JPH09305724A - カード及びカード処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パンチ穴領域が検出不可となるように貼り合
わされた変造カードの不正使用を的確に検出する。 【解決手段】 カード１に、パンチ穴領域１３を含むよ
うに複数の導体からなる導体部１１を設け、かつカード
処理装置４に、導体部への通電を行う通電手段（電流供
給部３Ｃ）及び導体部の通電の有無を検出する検出手段
（電流検出部３Ｄ）を設け、処理装置４の制御部２１は
検出手段の検出結果に応じてカードの正否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、予め価値情報が記
録されると共に、サービスの状況に応じて前記価値情報
の残額が記録されかつパンチ穴領域に穿孔が行われるよ
うにしたカード及びそのカードの処理を行うカード処理
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】予め価値情報が記録されて発行されるこ
の種のカードが利用可能なカード処理装置で利用される
と、カード処理装置ではカードの価値情報を読み取り、
販売した物品の金額をその価値情報から減じて残額をカ
ードに再記録する。そしてその後カードリーダは、カー
ドのパンチ穴領域内の残額価値情報に対応する部分に穿
孔を行うようにしている。

【０００３】こうしてカード処理装置で利用されたカー
ドはその価値情報が第３者により書き換えられると不正
使用の恐れが生じる。このため従来のカード処理装置で
は、カードが利用された場合、パンチ穴の有無を検出す
ると共に検出したパンチ穴の位置と残額価値情報とから
カードの正否を判断するようにしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、こうしてカー
ド処理装置で利用され使用済みとなったカードに対し第
３者が新たに価値情報を記録し、かつそのカードのパン
チ穴領域がカード処理装置により検出できないように貼
り合わされると、そのカードは新規なカードとして不正
に使用されるという欠点があった。従って本発明は、パ
ンチ穴領域が検出不可となるように貼り合わされたカー
ドの不正使用を的確に検出することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために本発明は、少なくとも１つ以上の導体からなる
導体部をカードに設けたものである。また、カードの導
体部を隠ぺいするようにしたものである。また、導体部
はパンチ穴領域を含むように形成したものである。ま
た、カードの両端に互いに対向して設けられた第１及び
第２の導体パッドと、第１及び第２の導体パッド間を結
ぶ導線とから導体を構成する。また、第１及び第２の導
体パッドと、これらの導体パッド間を結ぶ２つの導線か
ら導体を構成する。また、導体部の通電を行う通電手段
と、導体部の通電の有無を検出する検出手段と、検出手
段の検出結果に応じてカードの正否を判定する判定手段
とをカード処理装置に設ける。また、通電手段を導体に
接触して電流の供給を行う電流供給部により構成し、検
出手段を導体に接触して電流を検出する電流検出部によ
り構成する。また、通電手段を導体に非接触で誘導電流
を発生させる交流磁界発生部により構成し、かつ検出手
段を導体に非接触で誘導電流を検出する誘導電流検出部
により構成する。また、判定手段は通電した導線の数を
計数しその数が予め定めた所定数以上のときに良カード
と判定する。

【０００６】

【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
して説明する。図１は本発明に係るカードの要部構成を
示す図である。同図において、１は残度数に応じたパン
チ穴が穿孔されるカード、２はカード１が使用されるカ
ード処理装置に設けられたカード搬送路、３Ａ，３Ｂは
カード処理装置に設けられカード１の後述する導体部に
流れる電流をチェックするための接触部である。

【０００７】カード１にはこれの搬送方向に対し上部か
ら下部の方向に複数の導体線１１Ｃからなる上記導体部
１１が設けられ、かつ各導体線１１Ｃのカード端部側に
は導体パッド１１Ａ，１１Ｂが設けられている。そして
カード１が搬送されると、導体パッド１１Ａ，１１Ｂと
カード処理装置の接触部３Ａ，３Ｂとが接触することに
より導体部１１の導通／非導通がチェックされるものと
なっている。なお、各導線１１Ｃの数は例えばカードの
長辺方向の長さを１０ｃｍとした場合、カード処理装置
側で容易にその導通本数がチェックできるように１０本
程度印刷されている。また、カードの変造を困難にする
ために導線１１Ｃを高密度で例えば数十〜数百本程度印
刷する場合もある。このような場合、カード処理装置で
はその導通／非導通を後述するデューティ比や百分率
（％）でチェックする。なお、カード１にはこの他、価
値情報が記録される価値情報領域１２及びパンチ穴が穿
孔されるパンチ穴領域１３が設けられている。

【０００８】図２はこうしたカード１の処理を行うカー
ド処理装置４の要部構成を示すブロック図である。同図
において、２１は制御部であり、制御部２１には以下の
各部が接続され制御部２１により制御される。即ち、２
２はカード搬送路２内に設けられカード１の搬送路２内
の位置を検出するセンサ、２３はカード１の搬送を行う
モータ、２４はモータ２３の回転数を検出するエンコー
ダ、２５はカード１の価値情報領域１２に価値情報を記
録するためのヘッドである。また、２６はカード１のパ
ンチ穴領域１３に穿孔を行うパンチ部、２７はメモリ、
２８は表示部である。なお、制御部２１には、カード１
の導体部１１の導通／非導通を検出するための導体導通
検出部３も接続される。導体検出部３には上述の接触部
３Ａ，３Ｂの他に、導体部１１に対し接触部３Ａを介し
て電流を供給する電流供給部３Ｃ、導体部１１の電流を
接触部３Ｂを介して検出する電流検出部３Ｄが含まれ
る。

【０００９】次に以上のように構成されたカード処理装
置４の要部動作について説明する。カード１がカード処
理装置４に挿入されると、制御部２１ではこれを検知し
てモータ２３を回転駆動する。すると、カード１は図１
の矢印方向に搬送路２内を一定速度で搬送される。この
ようなカード１の搬送状況を、制御部２１はセンサ２２
及びエンコーダ２４の各出力から検出判断し、カード１
の最初の導体パッド１１Ａ，１１Ｂが接触部３Ａ，３Ｂ
の位置にくるタイミングで接触部３Ａ，３Ｂを導体パッ
ド１１Ａ，１１Ｂに接触するように下降制御する。

【００１０】ここで各接触部３Ａ，３Ｂが導体パッド１
１Ａ，１１Ｂに接触すると、電流供給部３Ｃ→接触部３
Ａ→導体パッド１１Ａ→導線１１Ｃ→接触部３→電流検
出部３Ｄの経路で電流Ｉが流れ、この電流が電流検出部
３Ｄにより検知される。制御部２１は電流検出部３Ｄの
検出結果をメモリ２７に記憶する。その後全ての導線１
１Ｃの導通のチェックが終了するまで引き続いて一定時
間間隔で電流検出部３Ｄの検出結果をメモリ２７に順次
記憶する。

【００１１】このようにして導体部１１の各導体線の電
流の検出結果が順次メモリ２７に格納される。制御部２
１はメモリ２７の記憶内容からそのカード１の正否の状
況をチェックする。そしてカード１を正常と判定する場
合は、カード１によるサービスを許容しサービスが終了
するとカード１の価値情報領域１２から読み出した価値
情報からサービス分を減じて残額をヘッド２５により価
値情報領域１２に再記録させる。また、カード１のパン
チ穴領域１３内の上記残額に応じた位置にパンチ部２６
により穿孔させる。

【００１２】図３はカード１の変造例を示す図である。
また、図４はカード処理装置４のメモリ２７に記憶され
たカードの導体部チェックの結果を示す図である。図３
及び図４を用いてカードの正否チェック状況について説
明する。残額が無くなった使用済みの図３（ａ）に示す
カードを切断部１４で切断してカード１Ａ，１Ｂとし、
各分割カード１Ａ，１Ｂの端部を図３（ｂ）に示すよう
に貼り合わせ、かつ価値情報領域１２の価値情報を書き
換えた変造カードをチェックする場合、カードの価値情
報とパンチ穴領域１３の穿孔状況とから検出すると、パ
ンチ穴領域１３の位置が変造前と変造後とでずれている
ため、カード処理装置４側では穿孔状況が検出できず、
このカードを無穿孔状態である新規カードとみなしサー
ビスを許容する恐れがある。

【００１３】そこで、カード処理装置４側では上述した
導体部１１の導通チェックを行うことになる。ここでメ
モリ２７に記憶された図４（ａ）に示す無変造カードの
チェック結果と、図４（ｃ）に示す変造カードのチェッ
ク結果とを比較すると、無変造カードの場合は一定の周
期で導通（図中の○印；即ち、導体パッド部分）、非導
通（図中の×印；即ち、導体パッドと次の導体パッドと
の間の部分）を繰り返すのに対し、変造カードの場合は
全く導通しない。このことからカードの変造を的確にチ
ェックすることができる。

【００１４】なお、貼り合わせの際に、カード１Ａ，１
Ｂの接合部１５（即ち、導体パッド１１Ａ，１１Ｂ間）
を導通させるようにして変造しても、高密度で導体部が
形成されていることから部分的にしか導通させることは
できない。従って、変造を高精度で行ったとしても、メ
モリ２７内のそのチェック結果は図４（ｂ）に示すもの
となり、図４（ａ）に示す無変造カードの例に比べて導
通／非導通のデューティが異なっている。従ってカード
処理装置４ではこのデューティ比からカードの正否を判
定できる。また、導線１１Ｃは細線で形成されているた
め、変造時には導線１１Ｃの欠落数が多くなることか
ら、カード処理装置４側では導通した導線１１Ｃの本数
を計数することによりチェックする。即ち、本来の配設
本数が例えば１０本の時には穿孔よる導線１１Ｃの切断
を考慮して８本以上計数できれば正常カード（無変造カ
ード）、７本以下の場合に不良カード（変造カード）と
して判定する。また、カード処理装置４の性能が良く、
例えばカードに５０本の導線１１Ｃが配設されこれらの
各導線１１Ｃの導通／非導通がカード処理装置４でチェ
ックできる場合は、４０本以上計数できれば正常カー
ド、それ以下の場合は不良カードとして判定する。

【００１５】また、図３（ｃ）のように使用済みカード
１を切断部１４で切断してカード１Ａ，１Ｂとし、パン
チ穴領域部１３を有するカード１Ｂの代わりにこれと同
一サイズの他のカード１Ｃを貼り合わせて図３（ｄ）の
ようなカードに変造したとする。しかしこのようにして
カードの変造を行ったとしても、導線１１Ｃの幅は細い
ことから、接合部１５で各カード１Ａ，１Ｃの各導線間
に図３（ｆ）に示すようなズレが生じて各導線間を導通
させることができない。従ってこのような変造カードの
導通チェック結果としては、図４（ｃ）のように全く導
通しない結果が得られる。なお、変造を極めて高精度で
行ったとしても、変造時に導線が欠落する箇所が多く発
生し、そのチェック結果は図４（ｄ）に示すような結果
となる。従って、カード処理装置４側では導通した導線
１１Ｃの本数を計数しその欠落率から、カードの正否を
判定することができる。

【００１６】また、図３（ｅ）に示すようにカード１
Ａ，１Ｃ間の貼り合わせ時にその接合部１５を導電性テ
ープ１５で覆うような変造カードも考えられ、このよう
な変造カードについては、各導体線間は全て導通するた
め正常カードと判定される恐れが生じる。このため、カ
ード処理装置４の制御部４１では、隣接する４組の例え
ば導体パッド１１Ａ１，１１Ａ２，１１Ｂ１，１１Ｂ２
の導通状況をチェックし、導体パッド１１Ａ１は１１Ｂ
１のみと導通し他のパッドとは非導通、かつ導体パッド
１１Ａ２は１１Ｂ２のみと導通し他のパッドとは非導通
の条件のときのみカードを正常と判定する。

【００１７】次に図５はカード１の導体部１１の第２の
形成例を示す図である。同図（ａ）のように導体部１１
Ａと１１Ｂとを１個づつずらして導線１１Ｃで接続する
ように形成すれば、カードをその長辺方向の切断部１４
で切断したのち他のカードと貼り合わせた場合は勿論、
カード１をその短辺方向の切断部１７で切断し他のカー
ドと貼り合わせた場合についても、的確に変造カードと
して検出できる。

【００１８】また、図５（ｂ）に示すように導体部１１
の各導体パッド１１Ａ，１１Ｂをカードの端部から離し
て形成した第３の形成例の場合も変造カードの使用を阻
止するうえで有効である。即ち、図５（ｂ）のカードを
切断部１４で切断して分割カード１Ａ，１Ｂとし、各分
割カード１Ａ，１Ｂの端部を接合して図５（ｃ）のよう
な変造カードを作成しても、各導体パッド１１Ａ，１１
Ｂ間は導通せず、従ってこうした不正カードの使用を的
確に防止できる。

【００１９】図６（ａ）はカード１の導体部１１の第４
の形成例を示す図である。この例では、導体パッド１１
Ａ，１１Ｂ間を２本の導線１１Ｃ１，１１Ｃ２により接
続することにより、導体部１１を閉ループ状に形成す
る。そして、このように形成された導体部１１の導通を
検出するカード処理装置４の導体導通検出部３として、
図７に示す交流磁界発生部３Ｅ及び誘導電流検出部３Ｆ
を設ける。

【００２０】カード１の導体部１１の導通を検出する場
合、交流磁界発生部３Ｅから導体パッド１１Ａに対し交
流磁界を与える。するとこの交流磁界により、導体部１
１上では、導体パッド１１Ａ→導線１１Ｃ１→導体パッ
ド１１Ｂ→導線１１Ｃ２→導体パッド１１Ａの方向経路
及びこの方向と逆方向の経路で交互に誘導電流Ｉが発生
する。こうして導体部１１に発生した誘導電流Ｉは、導
体パッド１１Ｂを介して誘導電流検出部３Ｆにより検出
され制御部２１に与えられる。制御部２１は誘導電流検
出部３Ｆの出力の有無を検出して同様にメモリ２７に記
憶する。

【００２１】このように、カード及びカード処理装置を
構成することにより、カード処理装置４側では導体パッ
ド１１Ａに対し非接触で誘導電流を発生させることがで
き、かつ導体パッド１１Ｂと非接触でその誘導電流を検
出することができる。従って、カード発行時に導体部１
１の表面を隠ぺいして発行することができる。即ち、図
６（ｂ）のカード断面図に示すように導体パッド１１Ｂ
を含む導体部１１の全ての表面を隠ぺい層１ｃで覆うこ
とができる。また、導体パッド１１Ｂ及び導体１１Ｃの
何れか一方を隠ぺい層１ｃで覆うこともできる。なお、
図中において、１ａは基材、１ｂは記録層である。

【００２２】このように導体部１１の表面を隠ぺい層１
ｃで覆うことにより、第３者がカードを変造しようとし
ても、導線１１Ｃや導体パッド１１Ａ，１１Ｂが何処に
印刷されているか不明であるため、貼り合わせたカード
間の導体部の接続が困難になり、従ってカードの変造を
阻止することが可能になる。また、カードの長辺方向を
切断して導体パッド１１Ａ，１１Ｂを導通させるような
変造を行っても、導体部１１には閉ループが形成できな
いことから誘導電流が発生せず、従って変造カードを容
易に検出できる。また、導体部１１の導通チェックが非
接触で行われるため導体部１１の摩耗を防止できる。

【００２３】なお、以上の例では、カードの導体部１１
の導通／非導通を検出する場合、カードを搬送しながら
検出しているが、カードを静止させカード処理装置４の
導体導通検出部３を移動させながら検出することも可能
である。また、各導体パッド分に相当する数の接触部を
カード処理装置４に設け、カード及び導体導通検出部を
共に静止させて各導体パッド間の導通／非導通を一斉に
検出することも可能である。また、カード１の導線１１
Ｃをカード１に対し斜め方向に配設しても良く、また波
線状に配設しても良い。このようにするとカードを貼り
合わせる場合に導体間の接続が難しく、従ってカードの
変造が困難になる。また、図５（ｄ）に示すように１本
の導線により各導体パッドを順次接続し、かつ導体パッ
ド部分を除いた部分を隠ぺいすることにより、カード貼
り合わせ時の導体間の接続をより困難にできる。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、少
なくとも１つ以上の導体からなる導体部をカードに設け
たので、導体部の各導体の導通をチェックすることによ
り、２つのカードを貼り合わせて使用されるような変造
カードの不正使用を的確に検出できる。また、カードの
導体部を隠ぺいするようにしたので、カードを貼り合わ
せの際の導体部間の接続が不可となり、従ってカードの
変造を容易に検出できる。また、導体部はパンチ穴領域
を含むように形成したので、パンチ穴領域が検出不可と
なるように貼り合わされた変造カードの不正使用を的確
に検出できる。また、カードの両端に互いに対向して設
けられた第１及び第２の導体パッドと、これらの導体パ
ッド間を結ぶ導線とから導体を構成するようにしたの
で、導体部の導通／非導通を的確にチェックできる。ま
た、第１及び第２の導体パッドと、これらの導体パッド
間を結ぶ２つの導線から導体を構成したので、カードの
導体部に誘導電流を発生させることができ、従ってカー
ドの導体部の導通状況を導体部に非接触で検出できる。
また、カード処理装置は通電手段により導体部の通電を
行い、導体部の通電の有無を検出手段により検出し、そ
の検出結果に応じてカードの正否を判定するようにした
ので、変造カードの使用の有無を的確に検出できる。ま
た、通電手段を導体に接触して電流の供給を行う電流供
給部により構成し、検出手段を導体に接触して電流を検
出する電流検出部により構成したので、カードの導体部
の通電の有無を的確に検出できる。また、通電手段を導
体に非接触で誘導電流を発生させる交流磁界発生部によ
り構成し、かつ検出手段を導体に非接触で誘導電流を検
出する誘導電流検出部により構成したので、カードの導
体部を非接触で検出できる。また、判定手段は通電した
導線の数を計数しその数が予め定めた所定数以上のとき
に良カードと判定するので、変造カードの使用を的確に
防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明のカードの構成を示す図である。

【図２】 上記カードの処理を行うカード処理装置の構
成を示すブロック図である。

【図３】 カードの変造例を示す図である。

【図４】 カード処理装置によるカードの導体部の導通
／非導通のチェック状況を示す図である。

【図５】 カードの第２及び第３の構成例を示す図であ
る。

【図６】 カードの第４の構成例を示す図である。

【図７】 カード処理装置の第２の構成を示す要部ブロ
ック図である。

【符号の説明】

１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ…カード、２…カード搬送路、３
…導体導通検出部、３Ａ，３Ｂ…接触部、３Ｃ…電流供
給部、３Ｄ…電流検出部、３Ｅ…交流磁界発生部、３Ｆ
…誘導電流検出部、４…カード処理装置、１１…導体
部、１１Ａ，１１Ｂ…導体パッド、１１Ｃ，１１Ｃ１，
１１Ｃ２…導線、１３…パンチ穴領域、２１…制御部、
２７…メモリ。

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予め価値情報が記録されると共に、サー
   ビスに応じて前記価値情報の残額が記録されかつパンチ
   穴領域に穿孔が行われるようにしたカードにおいて、 少なくとも１つ以上の導体からなる導体部を設けたこと
   を特徴とするカード。
2. 【請求項２】 請求項１において、 前記導体部は隠ぺいされることを特徴とするカード。
3. 【請求項３】 請求項１において、 前記導体部は前記パンチ穴領域を含むように形成される
   ことを特徴とするカード。
4. 【請求項４】 請求項１において、 カードの両端に互いに対向して設けられた第１及び第２
   の導体パッドと、第１及び第２の導体パッド間を結ぶ導
   線とから前記導体を構成することを特徴とするカード。
5. 【請求項５】 請求項１において、 カードの両端に互いに対向して設けられた第１及び第２
   の導体パッドと、第１及び第２の導体パッド間を結ぶ２
   つの導線とから前記導体を構成することを特徴とするカ
   ード。
6. 【請求項６】 予め価値情報が記録されると共に、サー
   ビスに応じて前記価値情報の残額が記録されかつパンチ
   穴領域に穿孔が行われるようにしたカードの処理を行う
   カード処理装置において、 前記カードには少なくとも１つ以上の導体からなる導体
   部が設けられ、 前記導体部の通電を行う通電手段と、 前記導体部の通電の有無を検出する検出手段と、 検出手段の検出結果に応じてカードの正否を判定する判
   定手段とを備えたことを特徴とするカード処理装置。
7. 【請求項７】 請求項６において、 前記通電手段を前記導体に接触して電流の供給を行う電
   流供給部により構成し、前記検出手段を前記導体に接触
   して電流を検出する電流検出部により構成することを特
   徴とするカード処理装置。
8. 【請求項８】 請求項６において、 前記カードの導体はカードの両端に互いに対向して設け
   られた第１及び第２の導体パッドと、第１及び第２の導
   体パッド間を結ぶ２つの導線とから構成され、 前記通電手段を前記導体に非接触で誘導電流を発生させ
   る交流磁界発生部により構成し、かつ前記検出手段を前
   記導体に非接触で誘導電流を検出する誘導電流検出部に
   より構成することを特徴とするカード処理装置。
9. 【請求項９】 請求項６において、 前記判定手段は通電した導線の数を計数しその数が予め
   定めた所定数以上のときに良カードと判定することを特
   徴とするカード処理装置。