JPH10177011A - 渦流探傷装置 - Google Patents

渦流探傷装置

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JPH10177011A
JPH10177011A JP8336068A JP33606896A JPH10177011A JP H10177011 A JPH10177011 A JP H10177011A JP 8336068 A JP8336068 A JP 8336068A JP 33606896 A JP33606896 A JP 33606896A JP H10177011 A JPH10177011 A JP H10177011A
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signal
inspected
processing unit
eddy current
intensity
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JP8336068A
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English (en)
Inventor
Atsushi Miyauchi
淳 宮内
Shinji Koiso
信二 小磯
Kotaro Nagahara
孝太郎 永原
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Mitsubishi Shindoh Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Shindoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 SN比を向上することにより検出感度を向上
しつつ、誤動作を低減できる渦流探傷装置を提供する。 【解決手段】 電縫管Pを連続的に走行させるアンコイ
ラ1,整列巻き装置24と、走行する電縫管Pの近傍に
配置された第1番〜第3番探傷部34A,34B,34
Cと、これらが具備するコイル36A,36Bのインダ
クタンス変化に対応した強度の出力信号をそれぞれ発す
る第1番〜第3番ブリッジ回路38A,38B,38C
と、これらからの出力信号を積算する積算処理部と、こ
の積算処理部の積算信号を、電縫管Pの欠陥に対応する
ピークの強度が1以上の数値、かつバックグラウンドの
信号強度が1未満の数値となるように規格化する規格化
処理部と、規格化された信号強度を1より大きなべき数
でべき乗するべき乗処理部とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属管、金属条
材、金属線等の欠陥を検出するための渦流探傷装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、金属管を電縫管方式により製造
する場合などには、金属管の長手方向に延びる溶接部に
欠陥が発生していないかを検査するために、製造ライン
に沿って渦流探傷装置を設けることが一般に行われてい
る。
【0003】この種の渦流探傷装置は、被検査体として
の電縫管の走行路に配置された1以上のコイルを有し、
このコイルに高周波電流を供給しつつ、コイルのインダ
クタンス変化を検出することにより、被検出体の欠陥を
検出するものであり、通常は一対のコイルでブリッジ回
路を構成することにより、検出感度を高める構成が採ら
れている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の渦流探
傷装置では、検出感度を上げるとノイズも同様に増大し
てしまうことが避けられない。そのため、内面に溝が形
成されている電縫管などのように、何らかの凹凸構造を
有する金属管の検査を行う場合は、凹凸構造に起因する
ノイズを欠陥検出信号と区別しがたく、誤動作を生じる
ことが多いという問題を有していた。同様の問題は、金
属管に限らず、板条材や線材にもいえることである。
【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、SN比を向上することにより検出感度を向上しつ
つ、誤動作を低減できる渦流探傷装置を提供することを
課題としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係る第1の渦流探傷装置は、被検査体を連
続的に走行させる被検査体駆動機構と、走行する前記被
検査体の近傍に配置され前記被検査体によりインダクタ
ンスが変化するコイルと、このコイルのインダクタンス
変化量に対応する強度の出力信号を発する信号検出部
と、この信号検出部の出力信号を、前記被検査体の欠陥
に対応するピークの信号強度が1以上の数値、かつバッ
クグラウンドの信号強度が1未満の数値となるように規
格化する規格化処理部と、規格化された信号強度を1よ
り大きなべき数でべき乗するべき乗処理部とを具備する
ことを特徴としている。
【0007】また、本発明に係る第2の渦流探傷装置
は、被検査体を連続的に走行させる被検査体駆動機構
と、走行する前記被検査体の近傍にそれぞれ配置され前
記被検査体によりインダクタンスが変化する第1番〜第
N番コイルと、これら第1番〜第N番コイルのそれぞれ
のインダクタンス変化に対応した強度の出力信号をそれ
ぞれ発する第1番〜第N番信号検出部と、これら第1番
〜第N番信号検出部からの被検査体の同一箇所に対する
出力信号を積算する積算処理部と、この積算処理部の積
算信号を、前記被検査体の傷部に対応するピークの信号
強度が1以上の数値、かつバックグラウンドの信号強度
が1未満の数値となるように規格化する規格化処理部
と、規格化された信号強度を1より大きなべき数でべき
乗するべき乗処理部とを具備することを特徴としてい
る。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る渦流探傷装
置の一実施形態を示している。この実施形態に係る渦流
探傷装置は、電縫加工装置により製造された電縫管(被
検査体)Pの溶接部の欠陥を検出し、その欠陥を含む箇
所にインクでマーキングを施して、後工程で不良個所を
除去できるようにするための装置である。ただし、本発
明に係る渦流探傷装置はこの実施形態に限定されるもの
ではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で構成を変更
してよいことは勿論である。また、本発明の検査対象は
電縫管に限定されず、板条材、線材など長尺の金属材料
であればいずれも適用可能である。
【0009】始めに装置の概要を述べると、図中符号1
はアンコイラ(被検査体駆動機構の一部)であり、この
アンコイラ1内には、前工程の電縫加工装置で製造され
た長尺の電縫管Pが円環状に粗く巻かれたコイルCとし
て水平に収納されている。アンコイラ1はコイルCを垂
直軸を中心として回転させ、略一定の速度で電縫管Pを
直線状に繰り出すものである。
【0010】繰り出された電縫管Pは、ガイドロール2
で案内され、複数直列に配置されたストレートナー4を
通されて曲がりが矯正されたうえ、本発明の特徴点であ
る渦流探傷機構6を通されて渦流探傷が行われる。渦流
探傷機構6を通過した電縫管Pは、複数の支持ロール8
により案内されてインク吹き付け機構18と対向する位
置を通り、ガイドロール22を経て整列巻き装置(被検
査体駆動機構の一部)24により密に巻き取られて製品
コイルとされる。
【0011】渦流探傷機構6からの信号はコンピュータ
10に伝達され、このコンピュータ10で後述する信号
処理が行われて、その判断結果に応じてインク吹き付け
機構18が作動される。なお、この実施形態では、コン
ピュータ10の内部に、図3のフローチャートに示す動
作を行うための規格化処理部、べき乗処理部、積算処理
部、判断処理部、および時間差計算部がそれぞれ構成さ
れている。また、コンピュータ10には、作業員がコン
ピュータ10を手動操作するためのキーボード12と、
処理結果等を表示するためのディスプレイ14と、処理
結果を適宜印刷するためのプリンタ16等とがそれぞれ
接続されている。
【0012】インク吹き付け機構18は、コンピュータ
10からの作動信号を受けると、その作動信号の継続
中、速乾性のインクを電縫管Pの外周面に連続的に吹き
付けるもので、これにより電縫管Pの欠陥部分を含む一
定長の部分がマーキングされる。インク吹き付け機構1
8の周囲には、インクが周囲に飛び散ることを防ぐため
にカバー20が設けられている。
【0013】次に、図2を用いて、本発明の主特徴であ
る渦流探傷機構6を説明する。電縫管Pのラインに設け
られたいずれかのロール(図ではストレートナー4の一
つ)には、電縫管Pの走行速度を測定するためのエンコ
ーダ(速度検出部)30が連結され、エンコーダ30の
出力信号は、コンピュータ10に設けられたインターフ
ェース32に伝達されるようになっている。なお、エン
コーダ30が取り付けられるロールはストレートナー4
に限らず、電縫管Pの走行に同期するものであればいず
れでもよい。
【0014】渦流探傷機構6は、電縫管Pの走行方向上
流側から下流側に向けて順に、相互に間隔をあけて配置
された第1番〜第3番探傷部34A,34B,34Cを
具備している。この実施形態の探傷部34A,34B,
34Cはそれぞれ、一対のコイル36A,36Bを有
し、これらコイル36A,36Bは互いに隣接して、電
縫管Pを同軸に包囲するように配置されている。なお、
コイル36A,36Bの配置は電縫管Pと同軸でなくて
もよく、欠陥の存在によりインダクタンスが変化するよ
うな配置でありさえすればよい。各探傷部34A,34
B,34Cのコイル36A,36Bは、ブリッジ回路
(信号検出部)38A,38B,38Cにそれぞれ接続
されており、各ブリッジ回路38A,38B,38Cに
より、コイル36A,36Bのインダクタンス変化が電
気信号として取り出される。ただし、この種のブリッジ
回路を用いない構成も実施可能である。
【0015】ブリッジ回路38A,38B,38Cは、
図示しない高周波電源に接続されており、この高周波電
源からの高周波電流をコイル36A,36Bに供給する
ことにより、電縫管Pの内部に渦電流を発生させる。こ
の状態で、欠陥のない電縫管Pがコイル36A,36B
内を通過している場合には、コイル36A,36Bに発
生する電圧が平衡してブリッジ回路38A,38B,3
8Cの出力電圧がほぼ0になる一方、電縫管Pの欠陥部
分が通過する時には、コイル36A,36Bのインダク
タンスに差が生じ、ブリッジ回路38A,38B,38
Cの平衡が破れて正または負の出力電圧が発生するよう
に構成されている。
【0016】すなわち、ブリッジ回路38A,38B,
38Cの出力信号は、電縫管Pに欠陥がない場合には理
論的に0、通過する欠陥が顕著であればあるほど、電圧
の絶対値が大きくなる。ただし、現実には電縫管Pの物
性が均一でない等のばらつきにより、図4に示すように
複雑なバックグラウンドノイズが発生する。このような
ノイズは、特に、電縫管Pの内面または外面にフィン、
溝、ディンプルなどの凹凸構造が形成されていると、こ
のような凹凸構造もノイズの原因となるからいっそう顕
著になる。
【0017】ブリッジ回路38A,38B,38Cの出
力信号は、A/D変換器等を含むインターフェース32
を介してコンピュータ10のCPU40に伝達される。
CPU40は図3に示すフローチャートの処理を一定の
クロック間隔ごとに繰り返すように構成されている。す
なわち、渦流探傷機構6が始動されると、まずCPU4
0は、エンコーダ30の信号をインターフェース32を
通じて取り込み、電縫管Pの走行速度を計算する。さら
に、CPU40は記憶装置42に予め記憶しているブリ
ッジ回路38A,38B,38C相互間の距離を前記走
行速度で除して、電縫管Pの一部が探傷部34Aを通過
してから探傷部34Bを通過するまでの時間t1、およ
び探傷部34Aを通過してから探傷部34Cを通過する
までの時間t2を算出する。このように逐次、電縫管P
の走行速度を測定するのは、ライン速度変化に対応する
ためであるが、電縫管Pの走行速度が一定であれば、速
度の値を固定してもよい。
【0018】次にCPU40は、インターフェース32
を介してブリッジ回路38A,38B,38Cからの信
号をクロック間隔ごとに読み込み、記憶装置42内に一
時的に記憶したうえ、信号の積算を行う。すなわち、図
4に示すように、時間tにおけるブリッジ回路38A,
38B,38Cからの信号をS1(t),S2(t),S3
(t) とした場合、先の遅延時間t1、t2を用いると、
S1(t),S2(t+t1),S3(t+t2)は電縫管Pの同一箇
所についての信号であるから、これらを合計して積算信
号S(t)とし、この積算信号S(t)を記憶装置42でクロ
ック間隔ごとに順次記憶する。S(t)=S1(t)+S2(t
+t1)+S3(t+t2)
【0019】次に、CPU40により規格化信号:{|
S(t)|−C}/B を計算して規格化処理を行う。この
規格化処理は、積算信号S(t) の絶対値を、電縫管Pの
欠陥を検出したピークの強度が1以上、かつバックグラ
ウンドとなるピークの強度が1未満の数値となるように
規格化するための処理であり、C,Bは正の定数であ
る。これら定数C,Bは、実際に予備測定を行って決定
されるべきであり、Cは通常のバックグラウンドの最大
ピーク強度程度の大きさに設定され、定数BはCの値に
応じて、{|S(t)|−C}/B>1を満たすように適
宜決定される。
【0020】次に、CPU40により、規格化信号の数
値をべき数Pでべき乗処理し、べき乗処理した信号Aを
得る。すなわち、Aは次式で表される。 A(t)=[{|S(t)|−C}/B]P べき数Pは1より大きい数値であればよく、本発明では
限定されないが、通常は2とすれば十分である。平方の
計算は簡単であるから高速に行えるし、数値が極端に大
きくならず取り扱いやすいためである。
【0021】こうしてべき乗処理された信号Aを予め設
定されている基準値Dと比較し、A>Dの関係を満たし
た場合には、渦流探傷機構6の位置からインク吹き付け
機構18の位置まで電縫管Pが移動する時間を計算した
うえ、電縫管Pの欠陥部分を含む前後一定長の部分にイ
ンクを吹き付けるように、CPU40がインク吹き付け
機構18を作動させ、再び図3のフローチャートの処理
を最初から繰り返す。一方、Aが基準値Dよりも小さけ
れば、インク吹き付け機構18を作動させることなく、
再びフローチャートの最初から処理を繰り返す。
【0022】ディスプレイ14は、コンピュータ10の
処理結果に応じて、その時点の信号波形、欠陥の有無、
電縫管Pの走行距離、走行速度などを表示する。また、
プリンタ16は、記録紙に電縫管Pの始端からの現在位
置の距離と信号波形などをグラフとして印刷する。
【0023】上記構成からなる渦流探傷装置によれば、
ブリッジ回路38A,38B,38Cから得た信号S
(t) を、電縫管Pの欠陥を検出したピークの強度が1以
上、かつバックグラウンドノイズに対応した信号強度が
1未満の数値となるように規格化したうえで、べき乗処
理して、欠陥に対応するピークとノイズに対応したピー
クの差を拡大して欠陥有無の判断を行うので、SN比を
高めて検出感度を向上しつつ誤動作を低減することが可
能である。
【0024】また、3つの探傷部34A,34B,34
Cからの信号を、それらの位置に応じた時間差を考慮し
て積算しているので、同じ波形として発生する欠陥対応
ピークの強度が高められる一方、バックグラウンドノイ
ズは相互に山谷がずれた状態で重なるため弱まる。した
がって、この点からもSN比を高めて検出感度を向上し
つつ誤動作を低減することが可能である。
【0025】さらに、この実施形態の装置では、規格化
に際して、{|S(t)|−C}/Bのように信号強度か
ら一定値Cを引くことにより、信号の足切りを行ってい
るので、この点からもSN比を高めて検出感度を向上し
つつ誤動作を低減することが可能である。
【0026】なお、本発明に係る渦流探傷装置は、上述
した実施形態に限定されるものではなく、必要に応じて
適宜構成を変更してよいことは勿論である。例えば、上
記実施形態では、渦流探傷機構6の探傷部が3基であっ
たが、1基、2基、または4基以上であってもよい。た
だし、1基の場合には、積算処理部が不必要になる。
【0027】また、先の実施形態で使用していたインク
吹き付け機構18の代わりに、電縫管Pの外周面の一部
を変形させる形式のマーク機構を使用してもよい。具体
的には、例えば、コンピュータ10からの作動信号を受
けると内蔵したアクチュエータにより電縫管Pに向けて
ローラを突き出し、電縫管Pの外周面の一部を凹ませる
機構が採用できる。このようなマーク機構を使用すれ
ば、インクのように摩擦で落ちるおそれや他を汚すおそ
れが無いという利点を有する。さらに、本発明の渦流探
傷装置は、被検査体の欠陥部にマーキングする以外の用
途に使用することも勿論可能である。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る渦流
探傷装置によれば、被検査体の欠陥に対応するピークの
信号強度が1以上の数値、かつバックグラウンドの信号
強度が1未満の数値となるように規格化したうえで、そ
の値をべき乗処理することにより、欠陥に対応するピー
クとノイズに対応したピークの差を拡大して欠陥有無の
判断を行うので、SN比を高めて検出感度を向上しつつ
誤動作を低減することが可能である。
【0029】また、第1番〜第N番コイルと、これら第
1番〜第N番コイルのそれぞれのインダクタンス変化に
対応した強度の出力信号をそれぞれ発する第1番〜第N
番信号検出部と、これら第1番〜第N番信号検出部から
の被検査体の同一箇所に対する出力信号を積算する積算
処理部とを設けた場合には、同じ波形として発生する欠
陥対応ピークの強度を高めることができる一方、バック
グラウンドノイズは相互に山谷がずれた状態で重ねて弱
めることができる。したがって、この点からもSN比を
高めて検出感度を向上しつつ誤動作を低減することが可
能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る渦流探傷装置の一実施形態を示
す側面図である。
【図2】 同装置の渦流探傷機構を示すブロック図であ
る。
【図3】 同渦流探傷機構の動作を示すフローチャート
である。
【図4】 同渦流探傷機構の原理を説明するためのグラ
フである。
【符号の説明】
1 アンコイラ P 電縫管 6 渦流探傷機構 10 コンピュータ(規格化処理部、べき乗処理部、積
算処理部、判断処理部および時間差計算部) 18 インク吹き付け機構 24 整列巻き装置 30 エンコーダ 32 インターフェース 34A,34B,34C 探傷部 36A,36B コイル 38A,38B,38C ブリッジ回路 40 CPU S1(t),S2(t),S3(t) 時間tにおける第1番〜
第3番探傷部の信号 S(t) 時間tにおける積算処理した信号

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査体を連続的に走行させる被検査体
    駆動機構と、走行する前記被検査体の近傍に配置され前
    記被検査体によりインダクタンスが変化するコイルと、
    このコイルのインダクタンス変化量に対応する強度の出
    力信号を発する信号検出部と、この信号検出部の出力信
    号を、前記被検査体の欠陥に対応するピークの信号強度
    が1以上の数値、かつバックグラウンドの信号強度が1
    未満の数値となるように規格化する規格化処理部と、規
    格化された信号強度を1より大きなべき数でべき乗する
    べき乗処理部とを具備することを特徴とする渦流探傷装
    置。
  2. 【請求項2】 前記べき乗処理部の出力信号の強度を基
    準値と比較し、前記基準値よりも大であったら欠陥が存
    在すると判断する判断処理部をさらに具備することを特
    徴とする請求項1記載の渦流探傷装置。
  3. 【請求項3】 前記規格化処理部は、前記信号検出部の
    前記出力信号から一定値を差し引き、さらに一定の係数
    を乗することにより、前記被検査体の傷部に対応するピ
    ークの信号強度が1以上の数値、かつバックグラウンド
    の信号強度が1未満の数値となるように規格化すること
    を特徴とする請求項1または2記載の渦流探傷装置。
  4. 【請求項4】 被検査体を連続的に走行させる被検査体
    駆動機構と、走行する前記被検査体の近傍にそれぞれ配
    置され前記被検査体によりインダクタンスが変化する第
    1番〜第N番コイルと、これら第1番〜第N番コイルの
    それぞれのインダクタンス変化に対応した強度の出力信
    号をそれぞれ発する第1番〜第N番信号検出部と、これ
    ら第1番〜第N番信号検出部からの被検査体の同一箇所
    に対する出力信号を積算する積算処理部と、この積算処
    理部の積算信号を、前記被検査体の傷部に対応するピー
    クの信号強度が1以上の数値、かつバックグラウンドの
    信号強度が1未満の数値となるように規格化する規格化
    処理部と、規格化された信号強度を1より大きなべき数
    でべき乗するべき乗処理部とを具備することを特徴とす
    る渦流探傷装置。
  5. 【請求項5】 前記被検出体の走行速度を検出する速度
    検出部と、検出された被検出体の速度と前記第1番〜第
    N番コイル相互の離間距離とからいずれかのコイルを基
    準とした時間差を計算する時間差計算部とをさらに具備
    し、前記積算処理部は、前記時間差計算部が算出した時
    間差に応じて、第1番〜第N番信号検出部からの前記被
    検査体の同一箇所に対する出力信号を積算することを特
    徴とする請求項4記載の渦流探傷装置。
JP8336068A 1996-12-16 1996-12-16 渦流探傷装置 Pending JPH10177011A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030091133A (ko) * 2002-05-24 2003-12-03 엘지전자 주식회사 자기 비파괴 검사 장치
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