JPH10153404A - 位置検出装置 - Google Patents
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- JPH10153404A JPH10153404A JP8315101A JP31510196A JPH10153404A JP H10153404 A JPH10153404 A JP H10153404A JP 8315101 A JP8315101 A JP 8315101A JP 31510196 A JP31510196 A JP 31510196A JP H10153404 A JPH10153404 A JP H10153404A
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Adjustment Of Camera Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 位置検出誤差を抑制して正確な位置検出をす
る。 【解決手段】 Ｘ軸方向を位置検出方向とした場合、ス
リット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリット１８の長手
方向とが平行状態からずれていた場合、ＬＥＤ１９およ
びスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ１９からの
スリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６の受光面２
０に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検出誤差）が生じ
てしまうが、制御部２２で検出されたＸ軸受光位置に、
Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応した補正値を
加えてＸ軸上の移動位置の検出とするため、位置検出誤
差を抑制して正確な位置検出となる。
る。 【解決手段】 Ｘ軸方向を位置検出方向とした場合、ス
リット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリット１８の長手
方向とが平行状態からずれていた場合、ＬＥＤ１９およ
びスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ１９からの
スリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６の受光面２
０に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検出誤差）が生じ
てしまうが、制御部２２で検出されたＸ軸受光位置に、
Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応した補正値を
加えてＸ軸上の移動位置の検出とするため、位置検出誤
差を抑制して正確な位置検出となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカメラなど
における手ブレなど、比較的低い周波数の振動による影
響を抑制する補正光学機構に補正レンズなどと共に用い
られ、この補正レンズなどの位置を検出する位置検出装
置に関する。
における手ブレなど、比較的低い周波数の振動による影
響を抑制する補正光学機構に補正レンズなどと共に用い
られ、この補正レンズなどの位置を検出する位置検出装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】以下に、この種の位置検出装置について
カメラの場合を例にとって説明する。
カメラの場合を例にとって説明する。
【０００３】カメラの撮影時の手ブレ（カメラぶれ）
を、角加速度、角速度などを検出する振動センサからの
センサ信号により検出し、検出されたブレに応じて補正
レンズを変位させることにより手ブレによる光軸変化を
相殺して補正するカメラが提案されている。このような
カメラにおいて、上記補正を正確に行うためには補正レ
ンズを駆動する際、補正レンズの位置を正確に検出する
必要がある。
を、角加速度、角速度などを検出する振動センサからの
センサ信号により検出し、検出されたブレに応じて補正
レンズを変位させることにより手ブレによる光軸変化を
相殺して補正するカメラが提案されている。このような
カメラにおいて、上記補正を正確に行うためには補正レ
ンズを駆動する際、補正レンズの位置を正確に検出する
必要がある。
【０００４】特開平４−１８５１５号公報には、発光素
子としてのＬＥＤとＰＳＤ（Position Sensitive light
Detector）を移動部と固定部に分けて配置し、ＬＥＤ
から投光される光の重心位置をＰＳＤによって検出する
ことにより移動部の位置を検出する補正光学機構用位置
検出装置が開示されている。
子としてのＬＥＤとＰＳＤ（Position Sensitive light
Detector）を移動部と固定部に分けて配置し、ＬＥＤ
から投光される光の重心位置をＰＳＤによって検出する
ことにより移動部の位置を検出する補正光学機構用位置
検出装置が開示されている。
【０００５】図９ａは従来の補正光学機構部の構成を示
す正面図であり、図９ｂおよび図９ｃは補正位置検出部
における投光部のスリットと受光面との関係を示す図で
あって、ｂはＹ軸とスリットが平行な場合、ｃはＹ軸と
スリットが平行状態からずれた場合を示している。
す正面図であり、図９ｂおよび図９ｃは補正位置検出部
における投光部のスリットと受光面との関係を示す図で
あって、ｂはＹ軸とスリットが平行な場合、ｃはＹ軸と
スリットが平行状態からずれた場合を示している。
【０００６】図９ａにおいて、中央部に補正レンズ群６
１を保持した枠体６２には、Ｘ軸方向の補正位置検出部
６３とＹ軸方向の補正位置検出部６４とが９０度の角度
をもって配設されている。また、この枠体６２は、検出
されたカメラぶれと、この補正位置検出部６３からの検
出情報に基づいて、手ブレによる光軸変化を相殺すべ
く、Ｘ軸方向の補正駆動部（図示せず）でＸ軸方向に駆
動させて撮影光軸を偏心可能に構成されていると共に、
検出されたカメラぶれと、補正位置検出部６４からの検
出情報に基づいて、手ブレによる光軸変化を相殺すべ
く、Ｙ軸方向の補正駆動部６５でＹ軸方向に駆動させて
撮影光軸を偏心可能に構成されている。
１を保持した枠体６２には、Ｘ軸方向の補正位置検出部
６３とＹ軸方向の補正位置検出部６４とが９０度の角度
をもって配設されている。また、この枠体６２は、検出
されたカメラぶれと、この補正位置検出部６３からの検
出情報に基づいて、手ブレによる光軸変化を相殺すべ
く、Ｘ軸方向の補正駆動部（図示せず）でＸ軸方向に駆
動させて撮影光軸を偏心可能に構成されていると共に、
検出されたカメラぶれと、補正位置検出部６４からの検
出情報に基づいて、手ブレによる光軸変化を相殺すべ
く、Ｙ軸方向の補正駆動部６５でＹ軸方向に駆動させて
撮影光軸を偏心可能に構成されている。
【０００７】これらの補正位置検出部６３，６４にはそ
れぞれ、発光素子としてのＬＥＤ６６と受光素子として
のＰＳＤ６７とがスリット６８を介して設けられてお
り、ＬＥＤ６６およびスリット６８よりなる投光部とＰ
ＳＤ６７の受光部とが相対移動自在に構成されており、
Ｘ軸方向およびＹ軸方向の移動位置の検出が可能であ
る。
れぞれ、発光素子としてのＬＥＤ６６と受光素子として
のＰＳＤ６７とがスリット６８を介して設けられてお
り、ＬＥＤ６６およびスリット６８よりなる投光部とＰ
ＳＤ６７の受光部とが相対移動自在に構成されており、
Ｘ軸方向およびＹ軸方向の移動位置の検出が可能であ
る。
【０００８】このようなカメラ縦ブレ（Ｘ軸方向）およ
びカメラ横ブレ（Ｙ軸方向）による補正光学位置検出部
６３，６４からの検出情報に基づいて、撮影光軸を偏心
させる補正駆動部を駆動させて、カメラぶれに起因する
像ブレを抑制して像の安定化を確保している。
びカメラ横ブレ（Ｙ軸方向）による補正光学位置検出部
６３，６４からの検出情報に基づいて、撮影光軸を偏心
させる補正駆動部を駆動させて、カメラぶれに起因する
像ブレを抑制して像の安定化を確保している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成のよう
に、ＬＥＤ６６がＰＳＤ６７の受光面に対して２軸（Ｘ
軸方向とＹ軸方向）の両方向に移動可能な構成になって
いる場合、位置検出方向ではない軸方向（Ｘ軸方向の位
置検出の場合はＹ軸方向、Ｙ軸方向の位置検出の場合は
Ｘ軸方向）の移動成分が、位置検出方向に対して、ＬＥ
Ｄ６６からのスリット６８を介した照射光の、ＰＳＤ６
７の受光面に対する重心にずれを生じさせてしまい、こ
れが位置検出誤差となって正確な位置検出ができないと
いう問題を有していた。
に、ＬＥＤ６６がＰＳＤ６７の受光面に対して２軸（Ｘ
軸方向とＹ軸方向）の両方向に移動可能な構成になって
いる場合、位置検出方向ではない軸方向（Ｘ軸方向の位
置検出の場合はＹ軸方向、Ｙ軸方向の位置検出の場合は
Ｘ軸方向）の移動成分が、位置検出方向に対して、ＬＥ
Ｄ６６からのスリット６８を介した照射光の、ＰＳＤ６
７の受光面に対する重心にずれを生じさせてしまい、こ
れが位置検出誤差となって正確な位置検出ができないと
いう問題を有していた。
【００１０】例えば、検出方向がＸ軸方向で、スリット
６８がＹ軸に対して平行である場合には、図９ｂに示す
ようにＹ軸方向とスリット６７の長手方向とが平行状態
となり、ＬＥＤ６６およびスリット６８がＹ軸方向に移
動したとしても、ＬＥＤ６６からのスリット６８を介し
た照射光の、ＰＳＤ６７の受光面に対するＸ軸方向の重
心ずれは生じない。ところが、２軸（Ｘ軸方向とＹ軸方
向）の両方向に移動可能な構成となっており、さらに交
差があるので、実際には、図９ｃに示すように、Ｙ軸方
向とスリット６８の長手方向とは平行状態からずれて微
量傾くため、ＬＥＤ６６およびスリット６８がＹ軸方向
に移動した場合に、ＬＥＤ６６からのスリット６８を介
した照射光の、ＰＳＤ６７の受光面に対してＸ軸方向の
重心ずれＡを生じさせることになる。これがＸ軸方向の
位置検出誤差となってＸ軸方向の移動位置の検出に含ま
れてしまうことになる。
６８がＹ軸に対して平行である場合には、図９ｂに示す
ようにＹ軸方向とスリット６７の長手方向とが平行状態
となり、ＬＥＤ６６およびスリット６８がＹ軸方向に移
動したとしても、ＬＥＤ６６からのスリット６８を介し
た照射光の、ＰＳＤ６７の受光面に対するＸ軸方向の重
心ずれは生じない。ところが、２軸（Ｘ軸方向とＹ軸方
向）の両方向に移動可能な構成となっており、さらに交
差があるので、実際には、図９ｃに示すように、Ｙ軸方
向とスリット６８の長手方向とは平行状態からずれて微
量傾くため、ＬＥＤ６６およびスリット６８がＹ軸方向
に移動した場合に、ＬＥＤ６６からのスリット６８を介
した照射光の、ＰＳＤ６７の受光面に対してＸ軸方向の
重心ずれＡを生じさせることになる。これがＸ軸方向の
位置検出誤差となってＸ軸方向の移動位置の検出に含ま
れてしまうことになる。
【００１１】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、位置検出誤差を抑制して正確な位置検出をすること
ができる位置検出装置を提供することを目的とする。
で、位置検出誤差を抑制して正確な位置検出をすること
ができる位置検出装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の位置検出装置
は、光を照射する投光部と、この投光部からの照射光を
受光する受光部とが、所定軸方向に相対移動可能に構成
され、受光部での受光位置に応じた出力によりその受光
位置を検知する位置検知部が、少なくとも２軸方向それ
ぞれに対して配設されている位置検出装置において、一
の軸上の受光位置に対する、他の軸上の受光位置に応じ
た位置検出誤差を相殺するように移動位置を検出する制
御部を有することを特徴とするものである。例えば、検
出軸が２軸の場合には、光を照射するＸ軸用投光部から
の照射光をＸ軸用受光部で受光し、Ｘ軸用受光部での受
光位置に応じた出力によりＸ軸受光位置を検知すると共
に、光を照射するＹ軸用投光部からの照射光をＹ軸用受
光部で受光し、Ｙ軸用受光部でのＹ軸受光位置に応じた
出力によりＹ軸受光位置を検知する２軸方向の位置検出
装置において、Ｘ軸受光位置およびＹ軸受光位置のうち
何れか一方の受光位置に、他方の受光位置に応じた位置
検出誤差に対応した補正値を加えるかまたは、他方の受
光位置に応じた位置検出誤差に対応した補正率をかけ合
わせて位置検出誤差を相殺し、移動位置の検出をする制
御部を有する。
は、光を照射する投光部と、この投光部からの照射光を
受光する受光部とが、所定軸方向に相対移動可能に構成
され、受光部での受光位置に応じた出力によりその受光
位置を検知する位置検知部が、少なくとも２軸方向それ
ぞれに対して配設されている位置検出装置において、一
の軸上の受光位置に対する、他の軸上の受光位置に応じ
た位置検出誤差を相殺するように移動位置を検出する制
御部を有することを特徴とするものである。例えば、検
出軸が２軸の場合には、光を照射するＸ軸用投光部から
の照射光をＸ軸用受光部で受光し、Ｘ軸用受光部での受
光位置に応じた出力によりＸ軸受光位置を検知すると共
に、光を照射するＹ軸用投光部からの照射光をＹ軸用受
光部で受光し、Ｙ軸用受光部でのＹ軸受光位置に応じた
出力によりＹ軸受光位置を検知する２軸方向の位置検出
装置において、Ｘ軸受光位置およびＹ軸受光位置のうち
何れか一方の受光位置に、他方の受光位置に応じた位置
検出誤差に対応した補正値を加えるかまたは、他方の受
光位置に応じた位置検出誤差に対応した補正率をかけ合
わせて位置検出誤差を相殺し、移動位置の検出をする制
御部を有する。
【００１３】この構成により、２軸方向以上の位置検出
装置で、一の軸上で位置検出を行うとき、位置検出を行
おうとしている検出軸ではない他方向の軸上の位置を参
照して位置補正を行うので、位置検出誤差が抑制されて
正確な位置検出がなされることになる。例えば、Ｘ軸方
向を位置検出方向とした場合、スリットの傾きなどでＹ
軸方向とスリットの長手方向とが平行状態からずれたま
まで、投光部がＹ軸方向に移動した場合、投光部からの
照射光の、受光部に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検
出誤差）が生じてしまうが、制御部で検出されたＸ軸受
光位置に、Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応し
た補正値を加えるかまたは、Ｙ軸受光位置に応じた位置
検出誤差に対応した補正率をかけ合わせるかして位置検
出誤差を相殺し、Ｘ軸上の移動位置の正確な検出がなさ
れる。
装置で、一の軸上で位置検出を行うとき、位置検出を行
おうとしている検出軸ではない他方向の軸上の位置を参
照して位置補正を行うので、位置検出誤差が抑制されて
正確な位置検出がなされることになる。例えば、Ｘ軸方
向を位置検出方向とした場合、スリットの傾きなどでＹ
軸方向とスリットの長手方向とが平行状態からずれたま
まで、投光部がＹ軸方向に移動した場合、投光部からの
照射光の、受光部に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検
出誤差）が生じてしまうが、制御部で検出されたＸ軸受
光位置に、Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応し
た補正値を加えるかまたは、Ｙ軸受光位置に応じた位置
検出誤差に対応した補正率をかけ合わせるかして位置検
出誤差を相殺し、Ｘ軸上の移動位置の正確な検出がなさ
れる。
【００１４】また、本発明の位置検出装置は、光を照射
する投光部と、この投光部からの照射光を受光する受光
部とが、所定軸方向に相対移動可能に構成され、受光部
での受光位置に応じた出力によりその受光位置を検知す
る位置検知部が、少なくとも２軸方向それぞれに対して
配設されている位置検出装置において、ある軸上の受光
位置に対する、他の軸上の受光位置に応じた位置検出誤
差を相殺し、かつ、ある軸上の受光位置に応じた受光部
特有の位置検出誤差を相殺するように移動位置を検出す
る制御部を有することを特徴とするものである。
する投光部と、この投光部からの照射光を受光する受光
部とが、所定軸方向に相対移動可能に構成され、受光部
での受光位置に応じた出力によりその受光位置を検知す
る位置検知部が、少なくとも２軸方向それぞれに対して
配設されている位置検出装置において、ある軸上の受光
位置に対する、他の軸上の受光位置に応じた位置検出誤
差を相殺し、かつ、ある軸上の受光位置に応じた受光部
特有の位置検出誤差を相殺するように移動位置を検出す
る制御部を有することを特徴とするものである。
【００１５】この構成により、一方の受光位置に対する
他方の受光位置に応じた位置検出誤差と、受光部そのも
のの誤差とが相殺されることになり、より正確な移動位
置の検出がなされる。
他方の受光位置に応じた位置検出誤差と、受光部そのも
のの誤差とが相殺されることになり、より正確な移動位
置の検出がなされる。
【００１６】さらに、好ましくは、本発明の位置検出装
置における制御部は、所定の１次元テーブルまたは／お
よび２次元テーブルから検索した位置検出誤差を用いて
位置検出をする。つまり、上記位置検出誤差は所定の１
次元テーブルに予め記憶されており、制御部はこの１次
元テーブルから検索を行うこともできる。また、位置検
出誤差は、１つのパラメータに対するデータからなる１
次元テーブルと、２つのパラメータに対するデータから
なる２次元テーブルのうち少なくとも２次元テーブルに
予め記憶されており、制御部はこのテーブルから検索を
行うこともできる。
置における制御部は、所定の１次元テーブルまたは／お
よび２次元テーブルから検索した位置検出誤差を用いて
位置検出をする。つまり、上記位置検出誤差は所定の１
次元テーブルに予め記憶されており、制御部はこの１次
元テーブルから検索を行うこともできる。また、位置検
出誤差は、１つのパラメータに対するデータからなる１
次元テーブルと、２つのパラメータに対するデータから
なる２次元テーブルのうち少なくとも２次元テーブルに
予め記憶されており、制御部はこのテーブルから検索を
行うこともできる。
【００１７】この構成により、位置検出誤差を２次元テ
ーブルから検索するようにすれば、テーブルサイズは大
きくなるが、さらにきめ細かい補正が可能となる。
ーブルから検索するようにすれば、テーブルサイズは大
きくなるが、さらにきめ細かい補正が可能となる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る位置検出装置
を含む補正光学機構の実施形態について図面を参照して
説明する。
を含む補正光学機構の実施形態について図面を参照して
説明する。
【００１９】（実施形態１）図１は本発明の実施形態１
における補正光学機構をカメラに適応させた場合の要部
構成を示す斜視図である。
における補正光学機構をカメラに適応させた場合の要部
構成を示す斜視図である。
【００２０】図１において、像ブレ抑制システム１は、
カメラ縦ブレおよびカメラ横ブレに起因する像面２での
像ブレを抑制するシステムであり、レンズ鏡筒３内に配
設されている。つまり、この像ブレ抑制システム１は、
カメラ縦ブレの角加速度を検出するカメラ縦ブレ角加速
度計４ｘと、カメラ横ブレ１ｙの角加速度を検出するカ
メラ横ブレ角加速度計４ｙと、カメラ縦ブレ角加速度計
４ｘに接続され、その出力信号を積分して手ブレ角変位
に変換する積分回路５ｘと、カメラ横ブレ角加速度計４
ｙに接続され、その出力信号を積分して手ブレ角変位に
変換する積分回路５ｙと、補正レンズ群６を保持した枠
部７の補正位置を検出する補正位置検出部８ｘ，８ｙ
と、これらの積分回路５ｘおよび補正位置検出部８ｘか
らの信号によって枠部７をｘ軸方向に駆動させて像面２
での像の安定化を確保する駆動部９ｘと、これらの積分
回路５ｙおよび補正位置検出部８ｙからの信号によって
枠部７をｙ軸方向に駆動させて像面２での像の安定化を
確保する駆動部９ｙとを有しており、カメラの撮影時に
ブレが生じたとしても、撮影光軸を偏心させる駆動部９
ｘ，９ｙを駆動させてブレ量を戻すことで、カメラブレ
による像ブレを抑制することができる。これらの補正レ
ンズ群６、枠部７、補正位置検出部８ｘ，８ｙおよび駆
動部９ｘ，９ｙなどにより補正光学機構が構成されてい
る。
カメラ縦ブレおよびカメラ横ブレに起因する像面２での
像ブレを抑制するシステムであり、レンズ鏡筒３内に配
設されている。つまり、この像ブレ抑制システム１は、
カメラ縦ブレの角加速度を検出するカメラ縦ブレ角加速
度計４ｘと、カメラ横ブレ１ｙの角加速度を検出するカ
メラ横ブレ角加速度計４ｙと、カメラ縦ブレ角加速度計
４ｘに接続され、その出力信号を積分して手ブレ角変位
に変換する積分回路５ｘと、カメラ横ブレ角加速度計４
ｙに接続され、その出力信号を積分して手ブレ角変位に
変換する積分回路５ｙと、補正レンズ群６を保持した枠
部７の補正位置を検出する補正位置検出部８ｘ，８ｙ
と、これらの積分回路５ｘおよび補正位置検出部８ｘか
らの信号によって枠部７をｘ軸方向に駆動させて像面２
での像の安定化を確保する駆動部９ｘと、これらの積分
回路５ｙおよび補正位置検出部８ｙからの信号によって
枠部７をｙ軸方向に駆動させて像面２での像の安定化を
確保する駆動部９ｙとを有しており、カメラの撮影時に
ブレが生じたとしても、撮影光軸を偏心させる駆動部９
ｘ，９ｙを駆動させてブレ量を戻すことで、カメラブレ
による像ブレを抑制することができる。これらの補正レ
ンズ群６、枠部７、補正位置検出部８ｘ，８ｙおよび駆
動部９ｘ，９ｙなどにより補正光学機構が構成されてい
る。
【００２１】図２は図１の補正位置検出部８ｘ，８ｙを
含む補正光学機構の分解斜視図である。
含む補正光学機構の分解斜視図である。
【００２２】図２において、補正レンズ群６が固定され
ている玉枠７ａを、移動枠７ｂと固定枠７ｃで挾持した
状態で、玉枠７ａは固定枠７ｃに対して２軸方向（Ｘ軸
方向とＹ軸方向）に、相対移動可能に構成されている。
つまり、この固定枠７ｃの玉枠７ａへの対向面には、支
持部を介して従動軸１１ｘがＸ軸方向に配設され、ま
た、この従動軸１１ｘの反対側に従動軸１１ｘと平行に
支持部を介してピエゾ素子１２ｘおよびロッド１３ｘが
配設されている。また、移動枠７ｂの玉枠７ａへの対向
面には、固定枠７ｃの従動軸１１ｘに嵌合可能な嵌合部
１４ｘが配設され、また、この嵌合部１４ｘの反対側に
嵌合部１４ｘの長手方向と平行に移動子部１５ｘが固定
枠７ｃのロッド１３ｘに外嵌可能に配設されており、固
定枠７ｃの従動軸１１ｘおよびロッド１３ｘに沿って、
固定枠７ｃに対して移動枠７ｂがＸ軸方向に移動自在に
組み合わされ、固定枠７ｂのピエゾ素子１２ｘによって
移動枠７ｂがＸ軸方向に駆動可能なように構成されてい
る。
ている玉枠７ａを、移動枠７ｂと固定枠７ｃで挾持した
状態で、玉枠７ａは固定枠７ｃに対して２軸方向（Ｘ軸
方向とＹ軸方向）に、相対移動可能に構成されている。
つまり、この固定枠７ｃの玉枠７ａへの対向面には、支
持部を介して従動軸１１ｘがＸ軸方向に配設され、ま
た、この従動軸１１ｘの反対側に従動軸１１ｘと平行に
支持部を介してピエゾ素子１２ｘおよびロッド１３ｘが
配設されている。また、移動枠７ｂの玉枠７ａへの対向
面には、固定枠７ｃの従動軸１１ｘに嵌合可能な嵌合部
１４ｘが配設され、また、この嵌合部１４ｘの反対側に
嵌合部１４ｘの長手方向と平行に移動子部１５ｘが固定
枠７ｃのロッド１３ｘに外嵌可能に配設されており、固
定枠７ｃの従動軸１１ｘおよびロッド１３ｘに沿って、
固定枠７ｃに対して移動枠７ｂがＸ軸方向に移動自在に
組み合わされ、固定枠７ｂのピエゾ素子１２ｘによって
移動枠７ｂがＸ軸方向に駆動可能なように構成されてい
る。
【００２３】また、移動枠７ｂの玉枠７ａへの対向面に
は、支持部を介して従動軸１１ｙがＹ軸方向に配設さ
れ、また、この従動軸１１ｙの反対側に従動軸１１ｙと
平行に支持部を介してピエゾ素子１２ｙおよびロッド１
３ｙが配設されている。また、玉枠７ａの外周面には、
移動枠７ｂの従動軸１１ｙに嵌合可能な嵌合部１４ｙが
配設され、また、この嵌合部１４ｙの反対側に嵌合部１
４ｙの長手方向と平行に移動子部１５ｙが移動枠７ｂの
ロッド１３ｙに外嵌可能に配設されており、移動枠７ｂ
の従動軸１１ｙおよびロッド１３ｙに沿って、移動枠７
ｂに対して玉枠７ａがＹ軸方向に移動自在に組み合わさ
れており、移動枠７ｂのピエゾ素子１２ｙによって玉枠
７ａがＹ軸方向に駆動可能なように構成されている。こ
れらのピエゾ素子１２ｘ，１２ｙはそれぞれ、印加電圧
の大きさに応じて長さ寸法が制御されるアクチュエータ
である。
は、支持部を介して従動軸１１ｙがＹ軸方向に配設さ
れ、また、この従動軸１１ｙの反対側に従動軸１１ｙと
平行に支持部を介してピエゾ素子１２ｙおよびロッド１
３ｙが配設されている。また、玉枠７ａの外周面には、
移動枠７ｂの従動軸１１ｙに嵌合可能な嵌合部１４ｙが
配設され、また、この嵌合部１４ｙの反対側に嵌合部１
４ｙの長手方向と平行に移動子部１５ｙが移動枠７ｂの
ロッド１３ｙに外嵌可能に配設されており、移動枠７ｂ
の従動軸１１ｙおよびロッド１３ｙに沿って、移動枠７
ｂに対して玉枠７ａがＹ軸方向に移動自在に組み合わさ
れており、移動枠７ｂのピエゾ素子１２ｙによって玉枠
７ａがＹ軸方向に駆動可能なように構成されている。こ
れらのピエゾ素子１２ｘ，１２ｙはそれぞれ、印加電圧
の大きさに応じて長さ寸法が制御されるアクチュエータ
である。
【００２４】また、固定枠７ｃの玉枠７ａとの対向面上
には、照射光を受光する受光素子としてのＰＳＤ１６
ｘ，１６ｙが設けられており、また、玉枠７ａの外周位
置には、ＰＳＤ１６ｘ，１６ｙの受光面にそれぞれ対向
するように、光を照射する投光器１７ｘ，１７ｙがそれ
ぞれ配設されており、これらの投光器１７ｘとＰＳＤ１
６ｘ、および投光器１７ｙとＰＳＤ１６ｙによって位置
検知装置が構成され、固定枠７ｃに対する玉枠７ａのＸ
軸およびＹ軸上の位置を検知することができる。以上に
より補正光学機構が構成されており、位置検知装置で固
定枠７ｃに対する玉枠７ａの位置を検知して、カメラブ
レによる光軸変化を補正すべく、補正レンズ群６を２軸
方向にそれぞれ駆動させることができる。
には、照射光を受光する受光素子としてのＰＳＤ１６
ｘ，１６ｙが設けられており、また、玉枠７ａの外周位
置には、ＰＳＤ１６ｘ，１６ｙの受光面にそれぞれ対向
するように、光を照射する投光器１７ｘ，１７ｙがそれ
ぞれ配設されており、これらの投光器１７ｘとＰＳＤ１
６ｘ、および投光器１７ｙとＰＳＤ１６ｙによって位置
検知装置が構成され、固定枠７ｃに対する玉枠７ａのＸ
軸およびＹ軸上の位置を検知することができる。以上に
より補正光学機構が構成されており、位置検知装置で固
定枠７ｃに対する玉枠７ａの位置を検知して、カメラブ
レによる光軸変化を補正すべく、補正レンズ群６を２軸
方向にそれぞれ駆動させることができる。
【００２５】図３は図２の玉枠７ａの投光器１７ｘに対
向した固定枠７ｃのＰＳＤ１６ｘの状態を示す断面図で
ある。
向した固定枠７ｃのＰＳＤ１６ｘの状態を示す断面図で
ある。
【００２６】図３において、底部にスリット１８ｘが形
成された玉枠７ａの凹部にＬＥＤ１９ｘがその投光側を
スリット１８ｘ側にして装着されている。また、固定枠
７ｃ上にはＰＳＤ１６ｘの受光面２０ｘの中心位置Ｏが
スリット１８ｘの中心位置に対向するようになってい
る。また、投光器１７ｙに対向したＰＳＤ１６ｙの状態
についても、上記の場合と同様に、ＰＳＤ１６ｙの受光
面２０ｙの中心位置Ｏがスリット１８ｙの中心位置に対
向するようになっている。
成された玉枠７ａの凹部にＬＥＤ１９ｘがその投光側を
スリット１８ｘ側にして装着されている。また、固定枠
７ｃ上にはＰＳＤ１６ｘの受光面２０ｘの中心位置Ｏが
スリット１８ｘの中心位置に対向するようになってい
る。また、投光器１７ｙに対向したＰＳＤ１６ｙの状態
についても、上記の場合と同様に、ＰＳＤ１６ｙの受光
面２０ｙの中心位置Ｏがスリット１８ｙの中心位置に対
向するようになっている。
【００２７】これらのスリット１８ｘ，１８ｙは、ＬＥ
Ｄ１９ｘ，１９ｙからの照射光を絞り込むためのもので
あり、スリット１８ｘ，１８ｙがない場合には、ＬＥＤ
１９ｘ，１９ｙからの照射光が散乱して位置検出精度が
悪くなると共に、検出幅が狭くなるためである。これら
のスリット１８ｘおよびＬＥＤ１９ｘにより投光器１７
ｘが構成され、また、スリット１８ｙおよびＬＥＤ１９
ｙにより投光器１７ｙが構成されている。
Ｄ１９ｘ，１９ｙからの照射光を絞り込むためのもので
あり、スリット１８ｘ，１８ｙがない場合には、ＬＥＤ
１９ｘ，１９ｙからの照射光が散乱して位置検出精度が
悪くなると共に、検出幅が狭くなるためである。これら
のスリット１８ｘおよびＬＥＤ１９ｘにより投光器１７
ｘが構成され、また、スリット１８ｙおよびＬＥＤ１９
ｙにより投光器１７ｙが構成されている。
【００２８】図４ａはＰＳＤの受光面の平面図、図４ｂ
は図４ａのＰＳＤを用いた位置検出制御構成を示す回路
構成図である。
は図４ａのＰＳＤを用いた位置検出制御構成を示す回路
構成図である。
【００２９】図４ａおよび図４ｂにおいて、発光素子と
してのＬＥＤ１９はその基準位置がＰＳＤ１６の受光面
２０の中心位置（Ｘ軸方向の中心位置）Ｏに対向して配
置されており、ＬＥＤ１９からの照射光がその中心位置
Ｏに照射可能である。これらのＬＥＤ１９とＰＳＤ１６
の受光面２０とは所定軸方向に相対移動自在に構成され
ており、このＰＳＤ１６は、ＬＥＤ１９からの照射光の
移動位置ｘに応じて両出力端子から電流Ｉ１，Ｉ２を出
力する。このＰＳＤ１６の一方の出力端子は電流−電圧
変換手段としてのアンプ２１を介してマイクロコンピュ
ータおよびメモリ部などよりなる制御部２２の入力端子
に接続され、また、ＰＳＤ１６の他方の出力端子は電流
−電圧変換手段としてのアンプ２３を介して制御部２２
の別の入力端子に接続されており、アンプ２１は所定軸
方向の受光位置に応じた電流Ｉ１を電圧Ｖ１に変換し、
また、アンプ２３は所定軸方向の受光位置に応じた電流
Ｉ２を電圧Ｖ２に変換して制御部２２に入力する。この
制御部２２の出力端子はトランジスタ２４のベースに接
続され、そのコレクタは、一方端子が電源供給ラインに
接続されたＬＥＤ１９の他方端子に接続され、さらに、
そのエミッタは電流制限用の抵抗器２５を介して接地さ
れており、制御部２２は、トランジスタ２４を制御する
ことによってＬＥＤ１９の照射光量を制御すると共に、
その入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、その測定結果から移
動距離ｘを算出するようになっている。
してのＬＥＤ１９はその基準位置がＰＳＤ１６の受光面
２０の中心位置（Ｘ軸方向の中心位置）Ｏに対向して配
置されており、ＬＥＤ１９からの照射光がその中心位置
Ｏに照射可能である。これらのＬＥＤ１９とＰＳＤ１６
の受光面２０とは所定軸方向に相対移動自在に構成され
ており、このＰＳＤ１６は、ＬＥＤ１９からの照射光の
移動位置ｘに応じて両出力端子から電流Ｉ１，Ｉ２を出
力する。このＰＳＤ１６の一方の出力端子は電流−電圧
変換手段としてのアンプ２１を介してマイクロコンピュ
ータおよびメモリ部などよりなる制御部２２の入力端子
に接続され、また、ＰＳＤ１６の他方の出力端子は電流
−電圧変換手段としてのアンプ２３を介して制御部２２
の別の入力端子に接続されており、アンプ２１は所定軸
方向の受光位置に応じた電流Ｉ１を電圧Ｖ１に変換し、
また、アンプ２３は所定軸方向の受光位置に応じた電流
Ｉ２を電圧Ｖ２に変換して制御部２２に入力する。この
制御部２２の出力端子はトランジスタ２４のベースに接
続され、そのコレクタは、一方端子が電源供給ラインに
接続されたＬＥＤ１９の他方端子に接続され、さらに、
そのエミッタは電流制限用の抵抗器２５を介して接地さ
れており、制御部２２は、トランジスタ２４を制御する
ことによってＬＥＤ１９の照射光量を制御すると共に、
その入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、その測定結果から移
動距離ｘを算出するようになっている。
【００３０】ＰＳＤ１６の受光面２０の中心位置からＸ
軸方向にＬＥＤ１９からの照射光の位置が距離ｘだけ移
動すると、その移動距離ｘに比例して電流Ｉ１と電流Ｉ
２が変化する。それらの電流Ｉ１，Ｉ２による入力電圧
Ｖ１，Ｖ２の変化をマイクロコンピュータなどよりなる
制御部２２が検出することで、その移動距離ｘを算出す
ることができる。
軸方向にＬＥＤ１９からの照射光の位置が距離ｘだけ移
動すると、その移動距離ｘに比例して電流Ｉ１と電流Ｉ
２が変化する。それらの電流Ｉ１，Ｉ２による入力電圧
Ｖ１，Ｖ２の変化をマイクロコンピュータなどよりなる
制御部２２が検出することで、その移動距離ｘを算出す
ることができる。
【００３１】ここで、制御部２２による移動距離ｘの算
出について説明する。まず、ＬＥＤ１９からの照射光の
重心が受光面の中心位置Ｏにあるとき、電流Ｉ１＝電流
Ｉ２となる。
出について説明する。まず、ＬＥＤ１９からの照射光の
重心が受光面の中心位置Ｏにあるとき、電流Ｉ１＝電流
Ｉ２となる。
【００３２】次に、ＬＥＤ１９からの照射光の重心が受
光面の中心位置Ｏから例えば距離ｘ１だけ移動すると、
次の（１）式の関係が成立する。
光面の中心位置Ｏから例えば距離ｘ１だけ移動すると、
次の（１）式の関係が成立する。
【００３３】 （２×ｘ１）／Ｌ＝（Ｉ１−Ｉ２）／（Ｉ１＋Ｉ２） ・・・（１） 但し、ＬはＰＳＤ１６の受光面２０のＸ軸方向の全長で
ある。
ある。
【００３４】さらに、Ｖsa＝Ｖ１−Ｖ２，Ｖwa＝Ｖ１＋
Ｖ２とおくと、（１）式は、 ｘ１＝（Ｌ／２）×（Ｖsa／Ｖwa） ・・・・・・・・・・（２） となる。（２）式において、常に、Ｖwa＝Ｖ１＋Ｖ２＝
Ａ（一定）となるように、ＬＥＤ１９に流れる電流をト
ランジスタ２４を介して制御することでＬＥＤ１９の照
射光量を制御すると、Ｌは定数であるから、（２）式
は、 ｘ１＝Ａ×Ｖsa ・・・・・・・・・・（３） となり、中心位置Ｏからの移動距離ｘ１とＶsa＝Ｖ１−
Ｖ２とは比例し、互いにリニアの関係になっている。こ
のとき、Ａ＝（Ｌ／２）×（１／Ｖwa）である。
Ｖ２とおくと、（１）式は、 ｘ１＝（Ｌ／２）×（Ｖsa／Ｖwa） ・・・・・・・・・・（２） となる。（２）式において、常に、Ｖwa＝Ｖ１＋Ｖ２＝
Ａ（一定）となるように、ＬＥＤ１９に流れる電流をト
ランジスタ２４を介して制御することでＬＥＤ１９の照
射光量を制御すると、Ｌは定数であるから、（２）式
は、 ｘ１＝Ａ×Ｖsa ・・・・・・・・・・（３） となり、中心位置Ｏからの移動距離ｘ１とＶsa＝Ｖ１−
Ｖ２とは比例し、互いにリニアの関係になっている。こ
のとき、Ａ＝（Ｌ／２）×（１／Ｖwa）である。
【００３５】したがって、ＰＳＤ１６の受光面の中心位
置ＯからＸ軸方向に距離ｘ１だけＬＥＤ１９の照射光の
重心位置が移動した場合、制御部２２はＬＥＤ１９の照
射光量を、Ｖwa＝Ｖ１＋Ｖ２＝Ａ（一定）となるように
制御することで、その移動距離ｘを算出することができ
る。
置ＯからＸ軸方向に距離ｘ１だけＬＥＤ１９の照射光の
重心位置が移動した場合、制御部２２はＬＥＤ１９の照
射光量を、Ｖwa＝Ｖ１＋Ｖ２＝Ａ（一定）となるように
制御することで、その移動距離ｘを算出することができ
る。
【００３６】図５はスリットの傾斜による位置検出誤差
を補正する場合を説明するための図である。
を補正する場合を説明するための図である。
【００３７】図５において、Ｘ軸方向を位置検出方向と
した場合、Ｘ軸上をＬＥＤ１９およびスリット１８が移
動し、それに伴ってＰＳＤ１６の受光面２０上のＬＥＤ
１９からの照射光の重心も移動する。ＰＳＤ１６の受光
面２０上のＬＥＤ１９からの照射光の重心を、図４の回
路構成から検出することで、照射光の重心の位置検出を
行うことができる。
した場合、Ｘ軸上をＬＥＤ１９およびスリット１８が移
動し、それに伴ってＰＳＤ１６の受光面２０上のＬＥＤ
１９からの照射光の重心も移動する。ＰＳＤ１６の受光
面２０上のＬＥＤ１９からの照射光の重心を、図４の回
路構成から検出することで、照射光の重心の位置検出を
行うことができる。
【００３８】ここで、２軸（Ｘ軸方向とＹ軸方向）の両
方向にＬＥＤ１９およびスリット１８とＰＳＤ１６の受
光面２０とが相対移動可能な構成となっており、Ｙ軸を
ＰＳＤ１６の受光面２０上のＸ軸に直角な軸としたと
き、実際には、図９ｃに示したように、交差によるスリ
ット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリット１８の長手方
向とは平行状態からずれる。この場合には、ＬＥＤ１９
およびスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ１９か
らのスリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６の受光
面２０に対してＸ軸方向の重心ずれを生じさせてしま
う。例えば、図５に示すように、スリット１８とＹ軸方
向とが平行状態からずれて傾斜していた場合、Ｙ軸方向
に２ｍｍの距離だけ移動すると、Ｘ軸上でＬＥＤ１９お
よびスリット１８からの照射光の重心は２０μｍ程度移
動することになって、これがＸ軸方向の位置検出誤差と
なる。
方向にＬＥＤ１９およびスリット１８とＰＳＤ１６の受
光面２０とが相対移動可能な構成となっており、Ｙ軸を
ＰＳＤ１６の受光面２０上のＸ軸に直角な軸としたと
き、実際には、図９ｃに示したように、交差によるスリ
ット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリット１８の長手方
向とは平行状態からずれる。この場合には、ＬＥＤ１９
およびスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ１９か
らのスリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６の受光
面２０に対してＸ軸方向の重心ずれを生じさせてしま
う。例えば、図５に示すように、スリット１８とＹ軸方
向とが平行状態からずれて傾斜していた場合、Ｙ軸方向
に２ｍｍの距離だけ移動すると、Ｘ軸上でＬＥＤ１９お
よびスリット１８からの照射光の重心は２０μｍ程度移
動することになって、これがＸ軸方向の位置検出誤差と
なる。
【００３９】このようなＹ軸方向の移動によるＸ軸上の
重心ずれを補正するために、上記（３）式を、 ｘ２＝Ａ×Ｖsa＋ＢK ・・・・・・・・・・（４） として、Ｙ軸上の位置に応じて、最適な補正値ＢKを選
択する。即ち、パラメータとして他方向の軸上の位置を
もつ１次元テーブルを次の（表１）のように設定するこ
とができる。
重心ずれを補正するために、上記（３）式を、 ｘ２＝Ａ×Ｖsa＋ＢK ・・・・・・・・・・（４） として、Ｙ軸上の位置に応じて、最適な補正値ＢKを選
択する。即ち、パラメータとして他方向の軸上の位置を
もつ１次元テーブルを次の（表１）のように設定するこ
とができる。
【００４０】
【表１】
【００４１】このようにして、制御部２２は、Ｘ軸上の
受光位置に対する、Ｙ軸上の受光位置に応じた位置検出
誤差に対応した補正値を、１次元テーブルである（表
１）から検索し、これを加えて位置検出誤差を相殺する
ように移動位置ｘ２を検出することで、正確な位置検出
とする。
受光位置に対する、Ｙ軸上の受光位置に応じた位置検出
誤差に対応した補正値を、１次元テーブルである（表
１）から検索し、これを加えて位置検出誤差を相殺する
ように移動位置ｘ２を検出することで、正確な位置検出
とする。
【００４２】ここで、上記（表１）を参照する際に使用
されるＹ軸上の位置に関してもＸ軸上の位置の変化によ
る重心のずれによる誤差が生じるが、上記（表１）を参
照する上での閾値（０．５ｍｍ）に比較して非常に小さ
いため殆ど影響は無い。
されるＹ軸上の位置に関してもＸ軸上の位置の変化によ
る重心のずれによる誤差が生じるが、上記（表１）を参
照する上での閾値（０．５ｍｍ）に比較して非常に小さ
いため殆ど影響は無い。
【００４３】上記構成により、以下、その作用を説明す
る。
る。
【００４４】図６は図１の補正位置検出部の動作を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【００４５】図６に示すように、まず、＃１で制御部２
２は、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９からの照
射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、これら
の入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出す
る。次に、＃２で制御部２２は、上記（３）式よりＹ軸
上の位置の検出を行う。さらに、＃３で制御部２２は、
Ｙ軸上の位置を入力として上記（表１）の１次元テーブ
ルから最適な補正値ＢKを検索する。さらに、＃４で制
御部２２は、上記（４）式により最適な補正値ＢKを含
めたＸ軸方向の位置検出を行う。
２は、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９からの照
射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、これら
の入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出す
る。次に、＃２で制御部２２は、上記（３）式よりＹ軸
上の位置の検出を行う。さらに、＃３で制御部２２は、
Ｙ軸上の位置を入力として上記（表１）の１次元テーブ
ルから最適な補正値ＢKを検索する。さらに、＃４で制
御部２２は、上記（４）式により最適な補正値ＢKを含
めたＸ軸方向の位置検出を行う。
【００４６】したがって、本発明は、手ぶれによる振動
に基づく光軸の移動を相殺するように補正レンズを動か
す装置の位置モニタであって、Ｘ軸方向を位置検出方向
とした場合、スリット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリ
ット１８の長手方向とが平行状態からずれた場合、ＬＥ
Ｄ１９およびスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ
１９からのスリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６
の受光面２０に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検出誤
差）が生じてしまうが、制御部２２で検出されたＸ軸受
光位置に、Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応し
た（表１）の補正値ＢKを加えてＸ軸の位置検出とする
ため、位置検出誤差を抑制して正確な位置検出をするこ
とができる。
に基づく光軸の移動を相殺するように補正レンズを動か
す装置の位置モニタであって、Ｘ軸方向を位置検出方向
とした場合、スリット１８の傾きなどでＹ軸方向とスリ
ット１８の長手方向とが平行状態からずれた場合、ＬＥ
Ｄ１９およびスリット１８がＹ軸方向に移動し、ＬＥＤ
１９からのスリット１８を介した照射光の、ＰＳＤ１６
の受光面２０に対してＸ軸方向の重心ずれ（位置検出誤
差）が生じてしまうが、制御部２２で検出されたＸ軸受
光位置に、Ｙ軸受光位置に応じた位置検出誤差に対応し
た（表１）の補正値ＢKを加えてＸ軸の位置検出とする
ため、位置検出誤差を抑制して正確な位置検出をするこ
とができる。
【００４７】（実施形態２）本実施形態２では、実施形
態１と同様の１次元テーブルによる補正であるが、ＰＳ
Ｄ１６そのものに誤差があり、この誤差を解消して位置
検出精度を向上させるためには、Ｘ軸上の受光位置の検
出に対してＶsa＝Ｖ１−Ｖ２をｎ分割し、分割されたＶ
saの所定範囲毎に１次近似式（５）を設定する。つま
り、上記（３）式を、 ｘ３＝Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ ・・・・・・・・・・（５） とする。さらに、Ｘ軸方向の位置検出で、Ｙ軸方向の移
動によるＸ軸方向の照射光の重心ずれを補正するため
に、 ｘ４＝Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ＋ＢK ・・・・・・・・（６） として、上記実施形態１の場合と同様に、Ｙ軸上の位置
に応じた最適な補正値ＢKを選択し、これを移動位置ｘ
３に加えて移動位置ｘ４とする。
態１と同様の１次元テーブルによる補正であるが、ＰＳ
Ｄ１６そのものに誤差があり、この誤差を解消して位置
検出精度を向上させるためには、Ｘ軸上の受光位置の検
出に対してＶsa＝Ｖ１−Ｖ２をｎ分割し、分割されたＶ
saの所定範囲毎に１次近似式（５）を設定する。つま
り、上記（３）式を、 ｘ３＝Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ ・・・・・・・・・・（５） とする。さらに、Ｘ軸方向の位置検出で、Ｙ軸方向の移
動によるＸ軸方向の照射光の重心ずれを補正するため
に、 ｘ４＝Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ＋ＢK ・・・・・・・・（６） として、上記実施形態１の場合と同様に、Ｙ軸上の位置
に応じた最適な補正値ＢKを選択し、これを移動位置ｘ
３に加えて移動位置ｘ４とする。
【００４８】２つのパラメータＡｎ，Ｃｎの１次元テー
ブルとして、次の（表２）および（表３）を設定するこ
とができる。なお、パラメータを補正値ＢKとした１次
元テーブルについては上記（表１）と同様である。
ブルとして、次の（表２）および（表３）を設定するこ
とができる。なお、パラメータを補正値ＢKとした１次
元テーブルについては上記（表１）と同様である。
【００４９】
【表２】
【００５０】
【表３】
【００５１】上記構成により、以下、その動作を説明す
る。
る。
【００５２】図７は実施形態２の補正位置検出部の動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【００５３】図７に示すように、まず、＃１１で制御部
２２ａは、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９から
の照射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、こ
れらの入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出
する。次に、＃１２で制御部２２ａは、上記（３）式よ
りＹ軸上の位置の検出を行う。さらに、＃１３で制御部
２２ａは、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を入力として、上記
（表２）および（表３）の各１次元テーブルから最適な
Ａｎ値およびＣｎ値を検索する。さらに、＃１４で制御
部２２ａは、Ｙ軸上の位置を入力として上記（表１）の
１次元テーブルから最適な補正値ＢKを検索する。さら
に、＃１５で制御部２２ａは、上記（６）式によりＸ軸
方向の移動位置ｘ４の検出を行う。
２２ａは、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９から
の照射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、こ
れらの入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出
する。次に、＃１２で制御部２２ａは、上記（３）式よ
りＹ軸上の位置の検出を行う。さらに、＃１３で制御部
２２ａは、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を入力として、上記
（表２）および（表３）の各１次元テーブルから最適な
Ａｎ値およびＣｎ値を検索する。さらに、＃１４で制御
部２２ａは、Ｙ軸上の位置を入力として上記（表１）の
１次元テーブルから最適な補正値ＢKを検索する。さら
に、＃１５で制御部２２ａは、上記（６）式によりＸ軸
方向の移動位置ｘ４の検出を行う。
【００５４】したがって、分割されたＶsaの所定範囲毎
に１次近似式を設定したため、ＰＳＤ１６そのものの誤
差を解消して位置検出精度を向上させることができる。
しかも、制御部２２ａで検出されたＸ軸受光位置に、Ｙ
軸受光位置に応じた位置検出誤差を加えてＸ軸上の位置
検出とするため、位置検出誤差を抑制して正確な位置検
出をすることができる。
に１次近似式を設定したため、ＰＳＤ１６そのものの誤
差を解消して位置検出精度を向上させることができる。
しかも、制御部２２ａで検出されたＸ軸受光位置に、Ｙ
軸受光位置に応じた位置検出誤差を加えてＸ軸上の位置
検出とするため、位置検出誤差を抑制して正確な位置検
出をすることができる。
【００５５】（実施形態３）本実施形態３では、上記実
施形態１，２のＣｎ値および補正値ＢKをまとめて、２
つのパラメータに対するデータからなる２次元テーブル
とした場合である。この場合、テーブルデータサイズは
大きくなるが、さらにきめ細かい補正が可能となる。つ
まり、上記（３）式を、 ｘ５＝Ａｎ×Ｖsa＋ＣKn ・・・・・・・・・・（７） として、Ｘ軸上の受光位置の検出に対してＶsa＝Ｖ１−
Ｖ２をｎ分割し、かつＹ軸をｋ分割してそれぞれにＣKn
値（Ｃｎ値＋補正値ＢK）を、次の（表４）のように２
次元テーブルとして設定することができる。なお、パラ
メータをＡｎ値とした１次元テーブルは上記（表２）と
同様である。
施形態１，２のＣｎ値および補正値ＢKをまとめて、２
つのパラメータに対するデータからなる２次元テーブル
とした場合である。この場合、テーブルデータサイズは
大きくなるが、さらにきめ細かい補正が可能となる。つ
まり、上記（３）式を、 ｘ５＝Ａｎ×Ｖsa＋ＣKn ・・・・・・・・・・（７） として、Ｘ軸上の受光位置の検出に対してＶsa＝Ｖ１−
Ｖ２をｎ分割し、かつＹ軸をｋ分割してそれぞれにＣKn
値（Ｃｎ値＋補正値ＢK）を、次の（表４）のように２
次元テーブルとして設定することができる。なお、パラ
メータをＡｎ値とした１次元テーブルは上記（表２）と
同様である。
【００５６】
【表４】
【００５７】上記構成により、以下、その動作を説明す
る。
る。
【００５８】図８は実施形態３の補正位置検出部の動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【００５９】図８に示すように、まず、＃２１で制御部
２２ｂは、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９から
の照射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、こ
れらの入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出
する。次に、＃２２で制御部２２ｂは、上記（３）式よ
りＹ軸上の位置の検出を行う。さらに、＃２３で制御部
２２ｂは、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を入力として、上記
（表２）の１次元テーブルから最適なＡｎ値を検索す
る。さらに、＃２４で制御部２２ｂは、Ｙ軸上の位置
と、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２とを入力として、上記（表
４）の２次元テーブルから最適なＣKn値を検索する。さ
らに、＃２５で制御部２２ｂは、上記（７）式によりＸ
軸方向の移動位置ｘ５の検出を行う。
２２ｂは、ＰＳＤ１６の受光面２０へのＬＥＤ１９から
の照射光位置に応じた入力電圧Ｖ１，Ｖ２を測定し、こ
れらの入力電圧Ｖ１，Ｖ２からＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を算出
する。次に、＃２２で制御部２２ｂは、上記（３）式よ
りＹ軸上の位置の検出を行う。さらに、＃２３で制御部
２２ｂは、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２を入力として、上記
（表２）の１次元テーブルから最適なＡｎ値を検索す
る。さらに、＃２４で制御部２２ｂは、Ｙ軸上の位置
と、求めたＶsa＝Ｖ１−Ｖ２とを入力として、上記（表
４）の２次元テーブルから最適なＣKn値を検索する。さ
らに、＃２５で制御部２２ｂは、上記（７）式によりＸ
軸方向の移動位置ｘ５の検出を行う。
【００６０】なお、上記実施形態１，２では、 ｘ２＝Ａ×Ｖsa＋ＢK ・・・・・・・・・・（４） ｘ４＝Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ＋ＢK ・・・・・・（６） としたが、これらの（４）式および（６）式をそれぞ
れ、以下の（８）式および（９）式にそれぞれ代えるこ
とができる。
れ、以下の（８）式および（９）式にそれぞれ代えるこ
とができる。
【００６１】 ｘ８＝（Ａ×Ｖsa）×ＢK１ ・・・・・・・・・・（８） ｘ９＝（Ａｎ×Ｖsa＋Ｃｎ）×ＢK２ ・・・・・・（９） このとき、ＢK１，ＢK２は補正率である。
【００６２】また、上記実施形態２，３では、Ａｎ値を
Ｖsa＝Ｖ１−Ｖ２の所定範囲毎に変更したが、このＡｎ
値を一定として次の（１０）式および（１１）式とする
こともできる。
Ｖsa＝Ｖ１−Ｖ２の所定範囲毎に変更したが、このＡｎ
値を一定として次の（１０）式および（１１）式とする
こともできる。
【００６３】 ｘ１０＝Ａ×Ｖsa＋Ｃｎ＋ＢK ・・・・・・・（１０） ｘ１１＝Ａ×Ｖsa＋ＣKn ・・・・・・・・・（１１）
【００６４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、２軸方向
以上の位置検出装置で、一の軸上で位置検出を行うと
き、位置検出を行おうとしている検出軸ではない他方向
の軸上の位置を参照して位置補正を行うため、位置検出
誤差が抑制されて正確な位置検出を行うことができる。
以上の位置検出装置で、一の軸上で位置検出を行うと
き、位置検出を行おうとしている検出軸ではない他方向
の軸上の位置を参照して位置補正を行うため、位置検出
誤差が抑制されて正確な位置検出を行うことができる。
【００６５】また、一方の受光位置に対する他方の受光
位置に応じた位置検出誤差と、受光部そのものの誤差と
を解消することができるため、より正確な位置検出を行
うことができる。
位置に応じた位置検出誤差と、受光部そのものの誤差と
を解消することができるため、より正確な位置検出を行
うことができる。
【００６６】さらに、２次元テーブルから検索した位置
検出誤差に対応した補正値を用いて位置検出を行えば、
テーブルデータサイズは大きくなるが、さらにきめ細か
い補正を行うことができる。
検出誤差に対応した補正値を用いて位置検出を行えば、
テーブルデータサイズは大きくなるが、さらにきめ細か
い補正を行うことができる。
【図１】本発明の実施形態１における補正光学機構をカ
メラに適応させた場合の要部構成を示す斜視図である。
メラに適応させた場合の要部構成を示す斜視図である。
【図２】図１の補正位置検出部８ｘ，８ｙを含む補正光
学機構の分解斜視図である。
学機構の分解斜視図である。
【図３】図２の玉枠７ａの投光器１７ｘに対向した固定
枠７ｃのＰＳＤ１６ｘの状態を示す断面図である。
枠７ｃのＰＳＤ１６ｘの状態を示す断面図である。
【図４】ａはＰＳＤの受光面の平面図、ｂはａのＰＳＤ
を用いた位置検出制御構成を示す回路構成図である。
を用いた位置検出制御構成を示す回路構成図である。
【図５】スリットの傾斜による位置検出誤差を補正する
場合を説明するための図である。
場合を説明するための図である。
【図６】図１の補正位置検出部の動作を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図７】実施形態２の補正位置検出部の動作を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図８】実施形態３の補正位置検出部の動作を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図９】ａは従来の補正光学機構部の構成を示す正面図
であり、ｂおよびｃは補正位置検出部におけるスリット
とＰＳＤの受光面との関係を示し、ｂはＹ軸とスリット
が平行の場合の図であり、ｃはＹ軸とスリットが平行か
らずれた場合の図である。
であり、ｂおよびｃは補正位置検出部におけるスリット
とＰＳＤの受光面との関係を示し、ｂはＹ軸とスリット
が平行の場合の図であり、ｃはＹ軸とスリットが平行か
らずれた場合の図である。
１ 像ブレ抑制システム ６ 補正レンズ群 ７ 枠部 ８ｘ，８ｙ 補正位置検出部 ９ｘ，９ｙ 駆動部 ７ａ 玉枠 ７ｂ 移動枠 ７ｃ 固定枠 １１ｘ，１１ｙ 従動軸 １２ｘ，１２ｙ ピエゾ素子 １３ｘ，１３ｙ ロッド １４ｘ，１４ｙ 嵌合部 １５ｘ，１５ｙ 移動子部 １６ｘ，１６ｙ ＰＳＤ １７ｘ，１７ｙ 投光器 １８ｘ，１８ｙ スリット １９ｘ，１９ｙ ＬＥＤ ２０ｘ，２０ｙ 受光面 ２１，２３ アンプ ２２ 制御部 ２４ トランジスタ
Claims (4)
- 【請求項１】 光を照射する投光部と、この投光部から
の照射光を受光する受光部とが、所定軸方向に相対移動
可能に構成され、前記受光部での受光位置に応じた出力
によりその受光位置を検知する位置検知部が、少なくと
も２軸方向それぞれに対して配設されている位置検出装
置において、 一の軸上の受光位置に対する、他の軸上の受光位置に応
じた位置検出誤差を相殺するように移動位置を検出する
制御部を有することを特徴とする位置検出装置。 - 【請求項２】 光を照射する投光部と、この投光部から
の照射光を受光する受光部とが、所定軸方向に相対移動
可能に構成され、前記受光部での受光位置に応じた出力
によりその受光位置を検知する位置検知部が、少なくと
も２軸方向それぞれに対して配設されている位置検出装
置において、 ある軸上の受光位置に対する、他の軸上の受光位置に応
じた位置検出誤差を相殺し、かつ、ある軸上の受光位置
に応じた受光部特有の位置検出誤差を相殺するように移
動位置を検出する制御部を有することを特徴とする位置
検出装置。 - 【請求項３】 前記位置検出誤差は所定の１次元テーブ
ルに予め記憶されており、前記制御部はこの１次元テー
ブルから検索を行うことを特徴とする請求項１または２
に記載の位置検出装置。 - 【請求項４】 前記位置検出誤差は、１つのパラメータ
に対するデータからなる１次元テーブルと、２つのパラ
メータに対するデータからなる２次元テーブルのうち少
なくとも２次元テーブルに予め記憶されており、前記制
御部はこのテーブルから検索を行うことを特徴とする請
求項２記載の位置検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31510196A JP3480206B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | 位置検出装置及びカメラ |
| US08/978,269 US5943512A (en) | 1996-11-26 | 1997-11-25 | Apparatus equipment with position detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31510196A JP3480206B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | 位置検出装置及びカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10153404A true JPH10153404A (ja) | 1998-06-09 |
| JP3480206B2 JP3480206B2 (ja) | 2003-12-15 |
Family
ID=18061438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31510196A Expired - Fee Related JP3480206B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | 位置検出装置及びカメラ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5943512A (ja) |
| JP (1) | JP3480206B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6751410B1 (en) | 2003-07-10 | 2004-06-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Inertial camera stabilization apparatus and method |
| US7304681B2 (en) * | 2004-01-21 | 2007-12-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for continuous focus and exposure in a digital imaging device |
| WO2006007315A2 (en) * | 2004-06-22 | 2006-01-19 | Analog Devices, Inc. | System and method for processing a digital camera image |
| US7710460B2 (en) * | 2004-07-21 | 2010-05-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of compensating for an effect of temperature on a control system |
| US20060018644A1 (en) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Stavely Donald J | Apparatus and method for heat sinking a sensor |
| US20060018643A1 (en) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Stavely Donald J | Magnet configuration for image stabilization |
| US7679647B2 (en) * | 2004-07-21 | 2010-03-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flexible suspension for image stabilization |
| US7710459B2 (en) * | 2004-07-21 | 2010-05-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Ferrofluid suspension for image stabilization |
| US20060170783A1 (en) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Stavely Donald J | Adaptive response image stabilization |
| US7791643B2 (en) * | 2005-01-28 | 2010-09-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Sequenced response image stabilization |
| WO2006083563A2 (en) * | 2005-02-01 | 2006-08-10 | Analog Devices, Inc. | Camera with acceleration sensor |
| CN102176644A (zh) * | 2006-08-28 | 2011-09-07 | 松下电器产业株式会社 | 驱动装置 |
| JP2008089804A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujinon Corp | 撮像装置 |
| JP2008089803A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujinon Corp | 撮像装置 |
| US20080231714A1 (en) * | 2007-03-22 | 2008-09-25 | Texas Instruments Incorporated | System and method for capturing images |
| KR101398473B1 (ko) * | 2008-02-12 | 2014-05-26 | 삼성전자주식회사 | 촬상 장치용 손떨림 보정 모듈 및 이를 구비한 촬상 장치 |
Family Cites Families (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPH0418515A (ja) * | 1990-05-14 | 1992-01-22 | Canon Inc | 補正光学機構用位置検出装置 |
| JPH0431820A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Canon Inc | 画像振れ防止装置 |
| JPH05107621A (ja) * | 1991-10-18 | 1993-04-30 | Canon Inc | 像振れ補正装置及び像振れ補正機能付カメラ |
-
1996
- 1996-11-26 JP JP31510196A patent/JP3480206B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-11-25 US US08/978,269 patent/US5943512A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JP3480206B2 (ja) | 2003-12-15 |
| US5943512A (en) | 1999-08-24 |
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|---|---|---|---|
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