JPH10132558A - 光半導体装置 - Google Patents
光半導体装置Info
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- JPH10132558A JPH10132558A JP28419296A JP28419296A JPH10132558A JP H10132558 A JPH10132558 A JP H10132558A JP 28419296 A JP28419296 A JP 28419296A JP 28419296 A JP28419296 A JP 28419296A JP H10132558 A JPH10132558 A JP H10132558A
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Abstract
法を実現し、最適化と信頼性及び小型化の確保を可能と
した光半導体装置を提供する。 【解決手段】本発明によると、対象物に対して光を投射
する発光素子と、前記対象物からの光を受光検出する受
光素子と、透光性を有する配線板とを具備し、前記発光
素子及び前記受光素子を、それぞれの発光部及び受光部
を前記配線板対向させて、前記配線板の前記対象物に対
して反対側の面に接合したことを特徴とする光半導体装
置が提供される。
Description
し、対象物からの光を検出する機能を有する光半導体装
置に関する。
き、物体までの距離等を検出するために使用されている
従来の光半導体装置の一例を示している。この光半導体
装置は、特開平5−164553号公報に開示されてい
るもので、発光素子10からの光がキャップ62を通っ
て図示しない対象物に照射され、その反射光が再びキャ
ップ62を通って受光素子5に入射する。
は、給電や信号検出のための配線の接続と、素子の信頼
性確保のための気密封止が不可欠である。このような実
装、封止技術としては、特開平5−164553号公報
に開示されているように、一般に、発光素子10と受光
素子5が一つのステム61上に実装され、素子とステム
のリードピン71の間の配線はワイヤ72でボンディン
グされている。
キャップ62が取り付けられて、素子全体が気密封止さ
れている。この従来例では、ガラス窓にレンズ2,4が
成形されている。
ので、同じく特開平5−164553号公報に開示され
ている方法で、発光素子10、受光素子5をリードフレ
ーム74に実装し、ワイヤ72によってボンディング配
線を行った後に樹脂をモールド成形して封止している。
この従来例では、モールド樹脂65を一部突出成形する
ことにより、発光部または受光部に近接してレンズ2,
4を作成している。
導体装置の実装、封止方法のうち、ステム、キャップを
用いる方法では、光半導体全体のサイズが、受光素子、
発光素子自体のサイズに対してかなり大きくなってしま
うという問題がある。
では、1〜2mm角程度のサイズの発光素子、受光素子
を実装するために使用されるステムのサイズは通常直径
5〜9mm程度である。
は、ステムのサイズによって決定されるため、発光素
子、受光素子を小型化してもそのメリットを有効に生か
すことができない。
ードの長さやリードによる占有スペースも、この種の光
半導体の小型化の阻害要因となっている。また、ある種
の光半導体装置においては、発光素子と対象物の間隔を
例えば300μm 程度に保持すると最適な構成となる
が、従来のステム、キャップを用いる方式では、発光素
子とキャップ表面の間隔をこのように近接させることは
非常に困難であるため、発光素子と対象物の間隔を最適
化することができないという問題点があった。
ルド樹脂を用いる方法では、ステム、キャップによる方
法に比べて全体の大きさを小さくすることができるが、
通常モールド樹脂の肉厚をある程度確保する必要がある
ため、小型化には一定の限界がある。
を小さくして、発光素子と対象物の間隔を例えば300
ミクロン程度に近接させることは非常に困難である。そ
こで、本発明は、以上のような点に鑑みてなされたもの
で、光半導体装置において、占有スペースの小さい実
装、封止方法を提案し、光半導体装置の性能の最適化と
信頼性の確保を小型であるという特徴を維持したまま実
現することを可能とした光半導体装置を提供することを
目的としている。
題を解決するために、対象物に対して光を投射する発光
素子と、前記対象物からの光を受光検出する受光素子
と、透光性を有する配線板とを具備し、前記発光素子及
び前記受光素子を、それぞれの発光部及び受光部を前記
配線板対向させて、前記配線板の前記対象物に対して反
対側の面に接合したことを特徴とする光半導体装置が提
供される。
るために、対象物に対して光を投射する発光素子と、前
記対象物からの光を受光検出する受光素子と、前記発光
素子及び前記受光素子とを気密封止する樹脂部材とを具
備する光半導体装置であって、前記発光素子及び前記受
光素子と前記対象物の間の前記樹脂部材の外面が研磨面
であり、該研磨面と前記発光素子との間隔が所定値以下
であることを特徴とする光半導体装置が提供される。
るために、対象物に対して光を投射する発光素子と、前
記対象物からの光を受光検出する受光素子と、前記発光
素子及び受光素子とを実装する基板及び透明板とを具備
する光半導体装置であって、前記透明板が前記発光素子
の光出射部に接触せずに所定値以下の間隔を有するよう
に配置され、前記透明板と前記基板とによって前記発光
素子及び前記受光素子とが気密封止されていることを特
徴とする光半導体装置が提供される。
態を図面に基づき説明する。なお、以下の実施の形態に
おいては、光半導体装置の例として、光源に垂直共振器
型面発光レーザ(VCSEL: Vertical-Cavity Surfa
ce-Emitting Laser)を使用した反射型の光学式エンコ
ーダを挙げているが、本発明の実施の形態はこれに限定
されるものではなく、各種光センサや光ピックアップ等
に応用することが可能である。
なく、例えば広がり角の大小や可干渉性の有無等に限定
されない。また、受光素子に到達する光は、光源から出
射された光が対象物に到達し、その結果として発生する
光であればその種類は限定されない。
るような単純な反射のみでなく、反射回折光、反射散乱
光、あるいは、光源からの光によって対象物において励
起された光であってもよい。
1の実施の形態を示す。本実施の形態は光学式エンコー
ダであり、移動するスケール3と、このスケール3と表
面側が対向しているポリイミド配線フィルム1と、この
ポリイミド配線フィルム1の裏面側すなわち後述する透
光部16,17に対向してスケール3側の面と反対側の
面に接合された発光素子(VCSEL)10及び受光素
子(PD:Photodetector )5と、VCSEL10及び
PD5をポリイミド配線フィルム1との間で封止するエ
ポキシ樹脂65とからなる。
側すなわちスケール3に対して反対側の面には、後述す
るように導電性の金属による配線パターン11が形成さ
れており、VCSEL10の表面電極はポリイミド配線
フィルム1 上の対応した配線パターン11に接合されて
いる。
ィングワイヤ72によってポリイミド配線フィルム1上
の対応した配線パターンに接続されている。そして、P
D5表面の電極はハンダバンプ12を介したいわゆるフ
リップチップ接合技術によりポリイミド配線フィルム1
上の対応した配線パターン11に接合されている。
フィルムのスケールに対して反対側の面においてVCS
EL10とPD5とを覆うように配置されている。この
エポキシ樹脂65とポリイミド配線フィルム1とは、合
わせて封止材として発光素子10と受光素子5とを外気
から遮断して気密封止している。
部分を図示しないステージ、モータ等の機器に取り付け
て使用するため、図2に示すようにエポキシ樹脂65の
底面側すなわちポリイミド配線フィルム1の反対側の表
面を平坦にモールド成形するか、あるいは切削等の二次
加工により平坦化して、基準面66を作成することが望
ましい。
ミド配線フィルム1の裏面側すなわちスケール3に対し
て反対側の面の平面図を示す。以上に述べたように、ポ
リイミド配線フィルム1には導電性の金属による配線パ
ターン11が形成されており、その終端にはVCSEL
10、PD5を電気的に接続する端子が形成されてい
る。
EL10のそれぞれ上面、下面電極に、端子15がPD
5の電極にそれぞれ接合される。なお、端子13の中央
部には透光部16が設けられている。
5の受光部に対向した部分は透光部17として、配線パ
ターン11を形成しないようになされている。本実施の
形態では、スケール3からの反射光が光源であるVCS
EL10に直接戻るとレーザの動作が不安定になるた
め、スケール3の反射面に対して光軸を傾ける必要があ
る。
は、スケール3をエンコーダを実装したポリイミド配線
フィルム1に対して傾けて配置しているが、実用上は、
スケールあるいはエンコーダを取り付けるための傾斜面
の加工が必要となり、工程が複雑になる可能性がある。
の変形例として、図4に示すようにフレキシブル基板を
折り曲げジグを利用して曲げた状態で裏面側をエポキシ
樹脂で封止することが可能である。
一例を、図4(c) は実施形態の一例を示したものであ
る。先ず、図4(a) に図示するように、ポリイミド配線
フィルム1上にPD5およびVCSEL10を実装す
る。
ポリイミド配線フィルム1を折り曲げ治具401によっ
て吸着し、所定の角度に折り曲げた状態で樹脂成形型4
02を用いて樹脂封止を実施する。
た後、ポリイミド配線フィルム1とスケール3が所定の
距離で対向するように配置することにより、図4(c) に
図示するような実施形態が得られる。
ル3をエンコーダの取り付け基準面66と平行に配置す
ることが可能となる。また、第2の変形例として、図5
に示すように、VCSEL10の出射面にモノリシック
にマイクロレンズ18を集積し、フレキシブル基板上で
面発光レーザが実装される部分に前記マイクロレンズを
挿入する凹部または貫通穴19を設けることが可能であ
る。
スケール3上で集光することが可能なため、エンコーダ
の高分解能化を実現できる。さらに、第3の変形例とし
て、VCSEL10の実装に関しては、図6に示すよう
に、VCSEL10を実装する部分にバンプ25,26
形成し、その大きさを変えることによって傾けて実装す
ることも可能である。
面側電極の接続をワイヤボンディングで行うことは困難
であるため、裏面電極を表面側に引き出して、例えばバ
ンプ25,26を別々に使用してそれぞれの配線を行う
ことが望ましい。
は、ポリイミド配線フィルム1上に形成された配線パタ
ーン11を介してVCSEL10に電流を供給すること
により、VCSEL10から矢印で示すようなレーザ光
が放射される。
1を通ってスケール3の表面に到達し、そこでの反射光
は矢印で示すごとく再びポリイミド配線フィルム1を通
ってPD5に達して電気信号に変換され、その出力は配
線パターン11を経由して図示しない処理回路の入力信
号となる。
射率の高い部分と低い部分が形成してあり、スケール3
による反射光の強度はスケール3の移動に伴って周期的
に変化するので、PD5の出力信号の変化を検出してカ
ウントすることによりスケール3の移動量が検出され
る。
光に対しては必ずしも透過率が高いとは言えないが、赤
外領域の光に対しては透過率が高いため、光源に例えば
波長が980nmのVCSEL10を使用すれば実用上
十分な透過率を有する。
光学式エンコーダと同様の作用効果を生ずると共に、以
下に述べるような特有の作用効果を生じる。第1に、V
CSEL10の大きさは0.5mm角程度、PD5の大
きさは1mm角程度、VCSEL10の発光部とPD5
の受光部の距離は数100μm程度であり、エンコーダ
の分解能を向上させるにはPD5の受光部とスケールと
の距離を0.3mm程度にする必要があるが、従来はV
CSEL10のスケール3側の面にボンディングワイヤ
72が配置されていて、このボンディングワイヤ72が
VCSEL10の表面からスケール3方向に突出するた
めに、VCSEL10とスケール3の間隔を小さくして
エンコーダの分解能を向上する際にボンディングワイヤ
42とスケール3が接触する可能性があり、十分にVC
SEL10とスケール3を接近することができなかっ
た。
CSEL10のスケール3側の面にボンディングワイヤ
72等の突起物が配置されていないため、両者を従来以
上に接近することが可能であり、高分解能なエンコーダ
が実現できるという効果がある。
ち、従来の窓付きキャップを用いた封止方法では、キャ
ップ部材の厚さ等の制約からVCSEL10とパッケー
ジ端部(キャップ外面)の距離を例えば0.3mm程度
以下にするのは困難であった。
VCSEL10表面を覆う樹脂の厚みを小さくすること
でVCSEL10とパッケージ端部の距離を0.3mm
程度以下にすることも不可能ではないが、その場合には
封止工程のわずかなばらつきによってVCSEL10が
外気に露出する可能性等が生じて信頼性が損なわれる可
能性が大であった。
10とパッケージ端部の距離を0.3mm程度以下にす
ることが困難であったため、エンコーダ素子とスケール
3の間隔を限界まで小さくした場合においてもVCSE
L10とスケール3の間の距離を0.3mm程度以下に
することは困難であった。
L10のスケール3側の封止材としてポリイミド配線フ
ィルム1 を用いているため、その厚さを容易に従来より
も薄くすることが可能である。
(株)から市販されている厚さ0.0075mmのポリ
イミドフィルム(商品名「カプトン」)を用いてポリイ
ミド配線フィルム1 を製作することにより、配線パター
ン11の厚さを加えても0.03mm程度の厚さのポリ
イミド配線フィルム1 が得られる。
とパッケージ端部の距離を従来と比較して、例えば、1
/10程度に小さくすることが可能であり、VCSEL
10とスケール3を従来よりも接近することでコンパク
トで高分解能なエンコーダが実現できるという効果を奏
する。
イミド配線フィルムがフレキシブル基板で可撓性を有す
るため、VCSEL10とPD5の配置に傾きを付けて
光学系を最適化することが可能であること(第1変形
例)、発光素子表面に集積型マイクロレンズを作成する
場合にも対応が可能であり、より高分解能なエンコーダ
が実現できること(第2変形例)、バンプによって傾き
をつけて光学系の最適化が可能であること(第3変形
例)等が本実施の形態の効果として挙げられる。
2の実施の形態を示す。本実施の形態は光学式エンコー
ダであり、移動するスケール3と、ガラス配線板6と、
このガラス配線板6のスケールに対して反対側の面に接
合されたVCSEL10及びPD5と、これらVCSE
L10及びPD5を封止するエポキシ樹脂65とからな
る。
ミド配線フィルム1を薄板ガラスに配線パターン11を
形成したガラス配線板6に置き換えたのみで、他の部分
の構成は第1の実施の形態と同様である。
め、第1実施の形態の変形例のうち、基板を折り曲げて
封止する方法(第1変形例)は適用することができない
が、他の変形例は適用可能である。
作用、効果を有するが、それに加えて薄板ガラスを配線
板6に使用しているため、ポリイミド配線フィルムと比
較して光学的に透過率が高いという利点があり、特に、
可視光を使った光半導体装置においては、高効率を実現
しやすいという効果がある。
3の実施の形態を示す。本実施の形態は光学式エンコー
ダであり、移動するスケール3にVCSEL10からの
レーザ光を照射し、その反射光をPD5で受光する構成
となっている。
21上にPD5を作成しておき、その後でポリイミドを
スピンコートして厚さ数μm 程度のポリイミド薄膜22
を形成する。
ミドの成膜を繰り返して、配線パターン11をポリイミ
ド薄膜22の内部に形成する。この技術に関しては、例
えば特開平7−86551号公報において、本出願人よ
り開示されており、ここでは詳細プロセスは省略する。
シリコン基板21を裏面から貫通エッチングで除去す
る。この貫通エッチングが終了した時点で、面発光レー
ザをポリイミド薄膜22に形成された配線パターン11
にボンディングし、裏面電極はワイヤ72で配線パター
ン11にボンディングする。
の裏面を例えば薄板ガラス24で覆って、発光、受光素
子としてのVCSEL10及びPD5を気密封止する。
この気密封止については、薄板ガラス24で覆う方法に
限定されるものではなく、第1、第2の実施の形態で述
べたように樹脂封止を行うようにすることも可能であ
る。
様に、VCSEL10のスケール3側の面にボンディン
グワイヤ等の突起物が配置されていないため、VCSE
L10とスケール3を従来以上に接近することが可能で
あり、高分解能なエンコーダが実現できるという効果を
奏する。
使用する場合と比較して、配線板の厚みを例えば約10
μm 程度に低減することができるため、VCSEL10
とスケール3をより接近させやすいという効果がある。
成した基板上に配線パターン11をモノリシックに形成
しているため、PD5の組立工程を省略することがで
き、コストの低減とVCSEL10や配線板に対する位
置決め精度が向上するという効果もある。
4の実施の形態を示す。本実施の形態は光学式エンコー
ダであり、移動するスケール(図示せず)と、PD5
と、このPD5上に搭載されたVCSEL10と、これ
らVCSEL10及びPD5を気密封止する透明エポキ
シ樹脂65からなる。
磨面67であることが構成上の特徴である。この構成
は、例えば、次に述べるような製造方法によって製造さ
れる。
で、このPD5上にVCSEL10を実装する。さら
に、必要に応じてワイヤ72によるボンディング等によ
る電気接続工程を実施する。
よるエポキシ樹脂65の成形工程を実施し、VCSEL
10及びPD5を気密封止する(図9(a) )。最後に、
エポキシ樹脂65の上面を研磨し、研磨面67を形成す
る工程を実施する(図9(b) )。
磨工程により形成されるので、VCSEL10とパッケ
ージ上端部の距離を精密に加工することが可能である。
例えば、図9(b) 中の距離tを0.01mmとする場合
には、成形後のtが0.5mm程度以上になるようにエ
ポキシ樹脂65を成形した後に、研磨工程と距離tの測
定を繰り返し行い、所望の距離tが測定された時点で工
程を終了すればよい。
実現の困難な微小な距離tを実現することが可能であ
る。従って、本実施の形態ではVCSEL10とパッケ
ージ端部の距離を従来技術と比較して小さくすることが
可能であり、VCSEL10とスケール3とを従来より
も接近させることにより、コンパクトで高分解能なエン
コーダが実現できるという効果を奏する。
び図11に示すように、単結晶シリコン(100)基板
21を深さ100〜200μm 程度異方性エッチング
し、その底面にPD5及びVCSEL10を実装した後
にエポキシ樹脂65を凹部に充填し(図10)、硬化さ
せた後に上面を研磨する(図11)という方法も可能で
ある。
あるため、樹脂をモールド成形する必要がない。本実施
の形態の他の変形例としては、図12に示すように、異
方性エッチで形成した凹部に充填したエポキシ樹脂65
を硬化させた後に平坦化研磨を行い、さらにVCSEL
10の上面電極からの配線パターン11を図示のように
樹脂65の上面に形成することも可能である。
形成し、例えばフォトレジストをモールドとした無電解
メッキ等で形成することが可能である。本実施の形態で
は、VCSEL10の表面にワイヤボンドをする必要が
ないため、樹脂表面(研磨面67)とVCSEL10表
面をさらに近接させやすいという効果がある。
第5の実施の形態を示す。本実施の形態は光学式エンコ
ーダであり、移動するスケール(図示せず)と、PD5
と、このPD5上に搭載されたVCSEL10と、これ
らを気密封止する透明板32とからなる。
00)基板21を深さ100〜200μm 程度異方性エ
ッチングし、その底面にPD5、さらにこのPD5に重
ねるようにVCSEL10を実装する。
るものではなく、例えば、第1の実施の形態で示したよ
うに並列に実装してもよいが、素子(特にVCSEL1
0)の上面が単結晶シリコン基板21の上面よりも若干
低くなるようにエッチング深さを決定する。
10との両素子の実装後、予め配線パターン11を形成
した薄い透明板32で凹部全体をカバーすることによ
り、気密封止する。
上面に形成された電極と透明板32上の配線パターン1
1を接続する。また、必要があれば、透明板32のVC
SEL10と反対側にレンズ2等の光学素子を形成する
ことも可能である。
ば図14に示すように、透明板32には配線パターンを
設けずに、凹部を設けたシリコン基板21の表面に配線
パターン11を形成し、これにワイヤ72をボンディン
グして配線を引き出すことも可能である。
に異方性エッチで形成した斜面にVCSEL10を実装
することも可能である。本実施形態の第2の変形例とし
て、図15に示すように例えばスペーサ33を介して透
明板32でVCSEL10及びPD5の両素子を覆うこ
とにより、気密封止することも可能である。
法としては、例えば、図16に示すように、シリコン基
板34上ににガラス基板の接着、スピンオングラスのコ
ーティング等で透明板32を形成し、次にスペーサ33
となる部分を残してシリコン基板34をエッチングすれ
ばよい。
定の厚みにシリコン基板34の厚みを合わせておいてか
ら、裏面側にスペーサ33部分を覆うようにマスク35
をパターニングして不要部分をエッチングすることによ
り作成することができる。
リコン基板34のスペーサ33となる部分に予め所望の
深さだけ硼素をドーピングしてから透明板32を形成
し、その後、水酸化カリウム等でエッチングすると、硼
素をドーピングした部分のみを残して基板34がエッチ
ングされ、正確な厚みを持ったスペーサ33を作成する
ことができる。
て、図19に示すように、予め基板21にエッチングで
溝36を形成してからVCSEL10及びPD5を実装
することも可能であり、光軸を基板21に対して傾ける
ことができる。
第2変形例で述べたように、スペーサ33を介して透明
板32で全体を覆うことにより可能である。以上に述べ
たように、本実施の形態においては、シリコン基板21
の凹部の深さ、あるいは透明板32と基板21間のスペ
ーサ33の厚さを精密に制御することができるため、透
明板32とVCSEL10の間隔を小さくすることが可
能であり、さらに、板厚の小さい透明板32を使用する
ことにより、VCSEL10と図示しないスケールの距
離を小さくすることが可能である。
D5とを気密封止をすることにより、素子の信頼性確保
が可能である。なお、本発明には、以下に示すような発
明が含まれている。
子と、前記対象物からの光を受光検出する受光素子と、
透光性を有する配線板とを具備し、前記発光素子及び前
記受光素子を、それぞれの発光部及び受光部を前記配線
板対向させて、前記配線板の前記対象物に対して反対側
の面に接合したことを特徴とする光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述した第1乃至第3の実
施の形態が対応する。
を有する配線板に対向して前記対象物と反対側の面に発
光素子、受光素子を接合することにより、両素子の表面
が配線板によって保護される。
に近いレベルまで小さくすることが可能であるため、占
有スペースの小さい実装を実現することができ、かつ光
半導体装置の機能を最適化することができる。
記受光素子に対向する部分に第1及び第2の透光部を有
する配線板であることを特徴とする(1)に記載の光半
導体装置。
関する実施の形態としては、前述した第1乃至第3の実
施の形態が対応する。
の第1及び第2の透光部に対向して前記対象物と反対側
の面に発光素子、受光素子を接合することにより、両素
子の表面が配線板によって保護される。
さい実装を実現することができ、かつ光半導体装置の機
能を最適化することができる。 (3)前記発光素子と前記受光素子が前記配線板および
樹脂材料により気密封止されていることを特徴とする
(1)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述した第1乃至第3の実
施の形態が対応する。
と同様に、占有スペースの小さい実装を実現することが
でき、かつ光半導体装置の機能を最適化することができ
る。
れるため、信頼性を向上させることが可能である。 (4)前記配線板が可撓性を有することを特徴とする
(1)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第1の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(1)と同様に、占
有スペースの小さい実装を実現することができ、かつ光
半導体装置の機能を最適化することができる。
素子を傾けることが容易にでき、例えば対象物から発光
素子への戻り光防止や受光素子への最適入射等、光学系
の構成の最適化が容易になる。
子の受光面が平行でないことを特徴とする(1)に記載
の光半導体装置。 (対応する発明の実施の形態)この発明に関する実施の
形態としては、前述した第1乃至第3の実施の形態が対
応する。
と同様に、占有スペースの小さい実装を実現することが
でき、かつ光半導体装置の機能を最適化することができ
る。
受光素子に最適に入射させる構成をとることが可能にな
る。 (6)前記配線板の前記発光素子搭載部分と前記受光素
子搭載部分とが所定の角度を有することを特徴とする
(5)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第1の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(1)と同様に、占
有スペースの小さい実装を実現することができ、かつ光
半導体装置の機能を最適化することができる。
受光素子に最適に入射させる構成をとることが可能にな
る。 (7)前記発光素子上に配置された光学素子と、前記配
線板に設けられた前記光学素子を挿入する凹部または貫
通穴を有することを特徴とする(1)に記載の光半導体
装置。
関する実施の形態としては、前述した第1及び第2の実
施の形態が対応する。
と同様に、占有スペースの小さい実装を実現することが
でき、かつ光半導体装置の機能を最適化することができ
る。
集積することによって、高機能な光半導体装置を実現す
ることができる。 (8)前記配線板がポリイミド配線フィルムであること
を特徴とする(1)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第1の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(1)と同様に、占
有スペースの小さい実装を実現することができ、かつ光
半導体装置の機能を最適化することができる。
板として一般的な材料で、化学的に安定な材料であるた
め封止にも適していて、光半導体装置の信頼性確保に効
果がある。
を有するため、光路途中に配置することが可能である。 (9)前記配線板がガラス配線板であることを特徴とす
る(1)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第2の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(1)と同様に、占
有スペースの小さい実装を実現することができ、かつ光
半導体装置の機能を最適化することができる。
べて透明度が高いため、発光素子の波長をより自由に選
定することができる。また、無機材料であるため化学的
に安定であり、光半導体装置の信頼性確保にも効果があ
る。
リシックに形成されていることを特徴とする(1)に記
載の光半導体装置。 (対応する発明の実施の形態)この発明に関する実施の
形態としては、前述の第3の実施の形態が対応する。
と同様に、占有スペースの小さい実装を実現することが
でき、かつ光半導体装置の機能を最適化することができ
る。
ガラス配線板を用いる場合に比べて配線板を薄くするこ
とが可能であり、発光素子と対象物の間隔を短くするこ
とが可能である。
るため、組立工程を減らすことができ、発光素子と受光
素子との相対位置決め精度の向上とコストの低減が可能
になる。
素子と、前記対象物からの光を受光検出する受光素子
と、前記発光素子および前記受光素子とを気密封止する
樹脂部材とからなる光半導体装置において、前記発光素
子および前記受光素子と前記対象物の間の前記樹脂部材
の外面が研磨面であり、該研磨面と前記発光素子の間隔
が所定値以下であることを特徴とする光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第4の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、発光素子および受光
素子とを気密封止をすることにより、光半導体装置の信
頼性の確保が可能である。
の肉厚を薄くすることが可能であるため、両素子と対象
物を近接させて、機能を最適化することが可能である。 (12)前記発光素子および前記受光素子が基板上に設
けられた凹部内に実装され、前記凹部内に前記樹脂部材
を充填することを特徴とする(11)に記載の光半導体
装置。
関する実施の形態としては、前述の第4の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(11)と同様に、
光半導体装置の信頼性の確保と機能の最適化が可能であ
る。
め、工程の簡略化が可能である。 (13)前記基板が単結晶シリコンで、前記凹部は異方
性エッチングにより形成されていることを特徴とする
(12)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第4の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(12)と同様に、
光半導体装置の信頼性の確保と機能の最適化が可能であ
る。
め、工程の簡略化が可能である。 (14)前記樹脂封止部材の表面に配線が形成されてい
ることを特徴とする(11)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第4の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(12)と同様に、
光半導体装置の信頼性の確保と機能の最適化が可能であ
る。
する必要がないため、発光素子と対象物を接近させて、
光半導体装置の機能の最適化が可能である。 (15)対象物に対して光を投射する発光素子と、前記
対象物からの光を受光検出する受光素子と、前記発光素
子と前記受光素子とを気密封止する樹脂部材とを具備す
る光半導体装置の製造方法において、前記発光素子及び
前記受光素子とを気密封止するように樹脂を充填するこ
とにより、前記樹脂部材を成形する工程と、前記発光素
子及び前記受光素子と前記対象物との間の前記樹脂部材
の外面を研磨することにより、前記樹脂部材の外面と前
記発光素子との距離を所定値以下にする工程とを具備す
ることを特徴とする光半導体装置の製造方法。
関する実施の形態としては、前述の第4の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、発光素子及び受光素
子とを気密封止をすることにより、高信頼性の光半導体
装置の製造が可能である。
の肉厚を薄くすることが可能であるため、両素子と対象
物を近接させて、機能を最適化した光半導体装置の製造
が可能である。
素子と、前記対象物からの光を受光検出する受光素子
と、前記発光素子及び受光素子とを実装する基板及び透
明板とを具備する光半導体装置であって、前記透明板が
前記発光素子の光出射部に接触せずに所定値以下の間隔
を有するように配置され、前記透明板と前記基板とによ
って前記発光素子及び前記受光素子とが気密封止されて
いることを特徴とする光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第5の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、発光素子及び受光素
子とを気密封止をすることにより、光半導体装置の信頼
性の確保が可能である。
封止部の肉厚を薄くすることが可能であるため、発光素
子と対象物を近接させて、機能を最適化することが可能
である。
て前記透明板が配置されていることを特徴とする(1
6)に記載の光半導体装置。 (対応する発明の実施の形態)この発明に関する実施の
形態としては、前述の第5の実施の形態が対応する。
6)と同様に、光半導体装置の信頼性の確保と機能の最
適化が可能である。
とにより、発光素子と封止面との間隔を正確に決定する
ことが可能である。 (18)前記基板が凹部を有し、前記受光素子、発光素
子が前記凹部内に実装され、前記透明板が基板表面に実
装されていることを特徴とする(16)に記載の光半導
体装置。
関する実施の形態としては、前述の第5の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(16)と同様に、
光半導体装置の信頼性の確保と機能の最適化が可能であ
る。
り、発光素子と封止面の間隔を正確に決定することが可
能である。 (19)前記基板が単結晶シリコンで、前記凹部が異方
性エッチングにより形成されたことを特徴とする(1
7)に記載の光半導体装置。
関する実施の形態としては、前述の第5の実施の形態が
対応する。 (作用・効果)この発明によれば、(16)と同様に、
光半導体装置の信頼性の確保と機能の最適化が可能であ
る。特に、凹部の深さを容易に精密に加工することが可
能なため、発光素子と封止面の間隔を正確に決定するこ
とが可能である。
て、占有スペースの小さい実装、封止方法を提案し、光
半導体装置の性能の最適化と信頼性の確保を小型である
という特徴を維持したまま実現することを可能とした光
半導体装置を提供することができる。
ある。
形態を示す図である。
イミド配線フィルム1の裏面側すなわちスケール3に対
して反対側の面の平面図を示す。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
ある。
ある。
ある。
例を示す図である。
例を示す図である。
例を示す図である。
図である。
例を示す図である。
例を示す図である。
例における透明板32とスペーサ33との作成法を示す
図である。
例における透明板32とスペーサ33との作成法の具体
例を示す図である。
例における透明板32とスペーサ33との作成法の別の
具体例を示す図である。
例を示す図である。
体までの距離等を検出するために使用されている従来の
光半導体装置の一例を示す図である。
ある
Claims (3)
- 【請求項1】 対象物に対して光を投射する発光素子
と、 前記対象物からの光を受光検出する受光素子と、 透光性を有する配線板とを具備し、 前記発光素子及び前記受光素子を、それぞれの発光部及
び受光部を前記配線板対向させて、前記配線板の前記対
象物に対して反対側の面に接合したことを特徴とする光
半導体装置。 - 【請求項2】 対象物に対して光を投射する発光素子
と、 前記対象物からの光を受光検出する受光素子と、 前記発光素子及び前記受光素子とを気密封止する樹脂部
材とを具備する光半導体装置であって、 前記発光素子及び前記受光素子と前記対象物の間の前記
樹脂部材の外面が研磨面であり、該研磨面と前記発光素
子との間隔が所定値以下であることを特徴とする光半導
体装置。 - 【請求項3】 対象物に対して光を投射する発光素子
と、 前記対象物からの光を受光検出する受光素子と、 前記発光素子及び受光素子とを実装する基板及び透明板
とを具備する光半導体装置であって、 前記透明板が前記発光素子の光出射部に接触せずに所定
値以下の間隔を有するように配置され、前記透明板と前
記基板とによって前記発光素子及び前記受光素子とが気
密封止されていることを特徴とする光半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28419296A JP3884112B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 光半導体装置及びその製造方法 |
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JP28419296A JP3884112B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 光半導体装置及びその製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10132558A true JPH10132558A (ja) | 1998-05-22 |
JP3884112B2 JP3884112B2 (ja) | 2007-02-21 |
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ID=17675369
Family Applications (1)
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JP (1) | JP3884112B2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
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-
1996
- 1996-10-25 JP JP28419296A patent/JP3884112B2/ja not_active Expired - Fee Related
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