JPH0978235A - 基板電極 - Google Patents

基板電極

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JPH0978235A
JPH0978235A JP23054295A JP23054295A JPH0978235A JP H0978235 A JPH0978235 A JP H0978235A JP 23054295 A JP23054295 A JP 23054295A JP 23054295 A JP23054295 A JP 23054295A JP H0978235 A JPH0978235 A JP H0978235A
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真 佐々木
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浩康 川野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スパッタリング装置などの基板電極に関し、
平坦度の悪い被加工基板と基板電極の間に常に一定の接
触を保持して被加工基板の温度を正確に制御することを
目的とする。 【解決手段】 ターゲット2と向き合う基板電極1にお
いて、被加工基板4を保持する位置に貫通孔13aを穿
設した電極本体13と、この電極本体13の貫通孔13
aに挿入された被加工基板4の被膜形成面の反対面に移
動自在にばね接触する複数の伝熱ピン11を備えて貫通
孔13aに嵌設される熱伝導ユニット14と、前記被加
工基板4の被膜形成領域と同じ形状の開口部12aを有
して被加工基板4を電極本体13に固定する固定部材1
2とで構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スパッタリング装
置などの基板電極に関する。ターゲットと離隔対面する
基板電極に薄い被加工基板を取り付け、被加工基板の表
面に金属を堆積し膜を形成する際に、反りやうねりなど
で平坦度の悪い被加工基板は基板電極との密着度が悪く
基板電極からの熱伝導にむらを生じて被加工基板の温度
制御が難しい。そのため、均一で熱伝導効率のよい基板
電極の構造が要望されている。
【0002】
【従来の技術】図5は直流スパッタリング装置を例示す
る。図示するように、真空ポンプ15で排気し希薄なA
rガスを充満させた真空チャンバ7内で基板電極100
とターゲット2とを離隔対面させ、高圧直流電源3によ
り基板電極100とターゲット2の間に大きな電位差を
与えて放電させる。
【0003】すると、Arイオンがターゲット2に衝突
し、その反動でターゲット2を構成する物質の原子がた
たき出されて基板電極100の表面に堆積する。そこ
で、基板電極100上に被加工基板4を取り付けておけ
ば、その表面はターゲット2を構成する物質の膜で被覆
されこととなる。
【0004】ここで用いられている従来の基板電極10
0は、金属製の円板状でターゲット2との放電における
一方の電極とするため、中心の回転軸5を通じて真空チ
ャンバ7の外部との電気的導通をとり、所定の電位が設
定されており、図6に示すように、膜で被覆したい複数
(図は4個を示している)の被加工基板4をターゲット
との対向面側の表面(下面)に回転中心を囲むように押
さえ金具101で押さえて取付ねじ102により固定し
ている。
【0005】また、成膜時の被加工基板4の表面の温度
は、形成された被膜の物性を大きく左右するため基板電
極100の温度を精度よく制御する必要がある。そのた
め、真空チャンバ7の天井面に加熱手段6であるヒータ
を設置し、ヒータ6の発生する輻射熱によって基板電極
100を加熱している。基板電極100の温度を図示し
ない熱電対で測定しながら、ヒータ6をON・OFF制
御し、基板電極100を高い温度領域で一定温度に維持
している。
【0006】また、基板電極100を加熱しない場合に
は、基板電極100内に図示しない冷却通路を設けて回
転軸5を通じて一定温度に冷却水を循環させ一定温度を
保持するように制御している。
【0007】このような構成で、基板電極100とター
ゲット2間で放電させながら基板電極100を回転さ
せ、被加工基板4をターゲット2の上につぎつぎと通過
させ、一度で多数の被加工基板4の表面に膜を形成して
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな上記構造の基板電極によれば、図7に示すように、
平坦度が悪く反りやうねりなどがある被加工基板4は、
基板電極100との間に隙間10ができ、接触面積が少
なくなる。真空チャンバ内のArガスは大気に比べて非
常に希薄であり、隙間10を通じての熱伝達は接触部分
での熱伝導に比べてほとんど行われなくなる。
【0009】このため、基板電極と被加工基板間の熱の
移動効率が低くなり、被加工基板の温度の追随性が悪
く、しかも温度むらが生じ易くなる。結果として被加工
基板の温度制御が正確にできないといった問題があっ
た。
【0010】上記問題点に鑑み、本発明は平坦度の悪い
被加工基板と基板電極の間に常に一定の接触を保持して
被加工基板の温度を正確に制御できる基板電極を提供す
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の基板電極においては、図1に示す本発明の
原理図(従来図において説明した部分は同一符号を用い
説明も省略する)のように、ターゲット2と向き合う基
板電極1において、被加工基板4を保持する位置に貫通
孔13aを穿設した電極本体13と、この電極本体13
の貫通孔13aに挿入された被加工基板4の被膜形成面
の反対面に移動自在にばね接触する複数の伝熱ピン11
を備えて貫通孔13aに嵌設される熱伝導ユニット14
と、被加工基板4の被膜形成領域と同じ形状の開口部1
2aを有して被加工基板4を電極本体13に固定する固
定部材12とで構成する。
【0012】このように構成することにより、熱伝導ユ
ニットの個々の伝熱ピンの先端が被加工基板の表面(被
膜形成面の反対面)に倣って移動(出入り)しばね接触
する。そのため、被加工基板の平坦度が悪く、反りやう
ねりなどの凹凸があってもそれに追従して凹凸形状を吸
収し、基板全面にわたって均一に効率よく熱伝導するこ
とができ、基板電極と被加工基板間の熱伝導効率の低下
はなくなり、被加工基板の温度の追随性がよくなって温
度むらが生じにくくなる。
【0013】また、伝熱ピンの反対側の先端は、離隔し
て設けられた加熱手段と直接対面して加熱手段からの輻
射熱を受け止めて被加工基板へと熱伝導するため、被加
工基板の急激な温度変化を緩衝することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面に示した実施例に基づ
いて本発明の要旨を詳細に説明する。図2はスパッタリ
ング装置に備えられた基板電極を示す。図示するよう
に、この基板電極1は、中心に回転軸5を垂設した円板
状の電極本体13と、この電極本体13に複数の被加工
基板4(4個の場合の中、1個を例示)をそれぞれに保
持するように円周4分割の位置に穿設された貫通孔13
aと、個々の貫通孔13aに嵌設される熱伝導ユニット
14と、この熱伝導ユニット14との間に被加工基板4
を挟んで支える固定部材12とで構成する。
【0015】なお、この熱伝導ユニット14及び固定部
材12は共に取付ねじ9によって電極本体13に取り付
けられ、個々の熱伝導ユニット14には被加工基板4が
1枚ずつ当接される。
【0016】熱伝導ユニット14は、加熱手段6である
ヒータからの輻射熱を効率良く均一に被加工基板4に熱
伝導する。そのため、熱伝導ユニット14は、電極本体
13の貫通孔13aに嵌設される円板状の伝熱ピン保持
部材16と、電極本体13の貫通孔13aに挿入された
被加工基板4の被膜形成面の反対面に、互いに独立して
移動しばね接触するように、伝熱ピン保持部材16に蜂
の巣状(図4参照)に垂直に立設される複数の伝熱ピン
11と、この伝熱ピン11のそれぞれに被加工基板4の
方にばね付勢するように挿入されるコイルばね18とで
構成する。
【0017】伝熱ピン保持部材16は、板面に垂直で微
小な直径のピン孔17を蜂の巣状に穿設し、伝熱ピン1
1は個々のピン孔17を貫いて互いに独立自在に上下移
動する。
【0018】伝熱ピン11は、被加工基板4と接触する
側に頭部19を備え、この頭部19は、被加工基板4の
表面と斜めに接触する場合でもそれを確実にするため半
球状の滑らかな曲面にする。頭部19の反対側には、受
熱容量を大きくするために熱浴部20を備える。これに
より、頭部19の急激な温度の変化を緩和する。
【0019】伝熱ピン保持部材16と頭部19との間に
圧縮されて挿着されたコイルばね18は、伝熱ピン11
を被加工基板4の方にばね付勢し頭部19を圧接する。
伝熱ピン11の自由状態では、熱浴部20の段差が伝熱
ピン保持部材16のピン孔17に係合するまで伝熱ピン
11を押し下げている。
【0020】伝熱ピン保持部材16のピン孔17は、伝
熱ピン11が可能な限り密に並ぶように蜂の巣状に開け
られるが、すべての熱浴部20が一つの束になって平面
を形成するように密接して並ぶピッチで開けられる。
【0021】固定部材12は、被加工基板4の被膜形成
領域と同じ形状の円形や方形の開口部12aが開けられ
ており、被加工基板4を下側(ターゲット側)から支え
るようにして取付ねじ9により電極本体13の下面に取
り付けられる。
【0022】図3は、基板電極に被加工基板を保持した
状態を示す。反りやうねりなどの凹凸がある被加工基板
4を固定部材12により伝熱ピン11の頭部19が並ん
だ面に押し付けると、個々の伝熱ピン11はその位置で
の被加工基板4の凹凸の程度に応じて上下に動き、すべ
ての伝熱ピン11が被加工基板4の表面(被膜形成面の
反対面)に接触し、ヒータ6で発生した熱が輻射により
すべての伝熱ピン11の熱浴部20に伝わり、それぞれ
の頭部19から熱伝導される。
【0023】なお、ヒータのON・OFFによる温度制
御の精度と効率を高めるため、とくに伝熱ピンは、銅な
どの高熱伝導性金属を用いて製作されることが望まし
い。また、基板電極とターゲットとの間の電界を乱して
放電に支障をきたすことのないように、電極本体、伝熱
ピン保持部材、伝熱ピン、コイルばね、固定部材のそれ
ぞれが導電性金属で製作され、かつこれらをすべて同電
位とするため互いの電気的導通が確保されていることが
必要である。
【0024】本発明を直流スパッタリング装置に適用
し、大きさ90mm×90mm、厚さ700μmの最大
で約150μmの反りやうねりなどの凹凸のある4枚の
アルミナ板製の被加工基板を基板電極に取り付けて加熱
し200℃に保持する実験を行った。
【0025】従来の基板電極を使用した場合、アルミナ
板の表面が200°Cに達するまでに約68分を要し、
またヒータ6のON・OFFによる温度制御を開始して
からは200°Cを中心に±8°Cの範囲で上下し、各
被加工基板とも表面の温度分布は最大で5°Cであっ
た。
【0026】一方、本発明の基板電極を使用した場合
は、アルミナ板の温度は約35分で200°Cにまで上
昇した。温度制御中は温度の上下は±3°Cと小さくな
り、また表面の温度分布も1°C以下となり、温度制御
の容易さ、温度むらにおいて従来基板電極より優れてい
ることが確認された。
【0027】このように、基板電極の被加工基板を保持
する位置にばね接触可能な複数の伝熱ピンを備えた熱伝
導ユニットを被加工基板との間に介在させ、個々の伝熱
ピンを被加工基板の被膜形成面の反対面にばね接触させ
て固定することにより、伝熱ピンの先端は反りやうねり
などの凹凸に倣って移動(出入り)し常に確実に隙間な
く接触するため、さらに伝熱ピンの反対側の先端は、離
隔して設けられた加熱手段と直接対面して加熱手段から
の輻射熱を受けて被加工基板へと熱伝導するため、被加
工基板の平坦度が悪くてもそれに追従して凹凸形状を吸
収し、基板全面にわたって均一で効率の良い熱伝導が可
能となり、被加工基板の温度制御を、より正確に行うこ
とができる。
【0028】なお、本発明においても従来同様に基板電
極内に冷却通路を設けて回転軸を通じて冷却水を循環さ
せ、冷却の必要な場合に流通させ温度制御する。
【0029】
【発明の効果】以上、詳述したように本発明によれば、
反りやうねりなどの凹凸のある薄板状の被加工基板であ
っても、基板電極から均一で効率の良い熱伝導が可能と
なり、この基板電極を例えば、スパッタリング装置に適
用して被加工基板の温度の、より正確な制御が実現でき
るといった産業上極めて有用な効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による基板電極の原理図
【図2】 本発明による基板電極の一実施例の破断を含
む要部側面図
【図3】 図2の被加工基板の装着状態を示す要部側断
面図
【図4】 図3の熱伝導ユニットの要部平面図
【図5】 従来技術によるスパッタリング装置の模式側
面図
【図6】 従来技術による基板電極の斜視図
【図7】 図6に被加工基板を装着した状態を示す要部
側面図
【符号の説明】
1 :電極基板 2 :ターゲット 4 :被加工基板 11 :伝熱ピン 12 :固定部材 12a:開口部 13 :電極本体 13a:貫通孔 14 :熱伝導ユニット

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ターゲットと向き合う基板電極におい
    て、 被加工基板を保持する位置に貫通孔を穿設した電極本体
    と、 該電極本体の貫通孔に挿入された前記被加工基板の被膜
    形成面の反対面に移動自在にばね接触する複数の伝熱ピ
    ンを備えて該貫通孔に嵌設される熱伝導ユニットと、 前記被加工基板の被膜形成領域と同じ形状の開口部を有
    して該被加工基板を前記電極本体に固定する固定部材
    と、からなることを特徴とする基板電極。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE102011078679A1 (de) * 2011-07-05 2013-01-10 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Verfahren und Substrathalter zur Vakuumbehandlung von Substraten

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011078679A1 (de) * 2011-07-05 2013-01-10 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Verfahren und Substrathalter zur Vakuumbehandlung von Substraten
DE102011078679B4 (de) * 2011-07-05 2015-10-01 Von Ardenne Gmbh Substrathalter für eine Substratbehandlungsvorrichtung

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