JPH10200050A - 半導体集積装置 - Google Patents

半導体集積装置

Info

Publication number
JPH10200050A
JPH10200050A JP9000321A JP32197A JPH10200050A JP H10200050 A JPH10200050 A JP H10200050A JP 9000321 A JP9000321 A JP 9000321A JP 32197 A JP32197 A JP 32197A JP H10200050 A JPH10200050 A JP H10200050A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
circuit block
power
main line
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9000321A
Other languages
English (en)
Inventor
Mikio Asai
幹生 浅井
Masahiko Hiyouzou
正彦 兵三
Ryoichi Takagi
亮一 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9000321A priority Critical patent/JPH10200050A/ja
Priority to US08/837,940 priority patent/US5844263A/en
Publication of JPH10200050A publication Critical patent/JPH10200050A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/085Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only
    • H01L27/088Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only the components being field-effect transistors with insulated gate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路ブロック5の未使用時でも、デバイス電
源2から回路ブロック5に電源が供給されているため、
回路ブロック5にはスタンバイ電流が流れ、無駄な電力
を消費してしまう課題があった。 【解決手段】 回路ブロック4から遮断指令が出力され
るとスイッチ14を開路して、電源幹線11と電源幹線
12の接続部分を遮断するとともに、スイッチ14の回
路構成を、複数のスイッチング素子を並列配置したもの
と等価構成としたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、互いに独立して
動作する複数の回路ブロックから構成された半導体集積
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図11は従来の半導体集積装置を示す回
路図であり、図において、1は半導体集積装置、2はデ
バイス電源、3はグランド、4,5は互いに独立して動
作する回路ブロック、6は回路ブロック4,5にそれぞ
れ電源を供給する電源幹線である。
【0003】次に動作について説明する。まず、デバイ
ス電源2が単一の半導体集積装置1では、図11に示す
ように、一般的には、電源幹線6が共通化されている。
従って、半導体集積装置1の使用方法によって回路ブロ
ック4,5の何れか一方を使用しない場合があるが、使
用しない回路ブロックにも電源が供給され、消費電力が
大きくなる不具合があった。
【0004】そこで、従来の半導体集積装置1は、例え
ば、回路ブロック5が回路ブロック4から供給されるク
ロックにしたがって動作するものであって、回路ブロッ
ク5を使用しない場合があるときは、回路ブロック4か
ら回路ブロック5に供給するクロックの停止またはクロ
ックの周波数を低くすることにより、回路ブロック5の
消費電力を低減する。なお、本願発明のその他の先行技
術を示すものとして特開昭61−190958号公報が
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体集積装置
は以上のように構成されているので、使用しない回路ブ
ロック5の消費電力を低減することができるが、依然と
してデバイス電源2から回路ブロック5に電源が供給さ
れているため、回路ブロック5にはスタンバイ電流が流
れ、無駄な電力を消費してしまう課題があった。
【0006】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、使用しない回路ブロックに流れる
スタンバイ電流を遮断し、消費電力の低減化を図ること
ができる半導体集積装置を得ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る半導体集積装置は、遮断指令が出力されると第1の電
源幹線と第2の電源幹線との接続部分を遮断する電源遮
断手段を設けるとともに、その電源遮断手段の回路構成
を複数のスイッチング素子を並列配置したものと等価構
成にしたものである。
【0008】請求項2記載の発明に係る半導体集積装置
は、制御手段から遮断指令が出力されると電源幹線を遮
断する電源遮断手段を設けるとともに、その電源遮断手
段の回路構成を複数のスイッチング素子を並列配置した
ものと等価構成にしたものである。
【0009】請求項3記載の発明に係る半導体集積装置
は、一次側の電源幹線の端部と二次側の電源幹線の端部
をドープされた基板上に配置するとともに、双方の端部
を互いに電気的に非接続の状態で歯合させ、各端部の上
部に遮断指令を入力する電極を配置したものである。
【0010】請求項4記載の発明に係る半導体集積装置
は、電源遮断に係る回路ブロックと並列に抵抗及びコン
デンサを設けたものである。
【0011】請求項5記載の発明に係る半導体集積装置
は、電源遮断に係る回路ブロックと接続された電源幹線
にパッドを設けたものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による半
導体集積装置を示す回路図であり、図において、1は半
導体集積装置、2はデバイス電源、3はグランド、4,
5は互いに独立して動作する回路ブロック、11はデバ
イス電源2に接続され、回路ブロック4に電源を供給す
る電源幹線(第1の電源幹線)、12は電源幹線11に
接続され、回路ブロック5に電源を供給する電源幹線
(第2の電源幹線)、13は遮断指令を入力する外部入
力端子、14は外部入力端子13に遮断指令が入力さ
れ、回路ブロック4から遮断指令が出力されると、電源
幹線11と電源幹線12の接続部分を遮断するスイッチ
(電源遮断手段)である。
【0013】次に動作について説明する。まず、回路ブ
ロック4,5の双方を使用する場合には、スイッチ14
は閉路され、デバイス電源2から回路ブロック4,5の
双方に電源が供給される。一方、回路ブロック5を使用
しない場合には、外部入力端子13から遮断指令を入力
し、回路ブロック4から遮断指令を出力させる。そし
て、スイッチ14は、回路ブロック4から遮断指令が出
力されると開路し、電源幹線11と電源幹線12の接続
部分を遮断する。
【0014】これにより、回路ブロック5はデバイス電
源2からの電源供給が遮断され、動作を停止する。ま
た、この場合、電源供給が遮断されているので、回路ブ
ロック5にスタンバイ電流が流れることはない。
【0015】ここで、図2はスイッチ14の構造を説明
する平面図であり、図において、11aはスイッチ14
に対して一次側の電源幹線である電源幹線11の端部、
12aはスイッチ14に対して二次側の電源幹線である
電源幹線12の端部、A1〜A4は端部12aの歯合部
B1〜B4と互いに電気的に非接続の状態で歯合された
端部11aの歯合部、15は端部11a,12aの上部
に設けられた電極である。また、図3はスイッチ14の
構造を説明する図2のA−A断面図であり、図におい
て、16は半導体集積装置のシリコン基板、16aはイ
オン等が注入されてドーピングされたシリコン基板のド
ーピング部である。
【0016】このように、スイッチ14の構造は図2及
び図3に示す通りであるが、スイッチ14の構造を図2
及び図3のように構成した場合には、スイッチ14の回
路構成は、複数のゲート(スイッチング素子)を並列配
置したものと等価構成となる(図4参照)。従って、ス
イッチ14の閉路時の抵抗分を低減できるので、電源幹
線11と電源幹線12の接続部分にスイッチ14を挿入
しても、回路ブロック5の使用時において、スイッチ1
4で消費される無駄な電力を無視できる程度にまで低減
できる効果を奏する。因みに、スイッチ14として通常
のトランジスタ等を用いた場合、閉路時の抵抗分が大き
いので、回路ブロック5の使用時には、スイッチ14で
無駄な電力を消費することになる。
【0017】なお、スイッチ14を閉路する場合には、
外部入力端子13に遮断指令を入力せずに、電極15に
正の電位(3〜5Vの電位)を与えると閉路し、デバイ
ス電源2から電源幹線11及びドーピング部16aを通
じて電源幹線12に電源が供給される。一方、スイッチ
14を開路する場合には、外部入力端子13に遮断指令
を入力し、電極15にグランド電位を与えると開路し、
電源幹線11と電源幹線12は遮断される。
【0018】以上で明らかなように、この実施の形態1
によれば、回路ブロック4から遮断指令が出力されると
スイッチ14を開路して、電源幹線11と電源幹線12
の接続部分を遮断するようにしたので、回路ブロック5
を使用しない場合には、デバイス電源2から供給される
回路ブロック5の電源が遮断されるようになり、その結
果、回路ブロック5の未使用時にスタンバイ電流が流れ
るのを遮断でき、消費電力の低減化を図ることができる
効果を奏する。また、スイッチ14の回路構成が、ゲー
トを複数個並列配置したものと等価となるようにしたの
で、スイッチ14の閉路時の抵抗分を低減でき、そのた
め、電源幹線11と電源幹線12の接続部分にスイッチ
14を挿入しても、回路ブロック5の使用時において、
スイッチ14で消費される無駄な電力を無視できる程度
にまで低減できる効果を奏する。
【0019】なお、上記実施の形態1では、外部入力端
子13を1つ設けたものについて示したが、外部入力端
子13を複数個設け、回路ブロック4が各外部入力端子
13の電位等の組み合わせに基づいて遮断指令を出力す
るようにしてもよい。
【0020】実施の形態2.上記実施の形態1では、遮
断指令を回路ブロック4を介してスイッチ14に出力す
るものについて示したが、図5に示すように、回路ブロ
ック4を介さずに、直接スイッチ14に出力するように
してもよく、上記実施の形態1と同様の効果を奏する。
【0021】実施の形態3.図6はこの発明の実施の形
態3による半導体集積装置を示す回路図であり、図にお
いて、図1のものと同一符号は同一または相当部分を示
すので説明を省略する。21はデバイス電源2と接続さ
れた電源幹線、22は電源幹線21と接続され、回路ブ
ロック4に電源を供給する電源幹線、23は電源幹線2
1と接続され、回路ブロック5に電源を供給する電源幹
線、24は必要に応じてスイッチ25又はスイッチ26
に遮断指令を出力するセレクタ(制御手段)、25はセ
レクタ24から遮断指令が出力されると、電源幹線22
を遮断するスイッチ(電源遮断手段)であり、図1のス
イッチ14と同じ構造のスイッチである。26はセレク
タ24から遮断指令が出力されると、電源幹線23を遮
断するスイッチ(電源遮断手段)であり、図1のスイッ
チ14と同じ構造のスイッチである。
【0022】次に動作について説明する。上記実施の形
態1では、回路ブロック4がスイッチ14に遮断指令を
出力するものについて示したが、この場合には回路ブロ
ック4が動作していることが前提となるので、回路ブロ
ック4を停止して、回路ブロック5のみを使用すること
はできない。
【0023】そこで、この実施の形態3では、電源幹線
22,23のそれぞれにスイッチ25,26を挿入し、
必要に応じてセレクタ24からスイッチ25又はスイッ
チ26に遮断指令を出力するようにしたものである。こ
れにより、半導体集積装置1の使用態様に応じて、適
宜、回路ブロック4又は回路ブロック5を停止すること
ができるようになり、その結果、消費電力の低減化を図
ることができる効果を奏する。なお、上記実施の形態3
では、半導体集積装置1が2つの回路ブロックから構成
されたものについて示したが、3つ以上の回路ブロック
から構成されていてもよく、上記実施の形態3と同様の
効果を奏することができる。
【0024】実施の形態4.図7はこの発明の実施の形
態4による半導体集積装置を示す回路図であり、図にお
いて、図1のものと同一符号は同一または相当部分を示
すので説明を省略する。31は回路ブロック5と並列に
接続された抵抗、32は回路ブロック5と並列に接続さ
れたコンデンサである。
【0025】次に動作について説明する。抵抗31及び
コンデンサ32を設けた点以外は、上記実施の形態1と
同様であるので、主に抵抗31及びコンデンサ32の作
用について説明する。
【0026】スイッチ14を開路するとデバイス電源2
から回路ブロック5に供給される電源が遮断される点
は、上記実施の形態1と同様であるが、図7に示すよう
に、回路ブロック5と並列に抵抗31及びコンデンサ3
2を設けるとともに、抵抗31及びコンデンサ32の組
み合わせによる時定数を適宜調整すれば、スイッチ14
を開路する際に、電源幹線12の電位がグランド電位に
落ちるまでの速度を適宜制御することができる効果を奏
する。
【0027】実施の形態5.上記実施の形態4では、回
路ブロック5と並列に抵抗31及びコンデンサ32を設
けたものについて示したが、回路ブロック4に接続され
た電源幹線22を遮断できる場合には、図8に示すよう
に、回路ブロック5に限らず、回路ブロック4と並列に
抵抗31及びコンデンサ32を設けるようにしてもよ
く、上記実施の形態4と同様の効果を奏することができ
る。
【0028】実施の形態6.図9はこの発明の実施の形
態6による半導体集積装置を示す回路図であり、図にお
いて、図1のものと同一符号は同一または相当部分を示
すので説明を省略する。41は電源幹線12に接続され
たパッド、42は電源幹線11と電源幹線12の接続部
分がスイッチ14により遮断されたとき、回路ブロック
5の電源電流を測定するLSIテスタである。
【0029】次に動作について説明する。図9に示すよ
うに、LSIテスタ42を接続できるパッド41を電源
幹線12に設けた場合、回路ブロック5の動作試験をす
る際、スイッチ14により回路ブロック5の電源供給が
遮断されている状態にあれば、直ちにLSIテスタ42
を用いて回路ブロック5の電源電流を測定することがで
きる効果を奏する。
【0030】実施の形態7.上記実施の形態6では、電
源幹線12にパッド41を設けたものについて示した
が、回路ブロック4に接続された電源幹線22を遮断で
きる場合には、図10に示すように、電源幹線22及び
電源幹線23の双方にパッド41を設けるようにしても
よく、上記実施の形態6と同様の効果を奏することがで
きる。
【0031】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、遮断指令が出力されると第1の電源幹線と第2の
電源幹線との接続部分を遮断するように構成したので、
第2の電源幹線に接続された回路ブロックを使用しない
場合には、デバイス電源から供給される当該回路ブロッ
クの電源が遮断されるようになり、その結果、当該回路
ブロックの未使用時にスタンバイ電流が流れるのを遮断
でき、消費電力の低減化を図ることができる効果があ
る。また、電源遮断手段の回路構成が、複数のスイッチ
ング素子を並列配置したものと等価となるように構成し
たので、電源遮断手段の閉路時の抵抗分を低減でき、そ
のため、第1の電源幹線と第2の電源幹線の接続部分に
電源遮断手段を挿入しても、第2の電源幹線に接続され
た回路ブロックの使用時において、電源遮断手段で消費
される無駄な電力を無視できる程度にまで低減できる効
果がある。
【0032】請求項2記載の発明によれば、制御手段か
ら遮断指令が出力されると電源幹線を遮断するように構
成したので、当該電源幹線に接続された回路ブロックを
使用しない場合には、デバイス電源から供給される当該
回路ブロックの電源が遮断されるようになり、その結
果、当該回路ブロックの未使用時にスタンバイ電流が流
れるのを遮断でき、消費電力の低減化を図ることができ
る効果がある。また、電源遮断手段の回路構成が、複数
のスイッチング素子を並列配置したものと等価となるよ
うに構成したので、電源遮断手段の閉路時の抵抗分を低
減でき、そのため、電源幹線に電源遮断手段を挿入して
も、その電源幹線に接続された回路ブロックの使用時に
おいて、電源遮断手段で消費される無駄な電力を無視で
きる程度にまで低減できる効果がある。
【0033】請求項3記載の発明によれば、一次側の電
源幹線の端部と二次側の電源幹線の端部をドープされた
基板上に配置するとともに、双方の端部を互いに電気的
に非接続の状態で歯合させ、各端部の上部に遮断指令を
入力する電極を配置するように構成したので、電源遮断
手段の回路構成が、複数のスイッチング素子を並列配置
したものと等価となり、その結果、電源遮断手段の閉路
時の抵抗分を低減できる効果がある。
【0034】請求項4記載の発明によれば、電源遮断に
係る回路ブロックと並列に抵抗及びコンデンサを設ける
ように構成したので、電源遮断手段を開路する際に、電
源幹線の電位がグランド電位に落ちるまでの速度を適宜
制御することができる効果がある。
【0035】請求項5記載の発明によれば、電源遮断に
係る回路ブロックと接続された電源幹線にパッドを設け
るように構成したので、電源遮断手段により回路ブロッ
クの電源供給が遮断されている状態にあれば、直ちにL
SIテスタを用いて当該回路ブロックの電源電流を測定
することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図2】 スイッチの構造を説明する平面図である。
【図3】 スイッチの構造を説明する図2のA−A断面
図である。
【図4】 スイッチの回路構成を示す回路図である。
【図5】 この発明の実施の形態2による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図6】 この発明の実施の形態3による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図7】 この発明の実施の形態4による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図8】 この発明の実施の形態5による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図9】 この発明の実施の形態6による半導体集積装
置を示す回路図である。
【図10】 この発明の実施の形態7による半導体集積
装置を示す回路図である。
【図11】 従来の半導体集積装置を示す回路図であ
る。
【符号の説明】
2 デバイス電源、4,5 回路ブロック、11 電源
幹線(第1の電源幹線)、11a,12a 端部、12
電源幹線(第2の電源幹線)、14,25,26 ス
イッチ(電源遮断手段)、15 電極、21,22,2
3 電源幹線、24 セレクタ(制御手段)、31 抵
抗、32 コンデンサ、41 パッド。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに独立して動作する2つの回路ブロ
    ックと、デバイス電源と接続され、一方の回路ブロック
    に電源を供給する第1の電源幹線と、上記第1の電源幹
    線と接続され、他方の回路ブロックに電源を供給する第
    2の電源幹線とを備えた半導体集積装置において、上記
    第1の電源幹線と第2の電源幹線との接続部分に挿入さ
    れ、遮断指令が出力されると当該接続部分を遮断する電
    源遮断手段を設けるとともに、上記電源遮断手段の回路
    構成を複数のスイッチング素子を並列配置したものと等
    価構成にしたことを特徴とする半導体集積装置。
  2. 【請求項2】 互いに独立して動作する複数の回路ブロ
    ックと、デバイス電源と接続され、上記複数の回路ブロ
    ックにそれぞれ電源を供給する複数の電源幹線とを備え
    た半導体集積装置において、遮断指令を出力する制御手
    段と、上記複数の電源幹線にそれぞれ挿入され、上記制
    御手段から遮断指令が出力されると当該電源幹線を遮断
    する電源遮断手段とを設けるとともに、上記電源遮断手
    段の回路構成を複数のスイッチング素子を並列配置した
    ものと等価構成にしたことを特徴とする半導体集積装
    置。
  3. 【請求項3】 電源遮断手段は、一次側の電源幹線の端
    部と二次側の電源幹線の端部をドープされた基板上に配
    置するとともに、双方の端部を互いに電気的に非接続の
    状態で歯合させ、各端部の上部に遮断指令を入力する電
    極を配置したことを特徴とする請求項1または請求項2
    記載の半導体集積装置。
  4. 【請求項4】 電源遮断に係る回路ブロックと並列に抵
    抗及びコンデンサを設けたことを特徴とする請求項1か
    ら請求項3のうちのいずれか1項記載の半導体集積装
    置。
  5. 【請求項5】 電源遮断に係る回路ブロックと接続され
    た電源幹線にパッドを設けたことを特徴とする請求項1
    から請求項4のうちのいずれか1項記載の半導体集積装
    置。
JP9000321A 1997-01-06 1997-01-06 半導体集積装置 Pending JPH10200050A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9000321A JPH10200050A (ja) 1997-01-06 1997-01-06 半導体集積装置
US08/837,940 US5844263A (en) 1997-01-06 1997-04-28 Semiconductor integrated device having independent circuit blocks and a power breaking means for selectively supplying power to the circuit blocks

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9000321A JPH10200050A (ja) 1997-01-06 1997-01-06 半導体集積装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10200050A true JPH10200050A (ja) 1998-07-31

Family

ID=11470654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9000321A Pending JPH10200050A (ja) 1997-01-06 1997-01-06 半導体集積装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5844263A (ja)
JP (1) JPH10200050A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007138711A1 (ja) * 2006-06-01 2007-12-06 Fujitsu Limited 多電源集積回路を有する電子機器システム
US7652333B2 (en) 2005-12-27 2010-01-26 Renesas Technology Corp. Semiconductor integrated circuit

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4420156B2 (ja) * 2000-06-14 2010-02-24 日本電気株式会社 半導体装置
JP4606567B2 (ja) * 2000-11-02 2011-01-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積装置
JP2004282876A (ja) * 2003-03-14 2004-10-07 Orion Denki Kk 複合電子機器の電源制御装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61190958A (ja) * 1985-02-20 1986-08-25 Toshiba Corp 半導体集積回路
DE69133311T2 (de) * 1990-10-15 2004-06-24 Aptix Corp., San Jose Verbindungssubstrat mit integrierter Schaltung zur programmierbaren Verbindung und Probenuntersuchung
JPH04162659A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Nec Corp 半導体装置
JPH04330716A (ja) * 1991-05-02 1992-11-18 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JP2681427B2 (ja) * 1992-01-06 1997-11-26 三菱電機株式会社 半導体装置
JP3052519B2 (ja) * 1992-01-14 2000-06-12 日本電気株式会社 集積回路の電源配線設計方法
JP2822781B2 (ja) * 1992-06-11 1998-11-11 三菱電機株式会社 マスタスライス方式半導体集積回路装置
US5648661A (en) * 1992-07-02 1997-07-15 Lsi Logic Corporation Integrated circuit wafer comprising unsingulated dies, and decoder arrangement for individually testing the dies
JPH08125124A (ja) * 1994-10-28 1996-05-17 Fujitsu Ltd 半導体集積回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7652333B2 (en) 2005-12-27 2010-01-26 Renesas Technology Corp. Semiconductor integrated circuit
WO2007138711A1 (ja) * 2006-06-01 2007-12-06 Fujitsu Limited 多電源集積回路を有する電子機器システム
US7696815B2 (en) 2006-06-01 2010-04-13 Fujitsu Limited Electronic device having multi-power source integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US5844263A (en) 1998-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6181108B1 (en) Overcharge/overdischarge detecting circuit having current detecting means with latch function and chargeable electric power source apparatus
US6577153B2 (en) Semiconductor integrated circuit
WO1996012347A3 (en) A protected switch
KR100483264B1 (ko) 리얼 타임 클록의 저누설 배터리 동작용 cmos 회로
JPH10200050A (ja) 半導体集積装置
EP0685847B1 (en) Low dissipation initialization circuit, particularly for memory registers
JP3827457B2 (ja) 供給電圧切換え回路
US7495269B2 (en) Semiconductor device and electronic apparatus using the same
JPH04165930A (ja) 電源系統切替方式
CN215870794U (zh) 供电控制电路及电子设备
JP3170583B2 (ja) 半導体集積回路試験方法及び装置
CN117792013A (zh) 零待机电路和驱动芯片
JP2646954B2 (ja) 発振回路
KR100280463B1 (ko) 이피롬의 전압제어 선택회로
JPH11134992A (ja) リレー切り換え回路
JP2602349B2 (ja) 半導体集積回路
JPH03183159A (ja) 半導体集積回路装置
JP2005142205A (ja) 半導体装置
JP2000312437A (ja) 電源装置
KR20020064579A (ko) 멀티플 파워 시스템의 전력 소모 방지 장치
JPH0334222A (ja) 電源スイッチ装置
JPH0677798A (ja) 遅延型半導体リレー
JPH10136565A (ja) 半導体装置
JPS6042929A (ja) 3相ソリツドステ−トリレ−
JPS6342483A (ja) 半導体装置のテスト回路