JPH10252872A - バックラッシュシムの選択方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】高精度な測定をすることができ、測定が簡単で
測定時間を短縮することが可能で、適正なバックラッシ
ュを有するベベルギア機構を得ることができるバックラ
ッシュシムの選択方法およびその装置を提供する。 【解決手段】レーザ光投光部１２の発光素子１４からレ
ーザ光を照射し、ベベルギア７０の軸部７１によって陰
となる長さをレーザ光受光部１６の受光素子で測定する
ことによって前記軸部７１の直径を測定する。一方、一
対の測定子２２ａ、２２ｂを円錐ころ軸受７２の内周に
当接させ、この測定子２２ａ、２２ｂによって前記レー
ザ光が遮光される部分の長さを前記レーザ光受光部１６
で測定することによって前記円錐ころ軸受７２の内径を
測定する。前記軸部７１の直径と前記円錐ころ軸受７２
の内径との差である圧入代に所定の常数を乗じて前記円
錐ころ軸受７２にベベルギア７０が圧入されたときの軸
線方向の伸びを求め、必要とするバックラッシュシムの
厚さを得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、自動車の
トランスファ装置やディファレンシャル装置のベベルギ
ア機構に組み込まれるバックラッシュシムに必要とされ
る厚さを選択するための方法およびその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、自動車のトランスファ装置やディ
ファレンシャル装置に組み込まれるベベルギア機構に
は、２つの噛合するベベルギアの軸部に円錐ころ軸受が
装着されている。この場合、それぞれのベベルギアのバ
ックラッシュを調節するために、円錐ころ軸受とケース
との間に適当な厚さのバックラッシュシムを装着してい
る。

【０００３】このバックラッシュシムに必要とされる厚
さを測定するために、例えば、特開昭６３−１８７６７
号公報にバックラッシュシムの選択方法が開示されてい
る。この方法によれば、図８Ａに示すように、第１のギ
ア１と第２のギア２とを噛合させ、第２のギア２の軸の
中心から第１のギア１の底面までの寸法を測定してこれ
をＺとし、第２のギア２が収納されるケース３の空間部
の中心から、円錐ころ軸受４と当接する前記ケース３の
面５までの寸法をＹとし、前記第１のギア１に円錐ころ
軸受４を覆わせた状態で測定した第１のギア１の底面か
ら、前記ケース３と当接する前記円錐ころ軸受４の面６
までの寸法をＸとすると、 ｔ＝Ｙ＋Ｚ−Ｘ で求められる厚さｔのシム７を適宣選択して、図８Ｂに
示すように、装置に組み付ければ、所望のバックラッシ
ュが得られる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術では、前記Ｘ、Ｙ、Ｚの寸法測定から明らかな通
り、測定する個所が３カ所あり、それぞれ個別に測定す
る必要があるため、測定に時間がかかると共に、それぞ
れの箇所に専用の測定装置等を用いなければならず、製
造装置のコストが高騰するという問題がある。また、第
１のギア１、第２のギア２をケース３に装着すると、円
錐ころ軸受４には軸方向にスラスト荷重が作用し、第１
のギア１および第２のギア２が回転すると、このスラス
ト荷重によって円錐ころ軸受４のころと内外輪がなじん
で該円錐ころ軸受４の軸方向の長さがわずかに縮少する
ため、実装後の使用状態において適正なバックラッシュ
が得られなくなるという欠点が指摘されている。このよ
うに、適正なバックラッシュが得られないと、運転中に
異音が発生したり、あるいは耐久性が劣るという不都合
が顕在化する。

【０００５】そこで、特開昭３−１６３３２７号公報で
は、円錐ころ軸受の外輪をケースに圧入し、外輪に予圧
を与えた状態で内輪を回転させ、ころと内輪および外輪
とを馴染ませた後、内輪の端面とケース基準点との間の
寸法を測定し、この測定値とベベルギアの軸方向の基準
点から円錐ころ軸受の外輪の端面までの寸法との差を計
算してシムの好ましい厚さを決定するバックラッシュシ
ムの選択方法が提案されている。

【０００６】この場合、内輪にベベルギアを装着してい
ない状態で測定するため、ベベルギアを内輪に圧入した
ときに発生する円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを予め補
正値として求めておき、この補正値を前記計算結果から
差し引いて実際の好適なシム厚としている。

【０００７】本発明では、前記の従来技術を前提に、さ
らに、小型のベベルギア機構のように高い精度が要求さ
れる場合にも適用可能であり、簡単に且つ短時間に測定
することが可能であり、しかも、適正なバックラッシュ
を得ることができるバックラッシュシムの選択方法およ
びその装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、円錐ころ軸受の内径と、前記円錐ころ
軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径を測定する工
程と、前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部
の直径との差である圧入代を求める工程と、前記圧入代
に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸
びを求める工程と、前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円
錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ
軸受にベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円
錐ころ軸受の軸線方向の長さを得る工程と、前記伸びが
発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベ
ルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐
ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とする
バックラッシュシムの厚さを得る工程と、予め複数用意
された異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必
要とする厚さのバックラッシュシムを選択して前記ベベ
ルギア機構に取り付ける工程と、を有することを特徴と
する。

【０００９】本発明によれば、測定個所が少なく、測定
時間を短縮することが可能となり、好適である。

【００１０】この場合、前記円錐ころ軸受の内径と前記
ベベルギアの軸部の直径を測定する工程は、レーザ光投
光部とレーザ光受光部との間に、前記ベベルギアの軸部
を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して
直交する方向に配置する工程と、前記円錐ころ軸受の内
部に、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成され
た一対の測定子を挿通させ、前記円錐ころ軸受を、前記
ベベルギアより前記レーザ光受光部側に、前記円錐ころ
軸受の軸線が前記ベベルギアの軸線と平行で且つ前記レ
ーザ光投光部から照射されるレーザ光を遮光しないよう
に配置する工程と、前記レーザ光投光部から照射された
レーザ光を前記レーザ光受光部で受光し、前記ベベルギ
アの軸部によりレーザ光が遮光されて陰となる長さを前
記レーザ光受光部で測定することにより、前記軸部の直
径を測定する工程と、前記一対の測定子を互いに離間す
る方向に変位させ、該測定子を前記円錐ころ軸受の内周
面に当接させる工程と、前記測定子によって前記レーザ
光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測
定することにより、前記円錐ころ軸受の内径を測定する
工程と、を有すると、ベベルギアの軸部の直径と円錐こ
ろ軸受の内径とが１つの装置で測定することができ、選
択装置のコストを低廉化することが可能となり、好まし
い。

【００１１】また、この場合、前記圧入代に乗じられる
所定の常数は、前記圧入代と前記円錐ころ軸受の軸線方
向の伸びとの関係から求められる常数であると、計算さ
れた円錐ころ軸受の軸線方向の長さの誤差を減少させる
ことができ、一層好適である。

【００１２】また、本発明は、レーザ光投光部と、前記
レーザ光投光部から照射されたレーザ光を受光するレー
ザ光受光部と、前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光
部との間隙に設けられ、円錐ころ軸受の内周に挿通し、
互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された一対
の棒状の測定子と、前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベ
ルギアの軸部の直径から必要とするバックラッシュシム
の厚さを求める演算部と、複数のバックラッシュシムを
蓄えておくストッカと、を備え、前記レーザ光投光部と
前記レーザ光受光部との間にピニオンギアの軸部を配置
してレーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光
受光部で測定することにより前記軸部の直径を測定し、
前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させて該
測定子を前記円錐ころ軸受の内周に当接させ、前記測定
子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる長さを前
記レーザ光受光部で測定することを特徴とする。

【００１３】本発明によれば、前記レーザ光投光部と前
記レーザ光受光部との間にピニオンギアの軸部を前記レ
ーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する
方向に配置し、前記レーザ光投光部から照射されたレー
ザ光を前記レーザ光受光部により受光する。そして、前
記軸部によって陰となる長さを前記レーザ光受光部で測
定することによって前記軸部の直径を測定する。一方、
前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させて該
測定子を円錐ころ軸受の内周に当接させ、この測定子に
よって前記レーザ光が遮光されて陰となる部分の長さを
前記レーザ光受光部で測定することによって前記円錐こ
ろ軸受の内径を測定する。次に、演算部により前記円錐
ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差で
ある圧入代を求め、該圧入代に所定の常数を乗じて前記
円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求める。次いで、前記
円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方向の
長さとを加算し、前記円錐ころ軸受にベベルギアを圧入
して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の
長さを得る。次に、前記伸びが発生したときの円錐ころ
軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッ
シュシム取付面から前記円錐ころ軸受取付面までの寸法
との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを
得る。予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュ
シムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシム
を選択して前記ベベルギア機構に取り付ける。

【００１４】この場合、前記一対の測定子には互いに離
間する方向に突出した突部が設けられ、前記突部により
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を遮光する
と、前記測定子によって前記円錐ころ軸受の内径を測定
する際、該円錐ころ軸受および前記ピニオンギアの軸部
の直径に誤差があっても、確実にレーザ光を遮光して前
記円錐ころ軸受の内径を測定することができ、好適であ
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】本発明に係るバックラッシュシム
の選択方法について、それを実施する装置との関係にお
いて、好適な実施の形態を挙げ、添付の図面を参照しな
がら以下詳細に説明する。

【００１６】図１において、参照符号１０は、本実施の
形態に係るバックラッシュシムの選択装置を示す。この
選択装置１０は長尺に形成されたレーザ光投光部１２を
備え、該レーザ光投光部１２には複数の発光素子１４が
所定間隔毎に１列に配設されている。それぞれの発光素
子１４から発光されるレーザ光は互いに平行である。前
記選択装置１０には前記レーザ光投光部１２に対向して
配設され、長尺に形成されたレーザ光受光部１６が備え
られ、該レーザ光受光部１６には前記複数の発光素子１
４から発光されたレーザ光を受光する複数の受光素子１
８が所定間隔毎に１列に配設されている（図３参照）。
前記レーザ光受光部１６にはコンピュータ等を含む演算
部３０が接続され、前記レーザ光受光部１６の出力信号
が図示しないＡ／Ｄ変換器を介して前記演算部３０に入
力されるように構成されている。前記レーザ光受光部１
６の近傍にはエアチャック等の把持手段２０が配設さ
れ、該把持手段２０は一対の棒状の測定子２２ａ、２２
ｂを有する。それぞれの測定子２２ａ、２２ｂは前記把
持手段２０を構成する図示しないシリンダが付勢される
ことにより、図１中、矢印で示すように、互いに接近、
離間可能である。前記測定子２２ａ、２２ｂの端部は互
いに離間する方向に厚さｔだけ突出した突部２４ａ、２
４ｂが形成されている（図３参照）。前記突部２４ａ、
２４ｂは前記レーザ光投光部１２から照射されるレーザ
光を遮断する位置に配設される。この場合、前記突部２
４ａ、２４ｂは、後述する円錐ころ軸受７２の内部に画
成された円形状の空間に挿通可能である。なお、前記把
持手段２０には該円錐ころ軸受７２を位置決めするため
に図示しない位置決め手段が設けられる。さらに、前記
レーザ光投光部１２と前記レーザ光受光部１６との間に
は前記把持手段２０より前記レーザ光投光部１２側に後
述するベベルギア７０を位置決めする位置決め手段（図
示せず）が配設される。

【００１７】前記選択装置１０はさらにストッカ３２を
備える。前記ストッカ３２には異なる厚さのバックラッ
シュシム３４が多数蓄えられ、所定の厚さのバックラッ
シュシム３４が選択されたとき、図示しないロボットを
介して該選択に係る前記バックラッシュシム３４が移送
され、後述するトランスファ装置４０に組み付けられ
る。

【００１８】本実施の形態に係るバックラッシュシムの
選択装置１０は以上のように構成されるものであり、次
に前記選択装置１０によって選択されたバックラッシュ
シム３４を組み込むためのベベルギア機構を含むトラン
スファ装置４０について、図４を参照して説明する。

【００１９】このトランスファ装置４０は略Ｌ字状に形
成された中空のケーシング５０を備え、該ケーシング５
０には孔部５０ａ〜５０ｄが画成され、２つの孔部５０
ａ、５０ｂは蓋部材５２、５４によって閉蓋される。前
記ケーシング５０の内部に画成された空間部５５にはベ
ベルギア５７がころ軸受５８、円錐ころ軸受６０によっ
て回転自在に支持される。前記ベベルギア５７は一端部
に歯車６２が形成された入力軸５６と、該入力軸５６の
他端部に固着された傘歯車６４とを有し、前記入力軸５
６の外周に形成された段部５６ａと前記傘歯車６４との
間隙にはシム６５が介装される。前記傘歯車６４は円錐
ころ軸受６６によって前記蓋部材５２に回転自在に支持
され、該円錐ころ軸受６６と蓋部材５２の段部との間隙
にはシム６７が介装される。

【００２０】前記ケーシング５０の内部には前記入力軸
５６の軸芯と直交してベベルギア７０が設けられ、該ベ
ベルギア７０は出力軸を構成する長尺な軸部７１と、該
軸部７１の一端部に一体的に形成された傘歯車７３とを
含み、該傘歯車７３は前記傘歯車６４に噛合する。前記
ベベルギア７０は円錐ころ軸受７２、７４によって回転
自在に支持される。この場合、前記円錐ころ軸受７２の
一端部は前記ケーシング５０の当接面７５に当接する。
また、前記円錐ころ軸受７２に係合する前記軸部７１の
直径はｌ₁ である。

【００２１】前記円錐ころ軸受７２と前記傘歯車７３と
の間隙にはバックラッシュシム３４が介装され、該バッ
クラッシュシム３４は前記傘歯車７３に形成された当接
面７７に当接する。図３に前記円錐ころ軸受７２の詳細
を示す。すなわち、前記円錐ころ軸受７２はリング状の
インナレース７６を有し、該インナレース７６の内径は
ｌ₂ である。前記インナレース７６の外周はテーパ状に
形成され、複数の円柱形状のころ８０が転動自在に係合
する。前記円錐ころ軸受７２にはガイド部材８２が設け
られ、該ガイド部材８２に複数画成され互いに所定間隔
離間した孔部８３には前記ころ８０が挿入される。従っ
て、それぞれのころ８０が前記孔部８３の相互の離間距
離に対応して互いに所定角度ずつ偏位して位置決めされ
る。前記円錐ころ軸受７２には前記複数のころ８０の外
側にアウタレース８４が係合する。従って、前記インナ
レース７６は前記アウタレース８４に対して回転自在で
ある。

【００２２】前記軸部７１の端部は、図４に示すよう
に、前記孔部５０ｄから突出して前記ベベルギア７０と
図示しない車軸等とを接続するためのコンパニオンフラ
ンジ８８が固着される。該コンパニオンフランジ８８と
前記孔部５０ｄを形成する壁部との間にはオイルシール
９０が設けられる。すなわち、該オイルシール９０は前
記トランスファ装置４０内に導入された潤滑油等が該ト
ランスファ装置４０から漏洩することを防止している。

【００２３】本実施の形態で使用されるトランスファ装
置４０は以上のように構成されるものであり、次に、本
実施の形態に係るバックラッシュシムの選択方法につい
て説明する。

【００２４】先ず、ベベルギア７０が選択装置１０のレ
ーザ光投光部１２とレーザ光受光部１６との間に配設さ
れる（図１、図２参照）。このとき、ベベルギア７０の
軸線はレーザ光投光部１２から照射されるレーザ光の方
向に対して直交し、且つ前記ベベルギア７０の軸部７１
によって前記レーザ光の一部が遮断されるように配設さ
れる。

【００２５】次に、円錐ころ軸受７２を、その内部に測
定子２２ａ、２２ｂが挿通されるように配置する。この
とき、円錐ころ軸受７２は、図３に示すように、レーザ
光投光部１２から照射されたレーザ光が遮光されないよ
うに配置される。従って、発光素子１４から見たとき、
前記測定子２２ａ、２２ｂはベベルギア７０の軸部７１
の陰の中にある。

【００２６】次いで、レーザ光投光部１２を付勢して発
光素子１４からレーザ光を照射すると、該レーザ光は、
図２に示すように、その一部がベベルギア７０の軸部７
１によって遮光され、残りのレーザ光はレーザ光受光部
１６を構成する受光素子１８に入射される。レーザ光受
光部１６から前記軸部７１によって陰となり、レーザ光
が受光されない受光素子１８の数情報を演算部３０に出
力し、該演算部３０ではこの受光されない受光素子１８
の数と受光素子１８相互間の離間距離とから前記軸部７
１によって陰となった部分の長さを求める（図３参
照）。これによって求められた長さは、軸部７１の直径
ｌ₁ に相当する（図２参照）。

【００２７】次に、把持手段２０を構成する図示しない
シリンダを付勢して測定子２２ａ、２２ｂを互いに離間
する方向に変位させ（図５、図６参照）、測定子２２
ａ、２２ｂが円錐ころ軸受７２のインナレース７６の内
周面７８に当接すると、該測定子２２ａ、２２ｂの変位
が停止する。このとき、前記測定子２２ａ、２２ｂの突
部２４ａ、２４ｂの外側はレーザ光投光部１２側から見
たとき、ベベルギア７０の軸部７１の直径より外方に突
出することになる。そして、レーザ光受光部１６の受光
素子１８によって受光されるレーザ光がこの突出部分に
よって遮光されて陰となる。従って、このレーザ光が受
光されない受光素子１８の数情報が演算部３０に出力さ
れれば、該演算部３０ではこの数情報に相互の受光素子
１８間の距離を乗算する。従って、これによって求めら
れた長さは、インナレース７６の内径ｌ₂ に測定子２２
ａ、２２ｂの突部２４ａ、２４ｂのそれぞれの厚さｔが
加わった長さ（ｌ₂ ＋２ｔ）である。この厚さｔは、図
３に示すように、既存の値であるため、インナレース７
６の内径ｌ₂ は長さ（ｌ₂ ＋２ｔ）から２ｔを引くだけ
で求められる。

【００２８】次に、演算部３０ではインナレース７６と
ベベルギア７０の軸部７１との間隔である圧入代ａを計
算する。この圧入代ａは、ａ＝ｌ₁ −ｌ₂で求められ
る。

【００２９】次いで、該圧入代ａからバックラッシュシ
ム３４の厚さを計算する。この場合、円錐ころ軸受７２
にベベルギア７０の軸部７１が圧入されると、インナレ
ース７６の直径が若干大きくなる。しかも、前記インナ
レース７６の外形はテーパ状に形成されているため、円
錐ころ軸受７２は、図４に示すように、その軸線方向に
伸びｂが発生する。この伸びｂは圧入代ａに対応して変
化する。この圧入代ａと円錐ころ軸受７２の軸線方向の
伸びｂとの関係は、図７に示すように、実験により求め
られる。そして、伸びｂは圧入代ａに比例する。すなわ
ち、圧入代ａに図７のグラフの傾きから求められる常数
Ｃを乗算すると、伸びｂが求められる。

【００３０】円錐ころ軸受７２に伸びｂが発生していな
い状態における該円錐ころ軸受７２の軸線方向の長さに
前記伸びｂを加算すると、ベベルギア７０を円錐ころ軸
受７２に圧入したときの円錐ころ軸受７２の軸線方向の
長さが求められる。この長さと、予め測定されたベベル
ギア７０のバックラッシュシム３４の当接面７７からケ
ーシング５０に形成されたアウタレース８４の当接面７
５までの寸法ｄとの差を計算すると（図４参照）、必要
とするバックラッシュシム３４の厚さが求められる。そ
して、以上のようにしてバックラッシュシム３４の厚さ
が求められると、予めストッカ３２に複数蓄えられた異
なる厚さのバックラッシュシム３４の中から必要な厚さ
のバックラッシュシム３４を選択してトランスファ装置
４０に取り付け、測定された円錐ころ軸受７２とベベル
ギア７０をトランスファ装置４０に取り付ける。このよ
うにして適正なバックラッシュを生じるトランスファ装
置４０が製造される。

【００３１】

【発明の効果】本発明に係るバックラッシュシムの選択
方法およびその装置によれば、以下のような効果ならび
に利点が得られる。

【００３２】一つの装置でピニオンギアの軸部の直径と
円錐ころ軸受の内径とを測定するため、測定装置を複数
用意する必要がなく、選択装置のコストを低廉化し、結
局、生産コストを全体として低廉化することが可能で、
また、軸部の直径と円錐ころ軸受の内径とを連続的に測
定するため、測定時間を短縮することができ、生産効率
が向上する。

【００３３】また、圧入代に乗じる常数を圧入代と円錐
ころ軸受の軸線方向の伸びとの関係から求めているた
め、高精度な測定が可能で、例えば、小型のベベルギア
機構のように、高い精度が要求される場合にも適正なバ
ックラッシュシムの厚さを求め、この厚さのバックラッ
シュシムを選択してベベルギア機構に取り付けることに
より所望のバックラッシュを生起するベベルギア機構を
得ることができ、結局、ベベルギア機構の品質が向上す
る。

【００３４】さらに、測定子に突部が設けられ、該突部
がレーザ光を遮光するため、円錐ころ軸受の内径を確実
に測定することができ、測定不良が発生する懸念もな
い。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係るバックラッシュシム
の選択装置を示す概略斜視図である。

【図２】図１の選択装置の概略平面図である。

【図３】図１の選択装置の測定子およびレーザ光受光部
を示す概略側面図である。

【図４】本実施の形態に使用されるトランスファ装置の
概略縦断面図である。

【図５】図２の選択装置の使用状態を示す概略平面図で
ある。

【図６】図３の選択装置の測定子の使用状態を示す概略
側面図である。

【図７】本実施の形態の円錐ころ軸受の圧入代と伸びと
の関係を示すグラフである。

【図８】従来技術に使用されるトランスファ装置を示
し、図８Ａは概略分解縦断面図であり、図８Ｂは概略縦
断面図である。

【符号の説明】

１０…選択装置 １２…レーザ光投光
部 １６…レーザ光受光部 ２２ａ、２２ｂ…測
定子 ２４ａ、２４ｂ…突部 ３０…演算部 ３２…ストッカ ３４…バックラッシ
ュシム ４０…トランスファ装置 ７０…ベベルギア ７１…軸部 ７２…円錐ころ軸受

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】円錐ころ軸受の内径と、前記円錐ころ軸受
   に圧入されるベベルギアの軸部の直径を測定する工程
   と、 前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径
   との差である圧入代を求める工程と、 前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸
   線方向の伸びを求める工程と、 前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方
   向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギ
   アを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸
   線方向の長さを得る工程と、 前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長
   さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面か
   ら前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、
   必要とするバックラッシュシムの厚さを得る工程と、 予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュシムの
   中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムを選択
   して前記ベベルギア機構に取り付ける工程と、 を有することを特徴とするバックラッシュシムの選択方
   法。
2. 【請求項２】請求項１記載のバックラッシュシムの選択
   方法において、 前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径
   を測定する工程は、 レーザ光投光部とレーザ光受光部との間に、前記ベベル
   ギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ
   光に対して直交する方向に配置する工程と、 前記円錐ころ軸受の内部に、互いに平行で且つ互いに接
   近離間可能に構成された一対の測定子を挿通させ、前記
   円錐ころ軸受を、前記ベベルギアより前記レーザ光受光
   部側に、前記円錐ころ軸受の軸線が前記ベベルギアの軸
   線と平行で且つ前記レーザ光投光部から照射されるレー
   ザ光を遮光しないように配置する工程と、 前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レー
   ザ光受光部で受光し、前記ベベルギアの軸部によりレー
   ザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で
   測定することにより、前記軸部の直径を測定する工程
   と、 前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させ、該
   測定子を前記円錐ころ軸受の内周面に当接させる工程
   と、 前記測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる
   長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記
   円錐ころ軸受の内径を測定する工程と、 を有することを特徴とするバックラッシュシムの選択方
   法。
3. 【請求項３】請求項１または２記載のバックラッシュシ
   ムの選択方法において、 前記圧入代に乗じられる所定の常数は、前記圧入代と前
   記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びとの関係から求められ
   る常数であることを特徴とするバックラッシュシムの選
   択方法。
4. 【請求項４】レーザ光投光部と、 前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を受光する
   レーザ光受光部と、 前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間隙に設
   けられ、円錐ころ軸受の内周に挿通し、互いに平行で且
   つ互いに接近離間可能に構成された一対の棒状の測定子
   と、 前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径
   から必要とするバックラッシュシムの厚さを求める演算
   部と、 複数のバックラッシュシムを蓄えておくストッカと、 を備え、前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との
   間にピニオンギアの軸部を配置してレーザ光が遮光され
   て陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することに
   より前記軸部の直径を測定し、前記一対の測定子を互い
   に離間する方向に変位させて該測定子を前記円錐ころ軸
   受の内周に当接させ、前記測定子によって前記レーザ光
   が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定
   することを特徴とするバックラッシュシムの選択装置。
5. 【請求項５】請求項４記載のバックラッシュシムの選択
   装置において、 前記一対の測定子には互いに離間する方向に突出した突
   部が設けられ、前記突部により前記レーザ光投光部から
   照射されたレーザ光を遮光することを特徴とするバック
   ラッシュシムの選択装置。