JPS6336159A - 掃引信号直線性検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はオツシロスコープの掃引信号の直線性を検査す
る掃引信号直線性検査装置に関する。

（発明の背景） 従来、オツシロスコープの掃引信号の直線性の検査は手
動により行なわれていた。この方法は例えば直線性検査
のとき、所定周期で・母ルス信号を発生する発振器の発
振出力をオツシロスコープに供給して陰極線管面に表示
されるパルス信号波形と、陰極線管面の目盛とを見なが
ら、検査員が掃引時間と発振器のパルス信号周期とを変
化させて行なっていた。

（発明が解決しようとする間穐点） 上記の如き従来の方法によるときは、検査のだめの工程
数が多いほか、目視によるための誤認も生じ易い問題点
があった。

本発明は上記の問題点と解決した掃引信号直線性検査装
置を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本発明は上記の問題点分解決するために次の如く構成し
た。

標準掃引信号と第１および第２の電圧とをそれぞれ各別
に比較する第１および第２比較手段と、第１比較手段の
出力発生時から第２比較手段の出力発生時までの時間幅
のグートノンルスを発生するゲートパルス発生手段と、
オツシロスコープからの被検査掃引信号と順次変化する
第３の電圧とと比較する第３比較手段と、前記）ｆ　−
）　Ａ？ルスの前縁で第３比較手段の出力の反転を検出
する第１検出手段および後縁で第３比較手段の出力の反
転を検出する第２検出手段と、少なくとも第２および第
３の電圧を出力し、第１および第２検出手段によるそれ
ぞれの検出出力発生時における第３の電圧を記憶し、か
つ記憶した第３の電圧から前記被検査掃引信号の直線性
に対応する値を演算する制御＠ｌ＠算手投手段備えた。

（作用） 上記の如く構成された本発明においては、標準掃引信号
は第１および第２比較手段によって第１および第２の電
圧とそれぞれ比較され、第１比較手段の出力発生時から
第２比較手段の出力発生時までの時間幅のゲートパルス
がゲートパルス発生手段から出力される。このゲートパ
ルス幅は測定区間に相当する。

一方、オツシロスコープからの被検査掃引信号は順次変
化する第３の電圧と第３比較手段により゛　比較されて
、論理レベルの信号に変換される。ゲートパルス発生手
段から出力された）ｆ　−）　ｉＪ？ルスの前縁におけ
る第３比較手段の出力の反転が、後縁における第３比較
手段の出力の反転が、それぞれ第１および第２検出手段
によって検出される。

第１および第２検出手段の検出出力発生時の第３の電圧
が制御演算手段に記憶される。

したがって、ゲートパルス幅を一定にした状態で第３の
電圧を順次変化させていくときにおいて、第１および第
２検出手段の出力は第３の電圧が被検査掃引信号のレベ
ルに等しくなったときに反転し、このときの第３の電圧
は制御演算手段に記憶されているため、測定区間の初め
の時点における被検査掃引信号のレベルおよび測定区間
の終りの時点における被検査掃引信号のレベルがそれぞ
れ測定された状態であり、両電圧の差を演算することに
より電位差が測定される。したがって前記測定区間の長
さと、前記電位差とによシ直線性に対応する平均的な値
が制御演算回路によシ演算される。さらにまた、第１の
電圧および第２の電圧を変更することにより、測定区間
を変更でき被検査掃引信号の全範囲にわたって直線性に
対応する値が制御演算回路によって演算される。

さらにまた、第１の電圧を固定し、第２の電圧を変更し
ていくことにより、直前の第２の電圧と引き続く第２の
′直圧との差によって測定区間を決定しても同様である
。

（発明の実施例） 以下、本発明を実施例により説明する。

第１図は本発明の一実施例の構成と示すブロック図であ
る。

被測定信号、す々わち検査すべきオツシロスコープから
の掃引信号は入力部１を介して増幅器３に供給して増幅
のうえ、比較回路４に被比較電圧として印加される。Ｄ
／Ａ変換器５から出力されるアナログ電圧は比較回路４
に比較電圧として印加される。

被測定信号と同期してスタートする標準掃引信号、すな
わち直線性の良い鋸歯状波信号は比較回路８および９に
被比較電圧として印加される。ここで標準掃引信号は被
測定信号よシ充分に低い周波数に設定されている。Ｄ／
Ａ変換器１０．１１から出力されるアナログ電圧は比較
回路８，９にそれぞれ各別に比較電圧として印加される
。比較回路８および９の出力はダート信号生成回路１２
に供給し、標準掃引信号が比較回路８に印加されるＤ／
Ａ変換器１０の出力アナログ電圧以上で、かつＤ／Ａ変
換器１１の出力アナログ電圧未満である期間、ダート信
号生成回路１２からダート信号が出力される。

一方、制御演算回路６からはディジタルデータＡ、Ｂが
それぞれＤ／Ａ変換器１０．１１に各別に印加され、い
変換器１０．１１にてアナログ電王に変換される。また
さらに、制御演算回路６からは、制御演算回路６が同期
して駆動されるパルスを計数して順次所定値にまで増加
するディジタルデータＣがＤ／Ａ変換器５に印加され、
Ｄ／Ａ変換器５にてアナログ電圧に変換される。

比較回路４の出力はＤフリップフロップ１３および１４
にデータとして供給される。またダート信号生成回路１
２からの出力はＤ　７１Ｊツブフロツプ１４にクロック
信号として供給され、インバータ１６にて反転したｒ−
ト信号生成回路１２からの出力はＤフリップフロップ１
３にクロック信号として供給される。

比較回路４における両入力の比較によって比較回路４の
出力が反転すればその状態ばＤフリップフロップ１３．
１４に供給される。比較回路４の出力はケ゛−ト信号生
成回路１２の出力の立上り位置でＤフリップ７０ツｆ１
４に取シ込まれ、ダート信号生成回路１２の出力の立下
り位置でＤフリップフロップ１３に取シ込まれる。Ｄフ
リツプフロツ７°１３．１４の出力は制御演算回路６に
読み込まれる。Ｄフリップフロラ：７’１３，１４によ
る比較回路４の出力反転の読み込み時におけるディジタ
ルデータＣは制御演算回路６に記憶されると共に、記憶
しているディジタルデータＣは直前のディジタルデータ
Ｃと制御演算回路６にて減算され、その差が所定範囲内
かが制御演算回路６によって検出される。

上記の如く構成された本発明の一実施例において、標準
掃引信号の波形は第２図（ａ）に示す如くである。制御
演算回路６から出力されるディジタルデータＡおよびＢ
をそれぞれい変換器１０゜１１にて各別に変換したアナ
ログ信号をＩｔ　Ｅ”。

”Ｆ″とすれば、アナログ信号ｔｔ　ＥＭ　、　ｔｌ　
Ｆ″と標準掃引信号とが比較回路８，９にて比較され、
ダート信号生成回路１２からは第２図（ｂ）に示したｒ
−ト信号が出力される。このケ゛−ト信号幅は測定区間
を示す。このケ゛−ト信号はディジタルデータＡ、Ｂを
それぞれ設定することにより、測定範囲中の測定区間位
置および区間幅の設定、変史が可能となる。

つぎに第１図に示す実施例により被測定信号の測定が可
能であることと説明する。

いま被測定信号波形が掃引信号波形でない一般的な第３
図（、）に実線で示す如くであるとする。第２図（ｂ）
は第３図（ａ）に再記しである。また、ディジタルデー
タＣによるＤ／Ａ変換器５からのアナログ信号Ｇすなわ
ち比較′６圧が第３図（ｅ）において破線によシ示しで
ある。なお、第３図の右側部分と左側部分とでは比較電
圧レベルを変えて示しである。

第３図（、）に示した被測定信号とい変換器５から出力
される比較電圧によって、比較器４の出力は第３図（ｄ
）に示す如くになる。比較器４のこの出力はＤフリップ
フロップ１３．１４にて取り込まれる。すなわち、Ｄフ
リップ７０ツ７″１４により比較器４の出力が測定区間
の立上り位置（初め）で取り込まれて、Ｄフリップフロ
ップ１４の出力は第３図（ｃ）に示す如くであり、Ｄフ
リップフロップ１３により比較回路４の出力が測定区間
の立下り（終り）で取９込まれて、Ｄフリップフロップ
１３の出力は第３図（ｂ）に示す如くになる。

そこで、ダート信号生成回路１２にて生成されるｒ−）
信号の幅を設定し、Ｄ／Ａ変換器５の比較電圧、すなわ
ちディジタルデータＣを被測定信号レベルの測定範囲全
域にわたって変化させる。この変化の途中におけるＤフ
リップフロップ１３゜１４の出力反転時のディジタルデ
ータＣを記憶する。この記憶ディジタルデータＣから重
圧Ｈ，Ｉ。

Ｊ、Ｋを得ることができ、電圧Ｈと工との差、電圧Ｊと
Ｋとの差を演算することによシ測定区間の始めと終シの
２点間の電位差が測定できる。

本発明の一実施例においては被測定信号は第２図（ｃ）
に示す如き掃引信号の場合においても同様であって、第
２図（Ｃ）に示す如く、測定区間がｔ２−ｔｌ　＝ｔ３
−ｔ２＝・・・＝ｊ　−ｔ　　　＝ΔＬｎ　　　　　ｎ
ｌ となるように制御演算回路６によりディジタルデータＡ
を固定してディジタルデータＢを変化させて電位差を測
定する。

そこでディジタルデータＢにより測定区間１１〜ｔｚ’
！ｒ指定したとき、゛電位差（ｂｌ　　ａ）＝ｖ１が測
定でき、次に測定区間ｔ１〜ｔ３を指定したとき、電位
差（ｂ２　　ｍ）＝ａ２が測定できる。同様に繰り返し
て測定区間ｔ１〜ｔｎを指定したとき、電位差（ｂｎ−
ａ）＝υ。が測定できる。

この電圧υ１＋ｖ２．・・・ｖｎは制御演算回路６に記
憶され、（ｖｌ−ｖ、−１）／Δｂが演算される。ここ
でΔｂは基準となる掃引信号に対する測定区間Δｔの初
めと終りにおける電位差であって、（？Ｊｉ−υト、）
／Δｂは被測定信号に対する直線性に対応する値である
。

たとえば（ｖｎ−ｖｎ−、）／Δｂが許容値以下か否か
を表示器１７にて表示することによシ、表示器１７の表
示によって被測定信号の直線性が許容範囲内か否かが容
易に判別されることになる。

また、測定区間をｔｌ　を基準とする場合はＩＩＩＭＡ
変換器１０に代って定電圧回路を用いて比較器８に比較
電圧として一定電圧と印加するようにしてもよい。

（発明の効果） 以上説明した如く本発明によれば、標準掃引電圧と第１
の電圧および第２の電圧とをそれぞれ各別に比較する第
１および第２比較手段の出力によりゲート信号を生成し
、オツシロスコープの掃引信号と順次変化する第３の電
圧とを第３比較手段で比較し、ダート信号の前縁、後縁
で第３比較器の出力の反転をそれぞれ各別に検出し、こ
の検出時における第３の電圧から前記オッシロスコープ
の掃引信号の直線性を制御演算手段により演算するよう
にしたため、オツシロスコープの掃引信号の直線性が人
手に依らないで検査することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図。 第２図および第３図は本発明の一実施例の作用の説明に
供する線図および波形図。 ５．１０および１１・・・Ｄ／Ａ変換器、４，８および
９・・・比較回路、６・・・制御演算回路、１２・・・
ｒ−ト信号生成回路、１３および１４・・・Ｄフリップ
フロップ。 第２図 第３図 （ｂ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 標準掃引信号と第１および第２の電圧とをそれぞれ各別
   に比較する第１および第２比較手段と、第１比較手段の
   出力発生時から第２比較手段の出力発生時までの時間幅
   のゲートパルスを発生するゲートパルス発生手段と、オ
   ツシロスコープからの被検査掃引信号と順次変化する第
   ３の電圧とを比較する第３比較手段と、前記ゲートパル
   スの前縁で第３比較手段の出力の反転を検出する第１検
   出手段および後縁で第３比較手段の出力の反転を検出す
   る第２検出手段と、少なくとも第２および第３の電圧を
   出力し、第１および第２検出手段によるそれぞれの検出
   出力発生時における第３の電圧を記憶し、かつ記憶した
   第３の電圧から前記被検査掃引信号の直線性に対応する
   値を演算する制御演算手段とを備えたことを特徴とする
   掃引信号直線性検査装置。