JPH0946601A - 固体撮像デバイスの欠陥補償器 - Google Patents
固体撮像デバイスの欠陥補償器Info
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- JPH0946601A JPH0946601A JP8209404A JP20940496A JPH0946601A JP H0946601 A JPH0946601 A JP H0946601A JP 8209404 A JP8209404 A JP 8209404A JP 20940496 A JP20940496 A JP 20940496A JP H0946601 A JPH0946601 A JP H0946601A
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 10
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
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- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
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- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/711—Time delay and integration [TDI] registers; TDI shift registers
-
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥補償をＣＣＤ内部で行ってシステムの規
模を小さくし、かつより精密な欠陥補償を実現してウェ
ーハの収率を増加させる。 【解決手段】 個々の画素をその画素の周囲の画素の平
均値と比較して欠陥の有無を判断し、欠陥のある画素に
対しては同様に周辺の画素の平均値から補正した画素情
報を出力させる。
模を小さくし、かつより精密な欠陥補償を実現してウェ
ーハの収率を増加させる。 【解決手段】 個々の画素をその画素の周囲の画素の平
均値と比較して欠陥の有無を判断し、欠陥のある画素に
対しては同様に周辺の画素の平均値から補正した画素情
報を出力させる。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は固体撮像デバイスに
係わり、特にセルの白色或いは黒色欠陥を内部で補償す
る欠陥補償器を備えた固体撮像デバイス（ＣＣＤ）に関
する。
係わり、特にセルの白色或いは黒色欠陥を内部で補償す
る欠陥補償器を備えた固体撮像デバイス（ＣＣＤ）に関
する。
【０００２】
【従来の技術】以下、添付図面を参照して従来の固体撮
像デバイスの欠陥補償器を説明する。図は従来の固体撮
像デバイスの欠陥補償器を示すブロック図である。ＣＣ
Ｄからの信号をプリアンプ１で増幅し、その出力信号を
クランプ部２、遅延駆動部３及びビデオ駆動部４へ入力
させる。クランプ部２はプリアンプ１からの信号を一定
の基準レベルに固定させる。遅延駆動部３の出力信号は
遅延部６で一定時間遅延させられて欠陥検出器７の一方
の入力へ入力させる。この欠陥検出部７の他方の入力へ
はＤＣレベルシフター部５からの信号が入力する。欠陥
検出部７は上記双方の信号の入力を得て、欠陥補償のた
めの制御パルスを出力する。欠陥検出器７の出力パルス
はパルス調整部８へ入力され、ここで一定時間遅延させ
られてパルスの幅を調整する。前記ビデオ駆動部４に印
加された正常的な信号はレベルシフター部９に入力され
る。映像信号補正部１０はレベルシフター部９の出力信
号を入力して前記パルス調整部８の制御信号に基づいて
動作する。メインビデオゲート部１１はパルス調整部８
の制御信号に基づいて動作する。また、ビデオライン駆
動部１２は、パルス調整部８の制御信号に基づいて選択
された信号を最終出力する。
像デバイスの欠陥補償器を説明する。図は従来の固体撮
像デバイスの欠陥補償器を示すブロック図である。ＣＣ
Ｄからの信号をプリアンプ１で増幅し、その出力信号を
クランプ部２、遅延駆動部３及びビデオ駆動部４へ入力
させる。クランプ部２はプリアンプ１からの信号を一定
の基準レベルに固定させる。遅延駆動部３の出力信号は
遅延部６で一定時間遅延させられて欠陥検出器７の一方
の入力へ入力させる。この欠陥検出部７の他方の入力へ
はＤＣレベルシフター部５からの信号が入力する。欠陥
検出部７は上記双方の信号の入力を得て、欠陥補償のた
めの制御パルスを出力する。欠陥検出器７の出力パルス
はパルス調整部８へ入力され、ここで一定時間遅延させ
られてパルスの幅を調整する。前記ビデオ駆動部４に印
加された正常的な信号はレベルシフター部９に入力され
る。映像信号補正部１０はレベルシフター部９の出力信
号を入力して前記パルス調整部８の制御信号に基づいて
動作する。メインビデオゲート部１１はパルス調整部８
の制御信号に基づいて動作する。また、ビデオライン駆
動部１２は、パルス調整部８の制御信号に基づいて選択
された信号を最終出力する。
【０００３】前記のように構成された従来の固体撮像デ
バイスの欠陥補償器の動作を以下に説明する。ＣＣＤか
ら入力した映像信号をプリアンプ１で増幅して、その増
幅した信号をクランプ部２で一定の基準レベルに固定さ
せる。
バイスの欠陥補償器の動作を以下に説明する。ＣＣＤか
ら入力した映像信号をプリアンプ１で増幅して、その増
幅した信号をクランプ部２で一定の基準レベルに固定さ
せる。
【０００４】プリアンプ１の出力信号はそれぞれ遅延駆
動部３とビデオ駆動部４に印加されるが、前記遅延駆動
部３の出力信号は遅延部６で遅延クロックにより遅延さ
れる（約１５５ｎｓ）。
動部３とビデオ駆動部４に印加されるが、前記遅延駆動
部３の出力信号は遅延部６で遅延クロックにより遅延さ
れる（約１５５ｎｓ）。
【０００５】前記遅延された信号とＤＣレベルシフター
部５によりレベルシフトされた信号とが欠陥検出器７に
入力されて比較される。欠陥検出器７はその２つの信号
の差が基準信号より多いと出力トリガーパルスを発生す
る。
部５によりレベルシフトされた信号とが欠陥検出器７に
入力されて比較される。欠陥検出器７はその２つの信号
の差が基準信号より多いと出力トリガーパルスを発生す
る。
【０００６】そのトリガーパルスはパルス調整部８によ
り一定時間遅延され、パルスの幅を調整してメインビデ
オゲート１１と、映像信号補正部１０とに入力する。
り一定時間遅延され、パルスの幅を調整してメインビデ
オゲート１１と、映像信号補正部１０とに入力する。
【０００７】欠陥は、隣接する画素を比較して判定す
る。即ち、実時間で出力されるビデオ出力と遅延された
信号を比較する。
る。即ち、実時間で出力されるビデオ出力と遅延された
信号を比較する。
【０００８】遅延された信号が現在のビデオ出力と同一
か、或いは差が少なければ、最終出力信号は現在のビデ
オ出力信号を出力する。一方、遅延された信号が現在の
ビデオ出力より大きければ最終出力信号は現在のビデオ
信号の後に続く信号を出力する。すなわち、従来の回路
は、欠陥検出器７の出力トリガーパルスに基づいてビデ
オライン駆動部１２からの出力を選択的に制御するよう
になる。
か、或いは差が少なければ、最終出力信号は現在のビデ
オ出力信号を出力する。一方、遅延された信号が現在の
ビデオ出力より大きければ最終出力信号は現在のビデオ
信号の後に続く信号を出力する。すなわち、従来の回路
は、欠陥検出器７の出力トリガーパルスに基づいてビデ
オライン駆動部１２からの出力を選択的に制御するよう
になる。
【０００９】要約すれば、現在の出力ビデオ信号と遅延
された信号とを互いに比較して、遅延された信号が現在
の出力ビデオ信号より大きければ現在の出力ビデオ信号
に続く後の信号を最終出力し、遅延された信号が現在の
出力ビデオ信号と同一、或いは差が少なければ最終出力
信号は現在のビデオ出力信号になる。
された信号とを互いに比較して、遅延された信号が現在
の出力ビデオ信号より大きければ現在の出力ビデオ信号
に続く後の信号を最終出力し、遅延された信号が現在の
出力ビデオ信号と同一、或いは差が少なければ最終出力
信号は現在のビデオ出力信号になる。
【００１０】しかし、前記のような従来の固体撮像デバ
イスの欠陥補償器は次のような問題があった。第一に欠
陥補償がＣＣＤ素子外部で行うのでハードウェアの構成
が複雑になり、これによって雑音に敏感とある。第二に
前後のピクセルのレベル差を検出し、比較して欠陥を補
償するので解像度が不良になる。
イスの欠陥補償器は次のような問題があった。第一に欠
陥補償がＣＣＤ素子外部で行うのでハードウェアの構成
が複雑になり、これによって雑音に敏感とある。第二に
前後のピクセルのレベル差を検出し、比較して欠陥を補
償するので解像度が不良になる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような従
来の問題点を解決するために案出したものである。本発
明は、欠陥補償がＣＣＤ内部で成され、システムの規模
を小さくできる固体撮像デバイスの欠陥補償器を提供す
ることである。他の目的は、より精密な欠陥補償を実現
してウェーハの収率を増加させることである。
来の問題点を解決するために案出したものである。本発
明は、欠陥補償がＣＣＤ内部で成され、システムの規模
を小さくできる固体撮像デバイスの欠陥補償器を提供す
ることである。他の目的は、より精密な欠陥補償を実現
してウェーハの収率を増加させることである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、光の映像信号
を検出して信号電荷を生成する複数個の光検出器から信
号電荷を垂直方向に転送するＶＣＣＤ領域と、前記ＶＣ
ＣＤ領域の画素情報を複数個の走査線単位で順次に格納
するバッファ部と、欠陥検出及び補償部と、その欠陥検
出及び補償部の出力信号に基づいて欠陥が補償された画
素情報又は補償前の画素情報のいずれか１つを選択出力
するマルチプレクサとを備えている。そして、前記欠陥
検出及び補償部は、前記バッファ部の画素情報から中心
画素を除外した周辺画素の合算値を算出するマトリック
ス形態の複数個のサブウィンドウと、そのサブウィンド
ウにより算出された合算値を再び複数個にブロック化し
て平均値を算出する複数個のサムウィンドウと、その平
均値と中心画素値を比較してその結果に基づいて欠陥の
可否を判断する欠陥判断部と、前記サブウィンドウから
任意の周辺画素値を入力して前記該当サムウィンドウに
より算出された平均値と比較して欠陥補償値を決定する
補償画素値決定部とを有する。
を検出して信号電荷を生成する複数個の光検出器から信
号電荷を垂直方向に転送するＶＣＣＤ領域と、前記ＶＣ
ＣＤ領域の画素情報を複数個の走査線単位で順次に格納
するバッファ部と、欠陥検出及び補償部と、その欠陥検
出及び補償部の出力信号に基づいて欠陥が補償された画
素情報又は補償前の画素情報のいずれか１つを選択出力
するマルチプレクサとを備えている。そして、前記欠陥
検出及び補償部は、前記バッファ部の画素情報から中心
画素を除外した周辺画素の合算値を算出するマトリック
ス形態の複数個のサブウィンドウと、そのサブウィンド
ウにより算出された合算値を再び複数個にブロック化し
て平均値を算出する複数個のサムウィンドウと、その平
均値と中心画素値を比較してその結果に基づいて欠陥の
可否を判断する欠陥判断部と、前記サブウィンドウから
任意の周辺画素値を入力して前記該当サムウィンドウに
より算出された平均値と比較して欠陥補償値を決定する
補償画素値決定部とを有する。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の固体撮像デバイスの欠陥補償器を詳細に説明する。添
付図面の図２はホワイトとブラックの欠陥の形態を示
す。３×３画素からなるウィンドウを想定して、そのウ
ィンドウの中央に位置する画素に欠陥が生じるとする
と、当然、中心画素の値は周辺画素に対して値が異な
る。本発明は、前記のような特性を利用してウィンドウ
の周辺画素と中心画素とを比較して欠陥であるかどうか
を判断する。
の固体撮像デバイスの欠陥補償器を詳細に説明する。添
付図面の図２はホワイトとブラックの欠陥の形態を示
す。３×３画素からなるウィンドウを想定して、そのウ
ィンドウの中央に位置する画素に欠陥が生じるとする
と、当然、中心画素の値は周辺画素に対して値が異な
る。本発明は、前記のような特性を利用してウィンドウ
の周辺画素と中心画素とを比較して欠陥であるかどうか
を判断する。
【００１４】図３は、本発明の１実施形態の固体撮像デ
バイスの欠陥補償器を示すブロック図である。この補償
器は、複数個の垂直ＣＣＤ領域２１と、第１センスアン
プ２２と、バッファ２３と、第２センスアンプ２４と、
欠陥検出器２５と、水平ＣＣＤ領域２６と、第１遅延手
段部２７と、マルチプレクサ２８と、第３センスアンプ
２９とを備えている。
バイスの欠陥補償器を示すブロック図である。この補償
器は、複数個の垂直ＣＣＤ領域２１と、第１センスアン
プ２２と、バッファ２３と、第２センスアンプ２４と、
欠陥検出器２５と、水平ＣＣＤ領域２６と、第１遅延手
段部２７と、マルチプレクサ２８と、第３センスアンプ
２９とを備えている。
【００１５】垂直ＣＣＤ領域２１は複数個の光検出器
（フォトダイオード）から転送される信号電荷を垂直方
向に移動させる。第１センスアンプ２２は前記垂直ＣＣ
Ｄ領域２１の複数個の水平方向の走査ラインを走査ライ
ンごとにセンシングして増幅する。バッファ２３は第１
センスアンプ２２から出力する複数個の走査ライン単位
の画素情報を一時的に格納する。第２センスアンプ２４
はバッファ２３に格納された情報を順次センシングして
増幅する。欠陥検出部２５は、第２センスアンプ２４の
出力情報をサブウィンドウ（例：３×３ウィンドウ）に
分けて、その中心画素値と周辺画素値を比較して欠陥を
検出し、補償画素値を決定する。水平ＣＣＤ領域２６は
垂直ＣＣＤ領域２１から移動された欠陥を補償前の画素
値を格納する。第１遅延手段部２７は、水平ＣＣＤ領域
の画素情報と、前記欠陥補償過程を介して出力される画
素情報間との時間差を補償する。マルチプレクサ２８
は、欠陥検出器２５から出力された欠陥補償された画素
情報を一方の入力とし、他方の入力に水平ＣＣＤ領域の
補償前の画素情報を与え、現在のピクセルが欠陥である
かどうかを判別するフラグ信号を選択信号として入力し
て、補償前の画素情報か補償後の画素情報のいずれかを
最終出力情報として出力するように選択する。その出力
を第３センスアンプ２９で増幅する。
（フォトダイオード）から転送される信号電荷を垂直方
向に移動させる。第１センスアンプ２２は前記垂直ＣＣ
Ｄ領域２１の複数個の水平方向の走査ラインを走査ライ
ンごとにセンシングして増幅する。バッファ２３は第１
センスアンプ２２から出力する複数個の走査ライン単位
の画素情報を一時的に格納する。第２センスアンプ２４
はバッファ２３に格納された情報を順次センシングして
増幅する。欠陥検出部２５は、第２センスアンプ２４の
出力情報をサブウィンドウ（例：３×３ウィンドウ）に
分けて、その中心画素値と周辺画素値を比較して欠陥を
検出し、補償画素値を決定する。水平ＣＣＤ領域２６は
垂直ＣＣＤ領域２１から移動された欠陥を補償前の画素
値を格納する。第１遅延手段部２７は、水平ＣＣＤ領域
の画素情報と、前記欠陥補償過程を介して出力される画
素情報間との時間差を補償する。マルチプレクサ２８
は、欠陥検出器２５から出力された欠陥補償された画素
情報を一方の入力とし、他方の入力に水平ＣＣＤ領域の
補償前の画素情報を与え、現在のピクセルが欠陥である
かどうかを判別するフラグ信号を選択信号として入力し
て、補償前の画素情報か補償後の画素情報のいずれかを
最終出力情報として出力するように選択する。その出力
を第３センスアンプ２９で増幅する。
【００１６】前記のように構成された実施形態の固体撮
像デバイスの欠陥補償器の動作を図３乃至図６を参照し
て説明する。サブウィンドウは３×３とする。先ず、垂
直ＣＣＤ領域２１で３個の水平方向の走査ラインが第１
センスアンプ（図示しない）を介してバッファ２３に格
納される。即ち、バッファ２３には（Ｇｒ、Ｗｂ）、
（Ｗｒ、Ｇｂ）形態で格納される。この際、Ｍｇ＋Ｃｙ
＝Ｗｂ、Ｇ＋Ｙｅ＝Ｇｒであり、Ｍｇ＋Ｙｅ＝Ｗｒ、Ｃ
ｙ＋Ｇ＝Ｇｂである。そして（Ｗｂ、Ｇｒ）或いは（Ｗ
ｒ、Ｇｂ）はＰで表記する。即ち、ｔ＝Ｈ0 の時点で垂
直ＣＣＤ領域２１の一番目の水平ライン（Ｈ0 ）の画素
値は水平ＣＣＤ領域２６に転送される。同様にバッファ
２３には垂直ＣＣＤ領域２１の３番目の水平ライン（Ｈ
2 ）の画素情報から順次に格納される。言い換えれば、
ｔ＝Ｈ2 の時点では３番目の水平ライン（Ｈ2）、４番
目の水平ライン（Ｈ3）、５番目の水平ライン（Ｈ4 ）
順にバッファに順次に格納されている。
像デバイスの欠陥補償器の動作を図３乃至図６を参照し
て説明する。サブウィンドウは３×３とする。先ず、垂
直ＣＣＤ領域２１で３個の水平方向の走査ラインが第１
センスアンプ（図示しない）を介してバッファ２３に格
納される。即ち、バッファ２３には（Ｇｒ、Ｗｂ）、
（Ｗｒ、Ｇｂ）形態で格納される。この際、Ｍｇ＋Ｃｙ
＝Ｗｂ、Ｇ＋Ｙｅ＝Ｇｒであり、Ｍｇ＋Ｙｅ＝Ｗｒ、Ｃ
ｙ＋Ｇ＝Ｇｂである。そして（Ｗｂ、Ｇｒ）或いは（Ｗ
ｒ、Ｇｂ）はＰで表記する。即ち、ｔ＝Ｈ0 の時点で垂
直ＣＣＤ領域２１の一番目の水平ライン（Ｈ0 ）の画素
値は水平ＣＣＤ領域２６に転送される。同様にバッファ
２３には垂直ＣＣＤ領域２１の３番目の水平ライン（Ｈ
2 ）の画素情報から順次に格納される。言い換えれば、
ｔ＝Ｈ2 の時点では３番目の水平ライン（Ｈ2）、４番
目の水平ライン（Ｈ3）、５番目の水平ライン（Ｈ4 ）
順にバッファに順次に格納されている。
【００１７】前記バッファ２３に格納されたそれぞれの
輝度信号（Ｙ＝（Ｍｇ＋Ｇ＋Ｙｅ＋Ｃｙ）／２）は第２
センスアンプ２４の制御信号（lsubwin)に基づいて図４
に図示されたように欠陥検出器２５の複数個のウィンド
ウに移動される。この過程で前記バッファに格納された
情報は複数個のサブウィンドウ３０（例：３×３ウィン
ドウ）に分かれる。このとき、前記欠陥検出器２５内の
サブウィンドウはバッファ２３に格納された情報をｍ×
ｎの形態で有している。
輝度信号（Ｙ＝（Ｍｇ＋Ｇ＋Ｙｅ＋Ｃｙ）／２）は第２
センスアンプ２４の制御信号（lsubwin)に基づいて図４
に図示されたように欠陥検出器２５の複数個のウィンド
ウに移動される。この過程で前記バッファに格納された
情報は複数個のサブウィンドウ３０（例：３×３ウィン
ドウ）に分かれる。このとき、前記欠陥検出器２５内の
サブウィンドウはバッファ２３に格納された情報をｍ×
ｎの形態で有している。
【００１８】即ち、図５に図示したように複数個のサブ
ウィンドウの中で、第１サブウィンドウ３０はバッファ
２３に格納された情報を３×３ウィンドウの形態で格納
してそれぞれの中心画素（Pj5）を除外した周辺画素の
輝度成分を合算する。
ウィンドウの中で、第１サブウィンドウ３０はバッファ
２３に格納された情報を３×３ウィンドウの形態で格納
してそれぞれの中心画素（Pj5）を除外した周辺画素の
輝度成分を合算する。
【００１９】即ち、バッファ２３に格納された情報を以
下のように格納して輝度成分を合算する。 そして第２サブウィンドウ３０ａは以下のように情報を
バッファ２３から持ってくる。
下のように格納して輝度成分を合算する。 そして第２サブウィンドウ３０ａは以下のように情報を
バッファ２３から持ってくる。
【００２０】このように第３、第４サブウィンドウ、そ
して第ｎサブウィンドウもそれぞれ１ラインずつシフト
されてそれぞれの該当するサブウィンドウに格納された
それぞれの輝度成分の合算値を算出する。続いて、前記
欠陥検出器２５内のそれぞれの第１サブウィンドウ３０
による合算値は該当サムスイッチ３１によりサムウィン
ドウと連結され、前記複数個のサムウィンドウの中で、
第１サムウィンドウ３２は該当する第１サブウィンドウ
３０により合算された輝度成分を入力してそれぞれの平
均値を算出する。そして前記第２サブウィンドウ３０ａ
はサムスイッチ３１ａにより第２サムウィンドウ３２ａ
と連結されて第２サブウィンドウにより合算された輝度
成分を入力して該当輝度成分の平均値（Pjm）を算出す
る。
して第ｎサブウィンドウもそれぞれ１ラインずつシフト
されてそれぞれの該当するサブウィンドウに格納された
それぞれの輝度成分の合算値を算出する。続いて、前記
欠陥検出器２５内のそれぞれの第１サブウィンドウ３０
による合算値は該当サムスイッチ３１によりサムウィン
ドウと連結され、前記複数個のサムウィンドウの中で、
第１サムウィンドウ３２は該当する第１サブウィンドウ
３０により合算された輝度成分を入力してそれぞれの平
均値を算出する。そして前記第２サブウィンドウ３０ａ
はサムスイッチ３１ａにより第２サムウィンドウ３２ａ
と連結されて第２サブウィンドウにより合算された輝度
成分を入力して該当輝度成分の平均値（Pjm）を算出す
る。
【００２１】このとき、第１、第２サムウィンドウ３
２、３２ａは図６のようにゲート信号に基づいて８個の
ブロックに分かれ、前記８個のブロックは中心画素を除
外した周辺画素の合算による平均値で埋まる。前記ゲー
ト３３はそれぞれのサムウィンドウの領域にある電荷を
分離するフロティングゲートとして使用される。
２、３２ａは図６のようにゲート信号に基づいて８個の
ブロックに分かれ、前記８個のブロックは中心画素を除
外した周辺画素の合算による平均値で埋まる。前記ゲー
ト３３はそれぞれのサムウィンドウの領域にある電荷を
分離するフロティングゲートとして使用される。
【００２２】前記第１サムウィンドウ３２により算出さ
れた輝度成分の平均値（Pjm）はそれぞれのスイッチに
より平均値格納のための平均値格納ＣＣＤ３４に格納さ
れて、第２サムウィンドウ３２ａにより算出された平均
値も同様にそれぞれのスイッチにより平均値格納ＣＣＤ
３４に格納される。
れた輝度成分の平均値（Pjm）はそれぞれのスイッチに
より平均値格納のための平均値格納ＣＣＤ３４に格納さ
れて、第２サムウィンドウ３２ａにより算出された平均
値も同様にそれぞれのスイッチにより平均値格納ＣＣＤ
３４に格納される。
【００２３】続いて図４に図示したように補償画素値決
定部２６ａは第１サブウィンドウ３０からPj4 とPj6
を、前記平均値格納ＣＣＤ３４から輝度成分の平均値
（Pjm ）を入力して下記のような規則により補償画素値
を決定する。同様に第２サブウィンドウ３０ａ及びその
他のサブウィンドウでも中心画素の左右両側の周辺画素
値だけを入力して輝度成分の平均値と比較して補償画素
値を決定する。そして補償された画素値は第１遅延部２
７を介して補償画素値格納部２６ｂに入力される。 ｜Pj4−Pj6｜＜X なら Pj4 又は Pj6 の代わりにPj5
（上バー）を入力 （｜Pjm−Pj4｜＞｜Pjm−Pj6｜）ならばPj6 又は Pj4の
代わりにPj5 （上バー）を入力 ここで、ｘ：任意の値 Pj5：修正された画素値（Ｗｒ、Ｇｂ）或いは（Ｇｒ、
Ｗｂ）である。
定部２６ａは第１サブウィンドウ３０からPj4 とPj6
を、前記平均値格納ＣＣＤ３４から輝度成分の平均値
（Pjm ）を入力して下記のような規則により補償画素値
を決定する。同様に第２サブウィンドウ３０ａ及びその
他のサブウィンドウでも中心画素の左右両側の周辺画素
値だけを入力して輝度成分の平均値と比較して補償画素
値を決定する。そして補償された画素値は第１遅延部２
７を介して補償画素値格納部２６ｂに入力される。 ｜Pj4−Pj6｜＜X なら Pj4 又は Pj6 の代わりにPj5
（上バー）を入力 （｜Pjm−Pj4｜＞｜Pjm−Pj6｜）ならばPj6 又は Pj4の
代わりにPj5 （上バー）を入力 ここで、ｘ：任意の値 Pj5：修正された画素値（Ｗｒ、Ｇｂ）或いは（Ｇｒ、
Ｗｂ）である。
【００２４】続いて図４に図示したように、複数個の比
較器３６とＯＲゲート３７とで構成された欠陥判断３５
は第１サブウィンドウ３０の中心画素値（Pj5 ）と前記
第１平均値格納ＣＣＤ３４から出力される輝度成分の平
均値（Pjm ）を入力して互いに比較する。
較器３６とＯＲゲート３７とで構成された欠陥判断３５
は第１サブウィンドウ３０の中心画素値（Pj5 ）と前記
第１平均値格納ＣＣＤ３４から出力される輝度成分の平
均値（Pjm ）を入力して互いに比較する。
【００２５】この際、前記比較器は、サブウィンドウの
中心画素値が正（＋）端子に入力されて、前記サブウィ
ンドウの周辺画素値を合算して算出された平均値が負
（−）端子に入力される第１比較器と、前記サブウィン
ドウの中心値が負（−）端子に入力され、前記サブウィ
ンドウの周辺画素値を合算して算出された平均値が正
（＋）端子に入力される第２比較器とで具備される。
中心画素値が正（＋）端子に入力されて、前記サブウィ
ンドウの周辺画素値を合算して算出された平均値が負
（−）端子に入力される第１比較器と、前記サブウィン
ドウの中心値が負（−）端子に入力され、前記サブウィ
ンドウの周辺画素値を合算して算出された平均値が正
（＋）端子に入力される第２比較器とで具備される。
【００２６】欠陥検出器３５では輝度成分の平均値（Pj
m）と中心画素値（Pj5）を互いに比較して平均値（Pj
m）が中心画素値（Pj5）より非常に大きい場合ホワイト
欠陥、逆に小さかったらブラック欠陥と判定する。
m）と中心画素値（Pj5）を互いに比較して平均値（Pj
m）が中心画素値（Pj5）より非常に大きい場合ホワイト
欠陥、逆に小さかったらブラック欠陥と判定する。
【００２７】このとき、現在のピクセルが欠陥であるか
どうかを判断するための判断式は次の通りである。 Pjm＝ ＳＵＭj／（Ｎー１） ここでｉは５を除いた周辺ピクセル値、ｊはサブウィン
ドウの番号、Ｎはサブウィンドウの数。もし、｜（Pjm
ーＰj5）｜＞Δであるとサブウィンドウの中心画素Pj5
はホワイト欠陥或いはブラック欠陥と判定する。従っ
て、前記比較部３６の出力信号に基づいて論理動作する
ＯＲゲート３７の出力は“１”になる。又、｜（PjmーP
j5）｜＞Δであると前記サブウィンドウ３０の中心画素
は正常的なピクセルであるので、前記ＯＲゲート３７の
出力は“０”を示す。ここでΔは可変的であり、前記サ
ブウィンドウの中心画素と周辺画素との差の程度を示し
て欠陥の判定基準になる。
どうかを判断するための判断式は次の通りである。 Pjm＝ ＳＵＭj／（Ｎー１） ここでｉは５を除いた周辺ピクセル値、ｊはサブウィン
ドウの番号、Ｎはサブウィンドウの数。もし、｜（Pjm
ーＰj5）｜＞Δであるとサブウィンドウの中心画素Pj5
はホワイト欠陥或いはブラック欠陥と判定する。従っ
て、前記比較部３６の出力信号に基づいて論理動作する
ＯＲゲート３７の出力は“１”になる。又、｜（PjmーP
j5）｜＞Δであると前記サブウィンドウ３０の中心画素
は正常的なピクセルであるので、前記ＯＲゲート３７の
出力は“０”を示す。ここでΔは可変的であり、前記サ
ブウィンドウの中心画素と周辺画素との差の程度を示し
て欠陥の判定基準になる。
【００２８】続いて、前記ＯＲゲート３７の出力は図４
のようにスイッチによりフラグ(flag）状態を決定する
ようになる。このスイッチは制御信号(lflag)に基づい
て制御される。
のようにスイッチによりフラグ(flag）状態を決定する
ようになる。このスイッチは制御信号(lflag)に基づい
て制御される。
【００２９】即ち、フラグ信号は図３に図示したように
第２遅延部２７ａを介してマルチプレクサ２８の選択信
号に入力される。
第２遅延部２７ａを介してマルチプレクサ２８の選択信
号に入力される。
【００３０】ここで前記マルチプレクサ２８の選択信号
は現在のピクセルが欠陥であるか或いは正常であるかを
決定するもので、フラグ信号の状態（“０”或いは
“１”）により水平ＣＣＤ領域２６の情報が最終出力さ
れるか、それとも現在の出力が欠陥と見なされて補償画
素値決定部２６ａの情報（欠陥補償された画素値）が出
力されるかする。
は現在のピクセルが欠陥であるか或いは正常であるかを
決定するもので、フラグ信号の状態（“０”或いは
“１”）により水平ＣＣＤ領域２６の情報が最終出力さ
れるか、それとも現在の出力が欠陥と見なされて補償画
素値決定部２６ａの情報（欠陥補償された画素値）が出
力されるかする。
【００３１】前記のような過程により得られた最終欠陥
補正値はＣＣＤのピクセル移動クロックに同期して図３
のようにマルチプレクサ２８のｂ端子に印加される。ａ
端子には水平ＣＣＤ２６からの値が入力される。そして
フラグ信号に基づいて水平ＣＣＤ２６の画素情報或いは
補償画素値決定部２６ａからの補償された画素情報が出
力される。
補正値はＣＣＤのピクセル移動クロックに同期して図３
のようにマルチプレクサ２８のｂ端子に印加される。ａ
端子には水平ＣＣＤ２６からの値が入力される。そして
フラグ信号に基づいて水平ＣＣＤ２６の画素情報或いは
補償画素値決定部２６ａからの補償された画素情報が出
力される。
【００３２】一方、本発明による固体撮像デバイスの欠
陥補償器の第２実施形態は図３の垂直ＣＣＤ領域２１か
らバッファ２３に情報を転送する際に、一つの水平走査
ラインを順次に転送して前記バッファ２３の一番目のラ
インに格納して、次の水平走査ラインが転送されるとき
にはバッファ２３の現在のラインを次のラインにシフト
させる。以後の過程は本発明と同一に行う。
陥補償器の第２実施形態は図３の垂直ＣＣＤ領域２１か
らバッファ２３に情報を転送する際に、一つの水平走査
ラインを順次に転送して前記バッファ２３の一番目のラ
インに格納して、次の水平走査ラインが転送されるとき
にはバッファ２３の現在のラインを次のラインにシフト
させる。以後の過程は本発明と同一に行う。
【００３３】又、サブウィンドウ３０とサムウィンドウ
３２、平均値格納ＣＣＤ３４及び比較器３６をそれぞれ
１個ずつだけを使用して直列処理して欠陥を補正するこ
とも可能である。
３２、平均値格納ＣＣＤ３４及び比較器３６をそれぞれ
１個ずつだけを使用して直列処理して欠陥を補正するこ
とも可能である。
【００３４】即ち、図４のように第１実施形態及び第２
実施形態ではバッファ２３の情報をサブウィンドウ３０
に転送時、複数個のｍ×ｎサブウィンドウ３０と、サム
ウィンドウ３２と、比較器３６及びＯＲゲート３７とで
構成された欠陥判断３５が必要であったが、これをそれ
ぞれ単一構成として欠陥検出器２５を構成できる。
実施形態ではバッファ２３の情報をサブウィンドウ３０
に転送時、複数個のｍ×ｎサブウィンドウ３０と、サム
ウィンドウ３２と、比較器３６及びＯＲゲート３７とで
構成された欠陥判断３５が必要であったが、これをそれ
ぞれ単一構成として欠陥検出器２５を構成できる。
【００３５】
【発明の効果】本発明の固体撮像デバイスの欠陥補償器
は次のような効果がある。第一、従来の欠陥補正過程が
ＣＣＤ素子外部で行われていたことに比べてＣＣＤ内部
で欠陥補償による信号処理過程を行うので全体システム
の規模を最小化することができる。第二、ピクセルウィ
ンドウ窓を使用することにより欠陥検出を効果的にして
ウェーハの収率を向上させる。
は次のような効果がある。第一、従来の欠陥補正過程が
ＣＣＤ素子外部で行われていたことに比べてＣＣＤ内部
で欠陥補償による信号処理過程を行うので全体システム
の規模を最小化することができる。第二、ピクセルウィ
ンドウ窓を使用することにより欠陥検出を効果的にして
ウェーハの収率を向上させる。
【図１】 従来の固体撮像デバイスの欠陥補償器を示す
構成ブロック図。
構成ブロック図。
【図２】 ３×３ウィンドウの白色或いは黒色欠陥を示
す図面。
す図面。
【図３】 固体撮像デバイスの１実施形態の欠陥補償器
を示す構成ブロック図。
を示す構成ブロック図。
【図４】 本実施形態の詳細図。
【図５】 ｍ×ｎウィンドウに対する周辺画素値の合算
を示す図面。
を示す図面。
【図６】 サムウィンドウの平均値算出を示す図面。
２１：垂直ＣＣＤ領域 ２２、２４、２９：センスアンプ ２３：バッファ ２５：欠陥検出及び補償部 ２６：水平ＣＣＤ領域 ２６ａ：補償画素値決定部 ２６ｂ：補償画素値格納部 ２７、２７ａ：第１、第２遅延部 ２８：マルチプレクサ ３０、３０ａ：ｍ×ｎサブウィンドウ ３１、３１ａ：サム（ＳＵＭ）スイッチ ３２、３２ａ：サム（ＳＵＭ）ウィンドウ ３３：ゲート信号 ３４：平均値格納部 ３５：欠陥判断 ３６：比較器 ３７：ＯＲゲート
Claims (1)
- 【請求項１】 光の映像信号を検出して信号電荷を生成
する複数個の光検出器から信号電荷を垂直方向に転送す
るＶＣＣＤ領域と、 前記ＶＣＣＤ領域の画素情報を複数個の走査線単位で順
次に格納するバッファ部と、 前記バッファ部の画素情報から中心画素を除外した周辺
画素の合算値を算出するマトリックス形態の複数個のサ
ブウィンドウと、そのサブウィンドウにより算出された
合算値を再び複数個にブロック化して平均値を算出する
複数個のサムウィンドウと、その平均値と中心画素値を
比較してその結果に基づいて欠陥の可否を判断する欠陥
判断部と、前記サブウィンドウから任意の周辺画素値を
入力して前記該当サムウィンドウにより算出された平均
値と比較して欠陥補償値を決定する補償画素値決定部と
を有する欠陥検出及び補償部と、 前記欠陥検出及び補償部の出力信号に基づいて欠陥が補
償された画素情報又は補償前の画素情報のいずれか１つ
を選択出力するマルチプレクサと、を備えていることを
特徴とする固体撮像デバイスの欠陥補償器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950021735A KR0161886B1 (ko) | 1995-07-22 | 1995-07-22 | 고체촬상소자의 디팩트 보상장치 |
| KR21735/1995 | 1995-07-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0946601A true JPH0946601A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=19421329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8209404A Pending JPH0946601A (ja) | 1995-07-22 | 1996-07-22 | 固体撮像デバイスの欠陥補償器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5995675A (ja) |
| JP (1) | JPH0946601A (ja) |
| KR (1) | KR0161886B1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000022677A1 (en) * | 1998-10-09 | 2000-04-20 | Polaroid Corporation | Method for improving the yield of an image sensor |
| JP2005354278A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Seiko Epson Corp | 撮像手段の撮像した画像の画像データを処理する画像データ処理 |
| KR100906606B1 (ko) * | 2007-06-28 | 2009-07-09 | 엠텍비젼 주식회사 | 불량 화소 처리 방법 및 장치 |
| US7636494B2 (en) | 2003-12-11 | 2009-12-22 | Panasonic Corporation | Method and apparatus for correcting pixel image signal intensity |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6744912B2 (en) * | 1996-11-29 | 2004-06-01 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Multiple mode digital X-ray imaging system |
| US6476941B1 (en) * | 1997-04-02 | 2002-11-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state image sensing device and operation method thereof |
| US6455832B1 (en) * | 1998-12-25 | 2002-09-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Defect discriminating method and device for solid-state detector |
| JP2000285229A (ja) * | 1999-03-15 | 2000-10-13 | Texas Instr Inc <Ti> | ディジタルイメージャのための不良画素フィルタリング |
| US6819358B1 (en) * | 1999-04-26 | 2004-11-16 | Microsoft Corporation | Error calibration for digital image sensors and apparatus using the same |
| US6995794B2 (en) * | 1999-06-30 | 2006-02-07 | Logitech Europe S.A. | Video camera with major functions implemented in host software |
| US20020005904A1 (en) * | 2000-07-12 | 2002-01-17 | Mendis Sunetra K. | Method for pixel correction |
| US6756576B1 (en) * | 2000-08-30 | 2004-06-29 | Micron Technology, Inc. | Imaging system having redundant pixel groupings |
| US6965395B1 (en) * | 2000-09-12 | 2005-11-15 | Dialog Semiconductor Gmbh | Methods and systems for detecting defective imaging pixels and pixel values |
| US6985180B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-01-10 | Ess Technology, Inc. | Intelligent blemish control algorithm and apparatus |
| US7515317B2 (en) * | 2001-12-10 | 2009-04-07 | Chen-Hsiang Shih | Compensating a zipper image by a K-value |
| US7012720B2 (en) * | 2002-01-14 | 2006-03-14 | Chen-Hsiang Shih | Method of effacing zipper image |
| JP2007306506A (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Fujifilm Corp | 撮像装置 |
| US7676084B2 (en) * | 2006-06-19 | 2010-03-09 | Mtekvision Co., Ltd. | Apparatus for processing dead pixel |
| US7649555B2 (en) * | 2006-10-02 | 2010-01-19 | Mtekvision Co., Ltd. | Apparatus for processing dead pixel |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63232579A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-28 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置 |
| JP2864408B2 (ja) * | 1990-10-29 | 1999-03-03 | 株式会社ニコン | 画素信号補正装置 |
| EP0496573B1 (en) * | 1991-01-24 | 1995-12-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device |
| US5329381A (en) * | 1992-02-20 | 1994-07-12 | Payne John H | Automatic engraving method and apparatus |
| JP3042159B2 (ja) * | 1992-04-10 | 2000-05-15 | ソニー株式会社 | Ｃｃｄ素子の欠陥画素補正回路 |
-
1995
- 1995-07-22 KR KR1019950021735A patent/KR0161886B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-07-18 US US08/683,453 patent/US5995675A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-07-22 JP JP8209404A patent/JPH0946601A/ja active Pending
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5995675A (en) | 1999-11-30 |
| KR970009226A (ko) | 1997-02-24 |
| KR0161886B1 (ko) | 1998-12-15 |
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