JPH10132514A - 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置 - Google Patents

多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置

Info

Publication number
JPH10132514A
JPH10132514A JP8304034A JP30403496A JPH10132514A JP H10132514 A JPH10132514 A JP H10132514A JP 8304034 A JP8304034 A JP 8304034A JP 30403496 A JP30403496 A JP 30403496A JP H10132514 A JPH10132514 A JP H10132514A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
frequency
optical system
frequency modulation
optical path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8304034A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Tsukihara
浩一 月原
Hitoshi Kawai
斉 河井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP8304034A priority Critical patent/JPH10132514A/ja
Publication of JPH10132514A publication Critical patent/JPH10132514A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 正確な同軸性を確保しつつ周波数の異なる複
数の光を同一光路に沿って出力することのできる多波長
光源装置。 【解決手段】 周波数変換手段(32)により、光源
(31)からの第1の周波数を有する第1の光の一部を
第1の周波数とは異なる第2の周波数を有する第2の光
に変換し、第1の光と第2の光とを同一の光路に沿って
出力する。次いで、周波数変調手段(101)により、
同一の光路に沿って出力された第1の光および第2の光
をそれぞれ所定の周波数だけ周波数変調して第3の光お
よび第4の光を生成し、生成された第3の光と第4の光
とを同一の光路に沿って出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は多波長光源装置およ
び該光源装置を備えた光波干渉測定装置に関し、特にヘ
テロダイン干渉方式を用いて高精度な変位計測を行う光
波干渉測定装置のために周波数の異なる複数の光を同一
光路に沿って出力する多波長光源装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図16は、従来の多波長光源装置を備え
た光波干渉測定装置の構成を概略的に示す図である。図
16の光波干渉測定装置は、移動鏡5の光軸方向(図中
矢印方向)の変位量を測長するための測長用干渉計を備
えている。測長用干渉計において、測長用光源1は、周
波数が互いにわずかに異なり、偏光方位が互いに直交し
た周波数ω1の光と周波数ω1'の光とを射出する。
【0003】この2つの異なる周波数の光は、ビームス
プリッタ2を介して偏光ビームスプリッタ3に入射し、
周波数ω1'の光と周波数ω1 の光とに分離される。周波
数ω1'の光は参照光となり、固定鏡4で反射された後、
再び偏光ビームスプリッタ3に戻る。また、周波数ω1
の光は測定光となり、移動鏡5で反射された後、再び偏
光ビームスプリッタ3に戻る。偏光ビームスプリッタ3
に戻った測定光と参照光とは、同一光路に沿って偏光ビ
ームスプリッタ3から射出され、偏光板6を介して干渉
する。偏光板6を介して生成された干渉光は、光電変換
素子7で受光される。光電変換素子7で変換された測定
ビート信号は、位相計10に入力される。
【0004】一方、測長用光源1から射出された周波数
ω1 の光および周波数ω1'の光のうちの一部はビームス
プリッタ2によって反射され、偏光板8を介して干渉す
る。偏光板8を介して生成された干渉光は光電変換素子
9によって検出され、参照ビート信号として位相計10
に入力される。位相計10は、参照ビート信号に対する
測定ビート信号の位相変化を測定することによって移動
鏡5の変位量D(ω1 )を求め、その変位量情報に関す
る信号を演算器11に出力する。
【0005】ところで、光波の干渉による測長を精密
(高精度)に行うためには、光路中の空気(またはその
他の気体)の屈折率変動を無視することができない。そ
こで、従来の多波長光源装置を備えた光波干渉測定装置
は、光路中の空気の屈折率変動を測定するヘテロダイン
干渉方式を用いた屈折率変動測定系を備えている。屈折
率変動測定系を備えた光波干渉測定装置では、上述の測
長用干渉計で測定した移動鏡5の変位量D(ω1 )か
ら、測定光路および参照光路中の空気の屈折率変動の影
響を補正し、移動鏡5の真の変位量Dを求める。
【0006】屈折率変動測定系は、周波数ω2 の光と、
周波数ω2 の光の2倍の周波数を有する周波数ω3 の光
(ω3 =2ω2 )とを間隔を隔てて互いに平行に射出す
る光源151を備えている。光源151から射出された
周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、音響光学素子
154および152にそれぞれ入射する。音響光学素子
154に入射した周波数ω2 の光は、周波数ω2 からわ
ずかに周波数のずれた周波数ω2'の光(ω2'=ω2 +Δ
ω2 )に周波数変調される。また、音響光学素子152
に入射した周波数ω3 の光は、周波数ω3 からわずかに
周波数のずれた周波数ω3'の光(ω3'=ω3 +Δω3
に周波数変調される。
【0007】音響光学素子152を介した周波数ω3'の
光は反射鏡153を介して、音響光学素子154を介し
た周波数ω2'の光は直接に、それぞれダイクロイックミ
ラー155に入射する。こうして、ダイクロイックミラ
ー155を介して同軸に(同一の光路に沿って)結合さ
れた周波数ω2'の光および周波数ω3'の光は、もう1つ
のダイクロイックミラー33に入射する。ダイクロイッ
クミラー33で反射された周波数ω2'の光および周波数
ω3'の光は、偏光ビームスプリッタ3に入射する。この
ように、光源151、音響光学素子152および15
4、反射鏡153、およびダイクロイックミラー155
は、周波数の異なる複数の光を同一光路に沿って出力す
る多波長光源装置150を構成している。
【0008】周波数ω2'の光および周波数ω3'の光は、
偏光ビームスプリッタ3によって、固定鏡4側に反射さ
れる光(参照光)と移動鏡5側へ透過する光(測定光)
とに分割される。参照光と測定光とは、その偏光方位が
互いに直交しているが、いずれも周波数ω2'の光および
周波数ω3'の光をそれぞれ含んでいる。その後、固定鏡
4および移動鏡5でそれぞれ反射された参照光および測
定光は、偏光ビームスプリッタ3に入射して結合され、
同一光路に沿って射出される。偏光ビームスプリッタ3
で結合された参照光および測定光は、ダイクロイックミ
ラー34で反射され、偏光ビームスプリッタ35に入射
する。偏光ビームスプリッタ35は、移動鏡5で反射さ
れた測定光(周波数ω2'の光および周波数ω3'の光)を
透過し、固定鏡4で反射された参照光(周波数ω2'の光
および周波数ω3'の光)を反射する。
【0009】偏光ビームスプリッタ35を透過した周波
数ω2'の光および周波数ω3'の光のうちの周波数の小さ
い周波数ω2'の光は、第2高調波変換素子(以下、「S
HG変換素子」という)36によって周波数ω3'' (ω
3'' =2ω2')の光に変換される。一方、周波数ω3'の
光は、SHG変換素子36をそのまま透過する。その結
果、SHG変換素子36によって周波数ω2'から周波数
ω3'' に変換された光と移動鏡5で反射された周波数ω
3'の光とが干渉し、その干渉光が光電変換素子37によ
って検出される。また、偏光ビームスプリッタ35で反
射された周波数ω2'の光および周波数ω3'の光について
も、SHG変換素子38の作用により、周波数ω2'から
周波数ω3'' に変換された光と固定鏡4で反射された周
波数ω3'の光との干渉光が光電変換素子39で検出され
る。
【0010】光電変換素子37で検出された干渉信号す
なわち測定信号および光電変換素子39で検出された干
渉信号すなわち参照信号は、それぞれ位相計40に入力
される。位相計40では、参照信号と測定信号との位相
変化に基づいて、周波数ω3の光に対する光路長変化D
(ω3 )と周波数ω2 の光に対する光路長変化D
(ω2 )との差すなわち{D(ω3 )−D(ω2 )}を
求める。位相計40で求められた{D(ω3 )−D(ω
2 )}に関する信号は、演算器11に供給される。演算
器11では、位相計40からの{D(ω3 )−D
(ω2 )}に関する信号に基づいて、測長用光源1を用
いた測長用干渉計で測定した移動鏡5の変位量D
(ω1 )を補正し、真の変位量(幾何学的な距離)Dが
求められる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の多波長光源装置を備えた光波干渉測定装置では、光源
151が周波数ω2 の光と周波数ω3 の光とを互いに間
隔を隔てて平行に射出している。したがって、光源15
1の製造誤差により初期的に、また装置の作動により経
時的に、周波数ω2 の光の射出方向と周波数ω3 の光の
射出方向とが互いに独立に変動する可能性がある。すな
わち、光源151から射出される周波数ω2 の光と周波
数ω3 の光との間に正確な平行性を確保することができ
ず、その結果、従来の多波長光源装置150から射出さ
れる周波数ω2'の光と周波数ω3'の光との間に正確な同
軸性を確保することができない。
【0012】なお、従来の多波長光源装置を備えた光波
干渉測定装置では、周波数ω2 の光で測定した移動鏡の
変位量と周波数ω3 の光で測定した移動量の変位量の
差、すなわち2つの異なる周波数の光の光路長差に基づ
いて、測定光路および参照光路中の空気の屈折率変動の
影響を求めている。したがって、移動鏡の変位量を高精
度に測定するには、周波数ω2 の光と周波数ω3 の光と
の同軸性を正確に確保しなければならない。同軸性を正
確に確保することができない場合、それぞれの周波数の
光で測定した移動鏡の変位量にそれぞれ独立な誤差が生
じ、2つの異なる周波数の光の光路長差を正確に求める
ことができない。その結果、光路中の空気の屈折率変動
を高精度に測定することができず、光波干渉測定装置の
測定精度が低下するという不都合があった。
【0013】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであり、正確な同軸性を確保しつつ周波数の異なる複
数の光を同一光路に沿って出力することのできる多波長
光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置を
提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明において、第1の周波数を有する第1の光を
供給するための光源と、前記光源からの前記第1の光の
一部を前記第1の周波数とは異なる第2の周波数を有す
る第2の光に変換し、前記第1の光と前記第2の光とを
同一の光路に沿って出力するための周波数変換手段と、
前記周波数変換手段から同一の光路に沿って出力された
前記第1の光および前記第2の光をそれぞれ所定の周波
数だけ周波数変調して第3の光および第4の光を生成
し、生成された前記第3の光と前記第4の光とを同一の
光路に沿って出力するための周波数変調手段とを備えて
いることを特徴とする多波長光源装置を提供する。
【0015】本発明の好ましい態様によれば、前記周波
数変換手段は、前記第1の光の一部を高調波に変換し、
該高調波を前記第2の光として出力するための高調波変
換素子である。また、前記周波数変調手段は、前記第1
の光および前記第2の光をそれぞれ所定の周波数だけ周
波数変調するための少なくとも1つの周波数変調素子
と、前記少なくとも1つの周波数変調素子を介して生成
された前記第3の光と前記第4の光とを同一の光路に沿
って結合させるための補正光学系とを有することが好ま
しい。
【0016】また、本発明の好ましい態様によれば、前
記補正光学系は、前記周波数変調素子を介して生成され
た前記第3の光および前記第4の光を屈折または回折す
ることによって間隔を隔てて互いに平行な光に変換する
ための屈折光学系または回折光学系と、該屈折光学系ま
たは回折光学系を介して互いに平行に変換された前記第
3の光と前記第4の光とを同一の光路に沿って結合させ
るための周波数結合素子とを有する。あるいは、前記補
正光学系は、前記周波数変調素子の入射側に設けられた
第1補正光学系と、前記周波数変調素子の射出側に設け
られた第2補正光学系とを有し、前記第1補正光学系
は、同一の光路に沿って前記周波数変調手段に入射した
前記第1の光および前記第2の光を回折または屈折する
ための回折光学系または屈折光学系であり、前記第2補
正光学系は、前記周波数変調素子を介して生成された前
記第3の光および前記第4の光を回折または屈折するこ
とによって前記第3の光と前記第4の光とを同一光路に
沿って結合するための回折光学系または屈折光学系であ
ることが好ましい。
【0017】また、本発明の別の局面によれば、参照光
路と移動鏡を含む測定光路とを有し、所定方向に沿った
移動鏡の変位量を測定するための測長用干渉計と、該測
長用干渉計の光路中の気体の屈折率変動を測定するため
の屈折率変動測定系と、該屈折率変動測定系のために周
波数の異なる2つの光を同一の光路に沿って出力するた
めの多波長光源装置とを備え、前記測長用干渉計で測定
した前記移動鏡の変位量を前記屈折率変動測定系で測定
した前記光路中の気体の屈折率変動情報に基づいて補正
することによって前記移動鏡の幾何学的変位量を測定す
る光波干渉測定装置において、前記多波長光源装置は、
第1の周波数を有する第1の光を供給するための光源
と、前記光源からの前記第1の光の一部を前記第1の周
波数とは異なる第2の周波数を有する第2の光に変換
し、前記第1の光と前記第2の光とを同一の光路に沿っ
て出力するための周波数変換手段と、前記周波数変換手
段から同一の光路に沿って出力された前記第1の光およ
び前記第2の光をそれぞれ所定の周波数だけ周波数変調
して第3の光および第4の光を生成し、生成された前記
第3の光と前記第4の光とを同一の光路に沿って出力す
るための周波数変調手段とを有し、前記屈折率変動測定
系は、前記測長用干渉計の前記測定光路を介した前記第
3の光および前記第4の光のうちの一方の光の周波数を
他方の光の周波数とほぼ一致させることによってヘテロ
ダイン干渉による第1干渉光を生成するための第1干渉
光生成系と、前記測長用干渉計の前記参照光路を介した
前記第3の光および前記第4の光のうち一方の光の周波
数を他方の光の周波数とほぼ一致させることによってヘ
テロダイン干渉による第2干渉光を生成するための第2
干渉光生成系とを有し、前記第1干渉光および前記第2
干渉光に基づいて前記測長用干渉計の光路中の気体の屈
折率変動を測定し、補正することを特徴とする光波干渉
測定装置を提供する。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の多波長光源装置および該
光源装置を備えた屈折率変動測定系を有する光波干渉測
定装置では、1つの光源から射出された第1の周波数を
有する第1の光に基づいて、その第1の光の一部をたと
えば第2高調波変換素子(SHG変換素子)のような周
波数変換手段の作用により、第1の周波数とは異なる第
2の周波数を有する第2の光を生成し、第1の光の残部
と第1の光から変換された第2の光とを同一の光路に沿
って出力する。次いで、たとえば音響光学素子のような
周波数変調素子の作用により、第1の光および第2の光
をそれぞれ所定の周波数だけ周波数変調して第3の光お
よび第4の光を生成する。生成された第3の光と第4の
光とは、たとえば屈折光学系と周波数結合素子とからな
る補正光学系の作用により、同一の光路に沿って屈折率
変動を測定すべき所定光路に導かれる。
【0019】このように、本発明では、光源からの第1
の光の射出方向が設計光軸に対して変動しても、屈折率
変動を測定すべき所定光路に導かれる第3の光および第
4の光は、光源からの第1の光の射出方向の変動の影響
を互いに同じように受けることになる。その結果、第3
の光および第4の光の進行方向が設計光軸に対して変動
することはあっても、第3の光と第4の光とは同一の光
路に沿って屈折率変動を測定すべき所定光路中を伝搬す
る。すなわち、光源からの第1の光の射出方向の変動の
影響を受けることなく第3の光と第4の光との同軸性を
正確に確保することができるので、ヘテロダイン干渉方
式を用いて光路中の空気の屈折率変動を高精度に測定す
ることができる。
【0020】以下、本発明の実施例を、添付図面に基づ
いて説明する。図1は、本発明の実施例にかかる多波長
光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置の
構成を概略的に示す図である。また、図2は、図1の周
波数変調部101の内部構成を概略的に示す図である。
図1の光波干渉測定装置は、光路中の空気(またはその
他の気体)の屈折率変動を測定するための屈折率変動測
定系を備えている。屈折率変動測定系において、光源3
1から射出された周波数ω2 の光はSHG変換素子32
に入射し、周波数ω2 の光の一部がSHG変換素子32
により周波数ω3 (ω3 =2ω2 )の光に変換され、そ
の残部がSHG変換素子32をそのまま透過する。SH
G変換素子32から射出された周波数ω2 の光および周
波数ω3 の光は、同一光路に沿って同軸で周波数変調部
101に入射する。
【0021】なお、SHG変換素子32には、例えば非
線形光学結晶KTiOPO4 を用いることができる。ま
た、SHG変換素子32によってSHG変換された周波
数ω3 の光の偏光方位は、SHG変換素子32に入射し
てそのまま透過する周波数ω2 の光の偏光方位とは異な
る。そこで、図1では図示を省略しているが、たとえば
SHG変換素子32と周波数変調部101との間には、
周波数ω2 の光の偏光方位と周波数ω3 の光の偏光方位
とを一致させるための光学系(複数個の波長板)が配置
されている。
【0022】図2を参照すると、同一の光路に沿って同
軸で周波数変調部101に入射した周波数ω2 の光およ
び周波数ω3 の光は、周波数変調素子としての音響光学
素子120に入射する。音響光学素子120では、音響
光学媒体に伝搬される超音波によって、音響光学媒体中
に周期的な屈折率変化が生じる。その結果、音響光学素
子120は回折格子の機能を発揮し、音響光学素子12
0への入射光は超音波の周波数に応じてラマン・ナース
回折を受ける。以下、本発明の実施例および各変形例に
おいて特に断りのない限り、音響光学素子への入射光は
ラマン・ナース回折を受けるものとする。ラマン・ナー
ス回折の回折角は、入射光の有する周波数と超音波の周
波数とに依存する。したがって、周波数ω2 の光と周波
数ω3 の光とでは、周波数が互いに異なるため、その回
折角も互いに異なる。
【0023】ここで、音響光学媒体を伝搬する超音波の
周波数をΔfとし、周波数ω2 の光に対しては音響光学
素子120の回折光のうち−1次回折光を用い、周波数
ω3の光に対しては音響光学素子120の回折光のうち
+1次回折光を用いるものとする。この場合、音響光学
素子120に入射した周波数ω2 の光は、周波数ω2'
(=ω2 +Δf)の光200に周波数変調され且つ所定
の回折角で回折される。また、音響光学素子120に周
波数ω3 の光は、周波数ω3'(=ω3 +Δf)の光30
0に周波数変調され且つ所定の回折角で回折される。音
響光学素子120を介した周波数ω2'の光200および
周波数ω3'の光300は、たとえば正レンズからなるコ
リメートレンズ52により互いに平行な光になる。
【0024】ここで、コリメートレンズ52は、周波数
ω2'の光と周波数ω3'の光とに対して軸上色収差が良好
に補正されている必要がある。コリメートレンズ52を
介した周波数ω2'の光200および周波数ω3'の光30
0は、互いに平行な光路に沿って、ダイクロイックプリ
ズム53に入射する。こうして、周波数ω2'の光200
と周波数ω3'の光300とは、ダイクロイックプリズム
53の作用により同軸に結合され、同一の光路に沿って
周波数変調部101から射出される。
【0025】なお、コリメートレンズ52とダイクロイ
ックプリズム53との間の光路中に、周波数ω2'の光2
00および周波数ω3'の光300だけを通過させる絞り
51aを挿入することにより、音響光学素子120で生
じた0次光などの背景光を遮断することができる。この
ように、屈折光学系であるコリメートレンズ52および
周波数結合素子であるダイクロイックプリズム53は、
音響光学素子120を介した周波数ω2'の光200と周
波数ω3'の光300とを同一の光路に沿って結合するた
めの補正光学系を構成している。また、光源31、SH
G変換素子32および周波数変調部101は、互いに異
なる周波数を有する周波数ω2'の光200と周波数ω3'
の光300とを同一の光路に沿って出力するための多波
長光源装置103を構成している。
【0026】再び図1を参照すると、多波長光源装置1
03から同一光路に沿って同軸に射出された周波数ω2'
の光および周波数ω3'の光は、周波数変調部101で生
じた不要光(後述する不要な回折光)を遮断する絞り5
1を介して、たとえばダイクロイックミラーからなる周
波数結合素子33によって反射され、後述する測長用光
源1からの光(周波数ω1 近傍の光)と同一光路上に結
合される。なお、周波数結合素子33は、周波数ω1
傍の光のみを透過し、それ以外の周波数の光を反射する
特性を有する。
【0027】周波数結合素子33で反射された周波数ω
2'の光および周波数ω3'の光は、偏光ビームスプリッタ
のような偏光分離素子3に入射する。偏光ビームスプリ
ッタ3は、周波数ω2'の光および周波数ω3'の光の偏光
方位に対して45°だけ傾いて配置されている。したが
って、偏光ビームスプリッタ3に入射した光は、2つの
異なる周波数の光、すなわち偏光ビームスプリッタ3で
反射されて固定鏡4に導かれる参照光と、偏光ビームス
プリッタ3を透過して移動鏡5に導かれる測定光とに分
割される。このように、参照光と測定光とは偏光方位が
互いに直交しており、いずれも周波数ω2'の光および周
波数ω3'の光の双方を含んでいる。
【0028】偏光ビームスプリッタ3で反射された参照
光(周波数ω2'の光および周波数ω3'の光)は、コーナ
キューブプリズムからなる固定鏡4で反射された後、再
び偏光ビームスプリッタ3に戻る。すなわち、参照光路
を通る。他方、偏光ビームスプリッタ3を透過した測定
光(周波数ω2'の光および周波数ω3'の光)も移動台
(不図示)に取り付けられたコーナキューブプリズムか
らなる移動鏡5で反射され、再び偏光ビームスプリッタ
3に戻る。すなわち、測定光路を通る。
【0029】こうして、参照光路を介して偏光ビームス
プリッタ3から射出された周波数ω2'の光および周波数
ω3'の光と、測定光路を介して偏光ビームスプリッタ3
から射出された周波数ω2'の光および周波数ω3'の光と
は、同一の光路に沿って周波数分離素子34に入射す
る。周波数分離素子34は周波数結合素子33と同様
に、たとえばダイクロイックミラーで構成され、周波数
がω1 近傍の光のみを透過し、他の周波数の光を反射す
る特性を有する。したがって、周波数ω2'の光および周
波数ω3'の光は、周波数分離素子34の作用により、後
述する測長用光源1からの光(周波数ω1 近傍の光)か
ら分離される。
【0030】周波数分離素子34で反射された周波数ω
2'の光と周波数ω3'の光、すなわち参照光路を介した周
波数ω2'の光および周波数ω3'の光と、測定光路を介し
た周波数ω2'の光および周波数ω3'の光とは、同一の光
路に沿って、たとえば偏光ビームスプリッタからなる偏
光分離素子35に入射する。偏光分離素子35は、移動
鏡5で反射された測定光(周波数ω2'の光および周波数
ω3'の光)を透過し、固定鏡4で反射された参照光(周
波数ω2'の光および周波数ω3'の光)を反射する。
【0031】偏光分離素子35を透過した周波数ω2'の
光および周波数ω3'の光のうちの周波数の小さい周波数
ω2'の光は、SHG変換素子36によって周波数ω3''
(ω3'' =2ω2')の光に変換される。一方、周波数の
大きい周波数ω3'の光は、SHG変換素子36をそのま
ま透過する。その結果、SHG変換素子36によって周
波数ω2'から周波数ω3'' に変換された光と移動鏡5で
反射された周波数ω3'の光とが干渉し、その干渉光が光
電変換素子37によって検出される。また、偏光分離素
子35で反射された周波数ω2'の光および周波数ω3'の
光についても、SHG変換素子38の作用により、周波
数ω2'から周波数ω3'' に変換された光と固定鏡4で反
射された周波数ω3'の光との干渉光が光電変換素子39
で検出される。
【0032】なお、SHG変換素子36および38によ
ってSHG変換された周波数ω3''の光の偏光方位は、
SHG変換素子36および38をそのまま透過した周波
数ω3'の光の偏光方位とは異なる。SHG変換素子36
および38によってSHG変換された周波数ω3'' の光
とSHG変換素子36および38をそのまま透過した周
波数ω3'の光との干渉光をできるだけ強くさせるには、
2つの異なる周波数の光の偏光方位を互いに一致させな
ければならない。したがって、図1では図示を省略して
いるが、SHG変換素子36および38の前に、2つの
異なる周波数の光の偏光方位を調節するための光学系
(複数個の波長板)を配置する必要がある。
【0033】光電変換素子37で検出された干渉信号す
なわち測定信号および光電変換素子39で検出された干
渉信号すなわち参照信号は、それぞれ位相計40に入力
される。位相計40では、参照信号と測定信号との位相
変化に基づいて、周波数ω3の光に対する光路長変化D
(ω3 )と周波数ω2 の光に対する光路長変化D
(ω2 )との差すなわち{D(ω3 )−D(ω2 )}を
求める。位相計40で求められた{D(ω3 )−D(ω
2 )}に関する信号は、演算器11に供給される。
【0034】また、図1の光波干渉測定装置は、移動鏡
5の光軸方向(図中矢印方向)の変位量を測長するため
の測長用干渉計を備えている。測長用干渉計において、
測長用光源1は、周波数が互いにわずかに異なり且つ偏
光方位が互いに直交する2つの光、すなわち周波数ω1
の光および周波数ω1'(ω1'=ω1 +Δω1 )の光を同
一光路に沿って射出する。測長用光源1から射出された
この直交2周波光の一部は、ビームスプリッタ2を透過
した後、周波数結合素子33に入射する。なお前述した
ように、周波数結合素子33は、周波数ω1 近傍の光の
みを透過し、それ以外の周波数の光を反射する特性を有
する。
【0035】したがって、周波数結合素子33を透過し
た周波数ω1 の光および周波数ω1'の光は、偏光ビーム
スプリッタ3に入射する。偏光ビームスプリッタ3は、
周波数ω1'の光と同一な偏光方位の光を反射し、周波数
ω1 の光と同一な偏光方位の光を透過するように配置さ
れている。したがって、偏光ビームスプリッタ3に入射
した周波数ω1 の光および周波数ω1'の光のうち周波数
ω1'の光は、偏光ビームスプリッタ3で反射され、参照
光としてコーナキューブプリズムからなる固定鏡4に導
かれる。一方、周波数ω1 の光および周波数ω1'の光の
うち周波数ω1の光は、偏光ビームスプリッタ3を透過
し、測定光としてコーナキューブプリズムからなる移動
鏡5に導かれる。
【0036】参照光は、固定鏡4で反射された後、再び
偏光ビームスプリッタ3に戻る。また、偏光ビームスプ
リッタ3を透過した測定光も移動鏡5で反射され、再び
偏光ビームスプリッタ3に戻る。こうして、参照光路を
介して偏光ビームスプリッタ3から射出された周波数ω
1'の光と、測定光路を介して偏光ビームスプリッタ3か
ら射出された周波数ω1 の光とは、同一の光路に沿って
周波数分離素子34に入射する。前述したように、周波
数分離素子34は、周波数がω1 近傍の光のみを透過
し、他の周波数の光を反射する特性を有する。したがっ
て、周波数ω1'の参照光および周波数ω1 の測定光は、
周波数分離素子34を透過する。周波数分離素子34を
透過した周波数ω1'の参照光と周波数ω1 の測定光と
は、偏光素子6を介して干渉する。なお、偏光素子6
は、たとえば周波数ω1 の光および周波数ω1'の光の偏
光方位に対して45°だけ傾いて配置された偏光板から
構成されている。偏光素子6を介して生成された干渉光
は光電変換素子7で受光され、光電変換素子7は干渉光
に基づく測定ビート信号(周波数Δω1 )を位相計10
に供給する。
【0037】一方、測長用光源1から射出された周波数
ω1'の光および周波数ω1 の光の一部は、ビームスプリ
ッタ2によって反射された後、偏光素子8に入射する。
なお、偏光素子8は、偏光素子6と同様に、周波数ω1'
の光と周波数ω1 の光とを干渉させるための偏光板であ
る。したがって、偏光素子8を介して生成された周波数
ω1'の光と周波数ω1 の光との干渉光は、光電変換素子
9によって検出される。光電変換素子9は、周波数ω1'
の光と周波数ω1 の光との干渉光に基づく参照ビート信
号(周波数Δω1 )を位相計10に供給する。位相計1
0では、参照ビート信号に対する測定ビート信号の位相
変化を測定することによって屈折率変動の影響を考慮し
ていない移動鏡5の変位量D(ω1 )を求め、この変位
量D(ω1 )に関する信号を演算器11に供給する。
【0038】演算器11では、位相計10からの変位量
D(ω1 )に関する信号と位相計40からの{D
(ω3 )−D(ω2 )}に関する信号とに基づいて、測
定光路および参照光路中の屈折率変動に起因する測定誤
差を補正した移動鏡5の真の変位量Dを求めて出力す
る。以下、移動鏡5の変位量D(ω1 )から真の変位量
Dへの補正について説明する。周波数ω1 、ω2 および
ω3 の光に対する光路長変化D(ω1 )、D(ω2 )お
よびD(ω3 )は、それぞれ次の式(1)乃至(3)に
より表される。
【0039】
【数1】 D(ω1 )=〔1+N・F(ω1 )〕・D ・・・(1)
【数2】 D(ω2 )=〔1+N・F(ω2 )〕・D ・・・(2)
【数3】 D(ω3 )=〔1+N・F(ω3 )〕・D ・・・(3)
【0040】ここで、Dは幾何学的な距離であり、Nは
空気の密度である。また、F(ω)は、空気の構成比が
不変であれば空気の密度に依存することなく光の周波数
ωのみに依存する関数である。上述の式(1)乃至
(3)より、幾何学的距離Dは次の式(4)によって与
えられる。
【数4】 D=D(ω1 )−A〔D(ω3 )−D(ω2 )〕・・・(4) 但し、A=F(ω1 )/〔F(ω3 )−F(ω2 )〕で
ある。
【0041】式(4)の右辺第2項の{D(ω3 )−D
(ω2 )}は、上述したように、位相計40によって求
めることができる。また、右辺第1項のD(ω1 )は、
位相計10によって求めることができる。したがって、
演算器11では、位相計40の出力信号と位相計10の
出力信号とに基づいて、式(4)の演算式により、測長
用干渉計で測定した変位量D(ω1 )を補正し、移動鏡
5の真の変位量Dを求めることができる。
【0042】本実施例の多波長光源装置103では、光
源31から射出された周波数ω2 の光に基づき、SHG
変換素子32を介して、周波数ω2 の光および周波数ω
3 の光が同一の光路に沿って同軸に生成される。同軸に
生成された周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、周
波数変調部101の作用により、それぞれ周波数ω2'の
光および周波数ω3'の光に周波数変調された後、同一の
光路に沿って同軸に射出される。したがって、本実施例
の多波長光源装置では、光源31からの周波数ω2 の光
の射出方向が設計光軸に対して変動しても、周波数変調
部101から射出される周波数ω2'の光および周波数ω
3'の光は、周波数ω2 の光の射出方向の変動の影響を互
いに同じように受けることになる。
【0043】その結果、本実施例の多波長光源装置を備
えた光波干渉測定装置では、周波数ω2'の光および周波
数ω3'の光の進行方向が設計光軸に対して変動すること
はあっても、周波数ω2'の光と周波数ω3'の光とは同一
の光路に沿って屈折率を測定すべき光路中を伝搬する。
すなわち、周波数ω2'の光と周波数ω3'の光との同軸性
を正確に確保することができるので、光源31からの周
波数ω2 の光の射出方向の変動の影響を受けることな
く、{D(ω3 )−D(ω2 )}を高精度に求めること
ができる。こうして、本実施例では、光源からの光の射
出方向の変動の影響を受けることなく周波数ω2'の光と
周波数ω3'の光との同軸性を正確に確保することができ
るので、ヘテロダイン干渉方式を用いて光路中の空気の
屈折率変動を高精度に測定することができ、光波干渉測
定装置の測定精度を向上させることができる。
【0044】図3は、図1の周波数変調部101の第1
変形例の構成を概略的に示す図である。図3の第1変形
例の構成は図2の実施例の構成と類似しているが、図2
のコリメートレンズ52を回折格子54で置換している
点が基本的に相違している。したがって、第1変形例で
は、同一の光路に沿って同軸で周波数変調部101に入
射した周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、音響光
学素子121を介して周波数ω2'の光201(−1次回
折光)および周波数ω3'の光301(+1次回折光)と
なって、回折格子54に入射する。なお、周波数ω2'の
光に対する回折格子54の回折角は、2倍の周波数を有
する周波数ω3'の光に対する同次数の回折角の約2倍で
ある。
【0045】そこで、第1変形例では、音響光学素子1
21で回折された周波数ω2'の光201と周波数ω3'の
光301とが回折格子54を介して間隔を隔てて互いに
平行になるように、音響光学素子121の回折角に応じ
て回折格子54のピッチを規定している。こうして、音
響光学素子121を介した互いに平行な周波数ω2'の光
201および周波数ω3'の光301は、周波数結合素子
であるダイクロイックプリズム55を介して同軸に結合
される。ここで、回折格子54とダイクロイックプリズ
ム55との間に配置され周波数ω2'の光201および周
波数ω3'の光301だけを通過させる絞り51bの作用
により、音響光学素子121で生じた0次光などの背景
光を遮断することができる。なお、回折格子54は、振
幅型でも良いし、位相型でも良い。第1変形例では、回
折格子54の設計光軸に対する所要偏心精度が比較的緩
い点が有利である。
【0046】図4は、図1の周波数変調部101の第2
変形例の構成を概略的に示す図である。図4の第2変形
例の構成は図2の実施例の構成と類似しているが、図2
のコリメートレンズ52に代えてビームエクスパンダ
(56、57)を用いている点が基本的に相違してい
る。図2の実施例において、コリメートレンズ52だけ
では周波数ω2'の光200と周波数ω3'の光300とを
十分な間隔を隔てて分離することができない場合があ
る。そこで、第2変形例では、一対の正レンズ56と5
7とからなるビームエクスパンダを用いている。
【0047】第2変形例の構成により、音響光学素子1
22を介した周波数ω2'の光202(−1次回折光)と
周波数ω3'の光302(+1次回折光)とを十分に間隔
を隔てて分離することができる。ビームエクスパンダ
(56、57)を介した周波数ω2'の光202と周波数
ω3'の光302とは、周波数結合素子であるダイクロイ
ックプリズム59を介して同軸に結合される。ここで、
ビームエクスパンダ(56、57)とダイクロイックプ
リズム59との間に配置され周波数ω2'の光202およ
び周波数ω3'の光302だけを通過させる絞り51cの
作用により、音響光学素子122で生じた0次光などの
背景光を遮断することができる。なお、一対の正レンズ
56および57からなるビームエクスパンダは、周波数
ω2'の光と周波数ω3'の光とに対して軸上色収差が良好
に補正されている必要がある。
【0048】図5は、図1の周波数変調部101の第3
変形例の構成を概略的に示す図である。図5の第3変形
例の構成は図2の実施例の構成と類似しているが、図2
のコリメートレンズ52に代えて分散プリズム(くさび
状のプリズム)60を用いている点が基本的に相違して
いる。第3変形例において、音響光学素子123を介し
た周波数ω2'の光203(+1次回折光)および周波数
ω3'の光303(+1次回折光)は、分散プリズム60
の作用により間隔を隔てた互いに平行な光となる。分散
プリズム60を介した周波数ω2'の光203および周波
数ω3'の光303は、周波数ω2'の光を透過させ且つ周
波数ω3'の光を反射する周波数結合素子であるダイクロ
イックプリズム61により同軸に結合される。ここで、
分散プリズム60とダイクロイックプリズム61との間
に配置され周波数ω2'の光203および周波数ω3'の光
303だけを通過させる絞り51dの作用により、音響
光学素子122で生じた0次光などの背景光を遮断する
ことができる。なお、屈折光学系である分散プリズム6
0の頂角(くさびの角度)は、音響光学素子123にお
ける各周波数の光の所定の回折角に応じて設定されてい
る。
【0049】図6は、図1の周波数変調部101の第4
変形例の構成を概略的に示す図である。第4変形例で
は、互いに同じピッチを有する一対の回折格子62と6
3との間の光路中に音響光学素子124を設けている。
したがって、回折格子62に同軸で入射した周波数ω2
の光および周波数ω3 の光は、互いに異なる回折角で回
折され、周波数ω2 の光204および周波数ω3 の光3
04となって射出される。なお、周波数ω2 の光に対す
る回折格子62の回折角は、周波数ω3 の光に対する同
次数の回折角のほぼ2倍である。周波数ω2 の光204
は周波数ω2 近傍の光のみを透過させる周波数フィルタ
97aを介して、周波数ω3 の光304は周波数ω3
傍の光のみを透過させる周波数フィルタ96aを介し
て、音響光学素子124にそれぞれ入射する。こうし
て、互いに異なる角度で音響光学素子124に入射した
周波数ω2 の光204および周波数ω3 の光304は、
音響光学素子124で周波数変調されるとともに回折さ
れた後、周波数ω2'の光205(−2次回折光)および
周波数ω3'の光305(+2次回折光)となって射出さ
れる。
【0050】なお、周波数ω2 の光204の入射角と周
波数ω2'の光205の回折角とが等しく、周波数ω3
光304の入射角と周波数ω3'の光305の回折角とが
等しくなるように、一対の回折格子62および63のピ
ッチが音響光学素子124における各周波数の光の所定
の回折角に依存して設定されている。その結果、音響光
学素子124に関して回折格子62と対称の位置に配置
され且つ回折格子62と同じピッチを有する回折格子6
3の作用により、周波数ω2'の光205と周波数ω3'の
光305とは同軸に結合される。なお、音響光学素子1
24と回折格子63との間の光路中に、周波数ω2'の光
205および周波数ω3'の光305だけを通過させる絞
り51eを挿入することにより、音響光学素子124で
生じた0次光などの背景光を遮断することができる。こ
のように、第4変形例では、第1、第2および第3変形
例で示したダイクロイックプリズムのような周波数結合
素子を用いることなく、周波数変調部101の全体構成
をひいては多波長光源装置103の全体構成を簡略化す
ることができる。
【0051】図7は、図1の周波数変調部101の第5
変形例の構成を概略的に示す図である。図7の第5変形
例の構成は図6の第4変形例の構成と類似しているが、
図6の一対の回折格子62および63に代えて一対の分
散プリズム64および65を用いている点が基本的に相
違している。したがって、分散プリズム64に同軸で入
射した周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、互いに
異なる屈折角で屈折された後、周波数ω2 の光206お
よび周波数ω3 の光306となって射出される。こうし
て、互いに異なる角度で音響光学素子125に入射した
周波数ω2 の光206および周波数ω3 の光306は、
音響光学素子125で周波数変調されるとともに回折さ
れた後、周波数ω2'の光207および周波数ω3'の光3
07となって射出される。
【0052】なお、周波数ω2 の光206の入射角と周
波数ω2'の光207の回折角とが等しく、周波数ω3
光306の入射角と周波数ω3'の光307の回折角とが
等しくなるように、一対の分散プリズム64および65
の頂角が音響光学素子125における各周波数の光の所
定の回折角に依存して設定されている。その結果、音響
光学素子125に関して分散プリズム64と対称の位置
に配置され且つ分散プリズム64と同じ頂角を有する分
散プリズム65の作用により、周波数ω2'の光207と
周波数ω3'の光307とは同軸に結合される。また、音
響光学素子125と分散プリズム65との間の光路中
に、周波数ω2'の光207および周波数ω3'の光307
だけを通過させる絞り51fを挿入することにより、音
響光学素子125で生じた0次光などの背景光を遮断す
ることができる。なお、第4変形例および第5変形例に
おいて、回折格子または分散プリズムに代えてレンズ系
のような屈折光学系を用いることもできる。この場合、
レンズ系は、音響光学素子における各周波数の光の所定
の回折角に応じた軸上色収差を有する必要がある。
【0053】図8は、図1の周波数変調部101の第6
変形例の構成を概略的に示す図である。図8の第6変形
例の構成は図6の第4変形例の構成と類似しているが、
図6の周波数変調部を直列に2つ並べて構成されている
点が基本的に相違している。第6変形例では、2つの音
響光学素子126および127を用いることにより、ヘ
テロンダイン周波数を小さくすることができる。一例と
して、音響光学素子126の変調周波数Δf1 を7.9
MHzとし、音響光学素子127の変調周波数Δf2
8MHzとする。そして、音響光学素子126では、周
波数ω2 の光に対して−2次回折光を利用し、周波数ω
3 の光に対して+2次回折光を利用する。また、音響光
学素子127では、周波数ω2 の光に対して+2次回折
光を利用し、周波数ω3 の光に対して−2次回折光を利
用する。
【0054】この場合、周波数変調部101に同軸で入
射した周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、回折格
子66を介して、それぞれ周波数ω2 の光208および
周波数ω3 308となる。周波数ω2 の光208は周波
数ω2 近傍の光のみを透過させる周波数フィルタ97b
を介して、周波数ω3 の光308は周波数ω3 近傍の光
のみを透過させる周波数フィルタ96bを介して、音響
光学素子126にそれぞれ入射する。周波数ω2 の光2
08および周波数ω3 308は、音響光学素子126で
周波数変調され、周波数ω2'(=ω2 −2Δf1 )の光
209(−2次回折光)および周波数ω3'(=ω3 +2
Δf1 )の光309(+2次回折光)となり、回折格子
67に入射する。ここで、音響光学素子126と回折格
子67との間に配置され周波数ω2'の光209および周
波数ω3'の光309だけを通過させる絞り51gの作用
により、音響光学素子126で生じた0次光などの背景
光を遮断することができる。
【0055】回折格子67を介して同軸に結合された周
波数ω2'の光209および周波数ω3'の光309は、回
折格子69を介してそれぞれ周波数ω2'の光210およ
び周波数ω3'の光310となる。周波数ω2'の光210
は周波数ω2 近傍の光のみを透過させる周波数フィルタ
97cを介して、周波数ω3'の光310は周波数ω3
傍の光のみを透過させる周波数フィルタ96cを介し
て、音響光学素子127にそれぞれ入射する。周波数ω
2'の光210および周波数ω3'の光310は、音響光学
素子127で周波数変調され、周波数ω2'' (=ω2'+
2Δf2 =ω2 −2Δf1 +2Δf2 =ω2 +0.2M
Hz)の光211(+2次回折光)および周波数ω3''
(=ω3'−2Δf2 =ω3 +2Δf1 −2Δf2 =ω3
−0.2MHz)の光311(−2次回折光)となり、
回折格子70に入射する。ここで、音響光学素子127
と回折格子70との間に配置され周波数ω2'' の光21
1および周波数ω3'' の光311だけを通過させる絞り
51hの作用により、音響光学素子127で生じた0次
光などの背景光を遮断することができる。周波数ω2''
の光211および周波数ω3'' の光311は、回折格子
70を介して同軸に結合され、同一の光路に沿って周波
数変調部101から射出される。
【0056】こうして、第6変形例の周波数変調部10
1では、入射した周波数ω2 の光が+0.2MHzだ
け、周波数ω3 の光が−0.2MHzだけ周波数変調を
受ける。周波数変調部101から同軸で射出された周波
数ω2'' の光211および周波数ω3'' の光311は、
図1を参照して前述したように、参照光路および測定光
路に導かれる。測定光路を介した周波数ω2'' の光およ
び周波数ω3'' の光のうちの周波数の小さなω2'' の光
は、SHG変換素子36の作用により周波数ω3'''(=
2ω2'' )の光に変換され、変換された周波数ω3'''の
光と測定光路を介した周波数ω3'' の光とが干渉する。
ここで、実際には周波数ω3'''(=2(ω2 −2Δf1
+2Δf2 ))の光は+0.4MHzの周波数変調を受
けており、周波数ω3'' (=ω3 +2Δf1 −2Δf
2 )の光は−0.2MHzの周波数変調を受けている。
したがって、変換された周波数ω3'''の光と測定光路を
介した周波数ω3'' の光との干渉光のビート周波数(ヘ
テロンダイン周波数)は0.6MHzとなる。
【0057】一方、参照光路を介した周波数ω2'' の光
および周波数ω3'' の光のうちの周波数の小さなω2''
の光も、SHG変換素子38の作用により、周波数
ω3'''(=2ω2'' )の光に変換される。そして、変換
された周波数ω3'''の光と参照光路を介した周波数
ω3'' の光とが干渉し、そのビート周波数(ヘテロンダ
イン周波数)は0.6MHzとなる。こうして、第6変
形例では、一対の音響光学素子を用いることによりヘテ
ロンダイン周波数を小さくすることができるので、装置
の分解能すなわち測定精度が向上する。なお、回折格子
66、67、69および70のピッチは、音響光学素子
126および127における各周波数の光の所定の回折
角に応じて設定されていることはいうまでもない。
【0058】図9は、図1の周波数変調部101の第7
変形例の構成を概略的に示す図である。図9の第7変形
例の構成は図8の第6変形例の構成と類似しているが、
図8の一対の回折格子67および69を省略してダイク
ロイックプリズム73を付設している点が基本的に相違
している。したがって、第7変形例では、周波数変調部
101に同軸で入射した周波数ω2 の光および周波数ω
3 の光は、回折格子71を介してそれぞれ周波数ω2
光212および周波数ω3 312となる。周波数ω2
光212は周波数ω2 近傍の光のみを透過させる周波数
フィルタ97dを介して、周波数ω3 の光312は周波
数ω3 近傍の光のみを透過させる周波数フィルタ96d
を介して、音響光学素子128にそれぞれ入射する。周
波数ω2 の光212および周波数ω3 312は、音響光
学素子128で周波数変調され、周波数ω2'の光213
(−2次回折光)および周波数ω3'の光313(+2次
回折光)となる。
【0059】音響光学素子128を介した周波数ω2'の
光213および周波数ω3'の光313は、もう1つの音
響光学素子129で周波数変調され、周波数ω2'' の光
214(+2次回折光)および周波数ω3'' の光314
(−2次回折光)となり、回折格子72に入射する。周
波数ω2'' の光214および周波数ω3'' の光314
は、回折格子72を介して、間隔を隔てて互いに平行な
光となり、周波数結合素子であるダイクロイックプリズ
ム73を介して同軸に結合される。なお、音響光学素子
128と音響光学素子129との間の光路中に、周波数
ω2'の光213および周波数ω3'の光313だけを通過
させる絞り51iを挿入することにより、音響光学素子
128で生じた0次光などの背景光を遮断することがで
きる。また、回折格子72とダイクロイックプリズム7
3との間の光路中に、周波数ω2''の光214および周
波数ω3'' の光314だけを通過させる絞り51jを挿
入することにより、音響光学素子129および回折格子
72で生じた0次光などの背景光を遮断することができ
る。
【0060】図10は、図1の周波数変調部101の第
8変形例の構成を概略的に示す図である。図10の第8
変形例の構成は図8の第6変形例の構成と類似している
が、図8の一対の回折格子67および69を省略してい
る点が基本的に相違している。したがって、第8変形例
では、周波数変調部101に同軸で入射した周波数ω2
の光および周波数ω3 の光は、回折格子74を介してそ
れぞれ周波数ω2 の光215および周波数ω3 315と
なる。周波数ω2 の光215は周波数ω2 近傍の光のみ
を透過させる周波数フィルタ97eを介して、周波数ω
3 の光315は周波数ω3 近傍の光のみを透過させる周
波数フィルタ96eを介して、音響光学素子130にそ
れぞれ入射する。周波数ω2 の光215および周波数ω
3 315は、音響光学素子130で周波数変調され、周
波数ω2'の光216(−2次回折光)および周波数ω3'
の光316(+2次回折光)となる。
【0061】音響光学素子130を介した周波数ω2'の
光216および周波数ω3'の光316は、もう1つの音
響光学素子131で周波数変調され、周波数ω2'' の光
217(+2次回折光)および周波数ω3'' の光317
(−2次回折光)となり、回折格子76に入射する。周
波数ω2'' の光217および周波数ω3'' の光317
は、回折格子76を介して、同軸に結合される。なお、
音響光学素子130と音響光学素子131との間の光路
中に、周波数ω2'の光216および周波数ω3'の光31
6だけを通過させる絞り51kを挿入することにより、
音響光学素子130で生じた0次光などの背景光を遮断
することができる。
【0062】なお、上述の第6変形例〜第8変形例で
は、音響光学素子を介した2つの異なる周波数の光を同
一の光路に沿って結合するための補正光学系として回折
格子を用いているが、上述の実施例および第3変形例の
ような屈折光学系を用いることができる。屈折光学系と
してレンズ系を用いる場合には、レンズ系は音響光学素
子における各周波数の光の所定の回折角に応じた軸上色
収差を有する必要がある。また、屈折光学系として分散
プリズムを用いる場合には、分散プリズムは音響光学素
子における各周波数の光の所定の回折角に応じたくさび
の角度を有する必要がある。
【0063】さらに、上述の第6変形例〜第8変形例で
は、一対の音響光学素子においてラマン・ナース回折を
利用しているが、いずれか一方がブラッグ回折を利用し
た音響光学素子であってもよい。この場合、ブラッグ回
折を利用した音響光学素子において用いられる回折光の
次数は、ラマン・ナース回折を利用した音響光学素子に
おいて用いられる回折光の次数とは異なる。また、最終
的なヘテロダイン周波数を小さくするために、ブラッグ
回折を利用した音響光学素子およびラマン・ナース回折
を利用した音響光学素子において各周波数の光に対する
変調周波数の差をできるだけ小さくすることが望まし
い。
【0064】図11は、図1の周波数変調部101の第
9変形例の構成を概略的に示す図である。図11の第9
変形例では、ラマン・ナース回折を利用した音響光学素
子132とブラッグ回折を利用した音響光学素子133
とが用いられている。音響光学素子132では音響光学
媒体を伝搬する超音波の進行方向は図中鉛直上向きであ
り、音響光学素子133では音響光学媒体を伝搬する超
音波の進行方向は図中鉛直下向きである。したがって、
第9変形例では、周波数変調部101に同軸で入射した
周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、音響光学素子
132で周波数変調されるとともにラマン・ナース回折
され、周波数ω2'の光218(−1次回折光)および周
波数ω3'の光318(+1次回折光)となる。
【0065】音響光学素子132を介した周波数ω2'の
光218および周波数ω3'の光318は、正レンズ77
を介して、音響光学素子133に入射する。ここで、正
レンズ77は、音響光学素子133に対する周波数ω2'
の光218の入射角および周波数ω3'の光318の入射
角がそれぞれブラッグ条件を満たすように調節されてい
る。したがって、音響光学素子133に入射した周波数
ω2'の光218および周波数ω3'の光318は、周波数
変調されるとともにブラッグ回折され、周波数ω2'' の
光219(+1次回折光)および周波数ω3'' の光31
9(−1次回折光)となる。音響光学素子133を介し
た周波数ω2'' の光219および周波数ω3'' の光31
9は、正レンズ78および回折格子79を介して、同軸
に結合される。
【0066】なお、音響光学素子132と正レンズ77
との間の光路中に、周波数ω2'の光218および周波数
ω3'の光318だけを通過させる絞り51mを挿入する
ことにより、音響光学素子132で生じた0次光などの
背景光を遮断することができる。また、音響光学素子1
33と正レンズ78との間の光路中に、周波数ω2''の
光219および周波数ω3'' の光319だけを通過させ
る絞り51nを挿入することにより、音響光学素子13
3で生じた0次光などの背景光を遮断することができ
る。さらに、音響光学素子133を、ラマン・ナース回
折を利用した音響光学素子で置換することもできる。
【0067】図12は、図1の周波数変調部101の第
10変形例の構成を概略的に示す図である。図12の第
10変形例では、音響光学素子134が正レンズ80の
焦点位置に配置され、音響光学素子135が正レンズ8
2の焦点位置に配置されている。また、正レンズ80お
よび正レンズ82は、各周波数の光に対して色収差が良
好に補正されている。したがって、第10変形例では、
周波数変調部101に同軸で入射した周波数ω2 の光お
よび周波数ω3 の光は、音響光学素子134で周波数変
調されるとともに回折され、周波数ω2'の光220(−
1次回折光)および周波数ω3'の光320(+1次回折
光)となる。
【0068】音響光学素子134を介した周波数ω2'の
光220および周波数ω3'の光320は、正レンズ80
により空間的に分離された互いに平行な光となって、正
レンズ82に入射する。正レンズ82を介した周波数ω
2'の光220および周波数ω 3'の光320は、正レンズ
82の焦点位置に配置された音響光学素子135を介し
て、同軸に結合される。なお、正レンズ80と正レンズ
82との間の光路中に、周波数ω2'の光220および周
波数ω3'の光320だけを通過させる絞り81を挿入す
ることにより、音響光学素子134で生じた0次光など
の背景光を遮断することができる。また、正レンズ80
および正レンズ82を、音響光学素子134の位置と音
響光学素子135の位置とを共役に結ぶ1つの正レンズ
で置換することもできる。さらに、正レンズ80および
正レンズ82に代えて一対の回折格子を用いてもよい。
この場合、一対の回折格子を、たとえばホログラフィッ
クに作成された1つの回折格子で置換することもでき
る。
【0069】図13は、図1の周波数変調部101の第
11変形例の構成を概略的に示す図である。図13の第
11変形例において、周波数変調部101に同軸で入射
した周波数ω2 の光および周波数ω3 の光は、音響光学
素子136で周波数変調されるとともに回折され、周波
数ω2'の光221(−1次回折光)および周波数ω3'の
光321(+1次回折光)となる。音響光学素子136
を介した周波数ω2'の光221および周波数ω3'の光3
21は、もう1つの音響光学素子137に入射する。音
響光学素子137に入射した周波数ω2'の光221およ
び周波数ω3'の光321は、周波数変調されるとともに
回折され、周波数ω2'' の光222(+1次回折光)お
よび周波数ω3'' の光322(−1次回折光)となる。
音響光学素子137を介した周波数ω2'' の光222お
よび周波数ω3'' の光322は、回折格子83を介し
て、同軸に結合される。
【0070】なお、音響光学素子136と音響光学素子
137との間の光路中に、周波数ω2'の光221および
周波数ω3'の光321だけを通過させる絞り51pを挿
入することにより、音響光学素子136で生じた0次光
などの背景光を遮断することができる。また、回折格子
83に代えて、分散プリズムやレンズ系のような屈折光
学系を用いることができる。この場合、分散プリズムは
音響光学素子136および137における各周波数の光
の所定の回折角に応じたくさびの角度を有する必要があ
る。一方、レンズ系は音響光学素子136および137
における各周波数の光の所定の回折角に応じた軸上色収
差を有する必要がある。さらに、音響光学素子137
を、ブラッグ回折を利用した音響光学素子に置換するこ
ともできる。
【0071】なお、上述の実施例および各変形例の周波
数変調部において、各周波数の光に対して各音響光学素
子で選択される回折光の次数は上述の例に限定されるこ
となく選択することができる。また、各周波数の光に対
する変調周波数は、上述の実施例および各変形例で示す
特定の変調周波数に限定されることなく選択することが
できる。さらに、所望のヘテロダイン周波数を得るため
に、各音響光学素子で選択される回折光の次数、変調周
波数、音響光学媒体を伝搬する超音波の進行する方向な
どを適宜選択することができる。
【0072】また、たとえば図2に示すように、周波数
変調部101においてラマン・ナース回折を利用した音
響光学素子120を用いる場合、ダイクロイックプリズ
ム53を介して同軸に結合された周波数ω2'の光200
(−1次回折光)の光路上に、音響光学素子120で生
じた周波数ω2 の光に対する+1次回折光と周波数ω3'
の光に対する−2次回折光が混入する。同一光路中に混
入した周波数ω3'の光に対する−2次回折光は、絞り5
1により除去することができない。しかしながら、図2
の場合および他の場合においても、混入した不要回折光
に基づくヘテロダイン周波数は、屈折率変動の測定のた
めの所定回折光に基づくヘテロダイン周波数とは異なる
ため、混入した不要回折光が測定精度に悪影響を及ぼす
ことはない。
【0073】また、上述の実施例および各変形例では、
補正光学系として回折格子や分散プリズムを利用してい
るが、回折格子や分散プリズムに代えてレンズ系を用い
ることもできる。この場合、レンズ系は複数のレンズか
らなるレンズ群となり、レンズ群は各周波数の光に関し
て音響光学素子の回折角に応じた色収差を有することが
必要となる。レンズ群で補正光学系を構成する場合、周
波数変調部の構成が複雑になるが、光量の損失を小さく
抑えることができる。また、光源から射出される光の光
束径が大きかったり、発散した光が射出されるような場
合、音響光学素子に集光した光あるいは光束径を絞った
光を入射させることができる。これにより、音響光学素
子での回折効率を向上させることができる。
【0074】図14は、図1の測長部102の内部構成
を示す図である。図14に示すように、測長部102の
実際の構成では、偏光分離素子としてプリズム型の偏光
ビームスプリッタ84が用いられる。プリズム型の偏光
ビームスプリッタ84が用いられるのは、配置上の安定
性を確保するとともに、偏光ビームスプリッタ膜412
を保護するためである。測長部102において、偏光ビ
ームスプリッタ84への入射光331のうち偏光ビーム
スプリッタ84を透過した光は、たとえばコーナーキュ
ーブからなる移動鏡5に入射する。移動鏡5で反射され
た光332は、偏光ビームスプリッタ84を透過し、測
定光路を介した測定光333となって周波数分離素子3
4に向かう。通常、偏光ビームスプリッタ84の端面4
00および401や移動鏡5の端面402には、反射防
止膜が蒸着されている。しかしながら、本発明の光波干
渉測定装置のように3つの異なる周波数の光に対して優
れた性能を有する反射防止膜を形成することは難しく、
上述の各端面に入射した光のうちある程度の光は反射さ
れてしまう。
【0075】一般的に立方体で形成された通常のプリズ
ム型の偏光ビームスプリッタでは、その端面に対して垂
直に光が入射する。したがって、仮に移動鏡5からの反
射光332が偏光ビームスプリッタ84の端面401に
対して垂直に入射した場合、入射光332のうちの一部
が移動鏡5に向かって正反射されることになる。この場
合、偏光ビームスプリッタ84の端面401からの正反
射光は、移動鏡5の端面402で偏光ビームスプリッタ
84に向かって正反射される。移動鏡5の端面402か
らの正反射光の大部分は、偏光ビームスプリッタ84を
透過して周波数分離素子34に向かう。このように、測
定光路を多重往復した光(以下、単に「誤差光」とい
う)と本来検出すべき測定光333とは、互いに分離さ
れることなく光電変換素子37に入射する。その結果、
誤差光と本来検出すべき測定光との干渉に基づく誤差信
号が発生する。
【0076】誤差光と本来検出すべき測定光との干渉
は、移動鏡5の変位に応じて互いに強め合う部分があ
る。すなわち、図1の実施例に示すシングルパス構成に
おいては、移動鏡5の変位量Dが次の式(5)を満たす
ときに、誤差光と本来検出すべき測定光との干渉が互い
に強め合い、移動鏡5の変位量Dに関して周期的な誤差
信号を生じさせ、測定精度を低下させる。特に、最終的
な干渉に用いられる周波数の光(図1の実施例では周波
数ω3 の光)に対する誤差光が測定精度の低下に大きく
影響する。
【数5】D=c・m/(2ω3 ) (5) ここで、 c:測定光路中における周波数ω3 の光の速度 m:正の整数
【0077】そこで、図14に示すように、入射光に対
して垂直でない端面400および401を有する偏光ビ
ームスプリッタ84を用いることが好ましい。この場
合、移動鏡5からの反射光332が偏光ビームスプリッ
タ84の端面401に対して垂直に入射しないので、端
面401での正反射光すなわち誤差光334が移動鏡5
に戻ることがない。また仮に、端面401からの誤差光
334が移動鏡5に戻ることがあっても、移動鏡5の端
面402からの正反射光からなる誤差光の光路が本来検
出すべき測定光333の光路から外れるので、最終的に
は光電変換素子37に誤差光が到達することはない。し
たがって、偏光ビームスプリッタ84の端面での正反射
に基づく誤差光の影響を受けることなく、測定光路中の
空気や他の気体の屈折率変動を高精度に測定することが
できる。
【0078】なお、偏光ビームスプリッタ84の端面で
の正反射に基づく誤差光の影響を受けないようにするに
は、一般的に立方体で形成された通常のプリズム型の偏
光ビームスプリッタを入射光331の中心軸線に対して
傾けて配置してもよい。しかしながら、この場合、偏光
ビームスプリッタ84で反射される参照光の光路が入射
光331に対して垂直な設計光路から外れてしまう。そ
こで、図14に示すように、角度410および411が
互いに等しい二等辺三角柱状のプリズムを偏光ビームス
プリッタ膜412に関して対称に2個貼り合わせて偏光
ビームスプリッタ84を構成することが好ましい。この
構成により、偏光ビームスプリッタ84で反射される参
照光の光路が入射光331に対して垂直な設計光路から
外れることなく、偏光ビームスプリッタ84の端面での
正反射に基づく誤差光の影響を受けないようにすること
ができる。また、偏光ビームスプリッタ膜412に対す
る入射角のずれも通常のプリズム型の偏光ビームスプリ
ッタを傾けた場合よりも小さくなるので、配置上有利で
ある。
【0079】図15は、本発明の実施例にかかる多波長
光源装置を備えた屈折率変動測定系の構成を概略的に示
す図である。図15の屈折率変動測定系において、光源
85から射出された周波数ω2 の光はSHG変換素子8
6に入射し、周波数ω2 の光の一部がSHG変換素子8
6により周波数ω3 (ω3 =2ω2 )の光に変換され、
その残部がSHG変換素子86をそのまま透過する。S
HG変換素子86から射出された周波数ω2 の光および
周波数ω3 の光は、同一光路に沿って同軸で周波数変調
部101に入射する。
【0080】なお、SHG変換素子86には、例えば非
線形光学結晶KTiOPO4 を用いることができる。ま
た、SHG変換素子86によってSHG変換された周波
数ω3 の光の偏光方位は、SHG変換素子86に入射し
てそのまま透過する周波数ω2 の光の偏光方位とは異な
る。そこで、図15では図示を省略しているが、たとえ
ばSHG変換素子86と周波数変調部101との間に
は、周波数ω2 の光の偏光方位と周波数ω3 の光の偏光
方位とを一致させるための光学系(複数個の波長板)が
配置されている。
【0081】同一の光路に沿って同軸で周波数変調部1
01に入射した周波数ω2 の光および周波数ω3 の光
は、周波数変調素子としての音響光学素子87に入射す
る。音響光学素子87では、周波数ω2 の光が周波数ω
2'の光234(−1次回折光)に周波数変調され、周波
数ω3 の光が周波数ω3'の光334(+1次回折光)に
周波数変調される。周波数ω2'の光234および周波数
ω3'の光334は、コリメートレンズ88により互いに
平行な光になり、ダイクロイックプリズム89に入射す
る。こうして、ダイクロイックプリズム89の作用によ
り周波数ω2'の光234と周波数ω3'の光334とは、
同軸に結合され、同一の光路に沿って周波数変調部10
1から射出される。
【0082】周波数変調部101を介して同一光路に沿
って同軸に射出された周波数ω2'の光および周波数ω3'
の光は、音響光学素子87で生じた不要な回折光を遮断
するための絞り90を通過した後、屈折率変動を測定す
べき光路を介して、コーナキューブプリズムからなる移
動鏡91に入射する。コーナキューブプリズム91で反
射された周波数ω2'の光および周波数ω3'の光は、屈折
率変動を測定すべき光路を介して、SHG変換素子92
に入射する。SHG変換素子92では、周波数ω2'の光
および周波数ω3'の光のうちの周波数の小さい周波数ω
2'の光が周波数ω3'' (ω3'' =2ω2')の光にSHG
変換され、周波数の大きい周波数ω3'の光はSHG変換
素子92をそのまま透過する。その結果、SHG変換素
子92によって周波数ω2'から周波数ω3'' に変換され
た光とコーナキューブプリズム(移動鏡)91で反射さ
れた周波数ω3'の光とが干渉し、その干渉光が光電変換
素子93によって検出される。
【0083】光電変換素子93で検出された干渉信号
は、位相計94に入力される。位相計94では、干渉信
号の位相に基づいて、周波数ω3 の光に対する光路長変
化D(ω3 )と周波数ω2 の光に対する光路長変化D
(ω2 )との差すなわち{D(ω3 )−D(ω2 )}を
求める。位相計94で求められた{D(ω3 )−D(ω
2)}に関する信号は、演算器95に供給される。前述
したように、{D(ω3 )−D(ω2 )}に関する信号
は、屈折率変動の情報を含んだ信号である。したがっ
て、演算器95では、{D(ω3 )−D(ω2 )}に基
づいて、測定時における屈折率の変動を相対的に求める
ことができる。
【0084】図15の多波長光源装置103において、
光源85からの周波数ω2 の光の射出方向が設計光軸に
対して変動しても、周波数変調部101から射出される
周波数ω2'の光および周波数ω3'の光は、周波数ω2
光の射出方向の変動の影響を互いに同じように受けるこ
とになる。その結果、周波数ω2'の光および周波数ω3'
の光の進行方向が設計光軸に対して変動することはあっ
ても、周波数ω2'の光と周波数ω3'の光とは同一の光路
に沿って伝搬する。すなわち、図15の多波長光源装置
103を備えた屈折率変動測定系では、光源85からの
周波数ω2 の光の射出方向の変動の影響を受けることな
く周波数ω2'の光と周波数ω3'の光との同軸性を正確に
確保することができるので、(D(ω3 )−D(ω
2 ))を高精度に求め、ひいては光路中の空気の屈折率
変動を高精度に測定することができる。
【0085】なお、図15の実施例では、図2の実施例
にしたがう周波数変調部101を用いた例を示してい
る。しかしながら、図15の実施例において、図3〜図
13の各変形例にしたがう周波数変調部101を用いて
もよいし、他の適当な本発明の構成例にしたがう周波数
変調部101を用いてもよい。また、上述の各実施例お
よび各変形例では、屈折率変動の測定に際して、周波数
ω2 の光とω2 の2倍の周波数を有する周波数ω3 の光
とを用いている。しかしながら、本発明では、光路を通
った互いに周波数の異なる2つの光のうち一方の光の周
波数を他方の光の周波数とほぼ一致させることによって
干渉させることが重要である。したがって、例えば、高
調波変換素子を用いて、第3高調波やそれ以上の高次の
光を用いて、屈折率変動の測定を行っても良い。
【0086】
【効果】以上説明したように、本発明の多波長光源装置
によれば、光源からの光の射出方向の変動の影響を受け
ることなく、周波数の異なる複数の光の同軸性を正確に
確保することができる。したがって、本発明の多波長光
源装置を備えた屈折率測定系を有する光波干渉測定装置
では、ヘテロダイン干渉方式を用いて光路中の空気の屈
折率変動を高精度に測定することができる。その結果、
従来の光源からの光の射出方向の変動補正手段を必要と
しない簡略な構成で、移動鏡の幾何学的変位量を高精度
に測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかる多波長光源装置および
該光源装置を備えた光波干渉測定装置の構成を概略的に
示す図である。
【図2】図1の周波数変調部101の内部構成を概略的
に示す図である。
【図3】図1の周波数変調部101の第1変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図4】図1の周波数変調部101の第2変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図5】図1の周波数変調部101の第3変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図6】図1の周波数変調部101の第4変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図7】図1の周波数変調部101の第5変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図8】図1の周波数変調部101の第6変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図9】図1の周波数変調部101の第7変形例の構成
を概略的に示す図である。
【図10】図1の周波数変調部101の第8変形例の構
成を概略的に示す図である。
【図11】図1の周波数変調部101の第9変形例の構
成を概略的に示す図である。
【図12】図1の周波数変調部101の第10変形例の
構成を概略的に示す図である。
【図13】図1の周波数変調部101の第11変形例の
構成を概略的に示す図である。
【図14】図1の測長部102の内部構成を示す図であ
る。
【図15】本発明の実施例にかかる多波長光源装置を備
えた屈折率変動測定系の構成を概略的に示す図である。
【図16】従来の多波長光源装置を備えた光波干渉測定
装置の構成を概略的に示す図である。
【符号の説明】
1 測長用光源 2 ビームスプリッタ 3 偏光分離素子 4、5 コーナーキューブプリズム 6、8 偏光板 7、9、37、39 光電変換素子 10、40 位相計 11 演算器 31 光源 32、36、38 SHG変換素子 33 周波数結合素子 34 周波数分離素子 51 絞り 52 コリメートレンズ 53 ダイクロイックプリズム 54 回折格子 56、57 ビームエクスパンダ 60 分散プリズム 96、97 周波数フィルタ 101 周波数変調部 102 測長部 103、150 多波長光源装置 120〜137 音響光学素子

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の周波数を有する第1の光を供給す
    るための光源と、 前記光源からの前記第1の光の一部を前記第1の周波数
    とは異なる第2の周波数を有する第2の光に変換し、前
    記第1の光と前記第2の光とを同一の光路に沿って出力
    するための周波数変換手段と、 前記周波数変換手段から同一の光路に沿って出力された
    前記第1の光および前記第2の光をそれぞれ所定の周波
    数だけ周波数変調して第3の光および第4の光を生成
    し、生成された前記第3の光と前記第4の光とを同一の
    光路に沿って出力するための周波数変調手段とを備えて
    いることを特徴とする多波長光源装置。
  2. 【請求項2】 前記周波数変換手段は、前記第1の光の
    一部を高調波に変換し、該高調波を前記第2の光として
    出力するための高調波変換素子であることを特徴とする
    請求項1に記載の多波長光源装置。
  3. 【請求項3】 前記周波数変調手段は、前記第1の光お
    よび前記第2の光をそれぞれ所定の周波数だけ周波数変
    調するための少なくとも1つの周波数変調素子と、 前記少なくとも1つの周波数変調素子を介して生成され
    た前記第3の光と前記第4の光とを同一の光路に沿って
    結合させるための補正光学系とを有することを特徴とす
    る請求項1または2に記載の多波長光源装置。
  4. 【請求項4】 前記周波数変調素子は、ラマン・ナース
    回折を利用した音響光学素子であることを特徴とする請
    求項3に記載の多波長光源装置。
  5. 【請求項5】 前記補正光学系は、前記周波数変調素子
    を介して生成された前記第3の光および前記第4の光を
    屈折することによって間隔を隔てて互いに平行な光に変
    換するための屈折光学系と、該屈折光学系を介して互い
    に平行に変換された前記第3の光と前記第4の光とを同
    一の光路に沿って結合させるための周波数結合素子とを
    有することを特徴とする請求項3または4に記載の多波
    長光源装置。
  6. 【請求項6】 前記補正光学系は、前記周波数変調素子
    を介して生成された前記第3の光および前記第4の光を
    回折することによって間隔を隔てて互いに平行な光に変
    換するための回折光学系と、該回折光学系を介して互い
    に平行に変換された前記第3の光と前記第4の光とを同
    一の光路に沿って結合させるための周波数結合素子とを
    有することを特徴とする請求項3または4に記載の多波
    長光源装置。
  7. 【請求項7】 前記補正光学系は、前記周波数変調素子
    の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記周波数変
    調素子の射出側に設けられた第2補正光学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    回折するための回折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記周波数変調素子を介して生
    成された前記第3の光および前記第4の光を回折するこ
    とによって前記第3の光と前記第4の光とを同一光路に
    沿って結合するための回折光学系であることを特徴とす
    る請求項3または4に記載の多波長光源装置。
  8. 【請求項8】 前記補正光学系は、前記周波数変調素子
    の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記周波数変
    調素子の射出側に設けられた第2補正光学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    屈折するための屈折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記周波数変調素子を介して生
    成された前記第3の光および前記第4の光を屈折するこ
    とによって前記第3の光と前記第4の光とを同一光路に
    沿って結合するための屈折光学系であることを特徴とす
    る請求項3または4に記載の多波長光源装置。
  9. 【請求項9】 前記周波数変調手段は、前記第1の光お
    よび前記第2の光を第1の周波数だけ周波数変調するた
    めの第1の周波数変調素子と、 前記第1の周波数変調素子を介した2つの光を前記第1
    の周波数とわずかに異なる第2の周波数だけ周波数変調
    するための第2の周波数変調素子とを有することを特徴
    とする請求項3または4に記載の多波長光源装置。
  10. 【請求項10】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第1の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系と、前記第2の周波数変調素子の入射側に設けられ
    た第3補正光学系と、前記第2の周波数変調素子の射出
    側に設けられた第4補正光学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    回折するための回折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子を介
    して生成された2つの光を回折することによって前記2
    つの光を同一光路に沿って結合するための回折光学系で
    あり、 前記第3補正光学系は、前記第2補正光学系を介して同
    一の光路に沿って入射した前記2つの光を回折するため
    の回折光学系であり、 前記第4補正光学系は、前記第2の周波数変調素子を介
    して生成された前記第3の光および前記第4の光を回折
    することによって前記第3の光と前記第4の光とを同一
    光路に沿って結合するための回折光学系であることを特
    徴とする請求項9に記載の多波長光源装置。
  11. 【請求項11】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第1の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系と、前記第2の周波数変調素子の入射側に設けられ
    た第3補正光学系と、前記第2の周波数変調素子の射出
    側に設けられた第4補正光学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    屈折するための屈折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子を介
    して生成された2つの光を屈折することによって前記2
    つの光を同一光路に沿って結合するための屈折光学系で
    あり、 前記第3補正光学系は、前記第2補正光学系を介して同
    一の光路に沿って入射した前記2つの光を屈折するため
    の屈折光学系であり、 前記第4補正光学系は、前記第2の周波数変調素子を介
    して生成された前記第3の光および前記第4の光を屈折
    することによって前記第3の光と前記第4の光とを同一
    光路に沿って結合するための屈折光学系であることを特
    徴とする請求項9に記載の多波長光源装置。
  12. 【請求項12】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第2の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    回折するための回折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子およ
    び前記第2の周波数変調素子を介して生成された前記第
    3の光および前記第4の光を回折することによって前記
    第3の光と前記第4の光とを同一光路に沿って結合する
    ための回折光学系であることを特徴とする請求項9に記
    載の多波長光源装置。
  13. 【請求項13】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第2の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    屈折するための屈折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子およ
    び前記第2の周波数変調素子を介して生成された前記第
    3の光および前記第4の光を屈折することによって前記
    第3の光と前記第4の光とを同一光路に沿って結合する
    ための屈折光学系であることを特徴とする請求項9に記
    載の多波長光源装置。
  14. 【請求項14】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第2の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    回折するための回折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子およ
    び前記第2の周波数変調素子を介して生成された前記第
    3の光および前記第4の光を回折することによって間隔
    を隔てて互いに平行な光に変換するための回折光学系
    と、互いに平行に変換された前記第3の光と前記第4の
    光とを同一の光路に沿って結合させるための周波数結合
    素子とを有することを特徴とする請求項9に記載の多波
    長光源装置。
  15. 【請求項15】 前記補正光学系は、前記第1の周波数
    変調素子の入射側に設けられた第1補正光学系と、前記
    第2の周波数変調素子の射出側に設けられた第2補正光
    学系とを有し、 前記第1補正光学系は、同一の光路に沿って前記周波数
    変調手段に入射した前記第1の光および前記第2の光を
    屈折するための屈折光学系であり、 前記第2補正光学系は、前記第1の周波数変調素子およ
    び前記第2の周波数変調素子を介して生成された前記第
    3の光および前記第4の光を屈折することによって間隔
    を隔てて互いに平行な光に変換するための屈折光学系
    と、互いに平行に変換された前記第3の光と前記第4の
    光とを同一の光路に沿って結合させるための周波数結合
    素子とを有することを特徴とする請求項9に記載の多波
    長光源装置。
  16. 【請求項16】 参照光路と移動鏡を含む測定光路とを
    有し、所定方向に沿った移動鏡の変位量を測定するため
    の測長用干渉計と、該測長用干渉計の光路中の気体の屈
    折率変動を測定するための屈折率変動測定系と、該屈折
    率変動測定系のために周波数の異なる2つの光を同一の
    光路に沿って出力するための多波長光源装置とを備え、
    前記測長用干渉計で測定した前記移動鏡の変位量を前記
    屈折率変動測定系で測定した前記光路中の気体の屈折率
    変動情報に基づいて補正することによって前記移動鏡の
    幾何学的変位量を測定する光波干渉測定装置において、 前記多波長光源装置は、 第1の周波数を有する第1の光を供給するための光源
    と、 前記光源からの前記第1の光の一部を前記第1の周波数
    とは異なる第2の周波数を有する第2の光に変換し、前
    記第1の光と前記第2の光とを同一の光路に沿って出力
    するための周波数変換手段と、 前記周波数変換手段から同一の光路に沿って出力された
    前記第1の光および前記第2の光をそれぞれ所定の周波
    数だけ周波数変調して第3の光および第4の光を生成
    し、生成された前記第3の光と前記第4の光とを同一の
    光路に沿って出力するための周波数変調手段とを有し、 前記屈折率変動測定系は、 前記測長用干渉計の前記測定光路を介した前記第3の光
    および前記第4の光のうちの一方の光の周波数を他方の
    光の周波数とほぼ一致させることによってヘテロダイン
    干渉による第1干渉光を生成するための第1干渉光生成
    系と、 前記測長用干渉計の前記参照光路を介した前記第3の光
    および前記第4の光のうち一方の光の周波数を他方の光
    の周波数とほぼ一致させることによってヘテロダイン干
    渉による第2干渉光を生成するための第2干渉光生成系
    とを有し、 前記第1干渉光および前記第2干渉光に基づいて前記測
    長用干渉計の光路中の気体の屈折率変動を測定し、補正
    することを特徴とする光波干渉測定装置。
  17. 【請求項17】 前記周波数変換手段は、前記第1の光
    の一部を高調波に変換し、該高調波を前記第2の光とし
    て出力するための高調波変換素子であることを特徴とす
    る請求項16に記載の光波干渉測定装置。
  18. 【請求項18】 前記周波数変調手段は、前記第1の光
    および前記第2の光をそれぞれ所定の周波数だけ周波数
    変調するための少なくとも1つの周波数変調素子と、 前記少なくとも1つの周波数変調素子を介して生成され
    た前記第3の光と前記第4の光とを同一の光路に沿って
    結合させるための補正光学系とを有することを特徴とす
    る請求項16または17に記載の光波干渉測定装置。
  19. 【請求項19】 前記周波数変調素子は、ラマン・ナー
    ス回折を利用した音響光学素子であることを特徴とする
    請求項18に記載の光波干渉測定装置。
JP8304034A 1996-10-30 1996-10-30 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置 Pending JPH10132514A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8304034A JPH10132514A (ja) 1996-10-30 1996-10-30 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8304034A JPH10132514A (ja) 1996-10-30 1996-10-30 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10132514A true JPH10132514A (ja) 1998-05-22

Family

ID=17928269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8304034A Pending JPH10132514A (ja) 1996-10-30 1996-10-30 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10132514A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008513741A (ja) * 2004-09-20 2008-05-01 オプセンス インコーポレイテッド 低コヒーレンス干渉法を使用する光センサ
JP2009250983A (ja) * 2008-04-02 2009-10-29 Polytec Gmbh 振動計および、物体の光学的測定方法
JP2011504234A (ja) * 2007-11-21 2011-02-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲーエムベーハー 干渉計装置及びその作動方法
WO2012081252A1 (ja) * 2010-12-17 2012-06-21 パナソニック株式会社 表面形状測定方法及び表面形状測定装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008513741A (ja) * 2004-09-20 2008-05-01 オプセンス インコーポレイテッド 低コヒーレンス干渉法を使用する光センサ
JP2011504234A (ja) * 2007-11-21 2011-02-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲーエムベーハー 干渉計装置及びその作動方法
JP2009250983A (ja) * 2008-04-02 2009-10-29 Polytec Gmbh 振動計および、物体の光学的測定方法
WO2012081252A1 (ja) * 2010-12-17 2012-06-21 パナソニック株式会社 表面形状測定方法及び表面形状測定装置
CN102713504A (zh) * 2010-12-17 2012-10-03 松下电器产业株式会社 表面形状测定方法及表面形状测定装置
JP5172040B2 (ja) * 2010-12-17 2013-03-27 パナソニック株式会社 表面形状測定方法及び表面形状測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5485272A (en) Radiation-source unit for generating a beam having two directions of polarisation and two frequencies
US6452682B2 (en) Apparatus to transform two nonparallel propagating optical beam components into two orthogonally polarized beam
US4547664A (en) Diffraction grating beam splitter in a laser resonator length control
JP4309419B2 (ja) 異方性音響光学変調器を利用した光ビーム発生システム及び方法
JP2586120B2 (ja) エンコーダー
JP5588769B2 (ja) 光学式計測装置
JPH08320206A (ja) 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法
JPH10132514A (ja) 多波長光源装置および該光源装置を備えた光波干渉測定装置
US4909629A (en) Light interferometer
JPH1019508A (ja) 光波干渉測定装置および屈折率変動測定系
US20220390281A1 (en) Providing polarization diversity and reducing polarization dependent loss (pdl) in a grating-based optical spectrum analyzer (osa)
JPH1114544A (ja) 光波干渉測定装置
JP3237458U (ja) 干渉型エンコーダ
JP2787345B2 (ja) 2波長光源素子
JPH11166807A (ja) 周波数分離装置および該周波数分離装置を備えた光波干渉測定装置
JP2761951B2 (ja) 導波型光変調素子
SU939934A2 (ru) Устройство дл измерени вибраций
JPS58210511A (ja) 光干渉計
JP2948645B2 (ja) 2波長光源素子
JPH03200938A (ja) 超音波光変調装置
JPH07190715A (ja) 光源装置
JPH07110206A (ja) 光ヘテロダイン干渉計
JP2024056589A (ja) 光学式距離計
JPH0555114A (ja) 露光装置
JPH0722681A (ja) 複数モード変調レーザシステム