JPH095228A - 液中微粒子検出装置および処理装置 - Google Patents

液中微粒子検出装置および処理装置

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JPH095228A
JPH095228A JP7148835A JP14883595A JPH095228A JP H095228 A JPH095228 A JP H095228A JP 7148835 A JP7148835 A JP 7148835A JP 14883595 A JP14883595 A JP 14883595A JP H095228 A JPH095228 A JP H095228A
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直明 桜井
Naoya Hayamizu
直哉 速水
Kazuo Ichijo
和夫 一条
Kenji Sasaki
憲司 佐々木
Eisaku Tashiro
栄作 田代
Iku Kondo
郁 近藤
Yukihiro Omoto
幸弘 大本
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明は液体供給配管を流れる液体の単位
流量当たりに含まれる微粒子を精度よく確実に検出でき
るようにした検出装置を提供することにある。 【構成】 液体に含まれる微粒子を検出する液中微粒子
検出装置において、上記液体を流通させる液体供給配管
11と、この液体供給配管に設けられた光散乱方式の微
粒子検出器14と、この微粒子検出器からの検出信号と
上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単位流量
あたりの微粒子数を算出する演算装置16とを具備した
ことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は液体に含まれる微粒子
を検出するための検出装置およびその検出装置が設けら
れた被処理物の処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、半導体ウエハや液晶基板など
の被処理物に回路パタ−ンを形成する場合にはリソグラ
フィプロセスが採用される。リソグラフィプロセスは、
周知のように上記被処理物にレジストを塗布し、このレ
ジストに回路パタ−ンが形成されたマスクを介して光を
照射する。ついで、レジストの光が照射されない部分
(あるいは光が照射された部分)を除去し、除去された
部分をエッチングするという一連の工程を数十回繰り返
すことで回路パタ−ンが形成される。
【0003】各工程において、上記被処理物が汚染され
ていると回路パタ−ンを精密に形成することができなく
なり、不良品の発生原因となる。そこで、このようなリ
ソグラフィプロセスにおいては、たとえば露光やエッチ
ングなどの1つの工程が終了したならば、次の工程にお
ける作業を精密に行えるよう、上記被処理物を処理液
(薬液や純水)で洗浄するということが行われている。
【0004】被処理物を洗浄するに際し、洗浄液に被処
理物の汚染の原因となる微粒子が含まれていたのでは十
分な洗浄効果が得られない。とくに、被処理物を種類の
異なる複数の洗浄液で順次洗浄する場合、複数の供給源
をバルブ操作によって切換えてそれぞれの洗浄液を供給
することになるから、上記バルブの切換え時に微粒子が
発生して洗浄液に含まれるということがある。したがっ
て、洗浄液に含まれる微粒子を検出器によって検出する
ということが行われている。
【0005】図3に従来の装置を示す。図中1は液体供
給配管である。この液体供給配管1の上流には洗浄液を
供給するための第1乃至第3の供給源2a〜2cがそれ
ぞれ第1乃至第3の切換弁3a〜3cを介して接続され
ている。洗浄液として上記第1の供給源2aは純水を供
給するようになっており、第2の供給源2bは過酸化水
素水を供給するようになっており、さらに第3の供給源
2cはフッ酸を供給するようになっている。
【0006】上記液体供給配管1の中途部には分岐部4
が設けられ、この分岐部4からは分岐管5が分岐されて
いる。この分岐管5の中途部には微粒子検出器6が設け
られている。この微粒子検出器6は、液体供給配管1か
ら分岐管5に分岐した洗浄液に含まれる微粒子数を検出
し、その検出信号を表示装置7に表示するようになって
いる。
【0007】上記微粒子検出器6を通過した洗浄液は廃
棄される。また、上記液体供給配管1の下流側には洗浄
装置8が接続されている。この洗浄装置8には半導体ウ
エハなどの被処理物が収容され、上記洗浄液によって所
定の洗浄が行われるようになっている。
【0008】このような構成の従来の装置によると、洗
浄液の一部を分岐管5に分岐させ、その分岐された洗浄
液に含まれる微粒子を検出器6によって検出するように
なっている。
【0009】そのため、上記切換弁3a〜3cを切換操
作したときやその他の突発的に発塵を招く事態が生じた
とき、分岐管5を流れる洗浄液が液体供給配管1を流れ
る洗浄液の状態変化と同等になるまでに時間的な遅れが
生じることが避けられない。その結果、液体供給配管1
を流れる洗浄液の微粒子数の変化を上記分岐管5に設け
られた微粒子検出器6によってリアルタイムで精密に測
定できないということがあった。
【0010】また、従来は、分岐管5に流れる洗浄液中
の微粒子数を単に測定するだけで、単位流量当たりに含
まれる微粒子数を計測できるようになっていなかったの
で、たとえば被洗浄物の数や大きさなどに応じて流量を
変化させた場合、測定されたデ−タを有効に利用できな
くなるということがあった。
【0011】さらに、洗浄液の一部を分岐管5に分岐さ
せて微粒子数を測定する方式によると、上記分岐管5に
流れた洗浄液を廃棄するようになるため、高価な洗浄液
の場合にはコスト上昇を招くということがある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】このように、液体に含
まれる微粒子を検出するのに、従来は液体供給管から分
岐管を分岐し、その分岐管に微粒子の検出器を設けるよ
うにしていた。そのため、分岐管には液体の一部だけが
流れるため、液体中に含まれる微粒子数が急激に変化し
た場合などにはその変化をリアルタイムで測定できない
ということがあり、また流量を変化させた場合には単位
流量当たりに含まれる粒子数を測定することができない
ということがあった。
【0013】さらに、分岐管に流した液体は廃棄される
ため、その液体が高価な洗浄液などの場合にはコスト高
を招くということがある。この発明は上記事情に基づき
なされたもので、その目的とするところは、液体中に含
まれる微粒子数が変化したならば、その変化をリアルタ
イムで検出できるようにした液中微粒子検出装置および
処理装置を提供することにある。
【0014】また、この発明の目的とするところは、単
位流量当たりに含まれる微粒子数を測定できるようにす
ることで、流量を変化させた場合に有効な測定デ−タを
得ることができるようにした液中微粒子検出装置および
処理装置を提供することにある。
【0015】また、この発明の目的とするところは、液
体を廃棄することなくそれに含まれる微粒子数を測定で
きるようにした液中微粒子検出装置および処理装置を提
供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1の発明の液中微粒子検出装置は、液体に含ま
れる微粒子を検出する液中微粒子検出装置において、上
記液体を流通させる液体供給配管と、この液体供給配管
に設けられた光散乱方式の微粒子検出手段と、この微粒
子検出手段からの検出信号と上記液体の流量とによって
上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数を算出す
る演算手段とを具備したことを特徴とする。
【0017】請求項2の液中微粒子検出装置は、請求項
1の発明において、上記液体供給配管には、上記微粒子
検出手段の上流側に液体の流量を検出する流量検出手段
が設けられていることを特徴とする。
【0018】請求項3の液中微粒子検出装置は、請求項
1の発明において、上記演算手段には、上記液体供給配
管を流れる液体の流量に応じてその流量を設定する設定
手段が設けられていることを特徴とする。
【0019】請求項4の液中微粒子検出装置は、請求項
1の発明において、上記演算手段には、この演算手段で
検出された単位流量あたりの微粒子数を表示する表示手
段が接続されていることを特徴とする。
【0020】請求項5の発明は、被処理物を液体によっ
て処理する処理装置において、上記液体が供給される液
体供給配管と、この液体供給配管に設けられた光散乱方
式の微粒子検出手段と、この微粒子検出手段からの検出
信号と上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単
位流量あたりの微粒子数を算出する演算手段と、この演
算手段が算出する単位流量当たりの微粒子数を表示する
表示手段と、上記微粒子検出手段を通過した液体が供給
される上記被処理物の処理手段とを具備したことを特徴
とする。
【0021】請求項6の発明は、請求項5に記載された
処理装置において、上記液体は上記被処理物を洗浄する
ための洗浄液であることを特徴とする。請求項7の発明
は、請求項5に記載された処理装置において、上記液体
は被処理物をエッチングするためのエッチング液である
ことを特徴とする。
【0022】
【作用】請求項1の発明によれば、液体供給配管に微粒
子検出手段を設けたので、液体中の微粒子の変化を上記
検出手段によってリアルタイムで検出できるとともに、
液体を廃棄することなくその測定を行える。また、演算
手段により単流量当たりの微粒子数を算出するため、液
体供給配管を流れる液体の流量が変化しても、有効なデ
−タを得ることができる。
【0023】請求項2の発明によれば、供給配管を流れ
る液体の流量が常時変化する場合に対応することができ
る。請求項3の発明によれば、供給配管を流れる液体の
流量を定められた値に変化させる場合に対応することが
できる。
【0024】請求項4の発明によれば、単位流量当たり
の微粒子数を表示手段によって確実に認識することがで
きる。請求項5の発明によれば、被処理物を液体によっ
て処理する場合に、その液体に含まれる単位流量当たり
の微粒子数を正確に検出し、かつ認識することができ
る。請求項6の発明によれば、被処理物の洗浄処理に適
用することができ、請求項7の発明によれば、被処理物
のエッチング処理に適用することができる。
【0025】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1と図2を参
照して説明する。図1はこの発明の微粒子検出装置が組
み込まれた処理装置としての洗浄処理装置を示してい
る。同図中11は洗浄液の供給管路である。この液体供
給配管11の上流には第1乃至第3の供給源12a〜1
2cがそれぞれ切換弁13a〜13cを介して接続され
ている。各供給源12a〜12cはそれぞれ異なる洗浄
液を上記液体供給配管11に供給するためのもので、第
1の供給源12aは純水を供給するようになっており、
第2の供給源12bは過酸化水素水を供給するようにな
っており、さらに第3の供給源12cはフッ酸を供給す
るようになっている。
【0026】上記供給配管11の中途部には流量検出器
13とその下流側に微粒子検出器14とが順次設けられ
ている。この微粒子検出器14は、レ−ザ光を微粒子に
当てて散乱光を検出し、その散乱強度から微粒子の個数
と粒径とを測定する、散乱方式が用いられている。な
お、この微粒子検出器14は流量検出器13の上流側に
設置してもよい。
【0027】上記微粒子検出器14の下流側には処理装
置としての洗浄装置15が設けられている。この洗浄装
置15には図示しない半導体ウエハなどの被処理物が収
容されるようになっていて、ここに供給された洗浄液に
よって洗浄処理されるようになっている。
【0028】上記流量検出器13は単位時間当たりの流
量を検出し、その検出信号Aは演算装置16に入力され
る。また、この演算装置16には上記微粒子検出器14
で検出された検出信号Bが入力される。
【0029】図2に上記演算装置16の構成を示す。す
なわち、この演算装置16は上記流量検出器13からの
検出信号Aが入力する第1の増幅器17と、上記微粒子
検出器14からの検出信号Bが入力される第2の増幅器
18とを有する。上記各増幅器17、18で増幅された
検出信号A、Bはそれぞれ第1、第2の信号処理部2
1、22で波形処理されて算出部23に入力される。
【0030】上記算出部23では、上記微粒子検出器1
4からの検出信号Bである、散乱光の強度から微粒子の
数と粒径とを算出するとともに、その算出値と上記流量
検出器14からの検出信号Aとを合成することで単位流
量に含まれる微粒子数を算出する。
【0031】上記算出部23で算出された算出信号Cは
比較部24に入力される。この比較部24には設定値S
が設定されている。この設定値Sは、上記洗浄装置15
において被洗浄物を洗浄処理する際、洗浄液に含まれる
微粒子の限界個数、つまり被洗浄物に対して所定以上の
洗浄効果が得られる単位流量当たりに含まれる微粒子数
の上限値であって、上記算出信号Cが上記設定値Sを上
回ると、上記比較部24からは出力部25に警報信号K
が出力されるようになっている。
【0032】上記出力部25に警報信号Kが入力される
と、この出力部25からは、演算装置16に接続された
表示装置26に駆動信号Dが出力される。表示装置26
に駆動信号Dが入力されると、この表示装置26は、処
理液に設定値S以上の微粒子が含まれていることを表示
する。表示手段としては、デイスプレイによる画面表示
あるいはブザ−や音声による警報表示のいずれか一方あ
るいは両方を同時に行うことができる。
【0033】一方、上記算出部23には流量設定部27
が設定されている。この流量設定部27は各供給源12
a〜12cから供給配管11へ流す洗浄液の流量をそれ
ぞれ定められた値で変える場合に、そのときの流量を上
記算出部23へ入力できるようになっている。
【0034】たとえば、被洗浄物として半導体ウエハの
洗浄処理において、過酸化水素水は30l/min 流して
洗浄し、ついで純水を40l/min 流して洗浄する場
合、過酸化水素水と純水との流量はそれぞれ一定である
から、それらの流量を上記流量設定部27で設定すれ
ば、流量検出器13で検出する代わりに、算出部23に
設定信号Pが入力されることになる。
【0035】上記流量設定部27で流量を設定すると、
その設定信号Pが上記流量検出器13からの検出信号に
優先される。したがって、上記算出部23では、上記流
量設定部27からの設定信号Pによって単位流量当たり
の微粒子数を検出するようになっている。
【0036】つぎに、上記構成の作用について説明す
る。洗浄装置15に設けられた被処理物を、たとえば3
つの処理液のうち、最初に過酸化水素水で洗浄処理する
場合には、まず、第2の切換弁13bを開放操作し、第
2の供給源12bから過酸化水素水を液体供給配管11
へ供給する。
【0037】液体供給配管11に供給された過酸化水素
水は流量検出器13および微粒子検出器14を通過して
上記洗浄装置15へ流入する。それによって、上記洗浄
装置15に設けられた被洗浄物が過酸化水素水によって
洗浄処理される。
【0038】過酸化水素水によって洗浄された被洗浄物
は、つぎに純水によって洗浄処理される。その場合、第
2の切換弁13bを閉じて第1の切換弁13aを開き、
第1の供給源12aから純水を液体供給配管11、流量
検出器13および微粒子検出器14を通して上記洗浄装
置15へ流入させる。それによって、上記洗浄装置15
に設けられた被洗浄物が過酸化水素水についで純水で洗
浄処理される。
【0039】このようにして過酸化水素水や純水などの
洗浄液を液体供給配管11に流通させることで、その流
量が流量検出器13によって検出されるとともに、微粒
子の数と粒径が微粒子検出器14よって検出される。
【0040】各検出器13、14からの検出信号A、B
は演算装置16へ入力される。この演算装置16では、
上記各検出信号A、Bがそれぞれ増幅器17、18で増
幅されたのち、信号処理部21、22で波形処理され、
ついで算出部23に入力されて単位流量当たりの微粒子
数が算出される。
【0041】上記算出部23で算出された単位流量当た
りの微粒子数は比較部24で設定値Sと比較され、その
値が設定値S以上、つまり洗浄液に含まれる微粒子数が
所定以上になると、出力部25に警報信号Kが出力され
る。その結果、上記出力部25から表示装置26に駆動
信号Dが出力され、微粒子数が設定値以上になったこと
が表示される。
【0042】上記微粒子検出器14は処理液を全量流す
液体供給配管11に設けられている。そのため、切換弁
12a〜12cを切換え操作して液体供給配管11に流
す処理液の種類を変えたり、その他の予期せぬ事態など
で処理液中に含まれる微粒子数が急激に変動しても、微
粒子数が変動した処理液がほぼリアルタイムで上記微粒
子検出器14の部分を通過するから、この微粒子検出器
14によって微粒子数の変動をリアルタイムで測定する
ことができる。
【0043】微粒子数の測定と同時に処理液の流量が流
量検出器13によって測定されている。そして、演算装
置16において、上記流量検出器13の検出信号Aと微
粒子検出器14の検出信号Bとを合成することで、単位
流量当たりの微粒子数が算出される。
【0044】そのため、洗浄装置15に設けられる被洗
浄物の数量の変化に応じて洗浄液の供給量を変えた場合
など、その洗浄液の流量の変化に係わらず、単位流量当
たりに含まれる微粒子数が計測されるから、洗浄液の流
量を変化させた場合でも、洗浄処理に有効な微粒子数の
デ−タを得ることができる。
【0045】洗浄液の流量を、定められた流量で変化さ
せる場合には、演算装置16に設けられた流量設定部2
7でそのときの流量を設定すればよい。流量設定部27
で単位時間当たりの流量を設定すれば、算出部23では
その設定値Pが流量検出器13からの検出信号Aに優先
される。したがって、その場合にも単位流量当たりの微
粒子数を算出することができる。
【0046】なお、上記一実施例では液体供給配管11
に洗浄液を流し、洗浄装置15に設けられた被処理物を
洗浄処理する場合について説明したが、他の用途にも使
用することができる。
【0047】たとえば、上記洗浄装置15に代わりエッ
チング装置を液体供給配管11に接続し、液体供給配管
11には洗浄液に代わりエッチング液を流すことで、上
記エッチング装置に設けられた被処理物にエッチング処
理を施すようにしてもよい。その場合にも、上記一実施
例と同様、液体供給配管11に微粒子検出器14を設け
てエッチング液に含まれる単位流量当たりの微粒子数を
測定することで、微粒子数が所定以上に増加すること
で、エッチング精度に悪影響を及ぼすのを管理すること
ができる。さらには、レジスト溶液を被検液体とするこ
ともできる。こうした場合において、その液体が着色さ
れている際には、レ−ザ光の強度を適宜増強することで
対応できる。さらに、この発明は、液体中に含まれる微
粒子数が被処理物の処理精度に影響を及ぼす、他の処理
装置にも適用できること、勿論である。
【0048】
【発明の効果】以上述べたように請求項1の発明によれ
ば、液体を流通させる液体供給配管に微粒子検出手段を
設けたので、液体中の微粒子の変化を上記検出手段によ
ってリアルタイムで検出できるばかりか、従来のように
液体の一部を分岐させて廃棄することなくその測定を行
えるから、経済的である。
【0049】請求項1乃至請求項3の発明によれば、単
流量当たりの微粒子数を算出できるため、液体供給配管
を流れる液体の流量が変化しても、実用上、有効なデ−
タを得ることができる。
【0050】請求項4の発明によれば、単位流量当たり
の微粒子数を表示するようにしたから、液体に含まれる
微粒子数を確実に認識することができる。請求項5の発
明によれば、被処理物を液体によって処理する処理装置
において、上記液体を流通させる液体供給配管に微粒子
検出手段を設けたので、液体中の微粒子の変化を上記検
出手段によってリアルタイムで検出できることで、上記
被処理物の処理精度の向上が計れるばかりか、従来のよ
うに液体の一部を分岐させて廃棄することなくその測定
を行えるから、経済的である。
【0051】請求項6の発明によれば、被処理物を洗浄
処理する処理装置を提供することができ、請求項7の発
明によれば、被処理物をエッチング処理する処理装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す装置全体の構成図。
【図2】同じく演算装置の構成図。
【図3】従来の装置の概略的構成図。
【符号の説明】
11…液体供給配管、13…流量検出器(流量検出手
段)、14…微粒子検出器(微粒子手段)、15…処理
装置(処理手段)、16…演算装置(演算手段)、26
…表示装置(表示手段)、27…流量設定部(設定手
段)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 一条 和夫 東京都国分寺市東元町3丁目20番41号 リ オン株式会社内 (72)発明者 佐々木 憲司 東京都国分寺市東元町3丁目20番41号 リ オン株式会社内 (72)発明者 田代 栄作 東京都国分寺市東元町3丁目20番41号 リ オン株式会社内 (72)発明者 近藤 郁 東京都国分寺市東元町3丁目20番41号 リ オン株式会社内 (72)発明者 大本 幸弘 東京都国分寺市東元町3丁目20番41号 リ オン株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液体に含まれる微粒子を検出する液中微
    粒子検出装置において、 上記液体を流通させる液体供給配管と、 この液体供給配管に設けられた光散乱方式の微粒子検出
    手段と、 この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量と
    によって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数
    を算出する演算手段とを具備したことを特徴とする液中
    微粒子検出装置。
  2. 【請求項2】 上記液体供給配管には、上記微粒子検出
    手段の上流側に液体の流量を検出する流量検出手段が設
    けられていることを特徴とする請求項1記載の液中微粒
    子検出装置。
  3. 【請求項3】 上記演算手段には、上記液体供給配管を
    流れる液体の流量に応じてその流量を設定する設定手段
    が設けられていることを特徴とする請求項1記載の液中
    微粒子検出装置。
  4. 【請求項4】 上記演算手段には、この演算手段で検出
    された単位流量あたりの微粒子数を表示する表示手段が
    接続されていることを特徴とする請求項1記載の液中微
    粒子検出装置。
  5. 【請求項5】 被処理物を液体によって処理する処理装
    置において、 上記液体が供給される液体供給配管と、 この液体供給配管に設けられた光散乱方式の微粒子検出
    手段と、 この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量と
    によって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数
    を算出する演算手段と、 この演算手段が算出する単位流量当たりの微粒子数を表
    示する表示手段と、 上記微粒子検出手段を通過した液体が供給される上記被
    処理物の処理手段とを具備したことを特徴とする処理装
    置。
  6. 【請求項6】 上記液体は上記被処理物を洗浄するため
    の洗浄液であることを特徴とする請求項5記載の処理装
    置。
  7. 【請求項7】 上記液体は被処理物をエッチングするた
    めのエッチング液であることを特徴とする請求項5記載
    の処理装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7176143B2 (en) 2003-09-26 2007-02-13 Sumitomo Chemical Company, Limited Method for evaluating solution for a coating film for semiconductors

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7176143B2 (en) 2003-09-26 2007-02-13 Sumitomo Chemical Company, Limited Method for evaluating solution for a coating film for semiconductors
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