JPH0980127A - 電子試験装置における部品試験を行う方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、部品試験の出力の有効性を確実にす
るために試験装置における電流検出を用いる方法及び装
置を提供することを課題とする。 【解決手段】試験用刺激波形のデジタル合成を用いた部
品試験装置において、電圧スキャンデータ及び電流スキ
ャンデータが連続的に取り込まれ、スキャンデータは試
験用刺激波形と同期する。電圧及び電流スキャンデータ
は、それぞれ一時的記憶バッファに記憶される。データ
が表示される前に、開放リードについてのチェックが電
流スキャンと同様の方法で実行される。電流値ゼロは、
開放リードを示しており、取り込まれたスキャンデータ
は表示されない。同様に、部品試験の動作の開始におい
て、開放リードのチェックが実行され、有効性チェック
により試験用のリードまたはプローブの配置が確認され
るまで、第１の電圧スキャンを遅らせる。開示された方
法及び装置は、有効なデータのみがユーザーに表示され
ることを確実にする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、個別のアナログ部
品のような電子部品（electronic components）の試験
に関し、さらに詳しくは、部品試験のデータを取り込ん
で図形的に表示し、しかも表示されたデータの有効性を
確実にする方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、部品の電流−電圧（Ｉ−Ｖ）特性
を測定する場合、各時点において試験中の装置（Device
under test、以下「ＤＵＴ」とする）にかかる電圧と
該ＤＵＴを通る電流が必要とされた。そのようにするた
めに、刺激信号がＤＵＴに印加される際に、電流及び電
圧の両方が伝統的な方法で同時に測定されるようになっ
ていた。

【０００３】改良された部品試験方法及び該方法を実施
するための装置が、本出願人により１９９４年８月１１
日に出願された米国特許出願第０８／２８９，７５２号
（発明の名称：「Direct Digital Synthesis Component
Test」）に開示されている。この出願によれば、別々
の電圧及び電流スキャンが、周期の開始時点に対して時
間及び位相が同じ時点でトリガーされる。この開始時
は、好ましくは、デジタル的に同期した試験用刺激信号
の周期の開始時点である。前記特許出願の内容は、その
出願番号を明記することにより、本出願中に組み込まれ
ている。

【０００４】前記特許出願に開示されているタイプの試
験装置は、部品試験モードの動作に切り替えられると、
測定スキャン、すなわち電圧スキャンを直ちに開始す
る。次のトリガーポイントの開始時に、測定データが取
り込まれかつ記憶される。しかしながら、スキャン中に
プローブが用いられると、取り込まれたスキャンデータ
及びそれによる合成された視認可能な表示が不正確なも
のとなる。この問題は、電圧又は電流スキャンの間にプ
ローブが置かれた場合に生じる。

【０００５】部品試験モードに入る際には、他の問題も
生じる。すなわち、試験装置が部品試験モードに切り替
えられ保持機能が実行可能な状態では、前記装置が部品
試験モードに切り替えられた後にプローブが用いられる
と、該装置は無効状態（開放回路）を保持するようにな
っている。この場合、表示される有効なデータは何もな
く、無効な表示が保持されることになる。

【０００６】部品試験モードに入った場合に生じる他の
問題は、有効な部品試験データが表示に利用される前の
時間的な遅れである。試験用の刺激波形をデジタル的に
合成する試験装置においては、刺激周波数は非常に低い
かあるいは直流電流に近いもの、すなわち２Ｈｚであ
る。従って、有効なスキャンデータが取り込まれかつ表
示される前に少なくとも数秒かかる。ところで、ユーザ
ーは装置が正確に作動しているかどうか分からない場合
があり、またユーザーは無効な表示から試験中の装置
（ＤＵＴ）に欠陥があるという誤った判断をするかもし
れない。従って、部品試験のデータが有効だと判明する
まで、そのようなデータの表示を遅らせる必要がある。

【０００７】部品試験のスキャン中にユーザーがプロー
ブを取り外すと他の問題が生じる。すなわち、スキャン
中に取り込まれたデータが無効となる。そして、部品試
験のデータの図形表示、すなわちリサージュパターンが
用いられている場合、合成パターンは大幅に歪められて
認識不可能になりやすい。そのような結果は、ユーザー
を混乱させ、しかも試験装置における失敗を表示したも
のとして誤解されやすい。

【０００８】関連する問題は、試験装置が保持機能が実
行可能状態で作動していると思い込むことによって生じ
る。ユーザーは、現在の部品が十分認識でき、しかも十
分電圧スキャンができ、さらに電流スキャンを開始でき
るように、プローブを長くＤＵＴの上に置く。その後
で、ユーザーは、部品からプローブを取り外し、それに
よって電流スキャンを中断する。実際に、電流スキャン
はどのような場合でも終了するが、最も最近の電流測定
値はゼロとなる。この場合も、合成図形表示は歪めら
れ、誤解の原因となる。従って、部品試験作業を開始す
る際と試験の最中の双方において、正確かつ論理的な部
品試験データを取り込みかつ表示することが要求され
る。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前述した問
題点に鑑みなされたもので、その主たる目的は、保持機
能が実行可能な状態において試験装置が部品試験モード
で動作している間に有効なデータだけが表示されること
を確実にすることにある。

【００１０】本発明の他の目的は、有効な部品試験のデ
ータと、対応する測定スキャンの間にプローブが取り外
された可能性があるために疑義があるデータとを区別す
ることにある。

【００１１】本発明の別の目的は、プローブが部品試験
の対象となる部品に用いられた場合を検出するととも
に、プローブが取り外された後に有効なデータだけを表
示することにある。

【００１２】本発明のさらに別の目的は、不正確な情報
が最初に表示されないことを確実にするとともに、わず
かな遅れで有効な試験データを取り込みかつ表示するこ
とによって、部品試験モードに入る際のユーザーの混乱
を回避することにある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明では、試験用の周期的な刺激波形がデジタル
的に合成され、トリガー信号が該合成回路によって提供
されて前記刺激波形の各周期のスタートに対応する所定
のトリガーポイントを提供する。このトリガー信号は、
電圧スキャンデータの取り込み開始に用いられる。この
第１のスキャンが終了し（そして該データが記憶され
た）後、同一のトリガー信号が電流スキャンデータの取
り込みを再トリガーするために用いられる。従って、こ
の電流スキャンは、前記刺激波形の後の周期のスタート
に対応する時点で開始する。この取り込まれたデータ
は、データスキャンのペアをなす。

【００１４】また、本発明の部品試験方法は、第２の電
流スキャンを行うことを要求し、またデータスキャンの
ペアが取り込まれた後に有効なスキャンを要求する。こ
の第２の電流スキャンは、プローブが置かれているかど
うかを判定するために行われる。もし有効性判定のため
のスキャンの少なくとも一部において電流が流れれば、
電圧及び電流測定が行われている際にプローブが付けら
れていると判定される。従って、記憶されたスキャンデ
ータは表示用に用いられる。有効性判定のためのスキャ
ンで開放回路が検出された場合、記憶されたスキャンデ
ータは疑義があるものとされそれ以上の処理は行われな
い。

【００１５】本発明の方法の他の特徴は、開放回路が検
出された場合に有効性判定のための電流スキャンのプロ
セスを繰り返すとともに、読み取ったデータが最も最近
のスキャンの間にプローブが開放されていなかったこと
を示すまで、前記プロセス（ループ）の繰り返しを継続
することを要求する。一旦それが正しいとされると、前
記方法は、電圧をスキャンしかつ取り込まれたデータを
記憶し、電流をスキャンしかつ取り込まれたデータを記
憶し、そしてこの有効性判定のためのスキャンプロセス
を再び繰り返すというステップを実施する。この方法
は、部品試験モードに入る際の問題と、部品試験の動作
中にプローブが取り外された際（あるいはうっかり落下
させてしまった場合）の問題の両方を解決する利点があ
る。この方法の他の利点は、開放リードの判定、すなわ
ちリードが開放している間に繰り返される有効性判定の
ための電流スキャンプロセスが、データを記憶すること
を必要としない点、すなわち受け取ったデータを処理す
るだけでよいという点である。従って、この特徴により
追加のメモリが要求されない。

【００１６】本発明の方法の他の特徴は、電圧及び電流
スキャンを交互に行い、メモリに２通りの電圧及び電流
スキャンデータのペアを記憶し、そして最後の電流スキ
ャンを用いて第１のスキャンのペアがスキャンの終了時
において開放リードを有していなかったかどうかを判定
するステップを有する点にある。そのような場合には
（開放リードを有していなかった場合）、開放リードの
判定用の電流スキャンを用いて、前記データをディスプ
レイに送出するとともに、他の電流スキャンのペアを読
み込む。この方法は、追加のメモリの犠牲と最初の表示
前に長い遅れがあるももの、プローブが取り付けられて
いる間の（閉鎖回路の場合）表示の更新の間の時間を最
小にする利点がある。

【００１７】また本発明によれば、スキャンデータは、
それが有効であると判定されるまでは、一時的な記憶場
所に保存されている。保持機能が実行可能な場合、有効
なデータだけが表示プロセスに用いられる。しかしなが
ら、この一時的な記憶のために分離したハードウェアレ
ジスタは必要ではない。むしろ、好適な実施例では、ソ
フトウェアバッファがシステムＲＡＭにおいて実施され
ており、そしてデータを特定しかつデータにアクセスす
るためにあるいは適宜無効データをオバーライトするた
めに、アドレスポインタが用いられている。

【００１８】上述した本発明の目的、特徴及び利点及び
本発明の他の目的、特徴及び利点は、図面を参照してな
される以下の好適実施例の説明からより明らかとなるで
あろう。

【００１９】

【発明の実施の形態】

１．データフローの概観 図１は、本発明による有効な部品試験データを表示する
ためのデータフローを概略的に説明した単純化されたブ
ロック図である。図１において、取り込み用ハードウェ
ア１０は、電圧及び電流を測定し、測定されたデータを
デジタル形式に変換し、取り込まれた測定データを取り
込み用ＲＡＭに記憶する装置を有している。この取り込
み用ハードウェアについては、以下において図２及び図
３を参照して説明されている。好適実施例にかかる試験
装置は、システムソフトウェアを有しており、その動作
については、以下において図４を参照して説明されてい
る。このシステムソフトウェアを記憶しかつ実行するハ
ードウェアについては、以下において図３を参照して説
明されている。

【００２０】図１を参照するに、システムソフトウェア
は、ハードウェアＲＡＭに記憶された取り込まれたデー
タへのアクセスを有するバッファデータプロセス１２を
備えている。このバッファデータプロセス１２は、取り
込まれた電流測定データを取り込み用ＲＡＭ（acquisit
ion RAM）から一時的電流バッファ（temporary current
buffer）１４に移動するために配置されている。同様
に、プロセス１２は、電圧測定データを取り込み用ＲＡ
Ｍから一時的電圧バッファ（temporary voltage buffe
r）１６に選択的に移動させることができる。

【００２１】さらに、後述するように、保持機能（Hold
function）が実行可能になっている場合、プロセス１
２は、スキャンデータをバッファ１４，１６から新ディ
スプレイバッファ１８及び最終有効ディスプレイバッフ
ァ２０に移動させることができる。バッファ１８及び２
０の各々は、電圧及び電流スキャンデータを記憶する手
段を備えている。

【００２２】保持機能がＯＦＦになっている場合、以下
にさらに説明するように、プロセス１２は、取り込まれ
た電圧及び電流スキャンデータを取り込み用ＲＡＭ１０
から一時的バッファ１４，１６及び新ディスプレイバッ
ファ１８に移動させる。一般に（保持機能がＯＦＦの
間）、バッファ１８は表示に用いることができるデータ
を保持する。このように、バッファ１８に記憶されたデ
ータは、該データにアクセスしかつそのデータをディス
プレイモジュール２４に供給するディスプレイデータ供
給プロセス２２で使用される。好適実施例において、デ
ータは、一時的バッファから新ディスプレイバッファに
リテラルに移動しない。むしろ、ディスプレイプロセス
２２がデータを要求するとき、それは最も最近のデータ
の中へポインタを受け入れる。その場合、一時的バッフ
ァへ入ったポインタは、新ディスプレイバッファへのポ
インタと交換され、それにより新しい一時データが表示
を変更することなく記憶される。

【００２３】バッファ１４，１６，１８及び２０は、ハ
ードウェアレジスタとして実装することができる。好適
な実施例において、これらのすべてのバッファは、シス
テムメモリ（ＳＲＡＭ）に実装される（図３）。さら
に、スキャンデータは、メモリ内のデータの再配置とい
う意味では、バッファデータプロセス１２によって実際
に移動させられることはない。むしろ、バッファデータ
プロセス１２は、適宜選択されたデータを表示しかつア
クセスするために用いられる一連のバッファポインタを
維持する。円環状バッファ及びバッファポインタの実装
の詳細は、この開示に鑑みれば、当業者に明らかであ
る。

【００２４】２．ハードウェアの説明 図２及び図３は、両者でもって、本発明の特徴を具体化
した試験装置の概略的なブロック図をなしている。この
試験装置は、その機能のいくつかの点で公知のデジタル
マルチメータと似ている。例えば、以下に説明するよう
に、この装置は、電圧、電流又はインピーダンスの測定
に用いることができる。さらに、前記試験装置は、以下
に説明するように、部品試験に特に向けられた新たな特
徴、回路及び作動方法を含む。部品試験の内容はシステ
ム装置及び動作の全体と相互に関係があるので、最初に
この装置について概略的に説明する。この装置は、概略
フロントエンド（front end）、データ取り込み部、制
御／メモリ部及び表示部から構成されており、各々につ
いてこの順で以下に詳述する。

【００２５】フロントエンド部 図２を参照するに、試験装置の「フロントエンド」部
は、従来の装置と同様に、適当な試験用リード線または
プローブ（図示せず）を介して試験中の装置（ＤＵＴ）
を試験装置に接続する一対のターミナル３６，４０を有
している。例えば、交流または直流電圧を測定するため
に、第１のリード線は、選択された回路の結節点（nod
e）またはＤＵＴに接続され、第２のリード線は、ター
ミナル４０と回路のアースまたはＤＵＴの反対側との間
に接続されている。直流電圧を測定する場合、ターミナ
ル３６における入力電圧は、保護回路３４（高電圧また
は低電圧通路を介して）を通って直流入力減衰回路６２
に供給される。試験装置が直流電圧メータとして作動す
るようにセットされている場合、減衰直流入力信号は、
ＤＣフィルタ６４及びマルチプレクサ６６を介してＡ／
Ｄコンバータ６８まで通り、デジタル形式に変換され
る。結果の表示については後述する。

【００２６】交流を測定する場合、ターミナル３６で生
じる入力信号は、保護回路３４を介して交流入力減衰回
路７０に送られる。この減衰回路７０の出力は、ＲＭＳ
（root mean squared）コンバータを介してマルチプレ
クサ６６に接続されている。交流メータの作動中は、マ
ルチプレクサ６６はＲＭＳ交流信号をＡ／Ｄコンバータ
６８に接続している。電流を測定するために、例えばタ
ーミナル７６のような１または２以上の追加のターミナ
ル（共通のターミナル４０以外）が、第２のリード線を
電流切り替え回路５２に接続するために用いられる。な
お、入力減衰及びメータの動作の説明は、本発明の理解
のために不要なものなので省略する。また、前記フロン
トエンドは、以下において詳しく説明するように、試験
用刺激波形（test stimulus wavefome）を提供するため
の部品試験ソース回路８０を備えている。

【００２７】試験用刺激波形 図２に示す部品試験ソース回路８０は、正弦波のような
所望の波形をデジタル的に合成する回路を備えている。
所望の波形を形成するための適当な値は、例えばメモリ
に記憶させたり、または組合せ論理回路を用いて発生さ
せたりしてもよい。前記試験ソース回路８０は、Ｃ−テ
ストクロック信号を受信し（図３）、このＣ−テスト信
号の各周期に応答して、前記波形を形成するための一連
の所定の値の次の１つを発生する。好ましい実施例で
は、正弦波の１／４を規定する６４の所定値が生成され
る。４つの象限を組み合わせて２５６のデータポイント
を含む完全な正弦波を形成するために、レベルシフト及
びデジタル補数回路が用いられる。これらの値は、デジ
タル形式からアナログ電圧レベルに変換され、結節点８
１において出力される。部品試験ソース回路８０は、ま
た刺激波形の各サイクルの最初において発せられるＣ−
テストトリガー信号ーを提供する。

【００２８】データ取り込み部 次に、データ取り込み部について、部品試験と関連のあ
る要素に重点をおいて説明する。試験装置が部品試験モ
ードに切り替えられると、部品試験ソース回路８０が起
動させられ、周期的な試験用刺激信号を供給する。この
刺激信号は、保護回路３４を通り、さらにターミナル３
６を介して、試験中の装置（図示せず）に出力される。
電圧スキャン（voltage scan）（以下に詳述する）の
間、ターミナル３６における電圧を測定するために、タ
ーミナル３６は保護回路３４を介して直流入力減衰回路
６２に接続される。「ＤＣ」と表示された減衰回路６２
の出力は、組合せ回路８２に接続されている（図３参
照）。この組合せ回路８２から直流信号がフィルタ回路
８４に入力される。交流入力電圧又は信号は、保護回路
３４を介して交流入力減衰回路７０に送られ（図２）、
「ＡＣ」と表示されたその出力がフィルタ回路８４に接
続されている（図３）。このようにして、組合せ回路８
２及びフィルタ回路８４は前記ターミナル信号の交流及
び直流の電圧成分を合成し、合成された信号は、デジタ
ル形式に変換するためにフラッシュＡ／Ｄコンバータ６
０に入力される。このフラッシュＡ／Ｄコンバータは、
比較的高速のクロックによって駆動され、さらに以下に
述べるようになっている。このデジタル値は、取り込み
用メモリ９２に記憶するために、データバス９０を通じ
て送出され、さらに以下に説明するようになっている。

【００２９】また、部品試験は、以下のような電流測定
データを取り込むことを含む。部品試験モードの間、共
通のターミナル４０は部品試験用電流−電圧変換回路４
２に接続される。合成(resulting)電圧（電流を表す）
は、直流入力減衰回路６２及び交流入力減衰回路７０の
双方に接続される。変形例として、これらの電圧を保護
回路３４を介して減衰回路に送出するようにしてもよい
（なお、電流及び電圧の測定は、同時に行われないこと
に注意されたい。従って、フロントエンドの部分部は両
方の機能に用いられる。）。これらの直流及び交流の電
圧信号は、部品試験用電圧測定の際に説明したように、
合成され、フィルタを通され、デジタル形式に変換され
る。また、この合成デジタル電流データは、取り込み用
ＲＡＭ９２に記憶するために、データバス９０に提供さ
れる。この取り込みＲＡＭ９２は、好ましい実施例にお
いては、８ビットの５１２の総サイズを有するランダム
アクセスメモリである。このデータ取り込み部の動作
は、パート３で詳細に説明される。

【００３０】制御、メモリ及び表示部 図３を参照するに、マイクロプロセッサ１３０は、アド
レスバス１０２及びデータバス１０４に接続されてい
る。また、前記取り込み用ＲＡＭ９２もこれらのアドレ
スバス及びデータバスに接続されている。マイクロプロ
セッサ１３０及び適当なソフトウェアの制御下では、取
り込み用ＲＡＭ９２に一時的に記憶されたスキャンデー
タは、データバス１０４を通じてシステムメモリＳＲＡ
Ｍ１３４に送出される。これらのアドレスバス及びデー
タバスは、ステータス・コントロールレジスタ９５、Ｅ
ＥＰＲＯＭ（電気的消去書き込み可能な読出し専用メモ
リ）１３６及びリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）１３２
に接続されている。以下に説明するように、前記ＲＯＭ
がソフトウェアの記憶に用いられる間、ＥＥＰＲＯＭ
は、較正データ（calibration data）、ユーザーデフォ
ルト（user defaults）、刺激波形選択データ及びコン
フィグレーションデータ（configuration data）を記憶
するために用いられる。共通のアドレスバス１０２及び
データバス１０４は、次に説明するように、ＬＣＤモジ
ュール１４０に記憶されたデータを表示するために、Ｌ
ＣＤ（液晶ディスプレイ）制御部１３８に接続されてい
る。

【００３１】好適実施例においては、液晶ディスプレイ
装置によって図形的な表示（graphical display）が提
供されるようになっている。この液晶ディスプレイ装置
には、様々なものが商業的に利用可能である。ＬＣＤ
は、他の表示技術と対比して、丈夫であり、また低コス
ト、低消費電力であるという利点がある。しかしなが
ら、ピクセルアドレッサブルディスプレイ手段を用いる
こともできる。本発明に適したＬＣＤは、透過反射型ま
たは反射型のものでもよく、またオプションでバックラ
イト型にしてもよい。本発明に係る携帯用の試験装置の
市販用の実施例の１つでは、ＬＣＤモジュール１４０
は、合計２００画素（縦方向）、２４０画素（水平方
向）を有する。リサージュパターン（縦方向は電圧に対
応する）のような図形表示をするためには、縦方向の１
２８画素だけが用いられる。従って、データの最上位７
ビット（ｍｓｂ）だけが使用される。これは、ディスプ
レイの図形部分の上または下に、メーターの動作モー
ド、スケールなどの他のテキストまたは数値情報を表示
するためのスペースを残す。水平ディスプレイ用とし
て、２５６レベル（８ビット）が記憶されている。しか
しながら、実際には、データがフルスケールに達しない
ので、２４０の水平画素が適当である。この表示は、フ
ルスケールのおよそ８０パーセントだけ中央に位置す
る。この表示の図形部分は、高さ１２８画素、幅１８０
画素となる。フロントパネルは、前述したタイプの液晶
表示を備えている。表示の図形部分は、上述のようにし
て形成されたリサージュパターンである。表示の他の特
徴については、以下に説明する。

【００３２】３．部品試験の動作 連続的データ取り込み 動作において、試験装置が部品試験モードに切り替えら
れる際、（制御マイクロプロセッサ１３０によって）上
述の部品試験用刺激波形の発生装置が起動され、正弦波
のような周期的な刺激波形が連続的に生成される。この
刺激波形は、上述のように、試験中の装置（ＤＵＴ）に
印加される。測定データは、上述したハードウェアを介
して連続的に取り込まれる。取り込み制御回路９３は、
取り込み用ＲＡＭ９２を制御して、保留クロック信号
（retention clock signal）の各サイクルで該ＲＡＭに
データポイントを書き込むようになっている。この信号
は、ｎ個で分割する回路（divide-by-n circuitry）９
７によって制御回路に提供される。好適実施例において
は、試験用刺激波形の各サイクルにわたって２５６のデ
ータポイントが得られる。ここで、前記Ｃ−テストクロ
ックは、試験用波形の周波数を２５６回とさせることに
注意されたい。従って、この場合における保留クロック
及びＣ−テストクロックは同じである。前記ｎ個で分割
する回路９７は、例えば水晶発信器（図示せず）によっ
て提供される１９．２ＭＨｚの周波数のシステムクロッ
ク信号を受信する。スキャンデータは、ＲＡＭ９２に順
次記憶され、円環状バッファとして配置される。このよ
うに、一旦バッファがいっぱいになると、新しいスキャ
ンデータは以前記憶されたデータに上書きされる。バッ
ファスキャンデータについては、以下において詳述す
る。

【００３３】スキャントリガー 次に、マイクロプロセッサは、電圧スキャンの開始を示
すフラグを（例えば、ステータス・コントロールレジス
タ９５に）セットする。Ｃ−テストトリガーによって示
されるような試験波形の次の周期の開始時に、電圧スキ
ャンを開始する。同時に、取り込み用ＲＡＭのアドレス
ポインタの電流値はレジスタに記憶され、電圧スキャン
データのスタートを示す。測定データは、正確に試験用
刺激信号の１つの周期で連続的に取り込まれかつ前記取
り込み用ＲＡＭに記憶される。これで１回のスキャンが
完了し、そのことを電圧が取り込まれる「電圧スキャ
ン」とする。この取り込みデータは、一連の２５６個の
デジタルデータワードまたは値を含んでいる。一旦２５
６の値が取り込まれると、ＲＡＭ内の記憶は上書きされ
ないように停止される。その後で、マイクロプロセッサ
は、取り込まれたスキャンデータをシステムメモリ１３
４に移動させる。より詳しくは、電圧スキャンデータ
は、一時的に電圧スキャンバッファ（一時的電圧バッフ
ァ）１６に移される（図１）。

【００３４】この電圧スキャンが完了した後、フロント
エンド回路が切り替えられ、前述した電流データを取り
込む。その後で、マイクロプロセッサは、電流スキャン
の開始を示すフラグをセットする。再びデータの取り込
みが続けられ、取り込まれた電流データは、電圧データ
と同様の方法でＲＡＭ９２に記憶される。試験用刺激波
形の次の周期の開始時では、Ｃ−テストトリガーが発せ
られたとき、電流スキャンを開始する。取り込み用ＲＡ
Ｍのアドレスの現在の値は、電流スキャンデータのため
のスタートアドレスとして記憶される。取り込まれたデ
ータは、１サイクルにわたって、すなわち前述した２５
６データポイントにわたって記録される。その後で、記
憶された電流スキャンデータは、システムメモリ１３４
に移される。より詳しくは、この電流スキャンデータ
は、一時的電流スキャンバッファ（一時的電流バッフ
ァ）１４に移動させられる（図１）。これらの両方のス
キャンは、刺激波形の周期の開始時に正確に対応する同
じトリガーポイントによってトリガーされることに注意
されたし（それは、電圧スキャンと電流スキャンとの間
で試験波形のいくつかの周期が生じる場合でも、ズレを
生じさせない）。その結果、記憶された電圧及び電流ス
キャンデータは刺激波形に対して「同期」する。従っ
て、これらの位相関係は、あたかもそれらが同時に取り
込まれたように維持される。この特徴は、前述した本願
において開示されているシングルチャンネルの直接的な
デジタル合成部品試験技術に独特のものである。

【００３５】システムメモリＳＲＡＭに記憶された一時
的電圧及び電流スキャンデータは、同時表示のためにＬ
ＣＤ制御部１３８用に処理され、ディスプレイモジュー
ル１４０においてリサージュパターンを形成することが
できる。しかしながら、すべての取り込みデータが必ず
しも表示されない。むしろ、データの表示は、以下に説
明するような保持機能及び有効性チェックにより支配さ
れる。

【００３６】４．ソフトウェアの説明 図４は、特に有効性チェックに関するシステムソフトウ
ェアの動作を詳細に表したソフトウェアの遷移図であ
る。この図４のブロック図は、以下の３つの場合につい
て説明している。第１は、保持機能がＯＦＦの場合であ
る。第２は、保持機能がＯＮであり、かつ試験用プロー
ブが試験中の部品と良好に接触した状態が連続的に維持
されている場合である。第３は、保持機能がＯＮであ
り、かつスキャンによる有効性チェックが最初からまた
は部品試験中に開放回路を検出する場合である。

【００３７】（１）保持機能がＯＦＦの状態での試験シ
ステムの動作 部品試験は、図４の下方に示すトランジション（transi
tion）１５０で開始され、"Startup state"１５２に入
る。保持状態がＯＦＦの場合、トランジション１５３が
生起し、"doing volts"の状態に入る。このトランジシ
ョン１５３は、scan type（スキャンのタイプ）を"VOLT
AGE SCAN"（電圧スキャン）にセットし、それは取り込
み用ハードウェアを電圧スキャンの準備のためにセット
アップし、かつ"retrieve scan data"のフラグを"FALS
E"にセットする。この"doing volts"の状態１５４にお
いては、電圧スキャンは前述したように実行される。Ａ
／Ｄハードウェアからの割込み（AtoD data interrupt
="TRUE"）は、ソフトウェアに電圧スキャンが終了した
旨の信号を送る。

【００３８】電圧スキャン終了後、トランジション１５
５が生起し、scan type（スキャンのタイプ）が"CURREN
T SCAN"（電流スキャン）にセットされ、電流スキャン
を行うためのハードウェアを準備し、かつ"retrieve sc
an data"が"VOLTAGE"（電圧）にセットされる。後のス
テップは、取り込み用ＲＡＭから電圧スキャンデータを
命令取り出し（fetch）するためのソフトウェア機能を
呼び出し、それを電圧スキャンデータとして特定し、一
時的電圧スキャンバッファ１６（図１）に記憶する。次
に、"doing amps"の状態１５６は、電流スキャンを行
う。Ａ／Ｄ割込みは再度スキャンが終了した旨の信号を
出す。この場合、保持状態はＯＦＦなので、トランジシ
ョン１５８が適合する。それは、スキャンのタイプを"V
OLTAGE SCAN"（電圧スキャン）に戻し、かつ次の電圧ス
キャンのためにソフトウェアトランジションを"doing v
olts"の状態に戻すようにセットする。また、トランジ
ション１５８は、"retrieve scan data"を"CURRENT"
（電流）にセットする。このステップは、取り込み用Ｒ
ＡＭから電流スキャンデータを命令取り出しするソフト
ウェア機能を呼び出し、それを電流スキャンデータとし
て特定し、一時的電流スキャンバッファ１４（図１）に
移動させる。次に、"doing volts"の状態１５４は、前
述したように、再度別の電圧スキャンを実行する。

【００３９】（２）保持機能がＯＮの状態での試験シス
テム動作 "Startup state"１５２において再度開始し、"touch ho
ld status"がＯＮの場合、ソフトウェアトランジション
１６０は以下のようなフラグをセットする。先ず、スキ
ャンのタイプが"OPEN LEAD DETECT"にセットされる。こ
れはハードウェアにオープンリードチェック（開放リー
ドのチェック）を行うための準備をさせる。"Retrieve
scan data"は"FALSE"に初期化され、"update touch hol
d readings"は"HOLD"に初期化され、"first pass"は"BA
D"に初期化され、"scan valid"は"TRUE"に初期化され
る。これまでに記載されていないこれらのフラグの各々
の目的は、以下において明らかになるであろう。

【００４０】トランジション１６０は、"doing open le
ad check"の状態１６２に入る。この状態において、ソ
フトウェアは、オープンリードチェックを実行し、それ
は必ず電流スキャンの実行を含む。前述したように、"A
toD data interrupt"信号は、電流スキャンが終了した
ことを示す。"Check for valid scan="TRUE"は、電流ス
キャンデータの最小値及び最大値を調べる機能を呼び出
す。電流ゼロを表す電流の値はオープンリードを示す。
実際の測定値は正確にゼロに等しくないが、ゼロに近い
場合はリードは開放しているとみなされる。

【００４１】次の状態である"checking scan integrit
y"状態１６６では、ゼロが検出されない場合、"scan va
lid"は"TRUE"にセットされる。次のトランジション
は、"first pass"のフラグの値により定まる。このフラ
グが"BAD"に初期化されていたので、ソフトウェアはト
ランジション１７２に進む。このトランジションは、"r
etrieve scan data"が"FALSE"にセットされ、scan type
が"VOLTAGE SCAN"にセットされている。retrieve scan
dataは"FALSE"なので、表示は保持され、即ち表示は更
新されない。ソフトウェアは、電圧スキャンを開始する
ために"doing volts"の状態１５４に入るように進む。

【００４２】要約すると、部品試験が開始されかつ保持
状態がＯＮの場合、ソフトウェアは先ずオープンリード
チェックを実行し、リードが完全な場合（電流がゼロで
ない場合）には、第１の電圧スキャンを開始する。電圧
スキャンが終了した後、上述したように電流スキャンが
行われる。電流スキャンの終了後、保持状態はＯＮにな
っているので、オープンリードテストが行われる。この
時点で、取り込まれた電圧及び電流スキャンデータは、
上述したように、一時的バッファに移動させられる。fi
rst pass のフラグを"GOOD"にセットすることは、少な
くとも１つの有効なスキャンが行われ、そしてバッファ
データが表示可能になることを示す。

【００４３】次に、前述したようにオープンリードチェ
ック１６２が実行され、その後にスキャン信頼性チェッ
ク状態１６６が続く。スキャンが有効とされた場合（プ
ローブが依然として接触した状態にあることを意味す
る）、ソフトウェアはトランジションパス１６８を通っ
て"doing volts"の状態１５４に戻り、次の電圧スキャ
ンを開始する。このようにして、このソフトウェアは、
状態１５４，１５６，１６２及び１６６によって形成さ
れたループを繰り返し実行し、電圧及び電流スキャンを
繰り返し、そして各スキャンのペアが取り込まれた後に
スキャン完全性チェック（integrity check）が行われ
る。表示は、バッファポインタによってこの表示に提供
されるデータを用いて、同期せずに更新される。

【００４４】（３）保持機能がＯＮの状態での試験シス
テム動作及びオープンリード検出 最後に、保持状態がＯＮであり、かつソフトウェアが少
なくとも１つの有効データを介して遷移する場合につい
て考察する。この時、checking scan integrity の状態
１６６は、電流値ゼロを検出し、従って scan valid
を"FALSE"にセットする。その結果、もう１つのオープ
ンリードチェックのために、トランジション１７０が状
態１６２へ適合させられる。このトランジションにおい
て、retrieve scan data は"FALSE"にセットされ、最後
のスキャンデータのペアは、取り込み用ＲＡＭから取り
出されないようになっている。また、良好なリードコネ
クションが再度成立する場合、firts pass は"BAD"にセ
ットされ、ソフトウェアのフローはトランジション１７
２に向けられる。さらに、トランジション１７０は、最
後のスキャンデータのペアが表示を更新するために用い
られるべきでないことを示すために、update touch hol
d readingsを"HOLD"にセットしている。従って、図１を
参照すると、バッファデータプロセス１２は、"最終有
効ディスプレイバッファ"２０に記憶されたデータが表
示に用いられるように、バッファポインタを維持してい
る。その結果、導通が遮断される前は、視認可能な表示
が最終有効ディスプレイ値を保持する。

【００４５】状態１６２において、もう１つの電流スキ
ャンが行われ、その後でスキャンの完全性のチェック状
態１６２が行われる。再度電流がゼロであると検出され
た場合、トランジション１７０を状態１６２に戻るよう
に制御する。ソフトウェアはこのようにしてループが継
続し、状態１６２と１６６との間で遷移し、リードコン
タクトが成立するまでこのディスプレイ値を保持する。
一旦それが起こると、トランジション１７２を状態１５
４へと制御し、前述した電圧スキャンを開始する。

【００４６】要約すると、上述したソフトウェア状態の
遷移図は、部品試験モードに入る際に、プローブが正し
く置かれていることが最初に判定されるまで、試験シス
テムが電圧及び電流スキャンの実行をどのように遅らせ
るかを示している。さらに、オープンリードチェック
は、各電圧／電流スキャンのペアが取り込まれた後、実
行される。オープンリード（開放リード）が検出された
場合、ディスプレイは、最後の既知の有効データを維持
し、更新は行われない。最後に、オープンリードチェッ
クがプローブが正しく置かれていることを確認した場合
に、新しい電圧及び電流スキャンシーケンスが開始され
る。

【００４７】上述したように、本発明の好適実施例の原
理について説明したので、本発明の原理から逸脱しない
で、本発明が構成及び細部において改良することができ
ることが当業者に容易に明らかになるであろう。従っ
て、特許請求の範囲内におけるあらゆる改良について権
利を要求する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による有効な部品試験データの表示のた
めのデータフローを概略的に表した単純化されたブロッ
ク図である。

【図２】本発明の好適な実施例の種々の要素を具体化し
た試験装置の単純化されたブロック図である。

【図３】本発明の好適な実施例の種々の要素を具体化し
た試験装置の単純化されたブロック図である。

【図４】本発明に係る部品試験方法の動作を説明したソ
フトウェアの遷移図である。

【符号の説明】

１０ 取り込み用ハードウェア（取り込み用ＲＡＭ） １２ バッファデータプロセス １４ 一時的電流バッファ １６ 一時的電圧バッファ １８ 新ディスプレイバッファ ２０ 最終有効ディスプレイバッファ ２２ ディスプレイデータ供給プロセス ２４ ディスプレイモジュール ３４ 保護回路 ３６，４０ ターミナル ４２ 部品試験用電流−電圧変換回路 ５２ 電流切り替え回路 ６０ フラッシュＡ／Ｄコンバータ ６２ 直流入力減衰回路 ６４ ＤＣフィルタ ６６ マルチプレクサ ６８ Ａ／Ｄコンバータ ７０ 交流入力減衰回路 ７２ ＲＭＳコンバータ ７６ ターミナル ８０ 部品試験ソース回路 ８１ 結節点（node） ８２ 組合せ回路 ８４ フィルタ回路 ９０ データバス ９２ 取り込み用メモリ（取り込み用ＲＡＭ） ９３ 取り込み用制御回路 ９５ ステータス・コントロールレジスタ ９７ ｎ個で分割する回路 １０２ アドレスバス １０４ データバス １３０ マイクロプロセッサ １３２ リードオンリーメモリ（ＲＯＭ） １３４ システムメモリ １３６ ＥＥＰＲＯＭ １３８ ＬＣＤ制御部 １４０ ＬＣＤモジュール

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力端子における選択されたパラメータ
   を測定するための測定回路を備えた携帯用電子試験装置
   における部品試験を行う方法であって、前記方法は、 測定したスキャンデータを図形的に表示するピクセル−
   アドレス表示モジュールを設け、 部品試験モードが選択されたとの指示を受け、 前記指示に応じて、前記入力端子に接続された試験中の
   装置に所定の周期的な試験用刺激波形を印加し、 前記刺激波形の第１の周期のスタート時に対応する所定
   の時点で、第１のパラメータの一連の測定値を取り込ん
   で第１のスキャンデータを生成し、 前記第１のスキャンが終了し、かつ前記刺激波形の第２
   の周期のスタート時に対応する所定の時点で、第２のパ
   ラメータの一連の測定値を取り込んで、前記第１のスキ
   ャンデータに対応する定められた位相関係を有する第２
   のスキャンデータを生成し、 前記第２のスキャンが終了した後に、前記入力端子にお
   ける開放回路を検出かつ表示するための導通試験を行
   い、 前記開放回路が検出されなかった場合、前記第１及び第
   ２のスキャンデータに応じて表示モジュールを更新する
   ことを特徴とする部品試験を行う方法。
2. 【請求項２】 さらに、ユーザーによる選択で利用でき
   る保持機能を備え、 前記保持機能が実行可能な場合、開放回路の表示とは無
   関係に前記第１及び第２のスキャンデータに応じて表示
   モジュールを更新するようになっていることを特徴とす
   る請求項１に記載の部品試験を行う方法。
3. 【請求項３】 前記第１のスキャンは、前記刺激波形の
   １周期にわたって行われる電圧スキャンであり、 前記第２のスキャンは、前記刺激波形の１周期にわたっ
   て行われる電流スキャンであり、 前記表示の更新は、前記電圧及び電流スキャンデータを
   同時に表示し、図形表示がリーサジュタイプのパターン
   を形成するようになっていることを特徴とする請求項１
   に記載の部品試験を行う方法。
4. 【請求項４】 さらに、ユーザーによる選択で利用でき
   る保持機能を備え、 前記保持機能が実行可能の場合、前記第１のスキャンを
   開始する前に前記入力端子における開放回路を検出しか
   つ表示するために導通試験をするとともに、開放回路が
   表示されない場合にのみ前記第１のスキャンを開始し、
   それによって前記入力端子に開放回路が存在する場合に
   部品試験を遅らせるようになっていることを特徴とする
   請求項１に記載の部品試験を行う方法。
5. 【請求項５】 さらに、前記保持機能が実行可能であっ
   て、開放回路が検出された場合に、前記導通試験のステ
   ップを開放回路が検出されなくなるまで繰り返し、さら
   にその後前記測定値の取り込みを開始してスキャンデー
   タを形成し、その結果前記入力端子において導通が成立
   した後に前記測定値の取り込みを遅らせることを特徴と
   する請求項４に記載の部品試験を行う方法。
6. 【請求項６】 さらに、前記スキャンデータを記憶し、 記憶されたスキャンデータが有効かどうかを判定するた
   めに導通試験を行い、 開放回路が検出されない場合にのみ前記表示を更新する
   ために記憶されたスキャンデータ提供し、それによって
   有効なスキャンデータだけを表示するようになっている
   ことを特徴とする請求項４に記載の部品試験を行う方
   法。
7. 【請求項７】 入力端子における選択されたパラメータ
   を測定するための測定回路を備えた携帯用電子試験装置
   における部品試験を行う方法であって、前記方法は、 測定したスキャンデータを図形的に表示するピクセル−
   アドレス表示モジュールを設け、 部品試験モードが選択されたとの指示を受け、 前記指示に応じて、前記入力端子に接続された試験中の
   装置に所定の周期的な試験用刺激波形を印加し、 リードが完全な場合（電流がゼロの場合）、第１の電圧
   スキャンを開始して、電圧スキャンデータを取り込み、 前記第１の電圧スキャンが終了した後に、第１の電流ス
   キャンを行って電流スキャンデータを取り込み、 前記第１の電流スキャンが終了した後に、前記取り込ま
   れた電圧及び電流スキャンデータを一時的バッファに移
   動させ、 その後で開放リードに対して導通試験を行い、 前記取り込まれた電圧及び電流スキャンデータに応じて
   表示を更新するために前記一時的バッファにバッファポ
   インタを与え、 前記開放リードに対する前記導通試験を繰り返し、 開放リードが検出されない場合に、前記電圧スキャン及
   び電流スキャンを行うことを繰り返し、新たなスキャン
   データのペアを形成し、 前記新たなスキャンデータのペアを前記一時的バッファ
   に移動させ、 各スキャンデータのペアが取り込まれた後に開放リード
   の導通試験が行われるように前記一連のステップを繰り
   返すことを特徴とする部品試験を行う方法。
8. 【請求項８】 さらに、開放リードが検出されない場合
   に、最後の分かっている有効データを表示するステップ
   を含むことを特徴とする請求項７に記載の部品試験を行
   う方法。
9. 【請求項９】 前記導通試験は、有効性判定のための電
   流スキャンを行い、その電流スキャンデータを調べてほ
   ぼゼロの値を検出し、それによって開放回路を表示する
   ようになっていることを特徴とする請求項８に記載の部
   品試験を行う方法。
10. 【請求項１０】 周期的な試験用刺激波形を発生させる
    手段と；前記試験用刺激波形をＤＵＴに印加する手段
    と；前記ＤＵＴに接続されており、一度に電圧スキャン
    及び電流スキャンの一方を行い電圧及び電流スキャンデ
    ータをそれぞれ取り込むシングルチャンネルの入力手段
    と；取り込まれた電圧スキャンデータを保持するための
    一時的電圧スキャンデータバッファと；取り込まれた電
    流スキャンデータを保持するための一時的電流スキャン
    データバッファと；有効な電圧及び電流スキャンデータ
    を保持するための一組の新しいディスプレイバッファ
    と；前記新しいディスプレイバッファへのアクセスを有
    し、前記有効な電圧及び電流スキャンデータを一緒に表
    示してリサージュタイプのパターンを形成する表示手段
    と；開放リードを検出するため、有効性判定のための電
    流スキャンを行うように、前記入力手段をコントロール
    する手段と；開放リードが検出されない場合に、前記有
    効性チェックが完了した後に、表示のために前記一時的
    データバッファから前記新たなディスプレイバッファに
    電圧及び電流スキャンデータを移動させる手段と、を備
    えることを特徴とする試験装置。