JP2001194302A - 光学測定装置 - Google Patents
光学測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】投光部と受光部との間に介在された試料の光学
特性を測定する場合、投光部と受光部との組を複数設
け、検出された各光量に基づき装置変動の影響をキャン
セルすることが行われているが、測定系ごとの装置変動
に差があれば、測定誤差が増大する。 【解決手段】検出器３ａ，３ｂで検出された各光量に基
づき装置変動度、具体的にはセル１ａ，１ｂの壁の汚れ
等に基づく光減衰率ｔy′を算出し、当該光減衰率ｔy′
としきい値とを比較し、しきい値を超える場合にはその
旨を出力する。光減衰率ｔy′の値をそのまま出力して
もよい。 【効果】試料の測定誤差が大きくなっても、そのことに
気づかずに測定結果を利用する、という事態を未然に防
止することができる。したがって、常に精度のよい測定
データを得ることができる。
特性を測定する場合、投光部と受光部との組を複数設
け、検出された各光量に基づき装置変動の影響をキャン
セルすることが行われているが、測定系ごとの装置変動
に差があれば、測定誤差が増大する。 【解決手段】検出器３ａ，３ｂで検出された各光量に基
づき装置変動度、具体的にはセル１ａ，１ｂの壁の汚れ
等に基づく光減衰率ｔy′を算出し、当該光減衰率ｔy′
としきい値とを比較し、しきい値を超える場合にはその
旨を出力する。光減衰率ｔy′の値をそのまま出力して
もよい。 【効果】試料の測定誤差が大きくなっても、そのことに
気づかずに測定結果を利用する、という事態を未然に防
止することができる。したがって、常に精度のよい測定
データを得ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、投光部と受光部と
の間に介在された試料の光学特性を測定する光学測定装
置に関するものである。
の間に介在された試料の光学特性を測定する光学測定装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】投光用光源の光を溶液に投光し、溶液を
透過した光を受光して、その受光光量に基づき、溶液の
吸光度を測定する装置が知られている。
透過した光を受光して、その受光光量に基づき、溶液の
吸光度を測定する装置が知られている。
【０００３】溶液を保持するのにフローセルを使用して
いる場合は、測定回数が多くなると、セルの内面が汚れ
るようになり、この汚れのために、透過光量が低下する
ので、実際よりも見かけ上吸光度が増加し、測定誤差が
発生する。
いる場合は、測定回数が多くなると、セルの内面が汚れ
るようになり、この汚れのために、透過光量が低下する
ので、実際よりも見かけ上吸光度が増加し、測定誤差が
発生する。
【０００４】そこで、前記投光部と受光部との組（以下
「測定系」という）を２つ設け、投光部と受光部との間
に光路長の異なるセルをそれぞれ挿入した状態で、溶液
に各セル内を連続通過させ、溶液の吸光度を測定するこ
とにより、セルの汚れに基づく透過率の低下をキャンセ
ルする提案がなされている（特開平１−２１０９８０号
公報）。
「測定系」という）を２つ設け、投光部と受光部との間
に光路長の異なるセルをそれぞれ挿入した状態で、溶液
に各セル内を連続通過させ、溶液の吸光度を測定するこ
とにより、セルの汚れに基づく透過率の低下をキャンセ
ルする提案がなされている（特開平１−２１０９８０号
公報）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記提案によれば、各
セルの汚れを同じとして計算しているが、実際には、セ
ルの汚れは、セルごとに独立して変化していくので、セ
ルの汚れの程度に差が生じる。この差は、長時間使用す
るにつれて（つまりセルの汚れがひどくなるにつれて）
顕著になる。
セルの汚れを同じとして計算しているが、実際には、セ
ルの汚れは、セルごとに独立して変化していくので、セ
ルの汚れの程度に差が生じる。この差は、長時間使用す
るにつれて（つまりセルの汚れがひどくなるにつれて）
顕著になる。
【０００６】このため、セルの汚れに基づく透過率の低
下を完全にキャンセルすることができず、測定誤差が増
大する。
下を完全にキャンセルすることができず、測定誤差が増
大する。
【０００７】以上のような汚れの差が測定誤差につなが
るという問題は、セルの汚れだけでなく、光源の光量低
下、光路（試料を除く）の透過率の低下、検出部の感度
の劣化などの装置変動が、著しく大きくなったときにも
発生する。
るという問題は、セルの汚れだけでなく、光源の光量低
下、光路（試料を除く）の透過率の低下、検出部の感度
の劣化などの装置変動が、著しく大きくなったときにも
発生する。
【０００８】そこで、本発明は、光源から検出部までの
装置変動度をモニターし、試料の測定誤差が大きくなら
ないうちに、対策をとることのできる光学測定装置を実
現することを目的とする。
装置変動度をモニターし、試料の測定誤差が大きくなら
ないうちに、対策をとることのできる光学測定装置を実
現することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】本発明の
光学測定装置は、光源の光を試料に投光する複数の投光
部と、試料を透過した光を受光する前記投光部と組にな
った受光部と、各受光部の受光した光量を検出する光量
検出部と、光量検出部により検出された各光量に基づき
装置変動の影響をキャンセルする演算を行うことのでき
る演算部とを有し、前記演算部は、光量検出部により検
出された各光量に基づき装置変動度を算出するものであ
る。
光学測定装置は、光源の光を試料に投光する複数の投光
部と、試料を透過した光を受光する前記投光部と組にな
った受光部と、各受光部の受光した光量を検出する光量
検出部と、光量検出部により検出された各光量に基づき
装置変動の影響をキャンセルする演算を行うことのでき
る演算部とを有し、前記演算部は、光量検出部により検
出された各光量に基づき装置変動度を算出するものであ
る。
【００１０】ここで装置変動とは、試料以外の、測定装
置が測定に影響を与える要因に基づく変動という。装置
変動度とはその変動の大きさをいう。
置が測定に影響を与える要因に基づく変動という。装置
変動度とはその変動の大きさをいう。
【００１１】この光学測定装置によれば、光量検出部に
より検出された各光量に基づき装置変動度を算出する。
これは、同じ試料の光透過条件が測定系ごとに違うよう
に設定されている場合に、可能となることである。
より検出された各光量に基づき装置変動度を算出する。
これは、同じ試料の光透過条件が測定系ごとに違うよう
に設定されている場合に、可能となることである。
【００１２】そして、前記演算部は、算出した装置変動
度の値を出力してもよく、当該装置変動度としきい値と
を比較し、当該装置変動度がしきい値を超える場合に
は、そのことを出力してもよい。
度の値を出力してもよく、当該装置変動度としきい値と
を比較し、当該装置変動度がしきい値を超える場合に
は、そのことを出力してもよい。
【００１３】これにより、試料の測定誤差が大きくなっ
ても、そのことに気づかずに測定結果を利用する、とい
う事態を未然に防止することができる。したがって、常
に精度のよい測定データを得ることができる。
ても、そのことに気づかずに測定結果を利用する、とい
う事態を未然に防止することができる。したがって、常
に精度のよい測定データを得ることができる。
【００１４】前記試料が、セルに入った液体であり、前
記装置変動は、セルの壁の汚れに基づく場合は、本発明
によれば、セルの汚れがひどくならないうちに、セルを
洗浄することができるので、セルの汚れの差はあまり生
じない。したがって、セルの汚れに基づく透過率の低下
がキャンセルされた溶液の吸光度を正確に測定すること
ができる。
記装置変動は、セルの壁の汚れに基づく場合は、本発明
によれば、セルの汚れがひどくならないうちに、セルを
洗浄することができるので、セルの汚れの差はあまり生
じない。したがって、セルの汚れに基づく透過率の低下
がキャンセルされた溶液の吸光度を正確に測定すること
ができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、添
付図面を参照しながら詳細に説明する。
付図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】図１は溶液の吸光度測定装置の概略構成図
である。
である。
【００１７】吸光度測定装置は、光路長の違う２つのフ
ローセル（以下「セル」という）１ａ，１ｂを有してい
る。試料液を導く管７は、入口の近くで二手に分かれ
て、それぞれセル１ａ，１ｂに接続される。両セル１
ａ，１ｂの出口に接続された管８ａ，８ｂは、１つに合
流し、排出口より排出される。
ローセル（以下「セル」という）１ａ，１ｂを有してい
る。試料液を導く管７は、入口の近くで二手に分かれ
て、それぞれセル１ａ，１ｂに接続される。両セル１
ａ，１ｂの出口に接続された管８ａ，８ｂは、１つに合
流し、排出口より排出される。
【００１８】各セル１ａ，１ｂには、光源２ａ，２ｂの
光が入射され、セル１ａ，１ｂを通過した光は、検出器
３ａ，３ｂにより検出される。検出器３ａ，３ｂの出力
は、増幅器４ａ，４ｂにより増幅され、Ａ／Ｄ変換器５
ａ，５ｂでディジタル信号に変換される。このディジタ
ル信号は、コンピュータ演算部６に入力され、ここにお
いて、溶液の吸光度が算出される。
光が入射され、セル１ａ，１ｂを通過した光は、検出器
３ａ，３ｂにより検出される。検出器３ａ，３ｂの出力
は、増幅器４ａ，４ｂにより増幅され、Ａ／Ｄ変換器５
ａ，５ｂでディジタル信号に変換される。このディジタ
ル信号は、コンピュータ演算部６に入力され、ここにお
いて、溶液の吸光度が算出される。
【００１９】光源２ａ，２ｂは、試料液の吸光度測定に
適した波長の光を照射するものが選ばれる。各セル１
ａ，１ｂは、当該波長の光が透過できる材質で構成され
る。例えば可視光線ならガラス、アクリル樹脂などの透
明体が使用される。検出器３ａ，３ｂは、フォトマルチ
プライヤ、ＰＩＮダイオードなどで構成されるが、いず
れの種類を用いるかは、当該波長の光を高感度で検出で
きるかどうか等で決められる。Ａ／Ｄ変換器５ａ，５ｂ
は、増幅器４ａ，４ｂのアナログ信号を所定ビット数の
ディジタル信号に変換するものである。
適した波長の光を照射するものが選ばれる。各セル１
ａ，１ｂは、当該波長の光が透過できる材質で構成され
る。例えば可視光線ならガラス、アクリル樹脂などの透
明体が使用される。検出器３ａ，３ｂは、フォトマルチ
プライヤ、ＰＩＮダイオードなどで構成されるが、いず
れの種類を用いるかは、当該波長の光を高感度で検出で
きるかどうか等で決められる。Ａ／Ｄ変換器５ａ，５ｂ
は、増幅器４ａ，４ｂのアナログ信号を所定ビット数の
ディジタル信号に変換するものである。
【００２０】なお、図１において、光源や検出器は２つ
あるが、光源、検出器を１つにして光分岐器と光シャッ
ター（例えば扇形の回転板）を用いて、２つの測定系を
構成してもよい。
あるが、光源、検出器を１つにして光分岐器と光シャッ
ター（例えば扇形の回転板）を用いて、２つの測定系を
構成してもよい。
【００２１】コンピュータ演算部６は、２系統の検出光
量に基づいて、試料液の吸光度を算出する。その算出方
法を以下説明する。
量に基づいて、試料液の吸光度を算出する。その算出方
法を以下説明する。
【００２２】長い方のセルの光路長をＬ，短い方のセル
の光路長をＳ，長い方のセルの試料液の透過率をｔcl，
短い方のセルの試料液の透過率をｔcsとする。セルの汚
れに基づく減衰率（以下、単に「セルの汚れ」というこ
とがある）をｔy，長い方のセルで測定された透過率を
ｔsl，短い方のセルで測定された透過率をｔssとする。
ｔcl，ｔcs，ｔyは未知である。ｔyは、両セルで異なる
が、試料液の吸光度を算出する計算では同一とする。
の光路長をＳ，長い方のセルの試料液の透過率をｔcl，
短い方のセルの試料液の透過率をｔcsとする。セルの汚
れに基づく減衰率（以下、単に「セルの汚れ」というこ
とがある）をｔy，長い方のセルで測定された透過率を
ｔsl，短い方のセルで測定された透過率をｔssとする。
ｔcl，ｔcs，ｔyは未知である。ｔyは、両セルで異なる
が、試料液の吸光度を算出する計算では同一とする。
【００２３】ｔclとｔcsとの違いは、セルの光路長の違
いにのみ基づくものであるので、 ｔcl＝ｔcs(L/S) (1) となる。また、試料液の透過率と測定された透過率との
関係は、 ｔss＝ｔcs（１−ｔy） (2) ｔsl＝ｔcl（１−ｔy） (3) 上の３つの式(1)〜(3)から、 ｔcs＝（ｔss／ｔsl）S/(S-L)＝（ｔsl／ｔss）S/(L-S) (4) ｔcl＝（ｔss／ｔsl）L/(S-L)＝（ｔsl／ｔss）L/(L-S) (5) が導かれる。また、(2)式から、 ｔy＝（１−ｔss／ｔcs） (6) が導かれる。
いにのみ基づくものであるので、 ｔcl＝ｔcs(L/S) (1) となる。また、試料液の透過率と測定された透過率との
関係は、 ｔss＝ｔcs（１−ｔy） (2) ｔsl＝ｔcl（１−ｔy） (3) 上の３つの式(1)〜(3)から、 ｔcs＝（ｔss／ｔsl）S/(S-L)＝（ｔsl／ｔss）S/(L-S) (4) ｔcl＝（ｔss／ｔsl）L/(S-L)＝（ｔsl／ｔss）L/(L-S) (5) が導かれる。また、(2)式から、 ｔy＝（１−ｔss／ｔcs） (6) が導かれる。
【００２４】前記(4)(5)式は、長い方のセルでの測定透
過率ｔslと短い方のセルでの測定透過率ｔssと、各セル
の長さの比とから、試料液の透過率ｔcs又はｔclが求め
られることを示している。したがって、試料液の吸光度
は、その対数をとることにより求められる。
過率ｔslと短い方のセルでの測定透過率ｔssと、各セル
の長さの比とから、試料液の透過率ｔcs又はｔclが求め
られることを示している。したがって、試料液の吸光度
は、その対数をとることにより求められる。
【００２５】前記の吸光度の算出では、セルの汚れｔy
は、両セルで同じであるとしていた。しかし実際には、
汚れの程度が異なる。
は、両セルで同じであるとしていた。しかし実際には、
汚れの程度が異なる。
【００２６】短い方のセルの汚れに基づく減衰率をｔy
s、長い方のセルの汚れに基づく減衰率をｔylと書く
と、(2)式(3)式は、 ｔss＝ｔcs（１−ｔys） (7) ｔsl＝ｔcl（１−ｔyl） (8) となる。(1)(7)(8)式から、 ｔcs＝[ｔsl（１−ｔys）/ｔss（１−ｔyl）]S/(L-S) (9) ｔcl＝[ｔsl（１−ｔys）/ｔss（１−ｔyl）]L/(L-S) (10) が導かれる。
s、長い方のセルの汚れに基づく減衰率をｔylと書く
と、(2)式(3)式は、 ｔss＝ｔcs（１−ｔys） (7) ｔsl＝ｔcl（１−ｔyl） (8) となる。(1)(7)(8)式から、 ｔcs＝[ｔsl（１−ｔys）/ｔss（１−ｔyl）]S/(L-S) (9) ｔcl＝[ｔsl（１−ｔys）/ｔss（１−ｔyl）]L/(L-S) (10) が導かれる。
【００２７】ここで、例えば、セル長の比Ｌ／Ｓを２、
短い方のセルの試料液の透過率ｔcsを５０％、長い方の
セルの試料液の透過率ｔcl（ｔcl＝ｔcs2）を２５％と
する。短い方のセルで測定される透過率ｔss、長い方の
セルで測定される透過率ｔslは、(7)(8)式を満たすもの
である。また、セルの汚れの比ｔyl／ｔysは、汚れの度
合いが違っても一定１．１であるとする（この汚れの比
を１．１と仮定したが、実際には、使用者が装置の汚れ
のバラツキを実測して設定する）。
短い方のセルの試料液の透過率ｔcsを５０％、長い方の
セルの試料液の透過率ｔcl（ｔcl＝ｔcs2）を２５％と
する。短い方のセルで測定される透過率ｔss、長い方の
セルで測定される透過率ｔslは、(7)(8)式を満たすもの
である。また、セルの汚れの比ｔyl／ｔysは、汚れの度
合いが違っても一定１．１であるとする（この汚れの比
を１．１と仮定したが、実際には、使用者が装置の汚れ
のバラツキを実測して設定する）。
【００２８】セルの汚れに差があることを知らない測定
者は、短い方のセルで測定された透過率ｔss、長い方の
セルで測定された透過率ｔslに基づき、(4)式を用いて
短い方のセルの試料液の透過率ｔcs′を求め、(5)式を
用いて長い方のセルの試料液の透過率ｔcl′を求める。
者は、短い方のセルで測定された透過率ｔss、長い方の
セルで測定された透過率ｔslに基づき、(4)式を用いて
短い方のセルの試料液の透過率ｔcs′を求め、(5)式を
用いて長い方のセルの試料液の透過率ｔcl′を求める。
【００２９】以上のｔys、ｔyl、試料液の見かけの透過
率ｔcs′、ｔcl′の関係を表にすると、表１のようにな
る。表１には、(6)式に基づいて計算した見かけ上のセ
ルの汚れｔy′ ｔy′＝１−ｔss／ｔcs′ (11) と、短い方のセルで測定される透過率ｔssと長い方のセ
ルで測定される透過率ｔslとの比Ｒ Ｒ＝ｔss／ｔsl (12) も掲げている。
率ｔcs′、ｔcl′の関係を表にすると、表１のようにな
る。表１には、(6)式に基づいて計算した見かけ上のセ
ルの汚れｔy′ ｔy′＝１−ｔss／ｔcs′ (11) と、短い方のセルで測定される透過率ｔssと長い方のセ
ルで測定される透過率ｔslとの比Ｒ Ｒ＝ｔss／ｔsl (12) も掲げている。
【００３０】
【表１】
【００３１】この表１から、セルの汚れの比ｔyl／ｔys
が一定でも、セルの汚れがひどくなるにつれて、試料液
の見かけの透過率ｔcs′と真の透過率ｔcsとの差は大き
くなる。
が一定でも、セルの汚れがひどくなるにつれて、試料液
の見かけの透過率ｔcs′と真の透過率ｔcsとの差は大き
くなる。
【００３２】表１によれば、透過率の測定誤差ｔcs′−
ｔcsを０．６％以内に抑えるには、セルの汚れは、１０
％以内にしなければならないことが分かる。つまり、両
セルの汚れに差が発生することを前提にすれば、測定誤
差を抑えるには、セルの汚れが少ない方がよい。そこ
で、セルの汚れを監視してセルの洗浄をすればよい。
ｔcsを０．６％以内に抑えるには、セルの汚れは、１０
％以内にしなければならないことが分かる。つまり、両
セルの汚れに差が発生することを前提にすれば、測定誤
差を抑えるには、セルの汚れが少ない方がよい。そこ
で、セルの汚れを監視してセルの洗浄をすればよい。
【００３３】そこで、本発明の実施形態では、コンピュ
ータ演算部６は、セルの汚れを(11)式を用いて監視す
る。そしてその値ｔy′を表示、印字などするための信
号を出力してもよく、その値ｔy′がしきい値を超えれ
ば、その旨を表示、印字などするための信号を出力して
もよい。この場合、値ｔy′がしきい値を超えれば測定
を中止してもよく、中止しないで、測定値にその旨の表
示を付加してもよい。
ータ演算部６は、セルの汚れを(11)式を用いて監視す
る。そしてその値ｔy′を表示、印字などするための信
号を出力してもよく、その値ｔy′がしきい値を超えれ
ば、その旨を表示、印字などするための信号を出力して
もよい。この場合、値ｔy′がしきい値を超えれば測定
を中止してもよく、中止しないで、測定値にその旨の表
示を付加してもよい。
【００３４】使用者は、前記表示、印字に基づいて、セ
ルの洗浄を行うことができる。セルの洗浄方法は、慣用
されている方法で行えばよい。
ルの洗浄を行うことができる。セルの洗浄方法は、慣用
されている方法で行えばよい。
【００３５】なお、前記(11)式のｔy′は、実際のセル
の汚れｔys、ｔylとは違うが、セルの汚れが少ない範囲
では、例えばｔy′が１０％以内であれば、実際のセル
の汚れｔys、ｔylとの差は少ない。したがって、汚れが
少ないうちは、 (11)式を用いてセルの汚れを監視して
も問題はない。
の汚れｔys、ｔylとは違うが、セルの汚れが少ない範囲
では、例えばｔy′が１０％以内であれば、実際のセル
の汚れｔys、ｔylとの差は少ない。したがって、汚れが
少ないうちは、 (11)式を用いてセルの汚れを監視して
も問題はない。
【００３６】いままでは、セルの汚れのみを問題にして
きたが、これが光源の光量低下であっても同様である。
各光源は、使用時間がほぼ同じであれば同じように劣化
すると考えられるが、実際には個々にばらつきがある。
そこで、セルの汚れに基づく減衰率ｔyを光源の光量低
下に基づく減衰率ｔyと読み換えれば、いままでと同じ
ような手順によって光源の光量低下を監視し、使用者に
知らせることができる。
きたが、これが光源の光量低下であっても同様である。
各光源は、使用時間がほぼ同じであれば同じように劣化
すると考えられるが、実際には個々にばらつきがある。
そこで、セルの汚れに基づく減衰率ｔyを光源の光量低
下に基づく減衰率ｔyと読み換えれば、いままでと同じ
ような手順によって光源の光量低下を監視し、使用者に
知らせることができる。
【００３７】また、検出器の感度劣化、光ファイバーな
どの光学系の劣化による光量低下、部分的な温度変化に
よる光路条件の変化なども、いままでと同じような手順
によって監視することができるので、その値が大きくな
れば、使用者に知らせることとすれば、測定誤差の増加
を防ぐことができる。
どの光学系の劣化による光量低下、部分的な温度変化に
よる光路条件の変化なども、いままでと同じような手順
によって監視することができるので、その値が大きくな
れば、使用者に知らせることとすれば、測定誤差の増加
を防ぐことができる。
【００３８】装置変動要因が特定できない場合や、装置
変動要因が重複している場合もあるが、そのときでも、
何らかの装置変動が生じていることを使用者に知らせる
ことができるので、使用者は、測定装置を詳細に点検す
ることにより、装置変動要因を発見し除くことができ
る。
変動要因が重複している場合もあるが、そのときでも、
何らかの装置変動が生じていることを使用者に知らせる
ことができるので、使用者は、測定装置を詳細に点検す
ることにより、装置変動要因を発見し除くことができ
る。
【００３９】本発明の実施の形態は以上のとおりである
が、本発明の実施は以上の実施形態に限定されるもので
はない。例えば、図１は溶液の吸光度測定装置の構成
は、図１に掲げたものに限定されない。
が、本発明の実施は以上の実施形態に限定されるもので
はない。例えば、図１は溶液の吸光度測定装置の構成
は、図１に掲げたものに限定されない。
【００４０】図２は、他の構成を持った溶液の吸光度測
定装置の概略構成図である。図１の構成との違いは、２
組の投光ファイバー１２ａ，１２ｂと、受光ファイバー
１３ａ，１３ｂとをセル１１ａ，１１ｂに保持し、投光
ファイバー１２ａ，１２ｂの投光端と受光ファイバー１
３ａ，１３ｂの受光端との間に試料液１４を介在させて
いることである。投光ファイバー１２ａ，１２ｂの投光
端と受光ファイバー１３ａ，１３ｂの受光端との間の距
離は、互いに異なっている。この構成では、投光ファイ
バー１２ａ，１２ｂの投光端、及び受光ファイバー１３
ａ，１３ｂの受光端に汚れが付着し、それが装置変動要
因になる。
定装置の概略構成図である。図１の構成との違いは、２
組の投光ファイバー１２ａ，１２ｂと、受光ファイバー
１３ａ，１３ｂとをセル１１ａ，１１ｂに保持し、投光
ファイバー１２ａ，１２ｂの投光端と受光ファイバー１
３ａ，１３ｂの受光端との間に試料液１４を介在させて
いることである。投光ファイバー１２ａ，１２ｂの投光
端と受光ファイバー１３ａ，１３ｂの受光端との間の距
離は、互いに異なっている。この構成では、投光ファイ
バー１２ａ，１２ｂの投光端、及び受光ファイバー１３
ａ，１３ｂの受光端に汚れが付着し、それが装置変動要
因になる。
【００４１】なお、図２において、光源や検出器は２つ
あるが、光源、検出器を１つにして、投光ファイバーと
受光ファイバーとを必要数分岐して、光シャッターを用
いて切り替えることにより、測定系を複数構成してもよ
い。ただし、光源や検出器は１つなので、そのばらつき
は生じない。よって、光源や検出器の変動の影響は全部
キャンセルされ、ここでの測定誤差の要因とならない。
あるが、光源、検出器を１つにして、投光ファイバーと
受光ファイバーとを必要数分岐して、光シャッターを用
いて切り替えることにより、測定系を複数構成してもよ
い。ただし、光源や検出器は１つなので、そのばらつき
は生じない。よって、光源や検出器の変動の影響は全部
キャンセルされ、ここでの測定誤差の要因とならない。
【００４２】その他、測定系が３組以上あっても２組ず
つ前記装置変動度の監視を行えばよく、試料液に代えて
固体や気体の試料を用いてもよいなど、本発明の範囲内
で種々の変更を施すことが可能である。
つ前記装置変動度の監視を行えばよく、試料液に代えて
固体や気体の試料を用いてもよいなど、本発明の範囲内
で種々の変更を施すことが可能である。
【図１】溶液の吸光度測定装置の概略構成図である。
【図２】他の実施形態に係る溶液の吸光度測定装置の概
略構成図である。
略構成図である。
１ａ，１ｂ セル ２ａ，２ｂ 光源 ３ａ，３ｂ 検出器 ４ａ，４ｂ 増幅器 ５ａ，５ｂ Ａ／Ｄ変換器 ６ コンピュータ演算部 １１ａ，１１ｂ セル １２ａ，１２ｂ 投光ファイバー １３ａ，１３ｂ 受光ファイバー １４ 試料液
Claims (9)
- 【請求項１】投光部と受光部との間に介在された試料の
光学特性を測定する光学測定装置であって、 光源の光を試料に投光する複数の投光部と、試料を透過
した光を受光する前記投光部と組になった受光部と、各
受光部の受光した光量を検出する光量検出部と、光量検
出部により検出された各光量に基づき装置変動の影響を
キャンセルする演算を行うことのできる演算部とを有
し、 前記演算部は、光量検出部により検出された各光量に基
づき装置変動度を算出するものであることを特徴とする
光学測定装置。 - 【請求項２】前記演算部は、算出された装置変動度を出
力するものであることを特徴とする請求項１記載の光学
測定装置。 - 【請求項３】前記演算部は、算出された装置変動度とし
きい値とを比較し、当該装置変動度がしきい値を超える
場合には、そのことを出力するものであることを特徴と
する請求項１記載の光学測定装置。 - 【請求項４】前記装置変動は、光源の光量の変動である
ことを特徴とする請求項１記載の光学測定装置。 - 【請求項５】前記装置変動は、投光部から受光部までの
光路（試料を除く。）の透過率の変動である請求項１記
載の光学測定装置。 - 【請求項６】前記装置変動は、光量検出部の検出感度の
変動であることを特徴とする請求項１記載の光学測定装
置。 - 【請求項７】前記試料は、セルに入った液体であり、前
記装置変動は、セルの壁の汚れに基づくことを特徴とす
る請求項５記載の光学測定装置。 - 【請求項８】前記演算部が出力するときは、試料の光学
特性の測定データにコメントを付けて行うことを特徴と
する請求項２又は請求項３記載の光学測定装置。 - 【請求項９】前記演算部が出力するときは、試料の光学
特性の測定を中止することを特徴とする請求項２又は請
求項３記載の光学測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000006873A JP2001194302A (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 光学測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000006873A JP2001194302A (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 光学測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001194302A true JP2001194302A (ja) | 2001-07-19 |
Family
ID=18535338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000006873A Withdrawn JP2001194302A (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 光学測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001194302A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2000
- 2000-01-14 JP JP2000006873A patent/JP2001194302A/ja not_active Withdrawn
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| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061115 |
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| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20081114 |