JP3559355B2 - 液中微粒子検出装置および処理装置 - Google Patents

液中微粒子検出装置および処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3559355B2
JP3559355B2 JP14883595A JP14883595A JP3559355B2 JP 3559355 B2 JP3559355 B2 JP 3559355B2 JP 14883595 A JP14883595 A JP 14883595A JP 14883595 A JP14883595 A JP 14883595A JP 3559355 B2 JP3559355 B2 JP 3559355B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
flow rate
liquid supply
supply pipe
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP14883595A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH095228A (ja
Inventor
直明 桜井
直哉 速水
和夫 一条
憲司 佐々木
栄作 田代
郁 近藤
幸弘 木本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Rion Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Rion Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Rion Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP14883595A priority Critical patent/JP3559355B2/ja
Publication of JPH095228A publication Critical patent/JPH095228A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3559355B2 publication Critical patent/JP3559355B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は液体に含まれる微粒子を検出するための検出装置およびその検出装置が設けられた被処理物の処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、半導体ウエハや液晶基板などの被処理物に回路パタ−ンを形成する場合にはリソグラフィプロセスが採用される。リソグラフィプロセスは、周知のように上記被処理物にレジストを塗布し、このレジストに回路パタ−ンが形成されたマスクを介して光を照射する。ついで、レジストの光が照射されない部分(あるいは光が照射された部分)を除去し、除去された部分をエッチングするという一連の工程を数十回繰り返すことで回路パタ−ンが形成される。
【0003】
各工程において、上記被処理物が汚染されていると回路パタ−ンを精密に形成することができなくなり、不良品の発生原因となる。そこで、このようなリソグラフィプロセスにおいては、たとえば露光やエッチングなどの1つの工程が終了したならば、次の工程における作業を精密に行えるよう、上記被処理物を処理液(薬液や純水)で洗浄するということが行われている。
【0004】
被処理物を洗浄するに際し、洗浄液に被処理物の汚染の原因となる微粒子が含まれていたのでは十分な洗浄効果が得られない。とくに、被処理物を種類の異なる複数の洗浄液で順次洗浄する場合、複数の供給源をバルブ操作によって切換えてそれぞれの洗浄液を供給することになるから、上記バルブの切換え時に微粒子が発生して洗浄液に含まれるということがある。したがって、洗浄液に含まれる微粒子を検出器によって検出するということが行われている。
【0005】
図3に従来の装置を示す。図中1は液体供給配管である。この液体供給配管1の上流には洗浄液を供給するための第1乃至第3の供給源2a〜2cがそれぞれ第1乃至第3の切換弁3a〜3cを介して接続されている。洗浄液として上記第1の供給源2aは純水を供給するようになっており、第2の供給源2bは過酸化水素水を供給するようになっており、さらに第3の供給源2cはフッ酸を供給するようになっている。
【0006】
上記液体供給配管1の中途部には分岐部4が設けられ、この分岐部4からは分岐管5が分岐されている。この分岐管5の中途部には微粒子検出器6が設けられている。この微粒子検出器6は、液体供給配管1から分岐管5に分岐した洗浄液に含まれる微粒子数を検出し、その検出信号を表示装置7に表示するようになっている。
【0007】
上記微粒子検出器6を通過した洗浄液は廃棄される。また、上記液体供給配管1の下流側には洗浄装置8が接続されている。この洗浄装置8には半導体ウエハなどの被処理物が収容され、上記洗浄液によって所定の洗浄が行われるようになっている。
【0008】
このような構成の従来の装置によると、洗浄液の一部を分岐管5に分岐させ、その分岐された洗浄液に含まれる微粒子を検出器6によって検出するようになっている。
【0009】
そのため、上記切換弁3a〜3cを切換操作したときやその他の突発的に発塵を招く事態が生じたとき、分岐管5を流れる洗浄液が液体供給配管1を流れる洗浄液の状態変化と同等になるまでに時間的な遅れが生じることが避けられない。その結果、液体供給配管1を流れる洗浄液の微粒子数の変化を上記分岐管5に設けられた微粒子検出器6によってリアルタイムで精密に測定できないということがあった。
【0010】
また、従来は、分岐管5に流れる洗浄液中の微粒子数を単に測定するだけで、単位流量当たりに含まれる微粒子数を計測できるようになっていなかったので、たとえば被洗浄物の数や大きさなどに応じて流量を変化させた場合、測定されたデ−タを有効に利用できなくなるということがあった。
【0011】
さらに、洗浄液の一部を分岐管5に分岐させて微粒子数を測定する方式によると、上記分岐管5に流れた洗浄液を廃棄するようになるため、高価な洗浄液の場合にはコスト上昇を招くということがある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
このように、液体に含まれる微粒子を検出するのに、従来は液体供給管から分岐管を分岐し、その分岐管に微粒子の検出器を設けるようにしていた。そのため、分岐管には液体の一部だけが流れるため、液体中に含まれる微粒子数が急激に変化した場合などにはその変化をリアルタイムで測定できないということがあり、また流量を変化させた場合には単位流量当たりに含まれる粒子数を測定することができないということがあった。
【0013】
さらに、分岐管に流した液体は廃棄されるため、その液体が高価な洗浄液などの場合にはコスト高を招くということがある。
この発明は上記事情に基づきなされたもので、その目的とするところは、液体中に含まれる微粒子数が変化したならば、その変化をリアルタイムで検出できるようにした液中微粒子検出装置および処理装置を提供することにある。
【0014】
また、この発明の目的とするところは、単位流量当たりに含まれる微粒子数を測定できるようにすることで、流量を変化させた場合に有効な測定デ−タを得ることができるようにした液中微粒子検出装置および処理装置を提供することにある。
【0015】
また、この発明の目的とするところは、液体を廃棄することなくそれに含まれる微粒子数を測定できるようにした液中微粒子検出装置および処理装置を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために請求項1の発明は、液体に含まれる微粒子を検出する液中微粒子検出装置において、
上記液体を供給する液体供給手段と、
上記液体を流通させる液体供給配管と、
この液体供給配管に設けられ上記液体に含まれる微粒子を測定する光散乱方式の微粒子検出手段と、
この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数を算出する算出手段と、
上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量を上記算出手段に設定する流量設定部とを具備し、
上記算出手段は、上記設定された流量と、上記検出手段の検出信号とから単位流量当たりの微粒子数を検出し、
上記液体供給配管には、上記液体の流量を検出し、この検出結果を上記算出手段に入力する流量検出手段が設けられており、上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量は、上記流量検出手段によって検出される流量よりも優先して上記算出手段に入力されることを特徴とする。
【0017】
請求項2の液中微粒子検出装置は、請求項1の発明において、上記液体供給配管には、上記微粒子検出手段の上流側に液体の流量を検出する上記流量検出手段が設けられていることを特徴とする。
【0019】
請求項3の液中微粒子検出装置は、請求項1の発明において、上記算出手段には、この算出手段で検出された単位流量あたりの微粒子数を表示する表示手段が電気的に接続されていることを特徴とする。
【0020】
請求項4の発明は、被処理物を液体によって処理する処理装置において、
上記液体を供給する液体供給手段と、
上記液体を流通させる液体供給配管と、
この液体供給配管に設けられ上記液体に含まれる微粒子を測定する光散乱方式の微粒子検出手段と、
この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数を算出する算出手段と、
上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量を上記算出手段に設定する流量設定部と、
上記算出手段が算出する単位流量当たりの微粒子数を表示する表示手段と、
上記微粒子検出手段を通過した液体が供給される上記被処理物の処理手段とを具備し、
上記算出手段は、上記設定された流量と、上記検出手段の検出信号とから単位流量当たりの微粒子数を検出し、
上記液体供給配管には、上記液体の流量を検出し、この検出結果を上記算出手段に入力する流量検出手段が設けられており、上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量は、上記流量検出手段によって検出される流量よりも優先して上記算出手段に入力されることを特徴とする。
【0021】
請求項5の発明は、請求項4に記載された処理装置において、上記液体は上記被処理物を洗浄するための洗浄液であることを特徴とする。
請求項6の発明は、請求項4に記載された処理装置において、上記液体は被処理物をエッチングするためのエッチング液であることを特徴とする。
【0022】
【作用】
請求項1の発明によれば、液体供給配管に微粒子検出手段を設けたので、液体中の微粒子の変化を上記検出手段によってリアルタイムで検出できるとともに、液体を廃棄することなくその測定を行える。また、算出手段により単流量当たりの微粒子数を算出するため、液体供給配管を流れる液体の流量が変化しても、有効なデ−タを得ることができる。
【0023】
請求項2の発明によれば、液体供給配管を流れる液体の流量が常時変化する場合に対応することができる。
【0024】
請求項3の発明によれば、単位流量当たりの微粒子数を表示手段によって確実に認識することができる。
請求項4の発明によれば、被処理物を液体によって処理する場合に、その液体に含まれる単位流量当たりの微粒子数を正確に検出し、かつ認識することができる。
請求項5の発明によれば、被処理物の洗浄処理に適用することができ、請求項6の発明によれば、被処理物のエッチング処理に適用することができる。
【0025】
【実施例】
以下、この発明の一実施例を図1と図2を参照して説明する。
図1はこの発明の微粒子検出装置が組み込まれた処理装置としての洗浄処理装置を示している。同図中11は洗浄液の供給管路である。この液体供給配管11の上流には第1乃至第3の供給源12a〜12cがそれぞれ切換弁13a〜13cを介して接続されている。各供給源12a〜12cはそれぞれ異なる洗浄液を上記液体供給配管11に供給するためのもので、第1の供給源12aは純水を供給するようになっており、第2の供給源12bは過酸化水素水を供給するようになっており、さらに第3の供給源12cはフッ酸を供給するようになっている。
【0026】
上記供給配管11の中途部には流量検出器13とその下流側に微粒子検出器14とが順次設けられている。この微粒子検出器14は、レ−ザ光を微粒子に当てて散乱光を検出し、その散乱強度から微粒子の個数と粒径とを測定する、散乱方式が用いられている。なお、この微粒子検出器14は流量検出器13の上流側に設置してもよい。
【0027】
上記微粒子検出器14の下流側には処理装置としての洗浄装置15が設けられている。この洗浄装置15には図示しない半導体ウエハなどの被処理物が収容されるようになっていて、ここに供給された洗浄液によって洗浄処理されるようになっている。
【0028】
上記流量検出器13は単位時間当たりの流量を検出し、その検出信号Aは演算装置16に入力される。また、この演算装置16には上記微粒子検出器14で検出された検出信号Bが入力される。
【0029】
図2に上記演算装置16の構成を示す。すなわち、この演算装置16は上記流量検出器13からの検出信号Aが入力する第1の増幅器17と、上記微粒子検出器14からの検出信号Bが入力される第2の増幅器18とを有する。上記各増幅器17、18で増幅された検出信号A、Bはそれぞれ第1、第2の信号処理部21、22で波形処理されて算出部23に入力される。
【0030】
上記算出部23では、上記微粒子検出器14からの検出信号Bである、散乱光の強度から微粒子の数と粒径とを算出するとともに、その算出値と上記流量検出器14からの検出信号Aとを合成することで単位流量に含まれる微粒子数を算出する。
【0031】
上記算出部23で算出された算出信号Cは比較部24に入力される。この比較部24には設定値Sが設定されている。この設定値Sは、上記洗浄装置15において被洗浄物を洗浄処理する際、洗浄液に含まれる微粒子の限界個数、つまり被洗浄物に対して所定以上の洗浄効果が得られる単位流量当たりに含まれる微粒子数の上限値であって、上記算出信号Cが上記設定値Sを上回ると、上記比較部24からは出力部25に警報信号Kが出力されるようになっている。
【0032】
上記出力部25に警報信号Kが入力されると、この出力部25からは、演算装置16に接続された表示装置26に駆動信号Dが出力される。表示装置26に駆動信号Dが入力されると、この表示装置26は、処理液に設定値S以上の微粒子が含まれていることを表示する。表示手段としては、デイスプレイによる画面表示あるいはブザ−や音声による警報表示のいずれか一方あるいは両方を同時に行うことができる。
【0033】
一方、上記算出部23には流量設定部27が設定されている。この流量設定部27は各供給源12a〜12cから供給配管11へ流す洗浄液の流量をそれぞれ定められた値で変える場合に、そのときの流量を上記算出部23へ入力できるようになっている。
【0034】
たとえば、被洗浄物として半導体ウエハの洗浄処理において、過酸化水素水は30l/min 流して洗浄し、ついで純水を40l/min 流して洗浄する場合、過酸化水素水と純水との流量はそれぞれ一定であるから、それらの流量を上記流量設定部27で設定すれば、流量検出器13で検出する代わりに、算出部23に設定信号Pが入力されることになる。
【0035】
上記流量設定部27で流量を設定すると、その設定信号Pが上記流量検出器13からの検出信号に優先される。したがって、上記算出部23では、上記流量設定部27からの設定信号Pによって単位流量当たりの微粒子数を検出するようになっている。
【0036】
つぎに、上記構成の作用について説明する。洗浄装置15に設けられた被処理物を、たとえば3つの処理液のうち、最初に過酸化水素水で洗浄処理する場合には、まず、第2の切換弁13bを開放操作し、第2の供給源12bから過酸化水素水を液体供給配管11へ供給する。
【0037】
液体供給配管11に供給された過酸化水素水は流量検出器13および微粒子検出器14を通過して上記洗浄装置15へ流入する。それによって、上記洗浄装置15に設けられた被洗浄物が過酸化水素水によって洗浄処理される。
【0038】
過酸化水素水によって洗浄された被洗浄物は、つぎに純水によって洗浄処理される。その場合、第2の切換弁13bを閉じて第1の切換弁13aを開き、第1の供給源12aから純水を液体供給配管11、流量検出器13および微粒子検出器14を通して上記洗浄装置15へ流入させる。それによって、上記洗浄装置15に設けられた被洗浄物が過酸化水素水についで純水で洗浄処理される。
【0039】
このようにして過酸化水素水や純水などの洗浄液を液体供給配管11に流通させることで、その流量が流量検出器13によって検出されるとともに、微粒子の数と粒径が微粒子検出器14よって検出される。
【0040】
各検出器13、14からの検出信号A、Bは演算装置16へ入力される。この演算装置16では、上記各検出信号A、Bがそれぞれ増幅器17、18で増幅されたのち、信号処理部21、22で波形処理され、ついで算出部23に入力されて単位流量当たりの微粒子数が算出される。
【0041】
上記算出部23で算出された単位流量当たりの微粒子数は比較部24で設定値Sと比較され、その値が設定値S以上、つまり洗浄液に含まれる微粒子数が所定以上になると、出力部25に警報信号Kが出力される。その結果、上記出力部25から表示装置26に駆動信号Dが出力され、微粒子数が設定値以上になったことが表示される。
【0042】
上記微粒子検出器14は処理液を全量流す液体供給配管11に設けられている。そのため、切換弁12a〜12cを切換え操作して液体供給配管11に流す処理液の種類を変えたり、その他の予期せぬ事態などで処理液中に含まれる微粒子数が急激に変動しても、微粒子数が変動した処理液がほぼリアルタイムで上記微粒子検出器14の部分を通過するから、この微粒子検出器14によって微粒子数の変動をリアルタイムで測定することができる。
【0043】
微粒子数の測定と同時に処理液の流量が流量検出器13によって測定されている。そして、演算装置16において、上記流量検出器13の検出信号Aと微粒子検出器14の検出信号Bとを合成することで、単位流量当たりの微粒子数が算出される。
【0044】
そのため、洗浄装置15に設けられる被洗浄物の数量の変化に応じて洗浄液の供給量を変えた場合など、その洗浄液の流量の変化に係わらず、単位流量当たりに含まれる微粒子数が計測されるから、洗浄液の流量を変化させた場合でも、洗浄処理に有効な微粒子数のデ−タを得ることができる。
【0045】
洗浄液の流量を、定められた流量で変化させる場合には、演算装置16に設けられた流量設定部27でそのときの流量を設定すればよい。流量設定部27で単位時間当たりの流量を設定すれば、算出部23ではその設定値Pが流量検出器13からの検出信号Aに優先される。したがって、その場合にも単位流量当たりの微粒子数を算出することができる。
【0046】
なお、上記一実施例では液体供給配管11に洗浄液を流し、洗浄装置15に設けられた被処理物を洗浄処理する場合について説明したが、他の用途にも使用することができる。
【0047】
たとえば、上記洗浄装置15に代わりエッチング装置を液体供給配管11に接続し、液体供給配管11には洗浄液に代わりエッチング液を流すことで、上記エッチング装置に設けられた被処理物にエッチング処理を施すようにしてもよい。その場合にも、上記一実施例と同様、液体供給配管11に微粒子検出器14を設けてエッチング液に含まれる単位流量当たりの微粒子数を測定することで、微粒子数が所定以上に増加することで、エッチング精度に悪影響を及ぼすのを管理することができる。さらには、レジスト溶液を被検液体とすることもできる。こうした場合において、その液体が着色されている際には、レ−ザ光の強度を適宜増強することで対応できる。
さらに、この発明は、液体中に含まれる微粒子数が被処理物の処理精度に影響を及ぼす、他の処理装置にも適用できること、勿論である。
【0048】
【発明の効果】
以上述べたように請求項1の発明によれば、液体を流通させる液体供給配管に微粒子検出手段を設けたので、液体中の微粒子の変化を上記検出手段によってリアルタイムで検出できるばかりか、従来のように液体の一部を分岐させて廃棄することなくその測定を行えるから、経済的である。
【0049】
請求項1乃至請求項2の発明によれば、単位流量当たりの微粒子数を算出できるため、液体供給配管を流れる液体の流量が変化しても、実用上、有効なデータを得ることができる。
【0050】
請求項3の発明によれば、単位流量当たりの微粒子数を表示するようにしたから、液体に含まれる微粒子数を確実に認識することができる。
請求項4の発明によれば、被処理物を液体によって処理する処理装置において、上記液体を流通させる液体供給配管に微粒子検出手段を設けたので、液体中の微粒子の変化を上記検出手段によってリアルタイムで検出できることで、上記被処理物の処理精度の向上が計れるばかりか、従来のように液体の一部を分岐させて廃棄することなくその測定が行なえるから、経済的である。
【0051】
請求項5の発明によれば、被処理物を洗浄処理する処理装置を提供することができ、請求項6の発明によれば、被処理物をエッチング処理する処理装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す装置全体の構成図。
【図2】同じく演算装置の構成図。
【図3】従来の装置の概略的構成図。
【符号の説明】
11…液体供給配管、13…流量検出器(流量検出手段)、14…微粒子検出器(微粒子手段)、15…処理装置(処理手段)、16…演算装置(演算手段)、26…表示装置(表示手段)、27…流量設定部(設定手段)。

Claims (6)

  1. 液体に含まれる微粒子を検出する液中微粒子検出装置において、
    上記液体を供給する液体供給手段と、
    上記液体を流通させる液体供給配管と、
    この液体供給配管に設けられ上記液体に含まれる微粒子を測定する光散乱方式の微粒子検出手段と、
    この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数を算出する算出手段と、
    上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量を上記算出手段に設定する流量設定部とを具備し、
    上記算出手段は、上記設定された流量と、上記検出手段の検出信号とから単位流量当たりの微粒子数を検出し、
    上記液体供給配管には、上記液体の流量を検出し、この検出結果を上記算出手段に入力する流量検出手段が設けられており、上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量は、上記流量検出手段によって検出される流量よりも優先して上記算出手段に入力されることを特徴とする液中微粒子検出装置。
  2. 上記液体供給配管には、上記微粒子検出手段の上流側に液体の流量を検出する上記流量検出手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載の液中微粒子検出装置。
  3. 上記算出手段には、この算出手段で検出された単位流量あたりの微粒子数を表示する表示手段が電気的に接続されていることを特徴とする請求項1記載の液中微粒子検出装置。
  4. 被処理物を液体によって処理する処理装置において、
    上記液体を供給する液体供給手段と、
    上記液体を流通させる液体供給配管と、
    この液体供給配管に設けられ上記液体に含まれる微粒子を測定する光散乱方式の微粒子検出手段と、
    この微粒子検出手段からの検出信号と上記液体の流量とによって上記液体に含まれる単位流量あたりの微粒子数を算出する算出手段と、
    上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量を上記算出手段に設定する流量設定部と、
    上記算出手段が算出する単位流量当たりの微粒子数を表示する表示手段と、
    上記微粒子検出手段を通過した液体が供給される上記被処理物の処理手段とを具備し、
    上記算出手段は、上記設定された流量と、上記検出手段の検出信号とから単位流量当たりの微粒子数を検出し、
    上記液体供給配管には、上記液体の流量を検出し、この検出結果を上記算出手段に入力する流量検出手段が設けられており、上記液体供給手段から上記液体供給配管へ流す上記液体の流量は、上記流量検出手段によって検出される流量よりも優先して上記算出手段に入力されることを特徴とする処理装置。
  5. 上記液体は上記被処理物を洗浄するための洗浄液であることを特徴とする請求項4記載の処理装置。
  6. 上記液体は被処理物をエッチングするためのエッチング液であることを特徴とする請求項4記載の処理装置。
JP14883595A 1995-06-15 1995-06-15 液中微粒子検出装置および処理装置 Expired - Fee Related JP3559355B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14883595A JP3559355B2 (ja) 1995-06-15 1995-06-15 液中微粒子検出装置および処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14883595A JP3559355B2 (ja) 1995-06-15 1995-06-15 液中微粒子検出装置および処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH095228A JPH095228A (ja) 1997-01-10
JP3559355B2 true JP3559355B2 (ja) 2004-09-02

Family

ID=15461804

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14883595A Expired - Fee Related JP3559355B2 (ja) 1995-06-15 1995-06-15 液中微粒子検出装置および処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3559355B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI336914B (en) 2003-09-26 2011-02-01 Sumitomo Chemical Co Method for evaluating solution for coating film for semiconductor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH095228A (ja) 1997-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI427282B (zh) 液體中之粒子尺寸的檢測方法及裝置
JP4421393B2 (ja) 基板処理装置
JP2004356356A (ja) 洗浄終了判定方法および洗浄装置
US20030020907A1 (en) Methods and systems for controlling the concentration of a component in a composition with absorption spectroscopy
TW202003118A (zh) 化學液之異常檢測裝置、液處理裝置、基板處理裝置、化學液之異常檢測方法、液處理方法及基板處理方法
JP3559355B2 (ja) 液中微粒子検出装置および処理装置
JP6601779B2 (ja) スペクトロメータを用いて気体解離状態を測定する測定方法及びその装置
JPH0518889A (ja) 異物検査方法およびその装置
JP6294644B2 (ja) 水質検査装置
Elliott et al. Critical dimension sample planning for sub-0.25 micron processes
JP3787341B2 (ja) テトラメチルアンモニア水酸化物(tmah)を含むフォトレジストの現像液におけるリサイクル方法およびそのシステム
WO2019156255A1 (en) Standard-moisture generator, system using the standard-moisture generator, method for detecting abnormality in standard-moisture and computer program product for detecting the abnormality
JPH10170461A (ja) におい測定装置
JPH06148057A (ja) 微粒子計測方法および装置
JPH05296824A (ja) 管流路の状態監視装置
JPS5786015A (en) Abnormality inspecting device
KR20220103240A (ko) 생산라인의 공정가스 검출시스템 및 방법
JP7190232B2 (ja) 水質測定装置
US20210231553A1 (en) Method for processing a substrate by using fluid flowing through a particle detector
JP3506578B2 (ja) 基板処理装置および気中濃度管理システム
JP2747368B2 (ja) 液体中の微粒子数計測装置
JPS631951A (ja) 液中微粒子計測装置
US20160131567A1 (en) Method and apparatus for determining cleanliness of a sample
JP4010540B2 (ja) 汚染伝播防止システム
KR0156311B1 (ko) 진공시스템의 가스 공급라인 보호장치 및 그 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040412

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040518

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040521

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140528

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees