JPH04165777A - 画素信号補正装置 - Google Patents
画素信号補正装置Info
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- JPH04165777A JPH04165777A JP2291506A JP29150690A JPH04165777A JP H04165777 A JPH04165777 A JP H04165777A JP 2291506 A JP2291506 A JP 2291506A JP 29150690 A JP29150690 A JP 29150690A JP H04165777 A JPH04165777 A JP H04165777A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/673—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
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- Signal Processing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、被写体のデフォーカス量等の演算に使用する
光電変換素子列から出力された画素信号の不均一性を補
正する画素信号補正装置に関する。
光電変換素子列から出力された画素信号の不均一性を補
正する画素信号補正装置に関する。
［従来の技術］
従来、被写体のデフォーカス量を求めてオートフォーカ
スを行うカメラの焦点検出装置では、複数の光電変換素
子列から出力された画素信号をＡ／Ｄ変換した後にデフ
ォーカス量の演算処理を行って合焦させている。
スを行うカメラの焦点検出装置では、複数の光電変換素
子列から出力された画素信号をＡ／Ｄ変換した後にデフ
ォーカス量の演算処理を行って合焦させている。
ところで、焦点検出用の光電変換素子列は、例えば均一
輝度の被写体を見たときには本来′、画素信号の出力レ
ベルは均一であるべきものであるが、実際には光電変換
素子列の感度むらや、光電変換素子列へ光線を導く焦点
検出光学系の開口効率等の影響で、例えば第５図に示す
ように均一にはならないことがむしろ普通である。この
画素信号の不均一性を補正するため、従来、半導体メモ
リに各画素毎の補正値を予め記憶し、記憶された各画素
に対応した補正値に従って画素信号の補正を行なって第
６図に示すような均一な画素信号を得ている。
輝度の被写体を見たときには本来′、画素信号の出力レ
ベルは均一であるべきものであるが、実際には光電変換
素子列の感度むらや、光電変換素子列へ光線を導く焦点
検出光学系の開口効率等の影響で、例えば第５図に示す
ように均一にはならないことがむしろ普通である。この
画素信号の不均一性を補正するため、従来、半導体メモ
リに各画素毎の補正値を予め記憶し、記憶された各画素
に対応した補正値に従って画素信号の補正を行なって第
６図に示すような均一な画素信号を得ている。
この補正演算は、例えば次式に従って行われている。
、Ａ／Ｄ （ｒｉ）＊ （１＋Ｑ （ｎ）／２５
６）・ ・ ・ （１） ここでＡ／Ｄ（ｎ）はある画素出力のＡ／Ｄ変換値、Ｑ
（ｎ）は半導体メモリに格納された補正値である。
６）・ ・ ・ （１） ここでＡ／Ｄ（ｎ）はある画素出力のＡ／Ｄ変換値、Ｑ
（ｎ）は半導体メモリに格納された補正値である。
補正値Ｑ （ｎ）は符号付きの８ビツトデータてあり、
最高的±５０％まで補正可能となる。補正値Ｑ （ｎ）
の決め方は、予め光電変換素子列に均一輝度面を見させ
て画素信号を求める。次にある画素を基準値として定め
、基準値と画素信号との差を求めて規格化した値とする
。
最高的±５０％まで補正可能となる。補正値Ｑ （ｎ）
の決め方は、予め光電変換素子列に均一輝度面を見させ
て画素信号を求める。次にある画素を基準値として定め
、基準値と画素信号との差を求めて規格化した値とする
。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、このような従来の画素信号補正装置にあ
っては、均一輝度面を見て得られた画素信号の基準値に
対する変化分から補正値を求めていたため、一般には変
化分は士となり、従って半導体メモリに格納される補正
値も士の符号を持つようになる。このため前記式（１）
で示された補正演算はマイクロプロセッサで行なわれる
が、補正値が正負の符号をもつことから符号の判定のル
ーチンが必要となり、符号判定を各画素毎に行なうため
、画像の処理時間の増大する問題があった。
っては、均一輝度面を見て得られた画素信号の基準値に
対する変化分から補正値を求めていたため、一般には変
化分は士となり、従って半導体メモリに格納される補正
値も士の符号を持つようになる。このため前記式（１）
で示された補正演算はマイクロプロセッサで行なわれる
が、補正値が正負の符号をもつことから符号の判定のル
ーチンが必要となり、符号判定を各画素毎に行なうため
、画像の処理時間の増大する問題があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
ので、画素信号の補正演算を効率良くできるようにした
画素信号補正装置を提供することを目的とする。
ので、画素信号の補正演算を効率良くできるようにした
画素信号補正装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］
この目的を達成するため本発明は次のように構成する。
まず本発明は、光電変換素子列から出力された画素信号
をＡ／Ｄ変換した後に被写体のデフォーカス量等を演算
する装置を対象とする。
をＡ／Ｄ変換した後に被写体のデフォーカス量等を演算
する装置を対象とする。
このような画素信号補正装置として本発明にあっては、
各画素信号の補正値を予め格納した補正値記憶手段と・
； Ａ／Ｄ変換された画素信号を補正値記憶手段に格納され
た補正値を使用して補正する補正手段と；前記補正値記
憶手段の補正値の符号が同一になるように、均一輝度の
被写体から得られた各画素の出力レベルを均一に揃える
ための補正値を各画素毎に求めて格納する補正値決定手
段と；を設けたことを特徴とする。
； Ａ／Ｄ変換された画素信号を補正値記憶手段に格納され
た補正値を使用して補正する補正手段と；前記補正値記
憶手段の補正値の符号が同一になるように、均一輝度の
被写体から得られた各画素の出力レベルを均一に揃える
ための補正値を各画素毎に求めて格納する補正値決定手
段と；を設けたことを特徴とする。
具体的には、補正値決定手段は、均一輝度の被写体から
得られた画素信号の中の最大値を求め、各画素信号を該
最大値から差し引いた値に基づいて符号が同一となる補
正値を算出する。
得られた画素信号の中の最大値を求め、各画素信号を該
最大値から差し引いた値に基づいて符号が同一となる補
正値を算出する。
また補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られた
画素信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小値
を差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算
出するするようにしても良い。
画素信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小値
を差し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算
出するするようにしても良い。
［作用コ
このような構成を備えた本発明による画素信号補正装置
によれば、半導体メモリ等の記憶手段に格納される補正
値の符号が正又は負の予め定めた符号になるように補正
値を求めたため、補正演算におけるの符号判定ルーチン
が不要とにり、処理負荷を低減して画像の処理時間を短
縮することができる。
によれば、半導体メモリ等の記憶手段に格納される補正
値の符号が正又は負の予め定めた符号になるように補正
値を求めたため、補正演算におけるの符号判定ルーチン
が不要とにり、処理負荷を低減して画像の処理時間を短
縮することができる。
［実施例］
第１図は本発明を一実施例を示した実施例構成図である
。
。
第１図において、１はライン型ＣＣＤ等てなる光電変換
素子列であり、焦点検出装置の場合には通常、一対の光
電変換素子列が使用され、焦点検出光学系により得られ
た被写体の像が結像される。
素子列であり、焦点検出装置の場合には通常、一対の光
電変換素子列が使用され、焦点検出光学系により得られ
た被写体の像が結像される。
光電変換素子列１は駆動回路２により駆動され、駆動回
路２による駆動で読出された画素信号はＡ／Ｄ変換器３
でＡ／Ｄ変換された後、画像処理をプログラム制御で行
なうマイクロプロセッサ４に取り込まれる。マイクロプ
ロセッサ４には補正値記憶手段としての半導体メモリ５
が接続され、半導体メモリ５には光電変換素子列１から
得られた画素信号の不均一性を補正する補正値が予め格
納されている。本発明にあっては、半導体メモリ５に格
納された補正値は、全て正又は負の同一符号をもつ。更
１こマイクロプロセッサ４にはデータメモリとしてのＲ
ＡＭ６、プログラムメモリとしてのＲＯＭ７か設けられ
ている。またプロセッサ４はＡ／Ｄ変換された画素信号
を半導体メモリ５に格納された補正値を使用して補正す
る補正手段としての機能と、半導体メモリ５に予め格納
する補正値の符号が同一になるように、均一輝度の被写
体から得られた各画素の出力レベルを均一に揃えるため
の補正値を各画素毎に求めて格納する補正値決定手段と
しての機能を有する。
路２による駆動で読出された画素信号はＡ／Ｄ変換器３
でＡ／Ｄ変換された後、画像処理をプログラム制御で行
なうマイクロプロセッサ４に取り込まれる。マイクロプ
ロセッサ４には補正値記憶手段としての半導体メモリ５
が接続され、半導体メモリ５には光電変換素子列１から
得られた画素信号の不均一性を補正する補正値が予め格
納されている。本発明にあっては、半導体メモリ５に格
納された補正値は、全て正又は負の同一符号をもつ。更
１こマイクロプロセッサ４にはデータメモリとしてのＲ
ＡＭ６、プログラムメモリとしてのＲＯＭ７か設けられ
ている。またプロセッサ４はＡ／Ｄ変換された画素信号
を半導体メモリ５に格納された補正値を使用して補正す
る補正手段としての機能と、半導体メモリ５に予め格納
する補正値の符号が同一になるように、均一輝度の被写
体から得られた各画素の出力レベルを均一に揃えるため
の補正値を各画素毎に求めて格納する補正値決定手段と
しての機能を有する。
第２図は第１図のマイクロプロセッサ４による本発明の
補正処理を示したフローチャートである。
補正処理を示したフローチャートである。
第２図において、まずステップ＃１でマイクロプロセッ
サ１は駆動回路２を駆動して光電変換素子列１から画素
信号を出力させ、Ａ／Ｄ変換器３て画素データに変換す
る。続いてステップ＃２でＡ／Ｄ変換した画素データＡ
／Ｄ （１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）を読み込み、データメモリ
としてのＲＡＭ６に格納する。
サ１は駆動回路２を駆動して光電変換素子列１から画素
信号を出力させ、Ａ／Ｄ変換器３て画素データに変換す
る。続いてステップ＃２でＡ／Ｄ変換した画素データＡ
／Ｄ （１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）を読み込み、データメモリ
としてのＲＡＭ６に格納する。
続いて、ステップ＃３において最初の補正値Ｑ（１）を
半導体メモリ５から読込む。次にステップ＃４でＲＡＭ
６からＡ／Ｄ変換した画素信号Ａ／Ｄ （１）を読み、
次の演算を実行する。
半導体メモリ５から読込む。次にステップ＃４でＲＡＭ
６からＡ／Ｄ変換した画素信号Ａ／Ｄ （１）を読み、
次の演算を実行する。
Ａ／Ｄ （１）＊ （１＋Ｑ （１）／２５６）具体的
には Ａ／Ｄ （１）＋Ａ／Ｄ （１）＊Ｑ （１）／２５６
と演算される。ここで（２）式の第１項と第２項は加法
で結合されているが、補正データＱ（１）は正のデータ
として求められているので、（２）式の演算を実行する
に際して、符号の判断ルーチンは必要なく、そのまま加
算演算すればよい。
には Ａ／Ｄ （１）＋Ａ／Ｄ （１）＊Ｑ （１）／２５６
と演算される。ここで（２）式の第１項と第２項は加法
で結合されているが、補正データＱ（１）は正のデータ
として求められているので、（２）式の演算を実行する
に際して、符号の判断ルーチンは必要なく、そのまま加
算演算すればよい。
以下、同様の演算を残りのＡ／Ｄ変換された画素データ
Ａ／Ｄ （２） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）に対しても行なう。
Ａ／Ｄ （２） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）に対しても行なう。
第３図は第１図の半導体メモリ５に格納される補正デー
タＱ（１）〜Ｑ （ｎ）を求めるためのフローチャート
を示したものである。
タＱ（１）〜Ｑ （ｎ）を求めるためのフローチャート
を示したものである。
第３図において、まずプロセッサ４はステップ＃１１で
均一輝度面を光電変換素子列１にあてがい、マイクロプ
ロセッサ４による駆動回路２の駆動で出力された画素信
号をＡ／Ｄ変換器３で画素データに変換する。
均一輝度面を光電変換素子列１にあてがい、マイクロプ
ロセッサ４による駆動回路２の駆動で出力された画素信
号をＡ／Ｄ変換器３で画素データに変換する。
次にステップ＃１２てＡ／Ｄ変換器３によりＡ／Ｄ変換
された光電変換素子列１からの画素データＡ／Ｄ （１
） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）を読込んでデータメモリとしての
ＲＡＭ７に格納する。
された光電変換素子列１からの画素データＡ／Ｄ （１
） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）を読込んでデータメモリとしての
ＲＡＭ７に格納する。
続いてステップ＃１３でＲＡＭ７のＡ／Ｄ変換された画
素データＡ／Ｄ （１） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）を用いて対
応する各補正値を求める。最終的に＃１４で、求められ
た各補正値を半導体メモリ５に書込み、一連の補正値決
定処理を終了する。
素データＡ／Ｄ （１） 〜Ａ／Ｄ （ｎ）を用いて対
応する各補正値を求める。最終的に＃１４で、求められ
た各補正値を半導体メモリ５に書込み、一連の補正値決
定処理を終了する。
第４図は第３図のステップ＃１３における補正値の算出
処理を詳細に示たフローチャートである。
処理を詳細に示たフローチャートである。
第４図においては、ステップ＃１３１で均一輝度面での
Ａ／Ｄ変換デーデー／Ｄ （１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）のうち
最大値を示すデータを求め、これを基準値Ａ／Ｄ（ｓｔ
）とする。
Ａ／Ｄ変換デーデー／Ｄ （１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）のうち
最大値を示すデータを求め、これを基準値Ａ／Ｄ（ｓｔ
）とする。
次にステップ＃１３２において、基準値Ａ／Ｄ（ｓ ｔ
）と各Ａ／Ｄ変換データ（１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）の差を求
める。例えば１番目のデータについては、 Ａ／Ｄ （ｓ ｔ）−Ａ／Ｄ （１） ・・・ （３） を求める。この値は必ず正となる。
）と各Ａ／Ｄ変換データ（１）〜Ａ／Ｄ（ｎ）の差を求
める。例えば１番目のデータについては、 Ａ／Ｄ （ｓ ｔ）−Ａ／Ｄ （１） ・・・ （３） を求める。この値は必ず正となる。
次にステップ＃１３３でステップ＃１３１て求められた
基準値とＡ／Ｄ変換データの差を求め、求めた差をその
画素出力で規格化する。
基準値とＡ／Ｄ変換データの差を求め、求めた差をその
画素出力で規格化する。
即ち、
Ｑ （１） −
Ａ／Ｄ （１）
ここで補正データを８ビツトデータとするために２５６
倍しておく。
倍しておく。
同様の演算を残りのＡ／Ｄ （２，） 〜Ａ／Ｄ （ｎ
）まで行ない、ここで得られたＱ（１）〜Ｑ （ｎ）が
そのまま各画素信号に対応した補正値となる。
）まで行ない、ここで得られたＱ（１）〜Ｑ （ｎ）が
そのまま各画素信号に対応した補正値となる。
この処理により全ての補正データは正となるため、補正
演算において符号の判断ルーチンは不要になる。
演算において符号の判断ルーチンは不要になる。
第４図の説明では、ステップ＃１３１て最大値を基準値
Ａ／Ｄ（ｓｔ）としたが、例えば最小値を基準値にとっ
てもよい。この場合には式（３）、（４）はそれぞれ、 Ａ／Ｄ （１） −Ａ／Ｄ （ｓ ｔ） ・・・ （５
）Ｑ （１） ＝ （Ａ／Ｄ （１） Ａ／Ｄ （ｓ ｔ） ） ＊ ２
５６Ａ／Ｄ （１） となる。そして、式（２）の補正演算は、Ａ／Ｄ （１
）＝Ａ／Ｄ （１）＊Ｑ （１）／２５６として第１項
と第２項は減法で結合され、この場合も補正データは正
と決っているので、符号の判断ルーチンはいらない。
Ａ／Ｄ（ｓｔ）としたが、例えば最小値を基準値にとっ
てもよい。この場合には式（３）、（４）はそれぞれ、 Ａ／Ｄ （１） −Ａ／Ｄ （ｓ ｔ） ・・・ （５
）Ｑ （１） ＝ （Ａ／Ｄ （１） Ａ／Ｄ （ｓ ｔ） ） ＊ ２
５６Ａ／Ｄ （１） となる。そして、式（２）の補正演算は、Ａ／Ｄ （１
）＝Ａ／Ｄ （１）＊Ｑ （１）／２５６として第１項
と第２項は減法で結合され、この場合も補正データは正
と決っているので、符号の判断ルーチンはいらない。
尚、上記の実施例は焦点検出における画素信号の補正を
例にとるものであったが、適宜の画素信号の補正にその
まま適用できる。
例にとるものであったが、適宜の画素信号の補正にその
まま適用できる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、光電−変換素子列
の出力信号の補正値を求めるに際し、各画素信号のうち
最大値または最小値を基準にとり、補正値が同一の符号
となるように予め補正値を求めておき、この値で実用時
の光電変換信号を補正するようにしたので、補正演算時
に補正値の符号を判断する必要がなく演算処理時間を短
縮できる。
の出力信号の補正値を求めるに際し、各画素信号のうち
最大値または最小値を基準にとり、補正値が同一の符号
となるように予め補正値を求めておき、この値で実用時
の光電変換信号を補正するようにしたので、補正演算時
に補正値の符号を判断する必要がなく演算処理時間を短
縮できる。
更に、基準値として最小値をとった場合には補正後のデ
ータが補正前データより大きくなることがなく、データ
処理上の取扱いでオーバフローを考慮する必要がないと
いう利点も得られる。
ータが補正前データより大きくなることがなく、データ
処理上の取扱いでオーバフローを考慮する必要がないと
いう利点も得られる。
第１図は本発明の実施例構成図；
第２図は本発明の補正処理を示したフローチャート；
第３図は本発明の補正値を求めるフローチャート：第４
図は本発明の補正値を求める詳細なフローチャート： 第５図は均一輝度面を見たときの光電変換出力の説明図
： 第６図は均一輝度面を見たときの補正後の光電変換出力
の説明図である。 ［符号の説明］ １：光電変換素子列 ２ 駆動回路 ３：Ａ／Ｄ変換器 ４・マイクロプロセッサ ５ 半導体メモリ ６：ＲＯＭ ７・ＲＡＭ
図は本発明の補正値を求める詳細なフローチャート： 第５図は均一輝度面を見たときの光電変換出力の説明図
： 第６図は均一輝度面を見たときの補正後の光電変換出力
の説明図である。 ［符号の説明］ １：光電変換素子列 ２ 駆動回路 ３：Ａ／Ｄ変換器 ４・マイクロプロセッサ ５ 半導体メモリ ６：ＲＯＭ ７・ＲＡＭ
Claims (3)
- （１）複数の光電変換素子列から出力された画素信号を
Ａ／Ｄ変換した後に被写体のデフォーカス量等を演算す
る装置に於いて、 前記各画素信号の補正値を予め格納した補正値記憶手段
と； 前記Ａ／Ｄ変換された画素信号を前記補正値記憶手段に
格納された補正値を使用して補正する補正手段と； 前記補正値記憶手段の補正値の符号が同一になるように
、均一輝度の被写体から得られた各画素の出力レベルを
均一に揃えるための補正値を各画素毎に求めて格納する
補正値決定手段と； を備えたことを特徴とする画素信号補正装置。 - （２）請求項１記載の画素信号補正装置に於いて、前記
補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られた画素
信号の中の最大値を求め、各画素信号を該最大値から差
し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算出す
ることを特徴とする画素信号補正装置。 - （３）請求項１記載の画素信号補正装置に於いて、前記
補正値決定手段は、均一輝度の被写体から得られた画素
信号の中の最小値を求め、各画素信号から該最小値を差
し引いた値に基づいて符号が同一となる補正値を算出す
ることを特徴とする画素信号補正装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291506A JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
| US07/766,396 US5331420A (en) | 1990-10-29 | 1991-09-27 | Pixel signal non-uniformity correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291506A JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04165777A true JPH04165777A (ja) | 1992-06-11 |
| JP2864408B2 JP2864408B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=17769771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2291506A Expired - Fee Related JP2864408B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 画素信号補正装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5331420A (ja) |
| JP (1) | JP2864408B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3550599B2 (ja) * | 1994-02-03 | 2004-08-04 | 株式会社ニコン | イメージセンサーシステム |
| JPH07218252A (ja) * | 1994-02-09 | 1995-08-18 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサの映像データ回路 |
| KR0161886B1 (ko) * | 1995-07-22 | 1998-12-15 | 문정환 | 고체촬상소자의 디팩트 보상장치 |
| US5757425A (en) * | 1995-12-19 | 1998-05-26 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for independently calibrating light source and photosensor arrays |
| GB2314227B (en) * | 1996-06-14 | 1998-12-23 | Simage Oy | Calibration method and system for imaging devices |
| US6522355B1 (en) * | 1997-04-10 | 2003-02-18 | Texas Instruments Incorporated | Digital nonuniformity correction for image sensors |
| US6529238B1 (en) * | 1997-09-05 | 2003-03-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for compensation of point noise in CMOS imagers |
| US6178254B1 (en) | 1998-05-29 | 2001-01-23 | Quad/Graphics, Inc. | Method for elimination of effects of imperfections on color measurements |
| US7084905B1 (en) | 2000-02-23 | 2006-08-01 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Method and apparatus for obtaining high dynamic range images |
| GB2370172B (en) * | 2000-12-13 | 2002-12-04 | Infrared Integrated Syst Ltd | Dynamic offset correction in detector arrays |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4991127A (en) * | 1986-08-28 | 1991-02-05 | Hughes Aircraft Company | Offset and gain correction system for image data processing |
| JPS63232579A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-28 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置 |
| JPS63238773A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-04 | Asahi Optical Co Ltd | 画素情報の補正方法 |
| US4920428A (en) * | 1988-07-08 | 1990-04-24 | Xerox Corporation | Offset, gain and bad pixel correction in electronic scanning arrays |
| US5047861A (en) * | 1990-07-31 | 1991-09-10 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for pixel non-uniformity correction |
-
1990
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-
1991
- 1991-09-27 US US07/766,396 patent/US5331420A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2864408B2 (ja) | 1999-03-03 |
| US5331420A (en) | 1994-07-19 |
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