JPH10208242A

JPH10208242A - 磁気ディスクの検証装置

Info

Publication number: JPH10208242A
Application number: JP9369728A
Authority: JP
Inventors: Gajitsuku Neiham; ネイハム・ガジック
Original assignee: Guzik Technical Enterprises Inc
Current assignee: Guzik Technical Enterprises Inc
Priority date: 1996-12-11
Filing date: 1997-12-11
Publication date: 1998-08-07
Anticipated expiration: 2017-12-11
Also published as: JP3647241B2; US5825180A

Abstract

(57)【要約】【課題】コンパクトで、サイズが小さく、重量が軽く
かつ製造するに廉価であるディスク検定装置を提供す
る。【解決手段】本発明のディスク検証ないし検定装置
は、スピンドル軸線の回りにディスクを回転可能に支持
するためのスピンドルと、第１書込みおよび／または読
取りヘッド、第２読取りおよび／書込みヘッド、滑動ヘ
ッドおよび研磨ヘッドと、これらのヘッドを磁気ディス
クを横切って選択的に駆動しかつスピンドルを第１およ
び第２方向に選択的に回転するためのコントローラを備
え、そしてヘッドは磁気ディスクに重なる平行軸線に沿
って選択的に移動し得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気媒体およびデ
ィスクドライブのパラメトリックおよび欠陥試験に関
し、特定するとディスク上に存在し得るどのような媒体
欠陥の位置をも確認し、記録し得るような磁気ディスク
の検証ないし認定動作に関する。

【０００２】

【従来の技術】同心トラック上において情報を書込みお
よび読取りするための磁気媒体を有するハードディスク
は、普通、製造後ディスクドライブへの設置前に媒体厚
さの不均一性、磁気媒体が存在しない非被覆スポットま
たはバンプないしこぶとして知られる高められた領域に
関して試験される。ディスクドライブの動作中、媒体の
連続性を試験するためディスク上に情報を書込みかつデ
ィスクから情報を読み取る書込み／読取りヘッドは、媒
体の表面上において浮揚（フライイング）位置に維持さ
れる。すなわちヘッドは、ディスクの高速度での回転に
起因して生ずる空気クッションの作用下で浮揚してい
る。浮揚高さは、通常約100 〜1000マノメータである。
ディスク内の媒体上にバンプが存在すると、バンプは、
媒体上の情報の書込みおよび読取りを遂行する磁気ヘッ
ドと衝突することがある。このような衝突は、ディスク
ドライブをひどく破損することがある。それゆえ、この
ようなバンプが媒体上に存在する場合、それらは除去な
いし切除されねばならない。この種のバンプ除去動作は
研磨として知られており、これは回転中のディスク上に
低い高さで浮揚するブレード状研磨ヘッドによって遂行
される。研磨前に、バンプは、バンプとの衝突を検出し
それらの位置を記録するセンサ例えば圧電センサを有す
る特別の滑動ヘッドによって検出される。

【０００３】上述の全機能を遂行しハードディスクの磁
気媒体を試験する装置が、検証装置ないし検定装置とし
て周知である。ディスク検定装置の例は、Phase Metric
s 、カリフォルニア州Sorrento Valley Blvd、 San Dieg
o 所在、により製造される研磨／滑動／認定システムで
ある。

【０００４】図１は従来形式のディスク検定装置の主要
素の上面概略図である。例示の装置は、スピンドルＳに
より矢印Ｗの方向に回転しかつ被試験媒体で被覆された
磁気ディスク１０を有する。４基のヘッドがディスクの
周囲に配置されている。これらのヘッドは、書込みヘッ
ド１２、読取りヘッド１４、滑動ヘッド１６および研磨
ヘッド１８である。各ヘッドは、個々のヘッド取付け機
構またはアクチュエータによって支持されるが、この取
付け機構またはアクチュエータはヘッドのディスクに関
する半径方向変位を遂行する。４つの全ヘッド取付け機
構は全部同一であるから、これらのうちの一つのみ例え
ばアクチュエータ２０ａについて図示説明する。アクチ
ュエータ２０ａは、ステップモータ２６を支持する静止
基板２２を有しており、そしてこのステップモータは、
出力シャフト２８を有し、これが１対の軸受３２により
支持される同軸配置の親ねじ３０に連結されている。親
ねじ３０は、直線スライド３６に堅固に固定されるナッ
ト３４と係合する。ステップモータ２６がシャフト２８
を回転するとき、この回転はスライド３６の直線運動に
変換される。スライド３６は、ヘッドロード機構３７を
支持しており、ヘッド１８は取付けブロック３５により
支持される。ヘッドロード機構（図示せず）が、従来技
術で周知のように、通常のヘッド動作中磁気ディスク上
にヘッドをロードし、あるいはヘッドをアンロードす
る。

【０００５】図１に示される検定装置は、磁気ヘッドの
１２，１４，１６および１８のある範囲の半径方向移動
を可能にする。

【０００６】読取りヘッド１２と書込みヘッド１４は、
磁気ディスク１０の中心から等距離に直径を挟んでた互
いに相対して配置される。同様に、滑動ヘッド１６と研
磨ヘッド１８は、磁気ディスク１０の中心から等距離に
直径を挟んで相対する位置に配置されている。

【０００７】試験は二つの段階より成る。すなわち
（１）滑動と研磨、（２）そして磁気ディスク１０上へ
の情報の書込みおよび磁気ディスクからの読取りであ
る。

【０００８】第１の段階において、磁気ディスク１０の
回転中、研磨ヘッド１８は、約数十マノメータの低い高
さで媒体上に浮揚し、すべての高められた領域すなわち
バンプを除去する。研磨ヘッドに続く滑動ヘッド１６
は、後続の除去のための研磨動作の後に残るバンプを検
出する。表面欠陥を検出し除去するために使用された第
１の段階の完了後、情報が、書込みヘッド１４により磁
気ディスク１０のトラック上に書き込まれ、読取りヘッ
ド１２により同じトラックから読み取られる。ヘッドが
ディスクをトラックからトラックへと移動するとき、磁
気媒体の全表面の予定された領域が、媒体欠陥を検出す
るために試験される。

【０００９】図１の検定装置に使用される４基のヘッド
の特定の配置は、磁気ディスク上におけるヘッドの浮揚
の特定の要件に関係づけられる。磁気ヘッドは、ディス
クが特定の方向、例えば磁気ヘッドに関して反時計方向
に回転するときのみディスク上に浮揚する。それゆえ、
ヘッド１２，１４，１６および１８は、駆動回転方向に
関して同じ方向に配置されるべきであり、それゆえヘッ
ド１２は１４に平行であり、ヘッド１４の方はヘッド１
６に垂直である。ヘッド１６は、ヘッド１４およびヘッ
ド１２に垂直である。

【００１０】図１に示される検定装置の不利な点は、４
基のアクチュエータ２０ａ，２０ｂ，２０ｃおよび２０
ｃが、交差形態において直径を挟んで互いに相対して配
置されることである。これは検定装置の全寸法および重
量を増し、また検定装置上で試験、検定され得る磁気デ
ィスクの直径範囲を狭める。これは、小直径のディスク
の磁気ディスクを有するディスクドライブの構造におけ
る最近の傾向にかんがみて特に重要である。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、コン
パクトで、サイズが小さく、重量が軽くかつ製造するに
廉価であるディスク検定装置を提供することである。本
発明の特徴利点は、以下に続く詳細な説明および図面の
考察から一層よく理解されるであろう。

【００１２】本発明は、その主表面上に磁気記憶媒体を
有する平坦な磁気ディスクを試験し処理するための装置
を提供する。本発明の例示の装置は、ディスク支持アセ
ンブリ、二つの磁気ヘッドアセンブリ、滑動ヘッドアセ
ンブリ、研磨ヘッドアセンブリおよびコントローラを含
む。

【００１３】ディスク支持アセンブリは、スピンドルシ
ャフトの回りに試験下の磁気ディスクを回転可能に支持
するためのスピンドルを備える。

【００１４】第１磁気ヘッドアセンブリは、第１の磁気
ヘッドと、この第１の磁気ヘッドを被試験ディスク上に
重なる第１ヘッド軸線に沿って選択的に位置付けるため
の支持体とを備えており、それにより、スピンドルが第
１の方向に回転するときに、磁気記録媒体へのおよび磁
気記録媒体からの情報の選択的な書込みおよび／または
読取りが遂行され得る。第１磁気ヘッドは、第１ヘッド
軸線に関して予定された角度で支持される。

【００１５】第２磁気ヘッドアセンブリは、第２の磁気
ヘッドと、この第２磁気ヘッドを被試験ディスク上に重
なる第１のヘッド軸線に沿って選択的に位置付けるため
の支持体を含んでおり、それにより、スピンドルが第１
の方向に回転するときに、磁気記録媒体へのおよび磁気
記録媒体からの情報の選択的な書込みおよび／または読
取りが遂行され得る。第２磁気ヘッドは、第２ヘッド軸
線に関して予定された角度で支持される。第２ヘッド軸
線は、第１のヘッド軸線に実質的に平行である。

【００１６】滑動ヘッドアセンブリは、滑動ヘッドと、
この滑動ヘッドを第１のヘッド軸線に実質的に平行でデ
ィスクに重なる第３のヘッド軸線に沿ってに選択的に位
置付けるための支持体を備えており、それにより、スピ
ンドルが第１の方向に回転するときに、磁気記録媒体上
における滑動が滑動ヘッドにより遂行され得る。

【００１７】研磨ヘッドアセンブリは、研磨ヘッドと、
この研磨ヘッドを第１のヘッド軸線に実質的に平行でデ
ィスクに重なる第４のヘッド軸線に沿ってに選択的に位
置付けるための支持体を備えており、それにより、スピ
ンドルが第２の方向に回転するときに、磁気記録媒体の
研磨が研磨ヘッドにより選択的に遂行され得る。

【００１８】コントローラは、第１磁気ヘッド、第２磁
気ヘッド、滑動ヘッドおよび研磨ヘッドの各々を磁気記
憶媒体を横切って選択的に駆動し、スピンドルを第１お
よび第２方向に選択的に回転する。

【００１９】普通、被試験磁気ディスクは、当該第１お
よび第２表面に垂直であるディスク軸線に対称的に配置
された実質的に平行な円形の第１および第２表面を有
し、そしてディスクはさらに少なくとも第１表面上に磁
気記録媒体を有する。

【００２０】好ましい形式において、ディスク支持体
は、スピンドル軸線の回りに配置される領分に磁気ディ
スクを支持するための回転可能なスピンドルを備える。
しかして、ディスク軸線はスピンドル軸線と同軸であ
る。その領分は、形状がディスクの形状に実質的に対応
し、形状および相対位置においてディスクの第１表面に
対応する円形の第１の境界領域を有する。駆動モータお
よび関連する制御装置が、スピンドルをスピンドル軸線
の回りに第１および第２の反対のディスク回転方向に回
転するように構成される。

【００２１】第１磁気ヘッドは、関連する方向性読取り
および／書込み（ＲＷ）軸線を有する。そのヘッドは、
スピンドル軸線から延びる前記第１の境界領域の第１の
半径に実質的に平行であり、該半径から第１の方向に０
に等しいかまたは０より大きい距離側方にオフセットさ
れた第１のヘッド軸線に沿って延びるヘッド領分に支持
される。その結果、第１の磁気ヘッドは、第１境界領域
に重なり、該領域から０に等しいかまたは０より大きい
距離離間され、そしてその関連するＲＷ軸線は、少なく
とも一部第１ディスク回転方向に向けられ、第１半径に
関して垂直か予定された角度（Ａ）ひねられる。

【００２２】第２磁気ヘッドは、同様に構成され、関連
する方向性ＲＷ軸を有しており、前記第１の軸線から延
びる前記第１の境界領域の第２の半径に実質的に平行で
あり、該半径から第２の方向に０に等しいかまたは０よ
り大きい距離側方にオフセットされた第２のヘッド軸線
に沿って延びるヘッド領分に支持される。その結果、第
２の磁気ヘッドは、境界領域に重なり、該領域から０に
等しいかまたは０より大きい距離離間される。関連する
ＲＷ軸線は、少なくとも一部第１ディスク回転方向に向
けられ、第２半径に関して垂直か予定された角度（Ａ）
傾斜される。ここで、第２半径は、第１の半径と同軸で
これと反対向きである。

【００２３】滑動磁気ヘッドも、第１の境界領域の第１
半径に平行でありかつ該半径から第２の方向に０に等し
いかまたは０より大きい距離側方にオフセットされた第
３のヘッド軸線に沿って延びるヘッド領分に支持され
る。その結果、滑動ヘッドは、第１境界領域に重なり、
該領域から０に等しいかまたは０より大きい距離離間さ
れる。

【００２４】研磨ヘッドは同様に、第１の境界領域の第
２の半径に平行であり、該半径から第１の方向に０に等
しいかまたは０より大きい距離側方にオフセットされた
第４のヘッド軸線に沿って延びるヘッド領分に支持され
る。その結果、研磨ヘッドは、第１境界領域に重なり、
該領域から０に等しいかまたは０より大きい距離離間さ
れる。

【００２５】コントローラは、第１磁気ヘッド、第２磁
気ヘッド、滑動ヘッドおよび研磨ヘッドの各々を、第１
境界領域を横切ってそれぞれの領分内で選択的に駆動す
る。その運動は、スピンドル軸線から遠い位置からスピ
ンドル軸線に近い位置へ、そしてスピンドル軸線から遠
い位置に戻るか、スピンドル軸線に近い位置から、スピ
ンドル軸線から遠い位置へ、そしてスピンドルに近い位
置へと続く。

【００２６】本発明の動作および本発明の特定の特徴お
よび効果については以下に詳述する。本発明の上述のお
よびその他の目的、その種々の特徴は、図面を参照して
行った以下の説明から一層十分に理解されよう。

【００２７】

【発明の実施の形態】本発明のディスク検定装置は、そ
の上面概略図で図２に図示されている。図面に示される
ように、検定装置は静止基板１２２を有しており、そし
てこの基板が、相互に直径を挟んで相対して配置された
二つの同一のアクチュエータＡおよびＢを支持してい
る。

【００２８】アクチュエータＡは、ステップモータ１２
６ａを備え、その出力シャフト１２８ａは、軸受１３２
ａ内で回転する同軸配置の親ねじ１３０ａに連結されて
いる。親ねじ１３０ａは、直線スライド１３６ａに堅固
に固定されたナット１３４ａと係合する。スライド１３
６ａは、取付けブロック１４８ａおよび読取りヘッド１
５２ａを支持するヘッドロード機構１４６ａと、取付け
ブロック１４８ｂおよび滑動ヘッド１５２ｂを支持する
ヘッドロード機構１４６ｂを支持している。ヘッドロー
ド機構は、それらの関連するヘッドをディスク１６０に
向かって偏倚し、磁気ヘッドの場合には、ヘッドがヘッ
ドとディスク表面間のエアクッション上に彈撥的に乗る
「浮動関係」を設定するように選択的に動作し得る。例
示の形態において、ヘッド１５２ａと１５２ｂとは、ス
ライド１３６ａにより堅固に結合され、駆動モータ１２
６ａに応答して軸線Ｘに平行であるそれぞれ軸線Ｘ１お
よび軸線Ｘ２に沿って一緒に移動し得る。

【００２９】アクチュエータＢは、アクチュエータＡに
同一であり、アクチュエータＡに直径を挟んで相対して
配置される。アクチュエータＢは、ステップモータ１２
６ｂを備えており、その出力シャフト１２８ｂは軸受１
３２ｂ内で回転する同軸配置の親ねじ１３０ｂに連結さ
れている。親ねじ１３０ｂは、直線スライド１３６ｂに
堅固に固定されたナット１３４ａと係合する。スライド
１３６ｂは、取付けブロック１４８ｃおよび書込みヘッ
ド１５２ｃを支持するヘッドロード機構１４６ｃと、取
付けブロック１４８ｄおよび研磨ヘッド１５２ｄを支持
するヘッドロード機構１４６ｄを支持している。アクチ
ュエータＡおよびＢの構造は、従来の技術文献例えばNa
hum Guzik に発行された米国特許第4,902,871 号に開示
される標準モジュールに基づく。この構造の場合、ヘッ
ド１５２ｃおよび１５２ｄはスライド１３６ｂにより堅
固に結合され、軸線Ｘに平行な軸線Ｘ１およびＸ２にそ
れぞれ沿って駆動モータ１２６ｂに応答して一緒に動作
し得る。

【００３０】各ヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃお
よび１５２ｄは、それぞれ関連する方向性軸線（図２お
よび３において同様に記された矢印により例示される軸
線ＤＡ_a ，ＤＡ_b ，ＤＡ_c およびＤＡ_d ）を有してお
り、図２および３において同様に記された矢印により例
示されている。ヘッド１５２ａおよびヘッド１５２ｃの
場合、これらのヘッドは、これらのヘッドがディスク１
６０の下にある部分の近傍にありそしてこれらの部分が
それぞれの矢印ＤＡ_a およびＤＡ_b に対して反対方向に
移動しつつあるとき、選択的な読取りおよび書込みを行
うように設計されている。これらのヘッドに対する軸線
は「感知」軸線と称される。何故ならば、これらの軸線
は、所与のヘッド設計に対して好ましい読取りまたは書
込み軸線に対応しているからである。例示の具体例にお
いて、滑動ヘッド１５２ｂおよび研磨ヘッド１５２ｄ
は、類似の方向選択性を有している。他の具体例におい
ては、ヘッド１５２ａおよび１５２ｃの書込み／読取り
は切り替えることができ、すなわちヘッド１５２ａおよ
び１５２ｃは各々読取り／書込み（ＲＷ）または書込み
／読取り（ＷＲ）ヘッドとしてよく、また方向選択性を
有しなくてもよい。滑動または研磨ヘッドは、方向選択
性を有しなくてもよい。

【００３１】図３は、円筒状領分または奇跡すなわちＲ
（破線で図示される）上のそれぞれの領分に位置付けら
れたヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２
ｄの概略表示であり、そしてこの円筒状領分は、スピン
ドル上にありスピン軸線Ｓに関してスピンドルと同心で
ある。領分Ｒは、形状が被試験ディスクと対応してお
り、円形の第１の境界面領域Ｒ１と、円形の第２の境界
面領域Ｒ２と、円筒形状の側面領域Ｒ３とを有してい
る。ヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２
ｄは、Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３およびＸ４のそれぞれの軸線に
沿う領分内で可動である。例示の具体例において、全軸
線Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３およびＸ４は、軸線Ｘに平行であ
る。さらに、軸線Ｘ１およびＸ４と軸線Ｘ２およびＸ３
は同軸であり、スピンドル軸線Ｓからの延びる領分Ｒの
反対向きの半径ＲＡＤ１およびＲＡＤ２から０に等しい
距離に位置するかそれより大きい距離だけ側方にオフセ
ットされる。

【００３２】図２に例示されるように、各ヘッド１５２
ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２ｄは、回転中のデ
ィスクの下にある部分とほぼ同じ方向に整列された、す
なわち０傾斜角度（すなわち軸線Ｘに関しておおむね９
０度）の方向性軸線を有する。図３においては、以下に
示されるように、０でない傾斜角度（すなわち軸線Ｘに
関して９０度以外の角度）が示されている。

【００３３】例示の具体例において、ヘッドアセンブリ
１６２ａ／１５２ａおよび１４６ｂ／１５２ｂは、スラ
イド部材１３６ａに堅固に固定されているから、これら
のアセンブリは、単一のドライブモータ１２６ａに応答
して一緒に移動する。ヘッドアセンブリ１４６ｃ／１５
２ｃおよび１４６ｄ／１５２ｄも、スライド部材１３６
ｂおよびモータ１２６ａに関して同様に構成されてい
る。代わりの具体例においては、各アセンブリは別個の
独立制御駆動モータにより駆動してよい。

【００３４】ヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよ
び１５２ｄは、被試験磁気ディスク１６０上に設置され
る。図５は、認定装置の一部断面の側面図である。アク
チュエータＡに対応する認定装置の半分のみが図示され
ている。図５から分かるように、スピンドル１６２はス
ピンドルモータ１６３により回転される。このモータは
可逆であり、最高10000rpmの速度で回転し、２〜３秒中
に停止、逆転し得る。このモータの例は、Air Bearing
Technology Ink カリフォルニヤ州Hayward 所在、によ
り製造されたモータＡＢＴである。

【００３５】モータ回転の方向を逆転するためには、モ
ータに供給されるＤＣ電圧が逆転されねばならない。こ
れは、図６に略示されるスイッチ回路によりなされる。
スイッチ回路は、種々のデバイスの切替を制御するため
の制御ユニットＣＵを有する。モータ１６３は、電源装
置ＰＳに接続される可動接点２０４，２０６とモータ１
６３に接続される固定接点２０８，２０１，２１２と具
備するスイッチ２０２を有する。スイッチ２０２は、制
御ユニットＣＵに接続されるスイッチアクチュエータ２
１４を有する。図示の位置６の位置において、モータ１
６３は、可動接点２０４，２０６の位置に対応する方向
に回転する。信号が制御ユニットＣＵからスイッチアク
チュエータ２１４に供給されるとき、接点２０４／２０
８は開放され、接点２０６／２１０は閉成され、モータ
１６３を逆転する。

【００３６】ロード機構１４６ａ，１４６ｂ，１４６
ｃ，１４６ｄは、スイッチ２１８を会して電源ＰＳに接
続される。スイッチ２１８は、電源ＰＳに接続される可
動接点２２０，２２２，２２４，２２６と、それぞれロ
ード機構１４６ａ，１４６ｄ，１４６ｂ，１４６ｃに接
続される固定接点２２８，２３０，２３２，２３４とを
有する。スイッチ２１８は、制御ユニットＣＵに接続さ
れたスイッチアクチュエータ２３６を有する。図５に示
される位置において、ロード機構１４６ａおよび１４６
ｃは、閉成接点２２０／２２８および２２６／２３４を
介して電源ＰＳに接続される。上述のように、モータ１
６３を逆転するために制御ユニットＣＵからスイッチア
クチュエータ２１４に供給される信号と関連して、信号
が制御ユニットＣＵからスイッチアクチュエータ２３６
に供給されると、接点２２０／２２８および２２６／２
３４は開放され、接点２２２／２３０および２２４／２
３２は閉成される。この結果、ロード機構１４６ａおよ
び１４６ｃは電源ＰＳから切断され、ロード機構１４６
ｂおよび１４６ｂは電源ＰＳに接続されることになる。
この結果、ヘッド１５２ａおよび１５２ｃはアンロード
され、ヘッド１５２ｂおよび１５２ｄはロードされる。

【００３７】アクチュエータステップモータ１２６およ
び１２６ｂは、該モータを逆転するためにスイッチ２３
８を介して電源ＰＳに接続される。スイッチ２３８は、
電源に接続される可動接点２４０，２４２および２４
４，２４６と、それぞれステップモータ１２６ａおよび
１２６ｂに接続された固定接点２４８，２５０，２５２
および２５４，２５６，２５８を有する。図６に示され
る位置において、接点２４０／２４８および２４４／２
５４は閉成され、接点２４２／２５０および２５６は開
放されるが、これはステップモータ１２６ａ，１２６ｂ
の各々の回転方向に対応している。スイッチ２３８は制
御ユニットＣＵに接続されたスイッチアクチュエータ２
６０を有する。上述のように、ロード機構１４６ａない
し１４６ｄを切り替えるために制御ユニットＣＵからス
イッチアクチュエータ２３６に供給される信号と関連し
て制御ユニットＣＵからの信号に続いて、接点２４０／
２４８および２４４／２５４が開放され、接点２４２／
２５０および２４６／２５６が閉成される。この結果、
ステップモータ１２６ａおよび１２６ｂは逆転される。

【００３８】図６に示されるスイッチ回路についての上
述の記述から分かるように、ディスク検定装置の種々の
デバイスは、ヘッド、ヘッドロード機構およびモータの
動作モードに合うように予定されたパターンで切り替え
られる。切り替えられつつあるデバイスおよびデバイス
群の任意の他の切替シーケンスおよび組合せが上に図示
説明されるスイッチング回路に対する適当な変更で可能
になることが理解されるであろう。また、制御ユニット
ＣＵ（予定されたスイッチ動作シーケンスのために予め
プログラムされた任意の周知の論理制御回路、コンピュ
ータまたはマイクロプロセッサを中心として構成でき
る）は、各サイクル内における種々のスイッチシーケン
ス間に種々の時間遅延を包含し得ることも理解されよ
う。この種のスイッチングは、当技術に精通したものに
は周知である。

【００３９】好ましい動作モードにおいて、全部で４基
のヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２ｄ
は、つねにディスクの中心から同じ半径方向距離に位置
付けられる。すなわち、任意の瞬間において、磁気ディ
スク１６０の同じトラック上に位置付けられる。

【００４０】アクチュエータＡおよびＢは、ディスク媒
体上の全トラックが試験できるように、磁気ディスク１
６の、その内径ＩＤからその外径ＯＤに至る全トラック
と重畳する距離にわたり相互に対して同期的に動く。

【００４１】読取りヘッド１５２ａと書込みヘッド１５
２ｃは、ディスクが時計方向に回転するときに動作し、
滑動ヘッド１５２ｂと研磨ヘッド１５２ｄは、ディスク
が反時計方向に回転するときに動く。コントローラすな
わち制御ユニットＣＵは、ディスクが第１の方向に回転
するときヘッド１５２ａおよび１５２ｂがロードされ、
（すなわちディスク１６０に向かって偏倚される）、デ
ィスク１６０が反対方向に回転するときヘッド１５２ｂ
および１５２ｄがロードされるようにロード機構を動作
させる。

【００４２】図４は図２と同一であるが、ヘッド１５２
ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２ｄが検定装置の長
手軸線Ｘに対する垂線に関してあるゼロでない角度で整
列された方向性軸線に沿って配置されて示されている。
これは、その取付けブロック１４８ａ，１４８ｂ，１４
８ｃ，１４８ｄに関するヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１
５３ｃおよび１５２の手動的機械的な調節によりなされ
る。

【００４３】図２、図５および図６に示されるディスク
検定装置は下記のように動作する。アクチュエータＡお
よびＢを、まず、それぞれステップモータ１２６ａおよ
び１２６ｂ、親ねじ１３０ａおよび１３０ｂとナット１
３４ａおよび１３４ｂを使用して調節し、スライド１３
６ａおよび１３６ｂがヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５
２ｃおよび１５２ｄをディスク１６０上の最外トラック
（トラックＯＤとして以下に言及される）上に位置付け
るようにする。

【００４４】ヘッド１５２ａおよび１５２ｂは、互いに
反対に向けられたそれぞれの方向性軸線に関して整列さ
れる。同様に、ヘッド１５２ｃおよび１５２ｄは互いに
反対に向けられる。しかしながら、ヘッド１５２ａおよ
び１５２ｃの方向性軸線と、１対のヘッド１５２ｂおよ
び１５２ｄの方向性軸線は、ディスク１６０の下にある
部分の回転に関して同じ配向を有し、それゆえこれらの
ヘッドは、ディスク１６０の所与の回転方向に対して対
で使用できる。

【００４５】モータ１６３は、例えば反時計方向でスピ
ンドル１６２を磁気ディスク１６０とともに回転し始め
る。このモードにおいては、滑動ヘッド１５２ｂは、ヘ
ッドロード機構１４６ｂを使用してディスクに向かって
方向づけられる。ディスクが回転するとき、滑動ヘッド
１５２ｂは、センサ（図示せず）を使用してトラックＯ
Ｄ上のバンプの存在を検出する。バンプが検出されると
（すなわちディスク１６０上の磁気媒体がディスクの基
準平面内の点から予定された距離よりも延び出ている
と）対応するトラックＯＤは、同じトラック上に位置す
る研磨ヘッド１５２ｄを使って処理を受ける。研磨ヘッ
ド１５２ｄは、ヘッドロード機構１４６ｄを使ってディ
スクに向かって方向づけられており、バンプをカットオ
フする。

【００４６】このような滑動および研磨動作は、アクチ
ュエータＡおよびＢがスライド１３６ａおよび１３６
ｂ、したがってヘッド１５２ｂおよび１５２ｄを互いに
近づけるように移動するとき、トラックごとに反復され
る。滑動／研磨サイクル中、読取りヘッド１５２ａと書
込みヘッド１５２ｃとはアンロード位置に維持される。

【００４７】滑動／研磨サイクルの完了後、モータ１６
３は、逆方向に、すなわち上から磁気ディスク１６０を
見たとき時計方向にスピンドル１６２を回転し始める。
この時点に、ヘッド１５２ｂおよび１５２ｄはそれぞれ
のロード機構１４６ｂおよび１４６ｄによりディスクか
らアンロードされ、ヘッド１５２ａおよび１５２ｃが
それらのロード機構１４６ａおよび１４６ｃによりディ
スク表面に向かって方向づけられる（すなわちロードさ
れる）。スライド１３６ａおよび１３６ｂは直径方向に
おいて反対向きに移動し始める。各トラック上におい
て、書込みヘッド１５２ｃは情報を書き込み、ついてそ
れが読取りヘッド１５２ａにより読み取られる。エラー
または欠陥がトラック上に検出されると、それらのエラ
ーまたは欠陥は記録回路（図示せず）の使用で記録され
る。

【００４８】このように、ヘッド１５２ｂおよび１５２
ｄは滑動／研磨サイクル中同時に動作し、ヘッド１５２
ａおよび１５２ｃは書込み／読取りサイクル中同時に動
作する。これらのヘッド対は、互に反対に、ディスク１
６０の回転に関しては同じ方向に配置されているから、
各ヘッド対は、ディスクが特定の方向（時計方向または
反時計方向）に回転するときに動作する。ディスク回転
方向の逆転は、滑動／研磨サイクルと書込み／読取りサ
イクル間の切替を許容する。

【００４９】もしも特定の傾斜（スキュー）角度、すな
わちヘッド１５２ａ、１５２ｂ，１５２ｃおよび１５２
ｄの方向性軸線と下にある磁気トラックの方向との間の
角度が要求される場合には、この角度は、それらの取付
けブロック１４８，１４８ｂ，１４８ｃおよび１４８ｄ
に関してヘッド１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃおよび１
５２ｄの手動的な機械的な調節によって達成できる。こ
の手法は、1990年にNahum Guzik に発行された米国特許
第4,902,871 号に記述されている。例示の０でないひね
り角度が図４に示されている。

【００５０】このように、如上のディスク認定装置はコ
ンパクトであり、小サイズであり、軽重量であり、製造
するに廉価である。

【００５１】以上、本発明を特定の具体例について図示
説明したが、本発明は所与の例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲から逸脱することなく他の任意の変
形が可能である。例えば、ヘッドの運動方向は軸線Ｘと
厳格に平行でなくともよい。けれども、小型のフートプ
リントシステムは、その限定で最もよく達成される。ま
た、３、または４以上のヘッドを磁気ディスク上に設置
できる。媒体およびトラックの特性の欠陥をチェックす
るために、アクチュエータＡおよびＢのような３または
それ以上のアクチュエータを使用することもできる。各
アクチュエータは、１、または２以上のヘッドを支持し
てもよい。滑動、研磨、書込みおよび読取り以外の形式
のヘッドを認定装置に使用することができる。傾斜角度
は、試験中プログラムされた手段から自動的に調節測定
できる。各ヘッド対を、媒体の各トラックまたは選択さ
れた領域上において交互に動作させてもよいし、書込み
／読取りおよび研磨／滑動サイクルを変更することもで
きる。かくして、本発明は、所与の例によって決定され
るものでなく、特許請求の範囲の記載およびその等価物
によってのみ決定されるものであることを理解された
い。

【図面の簡単な説明】

【図１】４基のヘッドを具備する周知のディスク検定装
置の概略上面図である。

【図２】本発明の検定装置の上面図である。

【図３】本発明により処理されるべきディスクが占める
領分を本発明のヘッドに関して示す概略図である。

【図４】ヘッドの傾斜角が変更された本発明の検定装置
の上面図である。

【図５】図２の検定装置の一部断面の側面図で、磁気ヘ
ッドを異なる位置で示す図である。

【図６】スピンドルの駆動モータ逆転用の電気回路図で
ある。

【符号の説明】

１２６ステップモータ１２８ステップモータの出力シャフト１３０親ねじ１３２軸受１３４ナット１３６スライド１４６ヘッドロード機構１４８取付けブロック１５２ａ読取りヘッド１５２ｂ滑動ヘッド１５２ｃ書込みヘッド１５２ｄ研磨ヘッド

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】主面上に磁気記憶媒体を有する平坦な磁
気ディスクを試験、処理するための装置であって、Ａ．前記磁気ディスクをスピンドル軸線の回りに回転可
能に支持するためのスピンドルを具備するディスク支持
アセンブリ（組立体）と、Ｂ．第１の磁気ヘッドと、前記ディスクに重なる第１の
ヘッド軸線に沿って前記第１磁気ヘッドを選択的に位置
付けるための手段であって、前記スピンドルが第１の方
向に回転するとき情報を前記磁気記憶媒体に／該媒体か
ら選択的に書き込みおよび／または読み取ることを可能
にし、かつ前記第１磁気ヘッドを前記第１磁気ヘッド軸
線に関して予定された角度に置く手段とを具備する第１
の磁気ヘッドアセンブリと、Ｃ．第２の磁気ヘッドと、前記ディスクに重なる前記第
１ヘッド軸線に実質的に平行な第２のヘッド軸線に沿っ
て前記第２磁気ヘッドを選択的に位置付けるための手段
であって、前記スピンドルが前記第１の方向に回転する
とき情報を前記磁気記憶媒体に／該媒体から選択的に書
き込みおよび／または読み取ることを可能にし、かつ前
記第２磁気ヘッドを前記第１磁気ヘッド軸線に関して予
定された角度に置く手段とを具備する第２磁気ヘッドア
センブリと、Ｄ．滑動ヘッドと、前記ディスクに重なりかつ前記第１
ヘッド軸線と実質的に平行な第３のヘッド軸線に沿って
前記滑動ヘッドを選択的に位置付けるための手段であっ
て、前記スピンドルが前記第１方向と反対の第２の方向
に回転するとき前記磁気記憶媒体上における前記滑動ヘ
ッドによる滑動を可能にする手段とを具備する滑動ヘッ
ドアセンブリと、Ｅ．研磨ヘッドと、前記ディスクに重なりかつ前記第１
ヘッド軸線と実質的に平行な第４のヘッド軸線に沿って
前記研磨ヘッドを選択的に位置付けるための手段であっ
て、前記スピンドルが前記第２方向に回転するとき前記
研磨手段による前記磁気記憶媒体の研磨を可能にする手
段とを具備する研磨ヘッドアセンブリと、Ｆ．前記第１磁気ヘッド、前記第２磁気ヘッド、前記滑
動ヘッドおよび前記研磨ヘッドの各々を前記磁気記憶媒
体を横切って選択的に駆動しかつ前記スピンドルを前記
第１および第２方向に選択的に回転するための手段を具
備するコントローラとを備えることを特徴とする磁気デ
ィスク試験処理装置。
【請求項２】前記予定された角度が９０度である請求
項１記載の磁気ディスク試験処理装置。
【請求項３】前記予定された角度が９０度以外である
請求項１記載の磁気ディスク試験処理装置。
【請求項４】前記第１磁気ヘッドアセンブリと前記滑
動ヘッドアセンブリが、前記駆動手段に応答して一緒に
移動するように堅固に結合されており、前記第２磁気ヘ
ッドアセンブリと前記研磨ヘッドアセンブリが、前記駆
動手段に応答して一緒に移動するように堅固に結合され
ている請求項１記載の磁気ディスク試験処理装置。
【請求項５】前記駆動手段が、前記アセンブリを前記
スピンドル軸線に遠い点と前記スピンドル軸線に近い点
との間で逐次移動させる請求項１記載の磁気ディスク試
験処理装置。
【請求項６】前記コントローラが、前記スピンドルを
前記第２方向と前記第１方向において交互に回転させ、
前記アセンブリの前記移動が、（ａ）前記スピンドルが
前記第２方向に回転している間前記滑動ヘッドアセンブ
リと前記研磨ヘッドアセンブリを、そして（ｂ）前記ス
ピンドルが前記第１方向に回転している間前記第１磁気
ヘッドアセンブリと前記第２磁気ヘッドアセンブリをと
いう順序でスピンドルの回転と同期して行われる請求項
５記載の磁気ディスク試験処理装置。
【請求項７】前記駆動手段が、前記アセンブリを前記
スピンドル軸線に遠い点と前記スピンドル軸線に近い点
との間で逐次移動させる請求項４記載の磁気ディスク試
験処理装置。
【請求項８】前記コントローラが、前記スピンドルを
前記第２方向と前記第１方向において交互に回転させ、
前記アセンブリの前記移動が、（ａ）前記スピンドルが
前記第２方向に回転している間前記滑動ヘッドアセンブ
リと前記研磨ヘッドアセンブリを、そして（ｂ）前記ス
ピンドルが前記第１方向に回転している間前記第１磁気
ヘッドアセンブリと前記第２磁気ヘッドアセンブリをと
いう順序でスピンドルの回転と同期して行われる請求項
７記載の磁気ディスク試験処理装置。
【請求項９】当該第１および第２表面に垂直であるデ
ィスク軸線の回りに対称的に配された平行な円形の第１
および第２の表面を有しかつ少なくとも前記第１表面上
に磁気記憶媒体を有する平坦な磁気ディスクを試験、処
理するための装置であって、Ａ．前記ディスク軸線と同軸であるスピンドル軸線の回
りに配された領分に前記磁気ディスクを支持するための
回転可能なスピンドルを具備し、前記領分が形状におい
て前記ディスクの形状に実質的に対応しておりかつ形状
および相対位置において前記ディスクの前記第１表面に
対応する円形の第１の境界領域を有し、前記スピンドル
が前記スピンドル軸線の回りに第１および第２の反対の
ディスク回転方向の各々において回転するディスク支持
アセンブリと、Ｂ．関連する方向性読取りおよび／または書込み（Ｒ
Ｗ）軸線を有する第１の磁気ヘッドと、前記スピンドル
軸線から延びる前記第１の境界領域の第１の半径に実質
的に平行であり、該半径から第１の方向に０に等しいか
または０より大きい距離側方にオフセットされた第１の
ヘッド軸線に沿って延びるヘッド領分に前記第１磁気ヘ
ッドを支持するための手段とを具備し、前記第１磁気ヘ
ッドが、第１境界領域に重なり、該領域から０に等しい
かまたは０より大きい距離離間され、そしてその関連す
るＲＷ軸線が、少なくとも一部前記第１ディスク回転方
向に向けられ、前記第１半径に関して垂直か予定された
角度（Ａ）傾斜されている、第１の磁気ヘッドアセンブ
リと、Ｃ．関連する方向性読取りおよび／または書込み（Ｒ
Ｗ）軸線を有する磁気ヘッドと、前記スピンドル軸線か
ら延びる前記第１境界領域の第２の半径に実質的に平行
であり、該半径から第２の方向に０に等しいかまたは０
より大きい距離側方にオフセットされた第２のヘッド軸
線に沿って延びるヘッド領分に前記第２磁気ヘッドを支
持するための手段とを具備し、前記第２磁気ヘッドが、
前記第１境界領域に重なり、該領域から０に等しいかま
たは０より大きい距離離間され、前記関連するＲＷ軸線
が、少なくとも一部第１ディスク回転方向に向けられ、
前記第２半径に関して垂直から予定された角度（Ａ）傾
斜され、前記第２半径が、前記第２の半径と同軸でこれ
と反対向きである、第２の磁気ヘッドアセンブリと、Ｄ．関連する方向性滑動軸線を有する滑動ヘッドと、前
記第１境界領域の前記第１半径に実質的に平行でありか
つ該半径から前記第２方向において０に等しいか０より
大きい距離側方にオフセットされた第３のヘッド軸線に
沿うヘッド領分に前記滑動ヘッドを支持するための支持
手段を具備し、前記滑動ヘッド軸線が少なくとも一部前
記第２ディスク回転方向に向けられ、前記滑動ヘッドが
前記第１境界領域に重なりかつ該領域から０に等しいか
またはそれより大きい距離離間されている滑動ヘッドア
センブリと、Ｅ．関連する方向性滑動軸線を有する研磨ヘッドと、前
記第１境界領域の前記第２半径に実質的に平行でありか
つ該半径から前記第１方向において０に等しいか０より
大きい距離側方にオフセットされた第４のヘッド軸線に
沿うヘッド領分に前記研磨ヘッドを支持するための支持
手段を具備し、前記研磨ヘッド軸線が少なくとも一部前
記第２ディスク回転方向に向けられ、前記研磨ヘッドが
前記第１境界領域に重なりかつ該領域から０に等しいか
またはそれより大きい距離離間されている研磨ヘッドア
センブリと、Ｆ．前記スピンドルを前記第１軸線の回りに二つの反対
方向の各々において選択的に回転し、かつ前記第１磁気
ヘッド、前記第２磁気ヘッド、前記滑動ヘッドおよび前
記研磨ヘッドの各々を、前記第１境界領域を横切ってそ
れぞれの領分内で、前記第１軸線から遠い位置から前記
第１軸線に近い位置へ、そして該第１軸線から遠い位置
へ戻り、あるいは前記第１軸線から近い位置から、前記
第１軸線から遠い位置へ、そして第１軸線スピンドルに
近い位置へと戻るように、選択的に駆動するためのコン
トローラとを備えることを特徴とする磁気ディスクの試
験処理装置。
【請求項１０】前記第１磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第２磁気ヘッドが書込みヘッドである磁気デ
ィスクの請求項９記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項１１】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第１
の駆動手段と、（ｂ）前記第２磁気ヘッドと前記研磨ヘ
ッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２の
駆動手段を備えることを特徴とする請求項１０記載の磁
気ディスクの試験処理装置。
【請求項１２】前記第２磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第１磁気ヘッドが書込みヘッドである請求項
９記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項１３】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２
駆動手段と（ｂ）前記第１磁気ヘッドと研磨ヘッドを一
緒に駆動するための選択的に動作し得る第１駆動手段を
備える請求項１２記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項１４】前記第１磁気ヘッドおよび前記第２磁
気ヘッドが読取り／書込みヘッドである請求項９記載の
磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項１５】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第１
の駆動手段と、（ｂ）前記第２磁気ヘッドと前記研磨ヘ
ッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２の
駆動手段を備える請求項１４記載の磁気ディスクの試験
処理装置。
【請求項１６】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記研磨
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第１
の駆動手段と、（ｂ）前記第１磁気ヘッドと前記研磨ヘ
ッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２の
駆動手段を備える請求項１４記載の磁気ディスクの試験
処理装置。
【請求項１７】 (i) 前記第１磁気ヘッドを前記第１境
界領域に向かって選択的に偏倚するための第１ヘッド偏
倚手段と(ii)前記第２磁気ヘッドを前記第１境界領域に
向かって選択的に偏倚するための第２ヘッド偏倚手段と
(iii) 前記滑動ヘッドを前記第１境界領域に向かって選
択的に偏倚するための滑動偏倚手段と、(iv)前記研磨ヘ
ッドを前記第１境界領域に向かって選択的に偏倚するた
めの研磨偏倚手段を備える請求項９記載の磁気ディスク
の試験処理装置。
【請求項１８】前記第２磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第１磁気ヘッドが書込みヘッドである請求項
１７記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項１９】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第１
駆動手段と（ｂ）前記第２磁気ヘッドと前記研磨ヘッド
を一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２駆動手
段を備える請求項１８記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２０】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第１駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第２駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段および前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項１９記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２１】前記第１磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第２磁気ヘッドが書込みヘッドである請求項
１７記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項２２】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２
駆動手段と（ｂ）前記第１磁気ヘッドと前記研磨ヘッド
を一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２駆動手
段を備える請求項２１記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２３】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第１駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第２駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段および前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項２３記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２４】前記第１磁気ヘッドが読取り／書込み
（ＲＷ）ヘッドであり、前記第２磁気ヘッドが書込み／
読取り（ＷＲ）ヘッドである請求項１７記載の磁気ディ
スクの試験処理装置。
【請求項２５】（ａ）前記第１磁気ヘッドと前記滑動
ヘッドを一緒に駆動するための選択的に動作し得る第１
駆動手段と（ｂ）前記第２磁気ヘッドと前記研磨ヘッド
を一緒に駆動するための選択的に動作し得る第２駆動手
段を備える請求項２４記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２６】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第１駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第２駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段および前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項２５記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２７】それぞれ独立的に動作し得る(i) 前記
第１磁気ヘッドを駆動するための第１駆動手段と、(ii)
前記第２磁気ヘッドを駆動するための第２駆動手段と、
(iii) 前記滑動ヘッドを駆動するための第３駆動手段
と、(iv)前記研磨ヘッドを駆動するための第４駆動手段
を備える請求項１０記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２８】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第３駆動手段および前記第４駆動手段、ついで(ii)前記
スピンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しなが
ら、前記第２駆動手段および前記第１駆動手段を順次作
動させる請求項２７記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項２９】それぞれ独立的に動作し得る(i) 前記
第１磁気ヘッドを駆動するための第１駆動手段と、(ii)
前記第２磁気ヘッドを駆動するための第２駆動手段と、
(iii) 前記滑動ヘッドを駆動するための第３駆動手段
と、(iv)前記研磨ヘッドを駆動するための第４駆動手段
を備える請求項１１記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３０】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第３駆動手段および前記第４駆動手段を、ついで(ii)前
記スピンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しなが
ら、前記第１駆動手段および前記第２駆動手段を順次動
作させる請求項２９記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３１】それぞれ独立的に動作し得る(i) 前記
第１磁気ヘッドを駆動するための第１駆動手段と、(ii)
前記第２磁気ヘッドを駆動するための第２駆動手段と、
(iii) 前記滑動ヘッドを駆動するための第３駆動手段
と、(iv)前記研磨ヘッドを駆動するための第４駆動手段
を備える請求項１７記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３２】前記第１磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第２磁気ヘッドが書込みヘッドである請求項
３１記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項３３】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第３駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第４駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段および前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項３２記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３４】前記第２磁気ヘッドが読取りヘッドで
あり、前記第１磁気ヘッドが書込みヘッドである請求項
３１記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項３５】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第３駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第４駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段および前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項３３記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３６】前記第１磁気ヘッドが読取り／書込み
（ＲＷ）ヘッドであり、前記第２磁気ヘッドが書込み／
読取り（ＷＲ）ヘッドである請求項３１記載の磁気ディ
スクの試験処理装置。
【請求項３７】前記コントローラが、(i) 前記スピン
ドルを前記第２ディスク回転方向に回転しながら、前記
第３駆動手段および前記滑動偏倚手段および前記第４駆
動手段および前記研磨偏倚手段を、ついで(ii)前記スピ
ンドルを前記第１ディスク回転方向に回転しながら、前
記第２駆動手段および前記第２ヘッド偏倚手段および前
記第１駆動手段および前記第１ヘッド偏倚手段を順次動
作させる請求項３６記載の磁気ディスクの試験処理装
置。
【請求項３８】 (i) 前記第１ヘッドと前記滑動ヘッド
が剛性結合装置により互に結合され、単一の駆動装置
が、前記第１ヘッド駆動手段と前記滑動駆動手段に対応
しており、(ii)前記第２ヘッドと前記研磨ヘッドが剛性
結合装置により互に結合され、単一の駆動装置が、前記
第２ヘッド駆動手段と前記研磨駆動手段に対応している
請求項１１記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項３９】 (i) 前記第１ヘッドと前記滑動ヘッド
が剛性結合装置により互に結合され、単一の駆動装置
が、前記第１ヘッド駆動手段と前記滑動駆動手段に対応
しており、(ii)前記第２ヘッドと前記研磨ヘッドが剛性
結合装置により互に結合され、単一の駆動装置が、前記
第２ヘッド駆動手段と前記研磨駆動手段に対応している
請求項１３記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項４０】前記第１および第２ヘッドの前記感知
軸線が両者とも前記第１半径に垂直である請求項９記載
の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項４１】前記第１および第２ヘッドの前記感知
軸線が前記第１半径に関して同じ角度（Ａ）だけ傾斜さ
れている請求項９記載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項４２】前記滑動ヘッドが、前記滑動ヘッド下
にある磁気媒体が前記ディスク領分内の基準点から予定
された距離より延び出ている前記ディスク上の点を識別
するための選択的に動作し得る手段を備える請求項９記
載の磁気ディスクの試験処理装置。
【請求項４３】前記研磨ヘッドが、前記研磨ヘッド下
にある磁気媒体が前記ディスク領分内の基準点を越えて
予定された距離より延び出ている前記ディスク上の一部
を除去するための選択的に作動し得る手段を備え請求項
９記載の磁気ディスクの試験処理装置。