラー信号FESOおよびトラッキ
ングエラー信号TESOは、発光パワーによりその値が変化
するのを避けるため、ＡＧＣ回路２５，２６に供給され
て合成信号SUMによってそれぞれが正規化される。正規
化されたフォーカスエラー信号ＦＥＳは補償フィルター
(増幅器を含む)２７を通した後、フォーカスコイル２９
のドライバ２８に供給されて、対物レンズ１５のディス
ク盤面に対する間隙が調整されて、フォーカス調整が行
われる。つまりフォーカスサーボがかけられる。
ングエラー信号TESOは、発光パワーによりその値が変化
するのを避けるため、ＡＧＣ回路２５，２６に供給され
て合成信号SUMによってそれぞれが正規化される。正規
化されたフォーカスエラー信号ＦＥＳは補償フィルター
(増幅器を含む)２７を通した後、フォーカスコイル２９
のドライバ２８に供給されて、対物レンズ１５のディス
ク盤面に対する間隙が調整されて、フォーカス調整が行
われる。つまりフォーカスサーボがかけられる。
【００１８】光ディスク１６のトラッキング方向に対し
てもフォーカスと同様に制御され、常に光ディスク１６
のトラック上に集光されるように、トラッキングエラー
信号ＴＥＳを利用してトラッキングサーボがかけられ
る。その構成は割愛する。
てもフォーカスと同様に制御され、常に光ディスク１６
のトラック上に集光されるように、トラッキングエラー
信号ＴＥＳを利用してトラッキングサーボがかけられ
る。その構成は割愛する。
【００１９】光検出器２０の出力は第２の電流・電圧変
換器３２に供給されて、アドレス信号を含んだデータ信
号に変換される。このデータ信号は可変ゲインアンプ
（ＶＧＡ）３３によってその振幅を最適化した後、等価
フィルター（可変ゲインアンプ３３に含まれているもの
とする）を通してからスライサー３４に供給され、基準
電圧３５でスライスされることによって２値化（デジタ
ル化）される。
換器３２に供給されて、アドレス信号を含んだデータ信
号に変換される。このデータ信号は可変ゲインアンプ
（ＶＧＡ）３３によってその振幅を最適化した後、等価
フィルター（可変ゲインアンプ３３に含まれているもの
とする）を通してからスライサー３４に供給され、基準
電圧３５でスライスされることによって２値化（デジタ
ル化）される。
【００２０】２値化されたディジタル信号はＰＬＬ回路
４０に供給される。このＰＬＬ回路４０は、位相比較器
４１、電圧可変発振器（ＶＣＯ）４２およびローパスフ
ィルタ４４を有し、ディジタル信号は電圧可変発振器４
２より出力されたリードクロック信号ＲＣと位相比較器
４１で位相比較され、その位相誤差がローパスフィルタ
４４で電圧に変換されて位相エラー信号が得られる。こ
の位相エラー信号で電圧可変発振器４２の発振周波数が
制御されてディジタル信号に同期したリードクロック信
号ＲＣが得られる。
４０に供給される。このＰＬＬ回路４０は、位相比較器
４１、電圧可変発振器（ＶＣＯ）４２およびローパスフ
ィルタ４４を有し、ディジタル信号は電圧可変発振器４
２より出力されたリードクロック信号ＲＣと位相比較器
４１で位相比較され、その位相誤差がローパスフィルタ
４４で電圧に変換されて位相エラー信号が得られる。こ
の位相エラー信号で電圧可変発振器４２の発振周波数が
制御されてディジタル信号に同期したリードクロック信
号ＲＣが得られる。
【００２１】抽出されたこのリードクロック信号ＲＣが
ディジタル信号と共にフリップフロップ回路４３に供給
されて、リードクロック信号ＲＣに完全に同期したリー
ドデータ信号ＲＤが生成される。
ディジタル信号と共にフリップフロップ回路４３に供給
されて、リードクロック信号ＲＣに完全に同期したリー
ドデータ信号ＲＤが生成される。
【００２２】リードデータ信号ＲＤとリードクロック信
号ＲＣが光ディスクコントローラーブロック（ＯＤＣ）
５０に供給される。光ディスクコントローラブロック５
０にはアドレスデコーダ５１が設けられ、ここに上述し
たリードデータ信号ＲＤとリードクロック信号ＲＣとを
与えることによって、アドレス信号がデコードされる。
号ＲＣが光ディスクコントローラーブロック（ＯＤＣ）
５０に供給される。光ディスクコントローラブロック５
０にはアドレスデコーダ５１が設けられ、ここに上述し
たリードデータ信号ＲＤとリードクロック信号ＲＣとを
与えることによって、アドレス信号がデコードされる。
【００２３】リードデータ信号ＲＤとリードクロック信
号ＲＣとはさらにデータデコーダ５２にも供給され、デ
コードされたアドレス信号に基づいてアドレス管理を行
いながら再生データのデコード処理が行われる。デコー
ドされた再生データはリードバッファ回路５３を経てＳ
ＣＳＩコントローラ等のインターフェース５４に供給さ
れてホスト側端末に出力される。
号ＲＣとはさらにデータデコーダ５２にも供給され、デ
コードされたアドレス信号に基づいてアドレス管理を行
いながら再生データのデコード処理が行われる。デコー
ドされた再生データはリードバッファ回路５３を経てＳ
ＣＳＩコントローラ等のインターフェース５４に供給さ
れてホスト側端末に出力される。
【００２４】一方データを光ディスク１６に記録する場
合は、メインの制御部３０からのパワーセッテング信号
に基づいてコントローラ２２では最適なライトパワーが
セットされる。またホスト側から記録すべきデータや記
録すべきアドレス情報を受け取り、これをライトバッフ
ァ回路５５を介してデータエンコーダ５６でエンコード
処理しておく。記録すべきアドレスをレーザが走査して
いるとき、光ディスクコントローラブロック５０に設け
られたゲート信号発生器５８からそのタイミング信号
(ライトゲート)が出力される。これに同期してライトデ
ータとデータ同期用クロックであるライトクロックがそ
れぞれコントローラ２２に供給される。
合は、メインの制御部３０からのパワーセッテング信号
に基づいてコントローラ２２では最適なライトパワーが
セットされる。またホスト側から記録すべきデータや記
録すべきアドレス情報を受け取り、これをライトバッフ
ァ回路５５を介してデータエンコーダ５６でエンコード
処理しておく。記録すべきアドレスをレーザが走査して
いるとき、光ディスクコントローラブロック５０に設け
られたゲート信号発生器５８からそのタイミング信号
(ライトゲート)が出力される。これに同期してライトデ
ータとデータ同期用クロックであるライトクロックがそ
れぞれコントローラ２２に供給される。
【００２５】したがってコントローラ２２ではそのタイ
ミングで記録データが記録電流Ｉoutに変換される。レ
ーザ１１はこの記録電流で変調され、光ディスク１６上
にピットが形成される。光ディスク１６として相変化型
ディスクを使用する場合には、レーザパワーの変調のみ
でデータを記録することができる。光ディスク１６とし
て光磁気ディスクを使用する場合には、データの記録に
外部磁界をも同時に使用するので、外部マグネットを用
いて外部磁界を発生させる必要がある。
ミングで記録データが記録電流Ｉoutに変換される。レ
ーザ１１はこの記録電流で変調され、光ディスク１６上
にピットが形成される。光ディスク１６として相変化型
ディスクを使用する場合には、レーザパワーの変調のみ
でデータを記録することができる。光ディスク１６とし
て光磁気ディスクを使用する場合には、データの記録に
外部磁界をも同時に使用するので、外部マグネットを用
いて外部磁界を発生させる必要がある。
【００２６】データを消去する場合にも同様に制御部３
０からの指令に基づいてイレーズ処理が実行される。ま
ず制御部３０からの指令でコントローラ２２ではイレー
ズモード（イレーズパワー）にセットされる。そして、
光ディスクコントロールブロック５０からターゲットと
なるアドレスがきたときに、ライトゲートのタイミング
をもとに、指定されたイレーズパワーが光ディスク１６
上に照射されてデータの消去が行われる。光ディスク１
６として光磁気ディスクを使用する場合には、上述した
ように外部マグネットも同時に制御することになる。
０からの指令に基づいてイレーズ処理が実行される。ま
ず制御部３０からの指令でコントローラ２２ではイレー
ズモード（イレーズパワー）にセットされる。そして、
光ディスクコントロールブロック５０からターゲットと
なるアドレスがきたときに、ライトゲートのタイミング
をもとに、指定されたイレーズパワーが光ディスク１６
上に照射されてデータの消去が行われる。光ディスク１
６として光磁気ディスクを使用する場合には、上述した
ように外部マグネットも同時に制御することになる。
【００２７】さて、この発明では再生データのジッタ量
を計測するため上述したＰＬＬ回路４０の位相エラー信
号が利用される。具体的には、位相エラー信号が例えば
リードクロック信号のタイミングでジッター演算器７０
に取り込まれて、ジッタ量が算出され、算出されたジッ
タ量の大小判別が制御部３０で行われ、その最小ジッタ
量となったライトパワーをその光ディスク１６の最適な
ライトパワーとする。最適なライトパワーとするための
コントローラ２２に指令する信号は制御部３０に保存さ
れる。
を計測するため上述したＰＬＬ回路４０の位相エラー信
号が利用される。具体的には、位相エラー信号が例えば
リードクロック信号のタイミングでジッター演算器７０
に取り込まれて、ジッタ量が算出され、算出されたジッ
タ量の大小判別が制御部３０で行われ、その最小ジッタ
量となったライトパワーをその光ディスク１６の最適な
ライトパワーとする。最適なライトパワーとするための
コントローラ２２に指令する信号は制御部３０に保存さ
れる。
【００２８】ここで、上述したジッターとは、例えば記
録ピット（マーク）の長さに情報を持たせた記録方式で
は、記録されたピット信号を再生したときでも、そのピ
ット信号の長さは本来、同期信号であるリードクロック
の整数倍となるなるはずである。しかし、記録時のピッ
ト間の熱干渉や、再生時のノイズなどさまざまな要因に
よってピットの長さが、理想のものに比べて変わって見
えることを定量的にあらわした数字である。
録ピット（マーク）の長さに情報を持たせた記録方式で
は、記録されたピット信号を再生したときでも、そのピ
ット信号の長さは本来、同期信号であるリードクロック
の整数倍となるなるはずである。しかし、記録時のピッ
ト間の熱干渉や、再生時のノイズなどさまざまな要因に
よってピットの長さが、理想のものに比べて変わって見
えることを定量的にあらわした数字である。
【００２９】したがってジッタを検出するには、具体的
には図２のようにスライスされたディジタル信号（同図
Ｂ）と、そのときのリードクロック信号ＲＣ（同図Ａ）
を位相比較してその位相エラー信号（同図Ｃ）を得る。
そしてそのパルス幅を電圧に変換してローパスフィルタ
によって平滑したものを位相エラー信号として利用する
（同図Ｄ）。
には図２のようにスライスされたディジタル信号（同図
Ｂ）と、そのときのリードクロック信号ＲＣ（同図Ａ）
を位相比較してその位相エラー信号（同図Ｃ）を得る。
そしてそのパルス幅を電圧に変換してローパスフィルタ
によって平滑したものを位相エラー信号として利用する
（同図Ｄ）。
【００３０】なお、ジッタ量の計測にあっては機種間の
ばらつきが考えられるので、このばらつきを補正する必
要がある。この補正は位相差が最大となったときの位相
エラーレベルで、測定使用とする再生データの位相エラ
ー信号レベルを正規化する。こうすれば、同じ記録パタ
ーンを利用するときには、ドライブによる測定の機差を
吸収することができる。
ばらつきが考えられるので、このばらつきを補正する必
要がある。この補正は位相差が最大となったときの位相
エラーレベルで、測定使用とする再生データの位相エラ
ー信号レベルを正規化する。こうすれば、同じ記録パタ
ーンを利用するときには、ドライブによる測定の機差を
吸収することができる。
【００３１】最大位相差となるのは理論的には図３Ａ、
Ｂのようにスライスされたディジタル信号とリードクロ
ック信号ＲＣとの位相差が１８０゜になるような最密パ
ターンのときである。このとき同図Ｃのような位相エラ
ー信号となる。最大位相差を実現するには図１のように
テストパターン発生器８０を用意し、スイッチ８１によ
って必要なタイミングのとき図３Ｂに示すテストパター
ンをＰＬＬ回路４０に与えればよい。このときの位相エ
ラー信号から求められたジッタ量を、実際の再生データ
からのジッタ量を正規化するためのジッタ量として制御
部３０内のメモリ手段に保存しておけばよい。
Ｂのようにスライスされたディジタル信号とリードクロ
ック信号ＲＣとの位相差が１８０゜になるような最密パ
ターンのときである。このとき同図Ｃのような位相エラ
ー信号となる。最大位相差を実現するには図１のように
テストパターン発生器８０を用意し、スイッチ８１によ
って必要なタイミングのとき図３Ｂに示すテストパター
ンをＰＬＬ回路４０に与えればよい。このときの位相エ
ラー信号から求められたジッタ量を、実際の再生データ
からのジッタ量を正規化するためのジッタ量として制御
部３０内のメモリ手段に保存しておけばよい。
【００３２】ジッターを測定する期間は、例えば図Ａ３
のようにアドレスＩＤとデータDATAとが交互に繰り返さ
れるディスクフォーマットとなされているときは、デー
タエリアにテストパターンデータが記録される。このデ
ータエリアとしては、光ディスク１６に用意されたテス
トエリア内のトラック（最外周トラックから３トラック
分）が利用される。
のようにアドレスＩＤとデータDATAとが交互に繰り返さ
れるディスクフォーマットとなされているときは、デー
タエリアにテストパターンデータが記録される。このデ
ータエリアとしては、光ディスク１６に用意されたテス
トエリア内のトラック（最外周トラックから３トラック
分）が利用される。
【００３３】つまり、図４に示すデータ領域に異なるラ
イトパワーで既知のデータパターンが順次記録される。
例えば同図Ｂのように、アドレスＩＤｎでは最小のライ
トパワーＰａ＝６ｍＷ＝Ｐ６でデータを記録し、次のア
ドレスＩＤn+1ではライトパワーを１ステップ上げた７
ｍＷのライトパワーＰ７で同じデータを記録する。これ
を所定の値Ｐｂ、この例では１０ｍＷとなるまで順次繰
り返す。
イトパワーで既知のデータパターンが順次記録される。
例えば同図Ｂのように、アドレスＩＤｎでは最小のライ
トパワーＰａ＝６ｍＷ＝Ｐ６でデータを記録し、次のア
ドレスＩＤn+1ではライトパワーを１ステップ上げた７
ｍＷのライトパワーＰ７で同じデータを記録する。これ
を所定の値Ｐｂ、この例では１０ｍＷとなるまで順次繰
り返す。
【００３４】次にリードモードにしてそれぞれのデータ
を再生する。例えば同図Ｃに示すように、リードゲート
の立ち下がりで、ジッターの積算値をクリアし、同時に
ジッタ量の測定を開始し、リードゲートの立ち下がりで
ジッタ量の測定を終了する。同じ記録エリアでの再生を
数回繰り返してその平均値を、そのライトパワーＰ６で
のジッタ量とする。
を再生する。例えば同図Ｃに示すように、リードゲート
の立ち下がりで、ジッターの積算値をクリアし、同時に
ジッタ量の測定を開始し、リードゲートの立ち下がりで
ジッタ量の測定を終了する。同じ記録エリアでの再生を
数回繰り返してその平均値を、そのライトパワーＰ６で
のジッタ量とする。
【００３５】このようなジッタ量の測定を異なるライト
パワーごとに行い、それらのうちの最小のジッタ量を求
める。例えばライトパワーとジッタ量との関係が図５の
ようになったときにはその最小のジッタ量を求める。こ
の最小のジッタ量がその光ディスク１６での最適なライ
トパワーとなる。図５をグラフ化した図６からも明らか
なように、この場合の最小ジッタ量は０．０３５である
ので、最適なライトパワーは８．０ｍＷとなる。この最
適ライトパワーは制御部３０内に設けられたメモリ手段
にストアされ、実際のデータ記録のときに利用される。
パワーごとに行い、それらのうちの最小のジッタ量を求
める。例えばライトパワーとジッタ量との関係が図５の
ようになったときにはその最小のジッタ量を求める。こ
の最小のジッタ量がその光ディスク１６での最適なライ
トパワーとなる。図５をグラフ化した図６からも明らか
なように、この場合の最小ジッタ量は０．０３５である
ので、最適なライトパワーは８．０ｍＷとなる。この最
適ライトパワーは制御部３０内に設けられたメモリ手段
にストアされ、実際のデータ記録のときに利用される。
【００３６】以上のようなジッタ量の計測を行うジッタ
量計測装置であるジッタ量演算器７０をハード的に構成
する場合には図７のようになる。
量計測装置であるジッタ量演算器７０をハード的に構成
する場合には図７のようになる。
【００３７】図７に示すジッタ量演算器７０では、ディ
ジタル位相エラー信号を２乗したものをある区間にわた
って積算し、その積算出力を積算回数で平均化し、その
平方根をとってジッターとするいわゆる２乗平均の考え
方に基づいてジッタ量が算出される。
ジタル位相エラー信号を２乗したものをある区間にわた
って積算し、その積算出力を積算回数で平均化し、その
平方根をとってジッターとするいわゆる２乗平均の考え
方に基づいてジッタ量が算出される。
【００３８】図７において、ＰＬＬ回路４０より出力さ
れた位相エラー信号はＡ／Ｄ変換器６１によってリード
クロック信号ＲＣのタイミングでサンプリングされてデ
ィジタル化される。ディジタル化された位相エラー信号
がジッタ量演算器７０に供給される。
れた位相エラー信号はＡ／Ｄ変換器６１によってリード
クロック信号ＲＣのタイミングでサンプリングされてデ
ィジタル化される。ディジタル化された位相エラー信号
がジッタ量演算器７０に供給される。
【００３９】この位相エラー信号は２乗器７１でデジタ
ル的に２乗処理される。ディジタル位相エラー信号を２
乗するのは符号の処理をなくすためであるから、絶対値
をとって平均化しても構わない。
ル的に２乗処理される。ディジタル位相エラー信号を２
乗するのは符号の処理をなくすためであるから、絶対値
をとって平均化しても構わない。
【００４０】２乗されたディジタル位相エラー信号は加
算器７２に供給されて、メモリ７３の出力との積算処理
が行われる。２乗器７１，加算器７２およびメモリ７３
はすべてリードクロック信号ＲＣのタイミングで動作す
る。
算器７２に供給されて、メモリ７３の出力との積算処理
が行われる。２乗器７１，加算器７２およびメモリ７３
はすべてリードクロック信号ＲＣのタイミングで動作す
る。
【００４１】一方カウンタ７５によってリードクロック
の回数がカウントされ、このカウント出力とメモリ７３
からの積算データがレベルシフタ７６に供給されて、リ
ードクロックのカウント数分だけ積算データがシフトさ
れて平均化される。その後、平方根演算器７７に供給さ
れて平均化出力が平方根処理される。この平方根処理さ
れた値が求めようとするジッタ量である。
の回数がカウントされ、このカウント出力とメモリ７３
からの積算データがレベルシフタ７６に供給されて、リ
ードクロックのカウント数分だけ積算データがシフトさ
れて平均化される。その後、平方根演算器７７に供給さ
れて平均化出力が平方根処理される。この平方根処理さ
れた値が求めようとするジッタ量である。
【００４２】この例では、さらに上述した装置の機差に
よる計測ジッタ量のばらつきをなくするため、計測ジッ
タ量が制御部３０に供給されて上述した基準ジッタ量に
基づいて正規化処理（正規化ジッタ量＝計測ジッタ量／
基準ジッタ量）が行われる。
よる計測ジッタ量のばらつきをなくするため、計測ジッ
タ量が制御部３０に供給されて上述した基準ジッタ量に
基づいて正規化処理（正規化ジッタ量＝計測ジッタ量／
基準ジッタ量）が行われる。
【００４３】上述したカウンタ７５、メモリ７３はゲー
ト発生器５８（図１参照）からのリードゲートパルスの
立ち下がりでクリアされる。レベルシフタ７６はリード
ゲートパルスの立ち上がりでカウンタ７５からのカウン
ト出力分だけシフトするように制御される。上述の平方
根処理や正規化処理は省略することも可能である。
ト発生器５８（図１参照）からのリードゲートパルスの
立ち下がりでクリアされる。レベルシフタ７６はリード
ゲートパルスの立ち上がりでカウンタ７５からのカウン
ト出力分だけシフトするように制御される。上述の平方
根処理や正規化処理は省略することも可能である。
【００４４】上述したジッタ量の計測およびこのジッタ
量から最適ライトパワーを求める処理の一例を図８を参
照して説明する。この処理は装置に光ディスク１６が装
填されるたびに行うこともできれば、光ディスクの識別
番号があるときはこの識別番号ごとに、最初に算出した
最適ライトパワーを格納しておき、同じ光ディスクが装
填されたときにはその最適ライトパワーを用いるように
してもよい。
量から最適ライトパワーを求める処理の一例を図８を参
照して説明する。この処理は装置に光ディスク１６が装
填されるたびに行うこともできれば、光ディスクの識別
番号があるときはこの識別番号ごとに、最初に算出した
最適ライトパワーを格納しておき、同じ光ディスクが装
填されたときにはその最適ライトパワーを用いるように
してもよい。
【００４５】まず、スイッチ８１を接点ｂ側に切り替え
て、テストパターンデータによる基準ジッタ量（最大位
相差のときの最大ジッタ量）の算出が行われる（ステッ
プ９１，９２）。次に、スイッチ８１を接点ａ側に切り
替え、ライトパワーを最初の値Ｐ１に設定した状態で光
ディスク１６のテストエリアに既知のパターンデータが
記録される（ステップ９３，９４，９５）。
て、テストパターンデータによる基準ジッタ量（最大位
相差のときの最大ジッタ量）の算出が行われる（ステッ
プ９１，９２）。次に、スイッチ８１を接点ａ側に切り
替え、ライトパワーを最初の値Ｐ１に設定した状態で光
ディスク１６のテストエリアに既知のパターンデータが
記録される（ステップ９３，９４，９５）。
【００４６】ライトパワーは、ある程度の大きなパワー
でないと、ピットがきれいに記録できず、再生信号のＳ
／Ｎが悪くなる。ライトパワーが強すぎると、ピット間
の熱干渉が起こり、ピットのロングマークとショートマ
ークの長さの比率が一定にならない。これらは結果とし
てジッタ量に影響を与える。このようなことを考慮する
と、ライトパワーは６ｍＷ程度から始め、最大ライトパ
ワーとしては１０ｍＷ位で充分である。
でないと、ピットがきれいに記録できず、再生信号のＳ
／Ｎが悪くなる。ライトパワーが強すぎると、ピット間
の熱干渉が起こり、ピットのロングマークとショートマ
ークの長さの比率が一定にならない。これらは結果とし
てジッタ量に影響を与える。このようなことを考慮する
と、ライトパワーは６ｍＷ程度から始め、最大ライトパ
ワーとしては１０ｍＷ位で充分である。
【００４７】ライトパワーＰ６であるときのジッタ量を
正規化したのち、正規化したジッタ量とライトパワーＰ
６の値が制御部３０内のメモリにストアされる（ステッ
プ９６）。
正規化したのち、正規化したジッタ量とライトパワーＰ
６の値が制御部３０内のメモリにストアされる（ステッ
プ９６）。
【００４８】このジッタ量計測処理が規定のライトパワ
ーＰｂになるまで、ライトパワーをＰだけアップしなが
ら順次繰り返される（ステップ９７，９８，９５）。ラ
イトパワーが規定値Ｐｂを越えたなら、ジッタ量が最小
となるライトパワーＰ０を求め、求めたライトパワーＰ
０を最適ライトパワーとしてストアして、最適ライトパ
ワーの算出処理を終了する（ステップ９９，１００）。
ーＰｂになるまで、ライトパワーをＰだけアップしなが
ら順次繰り返される（ステップ９７，９８，９５）。ラ
イトパワーが規定値Ｐｂを越えたなら、ジッタ量が最小
となるライトパワーＰ０を求め、求めたライトパワーＰ
０を最適ライトパワーとしてストアして、最適ライトパ
ワーの算出処理を終了する（ステップ９９，１００）。
【００４９】なお、求められた最小ジッタ量となるライ
トパワーを最適なライトパワーＰ０として説明したが、
実際には図６のようなジッタ量の分布となることから、
この分布の２次曲線（近似曲線：鎖線図示）を描くと、
この値Ｐ０よりもさらに最適なライトパワー（２次曲線
のボトムの値）が存在することも考えられる。そこで、
さらに最適ライトパワーを求めようとするならばこの２
次曲線を用いてそのボトムと思われる値を最適ライトパ
ワーに設定することも可能である。
トパワーを最適なライトパワーＰ０として説明したが、
実際には図６のようなジッタ量の分布となることから、
この分布の２次曲線（近似曲線：鎖線図示）を描くと、
この値Ｐ０よりもさらに最適なライトパワー（２次曲線
のボトムの値）が存在することも考えられる。そこで、
さらに最適ライトパワーを求めようとするならばこの２
次曲線を用いてそのボトムと思われる値を最適ライトパ
ワーに設定することも可能である。
【００５０】正規化された最小ジッタ量に基づいて光デ
ィスクの良否を判定するときには、判定基準のジッタ量
とこの最小ジッタ量を比較すればよい。求めたジッタ量
を基準にすれば、フォーカスサーボやトラッキングサー
ボの最適値、さらには再生パワーの最適値なども算出で
きる。また、光ディスク１６をフォーマットするとき、
測定されたジッタ量の多少の関係から、記録再生に適さ
ないセクタを検出してこれを論理アドレスから外すこと
もできる。
ィスクの良否を判定するときには、判定基準のジッタ量
とこの最小ジッタ量を比較すればよい。求めたジッタ量
を基準にすれば、フォーカスサーボやトラッキングサー
ボの最適値、さらには再生パワーの最適値なども算出で
きる。また、光ディスク１６をフォーマットするとき、
測定されたジッタ量の多少の関係から、記録再生に適さ
ないセクタを検出してこれを論理アドレスから外すこと
もできる。
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係るジ
ッタ量計測装置では位相エラー信号に基づいて光ディス
クのジッタ量を計測するようにしたものである。これに
よれば、光ディスクのエラーレートを基準にする場合よ
りも光ディスクの信号品質である記録品質の判定をより
精確に行うことができる。
ッタ量計測装置では位相エラー信号に基づいて光ディス
クのジッタ量を計測するようにしたものである。これに
よれば、光ディスクのエラーレートを基準にする場合よ
りも光ディスクの信号品質である記録品質の判定をより
精確に行うことができる。
【００５２】またこの発明に係るディスク記録再生装置
では、求めたジッタ量から最適ライトパワーを設定でき
るようにしたものである。従来ではエラーレートのみを
参照して最適なライトパワーを求めていたが、エラーレ
ートを基準にすると最適ライトパワーの範囲が広すぎる
ため、場合によっては適切なライトパワーのセッテング
が不可能であった。これに対してこの発明ではジッタ量
を基準にして最適なライトパワーを求めるようにしてい
るので、より精確に最適なライトパワーを求めることが
できる。その結果、記録品質を従来よりも改善できる。
ジッタ量は光ディスクの良否判定にも応用できる。
では、求めたジッタ量から最適ライトパワーを設定でき
るようにしたものである。従来ではエラーレートのみを
参照して最適なライトパワーを求めていたが、エラーレ
ートを基準にすると最適ライトパワーの範囲が広すぎる
ため、場合によっては適切なライトパワーのセッテング
が不可能であった。これに対してこの発明ではジッタ量
を基準にして最適なライトパワーを求めるようにしてい
るので、より精確に最適なライトパワーを求めることが
できる。その結果、記録品質を従来よりも改善できる。
ジッタ量は光ディスクの良否判定にも応用できる。
【００５３】したがってこの発明は光磁気ディスクなど
を用いたディスク記録再生装置に適用して極めて好適で
ある。
を用いたディスク記録再生装置に適用して極めて好適で
ある。
【図１】この発明に係るディスク記録再生装置の一実施
形態を示す要部の系統図である。
形態を示す要部の系統図である。
【図２】位相エラーの説明図である。
【図３】最大位相エラーを起こすときの位相エラーの説
明図である。
明図である。
【図４】ディスクフォーマットとジッタ量計測との関係
を示す図である。
を示す図である。
【図５】ライトパワーとジッタ量との関係を示す図であ
る。
る。
【図６】図５をグラフ化したときの図である。
【図７】ジッタ量計測装置であるジッタ量演算器の一実
施形態を示す系統図である。
施形態を示す系統図である。
【図８】最適ライトパワーを算出するための一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図９】ライトパワーとエラーレートとの関係を示す特
性図である。
性図である。
１０・・・ディスク記録再生装置、１１・・・レーザ、
１６・・・光ディスク、２０・・・光検出器、２２・・
・レーザパワーコントローラ、３０・・・制御部、４０
・・・ＰＬＬ回路、４４・・・ローパスフィルタ、５０
・・・光ディスクコントロールブロック、６１・・・Ａ
／Ｄ変換器、７０・・・ジッタ量演算器、７１・・・２
乗器、７２・・・加算器、７３・・・メモリ、７５・・
・カウンタ、７６・・・シフタ、８０・・・テストパタ
ーン発生器
１６・・・光ディスク、２０・・・光検出器、２２・・
・レーザパワーコントローラ、３０・・・制御部、４０
・・・ＰＬＬ回路、４４・・・ローパスフィルタ、５０
・・・光ディスクコントロールブロック、６１・・・Ａ
／Ｄ変換器、７０・・・ジッタ量演算器、７１・・・２
乗器、７２・・・加算器、７３・・・メモリ、７５・・
・カウンタ、７６・・・シフタ、８０・・・テストパタ
ーン発生器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (5)
- 【請求項１】 異なるパワーで光ディスクにライトされ
たテストパターンデータを再生して位相エラー成分を検
出し、 この位相エラー成分からジッタ量を検出するようにした
ことを特徴とする光ディスクのジッタ量計測装置。 - 【請求項２】 光ディスクより再生されたデータより再
生データを抽出するためのＰＬＬ回路と、 このＰＬＬ回路で得られる位相エラー信号が供給される
ジッタ量検出手段と、 このジッタ量検出手段からジッタ量のうち最小ジッタ量
を算出する算出手段とを有することを特徴とする請求項
１記載のジッタ量計測装置。 - 【請求項３】 異なるパワーで光ディスクにライトされ
たテストパターンデータを再生して位相エラー成分を検
出し、この位相エラー成分からジッタ量を検出すると共
に、 上記ジッタ量のうち最小ジッタ量となったライトパワー
をその光ディスクの最適ライトパワーとするようにした
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。 - 【請求項４】 光ディスクより再生されたデータより再
生データを抽出するためのＰＬＬ回路と、 このＰＬＬ回路で得られる位相エラー信号が供給される
ジッタ量検出手段と、 このジッタ量検出手段からジッタ量のうち最小ジッタ量
を算出する算出手段と、 上記ジッタ量のうち最小ジッタ量となったライトパワー
をその光ディスクの最適ライトパワーとしてメモリする
メモリ手段とを有することを特徴とする請求項３記載の
光ディスク記録再生装置。 - 【請求項５】 最大位相誤差となるパターンデータを上
記ＰＬＬ回路に入力したときに得られるジッタ量を基準
ジッタ量として、各ライトパワーによるジッタ量を正規
化するようにしたことを特徴とする請求項４記載の光デ
ィスク記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06749198A JP3775041B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光ディスク記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06749198A JP3775041B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光ディスク記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11273078A true JPH11273078A (ja) | 1999-10-08 |
| JP3775041B2 JP3775041B2 (ja) | 2006-05-17 |
Family
ID=13346519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06749198A Expired - Fee Related JP3775041B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光ディスク記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3775041B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002061743A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-08-08 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Enregistreur/lecteur de disque |
| US7009924B2 (en) | 2000-08-07 | 2006-03-07 | Yamaha Corporation | Circuit for measuring parameter of time-base error of pulse train, and optical disk recording apparatus |
| JP2008047171A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Renesas Technology Corp | 光ディスクの記録用ｌｓｉおよび記録方法 |
| CN100386800C (zh) * | 2004-11-09 | 2008-05-07 | 三洋电机株式会社 | 光盘装置及光盘评价方法 |
| WO2008099465A1 (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-21 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに記録媒体 |
| WO2008099463A1 (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-21 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに記録媒体 |
| JP2009099169A (ja) * | 2007-10-15 | 2009-05-07 | Rohm Co Ltd | ジッタ計測器及びこれを用いた光ディスク装置 |
| KR101034522B1 (ko) * | 2002-11-18 | 2011-05-12 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 광 기록 캐리어 기록을 위한 기록 펄스 파라미터 값을 결정하는 방법과 디바이스, 그리고 이러한 기록 펄스에 의해 새겨질 수 있는 광 기록 캐리어 |
| US11322676B2 (en) | 2018-03-22 | 2022-05-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multilayer ultrasonic transducer and ultrasonic inspection device |
-
1998
- 1998-03-17 JP JP06749198A patent/JP3775041B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7009924B2 (en) | 2000-08-07 | 2006-03-07 | Yamaha Corporation | Circuit for measuring parameter of time-base error of pulse train, and optical disk recording apparatus |
| WO2002061743A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-08-08 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Enregistreur/lecteur de disque |
| US7133344B2 (en) | 2001-01-30 | 2006-11-07 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Disk recording-playback device |
| KR101034522B1 (ko) * | 2002-11-18 | 2011-05-12 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 광 기록 캐리어 기록을 위한 기록 펄스 파라미터 값을 결정하는 방법과 디바이스, 그리고 이러한 기록 펄스에 의해 새겨질 수 있는 광 기록 캐리어 |
| CN100386800C (zh) * | 2004-11-09 | 2008-05-07 | 三洋电机株式会社 | 光盘装置及光盘评价方法 |
| JP2008047171A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Renesas Technology Corp | 光ディスクの記録用ｌｓｉおよび記録方法 |
| WO2008099465A1 (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-21 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに記録媒体 |
| WO2008099463A1 (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-21 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに記録媒体 |
| JP4792510B2 (ja) * | 2007-02-13 | 2011-10-12 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに記録媒体 |
| JP2009099169A (ja) * | 2007-10-15 | 2009-05-07 | Rohm Co Ltd | ジッタ計測器及びこれを用いた光ディスク装置 |
| US11322676B2 (en) | 2018-03-22 | 2022-05-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multilayer ultrasonic transducer and ultrasonic inspection device |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3775041B2 (ja) | 2006-05-17 |
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