JPH0991028A - 電力用保護制御装置のシーケンス制御試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】外部からの運転時の入力信号に代わる試験信号
の入力を不要とし、試験信号を入力するための専用の入
力回路を要しない電力用保護制御装置のシーケンス制御
試験方法を提供する。 【解決手段】試験準備プログラムTP1 と試験実行プログ
ラムTP2 とを保護制御装置CA2 に格納し、タイミングチ
ャート形式で入力された試験データの元データを試験準
備プログラムTP1 によって試験データTDを生成、試験デ
ータ領域TAに格納させ、試験実行プログラムTP2 によっ
て試験データ領域TAに格納された試験データTDから試験
信号値TAI,TVI,TDI1,TDI2 等を生成させ、この値をシー
ケンス制御部SQによって参照される入力信号値領域ID1,
ID2,ID3,ID4 等に、入力信号値AI,VI,DI1,DI2 等に代わ
る値として代入させ、代入された試験信号値を参照させ
てシーケンス制御部SQのプログラムを実行させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、制御演算手段にプ
ログラムを実行させて電力系統を監視し、必要な保護、
制御を行う電力用保護制御装置のシーケンス制御試験方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図４に、電力用保護制御装置の一例と、
この装置の周辺とを示したブロック図を示す。図におい
て、CAは電力用保護制御装置であり、COは電力用保護制
御装置CAの保護制御対象である。図示のとおり、電力用
保護制御装置CA（以下の説明では装置CAと略記する）は
制御演算手段１、プログラム記憶手段２、データ記憶手
段３、入力装置４、表示装置５、入力部６、出力部７か
らなる。制御演算手段１はプログラム記憶手段２に格納
されているプログラムを実行して、装置CAの機能を実現
する。入力装置４は装置CAへの操作信号を入力するため
の装置であり、表示装置５は装置CAが保有するデータ
や、保護制御対象COの状態を表示するための装置であ
り、入力部６は保護制御対象COからの信号ISを入力する
回路部分であり、出力部７は保護制御対象COへの制御信
号CSを出力する回路部分である。データ記憶手段３は制
御演算手段１がプログラムを実行するに当たって参照す
るデータや、制御演算手段１がプログラムを実行して生
成したデータを格納するデータの記憶手段であり、また
データ記憶手段３には入力部６に入力されたデータを一
時的に記憶しておく入力データ領域ID、出力部７を介し
て出力すべきデータを一時的に格納しておく出力データ
領域ODが設けられている。なお、以下の説明において
は、制御演算手段１がプログラムを実行して実現する装
置CAの機能をプログラムが実現するものてとして説明す
る。

【０００３】プログラム記憶手段２には、保護制御対象
COの状態を検出したり、保護制御対象COへの制御信号を
生成するなどの、保護制御対象COを保護し、あるいは制
御するためのシーケンス制御プログラムP2と、入力装置
４からの操作信号を入力する処理をしたり、所定のデー
タを表示装置５に表示する処理をしたり、入力部６への
信号の入力処理をしたり、出力部７から信号を出力する
処理をする等の装置CAの基本的な動作を実現するプログ
ラム群と、シーケンス制御プログラムP2を支援するプロ
グラム群とからなるシステムプログラムP1が格納されい
る。

【０００４】図５に、図４に示した装置CAと、装置CAの
保護制御対象COとの関係を機能的に示した説明図を示
す。図示のとおり装置CAは、図４に示した入力部６を構
成する要素として、電流変換部CPと電圧変換部VPと２値
信号入力部DPとを備え、シーケンス制御を行うプログラ
ムP2（図４を参照）の機能を図形として表示したシーケ
ンス制御部SQの機能を有する。

【０００５】保護制御対象COからは、保護制御対象COが
扱う交流電力系統の交流電流A と交流電圧V とがそれぞ
れ電流変成器CTおよび電圧変成器PTを介して装置CAに入
力され、また保護制御対象CO内に設備された保護装置PA
1 からの、保護装置PA1 が監視する対象が正常か否かを
示す２値信号D1（以下の説明では信号D1と略記する）、
操作スイッチOS1 からの２値信号D2（以下の説明では信
号D2と略記する）などが装置CAに入力される。交流電流
A は、電流変換部CPによってデジタル値AIに変換され、
交流電圧V は、電圧変換部VPによってデジタル値VIに変
換され、保護装置PA1 からの信号D1と、操作スイッチOS
1 からの信号D2とは、２値信号入力部DPを経由してそれ
ぞれ信号DI1 、信号DI2 とに変換され、これらの変換さ
れたデータは全てシーケンス制御部SQによって入力デー
タとして参照される領域の入力信号値領域に格納され
る。即ち、シーケンス制御部SQは、入力電流I の値を表
すデジタル値AI、入力電圧V を表すデジタル値VI、信号
DI1,DI2 を入力信号値とし、この入力信号値に従ってシ
ーケンス制御部SQとして与えられた機能の処理をし、制
御信号C1,C2 を保護制御対象COに出力部７（図４を参
照）を経由して出力する。

【０００６】図６に、図５に示した交流電流A を例にし
て、装置CAにおけるデータの処理をさらに詳細に示した
説明図を示す。図において、CAは図５に示した装置CAと
同一の装置であり、CTは電流変成器、CPは電流変換部、
SQはシーケンス制御部であって、図５に示した同符号の
要素と同一の要素である。電流変換部CPはA/D 変換器AD
とレジスタRG1 とを備え、電流変成器CTから入力された
交流電流A は、交流電流A に比例した大きさの電圧に変
換されてA/D 変換器ADに入力され、交流電流Aの大きさ
を表す複数のビットからなるデジタル値AIに変換され、
レジスタRG1 に格納される。レジスタRG1 の内容は，複
数本の２値信号を伝送する信号線からなるデータバスDB
を経由してシーケンス制御部SQの機能を実現している制
御演算手段１に入力される。シーケンス制御部SQは図示
のとおり、制御演算手段１がシーケンス制御プログラム
P2を実行して実現する機能である。制御演算手段１は、
データバスDBを介してレジスタRG1 が保有する交流電流
AIの値を表すデジタル値AIを読み取り、シーケンス制御
プログラムP2を実行した結果を制御信号値Ciとしてデー
タ記憶手段３（図４を参照）の出力データ領域ODに格納
する。この出力データ領域ODに格納された制御信号値Ci
は、システムプログラムP1（図４を参照）によって出力
信号Ciとして出力される。

【０００７】装置CAは、実際に保護制御対象CO（図４及
び図５を参照）に設備して稼働に入れる前に、シーケン
ス制御上の誤りによる事故を防止するために、シーケン
ス制御部SQの機能を確認する試験が必要である。シーケ
ンス制御部SQを試験する１つの方法は、図５に示す保護
制御対象COの交流電流A 、交流電圧V 等に相当する電
流、電圧や、信号D1,D2 等を模擬する信号を、装置CAの
入力部６（図４を参照し）に入力して試験する方法であ
る。この方法による場合は、装置CAの外部に交流の試験
電源と試験信号の発生源とを用意し、用意した試験電源
から出力される電流や電圧、試験信号の発生源からの信
号を、保護制御対象COからの電流、電圧、信号に代えて
装置CAに入力し、これらの入力を様々な時間順序で変化
させてシーケンス制御部SQを機能させる。

【０００８】上述の電圧、電流や信号を模擬して入力す
る試験方法は、試験のための準備や、試験信号を保護制
御対象からの信号に代えて入力するための、装置CAの入
力部における接続変更が必要であり、かつ試験を行う過
程で試験信号を順次発生させる手間も大きい。そこで、
シーケンス制御部SQの試験をより簡便に行うための第２
の方法が行われている。図７に、この第２の試験方法の
実行を可能とした保護制御装置CA1 （以下の説明では装
置CA1 と略記する）の機能を中心としたブロック図を示
す。

【０００９】装置CA1 は、図４に示した装置CAと同一機
能を有する保護制御装置であり、装置CAとは試験入力回
路TCとこの回路を使用したシーケンス制御部SQの試験を
支援する試験プログラムTPを有する点のみが異なる。図
において、CPは電流変換部、VPは電圧変換部、DPは２値
信号入力部、SQはシーケンス制御部であって、これらの
図５に示した装置CAを構成する要素と同符号を付して示
した構成要素は、装置CAを構成する要素と同一の機能の
要素であるので説明を省略する。なお、装置CA1 をハー
ド面から見た構成要素は、図４に示した装置CAの構成要
素と同一である。

【００１０】図において、ID1,ID2,ID3,ID4 は、シーケ
ンス制御部SQのプログラムが、入力データとして参照す
るデータ記憶手段３（図４を参照）に設けられた入力信
号値領域であり、装置CA1 が正規の運転状態に置かれて
いる場合には、電流変換部CPからの交流電流A を変換し
たデジタル値AI、電圧変換部VPからの交流電圧V を変換
したデジタル値VI、２値信号入力DPからの信号D1,D2 に
対応する信号D11,D21は、それぞれ入力信号値として入
力信号値領域ID1,ID2,ID3,ID4 に格納され、この格納さ
れた入力信号値AI,VI,DI1,DI2 がシーケンス制御部SQに
よって参照される。

【００１１】試験入力回路TCは、試験用の２値信号TI,T
V,TD1,TD2 （２値信号は以下の説明では単に信号と表記
する）等を入力するための試験信号端子を有し、試験用
入力回路TCに入力された信号TA,TV,TD1,TD2 は、シーケ
ンス制御部SQにおいて処理可能な形式のデータに変換さ
れる。信号TAと信号TVとは、交流電流A と交流電圧Vと
をA/D 変換した複数ビットからなるデジタル値である
が、説明を簡略化するかめに最上位の１ビット分のみを
代表として示す。

【００１２】装置CA1 を入力装置４（図４を参照）から
の操作信号によって試験状態にすると、試験プログラム
TPが起動する。試験プログラムTPは、試験入力回路TCに
入力されている試験信号TA,TV,TD1,TD2 をそれぞれ、入
力信号値AI,VI,DI1,DI2 を模擬した試験信号値TAI,TVI,
TDI1,TDI2 に変換する。そして試験信号値TAI,TVI,TDI
1,TDI2 を入力信号値領域ID1,ID2,ID3,ID4 に入力信号
値に代わるデータとして格納し、シーケンス制御部SQの
プログラムP2を起動する。従って、シーケンス制御部SQ
は、運転状態における保護制御対象COからの入力信号に
基づく入力信号値AI,VI,DI1,DI2 を模擬した試験信号値
TAI,TVI,TDI1,TDI2 を参照して機能し、試験時の制御信
号C1,C2 等を出力する。なお、図において、符号TMD は
装置A2を運転状態に置いた場合と、試験状態に置いた場
合とにおける信号値の流れを示した図記号であり、運転
状態においては、外部を信号源とする入力信号値AI,VI,
DI1,DI2 が入力信号値領域IDi(i は入力信号値領域の番
号、例えばTD1 ）に格納され、試験状態においては、試
験入力回路TCから作成された試験信号値が入力信号値領
域IDi に格納されることを表す。

【００１３】即ち、装置CA1 においてはシーケンス制御
部SQの試験をするに当たっては、交流電流A が入力され
る回路に試験用の交流電流を入力し、交流電圧V が入力
される回路に試験用の交流電圧を入力するなどの、手間
の多い試験を行わなくても、試験用入力回路TCに２値信
号の組み合わせを入力するのみで足りるので、試験のた
めの外部の装置は簡便でよく、試験の手間が軽減され
る。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】電力用保護制御装置に
おいて、シーケンス制御部の試験は全試験のかなり大き
い部分を占めるのであるが、前述したとおりに、シーケ
ンス制御部の試験の方法の１つである、実入力をそのま
ま代用する試験入力を入力する方法は、試験信号源の準
備を要し、試験入力を入力するための外部配線の変更を
伴い、試験手順に従った入力を外部で作成し試験を行う
煩瑣な手間が必要がある。また、試験用入力回路を電力
用保護制御装置内に装備する第２の方法においては、試
験信号源の準備や試験入力を入力するための外部配線の
変更は不要であるが、試験用入力回路を余分に必要と
し、また、試験手順は外部において作成し、試験対象の
電力用保護制御装置に入力しなければならない。

【００１５】以上に述べた事情があることに鑑み、本発
明は、試験用電源や試験信号源の準備を要せず、試験入
力のための外部配線の変更を伴わず、試験手順に従った
入力を外部で作成する必要のない、シーケンス制御部の
試験を可能とした電力用保護制御装置のシーケンス制御
試験方法を提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】前述の目的を達成するた
め、本発明によれば、制御演算手段と、制御演算手段が
実行するプログラムを格納するプログラム記憶手段と、
制御演算手段がプログラムを実行するに当たって参照す
るデータを含むデータを格納するデータ記憶手段と、入
力装置と、表示装置を備え、保護制御対象からの信号を
入力し、この入力した信号が表すデータを入力信号値と
して入力信号値の領域に格納し、この領域の入力信号値
を参照して保護制御対象のシーケンス制御を行うプログ
ラムであるシーケンス制御部を有する電力用保護制御装
置のシーケンス制御試験方法において、試験データを、
データ記憶手段中に設けた試験データ領域内に作成し、
この試験データを参照して試験信号値を生成し、この試
験信号値を入力信号値に代わる信号値としてシーケンス
制御部の試験をすることを特徴とする。

【００１７】従って、試験データ領域内にシーケンス制
御部のプログラムを試験するための試験データを用意し
ておけば、シーケンス制御部のプログラムは、この試験
データ領域内の試験データを参照して生成される試験信
号値を参照して処理されるので、外部から試験信号値を
入力して試験する場合と同様なシーケンス制御部の機能
を表す試験結果が得られる。

【００１８】また、本発明において、入力装置から入力
され、表示装置の画面上に時間の経過に対応した２値信
号の値として表現されたタイミングチャート形式の試験
入力条件に基づいて試験データを作成し、かつこの作成
した試験データを試験データ領域に格納するプログラム
である試験準備プログラムをプログラム記憶手段に格納
し、入力装置から入力する操作信号によって試験準備プ
ログラムを起動し、試験準備プログラムによって試験デ
ータを作成すると好適である。即ち、試験準備プログラ
ムは、入力装置から表示装置の画面を観察しつつ入力さ
れるタイミングチャート形式の試験条件を参照して試験
データを試験データ領域内に生成するので、試験条件の
設定者は、試験条件を表すのに好都合なタイミングチャ
ート形式で試験条件の設定ができる。

【００１９】さらに、本発明において、試験データ領域
に格納された試験データに基づいて試験信号値を生成
し、かつこの生成した試験信号値を入力信号値に代わっ
て入力信号値領域に格納するプログラムである試験実行
プログラムをプログラム記憶手段に格納し、入力装置か
ら入力する操作信号によって試験実行プログラムを起動
し、試験実行プログラムによって試験信号値を生成し、
この試験信号値を入力信号値の領域に格納し、格納した
信号試験値に基づいてシーケンス制御部のプログラムを
実行させると好適である。即ち、試験実行プログラムが
始動すると、試験実行プログラムは入力信号値領域に試
験信号データ領域を参照して生成した試験信号値を格納
するので、入力信号値領域の内容を参照するシーケンス
制御部のプログラムを実行する制御演算手段は、試験デ
ータを参照して導き出した結果を制御信号として出力す
る。この出力される信号は試験信号値を入力してシーケ
ンス制御部が機能した結果であり、シーケンス制御部の
試験結果を表す。

【００２０】

【発明の実施の形態】図１に、本発明の方法の実施の形
態の一例である電力用保護制御装置CA2 （以下の説明で
は装置CA2 と略記する）の機能を中心に表したブロック
図を示す。装置CA2 は、制御演算手段１、図外の保護制
御対象から入力される交流電流A と交流電圧V とをそれ
ぞれ、デジタル値AIに変換する電流変換部CPとデジタル
値VIに変換する電圧変換部VP、および２値信号D1,D2 を
内部で参照可能にしたデータDI1,DI2 等に変換する２値
信号入力部DPを備える。シーケンス制御部SQは、デジタ
ル値AI,VI 、データDI1,DI2 等を参照し、図外の保護制
御対象を制御する制御信号C1,C2 等を生成するプログラ
ムの機能を表したブロック図であり、図５に示した同符
号のシーケンス制御部と同一の機能を有する機能部分で
あって、本方法における試験の対象となる機能部分であ
る。上述の装置CA2 を構成する要素は、図５に示した装
置CAを構成する同符号の要素と同一の機能の要素である
ので、これらの要素の個別の説明は省略する。なお、装
置CA2 をハードとして見た場合の構成要素は、図４に示
した装置CAの構成要素と同一である。

【００２１】装置CA2 のプログラム記憶手段２（図４を
参照）には、図４に示したシステムプログラムP1、シー
ケンス制御プログラムP2に加えて、試験準備プログラム
TP1と試験実行プログラムTP2 とが格納され、装置CA2
のデータ記憶手段３（図４を参照）には、入力信号値領
域ID1,ID2,ID3,ID4 が設けられ、試験データ領域TAが確
保される。

【００２２】正規の運転状態の場合には、保護制御対象
から入力され変換された、入力信号値としてのデジタル
値AI,VI 、データDI1,DI2 等はそれぞれ、入力信号値領
域ID1,ID2,ID3,ID4 に格納され、シーケンス制御部SQの
機能を実現するシーケンス制御プログラムP2（図４を参
照）は、入力信号値領域ID1,ID2,ID3,ID4 に格納された
入力信号値AI,VI,DI1,DI2 等を参照して実行され、結果
が制御信号C1,C2 等として出力される。

【００２３】試験準備プログラムTP1 は、入力装置４
（図４を参照）から入力される、試験データを作成する
ことを指示する信号によって起動し、入力装置４から入
力される試験データの元のデータから、試験データTDを
作成し、作成した試験データTDを試験データ領域TAに格
納する。試験実行プログラムTP2 は、入力装置４からの
装置A2を試験状態にすることを指示する信号によって起
動し、シーケンス制御部SQの機能を一時停止する。試験
実行プログラムTP2 は、試験データ領域TAに格納された
試験データTDを参照して、入力信号値AI,VI,DI1,DI2 に
それぞれ対応する試験信号値TAI,TVI,TDI1,TDI2を生成
し、生成した試験信号値TAI,TVI,TDI1,TDI2 をそれぞれ
入力信号値領域ID1,ID2,ID3,ID4 に格納する。次いで、
シーケンス制御部SQのプログラムに制御演算手段１の実
行を移し、制御演算手段１はシーケンス制御部SQのシー
ケンス制御プログラムP2を実行する。即ち、シーケンス
制御部SQのシーケンス制御プログラムP2が実行されるに
先立って、入力信号値領域TDi(i は入力信号値領域の番
号、例えば"TD1" ）の内容が試験実行プログラムTP1 に
よって試験信号値TDi に置き換えられ、シーケンス制御
部SQのシーケンス制御プログラムP2は、試験信号値TDi
を参照して実行され、結果が制御信号C1,C2 等として出
力される。上述したところから明らかなとおり、この場
合に出力される制御信号C1,C2 等は、試験信号値によっ
て与えられたシーケンス制御SQの機能を表した信号であ
る。なお、図において、符号TMD は装置A2を運転状態に
置いた場合と、試験状態に置いた場合とにおける信号値
の流れを示した図記号であり、運転状態においては、外
部を信号源とする入力信号値AI,VI,DI1,DI2 が入力信号
値領域IDi こ格納され、試験状態においては、試験デー
タTDから作成された試験信号値が入力信号値領域IDi こ
格納されることを表す。

【００２４】図２に、試験準備プログラムTP2 によっ
て、入力装置４から入力する試験データの元データか
ら、試験データTDを作成する一例の説明図を示す。図２
の(a) は、入力装置４から入力した試験データの元デー
タを表示装置５（図４を参照）に表示させた図であり、
図２の(b) は図１の(a) に表示された試験データの元デ
ータから、試験準備プログラムTP2 が作成した試験デー
タTDの説明図である。

【００２５】図２の(a) において、TAI は、図１に示し
た交流電流A を変換したデジタル値AIを模擬した試験信
号値であり、TV2 は図１に示した交流電圧V を変換した
デジタル値VIを模擬した試験信号値であり、TDI1は図１
に示した信号値DI1 を模擬した試験信号値である。図示
の例では、時刻T0においては、試験信号値TAI,TVI は、
０であり、試験信号値TDI1は１である。時刻T1において
は、試験信号値TAI が１になり、時刻T2において、再び
試験信号値TAI が０になり、時刻T3においては試験信号
値TVI が１になり、時刻T4において試験信号値TDI1０に
なる。試験データTD（図１を参照）の作成者は、入力結
果が表示される表示装置５（図４を参照）の表示画面を
見つつ、入力装置４（図４を参照）から試験データの元
データを入力する。入力した結果は図示のとおりのタイ
ミングチャートとして表示されるので、試験データの元
データは容易に誤りなくを入力することができる。

【００２６】試験準備プログラムTP1 は、図２の(a) に
示したとおりに入力さた試験データの元データを、図２
の(b) に示すとおりの試験データTDに変換する。試験デ
ータTDは、データ記憶手段３（図４を参照）の内部に設
定された領域であり、図１の(a) に示した時刻T0,T1,T
2,T3 等の時刻を与える数値を格納した時間値テーブルT
SA と、時刻Ti（i は時刻の番号）での試験信号値を与
える試験値テーブルTDAからなる。

【００２７】時間値テーブルTSA は、この領域の先頭番
地から順次、時刻Tiを表す数値を格納したデータの領域
であり、図では時刻Tiを表す数値を格納するそれぞれの
領域の先頭番地に、符号"Ti"を付して示している。例え
ば、時刻T0の時間値を格納すべき時間値テーブルTSA の
先頭番地T0に時間値の０が格納され、T0に続く番地T1に
は時間値の12が格納され、以下、番地T2には、時間値の
100 、番地T3には時間値の120 が格納されている。

【００２８】試験値テーブルTDA は、この先頭番地から
順次に、時刻Tiにおける試験値TAI,TVI 等を格納した領
域である。図では、最上行に時刻Tiにおける、試験値を
格納する領域の先頭番地を符号"Ti"で示し、左端の列
に、時刻Tiにおける試験値を格納した領域の番地を、番
地Tiを基準として表現した符号で示す。例えば、時刻T0
における試験値TAI は、試験値テーブルTDA の先頭番地
に一致する、最上行の符号"T0"と左端列の符号"TAI" を
合成した符号"T0TAI" が付与された番地に格納され、こ
の値が図の例では１であることが示されている。この領
域の次の領域の番地T0TVI には、時刻TOにおける試験値
TVI として０が格納され、番地T0TDI1には、時刻T0にお
ける試験値TDI1として１が格納されている。

【００２９】図３に、図１に示した装置CA2 の試験時の
動作を表したフローチャートを示す。図示のとおり、装
置CA2 が始動すると、先ず処理F1において試験を実行す
べき状態の試験モードに入れるか否かを指示する操作信
号が入力されることを待ち、この信号が試験モードに入
れることを指示している場合は処理F2に進み、装置CA2
の運転を停止し、さらに処理F3に進んで試験準備プログ
ラムを起動する。試験準備プログラムは処理F4において
試験データを作成する。次いで装置CA2 は処理F5に進み
試験開始を指示する操作信号が入力されることを待つ。
試験開始信号が入力されると装置CA2 は処理F6において
試験実行プログラムを起動する。試験実行プログラム
は、処理F7において試験データを参照して試験信号値を
生成し、処理F8において生成した試験信号値を入力信号
値領域に代入、次いで処理F9においてシーケンス制御プ
ログラムを起動する。シーケンス制御プログラムは処理
F10において試験信号値に基づく試験制御信号を出力す
る。装置CA2 は処理F11 において、試験を終了するか否
かを指示する信号を待ち、終了が指示された場合は処理
を終り、終了が指示されない場合は再度、処理F1に戻っ
て試験モードか否かを指示する操作信号の入力を待つ。
試験モードが指示されない場合は、処理F12 に進み、運
転状態に入る。

【００３０】

【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明は、電力
用保護制御装置において、試験データをデータ記憶手段
中に設けた試験データ領域内に作成し、この試験データ
を参照して試験信号値を生成し、この生成した試験信号
値を入力信号値に代わるデータとして参照させてシーケ
ンス制御部の試験をする。

【００３１】従って、本発明の方法によれば、電力用保
護制御装置が有するシーケンス制御機能の試験をする場
合に、試験信号値を外部において生成する必要がなく、
また試験信号値を外部から入力する必要もないので、外
部において試験信号値を生成するための装置や手間が不
要であり、また試験信号値を入力するための入力信号回
路を電力用保護制御装置に装備する必要もない。

【００３２】また、請求項２に記載の本発明の方法にお
いては、入力装置から入力され、表示装置の画面上に時
間の経過に対応した２値信号の値として表現されたタイ
ミングチャート形式の試験入力条件に基づいて試験デー
タを作成し、かつこの作成した試験データを試験データ
領域に格納するプログラムである試験準備プログラムを
プログラム記憶手段に格納し、入力装置から入力する操
作信号によって試験準備プログラムを起動し、試験準備
プログラムによって試験データを作成する。即ち、本発
明の方法によれば、試験データを作成する場合に、試験
データの元になる試験条件を、電力用保護制御装置に要
求する動作に則した形式の、タイミングチャート形式で
表現して入力するのみで足りるので、試験データを容易
に作成することができる。

【００３３】さらに、請求項３に記載の本発明の方法に
おいては、試験データ領域に格納された試験データに基
づいて試験信号値を生成し、かつこの生成した試験信号
値を入力信号値に代わって入力信号値領域に格納するプ
ログラムである試験実行プログラムをプログラム記憶手
段に格納し、入力装置から入力する操作信号によって試
験実行プログラムを起動し、試験実行プログラムによっ
て試験信号値を生成し、この試験信号値を入力信号値の
領域に格納し、格納した信号試験値に基づいてシーケン
ス制御部のプログラムを実行させる。即ち、本発明の方
法を適用した電力用保護制御装置においては、試験デー
タを作成した後に試験実行プログラムが起動し、自動的
に試験信号値を作成し、この作成された試験信号値によ
ってシーケンス制御試験が行われるので、外部から試験
信号値を生成しつつシーケンス制御試験を行う手間が省
略される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例を示す、本発明の方
法を適用した電力用保護制御装置の機能を中心に表した
ブロック図

【図２】試験データが作成される過程を表した説明図

【図３】図１に示した電力用保護制御装置の試験時の動
作を表したフローチャート

【図４】電力用保護制御装置の一例の内部と周辺とを示
したブロック図

【図５】図４に示した電力用保護制御装置と周辺とを機
能中心に表したブロック図

【図６】図５に示した電力用保護制御装置の一つの入力
信号についの詳細説明図

【図７】電力用保護制御装置の他の一例の内部を表した
ブロック図

【符号の説明】

CA2 電力用保護制御装置 TA 試験データ領域 １ 制御演算手段 TP1 試験準備プログラム TP2 試験実行プログラム CP 電流変換部 VP 電圧変換部 DP ２値信号入力部 TA1,TD2,TD3,TD4 入力信号値領域 AI,VI,DI1,DI2 入力信号値 TAI,TVI,TDI1,TDI2 試験信号値

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】制御演算手段と、制御演算手段が実行する
   プログラムを格納するプログラム記憶手段と、制御演算
   手段がプログラムを実行するに当たって参照するデータ
   を含むデータを格納するデータ記憶手段と、入力装置
   と、表示装置を備え、保護制御対象からの信号を入力
   し、この入力した信号が表すデータを入力信号値として
   入力信号値の領域に格納し、この領域の入力信号値を参
   照して保護制御対象のシーケンス制御を行うプログラム
   であるシーケンス制御部を有する電力用保護制御装置の
   シーケンス制御試験方法において、 試験データを、データ記憶手段中に設けた試験データ領
   域内に作成し、この試験データを参照して試験信号値を
   生成し、この試験信号値を入力信号値に代わる信号値と
   してシーケンス制御部の試験をすることを特徴とする電
   力用保護制御装置のシーケンス制御試験方法
2. 【請求項２】請求項１に記載の電力用保護制御装置のシ
   ーケンス制御試験方法において、入力装置から入力さ
   れ、表示装置の画面上に時間の経過に対応した２値信号
   の値として表現されたタイミングチャート形式の試験入
   力条件に基づいて試験データを作成し、かつこの作成し
   た試験データを試験データ領域に格納するプログラムで
   ある試験準備プログラムをプログラム記憶手段に格納
   し、入力装置から入力する操作信号によって試験準備プ
   ログラムを起動し、試験準備プログラムによって試験デ
   ータを作成することを特徴とする電力用保護制御装置の
   シーケンス制御試験方法。
3. 【請求項３】請求項１または請求項２に記載の電力用保
   護制御装置のシーケンス制御試験方法において、試験デ
   ータ領域に格納された試験データに基づいて試験信号値
   を生成し、かつこの生成した試験信号値を入力信号値に
   代わって入力信号値領域に格納するプログラムである試
   験実行プログラムをプログラム記憶手段に格納し、入力
   装置から入力する操作信号によって試験実行プログラム
   を起動し、試験実行プログラムによって試験信号値を生
   成し、この試験信号値を入力信号値の領域に格納し、格
   納した信号試験値に基づいてシーケンス制御部のプログ
   ラムを実行させることを特徴とする電力用保護制御装置
   のシーケンス制御試験方法。