JPH10208044A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
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- JPH10208044A JPH10208044A JP9007633A JP763397A JPH10208044A JP H10208044 A JPH10208044 A JP H10208044A JP 9007633 A JP9007633 A JP 9007633A JP 763397 A JP763397 A JP 763397A JP H10208044 A JPH10208044 A JP H10208044A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検査対象が傾いても、小誤差の正確なパタ−
ンマッチングを行う。 【解決手段】 比較対象（傾き０°）の所定箇所の登録
画像パタ−ン１ａ，２ａを登録する。また、比較対象の
画像パタ−ンをθ°だけ傾け、当該所定箇所における登
録画像パタ−ン１ｂ，２ｂを登録する。また、比較対象
の画像パタ−ンを−θ°だけ傾け、当該所定箇所におけ
る登録画像パタ−ン１ｃ，２ｃを登録する。これら登録
画像パタ−ン１ａ〜１ｃ，２ａ〜２ｃと検査画像パタ−
ン１´，２´とのパタ−ンマッチングを行い、最も相関
値（マッチング率）の高い位置を検出し、比較対象の画
像パタ−ンと検査対象の画像パタ−ンの位置合せを行
う。この後、検査対象の検査が行われる。
ンマッチングを行う。 【解決手段】 比較対象（傾き０°）の所定箇所の登録
画像パタ−ン１ａ，２ａを登録する。また、比較対象の
画像パタ−ンをθ°だけ傾け、当該所定箇所における登
録画像パタ−ン１ｂ，２ｂを登録する。また、比較対象
の画像パタ−ンを−θ°だけ傾け、当該所定箇所におけ
る登録画像パタ−ン１ｃ，２ｃを登録する。これら登録
画像パタ−ン１ａ〜１ｃ，２ａ〜２ｃと検査画像パタ−
ン１´，２´とのパタ−ンマッチングを行い、最も相関
値（マッチング率）の高い位置を検出し、比較対象の画
像パタ−ンと検査対象の画像パタ−ンの位置合せを行
う。この後、検査対象の検査が行われる。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、登録画像パタ−ン
と検査画像パタ−ンの位置合せ（パタ−ンマッチング）
を実行する画像処理装置に関する。
と検査画像パタ−ンの位置合せ（パタ−ンマッチング）
を実行する画像処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像処理による外観検査において、検査
対象（例えば、ＬＳＩパッケ−ジ）を検出することは前
提条件である。即ち、検査対象の実際の検査は、登録画
像パタ−ン（比較対象の画像パタ−ンの一部又は全体）
と検査画像パタ−ン（検査対象の画像パタ−ンの一部又
は全体）の位置合せにより検査対象を検出した後に行わ
れる。
対象（例えば、ＬＳＩパッケ−ジ）を検出することは前
提条件である。即ち、検査対象の実際の検査は、登録画
像パタ−ン（比較対象の画像パタ−ンの一部又は全体）
と検査画像パタ−ン（検査対象の画像パタ−ンの一部又
は全体）の位置合せにより検査対象を検出した後に行わ
れる。
【０００３】図１４は、従来の画像処理装置の構成の概
略を示している。カメラ１０は、検査対象又は比較対象
の画像を採取し、この画像を画像処理装置１１に与え
る。カメラ１０は、ビデオカメラ、デジタルカメラなど
から構成され、また、スキャナのような画像取り込み装
置を含む。
略を示している。カメラ１０は、検査対象又は比較対象
の画像を採取し、この画像を画像処理装置１１に与え
る。カメラ１０は、ビデオカメラ、デジタルカメラなど
から構成され、また、スキャナのような画像取り込み装
置を含む。
【０００４】画像処理装置１１は、画像メモリ部１２、
処理部１３、制御部１４を有している。検査対象及び比
較対象の画像パタ−ン（登録画像パタ−ン、検査画像パ
タ−ンを含む）は、パタ−ンマッチングや検査対象の検
査に用いられ、画像メモリ部１２に記憶される。
処理部１３、制御部１４を有している。検査対象及び比
較対象の画像パタ−ン（登録画像パタ−ン、検査画像パ
タ−ンを含む）は、パタ−ンマッチングや検査対象の検
査に用いられ、画像メモリ部１２に記憶される。
【０００５】処理部１３では、パタ−ンマッチングのた
めの相関演算や、外観検査のための演算などが行われ
る。制御部１４は、画像メモリ部１２における画像デ−
タの入出力や、処理部１３における演算の制御を行う。
めの相関演算や、外観検査のための演算などが行われ
る。制御部１４は、画像メモリ部１２における画像デ−
タの入出力や、処理部１３における演算の制御を行う。
【０００６】次に、図１４の画像処理装置の動作につい
て説明する。まず、図１４乃至図１６に示すように、カ
メラ１０により、比較対象（良品）１５の画像パタ−ン
を採取し、その画像パタ−ンの全体又は一部を、登録画
像パタ−ン１及び登録画像パタ−ン２として登録する。
て説明する。まず、図１４乃至図１６に示すように、カ
メラ１０により、比較対象（良品）１５の画像パタ−ン
を採取し、その画像パタ−ンの全体又は一部を、登録画
像パタ−ン１及び登録画像パタ−ン２として登録する。
【０００７】本実施例の場合、登録画像パタ−ンは、比
較対象１５の２ヶ所について作成しているが、３ヶ所以
上について作成してもよい。登録画像パタ−ンを作成す
る部分を増やせば、パタ−ンマッチングの精度が向上す
る反面、パタ−ンマッチングに多大な時間を要するとい
う欠点も生じる。登録画像パタ−ンが２ヶ所で作成され
る場合、登録画像パタ−ンは、比較対象１５の中心に対
して対角線上に存在する２つの角部とするのがよい。
較対象１５の２ヶ所について作成しているが、３ヶ所以
上について作成してもよい。登録画像パタ−ンを作成す
る部分を増やせば、パタ−ンマッチングの精度が向上す
る反面、パタ−ンマッチングに多大な時間を要するとい
う欠点も生じる。登録画像パタ−ンが２ヶ所で作成され
る場合、登録画像パタ−ンは、比較対象１５の中心に対
して対角線上に存在する２つの角部とするのがよい。
【０００８】次に、図１７乃至図１９に示すように、カ
メラ１０により、検査対象１６の画像パタ−ンを採取
し、その画像パタ−ンの全体又は一部を検査画像パタ−
ン１´及び検査画像パタ−ン２´として登録する。
メラ１０により、検査対象１６の画像パタ−ンを採取
し、その画像パタ−ンの全体又は一部を検査画像パタ−
ン１´及び検査画像パタ−ン２´として登録する。
【０００９】この後、登録画像パタ−ン１と検査画像パ
タ−ン１´について、所定範囲で、相関演算によるパタ
−ンマッチングを行い、かつ、登録画像パタ−ン２と検
査画像パタ−ン２´についても、所定範囲で、相関演算
によるパタ−ンマッチングを行う。
タ−ン１´について、所定範囲で、相関演算によるパタ
−ンマッチングを行い、かつ、登録画像パタ−ン２と検
査画像パタ−ン２´についても、所定範囲で、相関演算
によるパタ−ンマッチングを行う。
【００１０】そして、最も高いマッチング率を有してい
る位置を検出し、比較対象の画像パタ−ンと検査対象の
画像パタ−ンの位置合せ（パタ−ンマッチング）を行
う。なお、検査対象の検査は、この位置合せ後に行われ
る。
る位置を検出し、比較対象の画像パタ−ンと検査対象の
画像パタ−ンの位置合せ（パタ−ンマッチング）を行
う。なお、検査対象の検査は、この位置合せ後に行われ
る。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、パタ−
ンマッチングは、登録画像パタ−ンと検査画像パタ−ン
の相関演算により実行される。しかし、従来のパタ−ン
マッチングでは、登録画像パタ−ンは、比較対象の１部
分について１種類（比較対象の傾きが０°のもの）しか
存在しない。つまり、従来は、比較対象が傾いていない
状態で登録画像パタ−ンを作成し、かつ、検査対象が傾
いていないことを前提にパタ−ンマッチングが行われて
いる。
ンマッチングは、登録画像パタ−ンと検査画像パタ−ン
の相関演算により実行される。しかし、従来のパタ−ン
マッチングでは、登録画像パタ−ンは、比較対象の１部
分について１種類（比較対象の傾きが０°のもの）しか
存在しない。つまり、従来は、比較対象が傾いていない
状態で登録画像パタ−ンを作成し、かつ、検査対象が傾
いていないことを前提にパタ−ンマッチングが行われて
いる。
【００１２】従って、検査対象が回転により傾いた場
合、図１９に示すように、登録画像パタ−ン１，２と検
査画像パタ−ン１´，２´は、大きく相違することにな
るため、検査対象を検出できなかったり、又は検出でき
ても誤差が非常に大きくなるという欠点がある。
合、図１９に示すように、登録画像パタ−ン１，２と検
査画像パタ−ン１´，２´は、大きく相違することにな
るため、検査対象を検出できなかったり、又は検出でき
ても誤差が非常に大きくなるという欠点がある。
【００１３】本発明は、上記欠点を解決すべくなされた
もので、その目的は、検査対象が回転により傾いても、
パタ−ンマッチングにより、正確に検査対象を検出する
ことが可能な画像処理装置を提供することである。
もので、その目的は、検査対象が回転により傾いても、
パタ−ンマッチングにより、正確に検査対象を検出する
ことが可能な画像処理装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の画像処理装置は、比較対象の第１画像パタ
−ンの第１部分又は全体を第１登録画像パタ−ンとして
登録する手段と、前記第１画像パタ−ンを傾けた少なく
とも１つの第２画像パタ−ンを作成し、前記少なくとも
１つの第２画像パタ−ンの前記第１部分に相当する第２
部分又は全体を少なくとも１つの第２登録画像パタ−ン
として登録する手段と、検査対象の第３画像パタ−ンの
前記第１部分に相当する第３部分又は全体を検査画像パ
タ−ンとし、前記第１登録画像パタ−ンと前記検査画像
パタ−ンのパタ−ンマッチングを行うと共に前記少なく
とも１つの第２登録画像パタ−ンと前記検査画像パタ−
ンのパタ−ンマッチングを行い、最も高いマッチング率
を有する位置を検出する手段とを備えている。
め、本発明の画像処理装置は、比較対象の第１画像パタ
−ンの第１部分又は全体を第１登録画像パタ−ンとして
登録する手段と、前記第１画像パタ−ンを傾けた少なく
とも１つの第２画像パタ−ンを作成し、前記少なくとも
１つの第２画像パタ−ンの前記第１部分に相当する第２
部分又は全体を少なくとも１つの第２登録画像パタ−ン
として登録する手段と、検査対象の第３画像パタ−ンの
前記第１部分に相当する第３部分又は全体を検査画像パ
タ−ンとし、前記第１登録画像パタ−ンと前記検査画像
パタ−ンのパタ−ンマッチングを行うと共に前記少なく
とも１つの第２登録画像パタ−ンと前記検査画像パタ−
ンのパタ−ンマッチングを行い、最も高いマッチング率
を有する位置を検出する手段とを備えている。
【００１５】前記少なくとも１つの第２画像パタ−ン
は、前記第１画像パタ−ンを、角度±θ°（θは、所定
値）だけ回転させることにより得られる。前記検査対象
は、エンボステ−プの窪み内に配置されたＬＳＩであ
り、前記角度±θ°は、前記エンボステ−プの窪みの大
きさ及び前記ＬＳＩの大きさにより決定される。
は、前記第１画像パタ−ンを、角度±θ°（θは、所定
値）だけ回転させることにより得られる。前記検査対象
は、エンボステ−プの窪み内に配置されたＬＳＩであ
り、前記角度±θ°は、前記エンボステ−プの窪みの大
きさ及び前記ＬＳＩの大きさにより決定される。
【００１６】前記画像処理装置は、さらに、前記最も高
いマッチング率を有する位置を検出した後、前記検査画
像パタ−ンの検査を行う手段を備える。本発明の画像処
理装置は、比較対象の第１画像パタ−ンの第１部分又は
全体を第１登録画像パタ−ンとして登録し、前記比較対
象を傾けた少なくとも１つの第２画像パタ−ンの前記第
１部分に相当する第２部分又は全体を少なくとも１つの
第２登録画像パタ−ンとして登録する手段と、検査対象
の第３画像パタ−ンの前記第１部分に相当する第３部分
又は全体を検査画像パタ−ンとし、前記第１登録画像パ
タ−ンと前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチングを
行うと共に前記少なくとも１つの第２登録画像パタ−ン
と前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチングを行い、
最も高いマッチング率を有する位置を検出する手段とを
備える。
いマッチング率を有する位置を検出した後、前記検査画
像パタ−ンの検査を行う手段を備える。本発明の画像処
理装置は、比較対象の第１画像パタ−ンの第１部分又は
全体を第１登録画像パタ−ンとして登録し、前記比較対
象を傾けた少なくとも１つの第２画像パタ−ンの前記第
１部分に相当する第２部分又は全体を少なくとも１つの
第２登録画像パタ−ンとして登録する手段と、検査対象
の第３画像パタ−ンの前記第１部分に相当する第３部分
又は全体を検査画像パタ−ンとし、前記第１登録画像パ
タ−ンと前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチングを
行うと共に前記少なくとも１つの第２登録画像パタ−ン
と前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチングを行い、
最も高いマッチング率を有する位置を検出する手段とを
備える。
【００１７】前記少なくとも１つの第２画像パタ−ン
は、前記比較対象を、±θ°（θは、所定値）だけ回転
させることにより得られる。前記検査対象は、エンボス
テ−プの窪み内に配置されたＬＳＩであり、前記角度±
θ°は、前記エンボステ−プの窪みの大きさ及び前記Ｌ
ＳＩの大きさにより決定される。前記画像処理装置は、
さらに、前記最も高いマッチング率を有する位置を検出
した後、前記検査画像パタ−ンの検査を行う手段を備え
る。
は、前記比較対象を、±θ°（θは、所定値）だけ回転
させることにより得られる。前記検査対象は、エンボス
テ−プの窪み内に配置されたＬＳＩであり、前記角度±
θ°は、前記エンボステ−プの窪みの大きさ及び前記Ｌ
ＳＩの大きさにより決定される。前記画像処理装置は、
さらに、前記最も高いマッチング率を有する位置を検出
した後、前記検査画像パタ−ンの検査を行う手段を備え
る。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の画像処理装置について詳細に説明する。図１は、本
発明の実施の形態に関わる画像処理装置を示している。
カメラ１０は、検査対象又は比較対象の画像を採取し、
この画像を画像処理装置１１に与える。カメラ１０は、
ビデオカメラ、デジタルカメラなどから構成され、ま
た、スキャナのような画像取り込み装置を含む。
明の画像処理装置について詳細に説明する。図１は、本
発明の実施の形態に関わる画像処理装置を示している。
カメラ１０は、検査対象又は比較対象の画像を採取し、
この画像を画像処理装置１１に与える。カメラ１０は、
ビデオカメラ、デジタルカメラなどから構成され、ま
た、スキャナのような画像取り込み装置を含む。
【００１９】画像処理装置１１は、画像メモリ部１２、
処理部１３、制御部１４を有している。検査対象及び比
較対象の画像パタ−ン（登録画像パタ−ン、検査画像パ
タ−ンを含む）は、パタ−ンマッチングや検査対象の検
査に用いられ、画像メモリ部１２に記憶される。
処理部１３、制御部１４を有している。検査対象及び比
較対象の画像パタ−ン（登録画像パタ−ン、検査画像パ
タ−ンを含む）は、パタ−ンマッチングや検査対象の検
査に用いられ、画像メモリ部１２に記憶される。
【００２０】処理部１３では、パタ−ンマッチングのた
めの相関演算や、外観検査のための演算などが行われ
る。制御部１４は、画像メモリ部１２における画像デ−
タの入出力や、処理部１３における演算の制御を行う。
めの相関演算や、外観検査のための演算などが行われ
る。制御部１４は、画像メモリ部１２における画像デ−
タの入出力や、処理部１３における演算の制御を行う。
【００２１】図２は、図１の画像処理装置の動作の一例
を示している。まず、比較対象（良品）１５の画像パタ
−ンを採取し、その画像パタ−ンの全体又は一部を登録
画像パタ−ン１ａ及び登録画像パタ−ン２ａとして登録
する（ステップＳＴ１）。この時、図３に示すように、
比較対象１５の傾きは、０°とする。
を示している。まず、比較対象（良品）１５の画像パタ
−ンを採取し、その画像パタ−ンの全体又は一部を登録
画像パタ−ン１ａ及び登録画像パタ−ン２ａとして登録
する（ステップＳＴ１）。この時、図３に示すように、
比較対象１５の傾きは、０°とする。
【００２２】比較対象１５の画像パタ−ンの一部を登録
画像パタ−ン１ａ，２ａとして登録する場合、その一部
は、例えば、比較対象１５の互いに対向する２つの角部
のパタ−ンとするのがよい。
画像パタ−ン１ａ，２ａとして登録する場合、その一部
は、例えば、比較対象１５の互いに対向する２つの角部
のパタ−ンとするのがよい。
【００２３】次に、比較対象１５の画像パタ−ンに基づ
いて、登録画像パタ−ン１ｂ，１ｃ，２ｂ，２ｃを作成
する（ステップＳＴ２）。登録画像パタ−ン１ｂ，２ｂ
は、図４に示すように、比較対象１５の画像パタ−ンを
θ°だけ一方向に回転させた場合における比較対象の互
いに対向する角部のパタ−ンである。同様に、登録画像
パタ−ン１ｃ，２ｃは、図４に示すように、比較対象１
５の画像パタ−ンを−θ°だけ他方向に回転させた場合
における比較対象の互いに対向する角部のパタ−ンであ
る。
いて、登録画像パタ−ン１ｂ，１ｃ，２ｂ，２ｃを作成
する（ステップＳＴ２）。登録画像パタ−ン１ｂ，２ｂ
は、図４に示すように、比較対象１５の画像パタ−ンを
θ°だけ一方向に回転させた場合における比較対象の互
いに対向する角部のパタ−ンである。同様に、登録画像
パタ−ン１ｃ，２ｃは、図４に示すように、比較対象１
５の画像パタ−ンを−θ°だけ他方向に回転させた場合
における比較対象の互いに対向する角部のパタ−ンであ
る。
【００２４】つまり、図５に示すように、登録画像パタ
−ンは、比較対象１５の１部分について３種類存在する
ことになるため、比較対象１５の２ヶ所で登録画像パタ
−ンを作成する本実施例では、登録画像パタ−ンは、合
計６つ存在する。
−ンは、比較対象１５の１部分について３種類存在する
ことになるため、比較対象１５の２ヶ所で登録画像パタ
−ンを作成する本実施例では、登録画像パタ−ンは、合
計６つ存在する。
【００２５】なお、比較対象１５の傾きのパタ−ンをさ
らに増やし、登録画像パタ−ンを、比較対象１５の１部
分について３種類以上設けるようにしてもよい。登録画
像パタ−ンは、予め検査対象が傾き易い角度を確認して
おき、その角度において作成する。例えば、角度を（ｎ
×θ）°，−（ｎ×θ）°のように設定してもよい。但
し、ｎは、自然数で、０°＜（ｎ×θ）°＜９０°，−
９０°＜−（ｎ×θ）°＜０°とする（実際の傾きの範
囲は、数度程度である）。
らに増やし、登録画像パタ−ンを、比較対象１５の１部
分について３種類以上設けるようにしてもよい。登録画
像パタ−ンは、予め検査対象が傾き易い角度を確認して
おき、その角度において作成する。例えば、角度を（ｎ
×θ）°，−（ｎ×θ）°のように設定してもよい。但
し、ｎは、自然数で、０°＜（ｎ×θ）°＜９０°，−
９０°＜−（ｎ×θ）°＜０°とする（実際の傾きの範
囲は、数度程度である）。
【００２６】登録画像パタ−ン１ｂ，１ｃ，２ｂ，２ｃ
は、本実施の形態のように、比較対象１５の画像パタ−
ンに基づいて、画像処理により自動的に求めることがで
きる。また、図６のフロ−チャ−トに示すように、実際
に比較対象を傾けて、カメラ１０により比較対象１５の
画像パタ−ンを採取し、登録画像パタ−ン１ｂ，１ｃ，
２ｂ，２ｃを登録してもよい。
は、本実施の形態のように、比較対象１５の画像パタ−
ンに基づいて、画像処理により自動的に求めることがで
きる。また、図６のフロ−チャ−トに示すように、実際
に比較対象を傾けて、カメラ１０により比較対象１５の
画像パタ−ンを採取し、登録画像パタ−ン１ｂ，１ｃ，
２ｂ，２ｃを登録してもよい。
【００２７】次に、図７及び図８に示すように、検査対
象１６の画像パタ−ンを採取し、その画像パタ−ンの全
体又は一部を検査画像パタ−ン１´及び検査画像パタ−
ン２´として登録する（ステップＳＴ３）。この時、検
査対象１６の傾きは、０°の場合もあれば、図８に示す
ように、数°傾いている場合もある。
象１６の画像パタ−ンを採取し、その画像パタ−ンの全
体又は一部を検査画像パタ−ン１´及び検査画像パタ−
ン２´として登録する（ステップＳＴ３）。この時、検
査対象１６の傾きは、０°の場合もあれば、図８に示す
ように、数°傾いている場合もある。
【００２８】次に、登録画像パタ−ン１ａ〜１ｃの各々
と検査画像パタ−ン１´について、所定範囲で、相関演
算によるパタ−ンマッチングを行い、かつ、登録画像パ
タ−ン２ａ〜２ｃの各々と検査画像パタ−ン２´につい
て、所定範囲で、相関演算によるパタ−ンマッチングを
行う。
と検査画像パタ−ン１´について、所定範囲で、相関演
算によるパタ−ンマッチングを行い、かつ、登録画像パ
タ−ン２ａ〜２ｃの各々と検査画像パタ−ン２´につい
て、所定範囲で、相関演算によるパタ−ンマッチングを
行う。
【００２９】そして、最も高いマッチング率を有する位
置を検出し、比較対象１５の画像パタ−ンと検査対象１
６の画像パタ−ンの位置合せを行う（ステップＳＴ
４）。ここで、図８に示すように、検査対象１６が数°
傾いている場合について考える。
置を検出し、比較対象１５の画像パタ−ンと検査対象１
６の画像パタ−ンの位置合せを行う（ステップＳＴ
４）。ここで、図８に示すように、検査対象１６が数°
傾いている場合について考える。
【００３０】この場合、登録画像パタ−ン１ａ，１ｂ，
２ａ，２ｂと検査画像パタ−ン１´，２´の所定範囲内
におけるパタ−ンマッチングのマッチング率は、全て低
い値を有していると考えられるが、登録画像パタ−ン１
ｃ，２ｃと検査画像パタ−ン１´，２´の所定範囲内に
おけるパタ−ンマッチングのマッチング率は、所定の位
置において最も高くなっていると考えられる。
２ａ，２ｂと検査画像パタ−ン１´，２´の所定範囲内
におけるパタ−ンマッチングのマッチング率は、全て低
い値を有していると考えられるが、登録画像パタ−ン１
ｃ，２ｃと検査画像パタ−ン１´，２´の所定範囲内に
おけるパタ−ンマッチングのマッチング率は、所定の位
置において最も高くなっていると考えられる。
【００３１】即ち、図９に示すように、最も高いマッチ
ング率を有している位置を検出することにより、登録画
像パタ−ンと検査画像パタ−ンの位置合せが完了する。
また、当然、位置合せと同時に、検査対象１６の傾きも
検出することができる。
ング率を有している位置を検出することにより、登録画
像パタ−ンと検査画像パタ−ンの位置合せが完了する。
また、当然、位置合せと同時に、検査対象１６の傾きも
検出することができる。
【００３２】この後、検査対象の外観検査が行われ（ス
テップＳＴ５）、ＯＫ（良品）と判断された場合には、
次の検査対象（例えば、ＬＳＩパッケ−ジ）に移行して
同様の処理が行われ、ＮＧ（不良品）と判断された場合
には、動作が終了する。
テップＳＴ５）、ＯＫ（良品）と判断された場合には、
次の検査対象（例えば、ＬＳＩパッケ−ジ）に移行して
同様の処理が行われ、ＮＧ（不良品）と判断された場合
には、動作が終了する。
【００３３】上記構成の画像処理装置によれば、比較対
象１５の傾きが０°の場合と比較対象１５の傾きが数°
の場合の複数の登録画像パタ−ン（但し、同一箇所）を
登録しておき、この複数の登録画像パタ−ンの各々と検
査画像パタ−ンとのパタ−ンマッチングを行っている。
象１５の傾きが０°の場合と比較対象１５の傾きが数°
の場合の複数の登録画像パタ−ン（但し、同一箇所）を
登録しておき、この複数の登録画像パタ−ンの各々と検
査画像パタ−ンとのパタ−ンマッチングを行っている。
【００３４】つまり、このパタ−ンマッチングで、最も
高いマッチング率を有する位置を検出することにより、
比較対象１５の画像パタ−ンと検査対象１６の画像パタ
−ンの位置合せが行われると共に、検査対象１６の傾き
も検出することができる。従って、検査対象１６が傾い
ても、誤差の少ない正確なパタ−ンマッチングが行える
ため、検査対象１６の検査も正確に行えるようになる。
高いマッチング率を有する位置を検出することにより、
比較対象１５の画像パタ−ンと検査対象１６の画像パタ
−ンの位置合せが行われると共に、検査対象１６の傾き
も検出することができる。従って、検査対象１６が傾い
ても、誤差の少ない正確なパタ−ンマッチングが行える
ため、検査対象１６の検査も正確に行えるようになる。
【００３５】
【実施例】図１０は、本発明の実施例に関わるエンボス
テ−プ内のＬＳＩを示している。図１１は、図１０のＸ
Ｉ−ＸＩ線に沿う断面図である。本実施例では、本発明
の画像処理装置を用いて、エンボステ−プ内のＬＳＩの
外観検査を行う場合について説明する。
テ−プ内のＬＳＩを示している。図１１は、図１０のＸ
Ｉ−ＸＩ線に沿う断面図である。本実施例では、本発明
の画像処理装置を用いて、エンボステ−プ内のＬＳＩの
外観検査を行う場合について説明する。
【００３６】まず、検査対象について述べる。ＬＳＩ２
１は、エンボステ−プ２２の窪み２３内に配置されてい
る。窪み２３の大きさ（縦×横）は、ＬＳＩ２１のサイ
ズよりも少し大きめに設定され、その深さも、ＬＳＩ２
１の高さよりも少し大きめに設定されている。エンボス
テ−プ２２の縁に沿ってスプロケットホ−ル２４が配置
されている。このスプロケットホ−ル２４によりエンボ
ステ−プ２２を搬送することにより、複数のＬＳＩの外
観検査を連続して行うことができる。
１は、エンボステ−プ２２の窪み２３内に配置されてい
る。窪み２３の大きさ（縦×横）は、ＬＳＩ２１のサイ
ズよりも少し大きめに設定され、その深さも、ＬＳＩ２
１の高さよりも少し大きめに設定されている。エンボス
テ−プ２２の縁に沿ってスプロケットホ−ル２４が配置
されている。このスプロケットホ−ル２４によりエンボ
ステ−プ２２を搬送することにより、複数のＬＳＩの外
観検査を連続して行うことができる。
【００３７】エンボステ−プ２２の窪み２３内のＬＳＩ
２１は、図１０に示すように、通常、傾きが０°の状態
にある。しかし、窪み２３は、ＬＳＩ２１よりも大きめ
に作られているため、図１２及び図１３に示すように、
ＬＳＩ２１は、最大で、θ°，−θ°だけ傾く場合があ
る。
２１は、図１０に示すように、通常、傾きが０°の状態
にある。しかし、窪み２３は、ＬＳＩ２１よりも大きめ
に作られているため、図１２及び図１３に示すように、
ＬＳＩ２１は、最大で、θ°，−θ°だけ傾く場合があ
る。
【００３８】この角度θ，−θは、ＬＳＩ２１の大きさ
及びエンボステ−プ２２の窪み２３の大きさがそれぞれ
判明していれば、予め認識することができる。また、本
実施例の場合、ＬＳＩ２１の傾きは、０°又はθ°，−
θ°の場合がほとんどであり、その間の角度は少ないと
考えられるため、登録画像パタ−ンとしては、同一箇所
について、ＬＳＩ２１の傾きが０°の場合とθ°，−θ
°の場合の合計３つを登録しておく。
及びエンボステ−プ２２の窪み２３の大きさがそれぞれ
判明していれば、予め認識することができる。また、本
実施例の場合、ＬＳＩ２１の傾きは、０°又はθ°，−
θ°の場合がほとんどであり、その間の角度は少ないと
考えられるため、登録画像パタ−ンとしては、同一箇所
について、ＬＳＩ２１の傾きが０°の場合とθ°，−θ
°の場合の合計３つを登録しておく。
【００３９】なお、比較対象の２箇所でマッチングを行
う場合には、登録画像パタ−ンは、合計６つとなる。そ
して、これらの登録画像パタ−ンと検査画像パタ−ンの
パタ−ンマッチングを行うことにより、比較対象の画像
パタ−ンと検査対象の画像パタ−ンの位置合せが行える
と共に、検査対象の傾きの有無も判断できる。
う場合には、登録画像パタ−ンは、合計６つとなる。そ
して、これらの登録画像パタ−ンと検査画像パタ−ンの
パタ−ンマッチングを行うことにより、比較対象の画像
パタ−ンと検査対象の画像パタ−ンの位置合せが行える
と共に、検査対象の傾きの有無も判断できる。
【００４０】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の画像処
理装置によれば、次のような効果を奏する。検査の前提
としてのパタ−ンマッチングに際して、比較対象（良
品）の傾きが０°の場合と比較対象の傾きが数°の場合
の複数の登録画像パタ−ン（但し、同一箇所）を登録し
ておき、この複数の登録画像パタ−ンの各々と検査画像
パタ−ンとのパタ−ンマッチングを行っている。
理装置によれば、次のような効果を奏する。検査の前提
としてのパタ−ンマッチングに際して、比較対象（良
品）の傾きが０°の場合と比較対象の傾きが数°の場合
の複数の登録画像パタ−ン（但し、同一箇所）を登録し
ておき、この複数の登録画像パタ−ンの各々と検査画像
パタ−ンとのパタ−ンマッチングを行っている。
【００４１】そして、このパタ−ンマッチングにおい
て、最も高いマッチング率を有する位置を検出すること
により、比較対象の画像パタ−ンと検査対象の画像パタ
−ンのマッチングが行われると共に、検査対象の傾きも
検出できるようになる。よって、検査対象が傾いても、
誤差の少ない正確なパタ−ンマッチングが行えるため、
検査対象の検査も正確に行えるようになる。
て、最も高いマッチング率を有する位置を検出すること
により、比較対象の画像パタ−ンと検査対象の画像パタ
−ンのマッチングが行われると共に、検査対象の傾きも
検出できるようになる。よって、検査対象が傾いても、
誤差の少ない正確なパタ−ンマッチングが行えるため、
検査対象の検査も正確に行えるようになる。
【図１】本発明の実施の形態に関わる画像処理装置を示
す図。
す図。
【図２】図１の画像処理装置の動作の一例を示すフロ−
チャ−ト。
チャ−ト。
【図３】図１の比較対象の傾きが０°の状態を示す図。
【図４】図１の比較対象がθ，−θだけ傾いた状態を示
す図。
す図。
【図５】同一箇所における登録画像パタ−ンの種類を示
す図。
す図。
【図６】図１の画像処理装置の動作の他の一例を示すフ
ロ−チャ−ト。
ロ−チャ−ト。
【図７】本発明の実施の形態に関わる画像処理装置を示
す図。
す図。
【図８】図７の検査対象がθだけ傾いた状態を示す図。
【図９】最も相関値（マッチング率）の高いパタ−ンの
組み合せを示す図。
組み合せを示す図。
【図１０】エンボステ−プの窪み内のＬＳＩを示す図。
【図１１】図１０のＸＩ−ＸＩ線に沿う断面図。
【図１２】エンボステ−プの窪み内のＬＳＩがθだけ傾
いた状態を示す図。
いた状態を示す図。
【図１３】エンボステ−プの窪み内のＬＳＩが−θだけ
傾いた状態を示す図。
傾いた状態を示す図。
【図１４】従来の画像処理装置を示す図。
【図１５】図１４の比較対象の傾きが０°の状態を示す
図。
図。
【図１６】登録画像パタ−ンを示す図。
【図１７】従来の画像処理装置を示す図。
【図１８】図１７の検査対象がθだけ傾いた状態を示す
図。
図。
【図１９】登録画像パタ−ンと検査画像パタ−ンの相違
を示す図。
を示す図。
１０ ：カメラ、 １１ ：画像処理装置、 １２ ：画像メモリ部、 １３ ：処理部、 １４ ：制御部、 １５ ：比較対象（良品）、 １６ ：検査対象、 ２１ ：ＬＳＩ、 ２２ ：エンボステ−プ、 ２３ ：窪み、 ２４ ：スプロケットホ−ル。
Claims (7)
- 【請求項１】 比較対象の第１画像パタ−ンの第１部分
又は全体を第１登録画像パタ−ンとして登録する手段
と、前記第１画像パタ−ンを傾けた少なくとも１つの第
２画像パタ−ンを作成し、前記少なくとも１つの第２画
像パタ−ンの前記第１部分に相当する第２部分又は全体
を少なくとも１つの第２登録画像パタ−ンとして登録す
る手段と、検査対象の第３画像パタ−ンの前記第１部分
に相当する第３部分又は全体を検査画像パタ−ンとし、
前記第１登録画像パタ−ンと前記検査画像パタ−ンのパ
タ−ンマッチングを行うと共に前記少なくとも１つの第
２登録画像パタ−ンと前記検査画像パタ−ンのパタ−ン
マッチングを行い、最も高いマッチング率を有する位置
を検出する手段とを具備することを特徴とする画像処理
装置。 - 【請求項２】 比較対象の第１画像パタ−ンの第１部分
又は全体を第１登録画像パタ−ンとして登録し、前記比
較対象を傾けた少なくとも１つの第２画像パタ−ンの前
記第１部分に相当する第２部分又は全体を少なくとも１
つの第２登録画像パタ−ンとして登録する手段と、検査
対象の第３画像パタ−ンの前記第１部分に相当する第３
部分又は全体を検査画像パタ−ンとし、前記第１登録画
像パタ−ンと前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチン
グを行うと共に前記少なくとも１つの第２登録画像パタ
−ンと前記検査画像パタ−ンのパタ−ンマッチングを行
い、最も高いマッチング率を有する位置を検出する手段
とを具備することを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項３】 前記少なくとも１つの第２画像パタ−ン
は、前記第１画像パタ−ンを、角度±θ°（θは、所定
値）だけ回転させることにより得られることを特徴とす
る請求項１記載の画像処理装置。 - 【請求項４】 前記検査対象は、エンボステ−プの窪み
内に配置されたＬＳＩであり、前記角度±θ°は、前記
エンボステ−プの窪みの大きさ及び前記ＬＳＩの大きさ
により決定されることを特徴とする請求項３記載の画像
処理装置。 - 【請求項５】 前記少なくとも１つの第２画像パタ−ン
は、前記比較対象を、±θ°（θは、所定値）だけ回転
させることにより得られることを特徴とする請求項２記
載の画像処理装置。 - 【請求項６】 前記検査対象は、エンボステ−プの窪み
内に配置されたＬＳＩであり、前記角度±θ°は、前記
エンボステ−プの窪みの大きさ及び前記ＬＳＩの大きさ
により決定されることを特徴とする請求項５記載の画像
処理装置。 - 【請求項７】 前記最も高いマッチング率を有する位置
を検出した後、前記検査画像パタ−ンの検査を行う手段
を具備することを特徴とする請求項１又は２記載の画像
処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9007633A JPH10208044A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9007633A JPH10208044A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10208044A true JPH10208044A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11671240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9007633A Pending JPH10208044A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10208044A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7483562B2 (en) | 2002-08-07 | 2009-01-27 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method of detecting protrudent adhered matters and method of making spark plug using the same |
-
1997
- 1997-01-20 JP JP9007633A patent/JPH10208044A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7483562B2 (en) | 2002-08-07 | 2009-01-27 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method of detecting protrudent adhered matters and method of making spark plug using the same |
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