JPH10104853A - 感光体の検査装置 - Google Patents
感光体の検査装置Info
- Publication number
- JPH10104853A JPH10104853A JP8261692A JP26169296A JPH10104853A JP H10104853 A JPH10104853 A JP H10104853A JP 8261692 A JP8261692 A JP 8261692A JP 26169296 A JP26169296 A JP 26169296A JP H10104853 A JPH10104853 A JP H10104853A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoreceptor
- light
- photoconductor
- optical sensor
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】人為的な目視検査によらずに非接触で感光体の
表面状態の検査が可能で、かつ塗布欠陥と凹凸欠陥のい
ずれをも一括して検出できる感光体の検査装置を提供す
る。 【解決手段】感光体１の表面上に照射光２ａを照射する
ための光源部２と、感光体表面で反射された反射光２ｂ
を受光して検出信号に変換する光センサー部３と、この
検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果を表示す
るための表示器５とを備え、所定の回転数で回転する感
光体１の表面上に光源部２から所定の光束幅に収束させ
た照射光２ａを照射し、その照射位置Ｓの上を走査する
ことによって光センサー部３に向かう反射光２ｂを光セ
ンサー部３が受光して光電変換された検出情報４として
検出し、この検出情報４に基づく判別レベル設定により
良又は不良の判別結果を表示器５に表示させるようにし
ている。
表面状態の検査が可能で、かつ塗布欠陥と凹凸欠陥のい
ずれをも一括して検出できる感光体の検査装置を提供す
る。 【解決手段】感光体１の表面上に照射光２ａを照射する
ための光源部２と、感光体表面で反射された反射光２ｂ
を受光して検出信号に変換する光センサー部３と、この
検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果を表示す
るための表示器５とを備え、所定の回転数で回転する感
光体１の表面上に光源部２から所定の光束幅に収束させ
た照射光２ａを照射し、その照射位置Ｓの上を走査する
ことによって光センサー部３に向かう反射光２ｂを光セ
ンサー部３が受光して光電変換された検出情報４として
検出し、この検出情報４に基づく判別レベル設定により
良又は不良の判別結果を表示器５に表示させるようにし
ている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子写真装置に
用いられる感光体の表面状態を検査するための検査装置
に関する。
用いられる感光体の表面状態を検査するための検査装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子写真の技術は従来から複写機の分野
で発展を遂げ、最近ではレーザープリンターなどにも応
用され、従来のインパクトプリンターとは比較にならな
いほど高画質，高速，静粛性を誇り急速に広まってい
る。それに伴って感光体の製造工程における検査基準も
より厳正であることが要求されるようになり、検査装置
の改良を含めて感光体の検査方法の合理化が実施されて
きている。
で発展を遂げ、最近ではレーザープリンターなどにも応
用され、従来のインパクトプリンターとは比較にならな
いほど高画質，高速，静粛性を誇り急速に広まってい
る。それに伴って感光体の製造工程における検査基準も
より厳正であることが要求されるようになり、検査装置
の改良を含めて感光体の検査方法の合理化が実施されて
きている。
【０００３】電子写真装置に用いられる感光体は円筒状
をなす導電性基体の表面に光導電材料からなる感光層を
成膜することにより作製される。最近では光導電性有機
材料を有機溶剤に溶解あるいは分散させて作製した塗布
液の中へ導電性基体を浸漬してその表面に塗膜を成膜す
ることによって感光層を形成する浸漬塗布法が均質で均
一な膜厚を得る簡便な方法として広く採用されている。
をなす導電性基体の表面に光導電材料からなる感光層を
成膜することにより作製される。最近では光導電性有機
材料を有機溶剤に溶解あるいは分散させて作製した塗布
液の中へ導電性基体を浸漬してその表面に塗膜を成膜す
ることによって感光層を形成する浸漬塗布法が均質で均
一な膜厚を得る簡便な方法として広く採用されている。
【０００４】有機材料からなる感光層の形成過程におい
ては、導電性基体の表面に付着した塗膜が凝集した場合
もしくは分散の不充分な塗布液への浸漬により形成され
た場合には成膜された膜厚が不均一になるためいわゆる
塗布欠陥を生じ、また導電性基体の表面あるいは塗膜に
損傷や異物の付着があった場合には成膜された感光層が
局部的に凹凸状態になるためいわゆる凹凸欠陥を生じ
る。これら塗布欠陥あるいは凹凸欠陥のある感光体を製
造工程で検出して除くために感光体の表面状態の検査が
外観検査の一環として従来から実施されてきた。その検
査方法としては、感光体の表面に形成された感光層の表
面状態を正常部と対比した時の色差あるいは陰影差の有
無を検査員の目視によって判別する目視検査が主体とさ
れていた。
ては、導電性基体の表面に付着した塗膜が凝集した場合
もしくは分散の不充分な塗布液への浸漬により形成され
た場合には成膜された膜厚が不均一になるためいわゆる
塗布欠陥を生じ、また導電性基体の表面あるいは塗膜に
損傷や異物の付着があった場合には成膜された感光層が
局部的に凹凸状態になるためいわゆる凹凸欠陥を生じ
る。これら塗布欠陥あるいは凹凸欠陥のある感光体を製
造工程で検出して除くために感光体の表面状態の検査が
外観検査の一環として従来から実施されてきた。その検
査方法としては、感光体の表面に形成された感光層の表
面状態を正常部と対比した時の色差あるいは陰影差の有
無を検査員の目視によって判別する目視検査が主体とさ
れていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来外観検査の一環と
して実施されてきた感光体の表面状態の検査において
は、感光体の表面に形成された感光層の色差あるいは陰
影差の有無を人為的な目視検査によって判別していたた
め、検査員の視知覚や従事経験などの個人差もしくは失
念などによって検査結果の判定が異なることがあるなど
客観性に欠けるという問題点があった。
して実施されてきた感光体の表面状態の検査において
は、感光体の表面に形成された感光層の色差あるいは陰
影差の有無を人為的な目視検査によって判別していたた
め、検査員の視知覚や従事経験などの個人差もしくは失
念などによって検査結果の判定が異なることがあるなど
客観性に欠けるという問題点があった。
【０００６】また、人為的な目視検査によらずに光セン
サーなどを用いた光電変換方式による検査装置を採用す
る場合には、塗布欠陥と凹凸欠陥の各検出情報の強度レ
ベルに較差があるために共通化が困難であり、それぞれ
独立した検査装置を用意しなければならないという問題
点があった。この発明は前記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、人為的な目視検査によらずに非接触で感光
体の表面状態の検査が可能で、かつ塗布欠陥と凹凸欠陥
のいずれをも一括して検出できる感光体の検査装置を提
供することを目的とする。
サーなどを用いた光電変換方式による検査装置を採用す
る場合には、塗布欠陥と凹凸欠陥の各検出情報の強度レ
ベルに較差があるために共通化が困難であり、それぞれ
独立した検査装置を用意しなければならないという問題
点があった。この発明は前記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、人為的な目視検査によらずに非接触で感光
体の表面状態の検査が可能で、かつ塗布欠陥と凹凸欠陥
のいずれをも一括して検出できる感光体の検査装置を提
供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明によれば前述の
目的は、導電性基体上に有機材料からなる感光層が形成
された感光体の表面状態を検査するための検査装置にお
いて、感光体の表面上に照射光を照射するための光源部
と、感光体表面で反射された反射光を受光して検出信号
に変換する光センサー部と、この検出信号を受けて感光
体の表面状態の判別結果を表示するための表示器とを備
えることにより達成される。
目的は、導電性基体上に有機材料からなる感光層が形成
された感光体の表面状態を検査するための検査装置にお
いて、感光体の表面上に照射光を照射するための光源部
と、感光体表面で反射された反射光を受光して検出信号
に変換する光センサー部と、この検出信号を受けて感光
体の表面状態の判別結果を表示するための表示器とを備
えることにより達成される。
【０００８】そして、検出すべき最小欠陥レベルの１／
３以下の分解能を有する光センサー部と、この分解能の
８倍以上２０倍以下の範囲内で均一な照射光を照射可能
な光源部とを備えることが効果的であり、また照射光と
反射光とのなす挟角が６０度ないし９０度であることが
よく、さらに光センサー部の光センサーがＣＣＤ（電荷
結合素子）からなることが好ましい。
３以下の分解能を有する光センサー部と、この分解能の
８倍以上２０倍以下の範囲内で均一な照射光を照射可能
な光源部とを備えることが効果的であり、また照射光と
反射光とのなす挟角が６０度ないし９０度であることが
よく、さらに光センサー部の光センサーがＣＣＤ（電荷
結合素子）からなることが好ましい。
【０００９】上記のように構成された感光体の検査装置
においては、感光体の表面上に照射される照射光，照射
光と反射光とのなす挟角，光センサーの性能などを条件
整備することによって、感光層の色素を正常部と対比し
た表面色差として検出する塗布欠陥並びに感光体の表面
の陰影差として検出する凹凸欠陥の両方に対応する強度
レベルの検出情報が検出可能となるので、この一元化さ
れた検出情報に基づく判別レベル設定によって感光体の
表面状態の良又は不良の判別を光センサーを用いた光電
変換方式に置換することができ、従来のような人為的な
誤判定を回避することが可能となる。
においては、感光体の表面上に照射される照射光，照射
光と反射光とのなす挟角，光センサーの性能などを条件
整備することによって、感光層の色素を正常部と対比し
た表面色差として検出する塗布欠陥並びに感光体の表面
の陰影差として検出する凹凸欠陥の両方に対応する強度
レベルの検出情報が検出可能となるので、この一元化さ
れた検出情報に基づく判別レベル設定によって感光体の
表面状態の良又は不良の判別を光センサーを用いた光電
変換方式に置換することができ、従来のような人為的な
誤判定を回避することが可能となる。
【００１０】なお、検出すべき最小欠陥を約０．２ｍｍ
としたときの条件設定にて実験調査を行った結果によれ
ば、光源部の照射光が光センサー部の分解能の８倍以上
２０倍以下の範囲内にあって照射光と反射光とのなす挟
角が６０度ないし９０度であれば塗布欠陥と凹凸欠陥の
両方が一括して検出できることが確認されている。ま
た、ＣＣＤを用いた光センサーによれば感光体の表面色
差及び陰影差を輝度レベルに変換して検出できるため、
高感度の検出情報が得られるので極めて高精度の判別レ
ベル設定が可能となる。
としたときの条件設定にて実験調査を行った結果によれ
ば、光源部の照射光が光センサー部の分解能の８倍以上
２０倍以下の範囲内にあって照射光と反射光とのなす挟
角が６０度ないし９０度であれば塗布欠陥と凹凸欠陥の
両方が一括して検出できることが確認されている。ま
た、ＣＣＤを用いた光センサーによれば感光体の表面色
差及び陰影差を輝度レベルに変換して検出できるため、
高感度の検出情報が得られるので極めて高精度の判別レ
ベル設定が可能となる。
【００１１】
【発明の実施の形態】この発明は感光体の表面状態を検
査するための検査装置であり、図１はこの発明による検
査装置の一実施例を示す斜視図である。以下図１に基づ
いてこの発明の実施の形態について説明する。この発明
による検査装置は、感光体１の表面上に照射光２ａを照
射するための光源部２と、感光体表面で反射された反射
光２ｂを受光して検出信号に変換する光センサー部３
と、この検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果
を表示するための表示器５とを備えている。そして、所
定の回転数で軸周を矢印Ｒの方向に回転している感光体
１の表面上に光源部２から点線矢印Ｐの方向に所定の光
束幅に収束させた照射光２ａを照射し、その照射位置Ｓ
の上を走査することによって点線矢印Ｑの方向に向かう
反射光２ｂが光センサー部３を介して時間情報に変換さ
れた電気信号による検出情報４として検出され、この検
出情報４に基づく判別レベル設定により良又は不良の判
別結果を表示器５に表示させるようにしたものである。
査するための検査装置であり、図１はこの発明による検
査装置の一実施例を示す斜視図である。以下図１に基づ
いてこの発明の実施の形態について説明する。この発明
による検査装置は、感光体１の表面上に照射光２ａを照
射するための光源部２と、感光体表面で反射された反射
光２ｂを受光して検出信号に変換する光センサー部３
と、この検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果
を表示するための表示器５とを備えている。そして、所
定の回転数で軸周を矢印Ｒの方向に回転している感光体
１の表面上に光源部２から点線矢印Ｐの方向に所定の光
束幅に収束させた照射光２ａを照射し、その照射位置Ｓ
の上を走査することによって点線矢印Ｑの方向に向かう
反射光２ｂが光センサー部３を介して時間情報に変換さ
れた電気信号による検出情報４として検出され、この検
出情報４に基づく判別レベル設定により良又は不良の判
別結果を表示器５に表示させるようにしたものである。
【００１２】なお、実験調査の結果によれば、最小約
０．２ｍｍの欠陥を検出するためには、塗布欠陥の場合
には照射位置Ｓにおける照射光２ａの幅が光センサー部
３の分解能以上でかつ照射光２ａと反射光２ｂとの挟角
θが９０度以内であればよく、凹凸欠陥の場合には照射
光２ａの幅が光センサー部３の分解能の８倍以上２０倍
以下の範囲内でかつ照射光２ａと反射光２ｂとの挟角θ
が６０度ないし９０度であることを要する。
０．２ｍｍの欠陥を検出するためには、塗布欠陥の場合
には照射位置Ｓにおける照射光２ａの幅が光センサー部
３の分解能以上でかつ照射光２ａと反射光２ｂとの挟角
θが９０度以内であればよく、凹凸欠陥の場合には照射
光２ａの幅が光センサー部３の分解能の８倍以上２０倍
以下の範囲内でかつ照射光２ａと反射光２ｂとの挟角θ
が６０度ないし９０度であることを要する。
【００１３】また、ＣＣＤ（電荷結合素子）を用いた光
センサーによれば感光体の表面色差及び陰影差を輝度レ
ベルの電気信号に変換して検出することが可能であり、
図２の時間に対する検出情報の強度レベルを示す図に示
すように欠陥判別の上限値及び下限値を正常値に対して
±１３％以上の強度レベルに設定できるため、正常部の
範囲にある検出情報と欠陥部の検出情報との差別化が容
易にできるので、極めて高精度の判別結果を得ることが
可能である。 （実施例）外径３０（ｍｍ），長さ３２０（ｍｍ）の感
光体を毎分３０回転で軸周に沿って回転させ、２ＭＨｚ
の走査速度を有する光センサー部の分解能を０．０６に
設定して検査幅を１２０（ｍｍ）として感光体の塗布欠
陥と凹凸欠陥の判別検査を実施し、検出すべき最小欠陥
を約０．２ｍｍとしたとき、塗布欠陥の場合には感光体
の表面上に形成される照射光の幅が光センサーの分解能
以上でかつ照射光と反射光との挟角が９０度以内であれ
ば検出でき、凹凸欠陥の場合には照射光の幅が光センサ
ー部の分解能の８倍以上２０倍以下の範囲内でかつ照射
光と反射光との挟角が６０度ないし９０度であれば検出
できることを実験調査により確認した。その際、ＣＣＤ
光センサーを用いて感光体の表面色差及び陰影差を輝度
レベルの電気信号に光電変換して検出することによっ
て、欠陥判別の上限値及び下限値が正常値に対して±１
３％にあることも確認された。
センサーによれば感光体の表面色差及び陰影差を輝度レ
ベルの電気信号に変換して検出することが可能であり、
図２の時間に対する検出情報の強度レベルを示す図に示
すように欠陥判別の上限値及び下限値を正常値に対して
±１３％以上の強度レベルに設定できるため、正常部の
範囲にある検出情報と欠陥部の検出情報との差別化が容
易にできるので、極めて高精度の判別結果を得ることが
可能である。 （実施例）外径３０（ｍｍ），長さ３２０（ｍｍ）の感
光体を毎分３０回転で軸周に沿って回転させ、２ＭＨｚ
の走査速度を有する光センサー部の分解能を０．０６に
設定して検査幅を１２０（ｍｍ）として感光体の塗布欠
陥と凹凸欠陥の判別検査を実施し、検出すべき最小欠陥
を約０．２ｍｍとしたとき、塗布欠陥の場合には感光体
の表面上に形成される照射光の幅が光センサーの分解能
以上でかつ照射光と反射光との挟角が９０度以内であれ
ば検出でき、凹凸欠陥の場合には照射光の幅が光センサ
ー部の分解能の８倍以上２０倍以下の範囲内でかつ照射
光と反射光との挟角が６０度ないし９０度であれば検出
できることを実験調査により確認した。その際、ＣＣＤ
光センサーを用いて感光体の表面色差及び陰影差を輝度
レベルの電気信号に光電変換して検出することによっ
て、欠陥判別の上限値及び下限値が正常値に対して±１
３％にあることも確認された。
【００１４】
【発明の効果】この発明によれば、導電性基体上に有機
材料からなる感光層が形成された感光体の表面状態を検
査するための検査装置において、感光体の表面上に照射
光を照射するための光源部と、感光体表面で反射された
反射光を受光して検出信号に変換する光センサー部と、
この検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果を表
示するための表示器とを備えることによって、人為的な
目視検査によらずに非接触で感光体の表面状態の検査が
可能となり、塗布欠陥と凹凸欠陥のいずれをも一括して
検出できるため、感光体の外観検査における判定品質の
向上と検査装置の合理化を図ることができる。
材料からなる感光層が形成された感光体の表面状態を検
査するための検査装置において、感光体の表面上に照射
光を照射するための光源部と、感光体表面で反射された
反射光を受光して検出信号に変換する光センサー部と、
この検出信号を受けて感光体の表面状態の判別結果を表
示するための表示器とを備えることによって、人為的な
目視検査によらずに非接触で感光体の表面状態の検査が
可能となり、塗布欠陥と凹凸欠陥のいずれをも一括して
検出できるため、感光体の外観検査における判定品質の
向上と検査装置の合理化を図ることができる。
【図１】この発明による検査装置の一実施例を示す斜視
図
図
【図２】時間に対する検出情報の強度レベルを示す図
１・・・・感光体 ２・・・・光源部 ２ａ・・照射光 ２ｂ・・反射光 ３・・・・光センサー部 ４・・・・検出情報 ５・・・・表示器
Claims (4)
- 【請求項１】導電性基体上に有機材料からなる感光層が
形成された感光体の表面状態を検査するための検査装置
において、感光体の表面上に照射光を照射するための光
源部と、感光体表面で反射された反射光を受光して検出
信号に変換する光センサー部と、この検出信号を受けて
感光体の表面状態の判別結果を表示するための表示器と
を備えたことを特徴とする感光体の検査装置。 - 【請求項２】検出すべき最小欠陥レベルの１／３以下の
分解能を有する光センサー部と、該分解能の８倍以上２
０倍以下の範囲内で均一な照射光を照射可能な光源部と
を備えた請求項１記載の感光体の検査装置。 - 【請求項３】照射光と反射光とのなす挟角が６０度ない
し９０度である請求項１又は２記載の感光体の検査装
置。 - 【請求項４】前記光センサー部がＣＣＤを含むことを特
徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の感光体の
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8261692A JPH10104853A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 感光体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8261692A JPH10104853A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 感光体の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10104853A true JPH10104853A (ja) | 1998-04-24 |
Family
ID=17365395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8261692A Pending JPH10104853A (ja) | 1996-10-02 | 1996-10-02 | 感光体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10104853A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017102194A (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | キヤノン株式会社 | 電子写真感光体の製造方法における検査方法 |
-
1996
- 1996-10-02 JP JP8261692A patent/JPH10104853A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017102194A (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | キヤノン株式会社 | 電子写真感光体の製造方法における検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3754003B2 (ja) | 欠陥検査装置及びその方法 | |
| US7663745B2 (en) | Plural light source and camera to detect surface flaws | |
| KR20080078812A (ko) | 면 조잡도 검사 장치 | |
| JPWO2009054404A1 (ja) | 撮影画像に基づいた検査方法及び検査装置 | |
| EP1703274B1 (en) | Defect inspecting method | |
| JPH08219999A (ja) | 表面欠陥検査光学系の校正方法、及び装置 | |
| JPH07128240A (ja) | 電子写真感光体欠陥検査装置 | |
| JPH07239304A (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JP2000088761A (ja) | 円筒状被検物の表面検査装置 | |
| JPH10104853A (ja) | 感光体の検査装置 | |
| JPH06118007A (ja) | 円筒体の表面欠陥検査方法およびその装置 | |
| JPH11326236A (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JP3267062B2 (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JPH06221836A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH1194750A (ja) | 感光体ドラム検査方法及び感光体ドラム検査装置 | |
| JPH06123707A (ja) | 表面欠陥検査方法およびその装置 | |
| JP2000009451A (ja) | 電子写真用感光ドラムの外観検査装置およびそれを用いた外観検査方法 | |
| JP3469714B2 (ja) | 感光体表面検査方法および感光体表面検査装置 | |
| JPH0755710A (ja) | 感光体ドラムの欠陥検査装置 | |
| JPH07128241A (ja) | 電子写真感光体欠陥検査装置 | |
| US20070146692A1 (en) | Fiber optic specular surface flaw detection | |
| JP2001141659A (ja) | 画像撮像装置及び欠陥検出装置 | |
| JP3442199B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JP2819892B2 (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JP3287526B2 (ja) | 電子写真用感光体ドラムの表面検査方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |