JPH07128241A - 電子写真感光体欠陥検査装置 - Google Patents
電子写真感光体欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPH07128241A JPH07128241A JP27701593A JP27701593A JPH07128241A JP H07128241 A JPH07128241 A JP H07128241A JP 27701593 A JP27701593 A JP 27701593A JP 27701593 A JP27701593 A JP 27701593A JP H07128241 A JPH07128241 A JP H07128241A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- defect
- photosensitive member
- photoconductor
- drum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 感光体表面に予想される凹凸，色ムラ等の全
ての欠陥を効率良く適確に検出することを目的とする。 【構成】 駆動装置２により感光体ドラム１を反時計方
向に低速の回転状態とし、先ず第１高周波蛍光灯５を点
灯してドラム表面からの正反射光をラインセンサ４で受
光してその出力する電気信号により画像処理装置７にお
いて色ムラの有無を検出し、さらに第１高周波蛍光灯５
に替えて第２高周波蛍光灯６を点灯してドラム表面から
の散乱光をラインセンサ４で受光してその出力する電気
信号により画像処理装置７において凹凸の有無を検出す
るように構成したことを特徴としている。
ての欠陥を効率良く適確に検出することを目的とする。 【構成】 駆動装置２により感光体ドラム１を反時計方
向に低速の回転状態とし、先ず第１高周波蛍光灯５を点
灯してドラム表面からの正反射光をラインセンサ４で受
光してその出力する電気信号により画像処理装置７にお
いて色ムラの有無を検出し、さらに第１高周波蛍光灯５
に替えて第２高周波蛍光灯６を点灯してドラム表面から
の散乱光をラインセンサ４で受光してその出力する電気
信号により画像処理装置７において凹凸の有無を検出す
るように構成したことを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子写真複写機等に使用
される感光体の表面検査に用いられる電子写真感光体欠
陥検査装置に関する。
される感光体の表面検査に用いられる電子写真感光体欠
陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子写真複写機に使用される感光体ドラ
ムは、その表面に疵や感光層の膜厚にムラが存在してい
ると、感光体上に形成される画像に欠陥が生じてその品
質を低下するので、複写機への装置前に厳密な表面検査
を実施して表面状態が完全なもののみが使用される。
ムは、その表面に疵や感光層の膜厚にムラが存在してい
ると、感光体上に形成される画像に欠陥が生じてその品
質を低下するので、複写機への装置前に厳密な表面検査
を実施して表面状態が完全なもののみが使用される。
【０００３】表面検査の手段としては、特開昭62-52408
号公報による提案に示されているような干渉縞検出法に
よるものや、あるいは特定の複写機に実装して画像出力
を行い、その画像を目視検査することによって判断する
等の方法が取られているが、何れの方法も検査者の個人
差によって判定にバラツキがあり、また後者の方法には
実際に画像複写を行うことから感光体を消耗したり、着
脱に手間と時間を要する等の難点があった。
号公報による提案に示されているような干渉縞検出法に
よるものや、あるいは特定の複写機に実装して画像出力
を行い、その画像を目視検査することによって判断する
等の方法が取られているが、何れの方法も検査者の個人
差によって判定にバラツキがあり、また後者の方法には
実際に画像複写を行うことから感光体を消耗したり、着
脱に手間と時間を要する等の難点があった。
【０００４】このため近年目視による表面検査に変わっ
て機械化，電気化により自動化された検査方法が提案さ
れるに至り、その代表的なものとして特開昭59-13677
号、特開昭59-49573号、特開昭61-142456号及び特開平4
-42667号の各公報により電気式検査装置が、また特開平
4-194944号及び特開平3-229109号の各公報により光学式
検査装置がそれぞれ開示されている。
て機械化，電気化により自動化された検査方法が提案さ
れるに至り、その代表的なものとして特開昭59-13677
号、特開昭59-49573号、特開昭61-142456号及び特開平4
-42667号の各公報により電気式検査装置が、また特開平
4-194944号及び特開平3-229109号の各公報により光学式
検査装置がそれぞれ開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし感光体にはピン
ホール，打痕，擦り傷，気泡の巻き込み，クラック，ゴ
ミ等の付着等の欠陥ならびに感光層の膜厚のムラ，液ダ
レや支持体の傷等多種多様な欠陥の生ずる可能性があ
る。
ホール，打痕，擦り傷，気泡の巻き込み，クラック，ゴ
ミ等の付着等の欠陥ならびに感光層の膜厚のムラ，液ダ
レや支持体の傷等多種多様な欠陥の生ずる可能性があ
る。
【０００６】検査方法の点から見れば前述した電気式検
査装置では表面電位を測定することによって欠陥を検出
しているため欠陥検出部と感光体表面との間隙の精度が
要求され、電位に現れない欠陥は検出されずまた感光層
の膜厚ムラ等の緩やかな勾配による欠陥では検出精度に
問題があった。
査装置では表面電位を測定することによって欠陥を検出
しているため欠陥検出部と感光体表面との間隙の精度が
要求され、電位に現れない欠陥は検出されずまた感光層
の膜厚ムラ等の緩やかな勾配による欠陥では検出精度に
問題があった。
【０００７】一方これまでの光学式検査装置による場合
でも、ピンホール，打痕，擦り傷，ゴミ等の付着による
欠陥の如く表面の凹凸の変化率の大きな欠陥に対しては
高い検出力を発揮することが出来るが、感光層の膜厚ム
ラ等の如く凹凸の変化率の小さい欠陥あるいは支持体の
傷のように感光体表面に凹凸の変化のない欠陥に対して
は検出精度に問題があった。
でも、ピンホール，打痕，擦り傷，ゴミ等の付着による
欠陥の如く表面の凹凸の変化率の大きな欠陥に対しては
高い検出力を発揮することが出来るが、感光層の膜厚ム
ラ等の如く凹凸の変化率の小さい欠陥あるいは支持体の
傷のように感光体表面に凹凸の変化のない欠陥に対して
は検出精度に問題があった。
【０００８】本発明はこれ等の点を解決して改良した結
果、特定の欠陥検出に片寄ることなく前述した感光体に
発生すると考えられる全ての欠陥を効率良く適確に検出
することの出来る電子写真感光体欠陥検査装置の提供を
目的としたものである。
果、特定の欠陥検出に片寄ることなく前述した感光体に
発生すると考えられる全ての欠陥を効率良く適確に検出
することの出来る電子写真感光体欠陥検査装置の提供を
目的としたものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的は、感光体に光
を照射し該感光体表面からの反射光及び散乱光を受光手
段で受け、前記反射光及び散乱光の明度情報を電気信号
に変換して該電気信号を閾値と比較することによって欠
陥検出する電子写真感光体欠陥検査装置において、投光
手段と受光手段が補える感光体表面と受光手段とのなす
角度の異なる位置に前記投光手段を複数個備えることを
特徴とする電子写真感光体欠陥検査装置によって達成さ
れる。
を照射し該感光体表面からの反射光及び散乱光を受光手
段で受け、前記反射光及び散乱光の明度情報を電気信号
に変換して該電気信号を閾値と比較することによって欠
陥検出する電子写真感光体欠陥検査装置において、投光
手段と受光手段が補える感光体表面と受光手段とのなす
角度の異なる位置に前記投光手段を複数個備えることを
特徴とする電子写真感光体欠陥検査装置によって達成さ
れる。
【００１０】
【作用】感光体に投光された照射光は、感光体表面Ｓに
欠陥のない場合には図２（ａ）に示す如く感光体上の法
線Ｎを挟む照射光の入射角度の対称の角度に大部分の光
量が正反射光として反射される。
欠陥のない場合には図２（ａ）に示す如く感光体上の法
線Ｎを挟む照射光の入射角度の対称の角度に大部分の光
量が正反射光として反射される。
【００１１】これに対して感光体に図２（ｂ）及び図２
（ｃ）に示すように凸面あるいは凹面の何れかの欠陥が
ある場合には反射光は正反射光を中心とした広い角度範
囲内に分散して散乱光として反射される。
（ｃ）に示すように凸面あるいは凹面の何れかの欠陥が
ある場合には反射光は正反射光を中心とした広い角度範
囲内に分散して散乱光として反射される。
【００１２】従って受光手段が正反射光を受光する角度
より３〜10°傾いた角度で受光するように投光手段を配
置し、受光手段が反射光を受光したとすると、欠陥のな
い感光体表面では散乱光が少ないため受光手段からの電
気信号は著しく小さくなり、凹凸欠陥のある感光体表面
では散乱光が多いため受光手段からの電気信号は欠陥の
ない感光体表面の場合のようには減少せず、従ってＳ／
Ｎ比の高いいわゆる欠陥信号を捕らえることができる。
より３〜10°傾いた角度で受光するように投光手段を配
置し、受光手段が反射光を受光したとすると、欠陥のな
い感光体表面では散乱光が少ないため受光手段からの電
気信号は著しく小さくなり、凹凸欠陥のある感光体表面
では散乱光が多いため受光手段からの電気信号は欠陥の
ない感光体表面の場合のようには減少せず、従ってＳ／
Ｎ比の高いいわゆる欠陥信号を捕らえることができる。
【００１３】なおこれまでの光学式検査装置で検出精度
に問題があった電荷発生層の膜厚ムラによる欠陥は、電
荷発生層が吸光性を備えているため、膜厚ムラが反射光
の反射率に変化を起こすため、より強い反射光を受光す
る位置、即ち受光手段が正反射光を受光するような位置
に投光手段を配置することによりＳ／Ｎ比の高い欠陥信
号を捕らえることが出来る。
に問題があった電荷発生層の膜厚ムラによる欠陥は、電
荷発生層が吸光性を備えているため、膜厚ムラが反射光
の反射率に変化を起こすため、より強い反射光を受光す
る位置、即ち受光手段が正反射光を受光するような位置
に投光手段を配置することによりＳ／Ｎ比の高い欠陥信
号を捕らえることが出来る。
【００１４】また支持体の傷のような感光体表面に凹凸
の変化のない欠陥に関しても、支持体上に吸光性を備え
ている電荷発生層が塗布されているため、欠陥部での散
乱光をＳ／Ｎ比高く捕らえることは難しい。このため支
持体の傷のような感光体表面に凹凸の変化のない欠陥に
関しては、受光手段が正反射光を受光する位置の投光手
段を配置し、正反射光の明度差による欠陥信号を捕らえ
ることにより検出精度を向上させることが出来る。
の変化のない欠陥に関しても、支持体上に吸光性を備え
ている電荷発生層が塗布されているため、欠陥部での散
乱光をＳ／Ｎ比高く捕らえることは難しい。このため支
持体の傷のような感光体表面に凹凸の変化のない欠陥に
関しては、受光手段が正反射光を受光する位置の投光手
段を配置し、正反射光の明度差による欠陥信号を捕らえ
ることにより検出精度を向上させることが出来る。
【００１５】本発明は以上の点に着目してなされたもの
で、投光手段を複数個設定することによって感光体の欠
陥を効率よくかつ適確に検出する装置を提案するもので
ある。
で、投光手段を複数個設定することによって感光体の欠
陥を効率よくかつ適確に検出する装置を提案するもので
ある。
【００１６】
【実施例】本発明の一実施例を図１によって説明する。
【００１７】１は被験物たる感光体ドラム、２はその駆
動装置であって前記感光体ドラム１は同軸上に固定した
プーリ１Ａと駆動装置２のプーリ２Ａとの間に張架した
ベルト３の搬送作動により反時計方向に毎分60回転をも
って等速回転される。
動装置であって前記感光体ドラム１は同軸上に固定した
プーリ１Ａと駆動装置２のプーリ２Ａとの間に張架した
ベルト３の搬送作動により反時計方向に毎分60回転をも
って等速回転される。
【００１８】４は受光手段たるラインセンサで直線状に
配列したフォトトランジスタから構成され、感光体ドラ
ム１の法線Ｎに対し角度θ1傾斜した位置においてドラ
ムの軸方向に対し平行に配置されている。
配列したフォトトランジスタから構成され、感光体ドラ
ム１の法線Ｎに対し角度θ1傾斜した位置においてドラ
ムの軸方向に対し平行に配置されている。
【００１９】５は第１の投光手段たる第１高周波蛍光灯
であって感光体ドラム１の法線Ｎに対し前記角度θ1に
等しい角度θ2傾斜した位置すなわち前記のラインセン
サ１の法線Ｎに対して対称位置にドラム軸に対し平行に
配置されている。
であって感光体ドラム１の法線Ｎに対し前記角度θ1に
等しい角度θ2傾斜した位置すなわち前記のラインセン
サ１の法線Ｎに対して対称位置にドラム軸に対し平行に
配置されている。
【００２０】さらに６は第２の投光手段たる第２高周波
蛍光灯であって感光体ドラム１の法線Ｎに対し前記の角
度θ2より５°大きい角度θ3傾斜した位置に同じくドラ
ム軸に対し平行に配置されている。
蛍光灯であって感光体ドラム１の法線Ｎに対し前記の角
度θ2より５°大きい角度θ3傾斜した位置に同じくドラ
ム軸に対し平行に配置されている。
【００２１】前記各高周波蛍光灯５及び６は共に感光体
ドラム１より充分長い長さを有していて、その中心がほ
ぼ一致するよう平行に配置し、それぞれの備えるシリン
ドリカル状のコンデンサレンズ５Ａ及び６Ａによりドラ
ムの円周方向に集束した照射光を点Ｐにおいて、ドラム
の軸方向に平行に投光し、さらに点Ｐで反射して反射光
を前記のラインセンサ４によってドラムの軸方向に平行
に受光されるようになっている。
ドラム１より充分長い長さを有していて、その中心がほ
ぼ一致するよう平行に配置し、それぞれの備えるシリン
ドリカル状のコンデンサレンズ５Ａ及び６Ａによりドラ
ムの円周方向に集束した照射光を点Ｐにおいて、ドラム
の軸方向に平行に投光し、さらに点Ｐで反射して反射光
を前記のラインセンサ４によってドラムの軸方向に平行
に受光されるようになっている。
【００２２】感光体ドラム１を回転させ先ず第１高周波
蛍光灯５を点灯させドラム周面への照射光の投光を行
う。照射光はドラム表面の点Ｐにおいて反射し、正反射
光がラインセンサ４に受光され、画像処理装置７に高い
レベルの電気信号が入力し、入力された信号を、予め設
定された閾値と比較することにより２値化処理を行い欠
陥の有無を判定する。この欠陥判定では正反射光による
判定であるので、ドラム表面の凹凸欠陥以外の例えば感
光層の膜厚ムラ等の欠陥の有無を、高い検出精度で判定
することが出来る。
蛍光灯５を点灯させドラム周面への照射光の投光を行
う。照射光はドラム表面の点Ｐにおいて反射し、正反射
光がラインセンサ４に受光され、画像処理装置７に高い
レベルの電気信号が入力し、入力された信号を、予め設
定された閾値と比較することにより２値化処理を行い欠
陥の有無を判定する。この欠陥判定では正反射光による
判定であるので、ドラム表面の凹凸欠陥以外の例えば感
光層の膜厚ムラ等の欠陥の有無を、高い検出精度で判定
することが出来る。
【００２３】次に第１高周波蛍光灯５を消灯し、第２高
周波蛍光灯６を点灯させドラム周面への照射光の投光を
行う。照射光はドラム表面の点Ｐにおいて反射し、散乱
光がラインセンサ４に受光され、画像処理装置７に高い
レベルの電気信号が入力し、入力された信号を予め設定
された閾値と比較することにより２値化処理を行い欠陥
の有無を判定する。この欠陥判定では散乱光による判定
であるので、ドラム表面の凹凸欠陥の有無を、高い検出
精度で判定することが出来る。
周波蛍光灯６を点灯させドラム周面への照射光の投光を
行う。照射光はドラム表面の点Ｐにおいて反射し、散乱
光がラインセンサ４に受光され、画像処理装置７に高い
レベルの電気信号が入力し、入力された信号を予め設定
された閾値と比較することにより２値化処理を行い欠陥
の有無を判定する。この欠陥判定では散乱光による判定
であるので、ドラム表面の凹凸欠陥の有無を、高い検出
精度で判定することが出来る。
【００２４】このように角度を異にする位置に設定した
２つ以上の投光手段を切り替えて点灯することにより、
１つの受光手段をもって感光体に予想される全ての欠陥
を検査することが可能となる。
２つ以上の投光手段を切り替えて点灯することにより、
１つの受光手段をもって感光体に予想される全ての欠陥
を検査することが可能となる。
【００２５】第１高周波蛍光灯５に対する第２高周波蛍
光灯６の傾き即ち前記の角度θ3と角度θ2の差は、本発
明者の実施した数多くの実験結果による凹凸の検出に関
しては３°ないし10°の範囲が好ましく、その角度範囲
内から最も高いＳ／Ｎ比の得られる位置を設定出来るこ
とが確認された。
光灯６の傾き即ち前記の角度θ3と角度θ2の差は、本発
明者の実施した数多くの実験結果による凹凸の検出に関
しては３°ないし10°の範囲が好ましく、その角度範囲
内から最も高いＳ／Ｎ比の得られる位置を設定出来るこ
とが確認された。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、極めて簡単な装置の構成によ
って感光体表面に予想される全ての欠陥を高い検出精度
をもって効率良く検知することを可能としたもので、そ
の結果感光体の品質が安定し高品位の画像の形成を可能
ならしめる電子写真感光体欠陥検査装置が提供されるこ
ととなった。
って感光体表面に予想される全ての欠陥を高い検出精度
をもって効率良く検知することを可能としたもので、そ
の結果感光体の品質が安定し高品位の画像の形成を可能
ならしめる電子写真感光体欠陥検査装置が提供されるこ
ととなった。
【図１】本発明の感光体欠陥検査装置。
【図２】感光体表面における反射光の説明図。
１ 感光体ドラム ２ 駆動装置 ３ ベルト ４ ラインセンサ ５ 第１高周波蛍光灯 ５Ａ，６Ａ コンデンサレンズ ６ 第２高周波蛍光灯 ７ 画像処理装置 Ｎ 法線
Claims (2)
- 【請求項１】 感光体に光を照射し該感光体表面からの
反射光及び散乱光を受光手段で受け、前記反射光及び散
乱光の明度情報を電気信号に変換して該電気信号を閾値
と比較することによって欠陥検出する電子写真感光体欠
陥検査装置において、投光手段と受光手段が補える感光
体表面と受光手段とのなす角度の異なる位置に前記投光
手段を複数個備えることを特徴とする電子写真感光体欠
陥検査装置。 - 【請求項２】 少なくとも照射光の正反射光を受光する
位置と、投光手段と受光手段が補える感光体表面と照射
光の正反射光を受光する受光手段とのなす角度より３〜
10°傾いた位置に前記投光手段を備えることを特徴とす
る請求項１の電子写真感光体欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27701593A JPH07128241A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 電子写真感光体欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27701593A JPH07128241A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 電子写真感光体欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128241A true JPH07128241A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17577586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27701593A Pending JPH07128241A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 電子写真感光体欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07128241A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000310598A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 撮像装置 |
| US7099002B2 (en) | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| JP2007271510A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Tsubakimoto Chain Co | 外観検査方法及び外観検査装置 |
| JP2007322402A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Yoshiro Yamada | 表面検査装置 |
| JP2007327896A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Canon Inc | 検査装置 |
| US7362450B2 (en) | 2005-12-23 | 2008-04-22 | Xerox Corporation | Specular surface flaw detection |
-
1993
- 1993-11-05 JP JP27701593A patent/JPH07128241A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000310598A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 撮像装置 |
| US7099002B2 (en) | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| US7362450B2 (en) | 2005-12-23 | 2008-04-22 | Xerox Corporation | Specular surface flaw detection |
| JP2007271510A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Tsubakimoto Chain Co | 外観検査方法及び外観検査装置 |
| JP2007322402A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Yoshiro Yamada | 表面検査装置 |
| JP2007327896A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Canon Inc | 検査装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3754003B2 (ja) | 欠陥検査装置及びその方法 | |
| JP2006258726A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPH07128240A (ja) | 電子写真感光体欠陥検査装置 | |
| JPH07128241A (ja) | 電子写真感光体欠陥検査装置 | |
| JP2000088761A (ja) | 円筒状被検物の表面検査装置 | |
| JPH06118007A (ja) | 円筒体の表面欠陥検査方法およびその装置 | |
| JPH07239304A (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JPH02257044A (ja) | びん検査装置 | |
| JPH0518728A (ja) | 表面検査装置 | |
| JP3267062B2 (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JP3469714B2 (ja) | 感光体表面検査方法および感光体表面検査装置 | |
| JPH11326236A (ja) | 表面層欠陥検出装置 | |
| JP3442199B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JP2002005845A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPH0755710A (ja) | 感光体ドラムの欠陥検査装置 | |
| JPH06123707A (ja) | 表面欠陥検査方法およびその装置 | |
| JPH11271008A (ja) | 円筒状被検査物検査装置 | |
| JP3054243B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JP2004354226A (ja) | 表面欠陥検査方法及び検査装置 | |
| JPH0755720A (ja) | 透明および不透明フィルムの欠点検査装置 | |
| JPH08304292A (ja) | 電子写真用感光体ドラムの表面検査方法 | |
| JP3428772B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JP2002168611A (ja) | 円筒状被検物の表面凹凸検査方法及び同検査装置 | |
| JP2001165868A (ja) | 円筒表面検査装置及び検査方法 | |
| JPH09145339A (ja) | 表面欠陥検査方法 |