KR960042086A - 전기 · 전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템 - Google Patents

전기 · 전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템

Info

Publication number
KR960042086A
KR960042086A KR1019950014081A KR19950014081A KR960042086A KR 960042086 A KR960042086 A KR 960042086A KR 1019950014081 A KR1019950014081 A KR 1019950014081A KR 19950014081 A KR19950014081 A KR 19950014081A KR 960042086 A KR960042086 A KR 960042086A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
measurement
signal
inspection
measuring
switching
Prior art date
Application number
KR1019950014081A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0146768B1 (ko
Inventor
박동수
Original Assignee
서두칠
대우전자부품 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 서두칠, 대우전자부품 주식회사 filed Critical 서두칠
Priority to KR1019950014081A priority Critical patent/KR0146768B1/ko
Publication of KR960042086A publication Critical patent/KR960042086A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0146768B1 publication Critical patent/KR0146768B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G01R31/013—Testing passive components
    • G01R31/016—Testing of capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 생산된 전기·전자 부품소자(electric/electronic divice)의 특성검사는 물론 그 측정 데이터 및 불량여부와일정기간 동안 생산된 제품의 품질현황을 효율적으로 관리할 수 있도록 된 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템에 관한 것으로, 생산된 전기·전자 부품소자의 특성검사를 위해 소자의 인/아웃 단자를 접속하기 위한 다수의 접속단자가 설치된 측정지그를 갖춘 제품검사장치에 있어서, 상기 측정지그에 접속되어 있는 샘플링된 검사 시료에측정에 필요한 소정 측정신호를 공급하기 위한 측정신호 입력수단과, 검사자의 선택적인 입력조작에 따라 상기 측정신호입력수단을 포함한 장치전반을 제어하는 제어수단, 이 제어수단의 소정 스위칭 제어신호에 따라 상기 측정지그로부터 출력되는 검사 시료의 출력특성신호를 스위칭 절환하여 출력하는 스위칭수단, 이 스위칭수단으로부터 출력되는 출력특성신호를 측정하여 이를 코드화된 디지탈신호로 출력하는 디지탈 계측수단, 이 디지탈 계측수단으로부터 출력되는 디지탈코드화된 측정 데이터를 후단에 접속된 출력장치의 출력형태에 따라 처리하여 출력하는 측정데이터 처리수단, 및 상기 제어수단으로부터의 소정 제어명령에 따라 사용자에게 표시해주는 표시수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 캐패시터 품질검사 및 관리시스템의 전체적인 구성을 개략적으로 나타낸 블럭구성도.

Claims (9)

  1. 생산된 전기·전자 부품소자의 특성검사를 위해 소자의 인/아웃 단자를 접속하기 위한 다수의 접속단자가설치된 측정지그를 갖춘 제품검사장치에 있어서, 상기 측정지그에 접속되어 있는 샘플링된 검사 시료에 측정에필요한 소정 측정신호를 공급하기 위한 측정신호 입력수단과, 검사자의 선택적인 입력조작에 따라 상기 측정신호 입력수단을 포함한 장치전반을제어하는 제어수단, 이 제어수단의 소정 스위칭 제어신호에 따라 상기 측정지그로부터 출력되는 검사 시료의 출력특성신호를 스위칭 절환하여 출력하는 스위칭수단, 이 스위칭수단으로부터 출력되는 출력특성신호를 측정하여 이를 코드화된 디지탈신호로 출력하는 디지탈 계측수단, 이 디지탈 계측수단으로부터 출력되는 디지탈코드화된 측정 데이터를 후단에 접속된 출력장치의 출력형태에 따라 처리하여 출력하는 측정데이터 처리수단, 및 상기 제어수단으로부터의 소정 제어명령에따라 사용자에게 표시해주는 표시수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 측정신호 입력수단은 소정 주기를 갖는 정현신호를 발진시키는 발진회로와, 이 발진회로로부터 출력되는 정현신호를 구형파신호로 파형 정형화하여 출력하는 파형정형회로, 및 이 파형정형회로에서 출력되는 구형파 측정신호를 상기 제어수단으로부터의 소정 스위칭제어명령에 따라 스위칭 절환하여 출력하는 제1스위칭부로 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제어수단은 검사자가 장치전반의 제어를 위해 소정 키신호를 입력하기 위한 키메트릭스회로와, 이 키메트릭스회로로부터 출력되는 키신호에 따라 장치전반을 제어하는 마이크로프로세서로 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  4. 제1항에 있어서, 디지탈 계측수단은 생산된 캐패시터의 정전용량을 측정하기 위한 디지탈 캐패시턴스(capacitance) 계측기와, 누설전류를 측정하기 위한 누설전류 계측기를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  5. 제1항에 있어서, 상기 표시수단은 계측된 측정 데이터를 모니터의 화면상에 출력함으로써 사용자에게 표시하도록 된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 측정신호 입력수단내에 설치된 제1스위칭부는 상기 제어수단내에 설치된마이크로 프로세서로부터의 소정 제어신호에 따라 상기 측정 지그에 설치된 다수의 접속단자에 측정신호를 순차적으로 인가하도록 된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제어수단내에 설치된 마이크로 프로세서로부터의 소정 제어신호에 따라 상기 디지탈계측수단에 의해 측정된 측정데이터를 필요에 따라 저장시키기 위한 데이터 저장수단을 추가로 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  8. 제1항에 있어서, 샘플링된 검사 시료에 대한 특성 검사가 완료된 후 상기 제어수단내에 설치된 마이크로프로세서로부터의 소정 제어명령에 따라 검사 시료에 충전되어 있던 전류를 방전시키기 위한 방전회로를 추가로 포함하여구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
  9. 제1항에 있어서, 상기 측정 데이터 처리수단으로부터 출력되는 소정 측정 데이터신호를 근거로 검사자의선택에 따라 이를 데이터 리스트로 출력하기 위한 프린터기를 추가로 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전기·전자부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950014081A 1995-05-31 1995-05-31 전기.전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템 KR0146768B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950014081A KR0146768B1 (ko) 1995-05-31 1995-05-31 전기.전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950014081A KR0146768B1 (ko) 1995-05-31 1995-05-31 전기.전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960042086A true KR960042086A (ko) 1996-12-21
KR0146768B1 KR0146768B1 (ko) 1998-12-01

Family

ID=19416031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950014081A KR0146768B1 (ko) 1995-05-31 1995-05-31 전기.전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0146768B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100513793B1 (ko) * 1998-03-30 2005-12-08 삼성전자주식회사 모니터제조장치
KR200458112Y1 (ko) * 2009-11-26 2012-01-19 삼성전자서비스 주식회사 멀티미디어 디스플레이 진단용 지그

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100826256B1 (ko) * 2006-10-18 2008-04-30 이두열 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100513793B1 (ko) * 1998-03-30 2005-12-08 삼성전자주식회사 모니터제조장치
KR200458112Y1 (ko) * 2009-11-26 2012-01-19 삼성전자서비스 주식회사 멀티미디어 디스플레이 진단용 지그

Also Published As

Publication number Publication date
KR0146768B1 (ko) 1998-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7609081B2 (en) Testing system and method for testing an electronic device
CN100554983C (zh) 宽带超高频局部放电信号和图形发生器
JP2832335B2 (ja) 部品テストの方法、およびテスト器具
US7266463B2 (en) Signal identification method and apparatus for analogue electrical systems
KR970056992A (ko) 컬러 선형 씨씨디(ccd) 영상소자 및 이의 구동방법
KR960042086A (ko) 전기 · 전자 부품소자의 품질검사 및 검사데이터 관리시스템
EP0702235A1 (en) Graphical trend display methods and apparatus in a test instrument
KR0120529B1 (ko) 소형 lcd 모듈 테스트장치
KR970028596A (ko) Can을 이용한 밧데리의 전압 및 온도를 측정하는 장치
KR100219392B1 (ko) 기능 검사가 가능한 범용 계측기
CN220305411U (zh) 一种用于在线测量汽车静电流的装置
KR200234483Y1 (ko) 회로기판상 전자부품측정장치
KR0164702B1 (ko) Dc 전압 검사장치 및 그 방법
KR100355716B1 (ko) 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법
KR960029809A (ko) 전지 개별전압 측정장치
KR20000042722A (ko) 다기능 검사기의 저항특성검사장치 및 방법
AU624385B2 (en) Programmable test system
KR950023194A (ko) 전전자 교환기 선로시험모듈 범용시험장치 및 그 방법
JPS6491070A (en) Insulation tester
KR970016607A (ko) 반도체 집적회로의 특성 테스트 장치 및 그 방법
JPH05346447A (ja) 抵抗検査装置
KR920005010A (ko) 퍼스널 컴퓨터를 이용한 인쇄회로기판의 검사장치
KR920006726A (ko) 표시기기의 전기특성 측정시스템 및 그 제어방법
KR20000042725A (ko) 다기능 검사기의 신호발생장치 및 방법
KR960038402A (ko) 맨브레인 스위치 자동 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee