JPH1022244A - 半導体ウェハの洗浄用バスケット - Google Patents

半導体ウェハの洗浄用バスケット

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JPH1022244A
JPH1022244A JP20406896A JP20406896A JPH1022244A JP H1022244 A JPH1022244 A JP H1022244A JP 20406896 A JP20406896 A JP 20406896A JP 20406896 A JP20406896 A JP 20406896A JP H1022244 A JPH1022244 A JP H1022244A
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semiconductor
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Toshiya Fukunaga
寿也 福永
Katsutoshi Kuroki
勝利 黒木
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 スライス台から脱落した半導体ウェハまたは
半導体片を落下しないように受け止め、洗浄工程におい
てスライス台から剥離するまで半導体ウェハを保持する
ことができる半導体ウェハの洗浄用バスケットを提供す
る。 【解決手段】 2枚の側壁21、22を立設する。側壁
21、22の間に2本の側部保持棒31、32を水平に
設ける。側壁21、22の下部の間に1本の底部保持棒
33を水平に設ける。挟持棒51、52の端部51a、
51b、52a、52bを側部保持棒31、32により
保持する。挟持棒51、52を側部保持棒31、32に
沿って水平移動させることにより、半導体ウェハを挟持
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、ワイヤーソーにより切
断された半導体ウェハを、砥粒や油脂分を除去する洗浄
工程において保持する半導体ウェハの洗浄用バスケット
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、ワイヤーソーで切断された半導体
ウェハは、カーボン製などのスライス台にその周縁部が
接着された状態で横たえ、リフターにより吊下されて洗
浄槽に運ばれる。この半導体ウェハは、洗浄漕内で洗浄
されて砥粒や油脂分が除去された後、最終的にアルカリ
洗浄水によりスライス台から剥離され、洗浄漕内に堆積
させて回収していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このワ
イヤーソーによる切断においては、半導体ウェハの結晶
方位を整えるために、半導体インゴットの切断方向を調
整して切断する必要がある。このため、その両端部分
(耳)が中途半端な形で切断され、この中途半端な部分
の一部は必ず脱落することになる。また、砥粒および油
脂分を除去する洗浄中に数枚の半導体ウェハがスライス
台から脱落する場合がある。これらの脱落した半導体ウ
ェハまたは半導体片は、洗浄槽内に落下して割れてしま
ったり、洗浄装置に不具合を発生させるという問題点が
あった。また、洗浄漕内で半導体ウェハをスライス台か
ら剥離させると、支えがなくなり将棋倒し状態で倒れて
しまい、その後にウェハキャリアへ移し替えるための回
収作業の効率が悪いという問題点があった。本発明は、
上記問題に鑑みてなされたもので、スライス台から脱落
した半導体ウェハまたは半導体片を落下しないように受
け止め、洗浄工程においてスライス台から剥離するまで
半導体ウェハを保持することができる半導体ウェハの洗
浄用バスケットを提供することを目的とするものであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】このため本発明では、上
部にスライス台の両端部を載置する少なくとも2枚の立
設された側壁と、該両側壁の側部の間に略水平に設けら
れると共に、内部に収納する半導体ウェハの直径より僅
かに大きい幅に配置された少なくとも2本の側部保持棒
と、前記両側壁の下部の間に形成される底面と、前記側
部保持棒に沿って水平移動可能に設けられた2本の挟持
棒とからなり、該挟持棒を移動させることにより半導体
ウェハを挟持できるようにしたものである。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明の半導体ウェハの洗浄用バ
スケットは、ワイヤーソーにより切断された半導体ウェ
ハに付着した砥粒や油脂分を洗浄して除去する洗浄工程
において使用するものであり、スライス台に固着した状
態の半導体ウェハを収納して保持し、除去洗浄において
スライス台から脱落した半導体ウェハまたは半導体片を
落下させることなく受け止めるための保持棒と底面網を
備え、半導体ウェハがスライス台から剥離した際に将棋
倒し状態で倒れ込まないように挟持して半導体ウェハを
支える挟持棒を備えたものである。本発明の半導体ウェ
ハの洗浄用バスケットに収納した状態で、ワイヤーソー
により切断された半導体ウェハを洗浄し、最終洗浄でス
ライス台から剥離させ、さらにスライス台を除去してそ
の洗浄漕から引き上げると、半導体ウェハおよび半導体
片を重なった状態で回収することができる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明に係る洗浄用バスケットの斜視図、
図2はバスケット内に半導体ウェハを収納してスライス
台から剥離させる状態を示す側断面図、図3は図1のA
−A線における断面図である。
【0007】図1に示すように、本実施例の洗浄用バス
ケット1は、立設された2枚の側壁21、22と、この
側壁21、22の両側の間に水平に設けられた2本の側
部保持棒31、32と、側壁21、22の下部の間に水
平に設けられた1本の底部保持棒33と、両側壁の下端
部の間に載置された底網6と、両端が側部保持棒31、
32とに保持され、この側部保持棒31、32に沿って
水平移動可能に設けられた2本の挟持棒51、52とか
ら構成されている。
【0008】図1に示すように、側壁21、22の頂部
にはそれぞれ切り欠き21a、22aが設けられ、図2
(a)に示すように、スライス台11の両端部をこの切
り欠き21a、22aに載置して保持するように設けら
れている。これにより、洗浄用バスケット1内に収納さ
れた半導体ウェハ10の位置決めがなされる。また、側
壁21、22の外側面には、それぞれリフター用爪21
b、22bが外側に突出して設けられ、半導体ウェハ1
0を洗浄漕間で移動させる際は、このリフター用爪21
b、22bを保持して洗浄用バスケット1ごと搬送す
る。
【0009】図3に示すように、側部保持棒31、32
はその間隔が洗浄用バスケット1内部に収納する半導体
ウェハ10の直径より僅かに大きい幅に配置され、上記
するように位置決めして収納された半導体ウェハ10の
周縁面がこの側部保持棒31、32に接触しないように
設けられている。
【0010】また、図2(a)および図3に示すよう
に、底部保持棒33は、スライス台11に固着された状
態で洗浄用バスケット1内に収納された半導体ウェハ1
0の下端部10aから間隔をもって配置されている。こ
れによりスライス台11に固着された状態の半導体ウェ
ハ10は、その周縁面がスライス台11以外に接触する
ことなく洗浄用バスケット1内で保持されている。した
がって、洗浄において半導体ウェハ10を全面くまなく
洗浄でき、振動等を与えても洗浄用バスケット1の部品
との接触による損傷を受けることはない。さらに、図2
(b)および図3に示すように、半導体ウェハ10がス
ライス台11から剥離した際は、その下端部10aがこ
の底部保持棒33により受け止められることになる。
【0011】図1に示すように、2本の挟持棒51及び
挟持棒52のそれぞれの端部51a、51b、52a、
52bは環状に形成され、それぞれの端部に側部保持棒
31、32が挿通されることにより水平移動可能に設け
られている。また、それぞれの端部の外側には固定ボル
ト53が設けられ、図2(a)に示すように、半導体ウ
ェハ10の枚数により挟持棒51、52の位置決めをし
て、これらを固定することにより半導体ウェハ10を挟
持して、図2(b)に示すように、スライス台から剥離
した際に将棋倒しに倒れ込まないようにする。
【0012】さらに、図1に示すように、挟持棒51、
52の半導体ウェハ10との接触面側には弾力性のある
突起54がそれぞれ2つずつ設けられ、洗浄中に半導体
ウェハ10に振動を与えても、その接触により破損する
ことを防止している。
【0013】図1に示すように、底網6は底部保持棒3
3の下方に位置し、両側壁21、22の下端部に固定さ
れいる。この底網6は半導体インゴットの両端部(耳)
の中途半端な形状の半導体片が、それぞれの保持棒の間
をくぐって脱落しても洗浄槽内に落下しないように受け
止める。
【0014】
【発明の効果】本発明では以上のように構成したので、
スライス台から脱落した半導体ウェハまたは半導体片を
落下しないように受け止め、洗浄工程において半導体ウ
ェハがスライス台から剥離するまでこれを保持するた
め、ワイヤーソーによる切断の後の洗浄を確実に行い、
さらにその後の半導体ウェハの回収を容易に行うことが
できるという優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る洗浄用バスケットの斜視図であ
る。
【図2】バスケット内に半導体ウェハを収納してスライ
ス台から剥離させる状態を示す側断面図である。
【図3】図1のA−A線における断面図である。
【符号の説明】
1‥‥‥洗浄用バスケット 21‥‥側壁 21a‥切り欠き 21b‥リフター用爪 22‥‥側壁 22a‥切り欠き 22b‥リフター用爪 31‥‥側部保持棒 32‥‥側部保持棒 33‥‥底部保持棒 51‥‥挟持棒 51a‥端部 51b‥端部 52‥‥挟持棒 52a‥端部 52b‥端部 53‥‥固定ボルト 54‥‥突起 6‥‥‥底網 10‥‥半導体ウェハ 10a‥下端部 11‥‥スライス台

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上部にスライス台の両端部を載置する少
    なくとも2枚の立設された側壁と、該両側壁の側部の間
    に略水平に設けられると共に、内部に収納する半導体ウ
    ェハの直径より僅かに大きい幅に配置された少なくとも
    2本の側部保持棒と、前記両側壁の下部の間に形成され
    る底面と、前記側部保持棒に沿って水平移動可能に設け
    られた2本の挟持棒とからなり、該挟持棒を移動させる
    ことにより半導体ウェハを挟持できるようにしたことを
    特徴とする半導体ウェハの洗浄用バスケット。
  2. 【請求項2】 少なくとも1本の底部保持棒が、両側壁
    の下部の間に略水平に設けられ、スライス台が前記両側
    壁の上部に載置された際に、これに固着した状態の半導
    体ウェハの下端部と前記底部保持棒との間に間隙が形成
    されるように前記底部保持棒を配置したことを特徴とす
    る請求項1記載の半導体ウェハの洗浄用バスケット。
  3. 【請求項3】 挟持棒の半導体ウェハとの接触面側に弾
    力性を有する突起を設けたことを特徴とする請求項1記
    載の半導体ウェハの洗浄用バスケット。
  4. 【請求項4】 底面が網状に形成されたことを特徴とす
    る請求項1記載の半導体ウェハの洗浄用バスケット。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200475577Y1 (ko) * 2013-03-13 2014-12-11 그랜드 플라스틱 테크놀로지 코포레이션 식각 그립 장치
JP2016200821A (ja) * 2016-05-27 2016-12-01 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
CN110899236A (zh) * 2019-12-13 2020-03-24 深圳市三鑫精美特玻璃有限公司 一种超声波玻璃清洗设备及工艺
CN115261863A (zh) * 2022-08-02 2022-11-01 扬州国宇电子有限公司 一种用于快恢复二极管的金属颗粒腐蚀液及金属腐蚀方法

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6209555B1 (en) * 1999-04-27 2001-04-03 Imtec Acculine, Inc. Substrate cassette for ultrasonic cleaning
JP3895152B2 (ja) * 2001-11-09 2007-03-22 沖電気工業株式会社 リフトオフ装置
US20050051083A1 (en) * 2003-09-05 2005-03-10 Carlos Ruiz Apparatus for carrying reticles and method of using the same to process reticles
US7730898B2 (en) * 2005-03-01 2010-06-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor wafer lifter
KR100928495B1 (ko) * 2005-06-20 2009-11-26 엘지디스플레이 주식회사 배향막 인쇄 마스크용 지그 장치와, 이를 적용한 배향막인쇄 마스크용 세정 장비 및 이를 이용한 마스크 세정 방법
DE102006052910B4 (de) * 2006-11-08 2008-12-04 Deutsche Solar Ag Wafer-Herstellungs-Verfahren und -Vorrichtung
DE102008060012A1 (de) * 2008-11-24 2010-05-27 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zum Drehen eines zersägten Waferblocks und Vorrichtung dafür
DE102009035341A1 (de) * 2009-07-23 2011-01-27 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Vorrichtung zur Reinigung von Substraten an einem Träger
CN102172584A (zh) * 2011-02-14 2011-09-07 常州亿晶光电科技有限公司 硅料方段酸洗专用装载装置
CN102176422B (zh) * 2011-03-23 2012-10-03 北京市塑料研究所 大容量方形硅片承载花篮及其制造方法
CN103464414B (zh) * 2013-09-12 2016-04-27 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种用于清洗炉管设备保温片的治具
CN104690028B (zh) * 2013-12-05 2017-01-25 天津中环领先材料技术有限公司 硅片腐前清洗机用清洗框
TWI569351B (zh) * 2015-04-30 2017-02-01 環球晶圓股份有限公司 晶圓旋轉裝置
US10020213B1 (en) 2016-12-30 2018-07-10 Sunpower Corporation Semiconductor wafer carriers
US10068787B2 (en) * 2016-12-30 2018-09-04 Sunpower Corporation Bowing semiconductor wafers
CN109174779B (zh) * 2018-07-16 2020-06-09 横店集团东磁股份有限公司 一种perc工艺ald铝材花篮的清洗方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3143414A1 (de) * 1981-11-02 1983-05-11 Kunststoff- & Lackfabrik Kemper, 3502 Vellmar Verbundmaterial, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung
DE3680205D1 (de) * 1986-04-17 1991-08-14 Meyer & Burger Ag Maschf Verfahren zum trennen eines stabes in teilstuecke, trennschleifmaschine zur durchfuehrung dieses verfahrens und verwendung dieser trennschleifmaschine.
DE69526038T2 (de) * 1994-12-15 2002-10-31 Sharp Kk Drahtgittersäge und Sägeverfahren
JP3044277B2 (ja) * 1994-12-21 2000-05-22 信越半導体株式会社 ウェーハの洗浄及び洗浄乾燥装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200475577Y1 (ko) * 2013-03-13 2014-12-11 그랜드 플라스틱 테크놀로지 코포레이션 식각 그립 장치
JP2016200821A (ja) * 2016-05-27 2016-12-01 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
CN110899236A (zh) * 2019-12-13 2020-03-24 深圳市三鑫精美特玻璃有限公司 一种超声波玻璃清洗设备及工艺
CN110899236B (zh) * 2019-12-13 2023-10-20 深圳市三鑫精美特玻璃有限公司 一种超声波玻璃清洗设备及工艺
CN115261863A (zh) * 2022-08-02 2022-11-01 扬州国宇电子有限公司 一种用于快恢复二极管的金属颗粒腐蚀液及金属腐蚀方法
CN115261863B (zh) * 2022-08-02 2024-03-26 扬州国宇电子有限公司 一种用于快恢复二极管的金属颗粒腐蚀液及金属腐蚀方法

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Publication number Publication date
TW367596B (en) 1999-08-21
US5908042A (en) 1999-06-01

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