JPH10256109A - 半導体製造装置及びデバイス製造方法 - Google Patents

半導体製造装置及びデバイス製造方法

Info

Publication number
JPH10256109A
JPH10256109A JP9072806A JP7280697A JPH10256109A JP H10256109 A JPH10256109 A JP H10256109A JP 9072806 A JP9072806 A JP 9072806A JP 7280697 A JP7280697 A JP 7280697A JP H10256109 A JPH10256109 A JP H10256109A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
host computer
semiconductor manufacturing
command
manufacturing apparatus
information processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9072806A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Kawashima
淳 川島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP9072806A priority Critical patent/JPH10256109A/ja
Publication of JPH10256109A publication Critical patent/JPH10256109A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Computer And Data Communications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 ホストコンピュータとの間の必要な情報の授
受を支障なく効率的に行えるようにして、半導体デバイ
スの製造の効率化を図る。 【解決手段】 ホストコンピュータからの送信メッセー
ジに対し、必要であれば返信メッセージを返送するプロ
トコルをサポートしたインターフェイスを有する情報処
理手段により動作が制御される半導体製造装置におい
て、情報処理手段は、ホストコンピュータからコマンド
のメッセージ1を受信したときは、返信メッセージ2
に、そのコマンドの処理が終了するまでの推定時間を1
つのパラメータとして含ませる。あるいは、ホストコン
ピュータからのコマンドのメッセージを受信し、返信メ
ッセージを送信した後、そのコマンドの処理の進捗状況
に関するデータ3、5を所定のタイミングでホストコン
ピュータに送信する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータまた
はコンピュータネットワーク中の半導体製造装置との情
報交換を行ない半導体製造装置を制御するホストコンピ
ュータと接続された半導体製造装置およびこれを用いた
デバイス製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術、および発明が解決しようとする課題】従
来、ホストコンピュータからの送信メッセージに対し、
必要であれば返信メッセージを返すプロトコルをサポー
トしたインターフェイスを持つ半導体製造装置において
は、リモートコマンドメッセージ等の受信と返信処理に
際し、リモートコマンドの実行が現状において可能か否
かや、受信と返信の通信処理の成否をホストコンピュー
タに伝え、また、リモートコマンドの意味する実際の処
理が終了した際、処理が終了した旨をホストコンピュー
タに伝える。
【0003】しかしながら半導体製造装置を制御するホ
ストコンピュータは年々高度化し、ホストコンピュータ
上で細かい装置状態を把握したいという状況も多く、特
に時間のかかる作業を命令するリモートコマンドと、こ
れに対してイベントによる作業状況を通知するといった
形式の半導体製造装置の制御においては、いつ作業が終
了するか予想がつかないという問題を抱えている。そこ
で半導体製造装置に対し以下の様な課題が挙げられる。 ホストコンピュータから受けたコマンドによる命令
に応じた処理をどの程度の時間で実行できるのか、半導
体製造装置はホストコンピュータに対して通知する必要
がある。 通知する処理の所要時間の推定は可能な限り正確で
ある必要がある。 半導体製造装置は現在処理がどの程度進んでいるの
か逐次ホストコンピュータへ報告する必要がある。
【0004】一方、半導体製造装置とホストコンピュー
タ間のメッセージ送受信に関する通信インターフェース
を定義するSECS−1は、AA(pin1)、BA
(pin2)、BB(pin3)、AB(pin7)
(信号名称はEIA RS−232C規格に基づく)が
すべての装置における必要な信号線の接続であるとして
いる。また、それ以外の信号線を使用する場合はRS−
232−C規格に準拠しなければならないとしている。
そして従来、SECS−1に準拠した半導体製造装置に
おいては、SECS−1に示されるAA(pin1)、
BA(pin2)、BB(pin3)、AB(pin
7)のみを用いてホストコンピュータと接続するものと
してきた。ホストコンピュータが、AA(pin1)、
BA(pin2)、BB(pin3)、AB(pin
7)以外の信号線による接続(CA、CCの使用など)
を必要とする場合、半導体製造装置はAA(pin
1)、BA(pin2)、BB(pin3)、AB(p
in7)のみしか使用していないため、ホストコンピュ
ータと半導体製造装置間のクロスケーブルにおいて物理
的にAA(pin1)、BA(pin2)、BB(pi
n3)、AB(pin7)以外の信号線を、通信が成立
するように(CAはCBと、CCはCDと)短絡してい
た。
【0005】しかしながら、ホストによって要求する物
理的な信号線の接続方法は次に示すように多岐に渡る。 AA(pin1)、BA(pin2)、BB(pi
n3)、AB(pin7)のみの信号線の接続(SEC
S−1の基本的な方針) の接続に加え、CD(20pin)とCC(6p
in)の信号線の接続(RS−232−Cに準拠) の接続に加え、CA(4pin)とCB(5pi
n)の信号線の接続(RS−232−Cに準拠) の接続に加え、CD、CC、CA、CBの信号線
の接続(RS−232−Cに準拠)
【0006】以上の要求を満たすため、通信が成立する
ようなクロスケーブルをホストコンピュータと半導体製
造装置の間でそれぞれの場合に合わせて用意するのは繁
雑である。また、クロスケーブルの選択ミスによる通信
障害も起こり得る(不必要な信号線を接続すると通信障
害が起こる)。
【0007】本発明の目的は、上述の従来の問題点に鑑
み、半導体製造装置および方法において、ホストコンピ
ュータとの間の必要な情報の授受を支障なく効率的に行
えるようにして、半導体デバイスの製造の効率化を図る
ことにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明の一態様に係る半導体製造装置では、ホストコン
ピュータからの送信メッセージに対し、必要であれば返
信メッセージを返送するプロトコルをサポートしたイン
ターフェイスを有する情報処理手段を備え、この情報処
理手段により動作が制御される半導体製造装置におい
て、前記情報処理手段は、前記ホストコンピュータから
コマンドのメッセージを受信したときは、前記返信メッ
セージに、そのコマンドの処理が終了するまでの推定時
間を1つのパラメータとして含ませるものであることを
特徴とする。
【0009】また、本発明の一態様に係るデバイス製造
方法においては、このような半導体製造装置を用いて半
導体デバイスを製造するデバイス製造方法において、ホ
ストコンピュータからコマンドのメッセージを受信した
とき、それに対する返信メッセージに、そのコマンドの
処理が終了するまでの推定時間を1つのパラメータとし
て含ませて、その返信メッセージをホストコンピュータ
に送信し、その後、前記コマンドに対応する処理を行っ
て前記半導体製造装置の動作を制御し、半導体デバイス
を製造することを特徴とする。
【0010】また、本発明の他の態様に係る半導体製造
装置においては、ホストコンピュータからの送信メッセ
ージに対し、必要であれば返信メッセージを返送するプ
ロトコルをサポートしたインターフェイスを有する情報
処理手段を備え、この情報処理手段により動作が制御さ
れる半導体製造装置において、前記情報処理手段は、前
記ホストコンピュータからのコマンドのメッセージを受
信し、前記返信メッセージを送信した後、そのコマンド
の処理の進捗状況に関するデータを所定のタイミングで
前記ホストコンピュータに送信するものであることを特
徴とする。
【0011】また、本発明の他の態様に係るデバイス製
造方法においては、前記他の態様に係る半導体製造装置
を用いて半導体デバイスを製造するデバイス製造方法に
おいて、ホストコンピュータからのコマンドのメッセー
ジを受信したとき、それに対する必要な返信メッセージ
を送信し、その後、そのコマンドの処理を開始し、そし
てその処理の進捗状況に関するデータを所定のタイミン
グで前記ホストコンピュータに送信しながら、半導体デ
バイスを製造することを特徴とする。
【0012】また、本発明の別の態様に係る半導体製造
装置では、ホストコンピュータに対してRS−232−
C規格を満足するすべての流量制御に対応したクロスケ
ーブルによる信号線を介して接続された情報処理手段を
備え、この情報処理手段により動作が制御される半導体
製造装置において、RSー232ーC規格において有り
得るすべての前記信号線を介した入力を監視し、前記ホ
ストコンピュータからAA、BA、BBおよびAB以外
の信号線を介したデータ通信要求があれば、これに応じ
た返信を対応する信号線を介して行うことにより通信を
成立させる手段を具備することを特徴とする。
【0013】また、本発明の別の態様に係るデバイス製
造方法では、このような半導体製造装置を用い、そのホ
ストコンピュータとの間でその通信手段を介して必要な
情報の交換を行い、それらの情報に基づいて前記半導体
製造装置の動作を制御して、半導体デバイスを製造する
ことを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】前記本発明の一態様に係る半導体
製造装置およびデバイス製造方法においては、ホストコ
ンピュータからコマンド(リモートコマンド)を受けた
とき、その返信メッセージにコマンドの受領、実行可
否、受信返信通信処理の成否等のデータを含ませること
ができる。
【0015】また、コマンドの処理に要する推定時間
は、同一のコマンドの処理について以前に要した処理時
間を考慮して得ることができる。より具体的には、ある
コマンドの推定処理時間と実際に要した時間を記憶して
おき、これらの処理時間に統計処理を施すことにより、
そのコマンドのより正確な推定処理時間を得ることがで
きる。つまり、ホストコンピュータから送信メッセージ
のリモートコマンドとして命令される可能性のある各処
理について、実処理時間を複数回分蓄積しておき、これ
に基づいて推定処理時間をより正しいものに算出しなお
して返信メッセージ送信時にホストコンピュータに通知
する。これによりホストコンピュータからの処理実行命
令を多く繰り返す程、より正確な処理推定時間をホスト
コンピュータに通知できるようになる。
【0016】このようにして、ホストコンピュータから
の送信メッセージがリモートコマンドなどによる処理実
行の命令などであった場合、そのコマンドの現状可能可
否や受信返信通信処理の成否の他にその処理の推定所要
時間を返信メッセージとしてホストコンピュータに報告
することにより、ホストコンピュータは半導体製造装置
がどの程度で処理を完了するのかを大まかに把握し、例
えば別の処理を並行して先に行なっておくことも可能に
なる。また、推定所要時間を大幅に経過してもまだ、半
導体製造装置から処理終了を示す報告がない時はその処
理自体になんらかの異状が起こったことを検出すること
ができる。さらにオペレータはホストコンピュータを見
ることで、あとどの程度の時間、半導体製造装置に対す
るオペレーションが必要ないのかを判断することができ
る。
【0017】また、前記本発明の他の態様においては、
例えば、ホストコンピュータからのリモートコマンドの
処理の進捗状況に関するデータを、イベントリポートと
してホストコンピュータに通知する。これによりホスト
コンピュータは推定処理時間に合わせて、実際の処理が
どの程度進んでいるかを把握することができる。
【0018】一方、本発明の別の態様に係る半導体製造
装置およびデバイス製造方法においては、具体的には、
ホストコンピュータとの間の、SECS−1に従った通
信インターフェイスを介した通信手段を有する情報処理
手段を備え、この情報処理手段により動作が制御される
半導体製造装置において、前記通信インターフェイス
は、物理的インターフェイスとして、前記ホストコンピ
ュターと前記情報処理手段との間の、Dタイプ25ピン
のコネクタによる、AA、BA、BBおよびABの信号
線による接続に加え、CA、CB、CCおよびCDのク
ロスケーブルによる接続とを有し、前記通信手段は、前
記ホストコンピュータからAA、BA、BBおよびAB
以外の信号線を介したデータ通信要求があれば、これに
応じた返信を対応する信号線を介して行うことにより通
信を成立させる手段を具備する。
【0019】あるいは前記通信インターフェイスは、物
理的インターフェイスとして、前記ホストコンピュター
と前記情報処理手段との間の、Dタイプ9ピンのコネク
タによる、BA、BBおよびABの信号線による接続に
加え、CA、CB、CCおよびCDのクロスケーブルに
よる接続とを有し、前記通信手段は、前記ホストコンピ
ュータからBA、BBおよびAB以外の信号線を介した
データ通信要求があれば、これに応じた返信を対応する
信号線を介して行うことにより通信を成立させる手段を
具備する。
【0020】前記通信手段は、ホストコンピュータから
送信要求(CA)を受信したときは、これに応じた送信
可(CB)の返信およびデータ(BB)の受信を行い、
前記ホストコンピュータからデータ端末レディ(CD)
を受信したときは、これに応じたデータセットレディ
(CC)の返信およびデータ(BA)の送信を行うこと
により、前記通信を成立させてデータの送受信を行うこ
とができる。そして、前記ホストコンピュータから送信
要求(CA)またはデータ端末レディ(CD)のいずれ
も受信していないときは、必要に応じて前記ホストコン
ピュータとの間でデータ(BA)の送信またはデータ
(BB)の受信を行うことができる。
【0021】このようにして、ホストコンピュータがど
のような信号線の接続方法を要求している場合でも、ホ
ストコンピュータと半導体製造装置間で使用するケーブ
ルはRS−232−C規格の全ての流量制御に対応した
クロスケーブル(通常のクロスケーブル)による信号線
の接続方法の1つに定めておき、RSー232ーC規格
に有り得る全てのピンを監視し、ホストコンピュータか
らの要求があれば、AA(pin1)、BA(pin
2)、BB(pin3)、AB(pin7)以外のピン
に対し送受信の手順には関係なく応答を返すことで通信
を成立させることにより、半導体製造装置側でホストの
要求する信号線接続の違いを吸収することができる。
【0022】
【実施例】以下本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。 [第1の実施例]図2は本発明の第1の実施例に係る半
導体製造装置を含むシステムの構成を示す図である。同
図に示すように、このシステムは半導体製造装置21と
それを制御するホストコンピュータ22を有し、半導体
製造装置21とホストコンピュータ22はRS−232
Cインターフェイスまたはイーサネット(TCP/I
P)により接続されている。
【0023】物理的インターフェイスの上のよりアプリ
ケーションに近いインターフェイスは、一般的にはSE
MI(SEMICONDUCTOR EQUIPMENT AND MATERIALS INTERN
ATIONAL )による通信規約、SECS−1、SECS−
2、HSMS等によっている。それらの通信規約に依存
しない場合でも、ホストコンピュータからの送信メッセ
ージに対し、必要であれば返信メッセージを返信する通
信インターフェイスをサポートするものであればよい。
【0024】図1は半導体製造装置21における通信と
処理内容を示す図である。同図に示すように、半導体製
造装置は始めにホストコンピュータからの命令を待って
いる状態(ステップS11)にある。この状態におい
て、ホストコンピュータからリモートコマンドメッセー
ジ1によって何らかの命令が送られてくると、半導体製
造装置はその命令にどの程度の時間がかかるか、リモー
トコマンド処理時間テーブル18を参照し、ホストコン
ピュータからの命令を元に処理推定時間を求め、求めた
処理推定時間を応答メッセージ2に載せてホストコンピ
ュータへ報告する(ステップS12)。このリモートコ
マンドのトランザクションが終了すると、半導体製造装
置はコマンドにより命令された処理を開始する(ステッ
プS13)。そして命令された処理の任意の割合の処理
が終了した時、半導体製造装置は、イベントリポートメ
ッセージ3、5として、現在、処理の何割が終了したか
をホストコンピュータへ通知する(ステップS14、S
15)。
【0025】半導体製造装置は、ホストコンピュータか
らのリモートコマンドによる命令の処理を終了すると、
通常、ホストコンピュータに、処理が終了した旨を知ら
せるメッセージ9を送信する(ステップS16)。メッ
セージ9に対する応答10を受信してメッセージ9のト
ランザクションが完了した後、半導体製造装置は、ホス
トコンピュータからのリモートコマンド1による命令の
処理を行うには実際にはどの程度かかったかを、リモー
トコマンド処理時間テーブル18内の今回の命令に相当
する処理内容を有するテーブル、例えばテーブル19な
どに記録する(ステップS17)。その後は再びホスト
コンピュータからのリモートコマンドによる命令待ちの
状態(ステップS11)に戻る。
【0026】次に、先程処理したのと同様の命令実行を
示すリモートコマンドがホストコンピュータから送信さ
れてくると、先程より更に正確になった推定実行所要時
間を載せた、リモートコマンドの応答をホストコンピュ
ータへ返すことができる(ステップS12)。
【0027】[第2の実施例]表1は本実施例で使用さ
れるRS−232−C規格における各ピンの役割を示
す。1ピンはAAと呼ばれ保安用設地に、2ピンはBA
と呼ばれ送信データ用に、3ピンはBBと呼ばれ受信デ
ータ用に、4ピンはCAと呼ばれ送信要求用に、5ピン
はCBと呼ばれ送信可能を示すために、6ピンはCCと
呼ばれデータセットレディを示すために、7ピンはAB
と呼ばれ信号用接地に、20ピンはCDと呼ばれデータ
末端レディを示すために用いられる。
【0028】
【表1】
【0029】図3はRS−232−Cで用いられる全て
の流量制御に対応したクロスケーブルの配線を示す。図
中の数字は、ピンの番号である。本実施例ではホストコ
ンピュータと半導体製造装置間の物理的インターフェイ
スとして図1の配線のケーブルを使用する。図中の数字
は、双方のコネクタにおけるピンの番号である。同図に
示すように、このケーブルは1ピンは相手の1ピンに接
続し、2ピンは相手の3ピンに接続する。4ピンは相手
の5ピンに接続し、6ピンは相手の20ピンに接続す
る。7ピンは相手の7ピンに接続する。
【0030】図4は本実施例の特徴とする手順の位置付
けを示す。同図に示すように、本実施例の特徴的部分1
5は半導体製造装置14と、これとホストコンピュータ
17を接続する図1のクロス接続16との間にあり、ク
ロス接続16を介してホストコンピュータ17と接続し
ている。
【0031】図5は通常のRS−232−Cにおける通
信手順を示す。通常のRS−232−Cに基づく通信で
は、お互いの流量制御を期待しているため、送信要求を
通信相手から受信しない限りデータの受信は開始されな
い。同様に、通信相手にデータを送信する場合は必ずデ
ータ末端レディを受信しないと、相手はデータを受信で
きる状態にならない。
【0032】この具体的な通信手順を図5に従い示す。
通信を開始すると、半導体製造装置は、通信相手から送
信要求を受信したか否かを調べ(ステップS2)、送信
要求を受信しているときは通信相手に送信可能であるこ
とを送信(ステップS3)し、データの受信を行う(ス
テップS4)。通信相手から送信要求を受信していなけ
れば、データ端末レディを受信しているか否かを調べ
(ステップS5)、データ端末レディを受信していれば
通信相手にデータ送信できるので通信相手にデータセッ
トレディを送信し(ステップS6)、その後データの送
信を行う(ステップS7)。データ端末レディを受信し
ていなければ、再び一定時間後などに送信要求を受信し
たかの判断(スッテプS2)に戻る。あとは以上の繰り
返しにより半2重通信を継続していく。
【0033】図6は本実施例に係る半導体製造装置とホ
ストコンピュータとを図3のケーブルにより接続した場
合、ホストコンピュータがAA(pin1)、BA(p
in2)、BB(pin3)、AB(pin7)以外の
ピンを用いた通信手順である流量制御を要求していても
通信を成立させるための通信手順を示す。本発明の特徴
的な部分である。SECS−1では半2重通信により通
信を行う2つの機器(ここでは半導体製造装置とホス
ト)の間で交わされるメッセージの送受信の手順まで定
めているため、より一般的なRS−232C規格に示さ
れるCAとCBによる流量制御や、CCやCDによる流
量制御は必要とされない。このことからSECS−1に
準拠した半導体製造装置は、物理的インターフェイスの
他(メッセージ送受信規約等)はSECS−1に準拠し
たホストコンピュータとの通信を、以下の手順によって
成立させることができる。
【0034】つまり図6に示すように、通信を開始する
と、通信相手から送信要求を受信したか否かを調べ(ス
テップS41)、もし送信要求を受信していれば、送信
可能を通信相手に送信し(ステップS42)、その後、
データの受信を行う(ステップS45)。もし送信要求
を受信していなければ、データ端末レデイを通信相手か
ら受信したか調べ(ステップS43)、受信していれば
データセットレディを通信相手に送信し(ステップS4
4)、その後、データの送信を行なう(ステップS4
5)。もしデータ端末レディを受信していなければ、必
要に応じてデータの受信および/または送信を行うこと
ができる(ステップS45)。SECS−1の通信規約
に準拠している限り通信の衝突は起こり得ないため、ス
テップS45においてデータを送信したければすれば良
いし、データを受信している間は送信の要求は起こらな
い。以後は一定時間経過後などにステップS41に戻
り、半2重通信を継続していく。
【0035】次に、上述のような半導体製造装置を利用
することができるデバイス製造例を説明する。図7は微
小デバイス(ICやLSI等の半導体チップ、液晶パネ
ル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の製
造のフローを示す。ステップ31(回路設計)では半導
体デバイスの回路設計を行なう。ステップ32(マスク
製作)では設計した回路パターンを形成したマスクを製
作する。一方、ステップ33(ウエハ製造)ではシリコ
ン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップ34
(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記用意したマ
スクとウエハを用いて、リソグラフィ技術によってウエ
ハ上に実際の回路を形成する。次のステップ35(組み
立て)は後工程と呼ばれ、ステップ34によって作製さ
れたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、ア
ッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケ
ージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステップ
36(検査)では、ステップ35で作製された半導体デ
バイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行な
う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これ
を出荷(ステップ37)する。
【0036】図8は上記ウエハプロセスの詳細なフロー
を示す。ステップ41(酸化)ではウエハの表面を酸化
させる。ステップ42(CVD)ではウエハ表面に絶縁
膜を形成する。ステップ43(電極形成)ではウエハ上
に電極を蒸着によって形成する。ステップ44(イオン
打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ45
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ46(露光)では、露光装置によってマスクの回路
パターンをウエハに焼付露光する。ステップ47(現
像)では露光したウエハを現像する。ステップ48(エ
ッチング)では現像したレジスト像以外の部分を削り取
る。ステップ49(レジスト剥離)では、エッチングが
済んで不要となったレジストを取り除く。これらのステ
ップを繰り返し行なうことによってウエハ上に多重に回
路パターンを形成する。
【0037】本実施形態の製造方法を用いれば、従来は
製造が難しかった高集積度の半導体デバイスを低コスト
で製造することができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ホ
ストコンピュータからコマンドのメッセージを受信した
とき、それに対する返信メッセージに、そのコマンドの
処理が終了するまでの推定時間を1つのパラメータとし
て含ませるようにしたため、ホストコンピュータはその
推定時間に基づいて、例えば別の処理を並行して先に行
なったり、処理の異常を検出する等により、半導体デバ
イスの製造の効率化を図ることができる。また、オペレ
ータはその推定時間を見ることにより、あとどの程度の
時間、半導体製造装置に対するオペレーションが必要な
いのかを判断することができる。
【0039】また、同一の前記コマンドの処理について
以前に要した処理時間を考慮してそのコマンドの処理に
要する推定時間を得るようにしたため、正確な推定時間
を得ることができる。
【0040】また、ホストコンピュータからのコマンド
のメッセージを受信し、その返信メッセージを送信した
後、そのコマンドの処理の進捗状況に関するデータを所
定のタイミングで前記ホストコンピュータに送信するよ
うにしたため、ホストコンピュータは、実際の処理がど
の程度進んでいるかを把握し、これに基づいて半導体デ
バイスの製造を効率的に行うための必要な判断を行うこ
とができる。
【0041】また、RSー232ーC規格において有り
得るすべての信号線を介した入力を監視し、ホストコン
ピュータからAA、BA、BBおよびAB以外の信号線
を介したデータ通信要求があれば、これに応じた返信を
対応する信号線を介して行うことにより通信を成立させ
るようにしたため、半導体製造装置とホストコンピュー
タとの接続ケーブルを、ホストコンピュータが要求する
信号線の接続方法に応じて取り換える必要をなくすこと
ができ、かつケーブルの選択ミスによる通信障害を防止
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例に係る半導体製造装置
における通信と処理内容を示す図である。
【図2】 図1の半導体製造装置を含むシステムの構成
を示す図である。
【図3】 RS−232−Cで用いられる全ての流量制
御に対応したクロスケーブルの配線を示す図である。
【図4】 本発明の第2の実施例に係る半導体製造装置
の特徴とする手順の位置付けを示す図である。
【図5】 通常のRS−232−Cにおける通信手順を
示す図である。
【図6】 図4の半導体製造装置とホストコンピュータ
とを図3のケーブルにより接続した場合に通信を成立さ
せるための通信手順を示す図である。
【図7】 本発明に適用し得る微小デバイスの製造のフ
ローを示す図である。
【図8】 図7中のウエハプロセスの詳細なフローを示
す図である。
【符号の説明】
1:リモートコマンドメッセージ、3,5:イベントリ
ポートメッセージ、9:メッセージ、10:応答、1
4,21:半導体製造装置、15:特徴的部分、16:
クロス接続、17,22:ホストコンピュータ、18:
リモートコマンド処理時間テーブル、19〜21:テー
ブル。

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ホストコンピュータからの送信メッセー
    ジに対し、必要であれば返信メッセージを返送するプロ
    トコルをサポートしたインターフェイスを有する情報処
    理手段を備え、この情報処理手段により動作が制御され
    る半導体製造装置において、前記情報処理手段は、前記
    ホストコンピュータからコマンドのメッセージを受信し
    たときは、前記返信メッセージに、そのコマンドの処理
    が終了するまでの推定時間を1つのパラメータとして含
    ませるものであることを特徴とする半導体製造装置。
  2. 【請求項2】 前記情報処理手段は、前記返信メッセー
    ジに前記コマンドの受領の旨および実行可否のデータを
    含ませるものであることを特徴とする請求項1記載の半
    導体製造装置。
  3. 【請求項3】 前記情報処理手段は、同一の前記コマン
    ドの処理について以前に要した処理時間を考慮して前記
    推定時間を得るものであることを特徴とする請求項1ま
    たは2に記載の半導体製造装置。
  4. 【請求項4】 前記情報処理手段は、ある前記コマンド
    の推定処理時間と実際に要した時間を記憶し、これらの
    処理時間に統計処理を施すことにより、そのコマンドの
    より正確な推定処理時間を得るものであることを特徴と
    する請求項3記載の半導体製造装置。
  5. 【請求項5】 前記情報処理手段は、前記ホストコンピ
    ュータからのコマンドのメッセージを受信し、前記返信
    メッセージを送信した後、そのコマンドの処理の進捗状
    況に関するデータを所定のタイミングで前記ホストコン
    ピュータに送信するものであることを特徴とする請求項
    1〜4記載の半導体製造装置。
  6. 【請求項6】 ホストコンピュータからの送信メッセー
    ジに対し、必要であれば返信メッセージを返送するプロ
    トコルをサポートしたインターフェイスを有する情報処
    理手段を備え、この情報処理手段により動作が制御され
    る半導体製造装置において、前記情報処理手段は、前記
    ホストコンピュータからのコマンドのメッセージを受信
    し、前記返信メッセージを送信した後、そのコマンドの
    処理の進捗状況に関するデータを所定のタイミングで前
    記ホストコンピュータに送信するものであることを特徴
    とする半導体製造装置。
  7. 【請求項7】 請求項1〜5のいずれかの半導体製造装
    置を用いて半導体デバイスを製造するデバイス製造方法
    において、ホストコンピュータからコマンドのメッセー
    ジを受信したとき、それに対する返信メッセージに、そ
    のコマンドの処理が終了するまでの推定時間を1つのパ
    ラメータとして含ませて、その返信メッセージをホスト
    コンピュータに送信し、その後、前記コマンドに対応す
    る処理を行って前記半導体製造装置の動作を制御し、半
    導体デバイスを製造することを特徴とするデバイス製造
    方法。
  8. 【請求項8】 前記コマンドの処理の進捗状況に関する
    データを所定のタイミングで前記ホストコンピュータに
    送信することを特徴とする請求項7記載のデバイス製造
    方法。
  9. 【請求項9】 請求項6の半導体製造装置を用いて半導
    体デバイスを製造するデバイス製造方法において、ホス
    トコンピュータからのコマンドのメッセージを受信した
    とき、それに対する必要な返信メッセージを送信し、そ
    の後、そのコマンドの処理を開始し、そしてその処理の
    進捗状況に関するデータを所定のタイミングで前記ホス
    トコンピュータに送信しながら、半導体デバイスを製造
    することを特徴とするデバイス製造方法。
  10. 【請求項10】 ホストコンピュータに対してRS−2
    32−C規格を満足するすべての流量制御に対応したク
    ロスケーブルによる信号線を介して接続された情報処理
    手段を備え、この情報処理手段により動作が制御される
    半導体製造装置において、RSー232ーC規格におい
    て有り得るすべての前記信号線を介した入力を監視し、
    前記ホストコンピュータからAA、BA、BBおよびA
    B以外の信号線を介したデータ通信要求があれば、これ
    に応じた返信を対応する信号線を介して行うことにより
    通信を成立させる手段を具備することを特徴とする半導
    体製造装置。
  11. 【請求項11】 ホストコンピュータとの間の、SEC
    S−1に従った通信インターフェイスを介した通信手段
    を有する情報処理手段を備え、この情報処理手段により
    動作が制御される半導体製造装置において、前記通信イ
    ンターフェイスは、物理的インターフェイスとして、前
    記ホストコンピュターと前記情報処理手段との間の、D
    タイプ25ピンのコネクタによる、AA、BA、BBお
    よびABの信号線による接続に加え、CA、CB、CC
    およびCDのクロスケーブルによる接続とを有し、前記
    通信手段は、前記ホストコンピュータからAA、BA、
    BBおよびAB以外の信号線を介したデータ通信要求が
    あれば、これに応じた返信を対応する信号線を介して行
    うことにより通信を成立させる手段を具備することを特
    徴とする半導体製造装置。
  12. 【請求項12】 ホストコンピュータとの間の、SEC
    S−1に従った通信インターフェイスを介した通信手段
    を有する情報処理手段を備え、この情報処理手段により
    動作が制御される半導体製造装置において、前記通信イ
    ンターフェイスは、物理的インターフェイスとして、前
    記ホストコンピュターと前記情報処理手段との間の、D
    タイプ9ピンのコネクタによる、BA、BBおよびAB
    の信号線による接続に加え、CA、CB、CCおよびC
    Dのクロスケーブルによる接続とを有し、前記通信手段
    は、前記ホストコンピュータからBA、BBおよびAB
    以外の信号線を介したデータ通信要求があれば、これに
    応じた返信を対応する信号線を介して行うことにより通
    信を成立させる手段を具備することを特徴とする半導体
    製造装置。
  13. 【請求項13】 前記通信手段は、前記ホストコンピュ
    ータから送信要求(CA)を受信したときは、これに応
    じた送信可(CB)の返信およびデータ(BB)の受信
    を行い、前記ホストコンピュータからデータ端末レディ
    (CD)を受信したときは、これに応じたデータセット
    レディ(CC)の返信およびデータ(BA)の送信を行
    い、そして、前記ホストコンピュータから送信要求(C
    A)またはデータ端末レディ(CD)のいずれも受信し
    ていないときは、必要に応じて前記ホストコンピュータ
    との間でデータ(BA)の送信またはデータ(BB)の
    受信を行うものであることを特徴とする請求項11また
    は12記載の半導体製造装置。
  14. 【請求項14】 請求項10〜13のいずれかの半導体
    製造装置を用い、そのホストコンピュータとの間でその
    通信手段を介して必要な情報の交換を行い、それらの情
    報に基づいて前記半導体製造装置の動作を制御して、半
    導体デバイスを製造することを特徴とするデバイス製造
    方法。
JP9072806A 1997-03-11 1997-03-11 半導体製造装置及びデバイス製造方法 Pending JPH10256109A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9072806A JPH10256109A (ja) 1997-03-11 1997-03-11 半導体製造装置及びデバイス製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9072806A JPH10256109A (ja) 1997-03-11 1997-03-11 半導体製造装置及びデバイス製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10256109A true JPH10256109A (ja) 1998-09-25

Family

ID=13500019

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9072806A Pending JPH10256109A (ja) 1997-03-11 1997-03-11 半導体製造装置及びデバイス製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10256109A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004081997A1 (ja) * 2003-03-14 2004-09-23 Nikon Corporation 半導体装置製造装置および半導体装置の製造方法
US6879940B1 (en) 2000-09-28 2005-04-12 Credence Systems Corporation Method and apparatus for remotely testing semiconductors

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05218177A (ja) * 1992-02-07 1993-08-27 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体製造管理システム
JPH0745489A (ja) * 1993-08-02 1995-02-14 Hitachi Ltd 半導体製造システム及びネットワークアダプタ
JPH0744616A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Tec Corp メニューオーダー処理装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05218177A (ja) * 1992-02-07 1993-08-27 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体製造管理システム
JPH0744616A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Tec Corp メニューオーダー処理装置
JPH0745489A (ja) * 1993-08-02 1995-02-14 Hitachi Ltd 半導体製造システム及びネットワークアダプタ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6879940B1 (en) 2000-09-28 2005-04-12 Credence Systems Corporation Method and apparatus for remotely testing semiconductors
WO2004081997A1 (ja) * 2003-03-14 2004-09-23 Nikon Corporation 半導体装置製造装置および半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI246708B (en) Remote maintenance system
JPH118170A (ja) 半導体処理システムおよびデバイス製造方法
JP3919294B2 (ja) 産業用機器の遠隔保守システムおよび方法
JP5420131B2 (ja) 処理モジュールのためのプラグアンドプレイセンサインテグレーション
US6889014B2 (en) Exposure system, device production method, semiconductor production factory, and exposure apparatus maintenance method
EP1217485A2 (en) Industrial machine management system
JPH1097966A (ja) 産業用機器の遠隔保守システム及びこれを利用した生産方法
JPH10256109A (ja) 半導体製造装置及びデバイス製造方法
JP2005339571A (ja) 産業用機器の遠隔保守システムおよび方法、ならびにデバイス生産方法
JP4886125B2 (ja) 半導体製造装置及びその制御方法
JP2001284231A (ja) 露光装置及びエラー発生時のパターンで処理を振り分ける方法
JP2001291650A (ja) 半導体製造装置及びその保守方法並びに同装置を用いた半導体デバイス製造方法及び半導体製造工場
JP2001297966A (ja) 露光方法、露光システム、露光装置、半導体デバイス製造方法、半導体製造工場、および露光装置の保守方法
JP4756749B2 (ja) デバイス製造装置およびデバイス製造方法
JPH10335196A (ja) 半導体製造装置及び方法
JP2001319858A (ja) アライメントマーク位置計測方法、露光装置、半導体デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法
JPH08202657A (ja) ネットワーク管理システム
JP2003133208A (ja) 複数ユニットを有する装置、露光装置、半導体製造装置およびデバイス製造方法
JP2001306282A (ja) 印刷装置
JP2001338854A (ja) 半導体製造装置、半導体製造装置のコンソール部、半導体製造システムおよびデバイス製造方法
JP2000306815A (ja) 露光装置および露光装置システム
JP2003068614A (ja) 露光装置
JP2003037046A (ja) 露光装置および露光方法
JP2001267228A (ja) 半導体製造装置用エラー管理システム
JP2001291756A (ja) 露光装置および露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040407

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040811