JPH0634717A - 液晶駆動ｉｃ装置の試験装置及びその試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は液晶駆動ＩＣ装置の試験装置の改善
に関し、その出力端子情報の検索測定に係わり手作業に
依存することなく、その多数の出力端子情報を自動的に
測定し、検査労力の軽減化及び検査時間の短縮化を図る
こと、及び、多種類のＬＣＤ駆動ＩＣ装置を検査可能に
して、その汎用性の向上を図ることを目的とする。 【構成】 少なくとも、被試験ＩＣ装置１６に供給する
デジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶRE
F を発生する電圧発生源１１と、前記被試験ＩＣ装置１
６の出力端子情報の走査入力をする走査手段１２と、前
記被試験ＩＣ装置１６の出力端子情報を計測する信号測
定手段１３と、前記電圧発生源１１，走査手段１２及び
信号測定手段１３の入出力を制御する制御手段１４とを
具備し、前記制御手段１４が各種液晶駆動モードＳTN／
ＴFTに基づいて被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端子情
報の自動計測判定処理をすることを含み構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】〔目次〕 産業上の利用分野 従来の技術（図12） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１，２） 作用 実施例（図３〜11） 発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は、液晶駆動ＩＣ装置の試
験装置及びその試験方法に関するものであり、更に詳し
く言えば、ＬＣＤ（Ｌiquid Ｃrystal Ｄisplay）装置
を駆動するＳＴＮ（Ｓuper Ｔwisted Ｎematic）用，
ＴＦＴ（Ｔhin Ｆilm Ｔransistor ）用ドライバＩＣ装
置を試験する装置及びその方法に関するものである。

【０００３】近年、薄型，軽量に富み、低消費電力で動
作をする映像表示装置として液晶ディスプレイ（ＬＣＤ
装置）が使用され、該ＬＣＤ装置によりカラー化が実現
しつつある。これには、ＴＡＢ（Ｔape ＡutomatedＢon
ding）又はＣＯＧ（Ｃhip Ｏn Ｇrass）と称する難易度
の高い実装技術が要求される多数の端子を集積した数ミ
リ程度のチップから成るドライバーＩＣが使用され、そ
の実装工程において、実動作に近い試験が要求される。

【０００４】これによれば、ある型格のＬＣＤ駆動ＩＣ
装置に対して、専用ドライバコントローラを接続し、そ
のアナログ的な出力レベルをオシロスコープ等により波
形観測をしている。このため、そのＬＣＤ駆動ＩＣ装置
の動作・機能試験等において、数百出力端子に現れる出
力電圧を個々に検査しなければならず、その検査労力が
増化したり、該検査時間が長くなる。

【０００５】そこで、ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の出力端子情
報の検索測定に係わり多数の出力端子情報を自動的に測
定し、その検査労力の軽減化及び検査時間の短縮化を図
ること、及び、その汎用性の向上を図ることができる試
験装置や試験方法が望まれている。

【０００６】

【従来の技術】図12は、従来例に係る液晶駆動ＩＣ装置
の試験方法の説明図である。例えば、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆
動ＩＣ装置２６を試験するシステム装置は図12におい
て、電圧発生源１，シグナルジェネレータ４及びレベル
変換器５から成る専用ドライバコントローラや試験用探
索針２，オシロスコープ３が組み合わされて成る。

【０００７】例えば、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置（以
下単に被試験物という）２６の多数のパットにバンプを
転写したチップ単体の状態、又は、そのチップをガラス
上に実装した状態等のＣＯＧ工程において、その動作・
機能試験を行う場合、まず、デジタル電圧ＶＤ，アナロ
グ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF が電圧発生源１から被試
験物２６に供給され、また、シグナルジェネレータ４か
らその試験パターンが発生され、それがレベル変換器５
によりレベル変換されると、その試験信号が被試験物２
６に供給される。

【０００８】かかる状態で、作業者により試験用探索針
２がその出力端子に接触され、その出力端子情報，例え
ば、出力電圧波形がオシロスコープ３により表示され
る。これにより、被試験物２６の動作・機能試験を行う
ことができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来例のＴ
ＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の動作・機能試験によれば、
ある型格に対して、専用ドライバコントローラを被試験
物２６に接続し、そのアナログ的な出力レベルをオシロ
スコープ３により波形観測をしている。

【００１０】例えば、被試験物２６の動作不良原因に
は、チップの中外における微小リーク電流を原因とす
る電圧降下、隣接端子間のショートによる出力電圧降
下、実装時における接続不良による電圧降下、入力
制御信号の供給接続不良による規定電圧未出力が考えら
れる。

【００１１】このため、被試験物２６の動作・機能試験
において、数百出力端子を有する半導体チップの全出力
電圧を個々に検査しなければならない。なお、被試験物
２６には、チップ種類により分類すると、ＴＦＴとＳＴ
Ｎの２種類に大別され、それぞれＸ，Ｙ側電極を有し、
その駆動方法が異なる。例えば、ＴＦＴタイプでは、Ｘ
側にデータ（ＤATA ）が入力され、Ｙ側がスキャン（Ｓ
CAN ）制御される。

【００１２】また、ＳＴＮタイプではＸ側がセグメント
（ＳEGMENT），Ｙ側がコモン（ＣOMMON ）となる。この
ことから、当該ＩＣ装置の実装工程において、実動作に
近い状態で動作・機能試験をしようとすると、チップ上
にある多数の出力を全て作業者の試験用探索針２により
検索測定をする手作業に依存しなくてはならない。

【００１３】これにより、その検査労力が増化したり、
該検査時間が長くなる。また、信頼性の良いＬＣＤ駆動
ＩＣ装置の量産性に乏しく、異なった機能のＬＣＤ駆動
ＩＣ装置に対して当該試験システムを適用することが困
難なことから、当該試験システムの汎用性を欠くという
問題がある。

【００１４】本発明は、かかる従来例の問題点に鑑みて
創作されたものであり、液晶駆動ＩＣ装置の出力端子情
報の検索測定に係わり手作業に依存することなく、その
多数の出力端子情報を自動的に測定し、その検査労力の
軽減化及び検査時間の短縮化を図ること、及び、多種類
のＬＣＤ駆動ＩＣ装置を検査可能にして、その汎用性の
向上を図ることが可能となる液晶駆動ＩＣ装置の試験装
置及びその試験方法の提供を目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明に係る液
晶駆動ＩＣ装置の試験装置の原理図であり、図２
（ａ），（ｂ）は、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試
験方法の原理図をそれぞれ示している。

【００１６】本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試験装置
は図１に示すように、少なくとも、被試験ＩＣ装置１６
に供給するデジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基
準電圧ＶREF を発生する電圧発生源１１と、前記被試験
ＩＣ装置１６の出力端子情報の走査入力をする走査手段
１２と、前記被試験ＩＣ装置１６の出力端子情報を計測
する信号測定手段１３と、前記電圧発生源１１，走査手
段１２及び信号測定手段１３の入出力を制御する制御手
段１４とを具備し、前記制御手段１４が各種液晶駆動モ
ードＳTN／ＴFTに基づいて被試験ＩＣ装置１６の複数の
出力端子情報の自動計測判定処理をすることを特徴とす
る。

【００１７】なお、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試
験装置において、前記被試験ＩＣ装置１６にデジタル電
圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF を供給す
る複数の接触子や該被試験ＩＣ装置１６の出力端子情報
を取り込む複数の接触子から成るプローブ手段１５が設
けられることを特徴とする。

【００１８】また、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試
験方法は、図２の処理フローチャートに示すように、ま
ず、ステップＰ１で各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基
づいて被試験ＩＣ装置１６にデジタル電圧ＶＤ，アナロ
グ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF の供給処理をし、次に、
ステップＰ２で前記供給処理に基づいて被試験ＩＣ装置
１６の出力端子情報や入力端子情報の走査入力処理を
し、次いで、ステップＰ３で前記走査入力処理に基づい
て被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端子情報や入力端子
情報の計測処理をし、その後、ステップＰ４で前記計測
処理に基づいて被試験ＩＣ装置１６の自動判定処理をす
ることを特徴とする。

【００１９】なお、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試
験方法において、前記デジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧
ＶＥ及び基準電圧ＶREF の供給処理及び被試験ＩＣ装置
１６の出力端子情報の走査入力処理に先立ち、前記被試
験ＩＣ装置１６の入出力端子と試験装置の試験用入出力
端子との接触処理をすることを特徴とし、上記目的を達
成する。

【００２０】

【作 用】本発明の液晶駆動ＩＣ装置の試験装置によれ
ば、図１に示すように、電圧発生源１１，走査手段１
２，信号測定手段１３及び制御手段１４が具備され、該
制御手段１４が各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づい
て被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端子情報の自動計測
判定処理をする。

【００２１】例えば、被試験ＩＣ装置１６の入力端子に
複数の接触子から成るプローブ手段１５を介して電圧発
生源１１で発生されたデジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧
ＶＥ，基準電圧ＶREF 及びその他，制御手段１４から転
送される液晶駆動モードＳTN／ＴFT等が供給される。ま
た、複数の接触子から成るプローブ手段１５を介してそ
の出力端子情報が走査手段１２に取り込まれる。

【００２２】さらに、走査手段１２では被試験ＩＣ装置
１６の出力端子情報が自動走査入力され、その出力端子
情報が信号測定手段１３により自動計測される。また、
その計測結果が制御手段１４に転送されることで、制御
手段１４では各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づいて
被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端子情報が自動判定さ
れる。

【００２３】このため、被試験ＩＣ装置１６の動作・機
能試験等において、チップ上の多数の出力端子情報をプ
ローブ手段１５や走査手段１２を介して全て信号測定手
段１３に個々に取り込むことができ、数百出力端子を有
する半導体チップの全出力電圧を手作業に依存して、個
々に検査しなくても良い。なお、被試験ＩＣ装置１６と
してＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を始め、他のＳＴＮ用
ＬＣＤ駆動ＩＣ装置等を検査することが可能となる。

【００２４】これにより、当該ＩＣ装置の実装工程にお
いて、実動作に近い状態で動作・機能試験をすることが
可能となる。また、異なった機能のＬＣＤ駆動ＩＣ装置
に対して当該試験装置を適用することが可能となる。こ
のことから、汎用型の試験装置の提供に寄与するところ
が大きい。

【００２５】また、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試
験方法によれば、図２の処理フローチャートに示すよう
に、ステップＰ１で各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基
づくデジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧
ＶREF が，例えば、被試験ＩＣ装置１６の入出力端子と
試験装置の試験用入出力端子との間を接触する接触処理
に基づいて試験ＩＣ装置１６に供給処理されると、ステ
ップＰ２でその出力端子情報や入力端子情報が走査入力
処理される。

【００２６】このため、ステップＰ３で被試験ＩＣ装置
１６の複数の出力端子情報や入力端子情報を個々に自動
計測処理をすることにより、ステップＰ４で被試験ＩＣ
装置１６の自動判定処理，例えば、あるタイミングで出
力すべき電圧が正確に出力されているか否かをあらゆる
試験電圧でそれを動作させてその良否判定をすることが
可能となる。

【００２７】これにより、出力端子情報の自動検索測定
をすることができ、液晶駆動ＩＣ装置の出力端子情報の
検索測定に係わり手作業に依存することが無くなる。ま
た、ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の検査労力が軽減され、該検査
時間の短縮化が図られることから信頼性の良いＬＣＤ駆
動ＩＣ装置を量産することが可能となる。

【００２８】

【実施例】次に、図を参照しながら本発明の各実施例に
ついて説明をする。図３〜11は、本発明の実施例に係る
液晶駆動ＩＣ装置の試験装置及びその試験方法を説明す
る図であり、図３は、本発明の実施例に係るＬＣＤ駆動
ＩＣ装置の試験装置の全体構成図を示している。また、
図４〜７はその内部構成図及び主要部の動作タイムチャ
ートであり、図８はその試験フローチャートをそれぞれ
示している。

【００２９】例えば、ＳＴＮ用，ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置の検査に適用可能な試験装置は、図３において、
電圧発生部２１，スキャナ群２２，デジタルボルトメー
タ２３，制御システム２４及びプローブ接触部２６から
成る。

【００３０】すなわち、電圧発生部２１は電圧発生源１
１の一実施例であり、ＳＴＮ用，ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置等の被試験ＩＣ装置１６に供給するデジタル電圧
ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF を発生する
ものである。電圧発生部２１はデジタル電源部21Ａ，ア
ナログ電源部21Ｂ及び基準電圧群21Ｃから成り、その内
部構成については、図４において詳述する。

【００３１】スキャナ群２２は走査手段１２の一実施例
であり、被試験ＩＣ装置１６の出力端子情報の走査入力
をするものである。なお、スキャナ群２２の内部構成に
ついては、図５において詳述する。

【００３２】デジタルボルトメータ２３は信号測定手段
１３の一実施例であり、被試験ＩＣ装置１６の出力端子
情報Ｖｘや入力端子情報Ｉｘを計測するものである。例
えば、デジタルボルトメータ２３は、ホストコンピュー
タ24Ｃの切り換え処理に基づいて被試験ＩＣ装置１６の
各入出力端子に係るｎ個の出力電圧Ｖ１〜Ｖｎ，その基
準電圧ＶREF ，デジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ，
デジタル電流ＩＤ（±），アナログ電流ＩＥ（±）を測
定する。なお、デジタルボルトメータ２３は高分解能の
ものを用いる。

【００３３】制御システム２４は制御手段１４の一実施
例であり、電圧発生部２１，スキャナ群２２及びデジタ
ルボルトメータ２３の入出力を制御するものである。例
えば、制御システム２４はシグナルジェネレータ24Ａ，
レベル変換器24Ｂ，ホストコンピュータ24Ｃ，Ｉ／Ｏポ
ート24Ｄ及びレベル変換器24Ｅから成る。なお、シグナ
ルジェネレータ24Ａの内部構成及びその動作機能につい
ては図６，７において詳述する。

【００３４】また、レベル変換器24Ｂはシグナルジェネ
レータ24Ａで発生されたＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の
試験動作に係るクロックＣLK（以下ＬOAD ，ＣPxともい
う）をレベル変換するものである。レベル変換器24Ｅ
は、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の試験動作に係るスタ
ート／ストップデータＥ（以下ＬOAD ともいう），シフ
トレジスタのシフト方向データＲ／Ｌ（ＳHL），ＳＴＮ
用／ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に係る制御モードＭ
（ＭODE ）やディスイネーブルデータＤSP（ＤispOFF）
をレベル変換をするものである。

【００３５】なお、ホストコンピュータ24Ｃはデジタル
ボルトメータ２３やシグナルジェネレータ24Ａの入出力
を制御するものである。例えば、ホストコンピュータ24
Ｃは各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づいて被試験Ｉ
Ｃ装置１６の複数の出力端子情報の自動計測判定処理を
する。また、Ｉ／Ｏポート24Ｄはタイミング的要素を含
まない被試験ＩＣ装置１６の固有の信号とホストコンピ
ュータ24Ｃからの指令信号等を中継するものである。

【００３６】プローブ接触部２５はプローブ手段１５の
一実施例であり、被試験ＩＣ装置１６にデジタル電圧Ｖ
Ｄ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF を供給する複
数の接触子や該被試験ＩＣ装置１６の出力端子情報を取
り込む複数の接触子から成る。プローブ接触部２５に
は，例えば、各ＩＣチップの電極配置に合わせたパター
ンが配線されたガラスプローブカード25Ａが用いられる
（図９（ｂ）参照）。

【００３７】図４は、本発明の実施例に係る電圧発生部
の内部構成図である。図４において、電圧発生部２１
は、デジタル電源部21Ａ，アナログ電源部21Ｂ及び基準
電圧群21Ｃから成る。デジタル電源部21Ａは直流可変電
源から成り、ＳＴＮ用／ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に
係るデジタル電圧ＶＤを出力するものである。

【００３８】また、アナログ電源部21Ｂは直流可変電
源，直流５〔Ｖ〕電源，スイッチング素子ＳＷ１，ＳＷ
２から成り、ＳＴＮ用／ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に
係るアナログ電圧±ＶＥを選択出力するものである。な
お、直流５〔Ｖ〕電源はＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に
係るマイナスモードに対処して設けられ、スイッチング
素子ＳＷ１，ＳＷ２は液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づ
いてホストコンピュータ24Ｃにより制御される。

【００３９】さらに、基準電圧群21Ｃはインピーダンス
変換をするｍ個のオペアンプＯP1〜ＯPmと、基準電圧Ｖ
REF を設定する可変抵抗器ＶR1〜ＶRmと、入力電圧に対
して飽和を防止する保護ダイオードＤｉと、無極性のパ
スコンＣｐと、スイッチ切り換え時の電荷を放電させる
放電抵抗Ｒｐと、電流検出用の抵抗Ｒから成る。

【００４０】当該電圧発生部２１の機能は、デジタル電
源部21Ａ及びアナログ電源部21Ｃから保護ダイオードＤ
ｉを介して印加されるデジタル電圧ＶＤ及びアナログ電
圧ＶＥ電圧を可変抵抗器ＶR1〜ＶRmにより分割して、そ
の設定電圧を負荷条件によって変化しないように、オペ
アンプＯP1〜ＯPmによりインピーダンス変換をし、その
高出力インピーダンスの設定電圧を基準電圧ＶREF とし
てＳＴＮ用やＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に出力する。

【００４１】これにより、カラー表示に係るＬＣＤ装置
の数百種類の駆動電圧に係るｍ個の基準電圧を発生する
ことができる。なお、表１に基準電圧ＶREF の設定範囲
を示している。

【００４２】

【表１】

【００４３】図５は、本発明の実施例に係るスキャナ群
の内部構成図を示している。図５において、スキャナ群
２２は出力電圧セレクタ群22Ａ，基準電圧セレクタ群22
Ｂ，電圧／電流切換器22Ｃ，極性切換器22Ｄ，Ａ／Ｄ電
流（＋）切換器22Ｅ，Ａ／Ｄ電流（−）切換器22Ｆから
成る。

【００４４】出力電圧セレクタ群22Ａは被試験ＩＣ装置
１６の出力端子情報，例えば、出力電圧を選択入力する
リレー素子から成る。なお、出力電圧セレクタ群22Ａは
ｎ個のゲートトランジスタ回路から成り、液晶駆動モー
ドＳTN／ＴFTに基づいてホストコンピュータ24Ｃにより
制御される。また、選択された出力電圧は電圧／電流切
換器22Ｃを介してデジタルボルトメータ２３に転送され
る。

【００４５】基準電圧セレクタ群22Ｂは被試験ＩＣ装置
１６の入力端子情報，例えば、基準電圧ＶREF ，アナロ
グ電圧ＶＥやデジタル電圧ＶＤを選択入力するものであ
る。なお、基準電圧セレクタ群22Ｂはｍ個のゲートトラ
ンジスタ回路から成り、液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基
づいてホストコンピュータ24Ｃにより制御される。な
お、選択された入力電圧は電圧／電流切換器22Ｃを介し
てデジタルボルトメータ２３に転送される。

【００４６】電圧／電流切換器22Ｃは電圧情報入力と電
流入力情報との切り換えをするものであり、液晶駆動モ
ードＳTN／ＴFTに基づいてホストコンピュータ24Ｃによ
り制御される。極性切換器22Ｄはマイナスモードと通常
モードを選択するものである。例えば、通常モードを選
択する場合には、極性切換器22Ｄがａ点に接続され、マ
イナスモードを選択する場合には、極性切換器22Ｄがｂ
点（接地線ＧND）に接続される。

【００４７】Ａ／Ｄ電流（＋）切換器22Ｅはアナログ電
流ＩＥ（＋）とデジタル電流ＩＤ（＋）との入力を切り
換えるものである。例えば、アナログ電圧ＶＥやデジタ
ル電圧ＶＤに係るアナログ電流ＩＥ（＋）やデジタル電
流ＩＤ（＋）を検出する際に、液晶駆動モードＳTN／Ｔ
FTに基づいてホストコンピュータ24Ｃにより制御され
る。

【００４８】Ａ／Ｄ電流（−）切換器22Ｆは、同様に、
アナログ電流ＩＥ（−）とデジタル電流ＩＤ（−）との
入力を切り換えるものである。例えば、アナログ電圧Ｖ
Ｅやデジタル電圧ＶＤに係るアナログ電流ＩＥ（−）や
デジタル電流ＩＤ（−）を検出する際に、液晶駆動モー
ドＳTN／ＴFTに基づいてホストコンピュータ24Ｃにより
制御される。

【００４９】これにより、被試験ＩＣ装置１６の出力端
子情報やその入力端子情報をデジタルボルトメータ２３
に走査入力することができる。図６は、本発明の実施例
に係るシグナルジェネレータの内部構成図であり、図７
は、その動作タイムチャートをそれぞれ示している。

【００５０】図６において、シグナルジェネレータ24Ａ
はＴＦＴ用パターン発生部４１，リセット信号発生部４
２及びクロック発生部４３から成る。ＴＦＴ用パターン
発生部４１は、インバータＩN1，カウンタ241 ，ＥＰ−
ＲＯＭ242 ，Ｄ型フリップ・フロップ回路ＤFF１，ＤFF
２，二入力論理積回路ＡND１及びセレクタ245 から成
る。ＴＦＴ用パターン発生部４１の機能は、ホストコン
ピュータ24Ｃから転送されるＴＦＴ用のパラレルデータ
ＤＰと、リセット信号発生部４２で発生されるリセット
信号ＲSTと、クロック発生部４３で発生される第１〜第
３の内部制御信号Ｓ11〜Ｓ13と、ＥＰ−ＲＯＭ242 から
読出されるＲOMデータＤＴとに基づいてＴＦＴ用の試験
信号Ｓ１〜Ｓ６を出力する。

【００５１】また、リセット信号発生部４２はインバー
タＩN2，Ｄ型フリップ・フロップ回路ＤFF３，二入力論
理和回路ＯＲ１，ＯＲ２，二入力論理積回路ＡND２，三
入力論理積回路ＡND３から成る。リセット信号発生部４
２の機能は、連続／単発制御信号やスタート／ストップ
信号ＳＴ／ＳTPとリターン信号ＲETURN ，キャリー発生
信号Ｃry-pointに基づいてリセット信号ＲSTやクロック
発生部４３に第４の内部制御信号Ｓ14を出力する。

【００５２】クロック発生部４３は二入力論理和回路Ｏ
Ｒ３，クロック生成部246 ，Ｄ型フリップ・フロップ回
路ＤFF４，二入力論理積回路ＡND４，ディレイ回路247
，インバータＩN3セレクタ248 から成る。クロック発
生部４３の機能は、基準クロックＣＫ，第４の内部制御
信号Ｓ14及び立上がり／立下がり制御信号ｕｐ／ｄown
に基づいて、立上がりクロックＣLK，立下がりクロック
ＣLK，第１〜第３の内部制御信号Ｓ11〜Ｓ13を出力す
る。

【００５３】また、シグナルジェネレータ24Ａの機能
は、図７の動作タイムチャートにおいて、立上がり／立
下がり制御信号ｕｐ／ｄown に基づいて、クロック発生
部４３から発生された基準クロックＣＫが立上がりクロ
ックＣLKと立下がりクロックＣLKに生成されると、その
基準クロックＣＫに基づいて第１〜第３の内部制御信号
Ｓ11〜Ｓ13がＴＦＴ用パターン発生部４１に出力され
る。

【００５４】さらに、リセット信号発生部４２では、連
続／単発動作信号やスタート／ストップ信号ＳＴ／ＳTP
とＴＦＴ用パターン発生部４１から帰還される第５，第
６の内部制御信号Ｓ15，Ｓ16に基づいてリセット信号Ｒ
STが生成され、それがＴＦＴ用パターン発生部４１に出
力される。

【００５５】これにより、パラレルデータＤＰ，リセッ
ト信号ＲST，第１〜第３の内部制御信号Ｓ11〜Ｓ13及び
ＲOMデータＤＴに基づいてＴＦＴ用パターン発生部４１
からＴＦＴ用の試験信号がＳ１〜Ｓ６が出力される。な
お、表２に被試験ＩＣ装置１６の動作条件を示してい
る。

【００５６】

【表２】

【００５７】また、表１の動作条件により被試験ＩＣ装
置１６を実動作に近い状態にすることができ、その出力
を任意のタイミングで捕らえることにより、その結果か
ら不良箇所を容易に検索することができ、実装工程にお
ける接続検査を短時間に、かつ、正確に行うことが可能
となる。

【００５８】このようにして、本発明の実施例に係るＬ
ＣＤ駆動ＩＣ装置の試験装置によれば、図３〜７に示す
ように、電圧発生部２１，スキャナ群２２，デジタルボ
ルトメータ２３及び制御システム２４が具備され、該制
御システム２４が各種液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づ
いて被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端子情報の自動計
測判定処理をする。

【００５９】例えば、被試験ＩＣ装置１６の入力端子に
複数の接触子から成るプローブ接触部２５を介して電圧
発生部２１で発生されたデジタル電圧ＶＤ，アナログ電
圧ＶＥ，基準電圧ＶREF 及びその他，制御システム２４
から転送される液晶駆動モードＳTN／ＴFT等が供給され
る。また、複数の接触子から成るプローブ接触部２５を
介してその出力端子情報がスキャナ群２２に取り込まれ
る。

【００６０】さらに、スキャナ群２２では被試験ＩＣ装
置１６の出力端子情報が自動走査入力され、その出力端
子情報がデジタルボルトメータ２３により自動計測され
る。また、その計測結果が制御システム２４に転送され
ることで、制御システム２４では各種液晶駆動モードＳ
TN／ＴFTに基づいて被試験ＩＣ装置１６の複数の出力端
子情報が自動判定される。

【００６１】このため、被試験ＩＣ装置１６の動作・機
能試験等において、チップ上の多数の出力端子情報をプ
ローブ接触部２５やスキャナ群２２を介して全てデジタ
ルボルトメータ２３に個々に取り込むことができ、数百
出力端子を有する半導体チップの全出力電圧を手作業に
依存して、個々に検査しなくても良い。なお、被試験Ｉ
Ｃ装置１６としてＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を始め、
他のＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置等を検査することが可
能となる。

【００６２】これにより、当該ＩＣ装置の実装工程にお
いて、実動作に近い状態で動作・機能試験をすることが
可能となり、異なった機能のＬＣＤ駆動ＩＣ装置に対し
ても当該試験装置を適用することが可能となる。

【００６３】次に、本発明の実施例に係るＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置の試験方法について、本発明の試験装置の動作を
補足しながら説明をする。図８は、本発明の実施例に係
るＬＣＤ駆動ＩＣ装置の試験フローチャートであり、図
９〜11はその補足説明図をそれぞれ示している。

【００６４】例えば、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置又は
ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を液晶駆動モードＳTN／Ｔ
FTに基づいて検査をする場合、図８において、まず、ス
テップＰ１でＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の入出力端子
と当該試験装置の試験用入出力端子との接触処理（以下
プロービング処理ともいう）をする。

【００６５】この際に、図９に示すようにＴＦＴ用ＬＣ
Ｄ駆動ＩＣの入力端子，例えば、接地端子ＧND，電源端
子ＶEE，Ｖ５，Ｖ２，Ｖ１，ＶSS，ＶDD，制御端子ＳH
L，ＤＦ，ＤispOFF，Ｃｐ，ＭODE ，ＭIN やその出力
端子Ｘ１〜Ｘ80と、その当該試験装置の試験用入出力端
子, 例えば、デジタル電源部21Ａ，アナログ電源部21Ｂ
及び基準電圧群21Ｃの出力部やレベル変換器24，24Ｅの
出力部とが図９（ｂ）に示すようなガラスプローブカー
ド25Ａを介して接触される。ここで、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆
動ＩＣ又はプローブカード25ＡがＺ方向に移動され、そ
の位置合わせが行われる。

【００６６】また、ステップＰ３で液晶駆動モードＳTN
／ＴFTの選択をする。例えば、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ
装置を検査する場合（ＹES）には、ステップＰ３に移行
し、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を検査する場合（Ｎ
Ｏ）には、ステップＰ７に移行する。

【００６７】ここで、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を検
査するものとすれば、ステップＰ３で各種液晶駆動モー
ドＳTN／ＴFTに基づいてＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に
デジタル電圧ＶＤ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶRE
F の印加処理をする。この際に、電圧発生部２１のアナ
ログ電源部21Ｃのスイッチング素子ＳＷ２がＴFT側にさ
れ、そのスイッチング素子ＳＷ１が＋側にされる。これ
により、デジタル電源部21Ａ及びアナログ電源部21Ｃか
ら保護ダイオードＤｉを介してデジタル電圧ＶＤ及びア
ナログ電圧ＶＥが基準電圧群21Ｃに供給され、可変抵抗
器ＶR1〜ＶRmによりその電圧が分割される。また、その
設定電圧が負荷条件によって変化しないように、オペア
ンプＯP1〜ＯPmによりインピーダンス変換され、その高
出力インピーダンスの設定電圧が基準電圧ＶREF として
ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に出力される。その基準電
圧ＶREF の設定範囲は表１を参照されたい。

【００６８】次に、ステップＰ４でＴＦＴ用ＬＣＤ駆動
ＩＣ装置の出力端子情報や入力端子情報の走査入力処理
をする。ここで、出力電圧セレクタ群22ＡによりＴＦＴ
用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の出力端子の一情報が選択入力さ
れ、その選択された出力電圧が電圧／電流切換器22Ｃを
介してデジタルボルトメータ２３に転送される。

【００６９】また、基準電圧セレクタ群22ＢによりＴＦ
Ｔ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の入力端子の一情報，例えば、
基準電圧ＶREF ，アナログ電圧ＶＥやデジタル電圧ＶＤ
が選択入力され、その選択された入力電圧が電圧／電流
切換器22Ｃを介してデジタルボルトメータ２３に転送さ
れる。

【００７０】なお、それ等の電流を測定する場合には、
電圧／電流切換器22Ｃにより電流入力情報に切り換えら
れ、極性切換器22Ｄがａ点に接続される通常モードが選
択される。これにより、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の
出力端子情報やその入力端子情報をデジタルボルトメー
タ２３に走査入力することができる。

【００７１】次いで、ステップＰ５で走査入力処理に基
づいてＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の複数の出力端子情
報や入力端子情報の計測処理をする。この際に、高分解
能のデジタルボルトメータ２３により、ＴＦＴ用ＬＣＤ
駆動ＩＣ装置の各入出力端子に係るｎ個の出力電圧Ｖ１
〜Ｖｎ，その基準電圧ＶREF ，デジタル電圧ＶＤ，アナ
ログ電圧ＶＥ，デジタル電流ＩＤ（±），アナログ電流
ＩＥ（±）が測定される。

【００７２】その後、ステップＰ６で計測処理に基づい
てＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の自動判定処理をする。
ここで、ホストコンピュータ24Ｃにより、液晶駆動モー
ドＳTN／ＴFTに基づいてＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の
複数の出力端子情報，例えば、あるタイミングで出力す
べき電圧が正確に出力されているか否かを実動作に近い
状態の試験電圧でそれを動作させることにより、その良
否が自動判定される。

【００７３】これにより、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置
の出力を任意のタイミングで捕らえることにより、その
結果から不良箇所を容易に検索することができ、実装工
程における接続検査を短時間に、かつ、正確に行うこと
が可能となる。

【００７４】その後、ステップＰ11で試験が全部終了し
たか否かを判断する。この際に、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置の試験が全部終了した場合（ＹES）には、その制
御を終了する。また、それが全部終了していない場合
（ＮＯ）には、ステップＰ１に戻って他のＴＦＴ用ＬＣ
Ｄ駆動ＩＣ装置に代えてプローブ接触部２５のプロービ
ング処理をする。

【００７５】なお、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に代え
てＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置を液晶駆動モードＳTN／
ＴFTに基づいて検査をする場合には、ステップＰ１でＳ
ＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の入出力端子と当該試験装置
の試験用入出力端子とのプロービング処理をする。

【００７６】この際に、ＴＦＴ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の
場合と同様に、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の接地端子
ＧND，電源端子ＶEE，Ｖ５，Ｖ２，Ｖ１，ＶSS，ＶDD，
制御端子ＳHL，ＤＦ，ＤisｐOFF ，Ｃｐ，ＭODE ，ＭIN
やその出力端子Ｘ１〜Ｘ80と、当該試験装置のデジタ
ル電源部21Ａ，アナログ電源部21Ｂ及び基準電圧群21Ｃ
の出力部やレベル変換器24，24Ｅの出力部から延在する
試験用入出力端子とが接触される。

【００７７】なお、ステップＰ３ではＳＴＮ用ＬＣＤ駆
動ＩＣ装置を検査する場合（ＮＯ）に該当するため、ス
テップＰ７に移行する。例えば、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置のコモンドライバ試験やセグメント試験を行う場
合、まず、ステップＰ７に移行して、液晶駆動モードＳ
TN／ＴFTに基づいて被試験ＩＣ装置にデジタル電圧Ｖ
Ｄ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF の供給処理を
する。

【００７８】この際に、電圧発生部２１のアナログ電源
部21Ｃのスイッチング素子ＳＷ２がＳTN側にされ、その
スイッチング素子ＳＷ１が−側にされる。これにより、
デジタル電源部21Ａ及びアナログ電源部21Ｃから保護ダ
イオードＤｉを介してデジタル電圧ＶＤ及びアナログ電
圧ＶＥ＝５〔Ｖ〕固定が基準電圧群21Ｃに供給され、可
変抵抗器ＶR1〜ＶRmによりその電圧が分割される。ま
た、その設定電圧がオペアンプＯP1〜ＯPmによりインピ
ーダンス変換され、その基準電圧ＶREF がＳＴＮ用ＬＣ
Ｄ駆動ＩＣ装置に出力される（設定範囲は表１参照）。

【００７９】また、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のコモ
ンドライバ試験の場合には、図10に示すように、スター
ト信号ＥとクロックＬOAD とに基づいてその出力電圧Ｘ
１〜Ｘｎが測定され、キャリー信号ＣARRYによりその測
定を終了する。なお、制御モードＭは出力電圧Ｖ１＝
「Ｈ」（ハイ）レベルに設定する。

【００８０】さらに、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のセ
グメントドライバ試験の場合には、図11に示すように、
スタート信号ＬOAD とクロックＣpxとに基づいて発生す
るキャリー信号ＣARRYにより，例えば、端子番号ｎ＝１
〜４０の出力電圧の測定をする。なお、測定条件１とし
て、４ビットの試験データＤ０〜Ｄ３につき、該試験デ
ータＤ０，Ｄ１を「Ｌ」レベルに設定し、その試験デー
タＤ２，Ｄ４を「Ｈ」レベルに設定する。また、制御モ
ードＭを「Ｈ」レベル，制御モードＥを「Ｌ」レベル，
制御モードＲ／Ｌを「Ｌ」レベルにそれぞれ設定するも
のとする。

【００８１】さらに、その測定条件１の反転として、測
定条件２にを設定する。なお、該試験データＤ０，Ｄ１
を「Ｈ」レベルに設定し、その試験データＤ２，Ｄ４を
「Ｌ」レベルに設定する。また、制御モードＭを「Ｌ」
レベル，制御モードＥを「Ｈ」レベル，制御モードＲ／
Ｌを「Ｈ」レベルにそれぞれ設定する。

【００８２】次に、ステップＰ８でＳＴＮ用ＬＣＤ駆動
ＩＣ装置の出力端子情報や入力端子情報の走査入力処理
をする。ここで、出力電圧セレクタ群22ＡによりＳＴＮ
用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の出力端子の一情報が選択入力さ
れ、その選択された出力電圧が電圧／電流切換器22Ｃを
介してデジタルボルトメータ２３に転送される。

【００８３】また、基準電圧セレクタ群22ＢによりＳＴ
Ｎ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の入力端子の一情報，例えば、
基準電圧ＶREF ，アナログ電圧ＶＥやデジタル電圧ＶＤ
が選択入力され、その選択された入力電圧が電圧／電流
切換器22Ｃを介してデジタルボルトメータ２３に転送さ
れる。

【００８４】なお、それ等の電流を測定する場合には、
電圧／電流切換器22Ｃにより電流入力情報に切り換えら
れ、極性切換器22Ｄがｂ点に接続されるマイナスモード
が選択される。これにより、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装
置の出力端子情報やその入力端子情報をデジタルボルト
メータ２３に走査入力することができる。

【００８５】次いで、ステップＰ９で走査入力処理に基
づいてＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の複数の出力端子情
報や入力端子情報の計測処理をする。この際に、高分解
能のデジタルボルトメータ２３により、ＳＴＮ用ＬＣＤ
駆動ＩＣ装置の各入出力端子に係るｎ個の出力電圧Ｖ１
〜Ｖｎ，その基準電圧ＶREF ，デジタル電圧ＶＤ，アナ
ログ電圧ＶＥ，デジタル電流ＩＤ（±），アナログ電流
ＩＥ（±）が測定される。

【００８６】その後、ステップＰ10でＳＴＮ用ＬＣＤ駆
動ＩＣ装置の自動判定処理をする。ここで、ホストコン
ピュータ24Ｃにより、液晶駆動モードＳTN／ＴFTに基づ
いてＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の複数の出力端子情
報，例えば、あるタイミングで出力すべき電圧が正確に
出力されているか否かを実動作に近い状態の試験電圧で
それを動作させることにより、その良否が自動判定され
る。

【００８７】これにより、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置
の出力を任意のタイミングで捕らえることにより、その
結果から不良箇所を容易に検索することができ、実装工
程における接続検査を短時間に、かつ、正確に行うこと
が可能となる。

【００８８】その後、ステップＰ11で試験が全部終了し
たか否かを判断する。この際に、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動Ｉ
Ｃ装置の試験が全部終了した場合（ＹES）には、その制
御を終了する。また、それが全部終了していない場合
（ＮＯ）には、ステップＰ１に戻って他のＳＴＮ用ＬＣ
Ｄ駆動ＩＣ装置に代えてプローブ接触部２５のプロービ
ング処理をする。

【００８９】このようにして、本発明の実施例に係るＬ
ＣＤ駆動ＩＣ装置の試験方法によれば、図８の処理フロ
ーチャートに示すように、ステップＰ１で例えばＴＦＴ
用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置又はＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置
の入出力端子と試験装置の試験用入出力端子との間を接
触するプロービング処理に基づいてステップＰ３やＰ７
で液晶駆動モードＳTN／ＴFTにより、デジタル電圧Ｖ
Ｄ，アナログ電圧ＶＥ及び基準電圧ＶREF がＴＦＴ用Ｌ
ＣＤ駆動ＩＣ装置又はＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置に供
給処理されると、ステップＰ４やＰ８でその出力端子情
報や入力端子情報が走査入力処理される。

【００９０】このため、ステップＰ５やＰ９でＴＦＴ用
ＬＣＤ駆動ＩＣ装置やＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の複
数の出力端子情報や入力端子情報を個々に自動計測処理
をすることにより、ステップＰ６やＰ10でＴＦＴ用ＬＣ
Ｄ駆動ＩＣ装置やＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の自動判
定処理，例えば、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のコモン
ドライバ試験の場合であって、制御モードＲ／Ｌの接続
試験をすることができる。

【００９１】すなわち、モード端子ＳHLを切り換えて、
出力電圧Ｘ１〜Ｘｎの出力方向がＸｎ→Ｘ１になれば、
該制御モードＲ／Ｌは「良」と判定される。その判定基
準は、クロックＬOAD の立ち下がりに同期して、出力電
圧Ｘｎ＝「Ｈ」（ハイ）レベルが検出可能な場合に
「良」とする。

【００９２】また、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のコモ
ンドライバ試験の場合であって、制御モードＭの接続試
験をすることができる。すなわち、制御モードＲ／Ｌの
接続試験の終了後に、クロックＬOAD を停止し、そのモ
ード端子ＭODE の入力論理を反転して、出力電圧Ｖ１を
出力している出力端子が出力電圧Ｖ６を出力すること、
又は、出力電圧Ｖ２を出力している出力端子が出力電圧
Ｖ５を出力すれば該制御モードＭは「良」と判定され
る。その判定基準は、いずれか一つの出力端子につき、
かかる反転出力が検出可能な場合に「良」とする。

【００９３】さらに、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のコ
モンドライバ試験の場合であって、制御モードＤOP（Ｄ
ispOFF）の接続試験をすることができる。すなわち、入
力ＤＣ状態であって、モード端子ＭODE の入力論理が走
査時の出力電圧Ｖ６を出力しているモードに設定した状
態において、そのモード端子ＤOPの入力論理を反転し
て、その出力電圧Ｖ６が出力電圧Ｖ１となれば該制御モ
ードＤispOFFは「良」と判定される。その判定基準は、
いずれか一つの出力端子につき、かかる反転出力が検出
可能な場合に「良」とする。

【００９４】また、ステップＰ10でＳＴＮ用ＬＣＤ駆動
ＩＣ装置のセグメントドライバ試験の場合であって、出
力端子Ｙ１〜Ｙｎの接続試験をすることができる。すな
わち、測定条件１の場合であって、クロックＣpxに基づ
いてキャリー信号ＣARRYが立ち、スタート信号（ストッ
プ）ＬOAD の立ち下がりに同期して、出力端子Ｙ2n＝出
力電圧Ｖ６に対して出力端子Ｙ2n-1＝出力電圧Ｖ４にな
れば、該測定条件１は満足すると判定される。また、測
定条件２の場合であって、クロックＣpxに基づいてキャ
リー信号ＣARRYが立ち、スタート信号（ストップ）ＬOA
D の立ち下がりに同期して、出力端子Ｙ2n＝出力電圧Ｖ
１に対して出力端子Ｙ2n-1＝出力電圧Ｖ３になれば、該
測定条件２は満足すると判定される。その判定基準は、
全端子番号ｎ＝１〜４０の出力電圧が検出可能な場合に
「良」とする。

【００９５】さらに、ＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置のセ
グメントドライバ試験の場合であって、制御モードＤOP
の接続試験をすることができる。すなわち、測定条件１
の試験終了後に、スタート信号ＬOAD を停止し、そのモ
ード端子ＤOP＝ＤispOFF状態において、その出力電圧Ｖ
６が出力電圧Ｖ１に変化すれば該制御モードＤispOFFは
「良」と判定される。その判定基準は、いずれか一つの
出力端子につき、かかる反転出力が検出可能な場合に
「良」とする。

【００９６】これにより、出力端子情報の自動検索測定
をすることができ、液晶駆動ＩＣ装置の出力端子情報の
検索測定に係わり手作業に依存することが無くなる。ま
た、ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の検査労力が軽減され、該検査
時間の短縮化が図られることから信頼性の良いＬＣＤ駆
動ＩＣ装置を量産することが可能となる。

【００９７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶駆動
ＩＣ装置の試験装置によれば、電圧発生源，走査手段，
信号測定手段及び制御手段が具備され、各種液晶駆動モ
ードに基づいて被試験ＩＣ装置の複数の出力端子情報が
制御手段により自動計測判定処理されるこのため、ＴＦ
Ｔ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置やＳＴＮ用ＬＣＤ駆動ＩＣ装置
等の被試験ＩＣ装置の動作・機能試験等において、チッ
プ上の多数の出力端子情報をプローブ手段や走査手段を
介して全て信号測定手段に個々に取り込むことができ、
数百出力端子を有する半導体チップの全出力電圧を手作
業に依存して、個々に検査しなくても良い。また、当該
ＩＣ装置の実装工程において、実動作に近い状態で動作
・機能試験をすることが可能となる。

【００９８】さらに、本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の
試験方法によれば、各種液晶駆動モードに基づくデジタ
ル電圧，アナログ電圧及び基準電圧がプローブ手段の接
触処理に基づいて試験ＩＣ装置に供給処理されると、そ
の出力端子情報や入力端子情報が走査入力処理される。

【００９９】このため、被試験ＩＣ装置の複数の出力端
子情報や入力端子情報を個々に自動計測処理をすること
により、あるタイミングで出力すべき電圧が正確に出力
されているか否かをあらゆる試験電圧でそれを動作させ
てその良否判定をする被試験ＩＣ装置の自動判定処理を
行うことが可能となる。このことから、出力端子情報の
自動検索測定をすることができ、液晶駆動ＩＣ装置の出
力端子情報の検索測定に係わり手作業に依存することが
無くなる。

【０１００】これにより、ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の検査労
力が軽減され、該検査時間の短縮化が図られることから
信頼性の良いＬＣＤ駆動ＩＣ装置を量産することが可能
となる。また、ＬＣＤ駆動ＩＣ装置の汎用型試験装置の
提供に寄与するところが大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試験装置の原
理図である。

【図２】本発明に係る液晶駆動ＩＣ装置の試験方法の原
理図である。

【図３】本発明の実施例に係るＬＣＤ駆動ＩＣ装置の試
験装置の全体構成図である。

【図４】本発明の実施例に係る電圧発生部の内部構成図
である。

【図５】本発明の実施例に係るスキャナ群の内部構成図
である。

【図６】本発明の実施例に係るシグナルジェネレータの
内部構成図である。

【図７】本発明の実施例に係るシグナルジェネレータの
動作タイムチャートである。

【図８】本発明の実施例に係るＬＣＤ駆動ＩＣ装置の試
験フローチャートである。

【図９】本発明の実施例に係るＬＣＤ駆動ＩＣ装置の端
子説明図及びプローブ処理の状態図である。

【図10】本発明の実施例に係るコモンドライバ（ＳＴ
Ｎ）試験の補足説明図である。

【図11】本発明の実施例に係るセグメントドライバ（Ｓ
ＴＮ）試験の補足説明図である。

【図12】従来例に係る液晶駆動ＩＣ装置（ＴＦＴ用）の
試験方法の説明図である。

【符号の説明】

１１…電圧発生源、 １２…走査手段、 １３…信号測定手段、 １４…制御手段、 １５…プローブ手段、 ＳTN／ＴFT…各種液晶駆動モード、 ＶＤ…デジタル電圧、 ＶＥ…アナログ電圧、 ＶREF …基準電圧。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｂ 7352−4Ｍ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくとも、被試験ＩＣ装置（１６）に
   供給するデジタル電圧（ＶＤ），アナログ電圧（ＶＥ）
   及び基準電圧（ＶREF ）を発生する電圧発生源（１１）
   と、前記被試験ＩＣ装置（１６）の出力端子情報の走査
   入力をする走査手段（１２）と、前記被試験ＩＣ装置
   （１６）の出力端子情報を計測する信号測定手段（１
   ３）と、前記電圧発生源（１１），走査手段（１２）及
   び信号測定手段（１３）の入出力を制御する制御手段
   （１４）とを具備し、前記制御手段（１４）が各種液晶
   駆動モード（ＳTN／ＴFT）に基づいて被試験ＩＣ装置
   （１６）の複数の出力端子情報の自動計測判定処理をす
   ることを特徴とする液晶駆動ＩＣ装置の試験装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の液晶駆動ＩＣ装置の試験
   装置において、前記被試験ＩＣ装置（１６）にデジタル
   電圧（ＶＤ），アナログ電圧（ＶＥ）及び基準電圧（Ｖ
   REF ）を供給する複数の接触子や該被試験ＩＣ装置（１
   ６）の出力端子情報を取り込む複数の接触子から成るプ
   ローブ手段（１５）が設けられることを特徴とする液晶
   駆動ＩＣ装置の試験装置。
3. 【請求項３】 各種液晶駆動モード（ＳTN／ＴFT）に基
   づいて被試験ＩＣ装置（１６）にデジタル電圧（Ｖ
   Ｄ），アナログ電圧（ＶＥ）及び基準電圧（ＶREF）の
   供給処理をし、前記供給処理に基づいて被試験ＩＣ装置
   （１６）の出力端子情報や入力端子情報の走査入力処理
   をし、前記走査入力処理に基づいて被試験ＩＣ装置（１
   ６）の複数の出力端子情報や入力端子情報の計測処理を
   し、前記計測処理に基づいて被試験ＩＣ装置（１６）の
   自動判定処理をすることを特徴とする液晶駆動ＩＣ装置
   の試験方法。
4. 【請求項４】 請求項３記載の液晶駆動ＩＣ装置の試験
   方法において、前記デジタル電圧（ＶＤ），アナログ電
   圧（ＶＥ）及び基準電圧（ＶREF ）の供給処理及び被試
   験ＩＣ装置（１６）の出力端子情報の走査入力処理に先
   立ち、前記被試験ＩＣ装置（１６）の入出力端子と試験
   装置の試験用入出力端子との接触処理をすることを特徴
   とする液晶駆動ＩＣ装置の試験方法。