JPH10213835A - 像振れ補正機能付き光学機器 - Google Patents

像振れ補正機能付き光学機器

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JPH10213835A
JPH10213835A JP2735797A JP2735797A JPH10213835A JP H10213835 A JPH10213835 A JP H10213835A JP 2735797 A JP2735797 A JP 2735797A JP 2735797 A JP2735797 A JP 2735797A JP H10213835 A JPH10213835 A JP H10213835A
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  • Adjustment Of Camera Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 像振れ補正動作中に像振れ補正特性の変更操
作が為されても、像の急激な変動を緩和し、観察者に不
快感を与えないようにする。 【解決手段】 像振れ補正動作が行われている最中に、
像振れ補正特性の変更操作が為された場合、振れ検出信
号を積分する積分手段の時定数を変更する手段(#38
→#39)を有し、像の急激な変化を緩和する構成にし
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、手振れなどに起因
する像振れを補正する機能を具備した像振れ補正機能付
き光学機器の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。
【0003】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。
【0004】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。
【0005】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常1〜12Hzの振動であるが、シャッタのレリーズ
時点においてこのような手振れを起していても像振れの
無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとして、上
記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出値に応
じて補正レンズを変位させてやらなければならない。従
って、カメラの振れが生じても像振れを生じない写真を
撮影できることを達成するためには、第1にカメラの振
動を正確に検出し、第2に手振れによる光軸変化を補正
することが必要となる。
【0006】この振動(カメラ振れ)の検出は、原理的
にいえば、角加速度,角速度,角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。
【0007】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図8を用いてその概要を説明する。
【0008】図8の例は、図示矢印81方向のカメラ縦
振れ81p及び横振れ81yに由来する像振れを抑制す
るシステムの図である。
【0009】同図中、82はレンズ鏡筒、83p,83
yは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を84p,
84yで示してある。85は補正光学装置(87p,8
7yは各々補正光学装置85に推力を与えるコイル、8
6p,86yは補正手段85の位置を検出する位置検出
素子)であり、該補正光学装置85には後述する位置制
御ループを設けており、振動検出手段83p,83yの
出力を目標値として駆動され、像面88での安定を確保
する。
【0010】図9はかかる目的に好的に用いられる像振
れ補正装置(前述の振動検出手段,補正光学装置,コイ
ル,位置検出素子や後述する各種のIC等より構成され
る)の構造を示す分解斜視図であり、以下図9〜図18
を参照しつつ、この構造について説明する。
【0011】地板71(図12に拡大図あり)の背面突
出耳71a(3ケ所(1ケ所は隠れて見えない))は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔71bにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。
【0012】磁性体であり光択メッキが施された第2ヨ
ーク72は、孔72aを貫通するネジで地板71の孔7
1cにネジ止めされる。又、第2ヨーク72にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石(シフト用マグネット)7
3が磁気的に吸着されている。尚、各永久磁石73の磁
化方向は図8に図示した矢印73aの方向である。
【0013】補正レンズ74がCリング等で固定された
支持枠75(図13に拡大図あり)にはコイル76p,
76y(シフト用コイル)が強引に押し込まれて接合
(以下、この事を「パッチン接着」と記す)され(図1
3は未接着)、又、IRED等の投光素子77p,77
yも支持枠75の背面に接着され、スリット75ap,
75ayを通してその射出光が後述するPSD等の位置
検出素子78p,78yに入射する。
【0014】支持枠75の孔75b(3ケ所)にはPO
M(ポリアセタール樹脂)等の先端球状の支持球79
a,79b及びチャージバネ710が挿入され(図10
及び図12も参照)、支持球79aが支持枠75に熱カ
シメされ固定される(支持球79bはチャージバネ71
0のバネ力に逆らって孔75bの延出方向に摺動可能で
ある)。
【0015】上記図9は像振れ補正装置の組立後の横断
面図であり、支持枠75の孔75bに矢印79c方向に
支持球79b,チャージしたチャージバネ710,支持
球79aの順に挿入してゆき(支持球79a,79bは
同形状の部品)、最後に孔75bの周端部75cを熱カ
シメして支持球79aの抜け止めを行う。
【0016】孔75bの図10と直交する方向の断面図
を図11(a)に示し、又図11(a)の断面図を矢印
79c方向より見た平面図を図11(b)に示してお
り、図11(b)の符合A〜Dに示す範囲の深さを図1
1(a)のA〜Dに示す。
【0017】ここで、支持球79aの羽根部79aaの
後端部は深さA面の範囲で受けられ規制される為、周端
部75aを熱カシメする事で支持球79aは支持枠75
に固定される。
【0018】支持球79bの羽根部79baの先端部は
深さB面の範囲で受けられる為に、該支持球79bがチ
ャージバネ710のチャージバネ力で孔75bより矢印
79cの方向に抜けてしまう事はない。
【0019】勿論像振れ補正装置の組立が終了すると支
持球79bは図9に示す様に第2ヨーク72に受けられ
る為、支持枠75より抜け出る事はなくなるが、組立性
を考慮して抜け止め範囲B面を設けている。
【0020】図10及び図11に示す支持枠75の孔7
5bの形状は、該支持枠75を成形で作る場合において
も複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印79cと反
対側に型を抜く単純な2分割型で成形可能なために、そ
の分寸法精度を厳しく設定出来る。
【0021】この様に、支持球79a,79bが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。
【0022】上記支持枠75の軸受部75dには例えば
フッソ系のグリスを塗布し、ここにL字形の軸711
(非磁性のステンレス材)を挿入し(図9参照)、L字
軸711の他端は地板71に形成された軸受部71d
(同様にグリスを塗布し)に挿入し、3カ所の支持球7
9bを共に第2ヨーク72に乗せて支持枠75を地板7
1内に収める。
【0023】次に、図9に示す第1ヨーク712の位置
決め孔712a(3ケ所)を地板71の図12に示すピ
ン71f(3ケ所)に嵌合させ、同じく図12に示す受
け面71e(5ケ所)にて第1ヨーク712を受けて地
板71に対し磁気的に結合する(永久磁石73の磁力に
より)。
【0024】これにより、第1ヨーク712の背面が支
持球79aと当接し、図10に示す様に支持枠75は第
1ヨーク712と第2ヨーク72にて挟持され、光軸方
向の位置決めが為される。
【0025】支持球79a,79bと第1ヨーク71
2,第2ヨーク72の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠75は地板71に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。
【0026】上記L字軸711は支持枠75が地板71
に対し矢印713p,713y方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠75の地板7
1に対する光軸回りの相対的回転(ローリング)を規制
している。
【0027】尚、前記L字軸711と軸受部71d,7
5dの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球79a,79bと第1ヨーク712,第2ヨーク7
2の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。
【0028】前記第1ヨーク712の表面には絶縁用シ
ート714が被せられ、その上に複数のICを有するハ
ード基板715(位置検出素子78p,78y、出力増
幅用IC,コイル76p,76y駆動用IC等)が位置
決め孔715a(2ケ所)を地板71の図12に示すピ
ン71h(2ケ所)に嵌合され、孔715b,第1ヨー
ク712の孔712bとともに地板71の孔71gにネ
ジ結合される。
【0029】ここで、ハード基板715には位置検出素
子78p,78yが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板716も面716
aがハード基板715の背面に破線で囲む範囲715c
(図9参照)に熱により圧着される。
【0030】前記フレキシブル基板716から光軸と直
交する平面方向に一対の腕716bp,716byが延
出しており、各々支持枠75の引っ掛け部75ep,7
5ey(図13参照)に引っ掛けられ、投光素子77
p,77yの端子及びコイル76p,76yの端子が半
田付けされる。
【0031】これにより、IRED等の投光素子77
p,77y、コイル76p,76yの駆動はハード基板
715よりフレキシブル基板716を介在して行われる
ことになる。
【0032】前記フレキシブル基板716の腕部716
bp,716by(図9参照)には各々屈折部716c
p,716cyを有しており、この屈折部の弾性により
支持枠75が光軸と直交する平面内に動き回る事に対す
る該腕部716bp,716byの負荷を低減してい
る。
【0033】前記第1ヨーク712は型抜きによる突出
面712cを有し、該突出面712cは絶縁シート71
4の孔714aを通り、ハード基板715と直接接触し
ている。この接触面のハード基板715側にはアース
(GND:グランド)パターンが形成されており、ハー
ド基板715を地板にネジ結合する事で第1ヨーク71
2はアースされ、アンテナになってハード基板715に
ノイズを与える事を無くしている。
【0034】図9に示すマスク717は地板71のピン
71hに位置決めされ、前記ハード基板715上に両面
テープにて固定される。
【0035】前記地板71には永久磁石貫通孔71i
(図9,図12参照)が開けられており、ここから第2
ヨーク72の背面が露出している。そして、この貫通孔
71iに永久磁石718(ロック用マグネット)が組み
込まれ、第2ヨーク72と磁気結合している(図10参
照)。
【0036】ロックリング719(図9,図10,図1
4参照)にはコイル720(ロック用コイル)が接着さ
れ、又ロックリング719の耳部719aの背面には軸
受719b(図15参照)があり、アマーチュアピン7
21(図9,図15参照)にアマーチュアゴム722を
通し、該アマーチュアピン721を軸受719bに通し
た後、該アマーチュアピン721にアマーチュアバネ7
23を通し、アマーチュア724に嵌入してカシメ固定
する。
【0037】従って、アマーチュア724はアマーチュ
アバネ723のチャージ力に逆らってロックリング71
9に対し矢印725方向に摺動出来る。
【0038】図15は組立終了後の振れ補正装置を、図
9の背面方向から見た平面図であり、この図において、
ロックリング719の外径切り欠き部719c(3ケ
所)を地板71の内径突起71j(3ケ所)に合せてロ
ックリング719を地板71に押し込み、その後ロック
リングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネ
ット結合により、ロックリング719は地板71に取り
付いている。
【0039】従って、ロックリング719は地板71に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
719が回転して再びその切り欠き719cが突起71
jと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム726(図9,図15参照)を地板
71に圧入して、該ロックリング719がロックゴム7
26に規制される切り欠き部719dの角度θ(図15
参照)しか回転出来ない様に回転規制している。
【0040】磁性体のロック用ヨーク727(図9参
照)にも永久磁石718(ロック用マグネット)が取り
付けられ、その孔727a(2ケ所)を地板71のピン
71k(図15参照)に嵌合して嵌め込み、孔727b
(2ケ所)と71n(2ケ所)によりねじ結合してい
る。
【0041】地板71側の永久磁石718とロック用ヨ
ーク727側の永久磁石718、及び、第2のヨーク7
2,ロック用ヨーク727により、公知の閉磁路を形成
している。
【0042】又、前記ロックゴム726はロック用ヨー
ク727がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
15においては上記の説明の為にロックヨーク727は
省いて図示している。
【0043】前記ロックリング719のフック719e
と地板71のフック71m間(図15参照)にはロック
バネ728が掛けられており、ロックリング719を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク729(図9,図
15参照)には吸着コイル730が差し込まれ、地板7
1の孔729aによりネジ結合される。
【0044】コイル720の端子及び吸着コイル730
の端子は、例えば4本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板716の幹部716
dに半田付けされる。
【0045】前記ハード基板715上のIC731p,
731y(図9参照)は各々位置検出端子78p,78
yの出力増幅用のICであるが、その内部構成は図16
の様になっている(IC731p,731yは同構成の
為、ここでは731pのみ示す)。
【0046】図16において、電流−電圧変換アンプ7
31ap,731bpは投光素子77pにより位置検出
素子78p(抵抗R1,R2より成る)に生じる光電流
78i1p,78i2pを電圧に変換し、差動アンプ7
31cpは各電流−電圧変換アンプ731ap,731
bpの差出力を求め増幅している。
【0047】投光素子77p,77yの射出光は、前述
した通り、スリット75ap,75ayを経由して位置
検出素子78p,78y上に入射するが、支持枠75が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子78p,
78yへの入射位置が変化する。
【0048】前記位置検出素子78pは矢印78ap方
向(図9参照)に感度を持っており、又スリット75a
pは矢印78apとは直交する方向(78ay方向)に
光束が拡がり、矢印78ap方向には光束が絞られる形
状をしている為、支持枠75が矢印713p方向に動い
た時のみ該位置検出素子78pの光電流78i1 p,7
8i2 pのバランスは変化し、差動アンプ731cpは
支持枠75の矢印713p方向に応じた出力をする。
【0049】又位置検出素子78yは矢印78ay方向
(図9参照)に検出感度を持ち、スリット75ayは矢
印78ayとは直交する方向(78ap方向)に延出す
る形状の為に、支持枠75が矢印713y方向に動いた
時のみ該位置検出素子78yは出力を変化させる。
【0050】加算アンプ731dpは電流−電圧変換ア
ンプ731ap,731bpの出力の和(位置検出素子
78pの受光量総和)を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ731epはこれに従って投光素子77pを駆動す
る。
【0051】上記投光素子77pは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
78pの光電流78i1 p,78i1 pの絶対量(78
1p+78i2 p)が変化する。その為、支持枠75
の位置を示す(78i1 p−78i2 p)である差動ア
ンプ731cpの出力も変化してしまう。
【0052】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子77pを制御
すれば、差動アンプ731cpの出力変化が無くなる。
【0053】図9に示すコイル76p,76yは永久磁
石73,第1のヨーク712,第2のヨーク72で形成
される閉磁路内に位置し、コイル76pに電流を流す事
で支持枠75は矢印713p方向に駆動され(公知のフ
レミングの左手の法則)、コイル76yに電流を流す事
で支持枠75は矢印713y方向に駆動される。
【0054】一般に位置検出素子78p,78yの出力
をIC731p,731yで増幅し、その出力でコイル
76p,76yを駆動すると、支持枠75が駆動されて
位置検出素子78p,78yの出力が変化する構成とな
る。
【0055】ここで、コイル76p,76yの駆動方向
(極性)を位置検出素子78p,78yの出力が小さく
なる方向に設定すると(負帰還)、該コイル76p,7
6yの駆動力により位置検出素子78p,78yの出力
がほぼ零になる位置で支持枠75は安定する。
【0056】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
(例えば手振れ角度信号)をIC731p,731yに
混合させると、支持枠75は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。
【0057】実際には差動アンプ731cp,731c
yの出力はフレキシブル基板716を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ/デジタル変換
(A/D変換)が行われ、マイコンに取り込まれる。
【0058】マイコン内では適宜目標値(手振れ角度信
号)と比較増幅され、公知のデジタルフィルタ手法によ
る位相進み補償(位置制御をより安定させる為)が行わ
れた後、再びフレキシブル基板716を通り、IC73
2(コイル76p,76y駆動用)に入力する。IC7
32は入力される信号を基に前記コイル76p,76y
を公知のPWM(パルス幅変調)駆動を行い、支持枠7
5を駆動する。
【0059】支持枠75は前述した様に矢印713p,
713y方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠75を制御しておく事は出来ない。だからとい
って非制御状態にしておくと、支持枠75は非制御状態
時には光軸と直交する平面内にて自由に動き回る事が出
来るようになる為、その時のストローク端(機械的端、
詳しくはメカロックリング)での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。
【0060】その対策として、以下に説明する様に、支
持枠75を係止するロック機構を具にしている。
【0061】図15及び図17に示す様に支持枠75の
背面には3ケ所の放射状に突出した突起75fを設けて
あり、図17に示す様に突起75fの先端がロックリン
グ719の内周面719gに嵌合している。従って、支
持枠75は地板71に対して全ての方向に拘束されてい
る。
【0062】図17(a),(b)はロックリング71
9と支持枠75の動作の関係を示す平面図であり、図1
5の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図17(a)のカム部719f
(3ケ所)は、図10,図14に示す通り、ロックリン
グ719の円筒の母線方向全域に渡って設けられている
訳ではないので図15の方向からは実際には見えない
が、説明の為に図示している。
【0063】図10に示した通り、コイル720(図1
7の720aは図示しないフレキシブル基板等でロック
リング719の外周を通り、端子719hよりフレキシ
ブル基板716の幹部716d上の端子716eに接続
される4本縒り線の引き出し線)は永久磁石718で挟
まれた閉磁路内に入っており、コイル720に電流を流
す事でロックリング719を光軸回りに回転させるトル
クを発生する。
【0064】このコイル720の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板716を介してハード基板71
5上の駆動用IC733に入力する指令信号で制御さ
れ、IC733はコイル720をPWM駆動する。
【0065】図17(a)において、コイル720に通
電するとロックリング719に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル720の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング719はロックバネ728のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。
【0066】尚、ロックリング719は、コイル720
に通電前はロックバネ728の力によりロックゴム72
6に当接して安定している。
【0067】ロックリング719が回転すると、アマー
チュア724が吸着ヨーク729に当接してアマーチュ
アバネ723を縮め、吸着ヨーク729とアマーチュア
724の位置関係をイコライズしてロックリング719
は図17(b)の様に回転を止める。
【0068】図18はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。
【0069】図18の矢印719iでコイル720に通
電(720bに示すPWM駆動)すると同時に吸着マグ
ネット730にも通電(730a)する。その為、吸着
ヨーク729にアマーチュア724が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア724は吸着ヨーク729
に吸着される。
【0070】次に、図18の720cに示す時点でコイ
ル720への通電を止めると、ロックリング719はロ
ックバネ728の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア724が吸着ヨーク729に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
75の突起75fはカム部719fと対向する位置に在
る(カム部719fが回転して来る)為、支持枠75は
突起75fとカム部719fの間のクリアランス分だけ
動ける様になる。
【0071】この為、重力G(図17(b)参照)の方
向に支持枠75が落下する事になるが、図18の矢印7
19iの時点で支持枠75も制御状態にする為、落下す
る事は無い。
【0072】支持枠75は非制御時はロックリング71
9の内周で拘束されているが、実際には突起75fと内
周壁719gの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠75は重力G方向に落ちており、支
持枠75の中心と地板71の中心がずれている事にな
る。その為、矢印719iの時点から例えば1秒費やし
てゆっくり地板71の中心(光軸の中心)に移動させる
制御をしている。
【0073】これは急激に中心に移動させると補正レン
ズ74を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為
であり、この間に露光が行われても、支持枠75の移動
による像劣化が生じない様にする為である。(例えば1
/8秒で支持枠を5μm移動させる) 詳しくは、図18の矢印719i時点での位置検出素子
78p,78yの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠75の制御を始め、その後1秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく(図
18の75g参照)。
【0074】ロックリング719が回転され(アンロッ
ク状態)た後、振動検出手段からの目標値を基にして
(前述した支持枠75の中心位置移動動作に重なって)
支持枠75が駆動され、防振が始まる事になる。
【0075】ここで、防振を終わる為に矢印719jの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、
支持枠75は中心位置に制御されて止まる。この時に吸
着コイル730への通電を止める(730b)。する
と、吸着ヨーク729によるアマーチュア724の吸着
力が無くなり、ロックリング719はロックバネ728
により時計回りに回転され、図17(a)の状態に戻
る。この時、ロックリング719はロックゴム726に
当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリン
グ719の衝突音は小さく抑えられる。
【0076】その後(例えば20msec後)、補正駆
動手段への制御を断ち、図18のタイミングチャートは
終了する。
【0077】このような像振れ補正装置を具備したカメ
ラの像振れ補正機能に係る部分のみの回路構成を示した
のが、図19のブロック図である。
【0078】振れ検出手段2の出力は増幅手段3で増幅
され、マイクロコンピュータ(以下、マイコンと記す)
1のA/D変換端子に入力される。また、補正レンズの
位置検出を行う位置検出手段4の出力は増幅手段5で増
幅され、マイコン1のA/D変換端子に入力される。マ
イコン1内ではこれら2つのデータの信号処理を行い、
補正レンズ駆動データを補正レンズ駆動手段6へ出力
し、補正レンズを駆動して像振れ補正を行う。また、ロ
ック・アンロック駆動手段7は、前述したアンロックコ
イルの駆動、アンロック状態保持等を行うものである。
【0079】
【発明が解決しようとする課題】上記の様な像振れ補正
装置を具備したカメラにおいて、像振れ補正に際して
は、静止した被写体を撮影する場合、動きの多い被写体
を撮影する場合、三脚に取り付けて撮影するなど、様々
な状況に適した像振れ補正特性があり、その使い分けが
重要である。
【0080】例えば、静止した被写体を撮影する場合
は、低周波の振れまで補正するような像振れ補正特性を
設定すれば良いが、逆に動きの多い被写体を撮影する場
合は、低周波を効かせすぎるとパンニング動作にも応答
してしまうので操作性が悪くなるため、低周波の特性は
落とした方が良い。
【0081】そこで、複数の像振れ補正モードを具備
し、外部操作により選択された像振れ補正モードに応じ
て、そのモードに最適な像振れ補正制御を行い、どのよ
うな撮影状態であっても最適な写真撮影を可能とする提
案も既に為されている。
【0082】しかし、像振れ補正動作中に像振れ補正モ
ードを切り換えられてしまった場合、特性がまったく変
わってしまうので、振れ検出演算結果が不連続に変化し
てしまう。像振れ補正はその振れ検出演算結果に基づい
て行われるので、ファインダで急峻な像変動を発生させ
てしまう。そうなると、撮影者に不快感を与えてしまう
ことになる。
【0083】(発明の目的)本発明の第1の目的は、像
振れ補正動作中に像振れ補正特性の変更操作が為されて
も、像の急激な変動を緩和し、観察者に不快感を与えな
いようにすることのできる像振れ補正機能付き光学機器
を提供しようとするものである。
【0084】本発明の第2の目的は、上記第1の目的を
達成すると共に、像の急激な変動を緩和できない場合
は、像振れ補正特性の変更操作が為されても、像の変動
自体を生じさせない制御状態を形成し、観察者に不快感
を与えないようにすることのできる像振れ補正機能付き
光学機器を提供しようとするものである。
【0085】本発明の第3の目的は、像振れ補正動作中
に像振れ補正特性の変更操作が為されても、像の変動自
体を生じさせない制御状態を形成し、観察者に不快感を
与えないようにすることのできる像振れ補正機能付き光
学機器を提供しようとするものである。
【0086】
【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、本発明は、結像光学系に加わる振れに起因す
る像振れを補正する補正光学手段と、前記振れ状態を検
出し、前記補正光学手段の位置制御用の駆動信号を算出
する演算手段と、該演算手段からの駆動信号に基づいて
前記補正光学手段を駆動する駆動手段と、複数の中より
任意の像振れ補正特性に変更する為の操作手段とを有す
る像振れ補正機能付き光学機器において、像振れ補正動
作が行われている最中に、前記操作手段により像振れ補
正特性が変更された場合、像の急激な変化を緩和する像
変動緩和手段を有する像振れ補正機能付き光学機器とす
るものである。
【0087】具体的には、像振れ補正動作が行われてい
る最中に、像振れ補正特性の変更操作が為された場合、
例えば、振れ検出信号を積分する積分手段の時定数が変
更される前後(特性変更される前後)での積分結果を同
じにするように積分を行ったり、前記積分手段の、像振
れ補正特性の変更前と変更後の出力の差分を算出したり
して、像の急激な変化を緩和する構成にしている。
【0088】また、上記第2の目的を達成するために、
本発明は、像変動緩和手段を機能させても像変動が緩和
されないと判定した場合は、像振れ補正特性の変更操作
が為されても、像振れ補正特性の変更を禁止する特性変
更制御手段を有する像振れ補正機能付き光学機器とする
ものである。
【0089】また、上記第3の目的を達成するために、
本発明は、結像光学系に加わる振れに起因する像振れを
補正する補正光学手段と、前記振れ状態を検出し、前記
補正光学手段の位置制御用の駆動信号を算出する演算手
段と、該演算手段からの駆動信号に基づいて前記補正光
学手段を駆動する駆動手段と、複数の中より任意の像振
れ補正特性に変更する為の操作手段とを有する像振れ補
正機能付き光学機器において、像振れ補正動作が行われ
ている最中に、前記操作手段により像振れ補正特性が変
更された場合、前記像振れ補正特性の変更は禁止する像
振れ補正特性禁止手段を有する像振れ補正機能付き光学
機器とするものである。
【0090】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。
【0091】図1は本発明の実施の第1の形態に係るブ
ロック図であり、ここでは像振れ補正機能付き光学機器
として、一眼レフカメラの交換レンズに適用した場合を
想定している。
【0092】図1において、101はレンズマイコンで
あり、カメラ本体側から通信用のライン109c(クロ
ック信号用),109d(本体→レンズ信号伝達用)を
通じて通信を受け、その指令値によって、図8に示した
ような構成より成る振れ補正系102,フォーカス駆動
系104,絞り駆動系105の動作を行わせたり、振れ
補正系102の制御を行ったりする。
【0093】前記振れ補正系102は、振れを検知する
角変位センサ等の振れセンサ106、補正レンズの位置
を検出する位置センサ107、及び、前記振れセンサ1
06と位置センサ107の出力を基にレンズマイコン1
01にて算出された駆動信号によって補正レンズを駆動
し、像振れ補正を行う振れ補正駆動系108から成る。
【0094】また、124(SWISとも記す)は像振
れ補正動作を行わせるための像振れ補正開始用スイッチ
であり、像振れ補正動作を選択する場合にはこのスイッ
チSWISをONにする。125(SWISMODEと
も記す)は像振れ補正特性(以下、像振れ補正モードと
記す)を切り換えるためのスイッチであり、通常撮影モ
ード(以下、これを「モード1」と記す)と動体撮影モ
ード(以下、これを「モード2」と記す)の設定が可能
である。
【0095】前記フォーカス駆動系104は、レンズマ
イコン101からの指令値によって焦点調節用のレンズ
を駆動してフォーカシングを行う。前記絞り駆動系10
5は、レンズマイコン101からの指令値によって、絞
りを設定された位置まで絞る又は開放状態に復帰させる
という動作を行う。
【0096】また、前記レンズマイコン101は、レン
ズ内の状態(ズーム位置,フォーカス位置,絞り値の状
態など)や、レンズに関する情報(開放絞り値,焦点距
離,測距演算に必要なデータなど)を通信用のライン1
09e(レンズ→カメラ本体信号伝達用)よりカメラ本
体側に伝達することも行う。
【0097】前述のレンズマイコン101,振れ補正系
102,フォーカス駆動系104,絞り駆動系105か
ら、レンズ電気系110が構成される。そして、このレ
ンズ電気系110に対しては、通信用のライン109
a,グランド用ライン109bを通じてカメラ内電源1
18から電源供給が行われる。
【0098】カメラ本体内には、カメラ本体内の電気系
111として、測距部112,測光部113,シャッタ
部114,表示部115,その他の制御部116、及
び、これらの動作開始・停止などの管理,露出演算,測
距演算などを行うカメラマイコン117が内蔵されてい
る。この電気系111に対しても、その電源はカメラ内
電源118より供給される。
【0099】また、121(SW1とも記す)は測光や
測距を開始させるためのスイッチであり、122(SW
2とも記す)はレリーズ動作を開始させるためのレリー
ズスイッチであり、これらは一般的には2段ストローク
スイッチであって、レリーズボタンの第1ストロークで
スイッチSW1がONし、第2ストロークでレリーズス
イッチSW2がONになるように構成されている。
【0100】123(SWMとも記す)は露出モード選
択スイッチであり、露出モード変更は、該スイッチのO
N,OFFで行ったり、該スイッチ123と他の操作部
材との同時操作により行う方法などがある。
【0101】次に、上記構成のカメラの交換レンズ側で
の動作説明を行う。
【0102】レンズマイコン101は、図2のフローチ
ャートに示すように動作し、前述のレンズ制御を行って
いる。以下、図2にしたがって動作説明をする。
【0103】カメラのスイッチSW1のONなど、何ら
かの操作がなされると、カメラ本体(以下、単にカメラ
と記す)から交換レンズ(以下、単にレンズと記す)へ
通信がなされ、レンズマイコン101はステップ#1か
ら動作を開始する。 [ステップ#1] レンズ制御,像振れ補正制御のため
の初期設定を行う。 [ステップ#2] カメラからの指令に基づいてフォー
カス駆動を行う。 [ステップ#3] ズーム及びフォーカスのポジション
検出を行う。 [ステップ#4] カメラからの通信やスイッチSWI
Sの状態に応じて、図16等で前述したような補正光学
手段である支持枠(補正レンズ)のロック・アンロック
制御を行う。 [ステップ#5] カメラからHALT(レンズ内のア
クチュエータの全駆動を停止する)命令を受信したかど
うかの判定を行い、HALT命令を受信していなければ
上記ステップ#2からの動作を繰り返す。
【0104】また、ステップ#5にてHALT命令を受
信していれば、ステップ#6へ移行する。 [ステップ#6] HALT制御を行う。ここでは全駆
動を停止し、レンズマイコン101はスリープ(停止)
状態になる。
【0105】これらの動作の間に、カメラからの通信に
よるシリアル通信割り込み、像振れ補正制御割り込みの
要求があれば、それらの割り込み処理を行う。
【0106】シリアル通信割り込み処理は、通信データ
のデコード,絞り駆動などのレンズ処理を行う。そし
て、通信データのデコードによって、スイッチSW1の
ON,スイッチSW2のON,シャッタ秒時,カメラの
機種等が判別できる。
【0107】次に、上記ステップ#4にて実行されるロ
ック制御、つまりロック・アンロック動作について、図
3のフローチャートを用いて説明する。尚この実施の形
態における像振れ補正装置は、前述の図8で述べた構造
を持つものを想定している。また、像振れ補正動作は、
カメラのメインスイッチ、スイッチSW1,SWISの
全てがONになったら開始するようなシステムであるも
のとする。 [ステップ#11] カメラのメインスイッチがONさ
れているかどうかの判定を行い、ONされていればステ
ップ#12へ進む。 [ステップ#12] カメラのスイッチSW1がONさ
れたかどうかの判定を行い、ONされていればステップ
#13へ進む。 [ステップ#13] スイッチSWISがONされたか
どうかの判定を行い、ONされていればステップ#14
へ進む。
【0108】つまり、カメラのメインスイッチ、スイッ
チSW1,SWISの全てONであれば、ステップ#1
4からの像振れ補正動作を開始する。もし、どれか1つ
でもOFFの場合は、後述するステップ#40からの像
振れ補正終了動作を行う。 [ステップ#14] 像振れ補正開始フラグIS_ST
ARTをセットする。 [ステップ#15] アンロック吸着用マグネットに通
電をする。これは図16等で述べた様に、ロックリング
がロックバネに逆らって回転した状態を保持(ロック解
除状態)しておくためである。 [ステップ#16] 振れ補正駆動用のコイルに通電を
行う。 [ステップ#17] ロックリング駆動コイルに通電
し、ロックリングを回転させる。 [ステップ#18] ロックリング駆動時間が経過した
かどうかの判定を行う。このロックリング駆動時間は、
以下のステップ#19でロックリングの回転を停止して
も、アンロック吸着用マグネットによってロック解除状
態を保持できる時間があらかじめ設定されている。ここ
で、ロックリング駆動時間が経過していなければこのサ
ブルーチンを終了し、以後ロックリング駆動時間が経過
するまで同様の動作を繰り返する。その後、ロックリン
グ駆動時間が経過したことを判定すると、ステップ#1
9へ進む。 [ステップ#19] ロックリング駆動コイルへの通電
を停止する。これでロック解除状態となる。
【0109】また、前述した様にカメラのメインスイッ
チ、スイッチSW1,SWISのどれか1つでもOFF
の場合は、ステップ#20からの像振れ補正の終了動作
を行う。 [ステップ#20] 像振れ補正開始フラグIS_ST
ARTをクリアする。 [ステップ#21] アンロック吸着用マグネットへの
通電を停止する。これにより、ロックバネによってロッ
クリングがロック方向に回転しロック状態となる。 [ステップ#22] ロックリング駆動中にOFFされ
る場合があるので、ロックリング駆動コイルの通電も停
止しておく。 [ステップ#23] 補正レンズを可動中心位置に持っ
ていくセンタリング動作が終了したかどうかの判定を行
い、終了していなければこのサブルーチンを終了し、セ
ンタリング動作が終了するまで同様の動作を繰り返す。
その後、センタリング動作が終了したことを判定する
と、ステップ#19へ進む。 [ステップ#24] 可動中心位置に補正レンズがある
ので、振れ補正駆動用コイルへの通電を停止する。
【0110】以上のようにロック・アンロック動作が行
われる。
【0111】また、像振れ補正割り込みは一定時間毎
(例えば500msec)に発生するタイマ割り込みであ
る。そして、ピッチ方向(縦方向)の制御とヨー方向
(横方向)の制御を交互に行うので、この場合の片方向
のサンプリング周期は1msecとなる。また、制御方法
(演算係数等)は同じでも、演算などの結果は当然ピッ
チ方向とヨー方向で別々のデータとなるので、ピッチと
ヨーでそれぞれ基準アドレスを設定し、演算結果などの
データをRAMの間接アドレスで指定し、基準アドレス
をピッチ制御時とヨー制御時で切り換えることによって
行なっている。
【0112】カメラのメイン動作中に像振れ補正割り込
みが発生すると、レンズマイコン101は図4のステッ
プ#31から像振れ補正の制御を開始する。 [ステップ#31] 交換レンズ(カメラ)に加わる振
れ検出を行う角速度センサの出力をA/D変換する。 [ステップ#32] 像振れ補正開始命令を受けたかど
うかの判定を行い、像振れ補正開始命令を受けていない
ならステップ#33へ進む。 [ステップ#33] 像振れ補正を行なわないので、ハ
イパス・積分演算の初期化を行う。そして、ステップ#
41へ進む。
【0113】また、上記ステップ#32にて像振れ補正
開始命令を受けていた場合はステップ#34へ進む。 [ステップ#34] 像振れ補正を動作するため、ハイ
パスフィルタ演算を行う。像振れ補正の開始から2〜3
秒は時定数切り換えを行ない、立ち上がりの像揺れを緩
和することも行う。 [ステップ#35] 像振れ補正モードが、モード1
(通常撮影モード)かモード2(動体撮影モード)かの
判定を行い、モード1であればステップ#36へ進み、
モード2であった場合はステップ#37へ進む。 [ステップ#36] モード1なので、積分カットオフ
周波数を 0.2Hzに設定する。 [ステップ#37] モード2なので、積分カットオフ
周波数を 0.3Hzに設定する。
【0114】上記の積分カットオフ周波数を設定した場
合は、いずれの場合もステップ#38へ進む。 [ステップ#38] 像振れ補正動作中に像振れ補正モ
ードが切り換えられたか、つまり積分のカットオフ周波
数の設定が変更されたかどうかを判定し、変更されてい
ない場合はステップ#40へ直ちに進むが、変更されて
いた場合はステップ#39へ進む。 [ステップ#39] 積分演算の演算子W(n−1)を
変更後の積分係数で求め直す(過渡応答対策)。
【0115】ここで、積分演算について説明する。
【0116】デジタルで行う積分演算は、以下の式の演
算を行っている。
【0117】 入力 :X(n) 出力 :Y(n) 演算子 :W(n),W(n−1) 積分演算係数 :A0,A1,B1 今回のサンプリング:n このとき、積分のカットオフ周波数を変更すると、積分
演算係数A0,A1,B1が変化するので(変更後の積
分演算係数をそれぞれA0´,A1´,B1´とす
る)、変更前の積分演算係数で求めたW(n−1)を用
いて、新しい積分演算係数で積分演算を行うと過渡応答
が発生してしまう。したがって、過渡応答を発生させな
いようにする為には、前回の積分演算結果と同じになる
ように演算子W(n−1)を演算し直さなければならな
い。
【0118】新しく演算子W(n−1)を求めるには、
上記式(1),式(2)からW(n)を消去し、W(n
−1)について解くと、 となるので、新しい積分演算係数で演算子W(n−1)
を求めればよい。 [ステップ#40] 設定された特性の積分演算を行
う。この結果は角変位データθになる。前記ステップ#
36又は#37で設定した積分特性は通常のしっかり構
えたときの手持ち時の特性であり、パンニングされた場
合は、振れ角変位に応じて積分のカットオフ周波数を切
り換えることも行っている。 [ステップ#41] フォーカスのポジションによっ
て、振れ角変位に対する補正レンズの偏心量(敏感度)
が変化するので、その調整を行う。具体的には、フォー
カスポジションを幾つかのゾーンに分割し、各ゾーンに
おける平均的な敏感度(deg /mm)をテーブルデータか
ら読み出し、補正レンズ駆動データに変換する。その演
算結果はマイコン内のSFTDRVで設定されるRAM領域に
格納する。 [ステップ#42] 補正レンズの位置センサ出力をA
/D変換し、A/D結果をマイコン内のSFTPSTで設定さ
れるRAM領域に格納する。 [ステップ#43] フィードバック演算(SFTDRV−SF
TPST)を行う。 [ステップ#44] ループゲインと上記フィードバッ
ク演算結果を乗算する。 [ステップ#45] 安定な制御系にするために位相補
償演算を行う。 [ステップ#46] 上記位相補償演算の結果をPWM
としてマイコンのポートに出力し、割り込みが終了す
る。
【0119】前述の出力は振れ補正系102内の振れ補
正駆動系に入力され、補正レンズが駆動されて像振れ補
正が行われる。
【0120】以上の様に、ステップ#38〜#39にお
いて、像振れ補正動作中に像振れ補正モードが切り換え
られたら、積分の演算子W(n−1)を新しい積分係数
で求め直しているので、換言すれば、積分時定数が変更
される前後での積分結果が同じになるように積分演算を
行っているので、過渡応答(像の急激な変動)が減少
し、モードが切り換えられることによる像変動を緩和す
ることができる。
【0121】なお、この実施の形態では、像振れ補正動
作中に像振れ補正モードが切り換えられたら、積分の演
算子W(n−1)を新しい積分係数で求め直すようにし
ているが、位相補償演算時における係数を変更するよう
にしても、像の急激な変動を抑えることは可能である。
【0122】(実施の第2の形態)この実施の第2の形
態では、像振れ補正動作中に像振れ補正モードが切り換
えられた場合は、切り換えられる前と後の積分演算結果
の差分を保持しておき、その後のサンプリングでは積分
演算結果からその保持した差分を加減算することで、像
変動を緩和する動作例を説明する。
【0123】回路構成は上記実施の第1の形態と同様で
あるので、その説明は省略する。
【0124】この実施の第2の形態における動作につい
て、図5のフローチャートを用いて説明する。なお、上
記実施の第1の形態における図3及び図4のフローチャ
ートと同様の部分の説明は省略し、この実施の第2の形
態特有の動作部分のみについて説明する。図5が図4と
異なる点は、ステップ#51〜#58の部分であるの
で、その部分のみについて説明する。 [ステップ#51] モード1なので、積分のカットオ
フ周波数を 0.2HZに設定する。 [ステップ#52] 積分を行う。そして、その結果を
角変位データθ1とする。そして、ステップ#55へ移
行する。 [ステップ#53] モード2なので、積分のカットオ
フ周波数を 0.3HZに設定する。 [ステップ#54] 積分を行う。そして、その結果を
角変位データθ2とする。そして、ステップ#55へ移
行する。 [ステップ#55] 前回のサンプリング時と像振れ補
正モードが変更されているかどうかの判定を行い、変更
されていればステップ#56へ、変更されていなければ
ステップ#41へ、それぞれ進む。 [ステップ#56] 角変位データθ1とθ2の差分を
θOFSTに保持する。 [ステップ#57] 今回の積分結果θからθOFSTを差
し引き、新しい角変位データθとする。 [ステップ#58] 演算の初期化中にθOFSTを0とす
る。
【0125】以上の様に、演算の初期化中にθOFSTを0
にクリアしておき、像振れ補正動作中に像振れ補正モー
ドが切り換えられたら、前回と今回の像振れ補正モード
時に得られた角変位データの差分θOFSTを保持し、その
後のサンプリングではその差分を差し引いているので、
モード切換え時の角変位データの急激な変動がなくな
り、像変動を抑制することができる。
【0126】(実施の第3の形態)この実施の第3の形
態では、像振れ補正動作中に像振れ補正モードが切り換
えられた際に、上記実施の第1の形態のような像変動を
動作させても像変動が残ってしまうと判定した場合は、
像振れ補正の制御は切り換えないようにする例を想定し
ている。例えば、像振れ補正モードがモード1からモー
ド2に切換え操作がされても、時定数変化が大きい場合
は像振れ補正制御はモード1の時のままで行おうとする
ものである。
【0127】回路構成は上記実施の第1の形態と同様で
あるので、その説明は省略する。
【0128】この実施の第3の形態における動作につい
て、図6のフローチャートを用いて説明する。なお、上
記実施の第1の形態における図3及び図4のフローチャ
ートと同様の部分の説明は省略し、この実施の第3の形
態特有の動作部分のみについて説明する。図6が図4と
異なる点は、ステップ#60〜#66の部分であるの
で、その部分のみについて説明する。又、ステップ#4
2以降の図示も省略する。 [ステップ#60] スイッチSWISMODEがモー
ド1であるかモード2であるかの判定を行い、モード1
であればステップ#61へ進む。 [ステップ#61] ここでは振れ量に応じて積分のカ
ットオフ周波数を変更していくパンニング制御を行って
いる。具体的には、前回のサンプリングで求められた振
れ量θを基に、モード1の積分カットオフ周波数設定用
テーブルデータから積分のカットオフ周波数を読み出し
て設定している。振れ量θが大きくなる程積分のカット
オフ周波数も大きくなるようなテーブルデータにしてい
る。
【0129】また、上記ステップ#60にてスイッチS
WISMODEがモード2であれば、ステップ#62へ
進む。 [ステップ#62] 上記ステップ#61と同様、振れ
量に応じて積分のカットオフ周波数を変更していくパン
ニング制御を行っている。具体的には、前回のサンプリ
ングで求められた振れ量θを基に、モード2の積分カッ
トオフ周波数設定用テーブルデータから積分のカットオ
フ周波数を読み出して設定している。前述した様に、モ
ード2は動体撮影モードであるので、積分カットオフ周
波数設定テーブルデータはモード1よりも大きい値に設
定し、パンニング動作の制御性を良くしている。 [ステップ#63] 積分カットオフ周波数が変更され
たかどうかの判定を行い、変更されていなければステッ
プ#40へ進み、変更されていればステップ#64へ進
む。 [ステップ#64] 積分カットオフ周波数の変化が、
例えば5倍以上であるかどうかの判定を行い、5倍以上
であればステップ#65へ進む。ここで、5倍とは、例
えば積分カットオフ周波数が 0.2Hzから1Hzに変化
されている場合である。 [ステップ#65] 積分カットオフ周波数の変化が5
倍以上であるので、前回のサンプリング時と同じ積分カ
ットオフ周波数に戻す。そして、積分演算を行うステッ
プ#40へ進む。
【0130】また、ステップ#64にて積分カットオフ
周波数の変化が5倍未満であれば、ステップ#66へ進
む。 [ステップ#66] 積分カットオフ周波数の変化が5
倍未満であるので、上記実施の第1の形態で説明した様
に、積分演算における演算子を新しい積分カットオフ周
波数の係数の基で計算し直し、過渡応答を緩和する。
【0131】以上の様に、像振れ補正動作中に像振れ補
正モードが切り換えられた際(ステップ#63のYE
S)、積分カットオフ周波数が所定値以上変化し(ステ
ップ#64のYES)、像変動を緩和する事ができない
と判定する場合(ステップ#63のYES)、積分カッ
トオフ周波数は切り換えないようにしている為(ステッ
プ#65)、像変動が生じる事は無い。一方、変化が所
定値未満の場合は(ステップ#64のNO)、過渡応答
対策を施するようにしている為(ステップ#66)、像
変動を緩和することができる。
【0132】(実施の第4の形態)この実施の第4の形
態では、像振れ補正動作中に像振れ補正モードが切り換
え操作が為されても、像振れ補正の制御は切り換えない
ようにする例を想定している。例えば、像振れ補正モー
ドがモード1からモード2に切換え操作がされても、像
振れ補正制御はモード1の時のままで行おうとするもの
である。
【0133】回路構成は上記実施の第1の形態と同様で
あるので、その説明は省略する。
【0134】この実施の第4の形態における動作につい
て、図7のフローチャートを用いて説明する。なお、上
記実施の第3の形態と同じ部分の説明は省略し、この実
施の第4の形態特有の動作部分のみについて説明する。
図7が図6と異なる点は、ステップ#67〜#71の部
分であるので、その部分のみについて説明する。又、ス
テップ#42以降の図示も省略する。 [ステップ#67] スイッチSWISMODEがモー
ド1であるかモード2であるかの判定を行い、モード1
であればステップ#68へ進む。 [ステップ#68] 前回のサンプリング時とモードが
異なるか、つまり、モードがモード2からモード1に切
り換えられたかを判定する。そうでなければステップ#
69へ進み、そうでなければステップ#71へ進む。 [ステップ#69] ここでは振れ量に応じて積分のカ
ットオフ周波数を変更していくパンニング制御を行って
いる。具体的には、前回のサンプリングで求められた振
れ量θを基に、モード1の積分カットオフ周波数設定用
テーブルデータから積分のカットオフ周波数を読み出し
て設定している。振れ量θが大きくなる程積分のカット
オフ周波数も大きくなるようなテーブルデータにしてい
る。
【0135】また、上記ステップ#67にてスイッチS
WISMODEがモード2であれば、ステップ#70へ
進む。 [ステップ#70] 前回のサンプリング時とモードが
異なるか、つまり、モードがモード1からモード2に切
り換えられたかを判定する。そうでなければステップ#
71へ進み、そうであれば前述したステップ#69へ進
む。 [ステップ#71] 上記ステップ#69と同様、振れ
量に応じて積分のカットオフ周波数を変更していくパン
ニング制御を行っている。具体的には、前回のサンプリ
ングで求められた振れ量θを基に、モード2の積分カッ
トオフ周波数設定用テーブルデータから積分のカットオ
フ周波数を読み出して設定している。前述した様に、モ
ード2は動体撮影モードであるので、積分カットオフ周
波数設定テーブルデータはモード1よりも大きい値に設
定し、パンニング動作の制御性を良くしている。
【0136】以上の様に、像振れ補正中に像振れ補正モ
ードが切り換え操作されても、像振れ補正制御は切り換
える前のもので行うようにしているので、像変動は生じ
ない。
【0137】以上の実施の第1〜第3の形態によれば、
像振れ補正動作中に像振れ補正モードが切り換えられて
も、演算で過渡応答対策を行っているので、像変動を緩
和することができる。
【0138】また、実施の第3の形態においては、上記
の対策を行っても像変動が残ってしまうと判定できると
きは、像振れ補正モードが切り換えられても、像振れ補
正制御は切り換えないようにしている為、像変動が発生
しないようになる。又、この場合、そのサンプリングで
の像振れ補正動作が停止(終了)したら、その時初めて
像振れ補正制御を切り換えるようにする事により、以後
の像振れ補正時には、変更されたモードでの過渡応答対
策が為されるので、使い勝手の良いものとすることがで
きる。
【0139】また、第4の実施例によれば、像振れ補正
モードの切り換え操作が為されても、像振れ補正中であ
れば、像振れ補正制御は変更しないようにているので、
像変動が生じることはない。
【0140】(変形例)上記実施の各形態では、ピッチ
とヨーのプログラムを共有している例を示したが、別々
に設けても構わない。また、デジタル制御で行う例を示
したが、アナログ制御で行っても良い。
【0141】また、像振れ補正装置は交換レンズに組み
込んだ例を示したが、像振れ補正装置が交換レンズ内に
なく、エクステンダのように、カメラとレンズの間に入
るアダプタや、交換レンズの前方に取り付けるコンバー
ジョン・レンズのどの中に入る付属品としての形態をと
っても良い。
【0142】また、レンズシャッタカメラ,ビデオカメ
ラなどのカメラに適用しても良く、更には、その他の双
眼鏡等の光学機器や他の装置,構成ユニットとしても適
用することができる。
【0143】また、上記実施の各形態では、振れセンサ
として角速度センサを例にしているが、角加速度セン
サ,加速度センサ,速度センサ,角変位センサ,変位セ
ンサ、更には画像振れ自体を検出する方法など、振れが
検出できるものであればどのようなものであってもよ
い。
【0144】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
像振れ補正動作中に像振れ補正特性の変更操作が為され
ても、像の急激な変動を緩和し、観察者に不快感を与え
ないようにすることができる像振れ補正機能付き光学機
器を提供できるものである。
【0145】また、本発明によれば、像の急激な変動を
緩和できない場合は、像振れ補正特性の変更操作が為さ
れても、像の変動自体を生じさせない制御状態を形成
し、観察者に不快感を与えないようにすることができる
像振れ補正機能付き光学機器を提供できるものである。
【0146】また、本発明によれば、像振れ補正動作中
に像振れ補正特性の変更操作が為されても、像の変動自
体を生じさせない制御状態を形成し、観察者に不快感を
与えないようにすることができる像振れ補正機能付き光
学機器を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態に係る一眼レフカメラと
交換レンズの回路構成を示すブロック図である。
【図2】図1のレンズマイコンでのメイン動作を示すフ
ローチャートである。
【図3】図1のレンズマイコンにて行われるロック・ア
ンロック動作を示すフローチャートである。
【図4】図1のレンズマイコンにて行われる像振れ補正
割り込み動作を示すフローチャートである。
【図5】本発明の実施の第2の形態に係る交換レンズ内
のマイコンにて行われる像振れ補正割り込み動作を示す
フローチャートである。
【図6】本発明の実施の第3の形態に係る交換レンズ内
のマイコンにて行われる像振れ補正割り込み動作を示す
フローチャートである。
【図7】本発明の実施の第4の形態に係る交換レンズ内
のマイコンにて行われる像振れ補正割り込み動作を示す
フローチャートである。
【図8】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図で
ある。
【図9】図8の振れ補正装置の構造を示す分解斜視図で
ある。
【図10】図8の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形
状を説明する為の図である。
【図11】図8の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を
示す断面図である。
【図12】図8に示す地板を示す斜視図である。
【図13】図8に示す支持枠を示す斜視図である。
【図14】図8に示すロックリングを示す斜視図であ
る。
【図15】図8の支持枠等を示す正面図である。
【図16】図8の位置検出素子の出力を増幅するICの
構成を示す回路図である。
【図17】図8のロックリングが駆動される時の様子を
示す図である。
【図18】図16のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。
【図19】像振れ補正装置が搭載された一般的なカメラ
の像振れ補正系の回路構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
101 レンズマイコン 102 振れ補正系 106 振れセンサ 107 位置センサ 108 振れ補正駆動系 124 像振れ補正開始用スイッチ 125 像振れ補正モード切換え用のスイッチ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 結像光学系に加わる振れに起因する像振
    れを補正する補正光学手段と、前記振れ状態を検出し、
    前記補正光学手段の位置制御用の駆動信号を算出する演
    算手段と、該演算手段からの駆動信号に基づいて前記補
    正光学手段を駆動する駆動手段と、複数の中より任意の
    像振れ補正特性に変更する為の操作手段とを有する像振
    れ補正機能付き光学機器において、 像振れ補正動作が行われている最中に、前記操作手段に
    より像振れ補正特性が変更された場合、像の急激な変化
    を緩和する像変動緩和手段を有することを特徴とする像
    振れ補正機能付き光学機器。
  2. 【請求項2】 前記演算手段は、振れ検出信号を積分す
    る積分手段を有しており、前記像変動緩和手段は、前記
    積分手段の変更後の時定数での積分結果が、変更前の時
    定数での積分結果と同じになるように動作し、像の急激
    な変化を緩和することを特徴とする請求項1記載の像振
    れ補正機能付き光学機器。
  3. 【請求項3】 前記演算手段は、振れ検出信号を積分す
    る積分手段を有しており、前記像変動緩和手段は、前記
    積分手段の、像振れ補正特性の変更前と変更後の出力の
    差分を算出し、像の急激な変化を緩和することを特徴と
    する請求項1記載の像振れ補正機能付き光学機器。
  4. 【請求項4】 前記像変動緩和手段は、前記駆動信号の
    位相補償時における演算係数を変更し、像の急激な変化
    を緩和することを特徴とする請求項1記載の像振れ補正
    機能付き光学機器。
  5. 【請求項5】 前記像変動緩和手段を機能させても像変
    動が緩和されないと判定した場合は、前記操作手段によ
    り像振れ補正特性の変更操作が為されても、像振れ補正
    特性の変更を禁止する特性変更制御手段を有したことを
    特徴とする請求項1,2,3又は3記載の像振れ補正機
    能付き光学機器。
  6. 【請求項6】 前記演算手段は、振れ検出信号を積分す
    る積分手段を有しており、前記特性変更制御手段は、像
    振れ補正特性の変更前と変更後の積分出力に所定値以上
    の差がある場合に、像振れ補正特性の変更を禁止するこ
    とを特徴とする請求項5記載の像振れ補正機能付き光学
    機器。
  7. 【請求項7】 前記特性変更制御手段は、像振れ補正動
    作が停止した際に、変更された像振れ補正特性への変更
    を許容することを特徴とする請求項5又は6記載の像振
    れ補正機能付き光学機器。
  8. 【請求項8】 結像光学系に加わる振れに起因する像振
    れを補正する補正光学手段と、前記振れ状態を検出し、
    前記補正光学手段の位置制御用の駆動信号を算出する演
    算手段と、該演算手段からの駆動信号に基づいて前記補
    正光学手段を駆動する駆動手段と、複数の中より任意の
    像振れ補正特性に変更する為の操作手段とを有する像振
    れ補正機能付き光学機器において、 像振れ補正動作が行われている最中に、前記操作手段に
    より像振れ補正特性が変更された場合、前記像振れ補正
    特性の変更は禁止する像振れ補正特性禁止手段を有する
    ことを特徴とする像振れ補正機能付き光学機器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1227670A3 (en) * 2001-01-23 2006-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Vibration correction apparatus, lens apparatus, and optical apparatus

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