JPH10208365A - ディスク記録装置 - Google Patents
ディスク記録装置Info
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- JPH10208365A JPH10208365A JP766297A JP766297A JPH10208365A JP H10208365 A JPH10208365 A JP H10208365A JP 766297 A JP766297 A JP 766297A JP 766297 A JP766297 A JP 766297A JP H10208365 A JPH10208365 A JP H10208365A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 テスト記録により検出した最適な発光強度に
レーザ光源をフィードバック制御するとき、フィードバ
ックの遅滞による初期の制御不良を解消する。 【解決手段】 テスト時にレーザ光源7の発光強度が最
適となる駆動電流も検出しておき、情報記録時には、初
期のみレーザ光源7をフィードバック制御せず駆動電流
を最適値に固定する。
レーザ光源をフィードバック制御するとき、フィードバ
ックの遅滞による初期の制御不良を解消する。 【解決手段】 テスト時にレーザ光源7の発光強度が最
適となる駆動電流も検出しておき、情報記録時には、初
期のみレーザ光源7をフィードバック制御せず駆動電流
を最適値に固定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに少な
くとも情報の記録と再生とを実行するディスク記録装置
に関する。
くとも情報の記録と再生とを実行するディスク記録装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、大容量の記録媒体として光ディス
クが利用されており、光磁気ディスクや相変化ディスク
のように情報を記録できるものもある。このような光デ
ィスクに情報の記録や再生を実行するディスク記録装置
では、光ディスクにレーザ光で情報を記録するが、この
動作に先行してテスト記録を実行して情報記録での光強
度を適性に制御することを行っている。
クが利用されており、光磁気ディスクや相変化ディスク
のように情報を記録できるものもある。このような光デ
ィスクに情報の記録や再生を実行するディスク記録装置
では、光ディスクにレーザ光で情報を記録するが、この
動作に先行してテスト記録を実行して情報記録での光強
度を適性に制御することを行っている。
【0003】このようなディスク記録装置の従来例を図
2に基づいて以下に説明する。なお、図2はディスク記
録装置1の主要部の構成を示す模式図である。まず、こ
のディスク記録装置1は、光ディスク2を着脱自在に保
持するターンテーブル3を具備しており、このターンテ
ーブル3が駆動モータ4により回転自在に軸支されてい
るので、ここに前記光ディスク2を回転自在に支持する
ディスク駆動部5が形成されている。
2に基づいて以下に説明する。なお、図2はディスク記
録装置1の主要部の構成を示す模式図である。まず、こ
のディスク記録装置1は、光ディスク2を着脱自在に保
持するターンテーブル3を具備しており、このターンテ
ーブル3が駆動モータ4により回転自在に軸支されてい
るので、ここに前記光ディスク2を回転自在に支持する
ディスク駆動部5が形成されている。
【0004】このディスク駆動部5に支持された前記光
ディスク2に対向する位置には光学ヘッド6が配置され
ており、この光学ヘッド6は前記光ディスク2の半径方
向に移動自在に支持されている。前記光学ヘッド6は、
レーザ光源としてレーザダイオード7を具備しており、
その光軸上にビームスプリッタ8や結像光学系9等が配
置されている。前記ビームスプリッタ8の反射位置に
は、受光素子としてフォトダイオード10が配置されて
おり、前記光学ヘッド6の後方の光軸上には、モニタ素
子としてフォトダイオード11が配置されている。
ディスク2に対向する位置には光学ヘッド6が配置され
ており、この光学ヘッド6は前記光ディスク2の半径方
向に移動自在に支持されている。前記光学ヘッド6は、
レーザ光源としてレーザダイオード7を具備しており、
その光軸上にビームスプリッタ8や結像光学系9等が配
置されている。前記ビームスプリッタ8の反射位置に
は、受光素子としてフォトダイオード10が配置されて
おり、前記光学ヘッド6の後方の光軸上には、モニタ素
子としてフォトダイオード11が配置されている。
【0005】このモニタ用のフォトダイオード11に
は、APC(Automatic Power Control)回路12が
接続されており、このAPC回路12は前記レーザダイ
オード7にフィードバック接続されている。また、再生
用の前記フォトダイオード10には、再生信号のエンベ
ローブを検知するエンベローブ検知回路13と、前記光
ディスク2の回転位相を検知する回転検知回路14とが
接続されており、これらの回路13,14および前記フ
ォトダイオード11には、ワンチップCPU15が接続
されている。このワンチップCPU15には、強度設定
回路16が接続されており、この強度設定回路16も前
記APC回路12に接続されている。
は、APC(Automatic Power Control)回路12が
接続されており、このAPC回路12は前記レーザダイ
オード7にフィードバック接続されている。また、再生
用の前記フォトダイオード10には、再生信号のエンベ
ローブを検知するエンベローブ検知回路13と、前記光
ディスク2の回転位相を検知する回転検知回路14とが
接続されており、これらの回路13,14および前記フ
ォトダイオード11には、ワンチップCPU15が接続
されている。このワンチップCPU15には、強度設定
回路16が接続されており、この強度設定回路16も前
記APC回路12に接続されている。
【0006】このAPC回路12は、例えば、コンパレ
ータや制御回路や駆動回路などを具備しており、この駆
動回路は、前記レーザダイオード7に駆動電流を可変自
在に供給する。このとき、前記コンパレータは前記フォ
トダイオード11の測定電圧と前記強度設定回路16の
設定電圧とを比較し、強度制御手段に相当する前記制御
回路は、測定電圧が設定電圧に一致するよう前記駆動回
路の出力電流を制御する。前記強度設定回路16は、例
えば、RAM等の記憶媒体を具備しており、前記ワンチ
ップCPU15により設定される基準電圧を更新自在に
記憶する。
ータや制御回路や駆動回路などを具備しており、この駆
動回路は、前記レーザダイオード7に駆動電流を可変自
在に供給する。このとき、前記コンパレータは前記フォ
トダイオード11の測定電圧と前記強度設定回路16の
設定電圧とを比較し、強度制御手段に相当する前記制御
回路は、測定電圧が設定電圧に一致するよう前記駆動回
路の出力電流を制御する。前記強度設定回路16は、例
えば、RAM等の記憶媒体を具備しており、前記ワンチ
ップCPU15により設定される基準電圧を更新自在に
記憶する。
【0007】このワンチップCPU15は、内部メモリ
(図示せず)に適性なプログラムが設定されており、こ
のプログラムに対応して動作することで各種手段として
機能する。例えば、各部の動作を統合制御する動作制御
手段として機能し、情報記録、テスト記録、テスト再
生、強度設定、等の動作の制御を実行する。
(図示せず)に適性なプログラムが設定されており、こ
のプログラムに対応して動作することで各種手段として
機能する。例えば、各部の動作を統合制御する動作制御
手段として機能し、情報記録、テスト記録、テスト再
生、強度設定、等の動作の制御を実行する。
【0008】テスト記録の実行時にはテスト記憶手段と
して機能し、前記APC回路12の駆動回路の駆動電流
を順次変化させて前記レーザダイオード7の発光強度を
変化させ、前記フォトダイオード11の測定強度を前記
回転検知記録14により検知される光ディスク2の回転
位相に対応させて内部メモリに一時記憶する。テスト再
生の実行時にはテスト再生手段として機能し、前記検知
回路13,14の出力信号から前記フォトダイオード1
0の再生信号が最適となった前記光ディスク2の回転位
相を検知する。強度設定の実行時には強度設定手段とし
て機能し、前記光ディスク2の再生信号が最適となった
回転位相での前記フォトダイオード11の測定強度を内
部メモリから読出し、これを基準電圧として前記強度設
定回路16に設定する。
して機能し、前記APC回路12の駆動回路の駆動電流
を順次変化させて前記レーザダイオード7の発光強度を
変化させ、前記フォトダイオード11の測定強度を前記
回転検知記録14により検知される光ディスク2の回転
位相に対応させて内部メモリに一時記憶する。テスト再
生の実行時にはテスト再生手段として機能し、前記検知
回路13,14の出力信号から前記フォトダイオード1
0の再生信号が最適となった前記光ディスク2の回転位
相を検知する。強度設定の実行時には強度設定手段とし
て機能し、前記光ディスク2の再生信号が最適となった
回転位相での前記フォトダイオード11の測定強度を内
部メモリから読出し、これを基準電圧として前記強度設
定回路16に設定する。
【0009】なお、前記フォトダイオード10には、実
際には情報再生回路やエラー検知回路も接続されてお
り、そのエラー信号に対応して前記結像光学系9をフォ
ーカシング方向やトラッキング方向に変位させる制御機
構も前記光学ヘッド6に設けられているが、このような
部分は本発明の説明とは関係ないので割愛する。
際には情報再生回路やエラー検知回路も接続されてお
り、そのエラー信号に対応して前記結像光学系9をフォ
ーカシング方向やトラッキング方向に変位させる制御機
構も前記光学ヘッド6に設けられているが、このような
部分は本発明の説明とは関係ないので割愛する。
【0010】上述のような構造のディスク記録装置1
は、光ディスク2に情報の記録と再生とを実行すること
ができる。光ディスク2は、製品毎に記録の感度に誤差
があり、レーザダイオード7は、温度変化等により発光
強度が変動するが、上述のディスク記録装置1では、情
報記録の光強度を自動的に適性に補正することができ
る。
は、光ディスク2に情報の記録と再生とを実行すること
ができる。光ディスク2は、製品毎に記録の感度に誤差
があり、レーザダイオード7は、温度変化等により発光
強度が変動するが、上述のディスク記録装置1では、情
報記録の光強度を自動的に適性に補正することができ
る。
【0011】つまり、このディスク記録装置1では、ユ
ーザにより情報記録の開始が入力操作されると、この情
報記録に先行させてテスト記録とテスト再生と強度設定
とを順次実行する。テスト記録には、光ディスク2の情
報記録の実行領域の先頭の一トラックが使用され、ディ
スク駆動部5により光ディスク2が一回転される。この
とき、APC回路12がレーザダイオード7に出力する
駆動電流が、基準値より充分に小さい値から大きい値ま
で順次変化されるので、光ディスク2の一トラックには
順次変化する光強度でテスト記録が実行される。このよ
うに順次変化されるレーザダイオード7の発光強度はモ
ニタ用のフォトダイオード11により測定され、回転検
知回路14により検知される光ディスク2の回転位相に
対応してワンチップCPU15に記憶される。
ーザにより情報記録の開始が入力操作されると、この情
報記録に先行させてテスト記録とテスト再生と強度設定
とを順次実行する。テスト記録には、光ディスク2の情
報記録の実行領域の先頭の一トラックが使用され、ディ
スク駆動部5により光ディスク2が一回転される。この
とき、APC回路12がレーザダイオード7に出力する
駆動電流が、基準値より充分に小さい値から大きい値ま
で順次変化されるので、光ディスク2の一トラックには
順次変化する光強度でテスト記録が実行される。このよ
うに順次変化されるレーザダイオード7の発光強度はモ
ニタ用のフォトダイオード11により測定され、回転検
知回路14により検知される光ディスク2の回転位相に
対応してワンチップCPU15に記憶される。
【0012】上述のようなテスト記録が完了すると、そ
の記録情報がテスト再生されることになる。その場合、
再生用のフォトダイオード10の再生信号からエンベロ
ーブ検知回路13がエンベローブを検知し、これが0V
に対して±で対象となる状態をワンチップCPU15は
記録強度が最適な状態として検知する。このとき、同時
に回転検知回路14により光ディスク2の回転位相も検
知されているので、記録強度が最適な回転位相が一時記
憶される。
の記録情報がテスト再生されることになる。その場合、
再生用のフォトダイオード10の再生信号からエンベロ
ーブ検知回路13がエンベローブを検知し、これが0V
に対して±で対象となる状態をワンチップCPU15は
記録強度が最適な状態として検知する。このとき、同時
に回転検知回路14により光ディスク2の回転位相も検
知されているので、記録強度が最適な回転位相が一時記
憶される。
【0013】上述のようなテスト再生が完了すると、記
録状態が最適な光ディスク2の回転位相と、この回転位
相でのフォトダイオード11の測定強度とが判明してい
ることになるので、これが基準電圧としてワンチップC
PU15により強度設定回路16に設定される。
録状態が最適な光ディスク2の回転位相と、この回転位
相でのフォトダイオード11の測定強度とが判明してい
ることになるので、これが基準電圧としてワンチップC
PU15により強度設定回路16に設定される。
【0014】そして、上述のような一連のテスト動作が
完了すると、本番の情報記録が実行されることになる。
その場合、APC回路12は、強度設定回路16の設定
電圧とフォトダイオード11の測定電圧とが一致するよ
うレーザダイオード7の駆動電流をフィードバック制御
するので、その発光強度は情報記録に最適な状態に制御
されることになる。
完了すると、本番の情報記録が実行されることになる。
その場合、APC回路12は、強度設定回路16の設定
電圧とフォトダイオード11の測定電圧とが一致するよ
うレーザダイオード7の駆動電流をフィードバック制御
するので、その発光強度は情報記録に最適な状態に制御
されることになる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上述のようなディスク
記録装置1では、光ディスク2に情報を記録する場合、
テスト動作により最適な光強度を検出し、この光強度を
フィードバック制御により維持することができる。
記録装置1では、光ディスク2に情報を記録する場合、
テスト動作により最適な光強度を検出し、この光強度を
フィードバック制御により維持することができる。
【0016】しかし、このようなフィードバック制御に
は、フィードバックループの応答性による遅滞が発生す
るため、情報記録の開始時にはレーザダイオード7の発
光強度を適性に制御することができない。これを解決す
るため、前回の情報記録で最適とされた電流値を記憶し
ておき、これを情報記録の開始時のレーザダイオード7
の駆動電流とする制御も行われているが、これでは前回
と環境温度や光ディスク2が相違する場合に対応できな
い。このため、従来のディスク記録装置1では、情報記
録の開始時に記録強度を適性に制御できず、情報の先頭
部分の記録精度が低下している。
は、フィードバックループの応答性による遅滞が発生す
るため、情報記録の開始時にはレーザダイオード7の発
光強度を適性に制御することができない。これを解決す
るため、前回の情報記録で最適とされた電流値を記憶し
ておき、これを情報記録の開始時のレーザダイオード7
の駆動電流とする制御も行われているが、これでは前回
と環境温度や光ディスク2が相違する場合に対応できな
い。このため、従来のディスク記録装置1では、情報記
録の開始時に記録強度を適性に制御できず、情報の先頭
部分の記録精度が低下している。
【0017】本発明は以上のような課題を鑑みてなされ
たものであり、光ディスクに情報を先頭部分から良好に
記録できるディスク記録装置を提供することを目的とす
る。
たものであり、光ディスクに情報を先頭部分から良好に
記録できるディスク記録装置を提供することを目的とす
る。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明のディスク記録装
置は、光ディスクを回転自在に支持するディスク駆動部
と、前記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源
と、前記光ディスクで反射されたレーザ光を光電変換す
る受光素子と、前記レーザ光源の発光強度を測定するモ
ニタ素子と、前記レーザ光源に駆動電流を可変自在に供
給する駆動回路と、前記光ディスクにレーザ光で情報を
記録する情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生
と強度設定とを順次実行する動作制御手段と、テスト記
録の実行時に前記駆動回路の駆動電流を順次変化させて
前記モニタ素子の測定強度とともに前記光ディスクの回
転位相に対応させて記憶するテスト記憶手段と、テスト
再生の実行時に前記受光素子の再生信号が最適となる前
記光ディスクの回転位相を検知するテスト再生手段と、
強度設定の実行時に再生信号が最適となった回転位相で
の測定強度と駆動電流とを検出する強度設定手段と、情
報記録の実行時に前記強度設定手段が検出した測定強度
に前記モニタ素子の測定強度が一致するよう前記駆動回
路の駆動電流を制御する強度制御手段と、情報記録の実
行時の初期のみ前記強度制御手段の制御を解除して前記
強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよう前記駆
動回路の駆動電流を制御する初期制御手段と、を具備し
ている。
置は、光ディスクを回転自在に支持するディスク駆動部
と、前記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源
と、前記光ディスクで反射されたレーザ光を光電変換す
る受光素子と、前記レーザ光源の発光強度を測定するモ
ニタ素子と、前記レーザ光源に駆動電流を可変自在に供
給する駆動回路と、前記光ディスクにレーザ光で情報を
記録する情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生
と強度設定とを順次実行する動作制御手段と、テスト記
録の実行時に前記駆動回路の駆動電流を順次変化させて
前記モニタ素子の測定強度とともに前記光ディスクの回
転位相に対応させて記憶するテスト記憶手段と、テスト
再生の実行時に前記受光素子の再生信号が最適となる前
記光ディスクの回転位相を検知するテスト再生手段と、
強度設定の実行時に再生信号が最適となった回転位相で
の測定強度と駆動電流とを検出する強度設定手段と、情
報記録の実行時に前記強度設定手段が検出した測定強度
に前記モニタ素子の測定強度が一致するよう前記駆動回
路の駆動電流を制御する強度制御手段と、情報記録の実
行時の初期のみ前記強度制御手段の制御を解除して前記
強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよう前記駆
動回路の駆動電流を制御する初期制御手段と、を具備し
ている。
【0019】従って、光ディスクにレーザ光で情報を記
録する場合、この情報記録に先行して動作制御手段によ
りテスト記録とテスト再生と強度設定とが順次実行され
る。テスト記録の実行時には、テスト記憶手段により駆
動回路の駆動電流が順次変化され、この駆動電流がモニ
タ素子の測定強度とともに光ディスクの回転位相に対応
して記憶されるので、光ディスクには基準値より小さい
値から大きい値まで変化した強度でテスト情報が記録さ
れ、その場合のレーザ光源の駆動電流と発光強度とが光
ディスクの回転位相に対応して記憶される。テスト再生
の実行時には、テスト再生手段により受光素子の再生信
号が最適となる光ディスクの回転位相が検知されるの
で、強度設定の実行時には、強度設定手段により再生信
号が最適となった回転位相での測定強度と駆動電流とが
検出されるので、これで情報記録に最適なレーザ光源の
発光強度と、その場合の駆動回路の駆動電流とが検出さ
れたことになる。
録する場合、この情報記録に先行して動作制御手段によ
りテスト記録とテスト再生と強度設定とが順次実行され
る。テスト記録の実行時には、テスト記憶手段により駆
動回路の駆動電流が順次変化され、この駆動電流がモニ
タ素子の測定強度とともに光ディスクの回転位相に対応
して記憶されるので、光ディスクには基準値より小さい
値から大きい値まで変化した強度でテスト情報が記録さ
れ、その場合のレーザ光源の駆動電流と発光強度とが光
ディスクの回転位相に対応して記憶される。テスト再生
の実行時には、テスト再生手段により受光素子の再生信
号が最適となる光ディスクの回転位相が検知されるの
で、強度設定の実行時には、強度設定手段により再生信
号が最適となった回転位相での測定強度と駆動電流とが
検出されるので、これで情報記録に最適なレーザ光源の
発光強度と、その場合の駆動回路の駆動電流とが検出さ
れたことになる。
【0020】情報記録の実行時には、強度設定手段が検
出した測定強度にモニタ素子の測定強度が一致するよう
強度制御手段により駆動回路の駆動電流が制御されるの
で、レーザ光源の発光強度は情報記録に最適な状態にフ
ィードバック制御される。しかし、情報記録の実行時の
初期のみ、初期制御手段により強度制御手段の制御が解
除され、強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよ
う駆動回路の駆動電流が制御される。このとき、レーザ
光源の発光強度が情報記録に最適となる駆動電流を駆動
回路が固定的に出力することになり、発光強度はフィー
ドバック制御されないのでフィードバックループの応答
性による遅滞が発生せず、情報記録が最初から最適な発
光強度で実行される。
出した測定強度にモニタ素子の測定強度が一致するよう
強度制御手段により駆動回路の駆動電流が制御されるの
で、レーザ光源の発光強度は情報記録に最適な状態にフ
ィードバック制御される。しかし、情報記録の実行時の
初期のみ、初期制御手段により強度制御手段の制御が解
除され、強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよ
う駆動回路の駆動電流が制御される。このとき、レーザ
光源の発光強度が情報記録に最適となる駆動電流を駆動
回路が固定的に出力することになり、発光強度はフィー
ドバック制御されないのでフィードバックループの応答
性による遅滞が発生せず、情報記録が最初から最適な発
光強度で実行される。
【0021】また、本発明のディスク記録装置では、例
えば、初期制御手段は、強度制御手段の応答性に対応し
た所定時間だけ動作する。従って、レーザ光源の発光強
度は、情報記録の初期のみ初期制御手段により固定的に
制御され、強度制御手段の遅滞が問題とならなくなる時
点からは、強度制御手段によりリアルタイムにフィード
バック制御される。
えば、初期制御手段は、強度制御手段の応答性に対応し
た所定時間だけ動作する。従って、レーザ光源の発光強
度は、情報記録の初期のみ初期制御手段により固定的に
制御され、強度制御手段の遅滞が問題とならなくなる時
点からは、強度制御手段によりリアルタイムにフィード
バック制御される。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態を図1を参
照して以下に説明する。本実施の形態においては、前述
した従来例と同一の部分は同一の名称および符号を使用
して詳細な説明は省略する。図1は本実施の形態の光デ
ィスク装置21を示す模式図である。
照して以下に説明する。本実施の形態においては、前述
した従来例と同一の部分は同一の名称および符号を使用
して詳細な説明は省略する。図1は本実施の形態の光デ
ィスク装置21を示す模式図である。
【0023】まず、本実施の形態のディスク記録装置2
1は、ディスク駆動部5や光学ヘッド6等の構造は前述
したディスク記録装置1と同一であるが、APC回路1
2と並列に情報記録回路22が設けられている。つま
り、モニタ用のフォトダイオード11は、APC回路1
2と前記情報記録回路22とに並列に接続されており、
これらの回路12,22は切換スイッチ23を介してレ
ーザダイオード7にフィードバック接続されている。前
記情報記録回路22は、A/DC、RAM等の内部メモ
リ、制御回路、駆動回路、等を具備しており、フォトダ
イオード11の測定強度やAPC回路12の駆動電流を
更新自在に記憶することや、レーザダイオード7に可変
自在な駆動電流を供給することができる。
1は、ディスク駆動部5や光学ヘッド6等の構造は前述
したディスク記録装置1と同一であるが、APC回路1
2と並列に情報記録回路22が設けられている。つま
り、モニタ用のフォトダイオード11は、APC回路1
2と前記情報記録回路22とに並列に接続されており、
これらの回路12,22は切換スイッチ23を介してレ
ーザダイオード7にフィードバック接続されている。前
記情報記録回路22は、A/DC、RAM等の内部メモ
リ、制御回路、駆動回路、等を具備しており、フォトダ
イオード11の測定強度やAPC回路12の駆動電流を
更新自在に記憶することや、レーザダイオード7に可変
自在な駆動電流を供給することができる。
【0024】前記情報記録回路22と前記切換スイッチ
23には、ワンチップCPU24が接続されており、こ
のワンチップCPU24は、内部メモリ(図示せず)に
設定された適性なプログラムに対応して前記情報記録回
路22とともに各種手段として機能する。例えば、各部
の動作を統合制御する動作制御手段として機能し、情報
記録、テスト記録、テスト再生、強度設定、等の動作の
制御を実行する。
23には、ワンチップCPU24が接続されており、こ
のワンチップCPU24は、内部メモリ(図示せず)に
設定された適性なプログラムに対応して前記情報記録回
路22とともに各種手段として機能する。例えば、各部
の動作を統合制御する動作制御手段として機能し、情報
記録、テスト記録、テスト再生、強度設定、等の動作の
制御を実行する。
【0025】テスト記録の実行時にはテスト記憶手段と
して機能し、APC回路12の駆動回路の駆動電流を順
次変化させてレーザダイオード7の発光強度を変化さ
せ、光ディスク2の回転位相に対応させてフォトダイオ
ード11の測定強度とともにAPC回路12の駆動電流
も前記情報記憶回路22に記憶させる。テスト再生の実
行時にはテスト再生手段として機能し、検知回路13,
14の出力信号からフォトダイオード10の再生信号が
最適となった光ディスク2の回転位相を検知する。
して機能し、APC回路12の駆動回路の駆動電流を順
次変化させてレーザダイオード7の発光強度を変化さ
せ、光ディスク2の回転位相に対応させてフォトダイオ
ード11の測定強度とともにAPC回路12の駆動電流
も前記情報記憶回路22に記憶させる。テスト再生の実
行時にはテスト再生手段として機能し、検知回路13,
14の出力信号からフォトダイオード10の再生信号が
最適となった光ディスク2の回転位相を検知する。
【0026】強度設定の実行時には強度設定手段として
機能し、光ディスク2の再生信号が最適となった回転位
相でのフォトダイオード11の測定強度を前記情報記録
回路22から読出し、これを基準電圧として強度設定回
路16に設定する。同時に、光ディスク2の再生信号が
最適となった回転位相でのAPC回路12の駆動電流も
前記情報記録回路22の内部メモリから読出し、これを
基準電流として前記情報記録回路22の内部メモリに設
定する。
機能し、光ディスク2の再生信号が最適となった回転位
相でのフォトダイオード11の測定強度を前記情報記録
回路22から読出し、これを基準電圧として強度設定回
路16に設定する。同時に、光ディスク2の再生信号が
最適となった回転位相でのAPC回路12の駆動電流も
前記情報記録回路22の内部メモリから読出し、これを
基準電流として前記情報記録回路22の内部メモリに設
定する。
【0027】そして、前記ワンチップCPU24は、内
部クロック(図示せず)を具備しており、内部メモリに
は、APC回路12の応答性に対応した所定時間が設定
されている。そこで、情報記録の実行時には、APC回
路12とともに強度制御手段として機能するが、上述の
設定時間である情報記録の初期の一定時間のみ、前記情
報記録回路22や前記切換スイッチ23とともに初期制
御手段として機能する。つまり、情報記録の実行時の初
期には、前記切換スイッチ23によりレーザダイオード
7をAPC回路12から切り離して前記情報記録回路2
2に接続し、この情報記録回路22の駆動回路からレー
ザダイオード7に駆動電流を供給させる。このとき、前
記情報記録回路22では、その駆動回路が出力する駆動
電流が内部メモリに設定された基準電流に一致するよう
制御回路により制御される。
部クロック(図示せず)を具備しており、内部メモリに
は、APC回路12の応答性に対応した所定時間が設定
されている。そこで、情報記録の実行時には、APC回
路12とともに強度制御手段として機能するが、上述の
設定時間である情報記録の初期の一定時間のみ、前記情
報記録回路22や前記切換スイッチ23とともに初期制
御手段として機能する。つまり、情報記録の実行時の初
期には、前記切換スイッチ23によりレーザダイオード
7をAPC回路12から切り離して前記情報記録回路2
2に接続し、この情報記録回路22の駆動回路からレー
ザダイオード7に駆動電流を供給させる。このとき、前
記情報記録回路22では、その駆動回路が出力する駆動
電流が内部メモリに設定された基準電流に一致するよう
制御回路により制御される。
【0028】前記ワンチップCPU24は、上述のよう
な状態で内部クロックにより時間経過を計測し、これが
APC回路12の応答性に対応した設定時間に到達する
と、前記切換スイッチ23の接続を前記情報記録回路2
2からAPC回路12に切り換える。
な状態で内部クロックにより時間経過を計測し、これが
APC回路12の応答性に対応した設定時間に到達する
と、前記切換スイッチ23の接続を前記情報記録回路2
2からAPC回路12に切り換える。
【0029】上述のような構成において、本実施の形態
のディスク記録装置21も、前述のディスク記録装置1
と同様に、光ディスク2に情報を記録する光強度をテス
ト結果に対応して自動的に補正するが、その初期では光
強度をフィードバック制御することなく適性値に固定的
に制御する。
のディスク記録装置21も、前述のディスク記録装置1
と同様に、光ディスク2に情報を記録する光強度をテス
ト結果に対応して自動的に補正するが、その初期では光
強度をフィードバック制御することなく適性値に固定的
に制御する。
【0030】つまり、このディスク記録装置21でも、
ユーザにより情報記録の開始が入力操作されると、この
情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生と強度設
定とが順次実行される。テスト記録の実行時には、AP
C回路12の駆動電流を変化させることでレーザダイオ
ード7の発光強度が変化され、この発光強度がモニタ用
のフォトダイオード11により測定されて光ディスク2
の回転位相に対応して情報記録回路22に記録される
が、これとともにAPC回路12の駆動電流の出力強度
も記録される。
ユーザにより情報記録の開始が入力操作されると、この
情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生と強度設
定とが順次実行される。テスト記録の実行時には、AP
C回路12の駆動電流を変化させることでレーザダイオ
ード7の発光強度が変化され、この発光強度がモニタ用
のフォトダイオード11により測定されて光ディスク2
の回転位相に対応して情報記録回路22に記録される
が、これとともにAPC回路12の駆動電流の出力強度
も記録される。
【0031】そして、テスト再生の実行時には、検知回
路13,14の出力信号から記録状態が最適な光ディス
ク2の回転位相が検知されるので、この回転位相に基づ
いて記録強度が最適となる基準電圧が強度設定回路16
に設定されるとともに、記録強度が最適となるAPC回
路12の駆動電流が情報記録回路22に記録される。
路13,14の出力信号から記録状態が最適な光ディス
ク2の回転位相が検知されるので、この回転位相に基づ
いて記録強度が最適となる基準電圧が強度設定回路16
に設定されるとともに、記録強度が最適となるAPC回
路12の駆動電流が情報記録回路22に記録される。
【0032】そして、上述のような一連のテスト動作が
完了して本番の情報記録が実行されるとき、最初の一定
時間のみワンチップCPU24により切換スイッチ23
は情報記録回路22に接続されるので、この情報記録回
路22からレーザダイオード7に適性な駆動電流が固定
的に供給される。このとき、レーザダイオード7の発光
強度はモニタ用のフォトダイオード11によりリアルタ
イムに測定され、この測定電圧がAPC回路12に入力
されるので、APC回路12はレーザダイオード7に適
性な駆動電流を供給できる状態となる。
完了して本番の情報記録が実行されるとき、最初の一定
時間のみワンチップCPU24により切換スイッチ23
は情報記録回路22に接続されるので、この情報記録回
路22からレーザダイオード7に適性な駆動電流が固定
的に供給される。このとき、レーザダイオード7の発光
強度はモニタ用のフォトダイオード11によりリアルタ
イムに測定され、この測定電圧がAPC回路12に入力
されるので、APC回路12はレーザダイオード7に適
性な駆動電流を供給できる状態となる。
【0033】そこで、このようにAPC回路12の準備
が完了した時点で、切換スイッチ23が情報記録回路2
2からAPC回路12に切り換えられるので、以後はA
PC回路12によりフォトダイオード11の測定電圧が
強度設定回路16の設定電圧に一致するようレーザダイ
オード7の駆動電流がリアルタイムにフィードバック制
御される。
が完了した時点で、切換スイッチ23が情報記録回路2
2からAPC回路12に切り換えられるので、以後はA
PC回路12によりフォトダイオード11の測定電圧が
強度設定回路16の設定電圧に一致するようレーザダイ
オード7の駆動電流がリアルタイムにフィードバック制
御される。
【0034】本実施の形態のディスク記録装置21で
は、上述のようにテスト動作においてレーザダイオード
7の最適な光強度とともに最適な駆動電流も検出してお
き、情報記録の実行時にはレーザダイオード7の発光強
度をリアルタイムにフィードバック補正するが、その初
期のみ最適な駆動電流をレーザダイオード7に固定的に
供給するので、APC回路12の応答性による情報の先
頭部分の記録精度の低下を防止することができる。
は、上述のようにテスト動作においてレーザダイオード
7の最適な光強度とともに最適な駆動電流も検出してお
き、情報記録の実行時にはレーザダイオード7の発光強
度をリアルタイムにフィードバック補正するが、その初
期のみ最適な駆動電流をレーザダイオード7に固定的に
供給するので、APC回路12の応答性による情報の先
頭部分の記録精度の低下を防止することができる。
【0035】しかも、APC回路12の遅滞が解消され
る時点で、レーザダイオード7の強度制御がリアルタイ
ムのフィードバック制御に切り換えられるので、固定さ
れた駆動電流のままレーザダイオード7が駆動されるこ
とはなく、光ディスク2に情報を良好に記録することが
できる。
る時点で、レーザダイオード7の強度制御がリアルタイ
ムのフィードバック制御に切り換えられるので、固定さ
れた駆動電流のままレーザダイオード7が駆動されるこ
とはなく、光ディスク2に情報を良好に記録することが
できる。
【0036】なお、本発明は上記形態に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で各種の変形を許
容するものである。例えば、上記形態ではAPC回路1
2と情報記録回路22とが各々具備する駆動回路をレー
ザダイオード7に切り換えて接続することを例示した
が、このような駆動回路を一個としておき駆動電流を制
御することも可能である。
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で各種の変形を許
容するものである。例えば、上記形態ではAPC回路1
2と情報記録回路22とが各々具備する駆動回路をレー
ザダイオード7に切り換えて接続することを例示した
が、このような駆動回路を一個としておき駆動電流を制
御することも可能である。
【0037】また、ワンチップCPU24に適性なプロ
グラムを設定しておくことにより、これを各種手段とし
て機能させることを例示したが、このような各種手段を
各々専用のハードウェアとして形成することも可能であ
り、一部をハードウェアとするとともに一部をソフトウ
ェアとするようなことも可能である。さらに、上記形態
ではワンチップCPU24と情報記録回路22および強
度設定回路16を各々別個のハードウェアとして設ける
ことを例示したが、これを必要な入出力デバイスを具備
した一個のマイクロコンピュータとするようなことも可
能である。
グラムを設定しておくことにより、これを各種手段とし
て機能させることを例示したが、このような各種手段を
各々専用のハードウェアとして形成することも可能であ
り、一部をハードウェアとするとともに一部をソフトウ
ェアとするようなことも可能である。さらに、上記形態
ではワンチップCPU24と情報記録回路22および強
度設定回路16を各々別個のハードウェアとして設ける
ことを例示したが、これを必要な入出力デバイスを具備
した一個のマイクロコンピュータとするようなことも可
能である。
【0038】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
【0039】請求項1記載の発明のディスク記録装置
は、光ディスクを回転自在に支持するディスク駆動部
と、前記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源
と、前記光ディスクで反射されたレーザ光を光電変換す
る受光素子と、前記レーザ光源の発光強度を測定するモ
ニタ素子と、前記レーザ光源に駆動電流を可変自在に供
給する駆動回路と、前記光ディスクにレーザ光で情報を
記録する情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生
と強度設定とを順次実行する動作制御手段と、テスト記
録の実行時に前記駆動回路の駆動電流を順次変化させて
前記モニタ素子の測定強度とともに前記光ディスクの回
転位相に対応させて記憶するテスト記憶手段と、テスト
再生の実行時に前記受光素子の再生信号が最適となる前
記光ディスクの回転位相を検知するテスト再生手段と、
強度設定の実行時に再生信号が最適となった回転位相で
の測定強度と駆動電流とを検出する強度設定手段と、情
報記録の実行時に前記強度設定手段が検出した測定強度
に前記モニタ素子の測定強度が一致するよう前記駆動回
路の駆動電流を制御する強度制御手段と、情報記録の実
行時の初期のみ前記強度制御手段の制御を解除して前記
強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよう前記駆
動回路の駆動電流を制御する初期制御手段と、を具備し
ていることにより、情報記録の実行時には、レーザ光源
の発光強度が最適となるようリアルタイムにフィードバ
ック制御されるが、その初期のみレーザ光源に最適な駆
動電流が固定的に供給されるので、情報記録を最初から
最適な発光強度で実行することができ、光ディスクに情
報を良好に記録することができる。
は、光ディスクを回転自在に支持するディスク駆動部
と、前記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源
と、前記光ディスクで反射されたレーザ光を光電変換す
る受光素子と、前記レーザ光源の発光強度を測定するモ
ニタ素子と、前記レーザ光源に駆動電流を可変自在に供
給する駆動回路と、前記光ディスクにレーザ光で情報を
記録する情報記録に先行させてテスト記録とテスト再生
と強度設定とを順次実行する動作制御手段と、テスト記
録の実行時に前記駆動回路の駆動電流を順次変化させて
前記モニタ素子の測定強度とともに前記光ディスクの回
転位相に対応させて記憶するテスト記憶手段と、テスト
再生の実行時に前記受光素子の再生信号が最適となる前
記光ディスクの回転位相を検知するテスト再生手段と、
強度設定の実行時に再生信号が最適となった回転位相で
の測定強度と駆動電流とを検出する強度設定手段と、情
報記録の実行時に前記強度設定手段が検出した測定強度
に前記モニタ素子の測定強度が一致するよう前記駆動回
路の駆動電流を制御する強度制御手段と、情報記録の実
行時の初期のみ前記強度制御手段の制御を解除して前記
強度設定手段が検出した駆動電流に一致するよう前記駆
動回路の駆動電流を制御する初期制御手段と、を具備し
ていることにより、情報記録の実行時には、レーザ光源
の発光強度が最適となるようリアルタイムにフィードバ
ック制御されるが、その初期のみレーザ光源に最適な駆
動電流が固定的に供給されるので、情報記録を最初から
最適な発光強度で実行することができ、光ディスクに情
報を良好に記録することができる。
【0040】請求項2記載の発明は、請求項1記載のデ
ィスク記録装置であって、初期制御手段は、強度制御手
段の応答性に対応した所定時間だけ動作することによ
り、レーザ光源の発光強度は、情報記録の初期のみ初期
制御手段により固定的に制御され、強度制御手段の遅滞
が問題とならなくなる時点からは、リアルタイムのフィ
ードバック制御が実行されるので、光ディスクに情報を
良好に記録することができる。
ィスク記録装置であって、初期制御手段は、強度制御手
段の応答性に対応した所定時間だけ動作することによ
り、レーザ光源の発光強度は、情報記録の初期のみ初期
制御手段により固定的に制御され、強度制御手段の遅滞
が問題とならなくなる時点からは、リアルタイムのフィ
ードバック制御が実行されるので、光ディスクに情報を
良好に記録することができる。
【図1】本発明の実施の一形態のディスク記録装置を示
す模式図である。
す模式図である。
【図2】一従来例のディスク記録装置を示す模式図であ
る。
る。
2 光ディスク 3 ターンテーブル 4 駆動モータ 5 ディスク駆動部 6 光学ヘッド 7 レーザ光源であるレーザダイオード 8 ビームスプリッタ 9 結像光学系 10 受光素子であるフォトダイオード 11 モニタ素子であるフォトダイオード 12 APC回路 13 エンベローブ検知回路 14 回転検知回路 15 ワンチップCPU 16 強度設定回路 21 ディスク記録装置 22 情報記録回路 23 切換スイッチ 24 ワンチップCPU
Claims (2)
- 【請求項1】 光ディスクを回転自在に支持するディス
ク駆動部と、 前記光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、 前記光ディスクで反射されたレーザ光を光電変換する受
光素子と、 前記レーザ光源の発光強度を測定するモニタ素子と、 前記レーザ光源に駆動電流を可変自在に供給する駆動回
路と、 前記光ディスクにレーザ光で情報を記録する情報記録に
先行させてテスト記録とテスト再生と強度設定とを順次
実行する動作制御手段と、 テスト記録の実行時に前記駆動回路の駆動電流を順次変
化させて前記モニタ素子の測定強度とともに前記光ディ
スクの回転位相に対応させて記憶するテスト記憶手段
と、 テスト再生の実行時に前記受光素子の再生信号が最適と
なる前記光ディスクの回転位相を検知するテスト再生手
段と、 強度設定の実行時に再生信号が最適となった回転位相で
の測定強度と駆動電流とを検出する強度設定手段と、 情報記録の実行時に前記強度設定手段が検出した測定強
度に前記モニタ素子の測定強度が一致するよう前記駆動
回路の駆動電流を制御する強度制御手段と、 情報記録の実行時の初期のみ前記強度制御手段の制御を
解除して前記強度設定手段が検出した駆動電流に一致す
るよう前記駆動回路の駆動電流を制御する初期制御手段
と、を具備していることを特徴とするディスク記録装
置。 - 【請求項2】 初期制御手段は、強度制御手段の応答性
に対応した所定時間だけ動作することを特徴とする請求
項1記載のディスク記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP766297A JPH10208365A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP766297A JPH10208365A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | ディスク記録装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10208365A true JPH10208365A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11672031
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP766297A Pending JPH10208365A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | ディスク記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10208365A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7411886B2 (en) | 2000-05-11 | 2008-08-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method of recording information on an optical disc |
-
1997
- 1997-01-20 JP JP766297A patent/JPH10208365A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7411886B2 (en) | 2000-05-11 | 2008-08-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method of recording information on an optical disc |
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