JPH0972737A - 測距装置および測距方法 - Google Patents

測距装置および測距方法

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JPH0972737A
JPH0972737A JP23110195A JP23110195A JPH0972737A JP H0972737 A JPH0972737 A JP H0972737A JP 23110195 A JP23110195 A JP 23110195A JP 23110195 A JP23110195 A JP 23110195A JP H0972737 A JPH0972737 A JP H0972737A
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Katsuhiko Matsushita
勝彦 松下
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Seikosha KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測距精度の向上と低価格化を目的としたもの
である。 【解決手段】 アクティブ式測距装置の増幅回路に入力
される出力信号に所定量のバイアス電流を加算するバイ
アス回路を備えているので、回路のオフセット電圧が負
の場合でもバイアス回路によって強制的に電圧を上げら
れ、測距時間を短縮するとともに、被写体を測距し得る
距離が見かけ上短くなるのを防いでいる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の技術分野】本発明は、カメラなどに利用される
測距装置および測距方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から積分回路を使った投受光タイプ
のさまざまな測距装置が提案されている。たとえば本出
願人による先の出願となる特開平6−167329号公
報では、被写体にパルス光を投光し、被写体からの光信
号を遠距離および近距離の2つの受光回路で一定電圧に
達するまでの間積分しそのときの投光回数をカウント
し、そうして得られた2つのカウント値から被写体まで
の距離を算出する測距装置において、単位時間当たりの
オフセット電圧を測定し、この結果によって測距出力の
補正を行うことによりドリフト電流の影響を取り除くカ
メラ用測距装置を提案している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところがドリフト電圧
は正の場合も負の場合も考えられる。ドリフト電圧が正
の場合は見かけ上の投光回数が減るため測距時間は短く
て済むが、負の場合には投光回数が多くなり撮影までの
タイムラグが大きくなるばかりでなく、被写体が遠い際
に投光回数の限界に達して、無限遠にあるものと判定さ
れてしまう。このため、被写体を測距し得る距離が見か
け上短くなってしまうという不具合を有していた。
【0004】本発明においては、測距時間を短縮すると
ともに、被写体を測距し得る距離が短くなるのを防ぐこ
とを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願の請求項1に係る発明は、被写体へ光を照射す
る投光手段と、前記投光手段の照射光が前記被写体で反
射する光を受光することにより、前記被写体まで距離に
応じた出力を発生する受光手段と、前記受光手段の出力
に所定量のバイアス電流を加算するバイアス手段と、前
記バイアス電流が加算された受光手段の出力を増幅する
増幅手段と、前記増幅手段のドリフト電圧と前記バイア
ス電流により発生するバイアス電圧との合算電圧を検出
するとともに、前記増幅手段の出力とこの検出した合算
電圧とに応じて、前記被写体までの距離を演算する演算
手段とを備えている。
【0006】本願の請求項2に係る発明は、被写体に光
を照射し、その反射光に応じて前記反射光を受光する受
光手段より発生する出力を増幅手段で増幅し、その増幅
出力に応じて前記被写体までの距離を演算する測距方法
において、前記光が非照射の際に上記受光手段の出力に
所定量のバイアス電流を加算し、このとき前記増幅手段
が発生する出力を記憶し、前記被写体に光を照射した際
に前記増幅手段が発生する出力と前記記憶している出力
とに応じて、前記被写体までの距離を演算している。
【0007】本願の請求項3に係る発明は、被写体へ光
を照射する投光手段と、前記投光手段の照射光が前記被
写体で反射する光を受光し2つの電流出力に変換する受
光手段と、前記受光手段の一方の出力電流を電圧に変換
する第1の電流電圧変換回路と、前記受光手段の他方の
出力電流を電圧に変換する第2の電流電圧変換回路と、
前記2つの電流電圧変換回路のいずれかを選択的に出力
する選択回路と、前記選択回路が前記第1の電流電圧変
換回路を選択しているときに前記投光手段の投光回数を
カウントする第1のカウント手段と、前記選択回路が前
記第2の電流電圧変換回路を選択しているときに前記投
光手段の投光回数をカウントする第2のカウント手段
と、前記第1および第2の電流電圧変換回路の出力信号
を増幅する増幅回路と、前記増幅回路に入力される出力
信号に所定量のバイアス電流を加算するバイアス回路
と、前記増幅回路のドリフト電圧と上記バイアス電流に
応じたバイアス電圧との加算電圧を記憶する記憶手段
と、前記増幅回路の出力を積分する積分回路と、前記積
分回路の出力と前記記憶手段の出力とから前記被写体ま
での距離を演算する演算手段とを備えている。
【0008】本願の請求項4に係る発明は、被写体へ光
を照射する投光手段と、前記投光手段の照射光が前記被
写体で反射する光を受光し2つの電流出力に変換する受
光手段と、前記受光手段の一方の出力電流を電圧に変換
する第1の電流電圧変換回路と、前記受光手段の他方の
出力電流を電圧に変換する第2の電流電圧変換回路と、
前記2つの電流電圧変換回路のいずれかを選択的に出力
する選択回路と、前記選択回路が前記第1の電流電圧変
換回路を選択しているときに前記投光手段の投光回数を
カウントする第1のカウント手段と、前記選択回路が前
記第2の電流電圧変換回路を選択しているときに前記投
光手段の投光回数をカウントする第2のカウント手段
と、前記第1および第2の電流電圧変換回路の出力信号
を増幅する増幅回路と、前記増幅回路に入力される出力
信号に所定量のバイアス電流を加算するバイアス回路
と、前記増幅回路のドリフト電圧と上記バイアス電流に
応じたバイアス電圧との加算電圧を記憶する記憶手段
と、前記増幅回路の出力を積分する積分回路と、前記積
分回路の出力と前記記憶手段の出力とから前記被写体ま
での距離を演算する演算手段とを備え、前記演算手段
は、前記記憶手段の出力に基づき、前記第1および第2
のカウント手段のそれぞれのカウント回数に相応する出
力を補正して上記距離を算出するものである。
【0009】本願の請求項5に係る発明は、前記バイア
ス回路が加算するバイアス電流を変更するバイアス電流
変更手段を有している。
【0010】本願の請求項6に係る発明は、前記ドリフ
ト電圧が正電圧の場合に前記バイアス回路のバイアス電
流の加算を禁止する禁止手段を有している。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図1に基づ
いて説明する。
【0012】制御回路(以下CPUという)10はカメ
ラの各部分の動作を統括して制御する。CPU10に内
蔵されている読み出し可能なリード・オンリ・メモリ
(以下ROMという)10aはカメラの動作に関するプ
ログラムおよびデータの半永久的な保存に使用する。同
様に、CPU10に内蔵されている読み書き可能なラン
ダム・アクセス・メモリ(以下RAMという)10bは
演算および一時的な記憶に使用する。モータ11はCP
U10の制御に従って鏡筒12を合焦位置に駆動する。
レリーズスイッチ13は撮影者が撮影を行うために押下
するスイッチである。
【0013】投光回路20は投光素子(以下IREDと
いう)21を駆動するための回路であり、トランジスタ
22、抵抗23、抵抗24からなる。IRED21はC
PU10から出力される発光信号EMによってパルス駆
動される。
【0014】遠側電流電圧変換回路30、近側電流電圧
変換回路40は一次元半導体受光素子3(以下PSDと
いう)と一体となって受光回路を構成する。ここで説明
の便宜上、これはPSD3の2つの出力端子のうち、投
光素子に近い方を遠側、投光素子から遠い方を近側と呼
ぶものとする。PSD3に光信号が入射すると、PSD
3はその強度と入射位置に応じた電流を遠側電流電圧変
換回路30と近側電流電圧変換回路40とに出力する。
遠側電流電圧変換回路30はアンプ31と帰還抵抗32
とで構成され、入力電流に比例した電圧を出力する回路
であり、近側電流電圧変換回路40も同様にアンプ41
と帰還抵抗42とで構成され、入力電流に比例した電圧
を出力する回路である。遠側電流電圧変換回路30およ
び近側電流電圧変換回路40から出力された電圧は、共
にスイッチ4に導かれる。スイッチ4は遠側電流電圧変
換回路30と近側電流電圧変換回路40のいずれかの出
力を後段の回路に伝える役割を持ち、その状態はCPU
10によって制御される。遠距離側の測距を行うときは
遠側電流電圧変換回路30、近距離側の測距を行うとき
は近側電流電圧変換回路40側にオンする。
【0015】増幅回路50と増幅回路60は同様な構成
なので、増幅回路50を例にとって説明する。増幅回路
50の前にはカップリングコンデンサ5が接続され、入
力信号の直流分はここでカットされる。増幅回路50は
アンプ51と3個の帰還抵抗53、54、55と入力抵
抗52とで構成され、入力信号をある一定のゲインで増
幅する回路である。回路中にスイッチ56とスイッチ5
7を持っており、これらのスイッチはCPU10によっ
てオンまたはオフを制御できる。スイッチ56は帰還抵
抗55を、スイッチ57は帰還抵抗54および帰還抵抗
55をそれぞれオンまたはオフするので、これらのスイ
ッチの状態から入力抵抗と帰還抵抗の組み合わせにより
アンプ51のゲインが段階的に変化する。したがって信
号電流から電圧への変換も、この変化したゲインに応じ
て行われる。増幅回路60も同様な構成であり、CPU
10はスイッチ66とスイッチ67を操作して適切なゲ
インを設定し、それにしたがって増幅回路50の出力し
た信号の増幅が行われる。増幅回路60の出力信号はス
イッチ7を経て後段の積分回路80に出力される。
【0016】増幅回路60のアンプ61にはバイアス回
路70が接続されている。バイアス回路70は抵抗71
と電源間に両端を接続された可変抵抗72とから構成さ
れている。バイアス回路70の出力にはスイッチ73が
接続され、CPU10はスイッチ73をオンすることに
よりバイアス電流を増幅回路60に供給する。ここでC
PU10は、スイッチ73を発光信号EMに同期してオ
ンまたはオフする。すなわち、IRED21の発光中に
おいてのみバイアス電流が増幅回路60に供給され、そ
れ以外の場合にはバイアス電流は供給されない。バイア
ス回路70が供給するバイアス電流は、常に積分コンデ
ンサ83の端子間電圧を正にするに十分な量になるよう
にあらかじめ調整されている。
【0017】積分回路80はアンプ81、入力抵抗8
2、積分コンデンサ83、それに積分コンデンサ83の
電荷を放電するためのスイッチ84、さらにアンプ81
の出力に電圧ホロワ85が接続されている。積分動作に
先だって積分コンデンサ83に残っている電荷を放電す
るためスイッチ84がオンする。電荷を十分に放電する
とスイッチ84はオフする。積分動作がスイッチ7のオ
ンによって開始されると、積分コンデンサ83には入力
信号の時間積分値が電荷として貯えられる。積分動作が
終了するとスイッチ7はオフし、積分コンデンサ83の
端子間電圧が電圧ホロワ85に出力され、電圧ホロワ8
5の出力電圧はA/D変換器14に取り込まれる。A/
D変換器14はこれをデジタル電圧に変換してCPU1
0に出力する。
【0018】次に本発明の実施例の回路の動作について
説明する。撮影者がレリーズスイッチ13を押すとCP
U10はROM10aに内蔵されているプログラムに従
って測光動作および測距動作を行い、続いて露出作動を
行う。そのうちの測距動作に入ると、CPU10はまず
図1内のすべての回路の電源をオンする。次にRAM1
0bの内容をクリアし、増幅回路50と増幅回路60の
ゲインを決定する。このときゲインを最小にセットして
も被写体の輝度が大きくアンプが飽和してしまう場合
は、測距を行わずに被写体が至近距離にあるものと判定
し、RAM10b中の至近フラグFcをセットする。こ
の理由は、輝度が大きい場合には撮影レンズの絞り口径
が小さくなるように制御されるため、被写界深度が非常
に深くなり、被写体位置に関係なくピントがあうように
なるためである。そして、測距に入る前に回路の単位投
光時間当たりのバイアス電圧とドリフト電圧との合算電
圧Vbを決定する。
【0019】その後CPU10は投光回路20をパルス
駆動し、カウント値K1で投光回数をカウントしながら
その時の受光素子の出力電流を遠側電流電圧変換回路3
0で電流電圧変換し、増幅回路50および増幅回路60
で増幅し、積分回路80で積分する。積分電圧が電圧V
2(たとえば1.0V)に達するとCPU10は投光を
終了し、その時のカウント値K1をRAM10bに保存
する。このとき積分電圧が電圧V2に達しないうちに投
光回数が値K1m(たとえば700回)に達した場合は
無限遠と判定し、RAM10b中の無限遠フラグFiを
セットする。それから再びCPU10は投光回路20を
パルス駆動し、カウント値K2で投光回数をカウントし
ながらその時の受光素子の出力電流を近側電流電圧変換
回路40で電流電圧変換し、増幅回路で増幅し、積分回
路で積分する。積分電圧が電圧V2に達するとCPU1
0は投光を終了し、その時のカウント値K2をRAM1
0bに保存する。このとき積分電圧が電圧V2に達しな
いうちに投光回数が値K2m(たとえば300回)に達
した場合は無限遠と判定し、RAM10b中の無限遠フ
ラグFiをセットする。以上で投光動作が終了すると、
無限遠フラグFiがセットされていれば無限遠、至近フ
ラグFcがセットされていれば至近、いずれでもなけれ
ばRAM10bに保存されているカウント値K1にバイ
アス電圧Vbに応じた補正を行なった値N1、同様にR
AM10bに保存されているカウント値K2にバイアス
電圧Vbに応じた補正を行なった値N2の両方から式
(1)のような値Xを算出する。
【0020】 X=N1/(N1+N2) (1) 式(1)により値Xが定まると、ROM10aに保存さ
れている、図7に示すような表を参照し、被写体までの
距離Dを求め、その結果にしたがってCPU10はモー
タ11を制御し、鏡筒12を合焦位置まで駆動する。最
後に測距回路の電源をオフして、このルーチンを抜け
る。
【0021】以上のうち、まず増幅回路50と増幅回路
60のゲイン決定動作を図2、図3を使って以下に詳細
に説明する。最初にCPU10によってスイッチ4を遠
側電流電圧変換回路30側にオンする。次にスイッチ8
4をオンし、積分コンデンサ83にたまっている電荷を
放電させる(図2のa)。十分に電荷を放電した後、ス
イッチ84をオフし、そしてカウント値Neを0にクリ
アする(図2のb)。それからCPU10は発光信号E
Mを発生して投光を開始する(図2のc)。発光信号E
Mの発生に応じて、IRED21が駆動されると共に、
スイッチ73もオンする。
【0022】各増幅回路の立ち上り時間の確保および投
光開始に伴う電源変動の影響を軽減するため、投光開始
後時間T1を経過してからスイッチ7をオンし(図2の
d)、積分回路を時間T2の間だけ動作させてからスイ
ッチ7をオフする(図2のe)。それが終わると投光・
積分を停止して、時間T3の間だけ待機し(図2の
f)、カウントアップ信号CUを発生してカウント値N
eに1を加える。
【0023】図3のように、図2のc〜eの動作を予め
決められた回数Ng(たとえば10回)だけ繰り返した
後、CPU10はA/D変換器14を制御し、積分コン
デンサ83の端子間電圧をデジタル値に変換して読み込
む。続いてCPU10は積分電圧Vintと電圧V1
(たとえば0.1V)とを比較し、積分電圧Vintの
方が大きい場合にはスイッチ56をオンする。以下同様
に、積分動作と比較演算とをくり返し、積分電圧Vin
tが電圧V1よりも大きい場合は、スイッチ66、スイ
ッチ57、スイッチ67の順でオンする。これで増幅回
路全体としてのゲインが定まったことになる。もし以上
の手順にしたがってすべてのスイッチをオンしてもなお
積分電圧Vintが電圧V1よりも大きい場合には被写
体は至近距離にあるものと判断して至近フラグFcをセ
ットして終了する。
【0024】次に、単位投光時間当たりのバイアス電圧
とドリフト電圧のと合算電圧Vbの求め方を図5を使っ
て以下に詳細に説明する。最初にスイッチ84をオン
し、積分コンデンサ83にたまっている電荷を放電させ
る。十分に電荷を放電した後、スイッチ84をオフし、
スイッチ4を遠側電流電圧変換回路30側にオンし、時
間T4だけ待機する。続いて投光回路20を駆動しない
でスイッチ7とスイッチ73とをオンし、積分動作を開
始して時間T5だけ待機する。この間積分コンデンサ8
3には回路のドリフト電圧およびバイアス回路70から
のバイアス電流によって電荷が貯えられる。スイッチ7
とスイッチ73とをオンしてから時間T5を経過する
と、スイッチ7とスイッチ73とをオフして積分動作を
終了し、式(2)にしたがって単位投光時間当たりのバ
イアス電圧とドリフト電圧との合算電圧Vbを求める。
通常オペアンプのドリフト電圧の絶対値は数ミリから1
0ミリボルトであり、バイアス回路70からはこれをキ
ャンセルするのに十分な電流が供給されるため、バイア
ス電圧とドリフト電圧との合算電圧Vbは必ず正とな
る。
【0025】 Vb=Vint/T5 (2) 次に、遠側電流電圧変換回路30による測距と値N1の
求め方を図2と図6を使って以下に詳細に説明する。最
初にスイッチ84をオンし、積分コンデンサ83にたま
っている電荷を放電させる。十分に電荷を放電した後、
スイッチ84はオフする。そしてカウント値K1を0に
クリアする。
【0026】続いて測距動作に移る。測距の方法は図2
に示した通りである。CPU10は発光信号EMに同期
してスイッチ73をオンし増幅回路60にバイアス電流
を供給する。投光を繰り返しながらカウント値K1を加
算していき、積分電圧Vintが予め定められた電圧V
2に達した時点で終了するが、もしも被写体までの距離
が遠くて予め定められた値K1mだけ投光しても電圧V
2に達しない場合は無限遠と判断し、RAM10b中の
無限遠フラグFiをセットして終了する。それ以外の場
合はカウント値K1からバイアス電圧とドリフト電圧と
の合算電圧Vbの影響を除去するため、次のような演算
を行う。
【0027】バイアス電圧とドリフト電圧との合算電圧
Vbの除去の演算方法を図6に従って説明する。測距終
了の時点で積分コンデンサの端子間電圧は電圧V2に達
しているが、その中にはオフセット電圧(バイアス電圧
+ドリフト電圧)Voffが含まれているため、単位時
間あたりのバイアス電圧とドリフト電圧との合算電圧V
bが0の場合に対して少ない投光回数で測距を終了して
いるはずである。もし単位時間あたりのバイアス電圧と
ドリフト電圧との合算電圧Vbが0ならば、図6に示す
値N1だけ投光しなければならないことになる。値N1
はカウント値K1と電圧V2とオフセット電圧Voff
とを使って式(3)のように表される。
【0028】 N1=K1・V2/(V2−Voff) (3) ここでオフセット電圧Voffは単位投光時間当たりの
バイアス電圧とドリフト電圧との合算電圧Vbを使って
式(4)のように表される。
【0029】 Voff=K1・Vb (4) 式(3)と式(4)からオフセット電圧Voffを消去
すれば、値N1が式(5)のように計算できる。
【0030】 N1=K1・V2/(V2−K1・Vb) (5) この値N1をRAM10bに格納する。
【0031】次に、近側電流電圧変換回路40による測
距と値N2の求め方を図2と図6に基づいて説明する。
最初にスイッチ84をオンし、積分コンデンサ83にた
まっている電荷を放電させる。十分に電荷を放電した
後、スイッチ84はオフする。そしてカウント値K2を
0にクリアする。続いて測距動作に移る。測距の方法は
図2に示した通りである。CPU10は発光信号EMに
同期してスイッチ73をオンし増幅回路60にバイアス
電流を供給する。投光を繰り返しながらカウント値K2
を加算していき、積分電圧Vintが予め定められた電
圧V2に達した時点で終了するが、もしも被写体までの
距離が遠くて予め定められた値K2mだけ投光しても電
圧V2に達しない場合は無限遠と判断し、RAM10b
中の無限遠フラグをセットして終了する。それ以外の場
合はカウント値K2を使って、値N1のときと同様に式
(6)のような値N2を算出しRAM10bに格納す
る。
【0032】 N2=K2・V2/(V2−K2・Vb) (6) 最後に値N1、N2を式(1)に代入し、被写体までの
距離Dを得ることは前述したとおりである。
【0033】以上が本実施例における回路の動作であ
る。図4に下イン決定から測距終了までの一連の動作を
示した。この例ではスイッチ56から67までの全ての
スイッチがオンし、ゲインは最小となっている。その状
態で測距を行い、無限遠と判断されることなくカウント
値K1、K2を求めている。以上の動作をフローチャー
トで表わすと図8〜図12のようになる。まず、メイン
ルーチンを図8に基づいて説明する。
【0034】この測距ルーチンに入ると、CPU10は
測距回路の電源をオンし(#001)、続いて変数やフ
ラグを初期化する(#002)。次に増幅回路50と増
幅回路60のゲインを決定し(#003)、至近フラグ
Fcの状態を確認し(#004)、セットされていれば
値Xに1を代入して(#005)、#013にジャンプ
する。#004で至近フラグFcがセットされていない
と、それから単位時間当たりのバイアス電圧Vbを決定
する(#006)。そして遠側電流電圧変換回路30で
の測距を行い、値N1を算出してRAM10bに保存し
(#007)、無限遠フラグFiの状態を確認し(#0
08)、セットされていれば値Xに0.5を代入して
(#009)、#013にジャンプする。#008で無
限遠フラグFiがセットされていないと、同様に近側電
流電圧変換回路40での測距を行い、値N2を算出して
RAM10bに保存し(#010)。無限遠フラグFi
の状態を確認し(#011)、セットされていれば値X
に0.5を代入して(#012)、#013にジャンプ
し、セットされていなければサブルーチン#007と#
010の操作でRAM10bに保存されている値N1と
値N2を読み出し値Xを算出する(#012)。つま
り、無限遠フラグFiがセットされていれば無限遠、至
近フラグFcがセットされていれば至近、それ以外では
図7に示すように値Xをオフセット値とする予め決めら
れたROM10aのアドレスを参照することで、被写体
までの距離Dを求め(#013)、鏡筒を駆動する(#
014)。最後に測距回路の電源をオフし(#01
5)、このルーチンを抜ける。
【0035】次に、各サブルーチン内での動作を説明す
る。まず、ゲイン決定のサブルーチンを図9に基づいて
説明する。ゲイン決定のサブルーチンに入ると、CPU
10はスイッチ4を遠側電流電圧変換回路30側にオ
ン、他のスイッチをすべてオフし(#101)、カウン
ト値Nsを0にクリアし(#102)、スイッチ84を
オンし、積分コンデンサ83にたまっている電荷を放電
させてから、スイッチ84をオフし(#103)、カウ
ンタリセット信号CRを発生してカウント値Neを0に
クリアする(#104)。
【0036】続いてCPU10は発光信号EMを発生し
て投光回路20を動作して投光を始め(#105)、時
間T1だけ待機する(#106)と、スイッチ84をオ
ンし積分動作をしながら(#107)、時間T2だけ待
機する。この間積分コンデンサ83には電荷が貯えられ
る(#108)。それから投光回路20の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#109)、時間T3だけ待機した後に(#11
0)、カウントアップ信号CUを発生してカウント値N
eに1を加える(#111)。以上#105〜#110
の動作はカウント値Neが予め決められた回数Ng(本
例では、Ng=10回)に達するまで繰り返される。カ
ウント値Neが回数Ngに達したら(#112)、CP
U10はスイッチ7をオフして、積分電圧VintをA
/D変換器14に出力する。A/D変換器14はその電
圧をA/D変換し、CPU10に出力する。さらに積分
電圧Vintを電圧V1と比較し(#113)、積分電
圧Vintが電圧V1以下であればメインルーチンに戻
る。
【0037】積分電圧Vintが電圧V1より大きかっ
た場合、カウント値Nsが0ならば(#114)、スイ
ッチ56を(#115)、カウント値Nsが1ならば
(#116)、スイッチ66を(#117)、カウント
値Nsが2ならば(#118)、スイッチ57を(#1
19)、カウント値Nsが3ならば(#120)、スイ
ッチ67を(#121)、それぞれオンし、カウント値
Nsに1を加えて(#122)、#104に戻る。もし
カウント値Nsが0から3のいずれでもなければ至近フ
ラグFcをセットし(#123)、このサブルーチンを
抜け、メインルーチンに戻る。
【0038】次に、単位投光時間当たりのドリフト電圧
決定のサブルーチンを図10に基づいて説明する。単位
投光時間当たりのドリフト電圧決定のサブルーチンがコ
ールされると、CPU10はスイッチ84をオンし、積
分コンデンサ83にたまっている電荷を放電させる。十
分に電荷を放電した後、スイッチ84をオフする(#2
01)。次にスイッチ4を遠側電流電圧変換回路30側
にオンする(#202)。それから時間T4だけ待機す
ると(#203)、スイッチ7とスイッチ73をオン
し、投光回路20は駆動しないで積分動作を開始し(#
204)、時間T5だけ待機する(#205)。この間
積分コンデンサ83には電荷が貯えられる。時間T5だ
け経過するとスイッチ7とスイッチ73をオフし、積分
動作を終了する(#206)。そして、A/D変換器1
4から出力された積分電圧VintをCPU10が読み
取る。CPU10は積分電圧Vintを時間T5で割
り、単位時間当たりのバイアス電圧Vbを求め、RAM
10bに保存し(#207)、このサブルーチンを抜け
る。
【0039】次に、遠側電流電圧変換回路30による測
距のサブルーチンを図11に基づいて説明する。遠側電
流電圧変換回路30による測距のサブルーチンがコール
されると、CPU10はスイッチ84をオンし、積分コ
ンデンサ83にたまっている電荷を放電させる。十分に
電荷を放電した後、スイッチ84をオフする(#30
1)。次にCPU10はスイッチ4を遠側電流電圧変換
回路30側にオンし、スイッチ7をオンする(#30
2)。カウンタリセット信号CRを発生してそれからカ
ウント値K1を0にクリアする(#303)。
【0040】続いて測距動作に移る。最初にカウント値
K1が値K1m以上かどうかを判定し(#304)、値
K1m以上ならばRAM10b中の無限遠フラグFiを
セットし(#305)、このサブルーチンを抜ける。カ
ウント値K1が値K1m未満ならばCPU10は投光回
路20を駆動し、投光を開始する(#306)。投光開
始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影
響とを軽減するため、時間T1だけ待機した後(#30
7)、スイッチ7とスイッチ73をオンして積分動作を
開始し(#308)、時間T2だけ待機する(#30
9)。この間積分コンデンサ83には電荷が貯えられ
る。時間T2だけ経過すると投光回路20の動作を止め
て投光動作を終了し、スイッチ7とスイッチ73をオフ
して、積分動作を終了する(#310)。それから時間
T3だけ待機し(#311)、カウントアップ信号CU
を発生してカウント値K1に1を加算し(#312)、
積分電圧VintをA/D変換器14に出力する。A/
D変換器14はその電圧をA/D変換してCPU10に
出力する。CPU10は積分電圧Vintを電圧V2と
比較し(#313)、積分電圧Vintが電圧V2より
も小さい場合には#304にジャンプして投光動作を繰
り返す。積分電圧Vintが電圧V2よりも大きい場合
にはカウント値K1から値N1を算出してRAM10b
に記憶し(#314)、このサブルーチンを抜ける。
【0041】次に、近側電流電圧変換回路40による測
距のサブルーチンを図12に基づいて説明する。近側電
流電圧変換回路40による測距のサブルーチンがコール
されると、CPU10はスイッチ84をオンし、積分コ
ンデンサ83にたまっている電荷を放電させる。十分に
電荷を放電した後、スイッチ84をオフする(#40
1)。次にスイッチ4を近側電流電圧変換回路40側に
オンする(#402)。それからカウンタリセット信号
CRを発生してカウント値K2を0にクリアする(#4
03)。
【0042】続いて測距動作に移る。最初にカウント値
K2が値K2m以上かどうかを判定し(#404)、値
K2m以上ならばRAM10b中の無限遠フラグFiを
セットし(#405)、このサブルーチンを抜ける。値
K2が値K2mより小さいと、CPU10は投光回路2
0を駆動し、投光を開始する(#406)。投光開始に
伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影響と
を軽減するため、時間T1だけ待機した後(#40
7)、スイッチ7とスイッチ73をオンして積分動作を
開始し(#408)、時間T2だけ待機する(#40
9)。この間積分コンデンサ83には電荷が貯えられ
る。時間T2だけ経過すると投光回路20の動作を止め
て投光動作を終了し、スイッチ7とスイッチ73をオフ
して、積分動作を終了する(#410)。それから時間
T3だけ待機し(#411)、カウントアップ信号CU
を発生してカウント値K2に1を加算し(#412)、
積分電圧VintをA/D変換器14に出力する。A/
D変換器14はその電圧をA/D変換してCPU10に
出力する。CPU10は積分電圧Vintを電圧V2と
比較し(#413)、積分電圧Vintが電圧V2より
も小さい場合には#404にジャンプして投光動作を繰
り返す。積分電圧Vintが電圧V2よりも大きい場合
にはカウント値K2から値N2を算出してRAM10b
に記憶し(#414)、このサブルーチンを抜ける。以
上の動作により、被写体までの距離が測定される。
【0043】なお本実施例では電流電圧変換回路と後段
の増幅回路のゲインを決定した後に単位投光時間あたり
のドリフト電圧を求めているが、単位投光時間あたりの
ドリフト電圧を求めた後に電流電圧変換回路と後段の増
幅回路のゲインを決定してもよい。
【0044】なお本実施例では実際のドリフト電圧量に
関わらずバイアス電流を加算しているが、バイアス電流
を加算しない状態でのドリフト電圧量を測定し、ドリフ
ト電圧が正の場合はバイアス電流を加算しない、そして
ドリフト電圧が負の場合にそのドリフト電圧に対応した
バイアス電流量を加算するという制御を行なってもよ
い。
【0045】この場合の動作を示すフローチャートを図
13に示す。回路構成は図1と同様であるため省略す
る。
【0046】図13に示すVbの決定のサブルーチン
は、先の実施例の図8のメインフローチャートの#00
6に置換されるべきフローチャートである。#004で
至近フラグFcがセットされていない場合に、図13の
ルーチンが実行される。
【0047】図13のVbの決定のサブルーチンがコー
ルされると、CPU10はスイッチ84をオンし、積分
コンデンサ83にたまっている電荷を放電させる。十分
に電荷を放電した後、スイッチ84をオフする(#50
1)。次にCPU10はスイッチ4を遠側電流電圧変換
回路30側にオンする(#502)。それから時間T4
だけ待機すると(#503)、スイッチ7とスイッチ7
3とをオンし、投光回路20は駆動しないで積分動作を
開始し(#504)、時間T5だけ待機する(#50
5)。この間積分コンデンサ83には電荷が蓄えられ
る。時間T5だけ経過するとスイッチ7とスイッチ73
とオフし、積分動作を終了する(#506)。
【0048】そして、A/D変換器14から出力された
積分電圧VintをCPU10が読みとる。CPU10
は積分電圧Vintが0以上か0未満かを判断し(#5
07)、0以上の場合はバイアス禁止フラグFbをセッ
トしてこのサブルーチンを抜け、メインルーチンに戻
る。Vintが0未満の場合は、バイアス禁止フラグF
bをリセットし(#509)、オフセット電圧Voff
を正にするようなVbの値を決定し、可変抵抗72をそ
の値に応じて調節する。
【0049】この後、先の実施例と同様にN1とN2と
を求めるのであるが、バイアス禁止フラグFbがセット
されている場合はスイッチ73の開閉は行わない。すな
わち、#308と#310、#408と#410におい
てスイッチ73は開閉せず、スイッチ7のみが開閉す
る。同様に#314においてN1、#414においてN
2を算出しているが、バイアス電流が加算されていない
ため、N1にはK1、N2にはK2がそれぞれ直接代入
される。
【0050】以上の動作により、先の実施例と同様にN
1とN2とが求められる。
【0051】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明では、増幅
手段のドリフト電圧にバイアス電流により発生するバイ
アス電圧を加算した合算電圧とその増幅手段で増幅され
た受光手段の出力とに応じて被写体までの距離を演算す
るので、測距時間を短縮するとともに、被写体を測距し
得る距離が短くなるのを防いでいる。
【0052】そして、バイアス電流を変更可能にすれ
ば、必要以上にバイアスされるのを防止できるので、所
望の上記合算電圧を得ることができ、精度の高い測距結
果を得られる。
【0053】さらに、ドリフト電圧が正電圧の場合にバ
イアス電流の加算を禁止するようにすれば、さらに精度
の高い測距結果が得られるとともに、不要なバイアス電
流を解消できるので省電力化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の実施例の構成を示す図。
【図2】図2は本発明の実施例の積分動作を説明する
図。
【図3】図3は本発明の実施例の増幅回路50と増幅回
路60のゲイン決定法を説明する図。
【図4】図4は本発明の実施例の測距時の一連の動作を
を説明する図。
【図5】図5は本発明の実施例のバイアス電圧Vbの測
定動作を説明する図。
【図6】図6は本発明の実施例の値N1、N2の算出方
法を説明する図。
【図7】図7は本発明の実施例の値Xから距離Dを求め
るROM10a上のテーブル。
【図8】図8は本発明の実施例の動作を示すフローチャ
ート。
【図9】図9は図8のフローチャートの増幅回路50お
よび増幅回路60のゲイン決定の部分のサブルーチンを
示すフローチャート。
【図10】図10は図8のフローチャートのバイアス電
圧Vbの決定の部分のサブルーチンを示すフローチャー
ト。
【図11】図11は図8のフローチャートの遠側電流電
圧変換回路30による測距の部分のサブルーチンを示す
フローチャート。
【図12】図12は図8のフローチャートの近側電流電
圧変換回路40による測距の部分のサブルーチンを示す
フローチャート。
【図13】図13は本発明の他の実施例のバイアス電圧
Vbの決定の部分のサブルーチンを示すフローチャー
ト。
【符号の説明】 20 投光回路 PSD3 投光回路 30 投光回路 40 投光回路 4 スイッチ K1、K2 カウント手段 50、60 増幅回路 70 バイアス回路 80 積分回路 10 CPU

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体へ光を照射する投光手段と、 前記投光手段の照射光が前記被写体で反射する光を受光
    することにより、前記被写体まで距離に応じた出力を発
    生する受光手段と、 前記受光手段の出力に所定量のバイアス電流を加算する
    バイアス手段と、 前記バイアス電流が加算された受光手段の出力を増幅す
    る増幅手段と、 前記増幅手段のドリフト電圧と前記バイアス電流により
    発生するバイアス電圧との合算電圧を検出するととも
    に、前記増幅手段の出力とこの検出した合算電圧とに応
    じて、前記被写体までの距離を演算する演算手段とを備
    えたことを特徴とする測距装置。
  2. 【請求項2】 被写体に光を照射し、その反射光に応じ
    て前記反射光を受光する受光手段より発生する出力を増
    幅手段で増幅し、その増幅出力に応じて前記被写体まで
    の距離を演算する測距方法において、 前記光が非照射の際に上記受光手段の出力に所定量のバ
    イアス電流を加算し、このとき前記増幅手段が発生する
    出力を記憶し、 前記被写体に光を照射した際に前記増幅手段が発生する
    出力と前記記憶している出力とに応じて、前記被写体ま
    での距離を演算する測距方法。
  3. 【請求項3】 被写体へ光を照射する投光手段と、 前記投光手段の照射光が前記被写体で反射する光を受光
    し2つの電流出力に変換する受光手段と、 前記受光手段の一方の出力電流を電圧に変換する第1の
    電流電圧変換回路と、 前記受光手段の他方の出力電流を電圧に変換する第2の
    電流電圧変換回路と、 前記2つの電流電圧変換回路のいずれかを選択的に出力
    する選択回路と、 前記選択回路が前記第1の電流電圧変換回路を選択して
    いるときに前記投光手段の投光回数をカウントする第1
    のカウント手段と、 前記選択回路が前記第2の電流電圧変換回路を選択して
    いるときに前記投光手段の投光回数をカウントする第2
    のカウント手段と、 前記第1および第2の電流電圧変換回路の出力信号を増
    幅する増幅回路と、 前記増幅回路に入力される出力信号に所定量のバイアス
    電流を加算するバイアス回路と、 前記増幅回路のドリフト電圧と上記バイアス電流に応じ
    たバイアス電圧との加算電圧を記憶する記憶手段と、 前記増幅回路の出力を積分する積分回路と、 前記積分回路の出力と前記記憶手段の出力とから前記被
    写体までの距離を演算する演算手段とを備えたことを特
    徴とする測距装置。
  4. 【請求項4】 被写体へ光を照射する投光手段と、 前記投光手段の照射光が前記被写体で反射する光を受光
    し2つの電流出力に変換する受光手段と、 前記受光手段の一方の出力電流を電圧に変換する第1の
    電流電圧変換回路と、 前記受光手段の他方の出力電流を電圧に変換する第2の
    電流電圧変換回路と、 前記2つの電流電圧変換回路のいずれかを選択的に出力
    する選択回路と、 前記選択回路が前記第1の電流電圧変換回路を選択して
    いるときに前記投光手段の投光回数をカウントする第1
    のカウント手段と、 前記選択回路が前記第2の電流電圧変換回路を選択して
    いるときに前記投光手段の投光回数をカウントする第2
    のカウント手段と、 前記第1および第2の電流電圧変換回路の出力信号を増
    幅する増幅回路と、 前記増幅回路に入力される出力信号に所定量のバイアス
    電流を加算するバイアス回路と、 前記増幅回路のドリフト電圧と上記バイアス電流に応じ
    たバイアス電圧との加算電圧を記憶する記憶手段と、 前記増幅回路の出力を積分する積分回路と、 前記積分回路の出力と前記記憶手段の出力とから前記被
    写体までの距離を演算する演算手段とを備え、 前記演算手段は、前記記憶手段の出力に基づき、前記第
    1および第2のカウント手段のそれぞれのカウント回数
    に相応する出力を補正して上記距離を算出するものであ
    ることを特徴とする測距装置。
  5. 【請求項5】前記バイアス回路が加算するバイアス電流
    を変更するバイアス電流変更手段を有することを特徴と
    する請求項4に記載の測距装置。
  6. 【請求項6】前記ドリフト電圧が正電圧の場合に前記バ
    イアス回路のバイアス電流の加算を禁止する禁止手段を
    有することを特徴とする請求項4に記載の測距装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19753682C2 (de) * 1997-05-16 2000-02-10 Mitsubishi Electric Corp Schnittstellenschaltung für einen kapazitiven Sensor
JP2003008375A (ja) * 2001-06-21 2003-01-10 Asahi Kasei Microsystems Kk 可変利得増幅器

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19753682C2 (de) * 1997-05-16 2000-02-10 Mitsubishi Electric Corp Schnittstellenschaltung für einen kapazitiven Sensor
JP2003008375A (ja) * 2001-06-21 2003-01-10 Asahi Kasei Microsystems Kk 可変利得増幅器
JP4708604B2 (ja) * 2001-06-21 2011-06-22 旭化成エレクトロニクス株式会社 可変利得増幅器

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