JPH10221607A - 共焦点顕微鏡 - Google Patents

共焦点顕微鏡

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JPH10221607A
JPH10221607A JP9021429A JP2142997A JPH10221607A JP H10221607 A JPH10221607 A JP H10221607A JP 9021429 A JP9021429 A JP 9021429A JP 2142997 A JP2142997 A JP 2142997A JP H10221607 A JPH10221607 A JP H10221607A
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斎藤良治
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高集積IC等の微細立体構造の検査ができる
高分解能、長焦点深度、リアルタイム観察可能な共焦点
顕微鏡。 【解決手段】 光源1から発した光で対物レンズ4像位
置にある複数のピンホールで形成されているピンホール
基板2を照明し、ピンホール基板2を通過する光を対物
レンズ4で標本6上に結像し、標本6で反射される光を
再び対物レンズ4を介してピンホール基板2に結像さ
せ、ピンホール基板2を通過する光をリレーレンズ7等
により標本像として再結像させ、ピンホール基板2を高
速に回転させることによって標本6上で光を高速に走査
し、標本6の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡で
あり、軸上色収差を発生させる光学素子5をピンホール
基板2と標本6の間に配置してある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、共焦点顕微鏡に関
し、特に、高分解能、長焦点深度、リアルタイム観察可
能な光学顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】複数のピンホールが形成されているピン
ホール基板を回転させ、ピンホール基板を通過した照明
光を対物レンズを介して試料に対して走査する共焦点ス
キャナーを有した共焦点顕微鏡は、従来から公知であ
り、例えば米国特許第3,926,500号や米国特許
第4,927,254号に詳しく述べられている。
【0003】近年、半導体の分野でIC等の高集積化が
進み、従来の光学顕微鏡の分解能では判別できないIC
標本、マスク標本が出現している。このような標本の検
査は、電子顕微鏡、原子間力顕微鏡等で行うことができ
るが、検査に時間がかかる、破壊検査になる等の理由で
量産ラインの全数検査機には不適当である。また、通常
の顕微鏡より高分解能の共焦点型レーザ走査型顕微鏡も
あるが、量産化ラインで使用するには検査時間等の面で
完全ではない。
【0004】本発明の対象であるピンホール基板を有す
る共焦点顕微鏡は、前述した顕微鏡にない特長を有して
いるために、最近半導体分野で注目されることになっ
た。その特長は、標本面と共役な位置にピンホールが配
置されているために、共焦点効果があり、従来の光学顕
微鏡より高解像、高コントラストが実現される点であ
る。特に、光軸方向(Z方向)の分解能が高く、高さ方
向の標本情報も高精度で得ることができる。また、標本
のピンホールによる走査は、顕微鏡視野の中にある複数
のピンホールの高速回転によって行われるため、人間の
眼又は撮像素子上でも従来の光学顕微鏡と同様にリアル
タイム(ビデオレート以上の速さ)で標本を観察できる
点や、さらに、光源はレーザ等を使う必要がなく、高輝
度白色光源でよいため、手軽に色情報も含めて観察がで
きる点等がレーザ走査型共焦点顕微鏡とは異なる大きな
特長であり、注目される理由となっている。
【0005】一方、IC標本は立体構造を持っているた
め、深い焦点深度で段差の中の標本情報を同時に観察し
たいという要求もある。ところが、共焦点顕微鏡では、
深さ方向の分解能が高いため、逆に焦点深度が浅くなっ
てしまい、上記要求に応えることができなかった。
【0006】焦点深度を深くするのに最も簡単でよく用
いられる方法は、開口絞りで照明光のNA(開口数)を
絞る方法であるが、この方法では光軸と垂直な横方向の
分解能が低下してしまう。横方向の分解能を低下させな
いで、焦点深度を深めようとする方法がいくつか提案さ
れている。例えば、Progress in Opti
cs,II,p.131,North−Holland
Pub.Co.(1963)には、撮影レンズの瞳位
置に位相ズレπの輪帯状の位相膜を配置することによっ
て多重焦点レンズを実現させる技術が紹介されている。
また、特開平7−63995号には、照明光のNAを単
純に絞るのではなく、NAの大きな部分をわずかに透過
するフィルターによって分解能を落とさずに焦点深度を
深める提案がなされている。また、画像処理による方法
も提案されていて、特開昭55−140805号には、
対物レンズと標本の光軸方向の相対距離を変えながら取
り込んだ画像のボケ像を画像処理で除去し、分解能を落
とさずに焦点深度を増す方法が提案されている。
【0007】レンズで発生する色収差を利用して、立体
構造を持つ標本を観察する方法も提案されている。特開
平2−53016号は、色収差を発生させるレンズ系を
挿入することによって異なった波長毎に焦点位置を変
え、多重焦点像を得る対物レンズ系を提案している。特
開平5−26635号では、共焦点レーザ走査型顕微鏡
において、色収差を有する光学系と温度変化で波長の変
わる半導体レーザを用いて、光軸方向の走査を従来の機
械的走査に代えて行うことを提案している。特開平8−
211296号では、光源と共役な位置に検出器を配置
した共焦点顕微鏡において、全系で色収差を持たせるこ
とによって異なった波長毎に焦点位置を変え、多重焦点
像を得て焦点深度を増大させることを提案している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の共焦点顕微鏡
は、本発明の対象とするピンホール基板を有する共焦点
顕微鏡も含めて、分解能は一般の光学顕微鏡より優れて
いるが、光軸方向の標本形状を観察するためには、対物
レンズと標本間の相互距離を変えていかなければなら
ず、標本の立体構造をリアルタイムで観察することは難
しい。特開平5−26635号は、色収差を利用して光
軸方向の走査を行う共焦点レーザ走査型顕微鏡であり、
問題点は上記共焦点顕微鏡と同じである。
【0009】特開昭55−140805号でも、共焦点
ではないが光軸方向の走査が必要なため、同様にリアル
タイムは難しい。加えて、分解能は共焦点より劣る。
【0010】Progress in Optics,
II,p.131,North−Holland Pu
b.Co.(1963)や特開平7−63995号は、
照明光又は瞳変調により高分解能、長焦点深度を実現す
るものであるが、厳密には長焦点深度化は達成される
が、高分解能は達成できない。
【0011】特開平2−53016号は、色収差を利用
して多重焦点を実現する発明であるが、これを単純に利
用して長焦点深度化を図ると、異なった色のボケ像が重
なり分解能、コントラストが低下する。したがって、特
開平2−53016号では、高分解能、長焦点深度化が
実現できない。
【0012】特開平8−211296号は、同様に色収
差を利用し、さらに共焦点光学系を用いているために高
分解能、長焦点深度化が実現されるが、複数光源を用い
ているために構成が複雑であるという問題がある。ま
た、共焦点光学系(例えば、対物レンズ)で色収差が発
生されているため、通常観察ができる顕微鏡としての使
用に制限が加わる。加えて、白色光での共焦点観察がで
きなくなり、標本の色情報を得ることが難しくなる。
【0013】上述したように、従来から提案されている
顕微鏡では、共焦点顕微鏡並の分解能で、長焦点深度、
しかもリアルタイムで観察を行うことができないか、で
きたとしても顕微鏡構成が複雑になり、通常観察ができ
なくなる、標本の色情報が得られなくなる等の問題があ
る。
【0014】本発明は従来技術のこれら問題点に鑑みて
なされたものであり、その目的は、従来の光学顕微鏡で
不可能であった高集積IC等の微細立体構造の検査がで
きる高分解能、長焦点深度、リアルタイム観察可能な共
焦点顕微鏡を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の共焦点顕微鏡は、光源から発した光で対物レンズ像
位置若しくはその像位置と共役な位置又はその近傍にあ
る複数のピンホールで形成されているピンホール基板を
照明し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レンズ
で標本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対物
レンズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結像
させ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレンズ
等により標本像として再結像させ、前記ピンホール基板
を高速に回転させることによって標本上で光を高速に走
査し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡に
おいて、軸上色収差を発生させる光学素子をピンホール
基板と標本の間に配置したことを特徴とするものであ
る。
【0016】以下に、本発明において上記の構成をとる
理由と作用、及び、その展開した構成について説明す
る。本発明の共焦点顕微鏡において、白色光源等から発
した光は、対物レンズの像と共役な位置にあるピンホー
ルを通過し、軸上色収差を発生させる光学素子と対物レ
ンズを介して、標本に結像される。標本での結像位置
は、波長によって光軸方向にずれている。波長によって
異なった標本位置からの反射光は、軸上色収差を発生さ
せる光学素子と対物レンズを介して、ピンホール上に結
像される。ピンホール、標本、ピンホールと往復してい
るため、ピンホール上の結像位置は、波長が変わっても
同じである。ピンホールを通過した光は観察側に導かれ
る。このため、光軸方向で異なった標本位置の像を同時
に色分けして観察することができる。共焦点光学系にな
っているため、各波長のボケ像は、ピンホールで遮断さ
れ、高分解能、高コントラスト、長焦点深度で標本の観
察ができる。さらに、像の色毎に光軸方向の標本情報を
知ることができる。ピンホール基板の回転によって標本
を走査しているので、リアルタイム(ビデオレートより
高速)で上記観察が可能となる。なお、ピンホール基板
は、例えばニポウディスク(NIPMOWDISK)の
ように円盤上に多数のピンホールが形成されたものが用
いられる。
【0017】さらに、本発明において、上記の軸上色収
差を発生させる光学素子を挿脱可能にすることができ
る。この軸上色収差を発生させる光学素子が挿入された
場合、長焦点深度で標本の光軸方向を色分けして観察で
きる。その光学素子が光路から抜かれた場合、標本の一
断面を明るく、鮮明に観察することができる。
【0018】また、本発明の上記の軸上色収差を発生さ
せる光学素子は、使用する波長域の中心波長に対する屈
折力がほぼ0であることが望ましい。このようにする
と、この光学素子により像位置や倍率等を変えることな
く色収差を発生させることができる。
【0019】また、本発明において、上記の軸上色収差
を発生させる光学素子が光路から除外された場合、ピン
ホール基板と標本の間の光学系で発生する軸上色収差量
は、対物レンズの焦点深度より小さいことが望ましい。
高集積IC等の検査では、ICパターンのエッジ形状や
微小な傷等を検出するために暗視野観察が使われてい
る。本発明のピンホール基板を用いた共焦点顕微鏡での
暗視野観察は、構成が複雑になる、観察像が暗いという
理由から、一般には、ピンホールを光路から除外して行
っている。これは、一般光学顕微鏡の暗視野観察と同じ
になるため、光学系に色収差が多いと暗視野観察での色
のにじみが多くなり、検査が行い難くなる。したがっ
て、色収差発生光学素子が光路から除外された場合、光
学系で発生する軸上色収差量は、対物レンズの焦点深度
より小さいことが望ましい。また、本発明の色収差発生
光学素子により焦点深度を向上させることができるが、
標本断面が色毎に分離するため、標本の分光特性や膜厚
の測定等、色情報を用いた測定・検査ができなくなる。
そこで、上記の色収差発生光学素子を光路から除外した
場合に、光学系の色収差発生量を対物レンズの焦点深度
以下にすることにより、上記の色情報を利用した測定・
検査が共焦点リアルタイムで可能となる。
【0020】また、上記の光学素子の配置位置は、ピン
ホール基板と対物レンズの間であり、対物レンズの後側
焦点位置又はその近傍、若しくは、対物レンズの後側焦
点位置に共役な位置又はその近傍であることが望まし
い。このような配置により、単純な構成で、倍率色収差
を発生させずに、軸上色収差を発生させることができ
る。
【0021】また、上記の光学素子は少なくとも1つの
凸レンズと少なくとも1つの凹レンズを含み、以下の条
件を満たすことが望ましい。 |νP −νN |・(NA)2 ・fOB/f>0.01 ・・・(1) ただし、νP 、νN はそれぞれ中心波長λにおける前記
凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOBは中心波長λにお
ける使用対物レンズの焦点距離、NAは使用対物レンズ
の開口数、fは中心波長λにおける前記凸レンズの焦点
距離である。
【0022】上記の色収差発生光学素子の色収差発生量
は、その凸レンズと凹レンズのアッべ数の差や凸レンズ
の屈折力(焦点距離)で決まる。アッべ数差を大きくす
るか、凸レンズの屈折力を強くすると、色収差発生量は
大きくなる。また、色収差発生量は、対物レンズの標本
側焦点深度によっても変える必要がある。焦点深度が深
ければ、標本面で発生させる色収差量も増やさなければ
ならない。焦点深度はNAの2乗に比例する。以上の点
と、屈折力を規格化するために使用対物レンズの焦点距
離を掛け合わせることを考慮して、(1)式は構成され
ている。(1)の条件の下限の0.01に達しない場
合、色収差の光軸方向分離が少なく、焦点深度を深くす
ることはできない。
【0023】また、上記の光学素子は凸レンズと凹レン
ズ各1枚で構成され、(1)の条件を満たしてもよい。
この場合は、非常に簡単な構成とすることができる。
【0024】また、上記の光学素子は平凸レンズと平凹
レンズの接合レンズであり、接合面に曲率を有する構成
とすることによって、より単純化を図ることができる。
【0025】また、本発明の共焦点顕微鏡は、光源から
発した光で対物レンズ像位置若しくはその像位置と共役
な位置又はその近傍にある複数のピンホールで形成され
ているピンホール基板を照明し、前記ピンホール基板を
通過する光を対物レンズで標本上に結像し、標本で反射
される光を再び前記対物レンズを介して前記ピンホール
基板又はその近傍に結像させ、前記ピンホール基板を通
過する光をリレーレンズ等により標本像として再結像さ
せ、前記ピンホール基板を高速に回転させることによっ
て標本上で光を高速に走査し、標本の再生像を得ること
ができる共焦点顕微鏡において、軸上色収差を発生させ
る光学素子をピンホール基板と対物レンズの間に配置す
るように構成できる。ピンホールと対物レンズの間には
上記の光学素子を入れる空間が多く、大きさ等の制限条
件がないので好ましい。
【0026】また、上記の光学素子は、各群が少なくと
も1つの凸レンズと少なくとも1つの凹レンズを含む2
つの群G1、G2を有し、以下の条件を満たすことが望
ましい。 |νP1−νN1|・(NA)2 ・fOB/f1 >0.01 ・・・(2) ただし、νP1、νN1はそれぞれ一方の群G1中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOB
は中心波長λにおける使用対物レンズの焦点距離、NA
は使用対物レンズの開口数、f1 は一方の群G1中の中
心波長λにおける前記凸レンズの焦点距離である。
【0027】上記の光学素子が1つの群では倍率色収差
を補正できない場合があり、この場合は、レンズ群G
1、G2の2つの群で軸上色収差を発生させ、倍率色収
差を発生させないようにしている。また、(2)式は
(1)式と同じ考え方で構成されていて、(2)式の条
件の下限の0.01に達しない場合、色収差の光軸方向
分離が少なく、焦点深度を深くすることはできない。
【0028】この場合、2つの群G1、G2は一方の群
G1が他方の群G2より対物レンズ後側焦点位置若しく
はそれに共役な位置に近く、以下の条件を満たすことが
望ましい。 |νP1−νN1|/f1 >|νP2−νN2|/f2 ・・・(3) ただし、νP2、νN2はそれぞれ他方の群G2中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、f2
は他方の群G2中の中心波長λにおける前記凸レンズの
焦点距離である。
【0029】一般に、対物レンズ後側焦点位置は対物レ
ンズの中にあり、軸外主光線はその後側焦点位置の光軸
上から射出するため、G1群と比べて対物レンズより離
れているG2群を通る軸外主光線の光線高は、G1群を
通る軸外主光線の光線高より高い。したがって、G2群
はG1群より倍率色収差が発生しやすい。一方、軸上に
結像する光線では、G1群とG2群を通過するときの光
線高はほぼ変わらないため、G1群とG2群での軸上色
収差の発生量は、各々の群を構成するレンズのアッべ数
や焦点距離等で決まる。本発明では、倍率色収差を発生
させず、軸上色収差を発生させるため、(3)の条件を
満たすことが望ましい。前述したように、G2群ではG
1群より倍率色収差が発生しやすいので、G2群を構成
している凸レンズと凹レンズのアッべ数差をG1群より
小さくするか、前記凸レンズの焦点距離を長くする等
し、G1群とG2群で発生する倍率色収差を同量にし、
各群を構成する凸レンズと凹レンズのアッべ数差の符号
を逆にすることにより、G1群とG2群で発生する倍率
色収差を打ち消している。アッべ数に対する焦点距離の
比は、G1群がG2群より大きいため、軸上色収差はG
1群の方がG2群より多く発生している。結果として、
軸上から軸外まで均一な色収差が発生し、標本の光軸方
向の分布を色分けして観察できる。(3)の条件を満た
さないと、倍率色収差が増え、軸上色収差が減る。その
ため、視野全体に色ムラが出やすくなり、標本の光軸方
向の色分離が難しくなる。
【0030】また、上記の光学素子は、各々の群で凸レ
ンズと凹レンズ各1枚からなる2つの群G1、G2を有
し、(2)の条件を満たすようにすることができる。こ
のレンズ構成により、単純で安価な光学素子を提供でき
る。また、(2)の条件を満たすことにより、標本の光
軸方向の分布を色分けして観察できる。
【0031】また、群G1、G2は、G1群がG2群よ
り対物レンズ後側焦点位置若しくはそれに共役な位置に
近く、(3)の条件を満たすことが望ましい。一般に、
対物レンズ後側焦点位置は対物レンズの中にあり、軸外
主光線はその後側焦点位置の光軸上から射出するため、
G1群と比べて対物レンズより離れているG2群を通る
軸外主光線の光線高は、G1群を通る軸外主光線の光線
高より高い。したがって、G2群はG1群より倍率色収
差が発生しやすい。一方、軸上に結像する光線では、G
1群とG2群を通過するときの光線高はほぼ変わらない
ため、G1群とG2群での軸上色収差の発生量は、各々
の群を構成するレンズのアッべ数や焦点距離等で決ま
る。本発明では、倍率色収差を発生させず、軸上色収差
を発生させるため、(3)の条件を満たすことが望まし
い。前述したように、G2群ではG1群より倍率色収差
が発生しやすいので、G2群を構成している凸レンズと
凹レンズのアッべ数差をG1群より小さくするか、前記
凸レンズの焦点距離を長くする等し、G1群とG2群で
発生する倍率色収差を同量にし、各群を構成する凸レン
ズと凹レンズのアッべ数差の符号を逆にすることによ
り、G1群とG2群で発生する倍率色収差を打ち消して
いる。アッべ数に対する焦点距離の比は、G1群がG2
群より大きいため、軸上色収差はG1群の方がG2群よ
り多く発生している。結果として、軸上から軸外まで均
一な色収差が発生し、標本の光軸方向の分布を色分けし
て観察できる。(3)の条件を満たさないと、倍率色収
差が増え、軸上色収差が減る。そのため、視野全体に色
ムラが出やすくなり、標本の光軸方向の色分離が難しく
なる。
【0032】また、本発明の共焦点顕微鏡は、異なった
軸上色収差を発生させる少なくとも2つの光学素子の何
れか1つをピンホール基板と標本の間に配置し、かつ、
その少なくとも2つの光学素子が交換可能又は挿脱可能
であるようにすることができる。
【0033】この場合、挿入する光学素子の軸上色収差
発生量によって標本の光軸方向の色分離量を決めること
ができるので、異なった軸上色収差を発生させる少なく
とも2つの光学素子を用いることによって、焦点深度や
標本の光軸方向の色分離量を変えることができる。
【0034】また、その少なくとも2つの光学素子の少
なくとも1つは上述してきたような構成、条件等を満た
すことが望ましい。これによって、より最適な標本の光
軸方向の観察が行えるようになる。
【0035】さらに、本発明の共焦点顕微鏡は、対物レ
ンズの種類の変換に伴って、以上の少なくとも2つの光
学素子を変換するようにすることができる。対物レンズ
の焦点深度はNA等の対物レンズの種類によって変化す
る。また、本発明の軸上色収差を発生させる光学素子に
よる光軸方向の色分離量は、光学素子が一定なら対物レ
ンズ像面では変わらないが、標本側ではNAが変わると
NAの2乗に反比例して変化する。したがって、対物レ
ンズの種類が変わるときには、標本の光軸方向の色分離
量を最適化するために、軸上色収差を発生させる光学素
子を変えることが望ましい。
【0036】以上の本発明の共焦点顕微鏡は、共焦点顕
微鏡の像を撮像し、その撮像データと既知の上記光学素
子の色収差データを基に画像処理を行い、標本の光軸方
向の像構築することができる。
【0037】本発明の共焦点顕微鏡の特長は、色ごとに
焦点面が変えられ、しかも、各色のボケ像を共焦点ピン
ホールによって遮断できるため、分解能を落とさずに焦
点深度を深くすることができる点である。色収差発生光
学素子による色収差発生量を大きくすることによって焦
点深度を標本の厚さ以上にできるため、ピント合わせを
することなく標本の光軸方向の情報を一度に得ることも
できる。このとき、撮像素子で得られるデータは、標本
の光軸方向が色によって分離されたデータである。予め
色収差量を計算又は測定しておき、標本の高さの違いで
色がどのように分離するかのデータを備えておく。撮像
された標本データを色収差データを基に、蓄えた色分離
データを用いて光軸方向の高さ情報に変換し、標本の光
軸方向の像構築を行なうことができる。色収差データを
分光器等で厳密に測定し、高さ方向と対応付けておく
と、精度のよい高さ測定もできる。
【0038】また、その場合、既知の前記光学素子の色
収差データを基に決めた光軸方向移動量に従って対物レ
ンズと標本の相対位置を変え、取り込んだ画像情報を基
に標本の光軸方向の像構築することもできる。
【0039】観察又は計測する標本が焦点深度より厚い
場合を考える。一般の顕微鏡では、標本と対物レンズの
相対距離を徐々に変えながら画像を取り込み、標本の光
軸方向の像構築をする。さらに、分解能を落とさないた
めには、ボケ像除去の画像処理をしなければならない。
本発明では、ピンホールによってボケ像が除去されるた
め、ボケ像除去の画像処理をしなくとも分解能の低下は
少ないため、1画面のデータを焦点深度毎に取り込み、
予め蓄えた標本高さの違いによる色分離データで1画面
の標本の高さ分離を行い、得られた1画面毎の標本高さ
データを単純にたし合わせることによって標本全体の像
構築ができる。焦点深度が深いために、通常の計算で算
出される焦点深度ではなく、色収差データを基に予め計
算又は測定した焦点深度量から1ステップに相当する光
軸方向移動量を決め、この決められた移動量に従って標
本と対物レンズの相対距離を変えながら像を取り込み、
標本の光軸方向の像構築をして行く。本発明の共焦点顕
微鏡は焦点深度が深いので、上記した像構築法は一般の
顕微鏡より高速で標本の光軸方向の像構築をして行くこ
とができる。
【0040】また、この場合、共焦点像となる標本面上
での光軸方向の位置を光の各波長毎に予め計算又は測定
しておき、波長毎に得られる像の光軸方向位置を既知の
前記標本面の光軸方向位置データを基に決定し、各々の
波長毎の2次元平面画像を決定した光軸方向位置に合わ
せて再構成し、標本の光軸方向の像構築することもでき
る。
【0041】また、光源から発した光で対物レンズ像位
置若しくはその像位置と共役な位置又はその近傍にある
複数のピンホールで形成されているピンホール基板を照
明し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レンズで
標本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対物レ
ンズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結像さ
せ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレンズ等
により標本像として再結像させ、前記ピンホール基板を
高速に回転させることによって標本上で光を高速に走査
し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡にお
いて、軸上色収差を発生させる光学素子の挿脱を行う代
わりに、対物レンズで軸上色収差を発生させ、対物レン
ズで発生する軸上色収差を補正する光学素子をその軸上
色収差を発生させる光学素子の位置で挿脱しても、同様
な効果を得ることができる。
【0042】また、軸上色収差を発生させる光学素子の
挿脱を行う代わりに、軸上色収差を発生させる対物レン
ズと軸上色収差の発生の少ない対物レンズとを切り替え
て使用可能にしても、同様な効果を得ることができる。
【0043】上記の軸上色収差を発生させる対物レンズ
の色収差発生量は、対物レンズの使用する波長域の中心
波長に対する焦点深度より大きいことが望ましい。焦点
深度内であると、色毎に分離されず像が重なり観察し難
くなる。また、深い焦点深度が得られなくなる。
【0044】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の共焦点顕微鏡を
いくつかの実施例に基づいて説明する。まず、図1に本
発明の共焦点顕微鏡の構成図を示す。この共焦点顕微鏡
においては、水銀又はキセノン等の高輝度光源1から発
した光により、ハーフミラー9を介して対物レンズ像位
置にあるピンホール基板2を照明し、そのピンホール基
板2のピンホールから射出する光を結像レンズ3を介し
て対物レンズ4に入射させる。色収差発生光学素子5が
挿入されていない場合、光は対物レンズ4によって標本
面6の1点に集光される。結像レンズ3と対物レンズ4
の間に色収差発生光学素子5が挿入された場合、図1の
ように、波長によって標本への集光位置が異なる。色収
差発生光学素子5が挿入された場合でも、挿入されない
場合でも、標本面6で反射された光は対物レンズ4に戻
り、結像レンズ3によりピンホール基板2のピンホール
上に結像される。色収差発生光学素子5が挿入された場
合、標本上の異なった位置に集光していた波長の異なる
光は、色収差発生光学素子5を再び通過するため、ピン
ホール基板2上のピンホール上に揃って同じ位置に結像
される。このとき、ピンホールによる共焦点効果のた
め、ボケ像は取り除かれる。ピンホールを通過した光は
今度はハーフミラー9を通過してリレーレンズ7で接眼
レンズ8手前に結像され、接眼レンズ8を通して肉眼観
察する。結果として、色収差発生光学素子5が挿入され
た場合、標本上の複数の断面情報が同時に色毎に分離さ
れて観察できる。色収差発生光学素子5が除去された場
合、色収差発生量は少なく、色情報を用いた測定・検査
が可能となる。
【0045】また、図2に、対物レンズ4の像位置と共
役な位置にピンホール基板2が配置される場合の本発明
の共焦点顕微鏡の構成図を示す。この場合は、図1の場
合と比較して、再結像レンズ10により対物レンズ4の
像位置がピンホール基板2上に結像され、対物レンズ4
の像位置とピンホール基板2が共役となる点以外は、基
本的に図1と同様の構成である。
【0046】以下に、本発明による色収差発生光学素子
5の実施例1〜3について説明するが、その前に、各実
施例で共通に使用している顕微鏡対物レンズについて説
明する。その顕微鏡対物レンズの断面を図3に示す。対
物レンズの焦点距離f=1.8mm、倍率=100×、
NA=0.95、作動距離=0.77mmである。その
レンズデータを後記の表1に示す。そのレンズデータ
中、r1 、r2 …は物体側から順に示した各レンズ面の
曲率半径、d1 、d2 …は物体側から順に示した各レン
ズ面間の間隔、nd1、nd2…は物体側から順に示した各
レンズのd線の屈折率、νd1、νd2…は物体側から順に
示した各レンズのアッベ数である。
【0047】さらに、上記対物レンズは、図4に断面を
示すレンズ構成の結像レンズと組み合わせて使用する。
この結像レンズのレンズデータを後記の表2に示す。
【0048】また、図5は上記対物レンズと結像レンズ
を組み合わせ、両者の空気間隔を119mmとした場合
の球面収差(a)、コマ収差(b)を表すd線、C線、
F線、g線の収差図を示している。対物レンズで発生し
ている軸上色収差は焦点深度範囲内である。なお、図
中、IHは像高を表す。
【0049】〔実施例1〕図6に本発明の実施例1のレ
ンズ配置を示す。ピンホール基板2から射出した光線
は、結像レンズ11を通り、リレーレンズ12、13を
介して対物レンズ4に入射し、標本面6に集光される。
標本面6を発した光線は、同一の経路を逆にたどりピン
ホール基板2に達する。ピンホール基板2を透過した光
線は観察側へ向かう。対物レンズ4の後側焦点位置14
と共役な位置15の光路中に、軸上色収差を発生させる
光学素子5が挿脱される。この光学素子5が挿入された
とき、標本の光軸方向を色ごとに分離して観察すること
ができる。対物レンズ4、リレーレンズ13は、図1の
対物レンズ4、結像レンズ3であり、各々図3、図4に
示すものである。リレーレンズ12の断面図を図7に示
す。後記の表3にはリレーレンズ12のレンズデータを
示す。結像レンズ11は、約1.6分の1に光束径を小
さくする平行光束を平行光束に変換するアフォーカルレ
ンズ16と図4の結像レンズ3から構成されている。こ
のアフォーカルレンズ16の断面図を図8に示す。ま
た、このアフォーカルレンズ16のレンズデータを後記
の表4に示す。さらに、軸上色収差を発生させる光学素
子17の断面図を図9に示す。後記の表5に軸上色収差
を発生させる光学素子17のレンズデータを示す。図7
〜図9、表3〜表5に示したr1 、r2 …は物体側から
順に示した各レンズ面の曲率半径、d1 、d2 …は物体
側から順に示した各レンズ面間の間隔、nd1、nd2…は
物体側から順に示した各レンズのd線の屈折率、νd1
νd2…は物体側から順に示した各レンズのアッベ数であ
る。図10、図11は各々本実施例1の軸上色収差を発
生させる光学素子17を除いたとき、挿入したときの球
面収差(a)、コマ収差(b)を表すd線、C線、F
線、g線の収差図を示している。このとき、対物レンズ
4とリレーレンズ13との空気間隔は185mm、リレ
ーレンズ13とリレーレンズ12との空気間隔は42
6.734mm、リレーレンズ12とアフォーカルレン
ズ16の空気間隔は309.605mm、アフォーカル
レンズ16と図4の結像レンズ3の空気間隔は50mm
である。また、軸上色収差を発生させる光学素子17は
リレーレンズ12から279.605mm、アフォーカ
ルレンズ16から対物レンズ側24mmの位置に挿入さ
れる。
【0050】図10と図11から、軸上色収差を発生さ
せる光学素子17を挿脱したときの軸上色収差の差は、
F線で換算して標本面6上で約0.44μmである。共
焦点顕微鏡の焦点深度δは、対物レンズのNA、使用波
長λを用いて表すと、δ=0.72・λ/(NA)
2 (点像分布関数のピーク強度が80%になる光軸方向
の位置までが解像しているとして、その前後の幅を焦点
深度とした。普通の顕微鏡では、δ=λ/(NA)2
ある。)であり、本実施例では、NA=0.95、λ=
0.55μmとして、約0.44μmとなる。したがっ
て、本実施例のd線とF線の軸上色収差の差は焦点深度
分あり、d線とF線だけをとっても焦点深度は2倍にな
る。また、色コマ収差も、各波長で軸上色収差と同じ量
d線に対して分離しているため、観察範囲全体にわたっ
て均一に焦点深度を深めている。なお、本実施例におい
て、前記(1)式の左辺を計算すると、 |41.08-61.18 |・(0.95)2 ・1.8 /118.8=0.28 となる。
【0051】〔実施例2〕実施例2は図1と同じレンズ
構成となっている。色収差発生光学素子5が結像レンズ
3と対物レンズ4の間で挿脱されるようになっている。
色収差発生光学素子5は、図12に断面を示すような2
つのレンズ群G1、G2からなる構成となっている。後
記の表6にこの色収差発生光学素子5のレンズデータを
示す。ここで、r1 、r2 …は物体側から順に示した各
レンズ面の曲率半径、d1 、d2 …は物体側から順に示
した各レンズ面間の間隔、nd1、nd2…は物体側から順
に示した各レンズのd線の屈折率、νd1、νd2…は物体
側から順に示した各レンズのアッベ数である。図13は
本実施例の軸上色収差発生光学素子5を挿入したときの
球面収差(a)、コマ収差(b)を表すd線、C線、F
線、g線の収差図を示している(色収差発生光学素子5
が挿入されていないときの収差図は図5である。)。こ
のとき、対物レンズ4と色収差発生光学素子5の第1群
G1との空気間隔は16mm、色収差発生光学素子5の
第2群G2と結像レンズ3の空気間隔は10mmであ
る。実施例1とほぼ同程度の色収差が発生し、同程度焦
点深度が深くなっている。対物レンズ4が、図3の対物
レンズの1/2のNAを持つ対物レンズに切り換わった
場合、対物レンズ4の焦点深度は4倍になるので、色収
差発生光学素子5による色収差発生量では不十分であ
る。そのときには、色収差発生光学素子5の4倍の色収
差を発生させる色収差発生光学素子に置き換えることが
望ましい。
【0052】なお、本実施例において、色収差発生光学
素子5の第1群G1に対して前記(1)式の左辺を計算
すると、 |41.08-61.18 |・(0.95)2 ・1.8 /33.9=0.96 となる。色収差発生光学素子5の第2群G2に対して前
記(1)式の左辺を計算すると、 |61.18-41.08 |・(0.95)2 ・1.8 /118.8=0.28 となる。また、 |41.08-61.18 |/33.9>|61.18-41.08 |/118.8 から、前記(3)式も満たしている。
【0053】〔実施例3〕実施例3も基本レンズ構成は
図1と同じになっている。ただし、色収差発生光学素子
5が図14に断面を示すように構成されている。色収差
発生光学素子5は2つの群G1、G2からなっており、
第1群G1は対物レンズ4と結像レンズ3の間に配置さ
れ、第2群G2は結像レンズ3とピンホール基板2の間
に配置されている。後記の表7にこの色収差発生光学素
子5のレンズデータを示す。ここで、r1 、r2 …は物
体側から順に示した各レンズ面の曲率半径、d1 、d2
…は物体側から順に示した各レンズ面間の間隔、nd1
d2…は物体側から順に示した各レンズのd線の屈折
率、νd1、νd2…は物体側から順に示した各レンズのア
ッベ数である。図15は本実施例の軸上色収差発生光学
素子5を挿入したときの球面収差(a)、コマ収差
(b)を表すd線、C線、F線、g線の収差図を示して
いる(色収差発生光学素子5が挿入されていないときの
収差図は図5である。)。このとき、対物レンズ4と色
収差発生光学素子5の第1群G1との空気間隔は16m
m、色収差発生光学素子5の第1群G1と結像レンズ3
の空気間隔は90mm、結像レンズ3と色収差発生光学
素子5の第2群G2との空気間隔は10mmである。色
収差発生量並びに焦点深度増大量は、実施例1、2とほ
ぼ同等である。ここで、色収差発生光学素子5の第1群
G1と第2群G2の間隔は表7に示すように、上記間隔
の90mmと10mmに結像レンズ3の厚さを加えたも
のになる。
【0054】なお、本実施例において、色収差発生光学
素子5の第1群G1に対して前記(1)式の左辺を計算
すると、 |41.08-61.18 |・(0.95)2 ・1.8 /33.9=0.96 となる。色収差発生光学素子5の第2群G2に対して前
記(1)式の左辺を計算すると、 |61.18-41.08 |・(0.95)2 ・1.8 /101.8=0.32 となる。また、 |41.08-61.18 |/33.9>|61.18-41.08 |/101.8 から、前記(3)式も満たしている。
【0055】〔実施例4〕実施例4の構成を図16に示
す。図16においては、簡単化のために照明光学系を省
いている。標本面6が照明され、標本面6から発した光
は、対物レンズ4、色収差発生光学素子5、結像レンズ
3を通過し、ピンホール基板2上に1次結像される。ピ
ンホール基板2のピンホールを通過した光は、撮像レン
ズ18により撮像素子19に再結像される。撮像素子1
9に結像される像は、標本上の複数の断面情報が色毎に
分離したものとなっている。撮像素子19が色情報を分
離して画像として取り込むことができる素子であれば、
カラー映像として画像表示装置20で焦点深度の深い像
を観察できる。また、色収差の発生量や色によってピン
トの合う順番、深さ等を予め設計的に求めるか、実験で
測定しておき、画像処理装置21等に記憶させておく
と、その色収差データを基に標本の3次元像を構築する
ことができる。さらに、色を含めた本発明の共焦点顕微
鏡の焦点深度δよりも厚い標本の光軸方向の3次元像を
構築する場合でも、コントローラ22、ドライバ23を
介してステージ24を動かすステップをδとして、各ス
テップ毎に像を取り込めば、従来の顕微鏡を用いるより
も高速で標本の光軸方向の情報を取り込み、表示・計測
等をすることができる。
【0056】 表1 r1 = -2.2936 d1 = 1.7700 nd1 =1.88300 νd1 =40.78 r2 = -2.1326 d2 = 0.1416 r3 = -10.6925 d3 = 1.1000 nd2 =1.61340 νd2 =43.84 r4 = 7.1166 d4 = 5.5000 nd3 =1.61800 νd3 =63.39 r5 = -7.6238 d5 = 0.2000 r6 = -64.2877 d6 = 1.0000 nd4 =1.52944 νd4 =51.72 r7 = 10.2264 d7 = 6.2000 nd5 =1.43875 νd5 =94.97 r8 = -9.6473 d8 = 0.2000 r9 = 57.3942 d9 = 1.2000 nd6 =1.61340 νd6 =43.84 r10= 9.2329 d10= 5.2000 nd7 =1.43875 νd7 =94.97 r11= -18.4308 d11= 0.3000 r12= 15.2753 d12= 2.5000 nd8 =1.56907 νd8 =71.30 r13= -147.8112 d13= 0.2000 r14= 13.4472 d14= 1.3000 nd9 =1.52944 νd9 =51.72 r15= 5.5507 d15= 5.5000 nd10=1.43875 νd10=94.97 r16= -9.4406 d16= 1.0001 nd11=1.51633 νd11=64.15 r17= 4.6960 d17= 1.0000 r18= 4.5949 d18= 3.2000 nd12=1.49700 νd12=81.61 r19= -9.4136 d19= 1.8812 nd13=1.78650 νd13=50.00 r20= 5.2173 d20= 4.5626 r21= -5.3868 d21= 1.5744 nd14=1.77250 νd14=49.60 r22= 9.3410 d22= 1.7000 nd15=1.80518 νd15=25.43 r23= -10.1181 。
【0057】 表2 r1 = 68.7541 d1 = 7.7321 nd1 =1.48749 νd1 =70.20 r2 = -37.5679 d2 = 3.4742 nd2 =1.80610 νd2 =40.95 r3 = -102.8477 d3 = 0.6973 r4 = 84.3099 d4 = 6.0238 nd3 =1.83400 νd3 =37.16 r5 = -50.7100 d5 = 3.0298 nd4 =1.64450 νd4 =40.82 r6 = 40.6619 。
【0058】 表3 r1 = -104.154 d1 = 4.20 nd1 =1.61340 νd1 =43.84 r2 = 199.976 d2 = 4.00 nd2 =1.83400 νd2 =37.17 r3 = -202.513 d3 = 0.50 r4 = 157.532 d4 = 4.00 nd3 =1.80610 νd3 =40.95 r5 = 82.098 d5 = 9.78 nd4 =1.43875 νd4 =94.97 r6 = -134.412 。
【0059】 表4 r1 = 41.314 d1 = 3.52 nd1 =1.48749 νd1 =70.21 r2 = -367.18 d2 = 1.20 r3 = 163.098 d3 = 3.70 nd2 =1.48749 νd2 =70.21 r4 = -49.090 d4 = 3.15 nd3 =1.69895 νd3 =30.12 r5 = -197.059 d5 =16.13 r6 = -95.011 d6 = 2.50 nd4 =1.84666 νd4 =23.78 r7 = -34.138 d7 = 1.80 nd5 =1.72916 νd5 =54.68 r8 = 39.369 。
【0060】 表5 r1 = ∞ d1 = 3 nd1 =1.58913 νd1 =61.18 r2 = 70 d2 = 3 nd2 =1.58921 νd2 =41.08 r3 = ∞ 。
【0061】 表6 r1 = ∞ d1 = 4 nd1 =1.58913 νd1 =61.18 r2 = 20 d2 = 6 nd2 =1.58921 νd2 =41.08 r3 = ∞ d3 =70 r4 = ∞ d4 = 6 nd3 =1.58913 νd3 =61.18 r5 = -70 d5 = 4 nd4 =1.58921 νd4 =41.08 r6 = ∞ 。
【0062】 表7 r1 = ∞ d1 = 4 nd1 =1.58913 νd1 =61.18 r2 = 20 d2 = 6 nd2 =1.58921 νd2 =41.08 r3 = ∞ d3 =120.9572 r4 = ∞ d4 = 4 nd3 =1.58913 νd3 =61.18 r5 = -60 d5 = 2. nd4 =1.58921 νd4 =41.08 r6 = ∞ 。
【0063】以上の本発明の共焦点顕微鏡は例えば次の
ように構成することができる。 〔1〕 光源から発した光で対物レンズ像位置若しくは
その像位置と共役な位置又はその近傍にある複数のピン
ホールで形成されているピンホール基板を照明し、前記
ピンホール基板を通過する光を対物レンズで標本上に結
像し、標本で反射される光を再び前記対物レンズを介し
て前記ピンホール基板又はその近傍に結像させ、前記ピ
ンホール基板を通過する光をリレーレンズ等により標本
像として再結像させ、前記ピンホール基板を高速に回転
させることによって標本上で光を高速に走査し、標本の
再生像を得ることができる共焦点顕微鏡において、軸上
色収差を発生させる光学素子をピンホール基板と標本の
間に配置したことを特徴とする共焦点顕微鏡。
【0064】〔2〕 前記光学素子が挿脱可能であるこ
とを特徴とする上記〔1〕記載の共焦点顕微鏡。
【0065】〔3〕 前記光学素子は使用する波長域の
中心波長に対する屈折力がほぼ0であることを特徴とす
る上記〔1〕又は〔2〕記載の共焦点顕微鏡。
【0066】〔4〕 前記光学素子が光路から除外され
た場合、ピンホール基板と標本の間の光学系で発生する
軸上色収差量は、対物レンズの焦点深度より小さいこと
を特徴とする上記〔1〕から〔3〕の何れか1項記載の
共焦点顕微鏡。
【0067】〔5〕 前記光学素子の配置位置は、ピン
ホール基板と対物レンズの間であり、対物レンズの後側
焦点位置又はその近傍、若しくは、対物レンズの後側焦
点位置に共役な位置又はその近傍であることを特徴とす
る上記〔1〕から〔4〕の何れか1項記載の共焦点顕微
鏡。
【0068】〔6〕 前記光学素子は少なくとも1つの
凸レンズと少なくとも1つの凹レンズを含み、以下の条
件を満たすことを特徴とする上記〔1〕から〔5〕の何
れか1項記載の共焦点顕微鏡。 |νP −νN |・(NA)2 ・fOB/f>0.01 ・・・(1) ただし、νP 、νN はそれぞれ中心波長λにおける前記
凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOBは中心波長λにお
ける使用対物レンズの焦点距離、NAは使用対物レンズ
の開口数、fは中心波長λにおける前記凸レンズの焦点
距離である。
【0069】〔7〕 前記光学素子は凸レンズと凹レン
ズ各1枚で構成され、以下の条件を満たすことを特徴と
する上記〔1〕から〔5〕の何れか1項記載の共焦点顕
微鏡。 |νP −νN |・(NA)2 ・fOB/f>0.01 ・・・(1) ただし、νP 、νN はそれぞれ中心波長λにおける前記
凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOBは中心波長λにお
ける使用対物レンズの焦点距離、NAは使用対物レンズ
の開口数、fは中心波長λにおける前記凸レンズの焦点
距離である。
【0070】〔8〕 前記光学素子は平凸レンズと平凹
レンズの接合レンズであり、接合面に曲率を有すること
を特徴とする上記〔7〕記載の共焦点顕微鏡。
【0071】
〔9〕 光源から発した光で対物レンズ像
位置若しくはその像位置と共役な位置又はその近傍にあ
る複数のピンホールで形成されているピンホール基板を
照明し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レンズ
で標本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対物
レンズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結像
させ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレンズ
等により標本像として再結像させ、前記ピンホール基板
を高速に回転させることによって標本上で光を高速に走
査し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡に
おいて、軸上色収差を発生させる光学素子をピンホール
基板と対物レンズの間に配置したことを特徴とする上記
〔1〕から〔4〕の何れか1項記載の共焦点顕微鏡。
【0072】〔10〕 前記光学素子は、各群が少なく
とも1つの凸レンズと少なくとも1つの凹レンズを含む
2つの群G1、G2を有し、以下の条件を満たすことを
特徴とする上記〔1〕から〔4〕、
〔9〕の何れか1項
記載の共焦点顕微鏡。 |νP1−νN1|・(NA)2 ・fOB/f1 >0.01 ・・・(2) ただし、νP1、νN1はそれぞれ一方の群G1中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOB
は中心波長λにおける使用対物レンズの焦点距離、NA
は使用対物レンズの開口数、f1 は一方の群G1中の中
心波長λにおける前記凸レンズの焦点距離である。
【0073】〔11〕 前記2つの群G1、G2は一方
の群G1が他方の群G2より対物レンズ後側焦点位置若
しくはそれに共役な位置に近く、以下の条件を満たすこ
とを特徴とする上記〔10〕記載の共焦点顕微鏡。 |νP1−νN1|/f1 >|νP2−νN2|/f2 ・・・(3) ただし、νP2、νN2はそれぞれ他方の群G2中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、f2
は他方の群G2中の中心波長λにおける前記凸レンズの
焦点距離である。
【0074】〔12〕 前記光学素子は、各群が凸レン
ズと凹レンズ各1枚からなる2つの群G1、G2を有
し、以下の条件を満たすことを特徴とする上記〔1〕か
ら〔4〕、
〔9〕の何れか1項記載の共焦点顕微鏡。 |νP1−νN1|・(NA)2 ・fOB/f1 >0.01 ・・・(2) ただし、νP1、νN1はそれぞれ一方の群G1中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、fOB
は中心波長λにおける使用対物レンズの焦点距離、NA
は使用対物レンズの開口数、f1 は一方の群G1中の中
心波長λにおける前記凸レンズの焦点距離である。
【0075】〔13〕 前記2つの群G1、G2は一方
の群G1が他方の群G2より対物レンズ後側焦点位置若
しくはそれに共役な位置に近く、以下の条件を満たすこ
とを特徴とする上記〔12〕記載の共焦点顕微鏡。 |νP1−νN1|/f1 >|νP2−νN2|/f2 ・・・(3) ただし、νP2、νN2はそれぞれ他方の群G2中の中心波
長λにおける前記凸レンズ、凹レンズのアッべ数、f2
は他方の群G2中の中心波長λにおける前記凸レンズの
焦点距離である。
【0076】〔14〕 異なった軸上色収差を発生させ
る少なくとも2つの光学素子の何れか1つをピンホール
基板と標本の間に配置し、かつ、前記の少なくとも2つ
の光学素子が交換可能又は挿脱可能であることを特徴と
する上記〔1〕から〔5〕、
〔9〕の何れか1項記載の
共焦点顕微鏡。
【0077】〔15〕 前記の少なくとも2つの光学素
子の少なくとも1つは、上記〔6〕〜〔8〕、〔11〕
〜〔13〕何れか1項記載の光学素子と同一であること
を特徴とする上記〔14〕記載の共焦点顕微鏡。
【0078】〔16〕 対物レンズの種類の変換に伴っ
て、前記の少なくとも2つの光学素子を変換することを
特徴とする上記〔14〕又は〔15〕記載の共焦点顕微
鏡。
【0079】〔17〕 上記〔1〕ないし〔16〕の何
れか1項記載の共焦点顕微鏡の像を撮像し、その撮像デ
ータと既知の前記光学素子の色収差データを基に画像処
理を行い、標本の光軸方向の像構築することを特徴とす
る共焦点顕微鏡。
【0080】〔18〕 既知の前記光学素子の色収差デ
ータを基に決めた光軸方向移動量に従って対物レンズと
標本の相対位置を変え、取り込んだ画像情報を基に標本
の光軸方向の像構築することを特徴とする上記〔17〕
記載の共焦点顕微鏡。
【0081】〔19〕 共焦点像となる標本面上での光
軸方向の位置を光の各波長毎に予め計算又は測定してお
き、波長毎に得られる像の光軸方向位置を既知の前記標
本面の光軸方向位置データを基に決定し、各々の波長毎
の2次元平面画像を決定した光軸方向位置に合わせて再
構成し、標本の光軸方向の像構築することを特徴とする
上記〔17〕又は〔18〕記載の共焦点顕微鏡。
【0082】〔20〕 光源から発した光で対物レンズ
像位置若しくはその像位置と共役な位置又はその近傍に
ある複数のピンホールで形成されているピンホール基板
を照明し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レン
ズで標本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対
物レンズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結
像させ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレン
ズ等により標本像として再結像させ、前記ピンホール基
板を高速に回転させることによって標本上で光を高速に
走査し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡
において、軸上色収差を発生させる対物レンズと対物レ
ンズで発生する軸上色収差を補正する色収差補正光学素
子とをピンホール基板と試料の間に配置させ、前記色収
差補正光学素子が光路から挿脱可能であることを特徴と
する共焦点顕微鏡。
【0083】〔21〕 光源から発した光で対物レンズ
像位置若しくはその像位置と共役な位置又はその近傍に
ある複数のピンホールで形成されているピンホール基板
を照明し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レン
ズで標本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対
物レンズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結
像させ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレン
ズ等により標本像として再結像させ、前記ピンホール基
板を高速に回転させることによって標本上で光を高速に
走査し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡
において、軸上色収差を発生させる対物レンズと軸上色
収差の発生の少ない対物レンズとを切り替えて使用可能
であることを特徴とする共焦点顕微鏡。
【0084】〔22〕 前記の軸上色収差を発生させる
対物レンズの色収差発生量は、前記対物レンズの使用す
る波長域の中心波長に対する焦点深度より大きいことを
特徴とする上記〔20〕又は〔21〕記載の共焦点顕微
鏡。
【0085】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、ピンホール基板を用いた共焦点顕微鏡におい
て、ピンホール基板と標本の間に軸上色収差を発生させ
る光学素子を挿入することにより、標本の光軸方向の分
布を色毎に分離することができると同時に、リアルタイ
ム(ビデオレートを越える速さ)で高分解能、長焦点深
度を実現することができる。さらに、既知の色収差発生
素子の色収差データを基に画像処理を行うことによっ
て、従来よりも高速で標本の光軸方向の像構築をするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の共焦点顕微鏡の構成図である。
【図2】本発明のもう1つの共焦点顕微鏡の構成図であ
る。
【図3】各実施例で共通に使用している顕微鏡対物レン
ズの断面図である。
【図4】各実施例で共通に使用している結像レンズの断
面図である。
【図5】図3の対物レンズと図4の結像レンズを組み合
わせた場合の収差図である。
【図6】本発明の実施例1のレンズ配置を示す図であ
る。
【図7】実施例1の結像レンズ側のリレーレンズの断面
図である。
【図8】実施例1のアフォーカルレンズの断面図であ
る。
【図9】実施例1の色収差発生光学素子の断面図であ
る。
【図10】実施例1の色収差発生光学素子を除いたとき
のピンホール基板上の1次像面での収差図である。
【図11】実施例1の色収差発生光学素子を挿入したと
きのピンホール基板上の1次像面での収差図である。
【図12】実施例2の色収差発生光学素子の断面図であ
る。
【図13】実施例2の色収差発生光学素子を挿入したと
きのピンホール基板上の1次像面での収差図である。
【図14】実施例3の色収差発生光学素子の断面図であ
る。
【図15】実施例3の色収差発生光学素子を挿入したと
きのピンホール基板上の1次像面での収差図である。
【図16】実施例4の構成を示す図である。
【符号の説明】
1…高輝度光源 2…ピンホール基板 3…結像レンズ 4…対物レンズ 5…色収差発生光学素子 6…標本面 7…リレーレンズ 8…接眼レンズ 9…ハーフミラー 10…再結像レンズ 11…結像レンズ 12、13…リレーレンズ 14…対物レンズの後側焦点位置 15…対物レンズの後側焦点位置と共役な位置 16…アフォーカルレンズ 17…色収差発生光学素子 18…撮像レンズ 19…撮像素子 20…画像表示装置 21…画像処理装置 22…コントローラ 23…ドライバ 24…ステージ G1…色収差発生光学素子の第1群 G2…色収差発生光学素子の第2群

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から発した光で対物レンズ像位置若
    しくはその像位置と共役な位置又はその近傍にある複数
    のピンホールで形成されているピンホール基板を照明
    し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レンズで標
    本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対物レン
    ズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結像さ
    せ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレンズ等
    により標本像として再結像させ、前記ピンホール基板を
    高速に回転させることによって標本上で光を高速に走査
    し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡にお
    いて、軸上色収差を発生させる光学素子をピンホール基
    板と標本の間に配置したことを特徴とする共焦点顕微
    鏡。
  2. 【請求項2】 前記光学素子が挿脱可能であることを特
    徴とする請求項1記載の共焦点顕微鏡。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の共焦点顕微鏡の像
    を撮像し、その撮像データと既知の前記光学素子の色収
    差データを基に画像処理を行い、標本の光軸方向の像構
    築することを特徴とする共焦点顕微鏡。
  4. 【請求項4】 光源から発した光で対物レンズ像位置若
    しくはその像位置と共役な位置又はその近傍にある複数
    のピンホールで形成されているピンホール基板を照明
    し、前記ピンホール基板を通過する光を対物レンズで標
    本上に結像し、標本で反射される光を再び前記対物レン
    ズを介して前記ピンホール基板又はその近傍に結像さ
    せ、前記ピンホール基板を通過する光をリレーレンズ等
    により標本像として再結像させ、前記ピンホール基板を
    高速に回転させることによって標本上で光を高速に走査
    し、標本の再生像を得ることができる共焦点顕微鏡にお
    いて、軸上色収差を発生させる対物レンズと対物レンズ
    で発生する軸上色収差を補正する色収差補正光学素子と
    をピンホール基板と試料の間に配置させ、前記色収差補
    正光学素子が光路から挿脱可能であることを特徴とする
    共焦点顕微鏡。
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