JP2864408B2 - 画素信号補正装置 - Google Patents
画素信号補正装置Info
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- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/673—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被写体のデフォーカス量等の演算に使用す
る光電変換素子列から出力された画素信号の不均一性を
補正する画素信号補正装置に関する。
る光電変換素子列から出力された画素信号の不均一性を
補正する画素信号補正装置に関する。
［従来の技術］ 従来、被写体のデフォーカス量を求めてオートフォー
カスを行うカメラの焦点検出装置では、複数の光電変換
素子列から出力された画素信号をA/D変換した後にデフ
ォーカス量の演算処理を行って合焦させている。
カスを行うカメラの焦点検出装置では、複数の光電変換
素子列から出力された画素信号をA/D変換した後にデフ
ォーカス量の演算処理を行って合焦させている。
ところで、焦点検出用の光電変換素子列は、例えば均
一輝度の被写体を見たときには本来、画素信号の出力レ
ベルは均一であるべきものであるが、実際には光電変換
素子列の感度むらや、光電変換素子列へ光線を導く焦点
検出光学系の開口効率等の影響で、例えば第５図に示す
ように均一にはならないことがむしろ普通である。この
画素信号の不均一性を補正するため、従来、半導体メモ
リに各画素毎の補正値を予め記憶し、記憶された各画素
に対応した補正値に従って画素信号の補正を行なって第
６図に示すような均一な画素信号を得ている。
一輝度の被写体を見たときには本来、画素信号の出力レ
ベルは均一であるべきものであるが、実際には光電変換
素子列の感度むらや、光電変換素子列へ光線を導く焦点
検出光学系の開口効率等の影響で、例えば第５図に示す
ように均一にはならないことがむしろ普通である。この
画素信号の不均一性を補正するため、従来、半導体メモ
リに各画素毎の補正値を予め記憶し、記憶された各画素
に対応した補正値に従って画素信号の補正を行なって第
６図に示すような均一な画素信号を得ている。
この補正演算は、例えば次式に従って行われている。
A/D（ｎ）＊（１＋Ｑ（ｎ）/256） ・・・（１） ここでA/D（ｎ）はある画素出力のA/D変換値、Ｑ
（ｎ）は半導体メモリに格納された補正値である。
（ｎ）は半導体メモリに格納された補正値である。
補正値Ｑ（ｎ）は符号付きの８ビットデータであり、
最高約±50％まで補正可能である。補正値Ｑ（ｎ）の決
め方は、予め光電変換素子列に均一輝度面を見させて画
素信号を求める。次にある画素を基準値として定め、基
準値と画素信号との差を求めて規格化した値とする。
最高約±50％まで補正可能である。補正値Ｑ（ｎ）の決
め方は、予め光電変換素子列に均一輝度面を見させて画
素信号を求める。次にある画素を基準値として定め、基
準値と画素信号との差を求めて規格化した値とする。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、このような従来の画素信号補正装置に
あっては、均一輝度面を見て得られた画素信号の基準値
に対する変化分から補正値を求めていたため、一般には
変化分は±となり、従って半導体メモリに格納される補
正値も±の符号を持つようになる。このため前記式
（１）で示された補正演算はマイクロプロセッサで行な
われるが、補正値が正負の符号をもつことから符号の判
定のルーチンが必要となり、符号判定を各画素毎に行な
うため、画像の処理時間の増大する問題があった。
あっては、均一輝度面を見て得られた画素信号の基準値
に対する変化分から補正値を求めていたため、一般には
変化分は±となり、従って半導体メモリに格納される補
正値も±の符号を持つようになる。このため前記式
（１）で示された補正演算はマイクロプロセッサで行な
われるが、補正値が正負の符号をもつことから符号の判
定のルーチンが必要となり、符号判定を各画素毎に行な
うため、画像の処理時間の増大する問題があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされた
もので、画素信号の補正演算を効率良くできるようにし
た画素信号補正装置を提供することを目的とする。
もので、画素信号の補正演算を効率良くできるようにし
た画素信号補正装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この目的を達成するため本発明は次のように構成す
る。
る。
まず本発明は、光電変換素子列から出力された画素信
号をA/D変換した後に被写体のデフォーカス量等を演算
する装置を対象とする。
号をA/D変換した後に被写体のデフォーカス量等を演算
する装置を対象とする。
このような画素信号補正装置として本発明にあって
は、 各画素信号の補正値を予め格納した補正値記憶手段
と； A/D変換された画素信号を補正値記憶手段に格納され
た補正値を使用して補正する補正手段と； 前記補正値記憶手段の補正値の符号が同一になるよう
に、均一輝度の被写体から得られた各画素の出力レベル
を均一に揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納す
る補正値決定手段と； を設けたことを特徴とする。
は、 各画素信号の補正値を予め格納した補正値記憶手段
と； A/D変換された画素信号を補正値記憶手段に格納され
た補正値を使用して補正する補正手段と； 前記補正値記憶手段の補正値の符号が同一になるよう
に、均一輝度の被写体から得られた各画素の出力レベル
を均一に揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納す
る補正値決定手段と； を設けたことを特徴とする。
具体的には、補正値決定手段は、均一輝度の被写体か
ら得られた画素信号の中の最大値を求め、各画素信号を
該最大値から差し引いた値に基づいて符号が同一となる
補正値を算出する。
ら得られた画素信号の中の最大値を求め、各画素信号を
該最大値から差し引いた値に基づいて符号が同一となる
補正値を算出する。
また補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られ
た画素信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小
値を差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を
算出するするようにしても良い。
た画素信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小
値を差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を
算出するするようにしても良い。
［作用］ このような構成を備えた本発明による画素信号補正装
置によれば、半導体メモリ等の記憶手段に格納される補
正値の符号が正又は負の予め定めた符号になるように補
正値を求めたため、補正演算におけるの符号判定ルーチ
ンが不要とにり、処理負荷を低減して画像の処理時間を
短縮することができる。
置によれば、半導体メモリ等の記憶手段に格納される補
正値の符号が正又は負の予め定めた符号になるように補
正値を求めたため、補正演算におけるの符号判定ルーチ
ンが不要とにり、処理負荷を低減して画像の処理時間を
短縮することができる。
［実施例］ 第１図は本発明を一実施例を示した実施例構成図であ
る。
る。
第１図において、１はライン型CCD等でなる光電変換
素子列であり、焦点検出装置の場合には通常、一対の光
電変換素子列が使用され、焦点検出光学系により得られ
た被写体の像が結像される。光電変換素子列１は駆動回
路２により駆動され、駆動回路２による駆動で読出され
た画素信号はA/D変換器３でA/D変換された後、画像処理
をプログラム制御で行なうマイクロプロセッサ４に取り
込まれる。マイクロプロセッサ４には補正値記憶手段と
しての半導体メモリ５が接続され、半導体メモリ５には
光電変換素子列１から得られた画素信号の不均一性を補
正する補正値が予め格納されている。本発明にあって
は、半導体メモリ５に格納された補正値は、全て正又は
負の同一符号をもつ。更にマイクロプロセッサ４にはデ
ータメモリとしてのRAM6、プログラムメモリとしてのRO
M7か設けられている。またプロセッサ４はA/D変換され
た画素信号を半導体メモリ５に格納された補正値を使用
して補正する補正手段としての機能と、半導体メモリ５
に予め格納する補正値の符号が同一になるように、均一
輝度の被写体から得られた各画素の出力レベルを均一に
揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納する補正値
決定手段としての機能を有する。
素子列であり、焦点検出装置の場合には通常、一対の光
電変換素子列が使用され、焦点検出光学系により得られ
た被写体の像が結像される。光電変換素子列１は駆動回
路２により駆動され、駆動回路２による駆動で読出され
た画素信号はA/D変換器３でA/D変換された後、画像処理
をプログラム制御で行なうマイクロプロセッサ４に取り
込まれる。マイクロプロセッサ４には補正値記憶手段と
しての半導体メモリ５が接続され、半導体メモリ５には
光電変換素子列１から得られた画素信号の不均一性を補
正する補正値が予め格納されている。本発明にあって
は、半導体メモリ５に格納された補正値は、全て正又は
負の同一符号をもつ。更にマイクロプロセッサ４にはデ
ータメモリとしてのRAM6、プログラムメモリとしてのRO
M7か設けられている。またプロセッサ４はA/D変換され
た画素信号を半導体メモリ５に格納された補正値を使用
して補正する補正手段としての機能と、半導体メモリ５
に予め格納する補正値の符号が同一になるように、均一
輝度の被写体から得られた各画素の出力レベルを均一に
揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納する補正値
決定手段としての機能を有する。
第２図は第１図のマイクロプロセッサ４による本発明
の補正処理を示したフローチャートである。
の補正処理を示したフローチャートである。
第２図において、まずステップ＃１でマイクロプロセ
ッサ１は駆動回路２を駆動して光電変換素子列１から画
素信号を出力させ、A/D変換器３で画素データに変換す
る。続いてステップ＃２でA/D変換した画素データA/D
（１）〜A/D（ｎ）を読み込み、データメモリとしてのR
AM6に格納する。
ッサ１は駆動回路２を駆動して光電変換素子列１から画
素信号を出力させ、A/D変換器３で画素データに変換す
る。続いてステップ＃２でA/D変換した画素データA/D
（１）〜A/D（ｎ）を読み込み、データメモリとしてのR
AM6に格納する。
続いて、ステップ＃３において最初の補正値Ｑ（１）
を半導体メモリ５から読込む。次にステップ＃４でRAM6
からA/D変換した画素信号A/D（１）を読み、次の演算を
実行する。
を半導体メモリ５から読込む。次にステップ＃４でRAM6
からA/D変換した画素信号A/D（１）を読み、次の演算を
実行する。
A/D（１）＊（１＋Ｑ（１）/256） 具体的には A/D（１）＋A/D（１）＊Ｑ（１）/256 （２） と演算される。ここで（２）式の第１項と第２項は加法
で結合されているが、補正データＱ（１）は正のデータ
として求められているので、（２）式の演算を実行する
に際して、符号の判断ルーチンは必要なく、そのまま加
算演算すればよい。
で結合されているが、補正データＱ（１）は正のデータ
として求められているので、（２）式の演算を実行する
に際して、符号の判断ルーチンは必要なく、そのまま加
算演算すればよい。
以下、同様の演算を残りのA/D変換された画素データA
/D（２）〜A/D（ｎ）に対しても行なう。
/D（２）〜A/D（ｎ）に対しても行なう。
第３図は第１図の半導体メモリ５に格納される補正デ
ータＱ（１）〜Ｑ（ｎ）を求めるためのフローチャート
を示したものである。
ータＱ（１）〜Ｑ（ｎ）を求めるためのフローチャート
を示したものである。
第３図において、まずプロセッサ４はステップ＃11で
均一輝度面を光電変換素子列１にあてがい、マイクロプ
ロセッサ４による駆動回路２の駆動で出力された画素信
号をA/D変換器３で画素データに変換する。
均一輝度面を光電変換素子列１にあてがい、マイクロプ
ロセッサ４による駆動回路２の駆動で出力された画素信
号をA/D変換器３で画素データに変換する。
次にステップ＃12でA/D変換器３によりA/D変換された
光電変換素子列１からの画素データA/D（１）〜A/D
（ｎ）を読込んでデータメモリとしてのRAM7に格納す
る。
光電変換素子列１からの画素データA/D（１）〜A/D
（ｎ）を読込んでデータメモリとしてのRAM7に格納す
る。
続いてステップ＃13でRAM7のA/D変換された画素デー
タA/D（１）〜A/D（ｎ）を用いて対応する各補正値を求
める。最終的に＃14で、求められた各補正値を半導体メ
モリ５に書込み、一連の補正値決定処理を終了する。
タA/D（１）〜A/D（ｎ）を用いて対応する各補正値を求
める。最終的に＃14で、求められた各補正値を半導体メ
モリ５に書込み、一連の補正値決定処理を終了する。
第４図は第３図のステップ＃13における補正値の算出
処理を詳細に示たフローチャートである。
処理を詳細に示たフローチャートである。
第４図においては、ステップ＃131で均一輝度面でのA
/D変換データA/D（１）〜A/D（ｎ）のうち最大値を示す
データを求め、これを基準値A/D（st）とする。
/D変換データA/D（１）〜A/D（ｎ）のうち最大値を示す
データを求め、これを基準値A/D（st）とする。
次にステップ＃132において、基準値A/D（st）と各A/
D変換データ（１）〜A/D（ｎ）の差を求める。例えば１
番目のデータについては、 A/D（st）−A/D（１） ・・・（３） を求める。この値は必ず正となる。
D変換データ（１）〜A/D（ｎ）の差を求める。例えば１
番目のデータについては、 A/D（st）−A/D（１） ・・・（３） を求める。この値は必ず正となる。
次にステップ＃133でステップ＃131で求められた基準
値とA/D変換データの差を求め、求めた差をその画素出
力で規格化する。
値とA/D変換データの差を求め、求めた差をその画素出
力で規格化する。
即ち、 ここで補正データを８ビットデータとするために256倍
しておく。
しておく。
同様の演算を残りのA/D（２）〜A/D（ｎ）まで行な
い、こけで得られたＱ（１）〜Ｑ（ｎ）がそのまま各画
素信号に対応した補正値となる。この処理により全ての
補正データは正となるため、補正演算において符号の判
断ルーチンは不要になる。
い、こけで得られたＱ（１）〜Ｑ（ｎ）がそのまま各画
素信号に対応した補正値となる。この処理により全ての
補正データは正となるため、補正演算において符号の判
断ルーチンは不要になる。
第４図の説明では、ステップ＃131で最大値を基準値A
/D（st）としたが、例えば最小値を基準値にとってもよ
い。この場合には式（３）、（４）はそれぞれ、 A/D（１）−A/D（st） ・・・（５） となる。そして、式（２）の補正演算は、 A/D（１）−A/D（１）＊Ｑ（１）/256 （７） として第１項と第２項は減法で結合され、この場合も補
正データは正と決っているので、符号の判断ルーチンは
いらない。
/D（st）としたが、例えば最小値を基準値にとってもよ
い。この場合には式（３）、（４）はそれぞれ、 A/D（１）−A/D（st） ・・・（５） となる。そして、式（２）の補正演算は、 A/D（１）−A/D（１）＊Ｑ（１）/256 （７） として第１項と第２項は減法で結合され、この場合も補
正データは正と決っているので、符号の判断ルーチンは
いらない。
尚、上記の実施例は焦点検出における画素信号の補正
を例にとるものであったが、適宜の画素信号の補正にそ
のまま適用できる。
を例にとるものであったが、適宜の画素信号の補正にそ
のまま適用できる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、光電変換素子列
の出力信号の補正値を求めるに際し、各画素信号のうち
最大値または最小値を基準にとり、補正値が同一の符号
となるように予め補正値を求めておき、この値で実用時
の光電変換信号を補正するようにしたので、補正演算時
に補正値の符号を判断する必要がなく演算処理時間を短
縮できる。
の出力信号の補正値を求めるに際し、各画素信号のうち
最大値または最小値を基準にとり、補正値が同一の符号
となるように予め補正値を求めておき、この値で実用時
の光電変換信号を補正するようにしたので、補正演算時
に補正値の符号を判断する必要がなく演算処理時間を短
縮できる。
更に、基準値として最小値をとった場合には補正後の
データが補正前データより大きくなることがなく、デー
タ処理上の取扱いでオーバフローを考慮する必要がない
という利点も得られる。
データが補正前データより大きくなることがなく、デー
タ処理上の取扱いでオーバフローを考慮する必要がない
という利点も得られる。
第１図は本発明の実施例構成図； 第２図は本発明の補正処理を示したフローチャート； 第３図は本発明の補正値を求めるフローチャート； 第４図は本発明の補正値を求める詳細なフローチャー
ト； 第５図は均一輝度面を見たときの光電変換出力の説明
図； 第６図は均一輝度面を見たときの補正後の光電変換出力
の説明図である。 ［符号の説明］ 1:光電変換素子列 2:駆動回路 3:A/D変換器 4:マイクロプロセッサ 5:半導体メモリ 6:ROM 7:RAM
ト； 第５図は均一輝度面を見たときの光電変換出力の説明
図； 第６図は均一輝度面を見たときの補正後の光電変換出力
の説明図である。 ［符号の説明］ 1:光電変換素子列 2:駆動回路 3:A/D変換器 4:マイクロプロセッサ 5:半導体メモリ 6:ROM 7:RAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 5/30 - 5/335
Claims (3)
- 【請求項１】複数の光電変換素子列から出力された画素
信号をA/D変換した後に被写体のデフォーカス量等を演
算する装置に於いて、 前記各画素信号の補正値を予め格納した補正値記憶手段
と； 前記A/D変換された画素信号を前記補正値記憶手段に格
納された補正値を使用して補正する補正手段と； 前記補正値記憶手段の補正値の符号が同一になるよう
に、均一輝度の被写体から得られた各画素の出力レベル
を均一に揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納す
る補正値決定手段と； を備えたことを特徴とする画素信号補正装置。 - 【請求項２】請求項１記載の画素信号補正装置に於い
て、 前記補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られた
画素信号の中の最大値を求め、各画素信号を該最大値か
ら差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算
出することを特徴とする画素信号補正装置。 - 【請求項３】請求項１記載の画素信号補正装置に於い
て、 前記補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られた
画素信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小値
を差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算
出することを特徴とする画素信号補正装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291506A JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
| US07/766,396 US5331420A (en) | 1990-10-29 | 1991-09-27 | Pixel signal non-uniformity correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291506A JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04165777A JPH04165777A (ja) | 1992-06-11 |
| JP2864408B2 true JP2864408B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=17769771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2291506A Expired - Fee Related JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5331420A (ja) |
| JP (1) | JP2864408B2 (ja) |
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| JPH07218252A (ja) * | 1994-02-09 | 1995-08-18 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサの映像データ回路 |
| KR0161886B1 (ko) * | 1995-07-22 | 1998-12-15 | 문정환 | 고체촬상소자의 디팩트 보상장치 |
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-
1990
- 1990-10-29 JP JP2291506A patent/JP2864408B2/ja not_active Expired - Fee Related
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1991
- 1991-09-27 US US07/766,396 patent/US5331420A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04165777A (ja) | 1992-06-11 |
| US5331420A (en) | 1994-07-19 |
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