JPH11273073A - 記録パワー設定回路および光ディスク記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】感度むらによる影響を少なくできる最適記録パ
ワーの設定を実現する 【解決手段】異なる記録パワーで形成した記録ピットの
ピット形成情報に基づいて、記録ピットを形成した領域
での最適記録パワーを求める。次に記録ピットを光ディ
スクの周方向に向かって複数箇所に亘り記録することに
よって、それぞれの記録領域での最適記録パワーを求め
る。これら周方向における複数の最適記録パワーを平均
化した値を光ディスクの最適記録パワーとして用いる。
測定を周方向に対して複数ヶ所に亘って行いその平均値
をその光ディスクの最適な記録パワーとする。これで光
ディスクの周内感度むらによる最適記録パワーの誤差を
少なくできるから、感度むらによる記録特性への影響を
改善できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は記録パワー設定回
路および光ディスク記録再生装置に関する。詳しくは、
光ディスクの周方向に向かって分散記録された記録ピッ
トの形成（形状）情報から分散記録した領域での最適記
録パワーを求めると共に、それらの平均値を光ディスク
の最適記録パワーとすることによって、光ディスクの周
内で発生する感度むらによる記録特性への影響を回避で
きるようにしたものである。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスクなどの光ディスク記録再
生装置では、光ディスクに照射する発光パワー特に記録
パワーを最適なものとすることによって、その光ディス
クにおける最良の記録特性を得ることができる。

【０００３】従来では、テストパターンデータを記録し
てその記録ピットの形状情報に基づいてその光ディスク
における最適な記録パワーを設定している。つまり、光
ディスクに照射するレーザパワー（有効レーザパワー）
の大きさの違いによって、光ディスクに形成される記録
ピットのピット長およびピット間の非記録部の長さが相
違する。このピット長およびピット間の非記録部の非対
称性（asymmetry：アシンメトリ）を利用して最適記録
パワーを判断するようにしている。

【０００４】図８はパルストレイン方式によってピット
を記録した例であって、記録パワー（ピークパワー、以
下同じ）を段階的に可変しながら記録ピットを形成した
ときのアシンメトリの状態を示すもので、記録パワーが
大きくなるにしたがってアシメトリーの値もマイナス値
からプラス値へと変化する。

【０００５】一方、同じく記録パワーを段階的に可変し
ながら記録ピットを形成したときのジッタ量を計測する
と図９のようになり、下に凸となる２次曲線を描く特性
となる。

【０００６】ここに、アシンメトリがゼロということ
は、ピットが正しい長さ（ピット長）とピッチ（非記録
部）をもって記録されていることである。したがって図
８と図９を比較すれば明らかなように、アシンメトリが
ゼロとなるときはジッタ量も最小となる。つまり、アシ
ンメトリがゼロになる記録パワーがその光ディスクに対
する最適な記録パワーであると言える。図８および図９
の測定例では、ピークパワーで表したとき、１３ｍＷ
（ＤＣパワーに換算すると、３〜４ｍＷ）付近が最適な
記録パワーとなる。実際には図８および図９の測定デー
タから２次曲線を近似してその近似曲線から最適な記録
パワーが求められる。

【０００７】このように従来では記録パワーを変えなが
らピットを形成し、そのアシンメトリを計測することに
よって最適記録パワーを求めている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、追記型光デ
ィスクや光磁気ディスクなどの光ディスクでは、その記
録膜の製膜上のばらつきなどから、光ディスクの周内に
おいて感度むらが発生する場合がある。

【０００９】図１０はその測定例を示すもので、光ディ
スクの周方向に向かってこの例ではほぼ等間隔に６ヶ所
以上に亘りテストパターンデータを分散記録したときの
アシンメトリの状態を測定した結果である。同図のＳ１
〜Ｓ６はそのうちほぼ６０゜間隔の測定結果を示す。同
一の記録パワーで記録しているため、光ディスクの感度
むらによってアシンメトリの値が相違することになる。

【００１０】例えば、記録点Ｓ３では記録感度のよい領
域であるために、与えられた記録パワーでは強すぎる結
果、このようにアシンメトリが却って悪くなってしま
う。これとは逆に、記録点Ｓ４やＳ５では記録感度が悪
い領域であって、与えられた記録パワーでは弱すぎ、ピ
ットを正常に記録できないことを物語っている。

【００１１】したがって例えば記録点Ｓ３で最適記録パ
ワーをセッティングしたような場合には、記録点がＳ４
やＳ５になるとその記録パワーでは不足気味となり、満
足するピットを形成できないことが起こり得る。これと
は逆に、記録点Ｓ４などの領域で最適記録パワーをセッ
ティングしたような場合には、Ｓ３あたりの記録領域に
なると設定した記録パワーでは過剰気味となり、この場
合にはピットが正常値よりも大きくなってしまうような
ことが起こり得る。したがって、周内で感度むらが存在
する光ディスクでは単一の領域で最適記録パワーを設定
しても満足いく記録パワーを設定できないことが判る。

【００１２】そこで、この発明はこのような従来の課題
を解決したものであって、感度むらを軽減できるような
最適記録パワーを設定できる記録パワー設定回路および
光ディスク記録再生装置を提案するものである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため請求項１に記載したこの発明に係る記録パワー設定
回路では、異なる記録パワーで形成した記録ピットのピ
ット形成情報に基づいて、上記記録ピットを形成した領
域での最適記録パワーを求めると共に、上記記録ピット
を光ディスクの周方向に向かって複数箇所に亘り記録す
ることによって、それぞれの記録領域での最適記録パワ
ーを求め、これら周方向における複数の最適記録パワー
を平均化した値を上記光ディスクの最適記録パワーとし
て用いるようにしたことを特徴とする。

【００１４】この発明では、記録パワーによってアシン
メトリの値が相違することに着目し、記録パワーを段階
的に可変しながらアシンメトリ生成用のテストパターン
データを記録し、再生時記録ピット長や非記録部の長さ
に対応したアシンメトリの値を測定する。この測定を光
ディスクの周方向に向かって複数ヶ所に亘り行う。そし
てそれぞれの測定個所から得られた最適記録パワーの平
均値をその光ディスクの最適な記録パワーとする。こう
することによって、光ディスクの周内感度むらによる影
響を軽減できる。

【００１５】請求項５に記載したこの発明に係る光ディ
スク記録再生装置では、光ディスクより再生された再生
信号からピット形成情報を得るためのピット形成情報算
出手段と、このピット形成情報に基づいて最適な記録パ
ワーを算出する最適パワー算出手段と、設定された最適
記録パワーに基づいて発光パワーがコントロールされる
コントロール手段とを有し、上記ピット形成情報算出手
段では、異なる記録パワーで形成した記録ピットのピッ
ト形成情報に基づいて、上記記録ピットを形成した領域
での最適記録パワーが求められ、上記最適パワー算出手
段では、上記記録ピットを光ディスクの周方向に向かっ
て複数箇所に亘り記録することによって、それぞれの記
録領域での最適記録パワーを求め、これら周方向におけ
る複数の最適記録パワーを平均化した値が上記光ディス
クの最適記録パワーとなされるようにしたことを特徴と
する。

【００１６】この発明では周方向における複数ヶ所で測
定した最適記録パワーの平均値を、その光ディスクでの
最適な記録パワーに設定したので、光ディスクの周内感
度むらが存在していても、感度むらを軽減できるような
記録パワーに設定することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】続いて、この発明に係る記録パワ
ー設定回路および光ディスク記録再生装置の一実施形態
を図面を参照して詳細に説明する。

【００１８】図１はこの発明が適用されている光ディス
ク記録再生装置の一実施形態を示す要部の系統図であ
る。同図において、レーザ１１から発光された光が光ピ
ックアップ手段を構成するビームスプリッタ（ＢＳ）１
２によりその進行方向が分離され、一部が発光パワーを
モニタするための光検出器（ＭＰＤ）１３に入光し、そ
の他が反射ミラー１４および対物レンズ１５を介して光
ディスク１６の盤面上に照射される。

【００１９】光検出器１３によって検出された発光パワ
ーが電流（Ｉｍ）に変換され、発光パワーコントロール
用の誤差アンプ（ＡＰＣアンプ）２１に供給される。一
方レーザパワーコントローラ（ＬＰＣ）２１からは、発
光パワーの基準になる電流Ｉoutが誤差アンプ２１に入
力され、そのアンプ出力で制御トランジスタ２５のイン
ピーダンスが制御される。これによって発光パワーが常
にＩｍ＝Ｉoutとなるようにレーザ１１に流す電流が調
整されて、レーザパワーが一定に制御される。レーザパ
ワーコントローラ２２から出力される基準電流Ｉout
は、メインの制御部（ＭＰＵ構成）３０からの指示によ
ってコントローラ２２の内部に設けられたレジスタ等を
書き換えることができるから、基準電流波形としてはさ
まざまな値を持った波形を出力することができる。これ
によって例えば、消去モード、記録モード、再生モード
にそれぞれ応じたレーザパワーとなるように制御するこ
とができる。

【００２０】光ディスクで反射されたレーザ光は、ビー
ムスプリッタ１２を介して信号再生用の光検出器（Ｐ
Ｄ）２０に入光する。光検出器２０は４分割された光検
出素子で構成され、それぞれの光検出信号が第１の電流
・電圧変換器（ＩＶ）２４に供給される。この電流・電
圧変換器２４から複数のサーボ信号が生成される。図の
例ではフォーカスエラー信号FESO、トラッキングエラー
信号TESOおよび４つの光検出素子の全てを加算した信号
である合成信号SUMが生成される。

【００２１】フォーカスエラー信号FESOおよびトラッキ
ングエラー信号TESOは、発光パワーによりその値が変化
するのを避けるため、ＡＧＣ回路２５，２６に供給され
て合成信号SUMによってそれぞれが正規化される。正規
化されたフォーカスエラー信号ＦＥＳはＡ／Ｄ変換器２
７によってディジタル信号に変換された後、ＭＰＵ構成
の制御部３０に供給される。

【００２２】制御部３０では最適なフォーカスサーボ信
号（フォーカスサーボ信号）が生成され、これがＤ／Ａ
変換器３１でアナログ信号に変換された後、フォーカス
コイル２９のドライバ２８に供給されて、対物レンズ１
５のディスク盤面に対する間隙が調整されて、フォーカ
ス調整が行われる。つまりフォーカスサーボがかけられ
る。したがってＡＧＣ回路２５や制御部３０を含むドラ
イバ２８までの回路系はフォーカスサーボ制御手段とし
て機能する。

【００２３】光ディスク１６のトラッキング方向に対し
てもフォーカスと同様に制御され、常に光ディスク１６
のトラック上に集光されるように、トラッキングエラー
信号ＴＥＳを利用してトラッキングサーボがかけられ
る。その構成は割愛する。

【００２４】光検出器２０の出力は第２の電流・電圧変
換器３２に供給されて、アドレス信号を含んだデータ信
号に変換される。このデータ信号は可変ゲインアンプ
（ＶＧＡ）３３によってその振幅を最適化した後、等価
フィルター（可変ゲインアンプ３３に含まれているもの
とする）を通してからスライサー３４に供給され、基準
電圧３５でスライスされることによって２値化（デジタ
ル化）される。

【００２５】２値化されたディジタル信号はＰＬＬ回路
４０に供給される。このＰＬＬ回路４０は、位相比較器
４１、電圧可変発振器（ＶＣＯ）４２およびローパスフ
ィルタ４４を有し、ディジタル信号は電圧可変発振器４
２より出力されたリードクロック信号ＲＣと位相比較器
４１で位相比較され、その位相誤差がローパスフィルタ
４４で電圧に変換されて位相エラー信号が得られる。こ
の位相エラー信号で電圧可変発振器４２の発振周波数が
制御されてディジタル信号に同期したリードクロック信
号ＲＣが得られる。

【００２６】位相エラー信号はＡ／Ｄ変換器６１でディ
ジタル信号に変換されたのち、ジッタ量演算器７０に供
給されて再生信号中のジッタ量が算出される。このジッ
タ量は最適な記録パワーなどを求めるための判断材料と
して使用される。

【００２７】ＰＬＬ回路４０で抽出されたリードクロッ
ク信号ＲＣはディジタル信号と共にフリップフロップ回
路４３に供給されて、リードクロック信号ＲＣに完全に
同期したリードデータ信号ＲＤが生成される。

【００２８】リードデータ信号ＲＤとリードクロック信
号ＲＣが光ディスクコントローラーブロック（ＯＤＣ）
５０に供給される。光ディスクコントローラブロック５
０にはアドレスデコーダ５１が設けられ、ここに上述し
たリードデータ信号ＲＤとリードクロック信号ＲＣとを
与えることによって、アドレス信号がデコードされる。

【００２９】リードデータ信号ＲＤとリードクロック信
号ＲＣとはさらにデータデコーダ５２にも供給され、デ
コードされたアドレス信号に基づいてアドレス管理を行
いながら再生データのデコード処理が行われる。デコー
ドされた再生データはリードバッファ回路５３を経てＳ
ＣＳＩコントローラ等のインタフェース５４に供給され
てホスト側端末に出力される。

【００３０】一方データを光ディスク１６に記録する場
合は、メインの制御部３０からのパワーセッテング信号
に基づいてコントローラ２２では最適なライトパワーが
セットされる。またホスト側から記録すべきデータや記
録すべきアドレス情報を受け取り、これをライトバッフ
ァ回路５５を介してデータエンコーダ５６でエンコード
処理しておく。記録すべきアドレスをレーザが走査して
いるとき、光ディスクコントローラブロック５０に設け
られたゲート信号発生器５８からそのタイミング信号
(ライトゲート)ＷＧが出力される。これに同期してライ
トデータＷＤとデータ同期用クロックであるライトクロ
ック信号ＷＣがそれぞれコントローラ２２に供給され
る。

【００３１】したがってコントローラ２２ではそのタイ
ミングで記録データが記録電流Ｉoutに変換される。レ
ーザ１１はこの記録電流で変調され、光ディスク１６上
にピットが形成される。光ディスク１６として相変化型
ディスクを使用する場合には、レーザパワーの変調のみ
でデータを記録することができる。光ディスク１６とし
て光磁気ディスクを使用する場合には、データの記録に
外部磁界をも同時に使用するので、外部マグネットを用
いて外部磁界を発生させる必要がある。

【００３２】データを消去する場合にも同様に制御部３
０からの指令に基づいてイレーズ処理が実行される。ま
ず制御部３０からの指令でコントローラ２２ではイレー
ズモード（イレーズパワー）にセットされる。そして、
光ディスクコントロールブロック５０からターゲットと
なるアドレスがきたときに、ライトゲートのタイミング
をもとに、指定されたイレーズパワーが光ディスク１６
上に照射されてデータの消去が行われる。光ディスク１
６として光磁気ディスクを使用する場合には、上述した
ように外部マグネットも同時に制御することになる。

【００３３】さて、この発明では使用する光ディスク１
６における最適な記録パワーを求めるため、ピット形成
情報よりアシンメトリを算出するアシンメトリ算出手段
８０がスライサー３４の後段に設けられる。算出された
アシンメトリの値は制御部３０に供給されて、アシンメ
トリの値から最適な記録パワーが求められる。

【００３４】また、光ディスクコントロールブロック５
０にはパターン発生器５９が設けられ、記録パワーを算
出する際に使用されるアシンメトリ生成用データが出力
される。どのタイミングにこのアシンメトリ生成用デー
タを出力するかは制御部３０から指令される。

【００３５】さて、光デイスク１６のディスクフオーマ
ツトは図２に示すように、１セクタ内にＶＦＯ領域及び
データ領域が設けられており、ＶＦＯ領域は、後に続く
データ領域でＰＬＬをかけるための同期領域であり、必
ず最短ピツトである２ビツトの繰り返しが記録される。
本実施の形態においては、データ領域の初めに例えば記
録幅６Ｔのロングマークとして用いられるアシンメトリ
生成用データ（テストパターンデータ）のピツトの繰り
返しを記録する。

【００３６】これにより、ＶＦＯ領域及びデータ領域の
記録データを再生すると図３に示すような再生波形が得
られる。観測されるＶＦＯ領域のシヨートマークによる
再生波形の中心値Ｃ及びデータ領域のロングマークによ
る再生波形の中心値Ｄと振幅Ｂから、各ピツトのアシン
メトリＡsymは、 Ａsym＝（Ｄ−Ｃ）／Ｂ ・・・（１） となる。

【００３７】ここでは図３に示すように、光デイスク１
６上に形成される記録ピツトの記録幅と各ピツト間の長
さの非対称性に応じて、光検出器２０によって検出され
るＤＣ（直流）レベルが変化することと、さらにロング
マーク及びシヨートマークの各ピツト長の割合の差から
ロングマーク及びシヨートマークのＤＣレベルに差が生
じることを用いて、ピツト長及びピツト間長のアシンメ
トリを定議している。（１）式よりロングマークのピツ
ト長又はシヨートマークのピツト長に差があるとアシン
メトリが生じることが判る。

【００３８】アシンメトリ生成用データは光デイスク１
６のテストエリア（最外周側のエリア）に記録される。
アシンメトリ生成用データの再生データ信号ＳＤ（図４
Ａ）は、図５に示すアシンメトリ算出手段８０に設けら
れたピーク検出器８１及びボトム検出器８２に出力され
る。

【００３９】そして再生データ信号ＳＤのビーク及びボ
トム値はそれぞれ減算器８３および加算器８４を介して
除算器８５に供給される。ピーク値及びボトム値をもと
に減算器８３により、データ領域に記録されたロングマ
ークによる再生波形の振幅Ｂが算出される。また加算器
８４及び除算器８５でＶＦＯ領域に記録されたシヨート
マークの中心値Ｃと、データ領域に記録されたロングマ
ークによる再生波形の中心値Ｄがそれぞれ算出される。
このようにして算出されたアシンメトリ生成用データの
振幅ＢはＤ／Ａ変換回路８６を介してラツチ回路８８
に、また中心値Ｃ及びＤはＤ／Ａ変換回路８７を介して
ラツチ回路８８に送出されてそれぞれがラツチされる。

【００４０】一方、指定された目標アドレスにデータ再
生位置のアドレスが一致したときには、ゲート発生器５
８からリードゲート信号ＲＧ（図４Ｂ）がサンプルタイ
ム生成回路９０に出力される。これに同期してサンプル
タイム生成回路９０からはＶＦＯ領域及びデータ領域を
サンプリングしてラッチするためのラッチ信号×１及び
×２（図４Ｃ、Ｄ）が生成され、これによって中心値
Ｃ、Ｄ及び振幅Ｂがそれぞれサンプリングされ、サンプ
リングされた値がそれぞれラッチされる（同図Ｅ、
Ｆ）。

【００４１】ラッチされたＶＦＯ領域及びデータ領域の
中心値Ｃ、Ｄ及びデータ領域の再生波形の振幅Ｂは、こ
れら領域にデータを記録したときの記録パワーと共に、
制御部３０内に設けられたメモリ（図示はしない）に格
納される。

【００４２】制御部３０に設けられたＭＰＵは、メモリ
に格納されたデータ領域の振幅Ｂ並びにＶＦＯ領域及び
データ領域の中心値Ｃ及びＤを読み出し、これらアシン
メトリ生成用データをもとに、（１）式にしたがって再
生データ信号ＳＤのアシンメトリＡ_symが計算される。

【００４３】実際にアシンメトリの値を算出するときに
は、例えば連続する複数のセレクタに対して、同一のア
シンメトリ生成用データを、記録パワーを段階的に可変
しながら記録（キャリブレーション記録）し、その後再
生モードにしてそれぞれのセクタを再生することによっ
て、それぞれの記録パワーでのアシンメトリの値が求め
られる。その結果をプロットすると図８のようになる。
また必要に応じてそれぞれの記録パワーでのジッタ量を
測定すると図９のようになる。

【００４４】この発明では、このようなアシンメトリの
算出処理が光ディスク１６の周方向の複数ヶ所に亘って
行われる。例えば図６のように１周を６等分したときに
は、均等割りしたそれぞれのエリアＣ１〜Ｃ６に対して
アシンメトリ生成用データの記録再生が行われる。つま
り、同一エリアの連続した複数のセレクタに対して、同
一のアシンメトリ生成用データを、記録パワーを段階的
に可変しながら記録する処理をそれぞれのエリアＣ１〜
Ｃ６ごとに行い、その後再生モードにしてそれぞれのエ
リアＣ１からＣ６を再生することによって、それぞれの
記録パワーでのアシンメトリの値を求める。

【００４５】したがって、この最適記録パワーの設定処
理は図７のようになる。この最適記録パワーの設定処理
用の制御プログラムは制御部３０内のＭＰＵ内に格納さ
れているものとする。

【００４６】まず最初の測定エリア（第１のキャリブレ
ーションエリア）Ｃ（＝Ｃ１）を設定する（ステップ１
０１）。次に記録パワーを可変（例えば９．５〜１９．
５ｍＷ）しながら記録されたアシンメトリ生成用データ
を再生してアシンメトリの値を算出する（ステップ１０
２）。測定された複数のアシンメトリの値のうち、アシ
ンメトリの値がゼロとなる記録パワーＷＰｉ（＝ＷＰ
１）がメモリされる（ステップ１０３）。この記録パワ
ーＷＰ１は測定エリアＣ１内での最適な記録パワーであ
る。

【００４７】記録パワーＷＰのメモリ処理が終了する
と、測定エリアＣを次のエリア（第２のキャリブレーシ
ョンエリア）Ｃ２に変えて同様な処理を行い、そのとき
に算出されたアシンメトリの値がゼロとなる記録パワー
ＷＰ２がメモリされる（ステップ１０４，１０５，１０
２，１０３）。

【００４８】この処理が最後の測定エリア（第６のキャ
リブレーションエリア）Ｃ６まで続行され、最後の測定
エリアＣ６での記録パワーＷＰ６のメモリ処理が終了す
ると（ステップ１０５）、求められた６つの記録パワー
ＷＰ１〜ＷＰ６の平均値が算出され、その平均値ＷＰ０
が光ディスクの１６の周内感度むらを考慮した最適記録
パワーとして設定されることになる（ステップ１０６，
１０７）。

【００４９】上述では周方向を等分した６つの測定エリ
アに対してアシンメトリ生成用データを記録パワーを可
変しながら分散記録し、その再生データ信号ＳＤよりそ
のエリア内での最適記録パワーを算出したが、測定エリ
アの個数や、測定エリアの位置などは任意である。測定
エリアを増やすことによって光ディスク１６の周内感度
むらを一層軽減できることは容易に理解できる。記録パ
ワーの可変範囲は任意である。定められた測定エリア内
にアシンメトリ生成用データを記録する順序などは一例
である。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る記
録パワー設定回路では、特定の測定エリア内での記録パ
ワーを可変したときに発生する記録ピット長や非記録部
の長さの非対称性を利用してその測定エリア内での最適
記録パワーを求めると共に、この測定を周方向に対して
複数ヶ所に亘って行って、その平均値をその光ディスク
の最適な記録パワーとするようにしたものである。こう
することによって、光ディスクの周内感度むらによる最
適記録パワーの誤差を少なくできる。

【００５１】そのため、このようにして設定された最適
記録パワーを用いて光ディスクの記録再生を行うとその
ときの記録特性が改善され、光ディスクに周内感度むら
があったとしても記録特性への影響を軽微なものとする
ことができる。

【００５２】したがってこの発明は追記型ディスクや光
磁気ディスクなどを使用した光ディスク記録再生装置に
適用して好適である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係るディスク記録再生装置の一実施
形態を示す要部の系統図である。

【図２】セクタフォーマットの一例を示す図である。

【図３】アシンメトリの定義を説明するための図であ
る。

【図４】アシンメトリ算出の一例を示す図である。

【図５】アシンメトリ算出手段の一実施形態を示す系統
図である。

【図６】測定エリア（キャリブレーションエリア）の説
明図である。

【図７】感度むらを補正した最適記録パワーの設定例を
示すフローチャートである。

【図８】記録パワーとアシンメトリとの関係を示す特性
図である。

【図９】記録パワーとジッタ量との関係を示す特性図で
ある。

【図１０】ディスク周方向におけるアシンメトリの特性
図である。

【符号の説明】

１０・・・ディスク記録再生装置、１１・・・レーザ、
１６・・・光ディスク、２０・・・光検出器、２２・・
・レーザパワーコントローラ、３０・・・制御部、４０
・・・ＰＬＬ回路、４４・・・ローパスフィルタ、５０
・・・光ディスクコントロールブロック、６１・・・Ａ
／Ｄ変換器、７０・・・ジッタ量演算器、８０・・・ア
シンメトリ算出手段

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 異なる記録パワーで形成した記録ピット
   のピット形成情報に基づいて、上記記録ピットを形成し
   た領域での最適記録パワーを求めると共に、 上記記録ピットを光ディスクの周方向に向かって複数箇
   所に亘り記録することによって、それぞれの記録領域で
   の最適記録パワーを求め、 これら周方向における複数の最適記録パワーを平均化し
   た値を上記光ディスクの最適記録パワーとして用いるよ
   うにしたことを特徴とする記録パワー設定回路。
2. 【請求項２】 上記ピット形成情報のうちピットを正常
   状態で記録したときの記録パワーを最適記録パワーとし
   て設定するようにしたことを特徴とする請求項１記載の
   記録パワー設定回路。
3. 【請求項３】 上記記録ピットを光ディスクの周方向に
   分散させて記録することによって、 上記光ディスクの感度むらを補正した最適な記録パワー
   を設定できるようにしたことを特徴とする請求項１記載
   の記録パワー設定回路。
4. 【請求項４】 光ディスクより再生された再生信号から
   ピット形成情報を得るためのピット形成情報算出手段
   と、 このピット形成情報に基づいて最適な記録パワーを算出
   する最適パワー算出手段と、 設定された最適記録パワーに基づいて発光パワーがコン
   トロールされるコントロール手段とを有し、 上記ピット形成情報算出手段では、異なる記録パワーで
   形成した記録ピットのピット形成情報に基づいて、上記
   記録ピットを形成した領域での最適記録パワーが求めら
   れ、 上記最適パワー算出手段では、上記記録ピットを光ディ
   スクの周方向に向かって複数箇所に亘り記録することに
   よって、それぞれの記録領域での最適記録パワーを求
   め、これら周方向における複数の最適記録パワーを平均
   化した値が上記光ディスクの最適記録パワーとなされる
   ようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。